JP2002214256A - ３相交流計測装置 - Google Patents
３相交流計測装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 計測誤差を抑えて、部品数が少なく、小型か
つ安価な構成で零相電流を計測する。 【解決手段】 各相のアナログ計測信号が供給される１
個の相・レンジ切換回路６に、サンプリング周期毎に、
各相のアナログ計測信号をＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ず
つずらして順次に選択して出力することを、レンジゲイ
ンのチャンネル数の回数くり返す相選択手段７と、この
手段７から順次に出力された各チャンネルの３相のアナ
ログ計測信号を、各チャンネルそれぞれのレンジゲイン
で増幅して順次に出力するレンジ切換手段８とを設け、
かつ、この手段８の出力信号をＡ／Ｄ変換し、各チャン
ネルの３相のサンプリングデータを動作遅延時間の間隔
で順次に出力する１個のＡ／Ｄ変換器１０と、この変換
器１０から出力された選択チャンネルのサンプリングデ
ータのデジタルフィルタ処理出力に、相間の動作遅延時
間ずつの位相のずれの補正演算を施す誤差演算手段とを
備える。
つ安価な構成で零相電流を計測する。 【解決手段】 各相のアナログ計測信号が供給される１
個の相・レンジ切換回路６に、サンプリング周期毎に、
各相のアナログ計測信号をＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ず
つずらして順次に選択して出力することを、レンジゲイ
ンのチャンネル数の回数くり返す相選択手段７と、この
手段７から順次に出力された各チャンネルの３相のアナ
ログ計測信号を、各チャンネルそれぞれのレンジゲイン
で増幅して順次に出力するレンジ切換手段８とを設け、
かつ、この手段８の出力信号をＡ／Ｄ変換し、各チャン
ネルの３相のサンプリングデータを動作遅延時間の間隔
で順次に出力する１個のＡ／Ｄ変換器１０と、この変換
器１０から出力された選択チャンネルのサンプリングデ
ータのデジタルフィルタ処理出力に、相間の動作遅延時
間ずつの位相のずれの補正演算を施す誤差演算手段とを
備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、３相交流の各相電
流の計測信号をＡ／Ｄ変換してデジタルフィルタ処理
し、この処理結果の３相ベクトルを合成して時々刻々の
零相電流を求めて計測する３相交流計測装置に関し、詳
しくは、そのＡ／Ｄ変換の改良に関する。
流の計測信号をＡ／Ｄ変換してデジタルフィルタ処理
し、この処理結果の３相ベクトルを合成して時々刻々の
零相電流を求めて計測する３相交流計測装置に関し、詳
しくは、そのＡ／Ｄ変換の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ポンプ場，浄水場等の水処理設備
においては、ポンプ等に給電される３相交流電源（商用
電源）の零相電流を監視して事故検出等を行うため、図
４に示す構成の３相交流計測装置が設けられる。
においては、ポンプ等に給電される３相交流電源（商用
電源）の零相電流を監視して事故検出等を行うため、図
４に示す構成の３相交流計測装置が設けられる。
【０００３】この従来の３相交流計測装置は、例えば、
３相交流電源の給電ラインに設けられた計器用変流器
（図示せず）からＲ，Ｓ，Ｔ各相の入力端子１R，１S，
１T に供給された交流電源の各相電流のアナログ計測信
号を、系統基本波の電気角３０゜毎に、適切な信号レン
ジでＡ／Ｄ変換するため、入力端子１R，１S，１T 毎に
レンジ切換回路２R，２S，２T 及びＡ／Ｄ変換器３R，
３S，３Tが設けられる。
３相交流電源の給電ラインに設けられた計器用変流器
（図示せず）からＲ，Ｓ，Ｔ各相の入力端子１R，１S，
１T に供給された交流電源の各相電流のアナログ計測信
号を、系統基本波の電気角３０゜毎に、適切な信号レン
ジでＡ／Ｄ変換するため、入力端子１R，１S，１T 毎に
レンジ切換回路２R，２S，２T 及びＡ／Ｄ変換器３R，
３S，３Tが設けられる。
【０００４】そして、レンジ切換回路２R，２S，２T及
びＡ／Ｄ変換器３R，３S，３Tは、制御回路４のタイミ
ング制御により、Ａ／Ｄ変換のサンプリング周期毎（前
記の電気角３０゜毎）に、Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間ｔ
の間隔でレンジゲインを切換えてＡ／Ｄ変換することを
くり返す。
びＡ／Ｄ変換器３R，３S，３Tは、制御回路４のタイミ
ング制御により、Ａ／Ｄ変換のサンプリング周期毎（前
記の電気角３０゜毎）に、Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間ｔ
の間隔でレンジゲインを切換えてＡ／Ｄ変換することを
くり返す。
【０００５】すなわち、レンジ切換回路２R，２S，２T
は、動作遅延時間ｔ毎に、チャンネル番号「１」，
「２」，…，「Ｎ」の異なるＮチャンネルのレンジゲイ
ンに順に切換わり、各レンジゲインで各相のアナログ計
測信号を個別に増幅してＡ／Ｄ変換器３R，３S，３Tに
供給する。
は、動作遅延時間ｔ毎に、チャンネル番号「１」，
「２」，…，「Ｎ」の異なるＮチャンネルのレンジゲイ
ンに順に切換わり、各レンジゲインで各相のアナログ計
測信号を個別に増幅してＡ／Ｄ変換器３R，３S，３Tに
供給する。
【０００６】また、Ａ／Ｄ変換器３R，３S，３T は、動
作遅延時間ｔ毎に入力信号をサンプル・ホールドして量
子化し、図５の（ａ），（ｂ），（ｃ）の各相のサンプ
リングのタイミング信号に示すように、動作遅延時間ｔ
の間隔で各相のチャンネル番号「１」，「２」，…，
「Ｎ」のアナログ計測信号を、相毎に個別にＡ／Ｄ変換
する。
作遅延時間ｔ毎に入力信号をサンプル・ホールドして量
子化し、図５の（ａ），（ｂ），（ｃ）の各相のサンプ
リングのタイミング信号に示すように、動作遅延時間ｔ
の間隔で各相のチャンネル番号「１」，「２」，…，
「Ｎ」のアナログ計測信号を、相毎に個別にＡ／Ｄ変換
する。
【０００７】このとき、各相のレンジ切換え及びＡ／Ｄ
変換が、相毎に設けられたレンジ切換回路２R，２S，２
T及びＡ／Ｄ変換器３R，３S，３Tにより、３相同時に行
われるため、Ａ／Ｄ変換器３R，３S，３T から後段のマ
イクロコンピュータ構成の演算処理回路５に、各相電流
のサンプリングデータが、相間の時間誤差等なく供給さ
れる。
変換が、相毎に設けられたレンジ切換回路２R，２S，２
T及びＡ／Ｄ変換器３R，３S，３Tにより、３相同時に行
われるため、Ａ／Ｄ変換器３R，３S，３T から後段のマ
イクロコンピュータ構成の演算処理回路５に、各相電流
のサンプリングデータが、相間の時間誤差等なく供給さ
れる。
【０００８】そして、演算処理回路５はいわゆるソフト
ウェア処理により、各相のＮチャンネルのサンプリング
データから、適当なレンジ（チャンネル）の３相のサン
プリングデータを選択してデジタルフィルタ処理し、そ
の処理結果の３相のベクトルを合成し、そのベクトル和
から零相電流を求めて計測し、時々刻々の零相電流の計
測結果をモニタ表示等して監視する。
ウェア処理により、各相のＮチャンネルのサンプリング
データから、適当なレンジ（チャンネル）の３相のサン
プリングデータを選択してデジタルフィルタ処理し、そ
の処理結果の３相のベクトルを合成し、そのベクトル和
から零相電流を求めて計測し、時々刻々の零相電流の計
測結果をモニタ表示等して監視する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】前記図４の従来装置の
場合、Ａ／Ｄ変換器３R，３S，３T が３相同時に同一チ
ャンネル番号「１」，「２」，…，「Ｎ」の計測信号を
サンプリングデータにＡ／Ｄ変換するため、１回のサン
プリング毎に演算処理回路５に供給される各チャンネル
番号「１」，「２」，…，「Ｎ」の３相のサンプリング
データに相間の時間ずれがなく、零相電流を精度よく計
測し得るが、相毎にＡ／Ｄ変換器３R，３S，３T 及びレ
ンジ切換回路２R，２S，２T 等の周辺回路を設けなけれ
ばならず、部品数が多く、回路基板の部品実装面積（ハ
ード実装面積）が大きくなり、装置が大型かつ高価にな
る問題点がある。
場合、Ａ／Ｄ変換器３R，３S，３T が３相同時に同一チ
ャンネル番号「１」，「２」，…，「Ｎ」の計測信号を
サンプリングデータにＡ／Ｄ変換するため、１回のサン
プリング毎に演算処理回路５に供給される各チャンネル
番号「１」，「２」，…，「Ｎ」の３相のサンプリング
データに相間の時間ずれがなく、零相電流を精度よく計
測し得るが、相毎にＡ／Ｄ変換器３R，３S，３T 及びレ
ンジ切換回路２R，２S，２T 等の周辺回路を設けなけれ
ばならず、部品数が多く、回路基板の部品実装面積（ハ
ード実装面積）が大きくなり、装置が大型かつ高価にな
る問題点がある。
【００１０】そして、水処理設備の３相交流計測装置だ
けでなく、種々の用途のこの種の３相交流計測装置にお
いて、前記と同様の問題点がある。
けでなく、種々の用途のこの種の３相交流計測装置にお
いて、前記と同様の問題点がある。
【００１１】本発明は、この種の３相交流装置におい
て、計測誤差が大きくならないようにして部品数を少な
くし、小型かつ安価に形成することを課題とする。
て、計測誤差が大きくならないようにして部品数を少な
くし、小型かつ安価に形成することを課題とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、本発明の３相交流装置においては、各相のアナロ
グ計測信号が供給される１個の相・レンジ切換回路に、
サンプリング周期毎に、各相のアナログ計測信号をＡ／
Ｄ変換の動作遅延時間ずつずらして順次に選択して出力
することを、レンジゲインのチャンネル数の回数くり返
す相選択手段と、相選択手段から１チャンネル分の３相
のアナログ計測信号が出力される毎に、つぎのチャンネ
ルのレンジゲインに切換わり、相選択手段から順次に出
力された各チャンネルの３相のアナログ計測信号を、各
チャンネルそれぞれのレンジゲインで増幅して順次に出
力するレンジ切換手段とを設け、かつ、このレンジ切換
手段の出力信号をＡ／Ｄ変換し、各チャンネルの３相の
サンプリングデータを前記動作遅延時間の間隔で順次に
出力する１個のＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器から
出力された選択チャンネルのサンプリングデータのデジ
タルフィルタ処理出力に、相間の前記動作遅延時間ずつ
の位相のずれの補正演算を施す誤差演算手段とを備え
る。
めに、本発明の３相交流装置においては、各相のアナロ
グ計測信号が供給される１個の相・レンジ切換回路に、
サンプリング周期毎に、各相のアナログ計測信号をＡ／
Ｄ変換の動作遅延時間ずつずらして順次に選択して出力
することを、レンジゲインのチャンネル数の回数くり返
す相選択手段と、相選択手段から１チャンネル分の３相
のアナログ計測信号が出力される毎に、つぎのチャンネ
ルのレンジゲインに切換わり、相選択手段から順次に出
力された各チャンネルの３相のアナログ計測信号を、各
チャンネルそれぞれのレンジゲインで増幅して順次に出
力するレンジ切換手段とを設け、かつ、このレンジ切換
手段の出力信号をＡ／Ｄ変換し、各チャンネルの３相の
サンプリングデータを前記動作遅延時間の間隔で順次に
出力する１個のＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器から
出力された選択チャンネルのサンプリングデータのデジ
タルフィルタ処理出力に、相間の前記動作遅延時間ずつ
の位相のずれの補正演算を施す誤差演算手段とを備え
る。
【００１３】したがって、各相に共通の１個のＡ／Ｄ変
換器と、その周辺回路としての１個の相・レンジ切換回
路とを設けて形成され、部品数が従来より大幅に少なく
なる。
換器と、その周辺回路としての１個の相・レンジ切換回
路とを設けて形成され、部品数が従来より大幅に少なく
なる。
【００１４】そして、各相のアナログ計測信号は、相・
レンジ切換回路の相選択手段により、チャンネル毎に、
Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間ずつずらして順に選択され、
レンジ切換手段に供給されて各チャンネルのレンジゲイ
ンで増幅される。
レンジ切換回路の相選択手段により、チャンネル毎に、
Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間ずつずらして順に選択され、
レンジ切換手段に供給されて各チャンネルのレンジゲイ
ンで増幅される。
【００１５】さらに、レンジ切換手段で増幅された各チ
ャンネルの３相のアナログ計測信号が、前記動作遅延時
間の間隔でＡ／Ｄ変換されて順次にサンプリングデータ
に変換される。
ャンネルの３相のアナログ計測信号が、前記動作遅延時
間の間隔でＡ／Ｄ変換されて順次にサンプリングデータ
に変換される。
【００１６】そして、選択されたチャンネルの３相のサ
ンプリングデータがデジタルフィルタ処理され、その３
相出力を合成して零相電流を求める際、誤差演算手段に
より、相間のＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ずつの位相のず
れが演算で補正される。
ンプリングデータがデジタルフィルタ処理され、その３
相出力を合成して零相電流を求める際、誤差演算手段に
より、相間のＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ずつの位相のず
れが演算で補正される。
【００１７】そのため、Ａ／Ｄ変換器を１個だけ用いた
小型かつ安価な構成により、３相交流の零相電流の精度
の高い計測が行える。
小型かつ安価な構成により、３相交流の零相電流の精度
の高い計測が行える。
【００１８】
【発明の実施の形態】本発明の実施の１形態につき、図
１〜図３を参照して説明する。図１は水処理設備の３相
交流計測装置に適用した場合の構成を示し、入力端子１
R，１S，１Tの３相の相電流のアナログ計測信号は、図
４の相毎のレンジ切換回路２R，２S，２T の代わりに設
けられた１個の相・レンジ切換回路６に並列に供給され
る。
１〜図３を参照して説明する。図１は水処理設備の３相
交流計測装置に適用した場合の構成を示し、入力端子１
R，１S，１Tの３相の相電流のアナログ計測信号は、図
４の相毎のレンジ切換回路２R，２S，２T の代わりに設
けられた１個の相・レンジ切換回路６に並列に供給され
る。
【００１９】高速処理が要求されるこの回路６は、相選
択手段７とレンジ切換手段８のハードウェア回路で形成
され、具体的には、レンジ切換手段８が図４のレンジ切
換回路２R，２S，２T と同様の１個のレンジ切換回路で
形成され、この切換回路に相選択手段７としてのマルチ
プレクサ回路を付加して形成される。
択手段７とレンジ切換手段８のハードウェア回路で形成
され、具体的には、レンジ切換手段８が図４のレンジ切
換回路２R，２S，２T と同様の１個のレンジ切換回路で
形成され、この切換回路に相選択手段７としてのマルチ
プレクサ回路を付加して形成される。
【００２０】そして、図４の制御回路４に対応する制御
回路９から相選択手段７，レンジ切換手段８に、相選
択，レンジゲイン可変のタイミング信号それぞれが供給
され、前記従来と同様に、サンプリング周期毎に、チャ
ンネル「１」〜「Ｎ」のＮチャンネルのレンジゲインで
３相のアナログ計測信号を増幅する場合、相選択手段７
は、サンプリング周期毎に、入力端子１R，１S，１T の
各相のアナログ計測信号を、Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間
ずつずらして、例えばＲ，Ｓ，Ｔの相順に選択すること
をＮ回くり返す。
回路９から相選択手段７，レンジ切換手段８に、相選
択，レンジゲイン可変のタイミング信号それぞれが供給
され、前記従来と同様に、サンプリング周期毎に、チャ
ンネル「１」〜「Ｎ」のＮチャンネルのレンジゲインで
３相のアナログ計測信号を増幅する場合、相選択手段７
は、サンプリング周期毎に、入力端子１R，１S，１T の
各相のアナログ計測信号を、Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間
ずつずらして、例えばＲ，Ｓ，Ｔの相順に選択すること
をＮ回くり返す。
【００２１】このくり返しにより、相選択手段７からレ
ンジ切換手段８に、チャンネル「１」のＲ，Ｓ，Ｔのア
ナログ計測信号，チャンネル「２」のＲ，Ｓ，Ｔのアナ
ログ計測信号，…，チャンネル「Ｎ」のＲ，Ｓ，Ｔのア
ナログ計測信号が、動作遅延時間ｔの間隔で順次に転送
される。
ンジ切換手段８に、チャンネル「１」のＲ，Ｓ，Ｔのア
ナログ計測信号，チャンネル「２」のＲ，Ｓ，Ｔのアナ
ログ計測信号，…，チャンネル「Ｎ」のＲ，Ｓ，Ｔのア
ナログ計測信号が、動作遅延時間ｔの間隔で順次に転送
される。
【００２２】また、制御回路９のタイミング信号に基づ
き、レンジ切換手段８は、３・ｔの周期でチャンネル
「１」，「２」，…，「Ｎ」のレンジゲインに順次に切
換わり、チャンネル「１」の各相のアナログ計測信号が
入力される間はチャンネル「１」レンジゲインになり、
チャンネル「２」の各相のアナログ計測信号が入力され
る間はチャンネル「２」のレンジゲインに変わり、同様
にチャンネル「Ｎ」の各相のアナログ計測信号が入力さ
れる間はチャンネル「Ｎ」のレンジゲインになる。
き、レンジ切換手段８は、３・ｔの周期でチャンネル
「１」，「２」，…，「Ｎ」のレンジゲインに順次に切
換わり、チャンネル「１」の各相のアナログ計測信号が
入力される間はチャンネル「１」レンジゲインになり、
チャンネル「２」の各相のアナログ計測信号が入力され
る間はチャンネル「２」のレンジゲインに変わり、同様
にチャンネル「Ｎ」の各相のアナログ計測信号が入力さ
れる間はチャンネル「Ｎ」のレンジゲインになる。
【００２３】つぎに、相・レンジ切換回路６の後段に、
図４の相毎のＡ／Ｄ変換器３Ｒ，３ Ｓ，３Ｔの代わり
に、各相共通の１個のＡ／Ｄ変換器１０が設けられ、こ
のＡ／Ｄ変換器１０は制御回路９から供給される図２の
サンプリングのタイミング信号に基づき、相・レンジ切
換回路６のレンジ切換手段８からチャンネル番号順に供
給された各チャンネルの動作遅延時間ｔの間隔の３相の
計測信号をサンプリングしてＡ／Ｄ変換し、各チャンネ
ルの動作遅延時間ｔずつずれた３相のサンプリングデー
タを形成する。
図４の相毎のＡ／Ｄ変換器３Ｒ，３ Ｓ，３Ｔの代わり
に、各相共通の１個のＡ／Ｄ変換器１０が設けられ、こ
のＡ／Ｄ変換器１０は制御回路９から供給される図２の
サンプリングのタイミング信号に基づき、相・レンジ切
換回路６のレンジ切換手段８からチャンネル番号順に供
給された各チャンネルの動作遅延時間ｔの間隔の３相の
計測信号をサンプリングしてＡ／Ｄ変換し、各チャンネ
ルの動作遅延時間ｔずつずれた３相のサンプリングデー
タを形成する。
【００２４】そして、これらのサンプリングデータは、
図４の演算処理回路５に相当するマイクロコンピュータ
構成の演算処理回路１１に供給される。
図４の演算処理回路５に相当するマイクロコンピュータ
構成の演算処理回路１１に供給される。
【００２５】この演算処理回路１１は、ほぼ図４の演算
処理回路５に誤差演算手段を付加して形成され、例え
ば、各チャンネルの３相のサンプリングデータの大きさ
から最適スケールのチャンネルを選択し、選択チャンネ
ルの３相のサンプリングデータを取込んでデジタルフィ
ルタ処理の演算を行い、この演算により相電流の３相ベ
クトルを求める。
処理回路５に誤差演算手段を付加して形成され、例え
ば、各チャンネルの３相のサンプリングデータの大きさ
から最適スケールのチャンネルを選択し、選択チャンネ
ルの３相のサンプリングデータを取込んでデジタルフィ
ルタ処理の演算を行い、この演算により相電流の３相ベ
クトルを求める。
【００２６】このとき、Ｒ，Ｓ，Ｔ各相のベクトルは、
各相の位相が、本来の１２０°間隔の位相から、Ａ／Ｄ
変換の動作遅延時間ｔに相当する位相θずつずれる。
各相の位相が、本来の１２０°間隔の位相から、Ａ／Ｄ
変換の動作遅延時間ｔに相当する位相θずつずれる。
【００２７】すなわち、図３に示すように、１２０°ず
つずれたＡ，Ｂ，Ｃの３軸のうちのＡ軸のベクトルを、
Ｒ相のベクトルαとすると、つぎのＳ相のベクトルβ
は、Ａ軸から１２０°ずれたＢ軸の本来の位相より、動
作遅延時間ｔに相当する位相θだけ進み方向にずれ、Ｔ
相のベクトルγは、Ｃ軸の本来の位相より位相２θだけ
進み方向にずれる。
つずれたＡ，Ｂ，Ｃの３軸のうちのＡ軸のベクトルを、
Ｒ相のベクトルαとすると、つぎのＳ相のベクトルβ
は、Ａ軸から１２０°ずれたＢ軸の本来の位相より、動
作遅延時間ｔに相当する位相θだけ進み方向にずれ、Ｔ
相のベクトルγは、Ｃ軸の本来の位相より位相２θだけ
進み方向にずれる。
【００２８】そして、３相交流の周波数をｆ（Hz）とす
ると、位相θは、θ＝３６０・ｔ・ｆ（°）として求ま
り、一定の値である。
ると、位相θは、θ＝３６０・ｔ・ｆ（°）として求ま
り、一定の値である。
【００２９】そこで、誤差演算手段により、周波数ｆ及
びＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ｔから位相θを求め、例え
ばＲ相のベクトルαを基準にして、Ｓ，Ｔ相のベクトル
β，γの位相をθ，２θ遅れ方向にずらして補正する。
びＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ｔから位相θを求め、例え
ばＲ相のベクトルαを基準にして、Ｓ，Ｔ相のベクトル
β，γの位相をθ，２θ遅れ方向にずらして補正する。
【００３０】さらに、この補正後のＲ，Ｓ，Ｔ３相のベ
クトルα，β，γの和を求めて各相電流を合成し、時々
刻々の零相電流を求める。
クトルα，β，γの和を求めて各相電流を合成し、時々
刻々の零相電流を求める。
【００３１】この場合、誤差演算手段により、３相ベク
トルα，β，γのＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ｔに基づく
位相のずれが補正されるため、時々刻々の零相電流が、
図４の従来装置のように相毎にＡ／Ｄ変換器を設けた場
合と同様に、精度よく求めて測定される。
トルα，β，γのＡ／Ｄ変換の動作遅延時間ｔに基づく
位相のずれが補正されるため、時々刻々の零相電流が、
図４の従来装置のように相毎にＡ／Ｄ変換器を設けた場
合と同様に、精度よく求めて測定される。
【００３２】そして、Ａ／Ｄ変換器１０を１個だけ設け
ればよく、その周辺回路としての相・レンジ切換回路６
も１個で済み、しかも、Ａ／Ｄ変換器１０を各相共通の
１個としたことに起因した誤差が演算処理で補正される
ため、相毎にＡ／Ｄ変換器を設ける従来装置に比して著
しく部品数が少なくなり、ハードウェアの実装面積が小
さくなって小型化できるとともに安価に形成することが
でき、小型かつ安価で精度の高いこの種の３相交流計測
装置を提供することができる。
ればよく、その周辺回路としての相・レンジ切換回路６
も１個で済み、しかも、Ａ／Ｄ変換器１０を各相共通の
１個としたことに起因した誤差が演算処理で補正される
ため、相毎にＡ／Ｄ変換器を設ける従来装置に比して著
しく部品数が少なくなり、ハードウェアの実装面積が小
さくなって小型化できるとともに安価に形成することが
でき、小型かつ安価で精度の高いこの種の３相交流計測
装置を提供することができる。
【００３３】なお、前記形態にあっては、誤差演算手段
により、Ｒ相のベクトルαを基準にして、Ｓ，Ｔ相のベ
クトルβ，γの位相を補正したが、Ｓ相のベクトルβ又
はＴ相のベクトルγを基準にして残りの２ベクトルα，
γ又はα，βの位相を補正してもよいのは勿論である。
により、Ｒ相のベクトルαを基準にして、Ｓ，Ｔ相のベ
クトルβ，γの位相を補正したが、Ｓ相のベクトルβ又
はＴ相のベクトルγを基準にして残りの２ベクトルα，
γ又はα，βの位相を補正してもよいのは勿論である。
【００３４】そして、本発明は種々の用途のこの種の３
相交流計測装置に適用することができる。
相交流計測装置に適用することができる。
【００３５】
【発明の効果】本発明は、以下に記載する効果を奏す
る。各相に共通の１個のＡ／Ｄ変換器１０と、その周辺
回路としての１個の相・レンジ切換回路６とを設けて形
成され、部品数を従来より大幅に少なくすることができ
る。
る。各相に共通の１個のＡ／Ｄ変換器１０と、その周辺
回路としての１個の相・レンジ切換回路６とを設けて形
成され、部品数を従来より大幅に少なくすることができ
る。
【００３６】しかも、誤差演算手段により、Ａ／Ｄ変換
器１０を１個だけ設けて各相で共用することに起因する
誤差が、演算で補正される。
器１０を１個だけ設けて各相で共用することに起因する
誤差が、演算で補正される。
【００３７】したがって、Ａ／Ｄ変換器１０を１個ずつ
用いた小型かつ安価な構成により、３相交流の零相電流
の精度の高い計測を行うことができる。
用いた小型かつ安価な構成により、３相交流の零相電流
の精度の高い計測を行うことができる。
【図１】本発明の実施の１形態のブロック結線図であ
る。
る。
【図２】図１のＡ／Ｄ変換の説明用の波形図である。
【図３】図１の誤差の補正演算の説明図である。
【図４】従来装置のブロック結線図である。
【図５】（ａ），（ｂ），（ｃ）は図４のＡ／Ｄ変換の
説明用の波形図である。
説明用の波形図である。
６ 相・レンジ切換回路 ７ 相選択手段 ８ レンジ切換手段 １０ Ａ／Ｄ変換器 １１ 演算処理回路
Claims (1)
- 【請求項１】 ３相交流の各相のアナログ計測信号を、
サンプリング周期毎に、それぞれ複数チャンネルのレン
ジゲインで増幅してＡ／Ｄ変換し、複数チャンネルの３
相のサンプリングデータを形成し、 選択したチャンネルの３相のサンプリングデータをデジ
タルフィルタ処理して合成し、零相電流を計測する３相
交流計測装置において、 前記各相のアナログ計測信号が供給される１個の相・レ
ンジ切換回路に、 サンプリング周期毎に、前記各相のアナログ計測信号を
前記Ａ／Ｄ変換の動作遅延時間ずつずらして順次に選択
して出力することを、前記レンジゲインのチャンネル数
の回数くり返す相選択手段と、 前記相選択手段から１チャンネル分の３相のアナログ計
測信号が出力される毎に、つぎのチャンネルのレンジゲ
インに切換わり、前記相選択手段から順次に出力された
各チャンネルの３相のアナログ計測信号を、各チャンネ
ルそれぞれのレンジゲインで増幅して順次に出力するレ
ンジ切換手段とを設け、 かつ、前記レンジ切換手段の出力信号をＡ／Ｄ変換し、
各チャンネルの３相のサンプリングデータを前記動作遅
延時間の間隔で順次に出力する１個のＡ／Ｄ変換器と、 前記Ａ／Ｄ変換器から出力された選択チャンネルの３相
のサンプリングデータの前記デジタルフィルタ処理出力
に、相間の前記動作遅延時間ずつの位相のずれの補正演
算を施す誤差演算手段とを備えたことを特徴とする３相
交流計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001008923A JP2002214256A (ja) | 2001-01-17 | 2001-01-17 | ３相交流計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001008923A JP2002214256A (ja) | 2001-01-17 | 2001-01-17 | ３相交流計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002214256A true JP2002214256A (ja) | 2002-07-31 |
Family
ID=18876479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001008923A Pending JP2002214256A (ja) | 2001-01-17 | 2001-01-17 | ３相交流計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002214256A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2001
- 2001-01-17 JP JP2001008923A patent/JP2002214256A/ja active Pending
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