JP2004191244A - 分光装置及び補正方法 - Google Patents

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Cited By (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007010364A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Konica Minolta Sensing Inc 分光装置の波長校正方法及び分光装置
CN102589691A (zh) * 2012-03-28 2012-07-18 北京理工大学 自准直光栅光谱仪
JP2012229922A (ja) * 2011-04-25 2012-11-22 Ricoh Co Ltd 分光計測装置、画像評価装置、及び画像形成装置
JP2013061244A (ja) * 2011-09-13 2013-04-04 Sony Corp 微小粒子測定装置
CN103323113A (zh) * 2013-05-30 2013-09-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于光场成像技术的多光谱成像仪
CN103592025A (zh) * 2013-10-30 2014-02-19 清华大学 光谱分析系统
CN103592029A (zh) * 2013-10-24 2014-02-19 西安交通大学 快照式计算层析成像全偏振高光谱探测装置
CN103743480A (zh) * 2014-01-03 2014-04-23 中国科学院上海光学精密机械研究所 艾里光束加速曲线的测量方法
CN103954360A (zh) * 2014-04-29 2014-07-30 西安交通大学 一种基于偏振阵列的光谱偏振装置及探测方法
CN104316179A (zh) * 2014-08-27 2015-01-28 北京空间机电研究所 一种光谱压缩的超光谱成像系统
CN104316188A (zh) * 2014-11-15 2015-01-28 中国科学院光电研究院 一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置
CN104374473A (zh) * 2014-10-24 2015-02-25 涿州迅利达创新科技发展有限公司 脉冲氙灯用于原子吸收背景校正的光学系统
CN104390705A (zh) * 2014-11-24 2015-03-04 中国科学院光电研究院 一种推扫式编码孔径光谱成像方法及装置
CN104422518A (zh) * 2013-08-26 2015-03-18 横河电机株式会社 光测定装置及光测定方法
CN104460240A (zh) * 2014-12-08 2015-03-25 志圣科技（广州）有限公司 一种光刻机电气伺服对位控制系统及控制方法
CN105823555A (zh) * 2016-05-18 2016-08-03 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种连续太赫兹激光功率测试装置
CN105823556A (zh) * 2016-05-26 2016-08-03 南京高恳特科技有限公司 具有偏角修正的内置扫描高光谱成像装置
CN106092318A (zh) * 2016-06-02 2016-11-09 北京印刷学院 一种全反射式宽波段多光谱成像系统
JP2017021045A (ja) * 2016-09-29 2017-01-26 ソニー株式会社 情報処理装置
CN106382985A (zh) * 2016-10-28 2017-02-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种利用多狭缝实现的光谱成像方法及其使用装置
CN106461464A (zh) * 2014-05-13 2017-02-22 柯尼卡美能达株式会社 测色装置以及测色方法
CN106441571A (zh) * 2016-11-29 2017-02-22 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 一种光源模块及应用其的线扫描多光谱成像系统
CN106461465A (zh) * 2014-05-29 2017-02-22 柯尼卡美能达株式会社 光学特性测定装置以及光学特性测定方法
CN106441582A (zh) * 2016-10-20 2017-02-22 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种可在轨调焦的空间调制干涉光谱成像系统及方法
CN106441563A (zh) * 2016-09-09 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 用于紫外光强度检测的组合物、薄膜、制备方法和检测方法
CN106482834A (zh) * 2016-10-20 2017-03-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种可主动调焦的干涉成像光谱仪
CN106500837A (zh) * 2016-09-26 2017-03-15 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 成像光谱仪
CN106500848A (zh) * 2016-10-18 2017-03-15 成都市晶林科技有限公司 用于红外测温系统的发射率校准方法
CN106500836A (zh) * 2016-12-08 2017-03-15 苏州聚晟太阳能科技股份有限公司 一种适用于光伏跟踪的光传感器
CN106502060A (zh) * 2017-01-03 2017-03-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示基板、显示面板及显示装置
CN106525236A (zh) * 2016-10-14 2017-03-22 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种压缩编码光谱成像系统的模板标定方法
CN106654811A (zh) * 2017-03-14 2017-05-10 深圳市鹏星光电科技有限公司 一种可调谐窄线宽太赫兹光源及光谱仪、成像仪
CN106687783A (zh) * 2014-06-26 2017-05-17 Mp高技术解决方案控股有限公司 用于电磁辐射感测的设备和方法
KR20170077472A (ko) * 2015-12-28 2017-07-06 (주) 솔 패키지된 광센서 어레이 모듈 보정방법
CN107314813A (zh) * 2017-08-14 2017-11-03 京东方科技集团股份有限公司 光强检测单元、光强检测方法和显示装置
CN107389192A (zh) * 2017-07-28 2017-11-24 中南民族大学 稀疏光谱的压缩感知重构系统及其方法
US9933358B2 (en) 2010-12-03 2018-04-03 Toshiba Medical Systems Corporation Automatic analyzer
WO2019039025A1 (ja) * 2017-08-22 2019-02-28 コニカミノルタ株式会社 波長シフト補正システムおよび波長シフト補正方法
CN110108359A (zh) * 2019-04-23 2019-08-09 合刃科技（深圳）有限公司 光谱标定装置及方法
CN111735538A (zh) * 2020-06-04 2020-10-02 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种机载面阵凝视型高光谱影像光照校正方法
DE102019134456A1 (de) * 2019-12-16 2021-06-17 Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh Spektrometer und Verfahren zu dessen Prüfung
JP2022513676A (ja) * 2018-11-29 2022-02-09 ライカ マイクロシステムズ インコーポレイテッド 小型回折限界近赤外（ｎｉｒ）分光器および関連する検出器
CN118500545A (zh) * 2024-07-18 2024-08-16 北京卓立汉光分析仪器有限公司 光谱校正方法及装置

Cited By (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007010364A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Konica Minolta Sensing Inc 分光装置の波長校正方法及び分光装置
US9933358B2 (en) 2010-12-03 2018-04-03 Toshiba Medical Systems Corporation Automatic analyzer
JP2012229922A (ja) * 2011-04-25 2012-11-22 Ricoh Co Ltd 分光計測装置、画像評価装置、及び画像形成装置
JP2013061244A (ja) * 2011-09-13 2013-04-04 Sony Corp 微小粒子測定装置
USRE49543E1 (en) 2011-09-13 2023-06-06 Sony Corporation Fine particle measuring apparatus
CN102589691A (zh) * 2012-03-28 2012-07-18 北京理工大学 自准直光栅光谱仪
CN102589691B (zh) * 2012-03-28 2014-02-19 北京理工大学 自准直光栅光谱仪
CN103323113A (zh) * 2013-05-30 2013-09-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于光场成像技术的多光谱成像仪
CN104422518A (zh) * 2013-08-26 2015-03-18 横河电机株式会社 光测定装置及光测定方法
CN103592029A (zh) * 2013-10-24 2014-02-19 西安交通大学 快照式计算层析成像全偏振高光谱探测装置
CN103592025A (zh) * 2013-10-30 2014-02-19 清华大学 光谱分析系统
CN103743480A (zh) * 2014-01-03 2014-04-23 中国科学院上海光学精密机械研究所 艾里光束加速曲线的测量方法
CN103954360A (zh) * 2014-04-29 2014-07-30 西安交通大学 一种基于偏振阵列的光谱偏振装置及探测方法
CN106461464A (zh) * 2014-05-13 2017-02-22 柯尼卡美能达株式会社 测色装置以及测色方法
CN106461465B (zh) * 2014-05-29 2018-05-25 柯尼卡美能达株式会社 光学特性测定装置以及光学特性测定方法
CN106461465A (zh) * 2014-05-29 2017-02-22 柯尼卡美能达株式会社 光学特性测定装置以及光学特性测定方法
CN106687783A (zh) * 2014-06-26 2017-05-17 Mp高技术解决方案控股有限公司 用于电磁辐射感测的设备和方法
CN104316179A (zh) * 2014-08-27 2015-01-28 北京空间机电研究所 一种光谱压缩的超光谱成像系统
CN104374473A (zh) * 2014-10-24 2015-02-25 涿州迅利达创新科技发展有限公司 脉冲氙灯用于原子吸收背景校正的光学系统
CN104316188A (zh) * 2014-11-15 2015-01-28 中国科学院光电研究院 一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置
CN104390705A (zh) * 2014-11-24 2015-03-04 中国科学院光电研究院 一种推扫式编码孔径光谱成像方法及装置
CN104460240A (zh) * 2014-12-08 2015-03-25 志圣科技（广州）有限公司 一种光刻机电气伺服对位控制系统及控制方法
KR102381129B1 (ko) 2015-12-28 2022-03-31 (주) 솔 패키지된 광센서 어레이 모듈 보정방법
KR20170077472A (ko) * 2015-12-28 2017-07-06 (주) 솔 패키지된 광센서 어레이 모듈 보정방법
CN105823555A (zh) * 2016-05-18 2016-08-03 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种连续太赫兹激光功率测试装置
CN105823556A (zh) * 2016-05-26 2016-08-03 南京高恳特科技有限公司 具有偏角修正的内置扫描高光谱成像装置
CN106092318A (zh) * 2016-06-02 2016-11-09 北京印刷学院 一种全反射式宽波段多光谱成像系统
CN106441563A (zh) * 2016-09-09 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 用于紫外光强度检测的组合物、薄膜、制备方法和检测方法
CN106500837A (zh) * 2016-09-26 2017-03-15 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 成像光谱仪
JP2017021045A (ja) * 2016-09-29 2017-01-26 ソニー株式会社 情報処理装置
CN106525236A (zh) * 2016-10-14 2017-03-22 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种压缩编码光谱成像系统的模板标定方法
CN106500848A (zh) * 2016-10-18 2017-03-15 成都市晶林科技有限公司 用于红外测温系统的发射率校准方法
CN106482834A (zh) * 2016-10-20 2017-03-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种可主动调焦的干涉成像光谱仪
CN106441582A (zh) * 2016-10-20 2017-02-22 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种可在轨调焦的空间调制干涉光谱成像系统及方法
CN106382985A (zh) * 2016-10-28 2017-02-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种利用多狭缝实现的光谱成像方法及其使用装置
CN106441571A (zh) * 2016-11-29 2017-02-22 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 一种光源模块及应用其的线扫描多光谱成像系统
CN106500836A (zh) * 2016-12-08 2017-03-15 苏州聚晟太阳能科技股份有限公司 一种适用于光伏跟踪的光传感器
US11169241B2 (en) 2016-12-08 2021-11-09 Suzhou Jsolar Incorporated Sensor and control method thereof
CN106502060A (zh) * 2017-01-03 2017-03-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示基板、显示面板及显示装置
CN106654811A (zh) * 2017-03-14 2017-05-10 深圳市鹏星光电科技有限公司 一种可调谐窄线宽太赫兹光源及光谱仪、成像仪
CN107389192B (zh) * 2017-07-28 2018-12-25 中南民族大学 稀疏光谱的压缩感知重构系统及其方法
CN107389192A (zh) * 2017-07-28 2017-11-24 中南民族大学 稀疏光谱的压缩感知重构系统及其方法
CN107314813A (zh) * 2017-08-14 2017-11-03 京东方科技集团股份有限公司 光强检测单元、光强检测方法和显示装置
US11085817B2 (en) 2017-08-14 2021-08-10 Boe Technology Group Co., Ltd. Device and method for detecting light intensity, and display device
JPWO2019039025A1 (ja) * 2017-08-22 2020-07-30 コニカミノルタ株式会社 波長シフト補正システムおよび波長シフト補正方法
US10996108B2 (en) 2017-08-22 2021-05-04 Konica Minolta, Inc. Wavelength shift correction system and wavelength shift correction method
JP7047846B2 (ja) 2017-08-22 2022-04-05 コニカミノルタ株式会社 波長シフト補正システムおよび波長シフト補正方法
WO2019039025A1 (ja) * 2017-08-22 2019-02-28 コニカミノルタ株式会社 波長シフト補正システムおよび波長シフト補正方法
JP7309874B2 (ja) 2018-11-29 2023-07-18 ライカ マイクロシステムズ インコーポレイテッド 小型回折限界近赤外（ｎｉｒ）分光器および関連する検出器
US12111209B2 (en) 2018-11-29 2024-10-08 Leica Microsystems Nc, Inc. Compact diffraction limited near infrared (NIR) spectrometers and related detectors
JP2022513676A (ja) * 2018-11-29 2022-02-09 ライカ マイクロシステムズ インコーポレイテッド 小型回折限界近赤外（ｎｉｒ）分光器および関連する検出器
CN110108359A (zh) * 2019-04-23 2019-08-09 合刃科技（深圳）有限公司 光谱标定装置及方法
DE102019134456A1 (de) * 2019-12-16 2021-06-17 Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh Spektrometer und Verfahren zu dessen Prüfung
CN111735538B (zh) * 2020-06-04 2021-05-18 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种机载面阵凝视型高光谱影像光照校正方法
CN111735538A (zh) * 2020-06-04 2020-10-02 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种机载面阵凝视型高光谱影像光照校正方法
CN118500545A (zh) * 2024-07-18 2024-08-16 北京卓立汉光分析仪器有限公司 光谱校正方法及装置

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