JP2004111993A - 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材 - Google Patents

電極の接続方法およびこれに用いる接続部材 Download PDF

Info

Publication number
JP2004111993A
JP2004111993A JP2003402975A JP2003402975A JP2004111993A JP 2004111993 A JP2004111993 A JP 2004111993A JP 2003402975 A JP2003402975 A JP 2003402975A JP 2003402975 A JP2003402975 A JP 2003402975A JP 2004111993 A JP2004111993 A JP 2004111993A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
connection
connecting member
adhesive
heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003402975A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Tsukagoshi
塚越 功
Hiroshi Matsuoka
松岡 寛
Nobukazu Koide
小出 遵一
Koji Kobayashi
小林 宏治
Katsuyuki Ueno
上野 勝幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP2003402975A priority Critical patent/JP2004111993A/ja
Publication of JP2004111993A publication Critical patent/JP2004111993A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Combinations Of Printed Boards (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

【課題】 電極のずれがなく高精度の位置合わせが可能な電極の接続方法およびこれに用いる接続部材を提供する。
【解決手段】 相対峙する電極間に熱硬化性接着剤を含む接続部材を介在させ加熱加圧により両電極の接続を得る方法であって、両電極の位置合わせを行い、次いで活性エネルギー線の照射により接続部材の反応を進行せしめ、その接続部材の活性化温度以上の温度で加熱加圧を行い相対峙する電極の最大ズレ量を5μm以下とする電極の接続方法。前記接続部材において、接着剤が異なる温度条件下で活性化する硬化剤と導電粒子とを含有してなり、前記導電粒子の粒径は1〜15μmであり加熱加圧もしくは加圧により変形性を有する接続部材。
【選択図】 図1

Description

 本発明は、電子部品と回路基板や、回路基板同士を接着固定すると共に、両者の電極同士を電気的に接続する電極の接続方法と、これに用いる接続部材に関する。
 近年、電子部品の小型薄型化に伴い、これらに用いる回路は高密度、高精細化しており、このような電子部品と微細電極の接続は、従来のハンダやゴムコネクタなどでは対応が困難であることから、最近では分解能に優れた接着剤や膜状物(以下接続部材)が多用されている。この接続部材としては、絶縁性の接着剤を用いて両電極の直接接触により導電性を得ることや、加圧により厚み方向のみに導電性の得られる程度の導電粒子を含有してなる異方導電性の接着剤を用いて、両電極間に導電粒子を介在させる導電粒子などの導電材料を所定量含有した接着剤からなるものが知られている。これら接続部材の使用法は、接続部材を電子部品と電極や回路との間に介在させ、加圧または加熱加圧手段を講じることによって、両者の電極同士が電気的に接続されると共に、電極に隣接して形成されている電極同士には絶縁性を付与して、電子部品と回路とが接着固定されるものである。上記接続部材の中で、導電粒子を含有する接続部材を高分解能化するための基本的な考えは、導電粒子の粒径を隣接電極間の絶縁部分よりも小さくすることで隣接電極間における絶縁性を確保し、併せて導電粒子の含有量をこの粒子同士が接触しない程度とし、かつ電極上に確実に存在させることにより接続部分における導電性を得ることである。このような微細電極の接続レベルは、最近では回路ピッチが50μm以下も検討されており、接続装置の位置合わせ精度も3μm以下が実用化の域にある。
特開平2−82633号公報 特開平5−343473号公報
 上記従来の方法は、個別の材料すなわち、電極・接続部材・接続装置の個々には高レベルの微細な製品が開発されつつあるものの、これらを組み合わせて実際の接続体を得る時の接続方法に問題があった。すなわち、これらの接続部材は加熱加圧手段を講じることによって、両者の電極同士の電気的に接続を得る方式であるため、加熱時に電極間の接続部材の接着剤が溶融流動し、せっかく高精度に位置合わせした電極がずれてしまう欠点があることである。さらに接続電極のリペアが行いにくい欠点もあった。これは接続電極の微小化に対応させるために、接着剤の架橋度が向上しており、そのため接続後に剥離しにくく、また接着剤を除去しにくいことによる。また、導電粒子含有の接続部材の場合、電極面積や隣接電極間(スペース)の微細化により電極上の導電粒子が接続時の加圧または加熱加圧により接着剤と共に隣接電極間に流出してしまい、接続部材の高分解能化の妨げとなっていた。この時、接続部材の接着剤の流出を抑制するために、接着剤を高粘度とすると電極と導電粒子の接触が不十分となり、相対峙する電極の接続が不可能となる。一方、接着剤を低粘度とすると導電粒子の流出に加えてスペース部に気泡を含みやすく、接続信頼性、特に耐湿性が低下してしまう欠点がある。本発明は上記欠点に鑑みなされたもので、電極のずれがなく高精度の位置合わせが可能で、加えてリペア性に優れ、また導電粒子の電極上からの流出が少なく保持可能で、さらに接続部に気泡を含み難いことから長期接続信頼性に優れた、電極の接続方法に関する。
 請求項1に記載の発明は、相対峙する電極間に熱硬化性接着剤を含む接続部材を介在させ加熱加圧により両電極の接続を得る方法であって、両電極の位置合わせを行い、次いで活性エネルギー線の照射により接続部材の反応を進行せしめ、その接続部材の活性化温度以上の温度で加熱加圧を行い相対峙する電極の最大ズレ量を5μm以下とすることを特徴とする電極の接続方法に関する。
 請求項2に記載の発明は、相対峙する電極間に熱硬化性接着剤を含む接続部材を介在させ加熱加圧により両電極の接続を得る方法であって、両電極の位置合わせを行い、次いで活性エネルギー線の照射により接続部材の反応を進行せしめて、通電検査を行い、その接続部材の活性化温度以上の温度で加熱加圧を行い相対峙する電極の最大ズレ量を5μm以下とすることを特徴とする電極の接続方法に関する。
 請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の接続部材において、接着剤が異なる温度条件下で活性化する硬化剤と導電粒子とを含有してなり、前記導電粒子の粒径は1〜15μmであり加熱加圧もしくは加圧により変形性を有する接続部材に関する。
 本発明によれば、電極のずれがなく高精度の位置合わせが可能である。また接着剤架橋度の低い状態で電気検査を行えるので、リペアが容易である。また電極上の導電粒子が接続時の加圧または加熱加圧により接着剤と共に隣接電極間に流出し難く、スペース部に気泡を含まないので接続信頼性、特に耐湿性が向上する。従って高精度な微細電極の接続を提供できる。
 本発明を図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の一実施例を説明する電極の接続方法を示す断面模式図である。本発明は、相対峙する電極4、5間に接続部材8を介在させ、加熱加圧により両電極の接続を得る方法であって、両電極4、5の位置合わせを行い、活性エネルギー線により接続部材の反応を進行せしめ半硬化させ(第1次接続)、あるいは前記エネルギー線照射後に必要により通電検査を行い、次いで接続部材8に配合された硬化剤の活性化温度以上の温度で加熱加圧(第2次接続)することを特徴とする。第一次接続の反応の進行は、反応率や粘度の上昇の他、両電極の仮固定が可能な状態に達することを目安にできる。なお第1次接続は活性化温度以下で行うことが、第2次接続迄の保存性を確保する点から好ましい。
 接続装置は、上下動可能な加熱ヘッド1と受け台2を有する。受け台2の少なくとも一部は、光の透過が可能な材質、例えば石英やガラス類とする。受け台2の下にはエネルギー線源を有する。活性エネルギー線3としては、赤外線、紫外線、電子線などがある。エネルギー線3は必要に応じて受け台2の下面側を走査できる。またエネルギー線と併用して電熱などの他の電熱手段を使用できる。接続すべき電極4、5は、これを保持する基板6、7に形成されてなるものが一般的である。基板6、7としては、ポリイミドやポリエステルなどのプラスチックフィルム、ガラスエポキシなどの複合体、シリコーンなどの半導体、ガラスやセラミックスなどの無機物などを例示できる。受け台2側の基板6、7としてはエネルギー線3が透過し易いほど好ましく、液晶用基板として多用されるガラスやプラスチックフィルム等の透明性材料が特に好適である。電極4、5としては各種回路類や端子類があり、半導体チップのような電子部品のバンプやパッド類を含むことができる。これらはそれぞれ任意に組み合わせて適用できる。
 接続部材8は、絶縁性接着剤9のみ(図2a)でも、導電材料10と絶縁性接着剤9とよりなる(図2b)加圧方向に導電性を有する異方導電性接着剤でもよい。また絶縁性接着剤と異方導電性接着剤を積層した機能分離構成でも良い。異方導電性接着剤は含有する導電材料により、電極4、5の凹凸や高さのばらつきに対応し易く好ましい。これらはフィルム状であると一定厚みの連続状で得られることから好ましく、これらの表面には不要な粘着性やゴミなどの付着防止のために、図示していないが剥離可能なセパレータが必要に応じて存在して良い。接続部材8の導電材料10としては、加圧または加熱加圧手段を講じることで接着剤の厚み減少によって導電性を得る。すなわち、接着剤の厚み以下の小粒径のものが接着剤により保持されるので取扱い時に導電材料の脱落防止が可能で好ましい。これはまた、接着剤の厚みに対して一層程度で存在できると、本発明の第1次接続のような甘い接続条件下でも導電性が得やすいので好ましい。接着剤に対する導電材料の割合は、20体積%以下が導電異方性が得やすく好ましい。また厚み方向の導電性を得易くするため、接続部材の厚さは膜形成の可能な範囲で薄い方が好ましく、30μm以下、より好ましくは20μm以下である。
 導電材料である導電粒子としては、Au、Ag、Pt、Ni、Cu、W、Sb、Sn、はんだ等の金属粒子やカーボン等があり、また、これら導電粒子を核材とするか、あるいは非導電性のガラス、セラミックス、プラスチック等の高分子などからなる核材に前記したような材質からなる導電層を被覆形成したものでも良い。さらに導電材料を絶縁層で被覆してなる絶縁被覆粒子や導電粒子と絶縁粒子の併用なども適用可能である。粒径の上限は微小な電極上に1個以上、好ましくは5個以上と多くの粒子数を確保するには小粒径粒子が好適であり、15μm以下、より好ましくは8μm以下である。粒径の上限は粒子の凝集性や、電極面の凹凸に対応可能とするために、0.5μm以上、好ましくは1μm以上である。これら導電粒子の中では、はんだ等の熱溶融金属やプラスチック等の高分子核材に導電層を形成したものが、加熱加圧もしくは加圧により変形性を有し、積層時に回路との接触面積が増加し信頼性が向上するので好ましい。特に高分子類を核とした場合、はんだのように融点を示さないので軟化の状態を接続温度で広く抑制でき、電極の厚みや平坦性のばらつきに対応し易い接続部材が得られるので特に好ましい。
 また、例えば、NiやW等の硬質金属粒子や、表面に多数の突起を有する粒子の場合、導電粒子が電極や配線パターンに突刺さるので、酸化膜や汚染層の存在する場合にも低い接続抵抗が得られ、信頼性が向上するので好ましい。これら導電粒子は、粒径の分布の狭い均一粒径の球状粒子が好ましい。粒径の分布が狭いと電極接続時の加圧により電極間で保持されて流出が少ない。粒径の分布幅としては、電極表面の凹凸を考慮して最大粒径の1/2以下とすることが好ましい。例えば、高分子核材に導電層を被覆形成した変形性粒子の場合、中心径±0.2μm以内といった高精度の粒子もあり、特に好ましく適用できる。また硬質金属粒子の場合、電極に突刺さるので粒径の分布幅は最大粒径の1/2以下と比較的広くても良い。導電粒子10と併用して絶縁粒子11を用いる(図2c)ことも可能である。絶縁粒子を併用した場合、隣接電極との絶縁性の向上や接続電極のギャップ調節の作用がある。ギャップ調節の場合、好ましくは絶縁粒子の粒径を変形性の導電粒子より小さくし、導電粒子に比べ硬質とすると良好な結果が期待できる。絶縁粒子11としては、ガラス、シリカ、セラミックスなどの無機物やポリスチレン、エポキシ、ベンゾグアナミンなどの有機物があり、これらは、球状、繊維状などの形状でも良い。これらは単独または複合して用いることができる。
 接続部材8の接着剤は、反応性接着剤であって異なる条件下で活性化する硬化剤を含有してなるものや、Bステージ状態で安定なものが好ましい。異なる条件下とは、熱、光、湿気などがあり、これらで活性化する硬化剤としては、熱分解型のアミンイミド、光分解型の芳香族ジアゾニウム塩、湿気硬化型のケチミンなどの組み合わせがある。また、例えばルイス酸系などのカチオン触媒やベンゾフェノン/ミヒラーケトンなどの紫外線硬化剤と各種アミン類などの熱硬化剤との複合系や、熱硬化剤同士の場合での活性温度の異なる硬化剤との複合系などがある。またBステージ状態で安定なものとしては、芳香族ポリアミン類やマイクロカプセル等の潜在性硬化剤類を例示できる。接着剤の活性化温度は、反応性樹脂と潜在性硬化剤との共存混合試料3mgをDSC(Differential Scanning Calorimeter 指差走査型熱量計)を用い、10℃/分で常温(30℃)から250℃迄上昇させた時の発熱量の最大を示すピーク温度とする。これらの中でエポキシ系接着剤は、短時間硬化が可能で接続作業性が良く、分子構造上接着性に優れる等の特徴から好ましく適用できる。エポキシ系接着剤は、例えば高分子量のエポキシ、固形エポキシと液状エポキシ、ウレタンやポリエステル、アクリルゴム、NBR、ナイロン等で変性したエポキシを主成分とし、硬化剤や触媒、カップリング剤、充填剤などを添加してなるものが一般的である。
 本発明によれば、両電極の位置合わせを行い、少なくとも活性エネルギー線により接続部材の反応を進行せしめ(第1次接続)、次いで接続部材の活性化温度以上の温度で加熱加圧(第2次接続)する。すなわち第1次接続は第2次接続に比べて低温度で行うので両電極および基板の熱膨張に基づく変位が少なく、また接続部材の増粘により両電極の仮固定がされているので、電極のずれがなく高精度の位置合わせが可能である。接続部材は第2次接続の高温下でも通常状態に比べ増粘しており、両電極が仮固定され、ずれが少ない。第2次接続では、接着剤の溶融粘度が第2次接続による反応の進行による増粘により高いので、電極上の導電粒子が接続時の加圧または加熱加圧により接着剤と共に隣接電極間に流出し難く、またスペース部に気泡を含まないので接続信頼性、特に耐湿性が向上する。加えて、エネルギー線照射により接続部材が低粘度化して両電極および/または導電材料の加圧接触により第1次接続において両電極の導通が得られるので、この状態で導通などの電気検査を行い、不良が見つかれば剥離して再度接続(リペア)をやり直しても良い。この場合、接着剤の反応が不十分な状態で行えるので、不良部の剥離や洗浄が極めて簡単に行える利点がある。電気検査は接着剤の増粘による凝集力で無加圧でも可能であるが、必要により加圧を併用できる。
 以下実施例でさらに詳細に説明するが、本発明はこれに限定されない。
実施例1
(1)異方導電フィルム
 高分子量エポキシ樹脂と液状エポキシ樹脂(エポキシ当量185)の比率を20/80とし、芳香族ジアゾニウム塩系の硬化剤を5部含有した酢酸エチルの30%溶液を得た。この溶液に、粒径5±0.2μmのポリスチレン系粒子にNi/Auの厚さ0.2/0.02μmの金属被覆を形成した導電性粒子を3体積%添加し、混合分散した。この分散液をセパレータ(シリコーン処理ポリエチレンテレフタレートフィルム、厚み40μm)にロールコータで塗布し、110℃、20分乾燥し厚み15μmの異方導電フィルム(活性化温度は130℃)を得た。
(2)接続回路
 ポリイミドフィルム上に高さ18μmの銅の回路を有する2層FPC回路板(回路ピッチは70μm、電極幅30μmの平行回路の電極)と、ガラス1.1mm上に酸化インジウム厚み0.2μm(ITO、表面抵抗20Ω/□)の薄膜回路を有する平面電極との接続を行った。まず平面電極側に導電性接着層のくるようにした。前記接続部材を1.5mm幅で載置し、セパレータを剥離した後貼り付けた。この後セパレータを剥離し、他の回路板と上下回路を位置合わせした。
(3)接続
 図1の接続装置のエネルギー線として紫外線を照射(1.5J/cm)した。接続部の異方導電フィルムの温度は100℃以下であった。この状態で接着剤の反応率が10%に進行し、両電極の保持が可能であった。ここに反応率は、前記活性化温度の測定と同じであるが、反応前後の熱量比から求めた。その後で、170℃、20kgf/mm、15秒で第2次接続した。
(4)評価
 両電極を顕微鏡下で透視し、電極間の最大ずれ量を測定したところ5μm以下であり、ほとんどずれがなかった。相対峙する電極間を接続抵抗、隣接する電極間を絶縁抵抗として評価したところ、接続抵抗は2Ω以下、絶縁抵抗は10Ω以上であり、これらは85℃、85%RH1000時間処理後の耐湿信頼性も変化がほとんどなく良好な長期信頼性を示した。芳香族ジアゾニウム塩系の硬化剤は、いわゆるカチオン硬化剤であり、紫外線などの光と熱硬化性とを合わせて持つので、本実施例のような接続が可能である。
比較例1
 実施例1と同様であるが、紫外線照射工程を設けずに、いきなり170℃、20kgf/mm、15秒で接続(反応率82%)した。電極間の最大ずれ量を測定したところ25μmであり、ずれが大きいために電極間スペースが減少し絶縁性がなくなった。
実施例2
 実施例1と同様であるが、FPCに変えてICチップ(2×10mm、高さ0.5mm、4辺周囲にバンプと呼ばれる50μm角、高さ20μmの金電極が200個形成)を用いた。ガラス側のITO電極を前記ICチップのバンプ電極のサイズに対応するように変更した。この場合の最大ずれ量を測定したところ、3μm以下であり、ほとんどずれがなく良好であった。
実施例3
 実施例1と同様であるが、異方導電フィルムの硬化剤をマイクロカプセル型潜在性硬化剤とし、硬化剤の活性化温度が90℃と140℃の1対2の混合体(フィルムの活性化温度134℃)とした。接続部の異方導電フィルムの温度が100℃となるように熱源をコントロールし、20kgf/mm、20秒熱線をあてた(反応率12%)。その後で、150℃、20kgf/mm、15秒で第2次接続した。この場合の最大ずれ量は5μm以下でずれが少なく、耐湿信頼性も良好であった。
実施例4
 実施例1と同様であるが、第1次の接続工程の紫外線照射にマスクを用いて強弱を設けた。すなわち、接続部の中央側に紫外線の弱くなるように厚み100μmの不織布マスクを受け台の下部に貼り付けた。図3のように接続部材の中央部12に比べ接続部の周囲の硬化が進行した部分13を形成した。この場合も最大ずれ量を測定したところ、5μm以下であり、ほとんどずれがなかった。本実施例では第2次接続の際、接続部の周囲の硬化が進行しており周辺への接着剤の流出を防止できた。
実施例5および比較例2
 実施例1および比較例1と同様であるが、第1次の接続工程の紫外線照射後に通電検査を行った後で、FPCを剥離したところ極めて簡単に剥離できた。その部分をアセトンで軽く洗浄し再接続したところ良好な接続を得た(実施例5)。一方、比較例1の接続体は剥離が困難であり剥離部に残った接着剤はアセトンで除去しにくく、再接続後の接続抵抗も比較例1に比べ高かった(比較例2)。
実施例6および比較例3
 実施例2の接続で実施例5および比較例2と同様な工程を行った。実施例6は紫外線照射後に通電検査を行った後で、ICチップを剥離したところ極めて簡単に剥離できた。その部分をアセトンで軽く洗浄し再接続したところ良好な接続を得た。一方、比較例3の接続体は、いきなり170℃、20kgf/mm、15秒で接続したため剥離が困難であり、強引に治具で剥がそうとしたらICチップが破壊してしまった。
本発明の一実施例を示す電極の接続方法を示す断面模式図である。 本発明の一実施例を示す接続部材の断面模式図である。 本発明の一実施例を示す接続部材の平面模式図である。
符号の説明
 1 加熱ヘッド         2 受け台
 2 エネルギー線        4 電極
 5 電極            6 基板
 7 基板            8 接続部材
 9 絶縁性接着剤       10 導電材料
11 絶縁粒子         12 中央部
13 端部

Claims (3)

  1. 相対峙する電極間に熱硬化性接着剤を含む接続部材を介在させ加熱加圧により両電極の接続を得る方法であって、両電極の位置合わせを行い、次いで活性エネルギー線の照射により接続部材の反応を進行せしめ、その接続部材の活性化温度以上の温度で加熱加圧を行い相対峙する電極の最大ズレ量を5μm以下とすることを特徴とする電極の接続方法。
  2. 相対峙する電極間に熱硬化性接着剤を含む接続部材を介在させ加熱加圧により両電極の接続を得る方法であって、両電極の位置合わせを行い、次いで活性エネルギー線の照射により接続部材の反応を進行せしめて、通電検査を行い、その接続部材の活性化温度以上の温度で加熱加圧を行い相対峙する電極の最大ズレ量を5μm以下とすることを特徴とする電極の接続方法。
  3. 請求項1または2に記載の接続部材において、接着剤が異なる温度条件下で活性化する硬化剤と導電粒子とを含有してなり、前記導電粒子の粒径は1〜15μmであり加熱加圧もしくは加圧により変形性を有する接続部材。
JP2003402975A 2003-12-02 2003-12-02 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材 Pending JP2004111993A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003402975A JP2004111993A (ja) 2003-12-02 2003-12-02 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003402975A JP2004111993A (ja) 2003-12-02 2003-12-02 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12202595A Division JP3801666B2 (ja) 1995-05-22 1995-05-22 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004111993A true JP2004111993A (ja) 2004-04-08

Family

ID=32291159

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003402975A Pending JP2004111993A (ja) 2003-12-02 2003-12-02 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004111993A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006051885A1 (ja) * 2004-11-12 2006-05-18 Hallys Corporation インターポーザの接合方法及び、このインターポーザの接合方法を利用して作製した電子部品
JP2006298954A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Tatsuta System Electronics Kk 導電性接着シート及び回路基板
JP2013014755A (ja) * 2011-06-10 2013-01-24 Sekisui Chem Co Ltd 異方性導電材料、接続構造体及び接続構造体の製造方法
JP2013211352A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Dexerials Corp 回路接続材料、及びこれを用いた半導体装置の製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006051885A1 (ja) * 2004-11-12 2006-05-18 Hallys Corporation インターポーザの接合方法及び、このインターポーザの接合方法を利用して作製した電子部品
JP2006140359A (ja) * 2004-11-12 2006-06-01 Hallys Corp インターポーザの接合方法及び、このインターポーザの接合方法を利用して作製した電子部品
JP4628067B2 (ja) * 2004-11-12 2011-02-09 株式会社 ハリーズ インターポーザの接合方法、及び電子部品。
JP2006298954A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Tatsuta System Electronics Kk 導電性接着シート及び回路基板
JP2013014755A (ja) * 2011-06-10 2013-01-24 Sekisui Chem Co Ltd 異方性導電材料、接続構造体及び接続構造体の製造方法
JP2013211352A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Dexerials Corp 回路接続材料、及びこれを用いた半導体装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3801666B2 (ja) 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材
KR101193735B1 (ko) 접착필름, 접속방법 및 접합체
US7341642B2 (en) Manufacturing method for electric device
US6338195B1 (en) Connection sheet and electrode connection structure for electrically interconnecting electrodes facing each other, and method using the connection sheet
JP2008034232A (ja) 異方導電性フィルム
JPH08279371A (ja) 接続部材および該接続部材を用いた電極の接続構造並びに接続方法
JP3724606B2 (ja) 半導体チップの接続構造及びこれに用いる配線基板
JP3856233B2 (ja) 電極の接続方法
JP5099987B2 (ja) 回路接続方法および接続構造体
JP3562615B2 (ja) 異方導電性膜状接続部材およびその製造方法
JP4019328B2 (ja) 電極の接続方法
JP2004111993A (ja) 電極の接続方法およびこれに用いる接続部材
JP2748713B2 (ja) 接続部材
JP4197026B2 (ja) マルチチップ実装方法
JP2004006417A (ja) 接続部材及びこれを用いた電極の接続構造
JP4045471B2 (ja) 電子部品実装法
JP4223581B2 (ja) マルチチップ実装法
JP2010010142A (ja) 熱硬化性回路接続部材及びそれを用いた電極の接続構造、電極の接続方法
JPH0955279A (ja) 電極の接続方法および該方法で得た電極の接続構造
JP4032320B2 (ja) 電極の接続方法
JP2004165659A (ja) 電極の接続方法および該方法で得た電極の接続構造
KR980013552A (ko) 서로 마주보는 전극들을 상호접속하기 위한 접속시트 및 이 접속시트를 사용하는 전극 접속구조 및 접속방법
JP4337941B2 (ja) マルチチップ実装方法
JP4563362B2 (ja) チップ実装法
JP2007243223A (ja) 電子部品実装構造体

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060601

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060731

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060824

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060922

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20061030

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20061117