JP2004233083A - 変成器試験装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。
【解決手段】被試験変成器の2次出力を標準変成器の2次出力と比較して前記被試験変成器を試験する装置において、前記標準変成器の2次出力に基き、標準信号Vsを形成する標準信号形成手段CTs,VTsと、前記標準変成器の2次出力および前記被試験変成器の2次出力が与えられ、前記標準変成器および前記被試験変成器の各2次出力の差を取り出す2次巻線を持った偏差変成器CC,VCを有し、この偏差変成器の出力に基き偏差信号ΔVを形成する偏差信号形成手段17,18,37,38と、前記標準出力形成手段および前記偏差出力形成手段の各出力が与えられることにより下式によって比誤差εおよび位相角θを求める演算手段16,36とをそなえたことを特徴とする変成器試験装置。
【数1】
Figure 2004233083

【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、変成器すなわち変流器、計器用変圧器を試験する装置に係り、特に比誤差および位相角を試験する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のこの種の装置として、図4に示すものがある。この装置は、標準変流器CTsおよび被試験変流器CTxを共通電源ACに接続して、標準変成器CTsの2次出力を補助変流器CToにより取出し、また偏差変流器CCにより差信号ΔVeを取り出して、この差信号ΔVeがゼロになるように偏差変流器CCに補正電流ΔIeを流して平衡を取り、平衡したときの加算した比誤差および位相角の大きさを求めるものである。
【0003】
ここで、平衡を取るために、補助変流器CToの2次出力を電流−電圧変換回路1に与えて標準信号Vsを形成し、これを基準相回路2および移相回路3に与えて、これら両回路2,3の出力である基準相信号および移相信号を、零検出回路6が調整型混合回路4によって各別に調整しつつ補正回路5に帰還信号を与え、補正回路5の出力ΔIeを補正電流として偏差変流器CCに与える。
【0004】
このときの調整型混合回路4における、帰還信号の基準相信号および移相信号の調整量が、比誤差および位相角となる。
【0005】
【特許文献1】
特公昭57−57667号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
このように差信号ΔVeがゼロになるように、比誤差と位相角とに分けて帰還動作を行っているため、動作速度を上げることが困難であるという問題がある。すなわち、動作速度を上げようとすると、帰還量を増すことになり、発振とかハンチングを引き起こし不安定になる。そこで、動作速度を抑える必要が生じる。
【0007】
加えて、帰還回路とか零検出回路が装置構成におけるかなり大きな部分を占めており、これらの回路が存在する分だけ回路構成を複雑化している。
【0008】
本発明は上述の点を考慮してなされたもので、動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的達成のため、本発明では、
被試験変成器の2次出力を標準変成器の2次出力と比較して前記被試験変成器を試験する装置において、前記標準変成器の2次出力に基き、標準信号Vsを形成する標準信号形成手段と、前記標準変成器の2次出力および前記被試験変成器の2次出力が与えられ、前記標準変成器および前記被試験変成器の各2次出力の差を取り出す2次巻線を持った偏差変成器を有し、この偏差変成器の出力に基き偏差信号ΔVを形成する偏差信号形成手段と、前記標準出力形成手段および前記偏差出力形成手段の各出力が与えられることにより下式によって比誤差εおよび位相角θを求める演算手段とをそなえたことを特徴とする変成器試験装置、
【数2】
Figure 2004233083
を提供するものである。
【0010】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の一実施例の回路構成を示すブロック線図である。この実施例では、試験対象となる変成器が変流器である。この図1において、図3と同一符号は同一要素を示している。
【0011】
そして、図1において、標準変流器CTs、補助変流器CToおよび比試験変流器CTxは、図3に示した従来回路と同様であるが、偏差変流器CCは図3のものが補正電流ΔIeを流す巻線があるのに対し、図1の実施例ではこの巻線が設けられていない。すなわち、偏差変流器CCへの電流帰還は行わない構成となっている。
【0012】
この実施例では、標準変流器CTsから標準電流が与えられる補助変流器CToの出力は、演算増幅器OAを用いた電流・電圧変換回路11に与えられて電圧信号に変換された上で、振幅調整回路12に与えられる。振幅調整回路12は、乗算型D/A変換器とこの乗算型D/A変換器の出力側に接続された演算増幅器OAとにより構成される。そして、乗算型D/A変換器には、後述するCPU16から帰還信号が与えられて振幅調整回路12の出力Vsの調整が行われる。
【0013】
振幅調整回路12の出力Vsは、同期回路13およびAD変換器14に与えられ、それらの各出力はCPU16に与えられる。CPU16には、これとともに偏差増幅回路17から偏差変流器CCの出力である偏差信号ΔViがAD変換器18を介して与えられる。
【0014】
CPU16は、同期回路13およびAD変換器14からの標準変流器CTsおよび被試験変流器CTxの各2次出力に基づく信号の外に、設定入力回路15からの設定信号が与えられて上述した振幅調整回路12への帰還信号を形成するとともに、表示部19に与えるべき表示出力信号を形成する。併せて、外部通信回路20との間で信号の授受を行う。
【0015】
このように構成された図1の回路において、CPU16は、標準信号Vsおよび偏差信号ΔViの両データを用いて、設定入力回路15により設定された内容の演算を行う。設定入力回路15による設定は、比誤差ε(%)および位相角(rad)である。
【0016】
CPU16による比誤差ε(%)および位相角(rad)の演算は、設定入力回路15の設定に基づき、次式にしたがって行う。
【0017】
【数3】
Figure 2004233083
すなわち、比誤差ε(%)を求めるには、標準信号Vsと偏差ΔViとにより、上記式(1)に示された演算を行う。
【0018】
また、位相角θ(rad)を求めるには、まず標準信号Vsを用いて90°位相角に相当する時間データをシフトすることにより、直角相Vs(t−t/4)を求める。次いで、この直角相Vs(t−t/4)および偏差信号ΔViを用いて上記式(2)に示された演算を行う。
【0019】
CPU16は、このようにして得られた演算結果、すなわち比誤差ε(%)および位相角θ(rad)を、表示部19に出力して表示を行う。また、CPU16は、外部通信回路20を介して図示しない外部回路に出力し、かつ外部回路から入力を得ることもできる。
【0020】
図2は、本発明の他の実施例を示したブロック線図であり、この実施例では試験対象となる変成器が計器用変圧器である。
【0021】
そして、この実施例では、図1に示した実施例における補助変流器CToと偏差変流器CCとの組み合わせに替えて、偏差変圧器VCを設けている。この偏差変圧器VCの1次巻線両端に、標準変圧器VTsと被試験変圧器VTxの各2次出力を与え、2次出力として現れる偏差電圧ΔVvを、偏差増幅回路37およびAD変換器38を介してCPU36に与え、標準信号Vsとの比較に供する。
【0022】
標準信号Vsは、図1の実施例と同様に構成された、電圧増幅回路31、振幅調整回路32、同期回路33およびAD変換回路34等が、標準変圧器VTsから与えられる電圧を処理することにより形成される。
【0023】
そして、CPU36は、図1の実施例について説明したと同様に、上記式(1)および(2)に示す演算を行い、表示および必要な通信を行う。
【0024】
図3は、図1および図2に示した実施例に用い得る信号処理回路の他の例を示したものである。
【0025】
この信号処理回路では、図1および図2の実施例ではソフトウェアにより1/4周期移相して形成していた移相信号形成を、アナログ的に形成するようにしたものである。そして、基準信号Vsから90°移相信号を形成するための積分回路51を設けている。90°移相信号を用いることにより、位相角誤差を求めることができる。
【0026】
CPU16,36は、基準信号Vs、この基準信号Vsから形成した移相信号、および偏差信号ΔViを得て被試験変成器の試験を行う。
【0027】
また、図1および図2に示した実施例では、同期回路13,33により形成していた同期信号をPLL53により基準周波数の信号Vsを逓倍して形成することとしている。
【0028】
【発明の効果】
本発明は上述のように、偏差変成器により被試験変成器の2次出力と標準変成器の2次出力との偏差を取り出して、標準信号とともに演算手段に与え比誤差εおよび位相角θを求めるようにしたため、従来の変成器試験装置のように偏差をゼロにするための帰還回路を用いることなく、変成器の試験を行うことができる。このため、回路構成が簡単でしかも動作速度の速い試験装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す回路図。
【図2】本発明の他の実施例の構成を示す回路図。
【図3】本発明に用い得る信号処理回路の他の例を示す回路図。
【図4】従来の変成器試験装置の構成を示す回路図。
【符号の説明】
1 増幅回路
2 基準相回路
3 移相回路
4 調整型混合回路
5 補正回路
6 零検出回路
11 電流・電圧変換回路
12 振幅調整回路
13 同期回路
14 AD変換器
15 設定入力回路
16 CPU
17 偏差増幅回路
18 AD変換器
19 表示部
20 外部通信回路
31 電圧増幅回路
32 振幅調整回路
33 同期回路
34 AD変換器
35 設定入力回路
36 CPU
37 偏差増幅回路
38 AD変換器
39 表示部
40 外部通信回路

Claims (4)

  1. 被試験変成器の2次出力を標準変成器の2次出力と比較して前記被試験変成器を試験する装置において、
    前記標準変成器の2次出力に基き、標準信号Vsを形成する標準信号形成手段と、
    前記標準変成器の2次出力および前記被試験変成器の2次出力が与えられ、前記標準変成器および前記被試験変成器の各2次出力の差を取り出す2次巻線を持った偏差変成器を有し、この偏差変成器の出力に基き偏差信号ΔVを形成する偏差信号形成手段と、
    前記標準出力形成手段および前記偏差出力形成手段の各出力が与えられることにより下式によって比誤差εおよび位相角θを求める演算手段と
    をそなえたことを特徴とする変成器試験装置。
    Figure 2004233083
  2. 請求項1記載の変成器試験装置において、
    前記標準出力手段は、乗算型DA変換器を用いた増幅回路として構成され、前記標準変成器の2次出力が与えられてその振幅調整を行うものである変成器試験装置。
  3. 請求項1記載の変成器試験装置において、
    前記標準変成器および被試験変成器は変流器であり、前記偏差変成器は、前記標準変成器の2次出力が与えられる第1の1次巻線、および前記被試験変成器の2次出力が与えられる第2の1次巻線、ならびに前記第1および第2の1次巻線への各入力の差を取り出す2次巻線を持つものである変成器試験装置。
  4. 請求項1記載の変成器試験装置において、
    前記標準変成器および被試験変成器は、計器用変圧器であり、前記偏差変成器は前記標準変成器の2次出力および前記被試験変成器の2次出力が各端に与えられ1次巻線と、ならびに前記1次巻線に与えられる2つの2次出力の差を取り出す2次巻線とを有する変成器試験装置。
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