JP2004220591A5 - - Google Patents

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Claims (19)

  1. 第1の基板と、
    前記第1の基板上に接着剤を介して設けられた酸化物膜と、
    前記酸化物膜上に設けられた表示装置及び多結晶半導体膜を用いた半導体素子を有する薄膜集積回路と、
    前記表示装置及び前記薄膜集積回路上に設けられた第2の基板と、を有し、
    前記表示装置は、前記薄膜集積回路に接続され、
    前記薄膜集積回路及び前記表示装置は、前記第1の基板及び前記第2の基板の間に樹脂で封止されており、
    前記第1の基板及び前記第2の基板はプラスチック基板であることを特徴とする記録媒体
  2. 第1の基板と、
    前記第1の基板上に接着剤を介して設けられた酸化物膜と、
    前記酸化物膜上に設けられたアンテナ、表示装置、及び多結晶半導体膜を用いた半導体素子を有する薄膜集積回路と、
    前記アンテナ、前記表示装置、及び前記薄膜集積回路上に設けられた第2の基板と、を有し、
    前記表示装置は、前記薄膜集積回路に接続され、
    前記薄膜集積回路は、前記アンテナに接続され、
    前記薄膜集積回路及び前記表示装置は、前記第1の基板及び前記第2の基板の間に樹脂で封止されており、
    前記第1の基板及び前記第2の基板はプラスチック基板であることを特徴とする記録媒体。
  3. 請求項2において、
    前記記録媒体は、データの送受信を前記アンテナの電磁誘導を用いて非接触で行うことを特徴とする記録媒体。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか1項において、
    前記表示装置は、パッシブマトリクス型であることを特徴とする記録媒体。
  5. 第1の基板と、
    前記第1の基板上に接着剤を介して設けられた酸化物膜と、
    前記酸化物膜上に設けられ、多結晶半導体膜を用いた半導体素子を有する表示装置及び薄膜集積回路と、
    前記表示装置及び前記薄膜集積回路上に設けられた第2の基板と、を有し、
    前記表示装置は、前記薄膜集積回路に接続され、
    前記薄膜集積回路及び前記表示装置は、前記第1の基板及び前記第2の基板の間に樹脂で封止されており、
    前記第1の基板及び前記第2の基板はプラスチック基板であることを特徴とする記録媒体
  6. 第1の基板と、
    前記第1の基板上に接着剤を介して設けられた酸化物膜と、
    前記酸化物膜上に設けられたアンテナ、並びに多結晶半導体膜を用いた半導体素子を有する表示装置及び薄膜集積回路と、
    前記アンテナ、前記表示装置、及び前記薄膜集積回路上に設けられた第2の基板と、を有し、
    前記表示装置は、前記薄膜集積回路に接続され、
    前記薄膜集積回路は、前記アンテナに接続され、
    前記薄膜集積回路及び前記表示装置は、前記第1の基板及び前記第2の基板の間に樹脂で封止されており、
    前記第1の基板及び前記第2の基板はプラスチック基板であることを特徴とする記録媒体。
  7. 請求項6において、
    前記記録媒体は、データの送受信を前記アンテナの電磁誘導を用いて非接触で行うことを特徴とする記録媒体。
  8. 請求項5乃至請求項7のいずれか1項において、
    前記表示装置は、アクティブマトリクス型であることを特徴とする記録媒体。
  9. 請求項1乃至請求項のいずれか1項において、
    前記表示装置は液晶表示装置または発光装置であることを特徴とする記録媒体。
  10. 請求項1乃至請求項9のいずれか1項において、
    前記記録媒体には、太陽電池が設けられていることを特徴とする記録媒体。
  11. 請求項1乃至請求項10のいずれか1項において、
    前記薄膜集積回路の厚さは、1μm以上5μm以下であることを特徴とする記録媒体。
  12. 請求項1乃至請求項11のいずれか1項において、
    前記記録媒体の厚さは、0.05mm以上1.5mm以下であることを特徴とする記録媒体。
  13. 請求項1乃至請求項12のいずれか1項において、
    前記記録媒体は、カードであることを特徴とする記録媒体。
  14. 請求項1乃至請求項13のいずれか1項において、
    前記記録媒体は、IDカードであることを特徴とする記録媒体。
  15. 請求項1乃至請求項14のいずれか1項において、
    前記記録媒体は、セミハードカードであることを特徴とする記録媒体。
  16. 請求項1乃至請求項15のいずれか1項において、
    前記記録媒体は、端末装置において行われた取引の日時、及び預金残高の情報のいずれかまたは全部を前記薄膜集積回路において記録し、記録された前記取引の日時、及び前記預金残高の情報のいずれかまたは全部を前記表示装置において表示することを特徴とする記録媒体。
  17. 第1の基板上に金属膜、当該金属膜上に酸化物膜を形成し、
    前記酸化物膜上に多結晶半導体膜を形成し、
    前記多結晶半導体膜を用いて、薄膜集積回路及び表示装置を形成し、
    前記薄膜集積回路及び前記表示装置を第1の樹脂で覆い、当該第1の樹脂上に第2の基板を貼り合わせ、
    前記金属膜と前記酸化物膜とを剥離し、
    前記酸化物膜の前記金属膜が剥離された部分に接着剤を介して第1のプラスチック基板を貼り合わせ、
    前記第1の樹脂と第2の基板を剥離し、
    前記第1の樹脂を除去し、
    前記第1のプラスチック基板上の薄膜集積回路及び前記表示装置を第2の樹脂で覆い、
    前記第2の樹脂上に第2のプラスチック基板を貼り合わせることを特徴とする記録媒体の作製方法。
  18. 第1の基板上に金属膜、当該金属膜上に酸化物膜を形成し、
    前記酸化物膜上に多結晶半導体膜を形成し、
    前記多結晶半導体膜を用いて、薄膜集積回路及び表示装置を形成し、
    前記薄膜集積回路上に導電膜を形成し、
    前記導電膜を用いてアンテナを形成し、
    前記アンテナ、前記薄膜集積回路、及び前記表示装置を第1の樹脂で覆い、当該第1の樹脂上に第2の基板を貼り合わせ、
    前記金属膜と前記酸化物膜とを剥離し、
    前記酸化物膜の前記金属膜が剥離された部分に接着剤を介して第1のプラスチック基板を貼り合わせ、
    前記第1の樹脂と第2の基板を剥離し、
    前記第1の樹脂を除去し、
    前記第1のプラスチック基板上の薄膜集積回路及び前記表示装置を第2の樹脂で覆い、
    前記第2の樹脂上に第2のプラスチック基板を貼り合わせることを特徴とする記録媒体の作製方法。
  19. 請求項17または請求項18において、
    前記多結晶半導体膜は、膜厚が25nm以上100nm以下の半導体膜を熱処理することにより形成されることを特徴とする記録媒体の作製方法。
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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005100380A (ja) * 2003-08-29 2005-04-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icカード
US7566001B2 (en) 2003-08-29 2009-07-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC card
JP4912641B2 (ja) * 2004-08-23 2012-04-11 株式会社半導体エネルギー研究所 無線チップの作製方法
JP2006108654A (ja) * 2004-09-09 2006-04-20 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 無線チップ
KR101233421B1 (ko) 2004-09-09 2013-02-13 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
JP4845461B2 (ja) * 2004-09-14 2011-12-28 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及びその作製方法
US8698262B2 (en) 2004-09-14 2014-04-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and manufacturing method of the same
KR101164437B1 (ko) 2004-10-18 2012-07-13 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 그것의 구동 방법
US7793848B2 (en) * 2004-11-30 2010-09-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP4712545B2 (ja) * 2004-11-30 2011-06-29 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US7960719B2 (en) 2004-12-03 2011-06-14 Semiconductor Energy Laboratotry Co., Ltd. Semiconductor device
JP4954537B2 (ja) * 2004-12-03 2012-06-20 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP5025134B2 (ja) * 2005-01-21 2012-09-12 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP5100012B2 (ja) * 2005-01-28 2012-12-19 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及びその作製方法
WO2006080322A1 (en) 2005-01-28 2006-08-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
US8023302B2 (en) 2005-01-31 2011-09-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and semiconductor device
JP2006237593A (ja) * 2005-01-31 2006-09-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 記憶装置および半導体装置
JP5046524B2 (ja) * 2005-02-10 2012-10-10 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶素子、記憶装置、及び電子機器
EP1854140A4 (en) 2005-02-10 2008-06-04 Semiconductor Energy Lab MEMORY ELEMENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE
JP5025141B2 (ja) * 2005-02-28 2012-09-12 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の製造方法
EP1696368B1 (en) 2005-02-28 2011-11-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof
JP4900659B2 (ja) * 2005-02-28 2012-03-21 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP4974541B2 (ja) * 2005-03-08 2012-07-11 株式会社半導体エネルギー研究所 無線チップの作製方法
US20060202269A1 (en) 2005-03-08 2006-09-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic appliance having the same
US7651932B2 (en) 2005-05-31 2010-01-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing antenna and method for manufacturing semiconductor device
JP5210501B2 (ja) * 2005-06-01 2013-06-12 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US7485511B2 (en) 2005-06-01 2009-02-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Integrated circuit device and method for manufacturing integrated circuit device
US20090255995A1 (en) * 2005-06-24 2009-10-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and wireless communication system
JP2007036216A (ja) * 2005-06-24 2007-02-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び無線通信システム
JP4916680B2 (ja) * 2005-06-30 2012-04-18 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法、剥離方法
EP1966740B1 (en) 2005-12-27 2016-02-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
ES2491515T3 (es) * 2007-03-19 2014-09-08 Nagravision S.A. Tarjeta que incorpora una visualización electrónica
JP2009086067A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Dainippon Printing Co Ltd 表示付きicカードおよびディスプレイモジュール、ディスプレイモジュールの製造方法

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