JPS62134263U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62134263U JPS62134263U JP2249286U JP2249286U JPS62134263U JP S62134263 U JPS62134263 U JP S62134263U JP 2249286 U JP2249286 U JP 2249286U JP 2249286 U JP2249286 U JP 2249286U JP S62134263 U JPS62134263 U JP S62134263U
- Authority
- JP
- Japan
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- Prior art date
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- 238000002247 constant time method Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
第1図は本考案の実施例を示す斜視図、第2図
は同じく光源部の模式的拡大断面図、第3図は受
光素子に対する走査例及び夫々の一次元光電流分
の例を示す説明図、第4図は光源部の他の例を示
す原理図、第5図は本考案の他の実施例を示す模
式的断面図である。 1……機枠、2……試料台、3……光源部、3
a……暗筐、3b……開口部、3c……レンズ、
3d……光源、3e……遮光板、3f……スリツ
ト、3g……フイルタ、4……受光素子、10…
…画像再構成部、11……演算部、12……表示
部。
は同じく光源部の模式的拡大断面図、第3図は受
光素子に対する走査例及び夫々の一次元光電流分
の例を示す説明図、第4図は光源部の他の例を示
す原理図、第5図は本考案の他の実施例を示す模
式的断面図である。 1……機枠、2……試料台、3……光源部、3
a……暗筐、3b……開口部、3c……レンズ、
3d……光源、3e……遮光板、3f……スリツ
ト、3g……フイルタ、4……受光素子、10…
…画像再構成部、11……演算部、12……表示
部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 光の入射によつて電気信号を発する受光素子
の受光面を横切る長さの線状光を横切る長さの線
状光を投射する光源部と、この線状光にて前記受
光面を複数方向から夫々一次元的に走査すべく受
光素子と光源部とを相対移動させる手段と、各走
査時に得た一次元光電流分布に基づき、CT法の
画像再生アルゴリズムに従い二次元特性分布像を
得る画像構成部とを具備することを特徴とする受
光素子の光電流分布解析装置。 2 前記走査用線状光には波長の異なる光を用い
る実用新案登録請求の範囲第1項記載の光電流分
布解析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2249286U JPH0739247Y2 (ja) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | 受光素子の光電流分布解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2249286U JPH0739247Y2 (ja) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | 受光素子の光電流分布解析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62134263U true JPS62134263U (ja) | 1987-08-24 |
JPH0739247Y2 JPH0739247Y2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
ID=30819928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2249286U Expired - Lifetime JPH0739247Y2 (ja) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | 受光素子の光電流分布解析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0739247Y2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002181658A (ja) * | 2000-12-12 | 2002-06-26 | Sony Corp | 受光素子の検査装置および検査方法 |
JP2002261315A (ja) * | 2001-03-05 | 2002-09-13 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光電変換モジュールの製造方法 |
JP2004247325A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-09-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
JP2007127499A (ja) * | 2005-11-02 | 2007-05-24 | Nec Electronics Corp | 非破壊検査装置および非破壊検査方法 |
JP2010073800A (ja) * | 2008-09-17 | 2010-04-02 | Lasertec Corp | 太陽電池の評価装置、評価方法、及び太陽電池の製造方法 |
JP2010245431A (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-28 | Lasertec Corp | 太陽電池の評価装置、評価方法、及び太陽電池の製造方法 |
JP2010278123A (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-09 | Lasertec Corp | 太陽電池効率測定装置、太陽電池評価装置 |
JP2011096845A (ja) * | 2009-10-29 | 2011-05-12 | Lasertec Corp | 太陽電池評価装置 |
JP2011155225A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 |
-
1986
- 1986-02-18 JP JP2249286U patent/JPH0739247Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2011155225A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0739247Y2 (ja) | 1995-09-06 |
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