JPS5920870A - 太陽電池アレ−の試験方法 - Google Patents
太陽電池アレ−の試験方法Info
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- JPS5920870A JPS5920870A JP57131874A JP13187482A JPS5920870A JP S5920870 A JPS5920870 A JP S5920870A JP 57131874 A JP57131874 A JP 57131874A JP 13187482 A JP13187482 A JP 13187482A JP S5920870 A JPS5920870 A JP S5920870A
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- solar cell
- solar battery
- testing
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、複数個の太陽電池素子を直列及び並列に電気
的接続してなる太陽電池アレーの性能を試験する方法に
関するものである。
的接続してなる太陽電池アレーの性能を試験する方法に
関するものである。
太陽電池装置、特に電力用太陽電池装置は、一つの太陽
電池素子から得られる起猷力か限られているため、複数
個の太陽電池素子が用いられ、所望電力が得られるよう
に各太陽電池素子の間を直列及Ｑ並列に接続してアレー
状の形聾で実用に供されている。電力用太陽電池装置は
、地上のみてはなく人工衛星等に搭載して宇宙用として
も広く利用されている。このような宇宙用太陽電池は打
ち上げられた後は保守点検が不可能なため、人工衛星に
取り付けるにあたって充分な特性試験に行われる。宇宙
で利用される太陽電池装置も上述のように、複数個の太
陽電池素子を直列及び並列に接続してアレーを構成する
が、このようなアレー状太陽電池装置に７つでも不良品
が含まれていたり、断線及び短絡等による接続不良を起
した素子が含まれていた場合には、全体としての出力が
著しく損われることになり、一つの不良品−のために他
の良品の出力をも取り出すことができないことになる。
電池素子から得られる起猷力か限られているため、複数
個の太陽電池素子が用いられ、所望電力が得られるよう
に各太陽電池素子の間を直列及Ｑ並列に接続してアレー
状の形聾で実用に供されている。電力用太陽電池装置は
、地上のみてはなく人工衛星等に搭載して宇宙用として
も広く利用されている。このような宇宙用太陽電池は打
ち上げられた後は保守点検が不可能なため、人工衛星に
取り付けるにあたって充分な特性試験に行われる。宇宙
で利用される太陽電池装置も上述のように、複数個の太
陽電池素子を直列及び並列に接続してアレーを構成する
が、このようなアレー状太陽電池装置に７つでも不良品
が含まれていたり、断線及び短絡等による接続不良を起
した素子が含まれていた場合には、全体としての出力が
著しく損われることになり、一つの不良品−のために他
の良品の出力をも取り出すことができないことになる。
このような不都合を防ぐため、従来からゐ
装置に組立てた段階で不良品が含まれてい荀≠か否かの
試験が行われている。この種の試験方法として従来から
実施されているものに次のような方法がある。
試験が行われている。この種の試験方法として従来から
実施されているものに次のような方法がある。
即ち、直列及び並列に接続された太陽電池素子のアレー
を、例えば第１図のようにマトリックス状に配置された
素子／１□・・・／ｍｎで表現したとすると、従来の試
験方法は、−直列方向の素子群７１１〜／ｉｎにのみ光
を照則し、他の素子群は光を遮蔽して電流出力を測定す
る。上記各直列方向の素子群における電流出力の測定を
ｍ列に巨って順次繰返し、まず出力が導出されないか、
或いは低レベルを出力している素子列を検出する。次に
検出された素子列１において、第一図に示す如く素子列
Ｉを構成している１１個の各素子毎にプローブ−をセッ
トして電流出力を測定し、不良の素子を探りあてる。
を、例えば第１図のようにマトリックス状に配置された
素子／１□・・・／ｍｎで表現したとすると、従来の試
験方法は、−直列方向の素子群７１１〜／ｉｎにのみ光
を照則し、他の素子群は光を遮蔽して電流出力を測定す
る。上記各直列方向の素子群における電流出力の測定を
ｍ列に巨って順次繰返し、まず出力が導出されないか、
或いは低レベルを出力している素子列を検出する。次に
検出された素子列１において、第一図に示す如く素子列
Ｉを構成している１１個の各素子毎にプローブ−をセッ
トして電流出力を測定し、不良の素子を探りあてる。
上記試験方法によれは、アレー状に組立てられた後に試
験か行われるため、たとえ不良品が検出されても非常に
不経済であり、また測定段階も限られているため自由度
かなく、太陽電池装置の利用率を低減させる一因になっ
ていた。
験か行われるため、たとえ不良品が検出されても非常に
不経済であり、また測定段階も限られているため自由度
かなく、太陽電池装置の利用率を低減させる一因になっ
ていた。
本発明は上記従来の試験方法の欠点を除去し、アレー状
太陽電池素子の夫々について簡易に性能試験を実施する
ことかできる試、験方法を提供するものである。
太陽電池素子の夫々について簡易に性能試験を実施する
ことかできる試、験方法を提供するものである。
第３図において、／はｍＸｎ個の太陽電池素子が！次元
的にアレー状に配列され、各素子間が配線３ａ及び３ｂ
によって直列及び並列に接続されて光電変換された電気
的出力か取り出される。
的にアレー状に配列され、各素子間が配線３ａ及び３ｂ
によって直列及び並列に接続されて光電変換された電気
的出力か取り出される。
」−記太陽電池素子は宇宙用として構成され、従って地
」−で利用されている電力用大陽市池装置の如く透明ケ
ースの内にパッケージすることなく、素子が露出した形
態で人工衛星に取り付けられる。
」−で利用されている電力用大陽市池装置の如く透明ケ
ースの内にパッケージすることなく、素子が露出した形
態で人工衛星に取り付けられる。
第７図は上記アレー状太陽電池装置の各素子の性能及び
各素子間の接続状態を検知するための試験装置りて、該
試験装置グには測定時に太陽゛耐油素子に光を照射する
ための光源ｊが設けられている。該光源ｊは測定時に一
定時間ｔたけフラッシュ光を放射するパルス駆動させる
ための駆動回路２が接続されている。光源ｊからの放射
光は測定対象となる単一の太陽電池素子のみに照射を規
制するため、まず窓２が設けられたガードｇ内に光＃、
ｊが納められている。上記窓２はアレー状太陽電池の受
光面から数ＣＭの距離を隔てた比較的近接し７亀位置に
設置されるが、照射光を単一太陽電池素子に規制する効
果を確実にするため窓Ｚと太陽電池素子受光面との間に
スリット板２が介挿される。該スリット板２の開口形状
は測定対象になる単一の太陽電池素子の受光面形状に対
応させて設けられている。スリット板２の太陽電池素子
受光面側には測定用のプローブ１０ａ 、１０ｂが植設
され、該プローブ１０ａ 、１０ｂに接続されたリード
線は電流、電圧測定装置／／に接続されている。
各素子間の接続状態を検知するための試験装置りて、該
試験装置グには測定時に太陽゛耐油素子に光を照射する
ための光源ｊが設けられている。該光源ｊは測定時に一
定時間ｔたけフラッシュ光を放射するパルス駆動させる
ための駆動回路２が接続されている。光源ｊからの放射
光は測定対象となる単一の太陽電池素子のみに照射を規
制するため、まず窓２が設けられたガードｇ内に光＃、
ｊが納められている。上記窓２はアレー状太陽電池の受
光面から数ＣＭの距離を隔てた比較的近接し７亀位置に
設置されるが、照射光を単一太陽電池素子に規制する効
果を確実にするため窓Ｚと太陽電池素子受光面との間に
スリット板２が介挿される。該スリット板２の開口形状
は測定対象になる単一の太陽電池素子の受光面形状に対
応させて設けられている。スリット板２の太陽電池素子
受光面側には測定用のプローブ１０ａ 、１０ｂが植設
され、該プローブ１０ａ 、１０ｂに接続されたリード
線は電流、電圧測定装置／／に接続されている。
素子の試験に際して、」１記スリット板２を素子に対向
させると共にプローブ１０ａ 、１０ｂの先端を太陽電
池素Ｔ−／Ｂの負電極Ａ及び正電極Ｂに当接させ、次に
駆動回路にを動作させて光源ｊをパルス発光させて太陽
電池素子／１．に試験のための光を照射する。プローブ
１０ａ 、１０ｂで検知された電気信号は測定装置／／
に人力され、ノンクロスコープに入力されて出力レベル
か表示される。シンクロスコープでの出力レベルか第５
図（ａ）の如く所定のレベルに達している状態では、暉
普対象になった太陽電池素子は良品と判定され次の太陽
電池素子にプローブ／Ｑａ、１０ｂがセットされて同様
にパルス光による測定が実行されるが、断線を起してい
る場合や、素子受光面の一部に破損を生している場合に
は第５図（ｂ）及び（Ｃ）のようにシンクロスコープの
表示か表われ、不良を検知し得る。
させると共にプローブ１０ａ 、１０ｂの先端を太陽電
池素Ｔ−／Ｂの負電極Ａ及び正電極Ｂに当接させ、次に
駆動回路にを動作させて光源ｊをパルス発光させて太陽
電池素子／１．に試験のための光を照射する。プローブ
１０ａ 、１０ｂで検知された電気信号は測定装置／／
に人力され、ノンクロスコープに入力されて出力レベル
か表示される。シンクロスコープでの出力レベルか第５
図（ａ）の如く所定のレベルに達している状態では、暉
普対象になった太陽電池素子は良品と判定され次の太陽
電池素子にプローブ／Ｑａ、１０ｂがセットされて同様
にパルス光による測定が実行されるが、断線を起してい
る場合や、素子受光面の一部に破損を生している場合に
は第５図（ｂ）及び（Ｃ）のようにシンクロスコープの
表示か表われ、不良を検知し得る。
上記試験方法によれば、プローブの先端を太陽電池素子
の電極に接触させてフラッシュ光を照射すればよいため
、素子の設置状況に拘わらす筒車に且つ確実に試験する
ことができる。
の電極に接触させてフラッシュ光を照射すればよいため
、素子の設置状況に拘わらす筒車に且つ確実に試験する
ことができる。
また測定時に周囲光があったとしても、それらの影響は
無視できる。即ち、各素子から導出された波形及び波高
は相対的に観察するため、周囲の影響は零点のシフトの
みて測定結果には全く関係がない。
無視できる。即ち、各素子から導出された波形及び波高
は相対的に観察するため、周囲の影響は零点のシフトの
みて測定結果には全く関係がない。
太陽電池素子に照射する光は、受光面か比較的近い距離
にあるため上述のようにパルス光として与えられること
か望ましいが、連続光でも実施することができる。たた
しこの場合には、素子が温度上昇して特性に変化が生じ
る惧れかあるため、光の強度及び放熱のための対策を施
すことが望ましい。
にあるため上述のようにパルス光として与えられること
か望ましいが、連続光でも実施することができる。たた
しこの場合には、素子が温度上昇して特性に変化が生じ
る惧れかあるため、光の強度及び放熱のための対策を施
すことが望ましい。
以上本発明によれば、太陽電池素子の組み立ての最終段
階に到る任意の段階で試験することができ、不良品を早
い時期に抽出することができて経済性を著しく改善する
ことができる。また試験のための装置は小型、簡単な構
造で構成することができ、環境条件の悪い現場でも短時
間で実施することができ、アレー状太陽電池装置の新規
な試験方法を提供することができる。
階に到る任意の段階で試験することができ、不良品を早
い時期に抽出することができて経済性を著しく改善する
ことができる。また試験のための装置は小型、簡単な構
造で構成することができ、環境条件の悪い現場でも短時
間で実施することができ、アレー状太陽電池装置の新規
な試験方法を提供することができる。
第１図はアレー状太陽電池装置の等価回路、第２図は同
太陽電池装置に含まれた測定のための７列の太陽電池素
子列を示す等価回路図、第３図は太陽電池装置の平面図
、第７図は本発明による試験装置を示す図、第５図は試
験結果を示す波形図である。 ／１１〜／１Ｔ１ｎ’太陽電池素子、４１：試験装置、
ｊ：光源、Ｚ：パルス駆動回路、７：窓、２ニスリツト
板、／θａ、／θｂニブローブ、／／：測定装置。 ’：、、ｂ代理人 弁理士 福土隊彦 （他２名
第１図 第３図
太陽電池装置に含まれた測定のための７列の太陽電池素
子列を示す等価回路図、第３図は太陽電池装置の平面図
、第７図は本発明による試験装置を示す図、第５図は試
験結果を示す波形図である。 ／１１〜／１Ｔ１ｎ’太陽電池素子、４１：試験装置、
ｊ：光源、Ｚ：パルス駆動回路、７：窓、２ニスリツト
板、／θａ、／θｂニブローブ、／／：測定装置。 ’：、、ｂ代理人 弁理士 福土隊彦 （他２名
第１図 第３図
Claims (1)
- １、 太陽電池素子を、所望出力を導出させるに要する
複数個について直列及び並列に接続してなる太陽電池ア
レーの試験方法において、測定対象となる太陽゛鴫池素
子にプローブをセットして出力を検知し得る状態で、該
太陽電池素子のみにパルス光を照射して出力応答を検知
することを特徴とする太陽電池アレーの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131874A JPS5920870A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 太陽電池アレ−の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131874A JPS5920870A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 太陽電池アレ−の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5920870A true JPS5920870A (ja) | 1984-02-02 |
Family
ID=15068154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57131874A Pending JPS5920870A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 太陽電池アレ−の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920870A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003309277A (ja) * | 2002-04-18 | 2003-10-31 | Canon Inc | 光起電力モジュールの特性検査方法及び装置 |
| JP2004247325A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-09-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
| WO2008129010A3 (en) * | 2007-04-19 | 2009-03-26 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Test equipment for automated quality control of thin film solar modules |
| JP2009099607A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-05-07 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
| WO2011052426A1 (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-05 | 株式会社アルバック | 太陽電池の評価装置及び評価方法 |
| JP5165799B2 (ja) * | 2009-12-22 | 2013-03-21 | 株式会社アルバック | 太陽電池の評価方法及び評価装置 |
| JP2013195142A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Dexerials Corp | 太陽電池の出力測定方法及び出力測定治具 |
| JP2013197182A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Dexerials Corp | 太陽電池モジュールの製造方法 |
| US9998072B2 (en) | 2012-06-12 | 2018-06-12 | Dow Global Technologies Llc | Apparatus and method for locating a discontinuity in a solar array |
-
1982
- 1982-07-27 JP JP57131874A patent/JPS5920870A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US7554346B2 (en) | 2007-04-19 | 2009-06-30 | Oerlikon Trading Ag, Trubbach | Test equipment for automated quality control of thin film solar modules |
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| WO2011052426A1 (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-05 | 株式会社アルバック | 太陽電池の評価装置及び評価方法 |
| JPWO2011052426A1 (ja) * | 2009-10-26 | 2013-03-21 | 株式会社アルバック | 太陽電池の評価装置及び評価方法 |
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