JP2004219987A - 多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット - Google Patents
多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004219987A JP2004219987A JP2003337105A JP2003337105A JP2004219987A JP 2004219987 A JP2004219987 A JP 2004219987A JP 2003337105 A JP2003337105 A JP 2003337105A JP 2003337105 A JP2003337105 A JP 2003337105A JP 2004219987 A JP2004219987 A JP 2004219987A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phase
- sample
- observation
- optical axis
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/06—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the phase of light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【解決手段】 光学顕微鏡において、対物レンズ14を通して被観察試料15に照射される光線と、同試料から放射又は反射されて対物レンズを逆向きに通過した光線との共通光軸中に、収束/視準化レンズ対5,6を配置し、それらのレンズ間に透過光の位相を所定の範囲内で変化させるための位相変更手段7を設けたことにより、対物レンズに入射する光線の波面の位相に応じた深度において前記試料を合焦点照射するように構成したものである。
【選択図】 図1
Description
2 二重回転円板式高速共焦点スキャナー
3 高速CCDカメラ
4、6 視準化レンズ
5 収束レンズ
7 多層観察ユニット (位相変更手段)
8 蛍光位相差顕微鏡ユニット
9 マイクロレンズアレーディスク
10 ニポウディスク
11 ダイクロイックミラー
12 凸レンズ
13 駆動用モーター
14 対物レンズ
15 細胞・組織試料
16 光路折り曲げ鏡
17 レーザービーム
18 走査線
19 焦点
Claims (7)
- 対物レンズに対し、そのレンズから被観察試料に照射光線を入射させる光軸中に、収束/視準化レンズ対を配置し、それらのレンズ間に透過光の位相を光軸横断面の所定範囲内で変化させるための位相変更手段を設けたことにより、対物レンズに入射する照射光線の波面の位相に応じた深度において前記試料を合焦点照射するように構成したことを特徴とする多層観察型光学顕微鏡。
- 前記収束/視準化レンズ対を配置する光軸が、共焦点顕微鏡において、対物レンズを通して被観察試料に照射する照射光線と、同試料から放射あるいは反射されて対物レンズを逆向きに通過した蛍光線との共通光軸であることを特徴とする請求項1に記載の多層観察型光学顕微鏡。
- 前記位相変更手段が段階的に光学的特性の異なる複数の位相板セグメントを配列し、各セグメントが順次光軸を横切るように設置された回転板からなることを特徴とする請求項1又は2に記載の多層観察型光学顕微鏡。
- 前記位相変更手段が各位相板セグメントの要素をなす等方性透明膜の厚さを段階的に変化させたことにより、それらの光学的特性を異ならしめたことを特徴とする請求項3に記載の多層観察型光学顕微鏡。
- 前記位相変更手段が各位相板セグメントの要素をなす等方性透明膜の屈折率を段階的に変化させたことにより、それらの光学的特性を異ならしめたことを特徴とする請求項3に記載の多層観察型光学顕微鏡。
- 光学顕微鏡の試料台の二次元走査と、前記位相変更手段の位相走査とを同期させることにより、被観察試料の三次元動態を観察できるようにしたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の多層観察型光学顕微鏡。
- 段階的に光学的特性の異なる複数の位相板セグメントを円周方向に順次隣接するように配列した回転板からなり、対物レンズへの入射光軸中に配置された収束/視準化レンズ対における両レンズ間に挿入することにより、前記位相板セグメントの各々が順次両レンズ間の光軸を横切る際に、各セグメントごとに透過光の位相を光軸横断面の所定範囲内において、異なった度合いで変化させるべき位相変更手段として作用する多層観察ユニットであって、このユニットを経て対物レンズに入射する光線の波面の位相に応じて、その焦点深度を変更させるものであることを特徴とする多層観察ユニット。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003337105A JP4239166B2 (ja) | 2002-12-27 | 2003-09-29 | 多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット |
AU2003296100A AU2003296100A1 (en) | 2002-12-27 | 2003-12-24 | Multilayer observation optical microscope and multilayer observation unit |
PCT/JP2003/016641 WO2004061515A1 (ja) | 2002-12-27 | 2003-12-24 | 多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット |
US10/540,600 US7366394B2 (en) | 2002-12-27 | 2003-12-24 | Multilayer observation optical microscope and multilayer observation unit |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002379869 | 2002-12-27 | ||
JP2003337105A JP4239166B2 (ja) | 2002-12-27 | 2003-09-29 | 多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004219987A true JP2004219987A (ja) | 2004-08-05 |
JP4239166B2 JP4239166B2 (ja) | 2009-03-18 |
Family
ID=32716315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003337105A Expired - Fee Related JP4239166B2 (ja) | 2002-12-27 | 2003-09-29 | 多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7366394B2 (ja) |
JP (1) | JP4239166B2 (ja) |
AU (1) | AU2003296100A1 (ja) |
WO (1) | WO2004061515A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006293086A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Casio Comput Co Ltd | 光源ユニット及び投影装置 |
JP2007079278A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Univ Of Tokyo | 物質状態測定装置 |
US7586675B2 (en) * | 2005-07-20 | 2009-09-08 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Optical device with increased depth of field |
JP2011133816A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-07-07 | Sony Corp | 演算装置、演算方法、演算プログラム及び顕微鏡 |
JP2018519524A (ja) * | 2015-06-29 | 2018-07-19 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | 半導体ウェハ上の高さを測定するための方法および装置 |
KR101900254B1 (ko) * | 2017-04-25 | 2018-09-19 | 충북대학교 산학협력단 | 홀로그램 광학소자 마이크로 렌즈 어레이를 이용한 집적영상 현미경 시스템 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1889111A2 (en) | 2005-05-25 | 2008-02-20 | Massachusetts Institute of Technology | Multifocal imaging systems and methods |
US8081378B2 (en) * | 2005-10-13 | 2011-12-20 | Nikon Corporation | Microscope |
US8537461B2 (en) * | 2007-11-26 | 2013-09-17 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Method and configuration for the optical detection of an illuminated specimen |
US8987684B2 (en) * | 2007-12-19 | 2015-03-24 | Koninklijke Philips N.V. | Detection system and method |
JP5242304B2 (ja) * | 2008-09-04 | 2013-07-24 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 観測システム |
JP5056871B2 (ja) * | 2010-03-02 | 2012-10-24 | 横河電機株式会社 | 共焦点顕微鏡システム |
JP5221614B2 (ja) * | 2010-09-17 | 2013-06-26 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 3次元共焦点観察用装置及び観察焦点面変位・補正ユニット |
ITTO20110298A1 (it) * | 2011-04-01 | 2012-10-02 | St Microelectronics Srl | Rilevatore ottico confocale, schiera di rilevatori e relativo procedimento di fabbricazione |
US9104027B2 (en) * | 2012-04-27 | 2015-08-11 | Manufacturing Techniques, Inc. | Optical instrument for the simulation of atmospheric turbulence |
US9696264B2 (en) * | 2013-04-03 | 2017-07-04 | Kla-Tencor Corporation | Apparatus and methods for determining defect depths in vertical stack memory |
JP6318358B2 (ja) * | 2013-04-08 | 2018-05-09 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 照明装置および検査装置 |
US10352860B2 (en) * | 2014-04-24 | 2019-07-16 | Bruker Nano, Inc. | Super resolution microscopy |
CN104101993B (zh) * | 2014-07-10 | 2017-04-19 | 深圳职业技术学院 | 傅立叶显微镜装置及信息共享系统及其信息共享方法 |
US10317597B2 (en) * | 2014-08-26 | 2019-06-11 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Light-field microscopy with phase masking |
WO2016145366A1 (en) | 2015-03-11 | 2016-09-15 | Timothy Ragan | System and methods for serial staining and imaging |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08136810A (ja) | 1994-11-08 | 1996-05-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 共焦点顕微鏡 |
US5952562A (en) * | 1995-11-22 | 1999-09-14 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning probe microscope incorporating an optical microscope |
JP3917731B2 (ja) * | 1996-11-21 | 2007-05-23 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
JPH1138324A (ja) | 1997-07-23 | 1999-02-12 | Nikon Corp | レーザ走査顕微鏡 |
JP4481397B2 (ja) * | 1999-09-07 | 2010-06-16 | オリンパス株式会社 | 光学装置及び顕微鏡 |
DE10105391B4 (de) | 2001-02-06 | 2004-11-25 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Scanmikroskop und Modul für ein Scanmikroskop |
-
2003
- 2003-09-29 JP JP2003337105A patent/JP4239166B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-24 WO PCT/JP2003/016641 patent/WO2004061515A1/ja active Application Filing
- 2003-12-24 US US10/540,600 patent/US7366394B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-24 AU AU2003296100A patent/AU2003296100A1/en not_active Abandoned
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006293086A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Casio Comput Co Ltd | 光源ユニット及び投影装置 |
US7586675B2 (en) * | 2005-07-20 | 2009-09-08 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Optical device with increased depth of field |
JP2007079278A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Univ Of Tokyo | 物質状態測定装置 |
JP2011133816A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-07-07 | Sony Corp | 演算装置、演算方法、演算プログラム及び顕微鏡 |
US8803965B2 (en) | 2009-12-25 | 2014-08-12 | Sony Corporation | Arithmetically operating device, arithmetically operating method, arithmetically operating program, and microscope |
JP2018519524A (ja) * | 2015-06-29 | 2018-07-19 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | 半導体ウェハ上の高さを測定するための方法および装置 |
KR101900254B1 (ko) * | 2017-04-25 | 2018-09-19 | 충북대학교 산학협력단 | 홀로그램 광학소자 마이크로 렌즈 어레이를 이용한 집적영상 현미경 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4239166B2 (ja) | 2009-03-18 |
AU2003296100A1 (en) | 2004-07-29 |
WO2004061515A1 (ja) | 2004-07-22 |
US7366394B2 (en) | 2008-04-29 |
US20060147176A1 (en) | 2006-07-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4239166B2 (ja) | 多層観察型光学顕微鏡及び多層観察ユニット | |
US9885859B2 (en) | Structured illumination microscopy apparatus and method | |
US11828710B2 (en) | Systems and methods for in-operating-theatre imaging of fresh tissue resected during surgery for pathology assessment | |
JP6934856B2 (ja) | 複数の対象面を同時にイメージングする光シート顕微鏡 | |
JP5097247B2 (ja) | 共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法 | |
EP2041613B1 (en) | Device and method for wide- field and high resolution imaging of tissue | |
JP5221614B2 (ja) | 3次元共焦点観察用装置及び観察焦点面変位・補正ユニット | |
JP5068121B2 (ja) | 顕微鏡および三次元情報取得方法 | |
JP2014095908A (ja) | 焦点調整装置および焦点調整方法 | |
US10352819B2 (en) | Method of measuring transmission characteristics of optical transfer medium and image acquisition device using the same | |
TW201142352A (en) | Fluorescence micro imaging system | |
JP2008513810A (ja) | 顕微鏡系およびこれを用いた方法 | |
JP2005121796A (ja) | レーザー顕微鏡 | |
NL2008873C2 (en) | Method and apparatus for multiple points of view three-dimensional microscopy. | |
JP2006275964A (ja) | 走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法 | |
Bansal et al. | High-speed addressable confocal microscopy<? xpp qa?> for functional imaging of cellular activity | |
CN105675541B (zh) | 一种具有轴向高分辨率的反射式共聚焦系统 | |
JP2006510932A (ja) | コヒーレンス顕微鏡 | |
JP2003344775A (ja) | 共焦点顕微鏡及び微小開口回転盤 | |
Shirazi | Miniaturized MEMS-based Dual-axis Confocal Microscopy System for Early Cancer Diagnostics | |
JP2003344778A (ja) | 共焦点顕微鏡及び微小開口回転盤 | |
WO2008146226A1 (en) | Sample holder for an optical device | |
JP2024500089A (ja) | 光子の再割り当てを行う共焦点顕微鏡 | |
WO2023114213A1 (en) | Apparatus and method for multiplexed one-photon and nonlinear microscopy and method for biological tissue alignment | |
Do et al. | Miniature confocal microscopy devices for imaging skin |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050513 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080618 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080813 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20080813 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080903 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081029 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081125 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081211 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120109 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120109 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120109 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130109 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140109 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |