JP2004028597A - パターン検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】フィルム状の帯状ワーク1に形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、前記帯状ワーク1の一方の面側から照射する第1の照明手段6と、前記帯状ワークの他方の面側から照射する第2の照明手段7と、前記帯状ワーク1の一方または他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段8と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段22とを備えたことを特徴とする。
【選択図】 図5
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、パターン検査装置に係わり、特に、テープキャリア方式によるTAB(Tape Automated Bonding)テープの上下から照明光を照射して、TABテープ上に形成された集積回路等の回路パターンを自動検査するパターン検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体デバイスは、高集積化と高密度実装の要求に対応してリードの多ピン化と微小化が進んでいる。この多ピン化と微小化に有利なことから、半導体チップをフィルム状のTABテープに設けた多数のリード線と接続する方法が採られている。
【0003】
図10は、フィルム状のTABテープの一部を示す図である。
同図において、TABテープ101は、厚さ20〜150μm程度、幅35〜165mm程度の有機化合物のフィルム上に銅箔等の金属箔を貼り付けたものであり、その内部には、半導体チップの外径よりも大きな開口部102が設けられ、開口部102周辺には、半導体チップを外部回路等と電気的に接続するための回路パターンが形成されている。回路パターンの一端は、半導体チップと接続するために開口部102の側辺から内側に向けて、宙に浮いた状態でリードが露出するフライングリード103が形成され、回路パターンの他端は、外部回路等と接続するために、開口部102の側辺から外側に向けて露出するアウターリード104が形成されている。
開口部102の周辺部のフライングリード103の部分からアウターリード104までの間の回路パターンは、フォトソルダレジスト105等の保護膜が塗布されている。
【0004】
このようなTABテープ101の製造工程においては、上記のフライングリード103の部分、アウターリード104の部分、フォトソルダレジスト105の部分のそれぞれの回路パターンが正しく形成されているか否かを検査する必要があり、パターン検査装置が用いられている。
【0005】
パターン検査装置は、検査するTABテープ101に照明光を照射し、回路パターンの状態を撮像装置または目視にて検出し、基準パターンと比較して回路パターンの良否を判定するものである。
例えば、フォトソルダレジスト105等の保護膜が所定の箇所に正しく形成されているか、かすれ等はないか。また不要な箇所にとびはないか、配線のメッキのしみや汚れはないか等が、落射光による照明光を反射させて検査している。この場合、TABテープ101を平面度のよいステージに保持し、TABテープ101の上方から照明光を照射し、その反射光による回路パターン像をTABテープ101上に設けた撮像装置により撮像して画像処理している。画像処理された回路パターン像は基準となる回路パターンと比較されて良否が判定されている。
【0006】
一方、回路パターンの配線の欠け、断線、ショート、太り等については、透過光による照明光によって検査している。特に、フォトソルダレジスト105等の保護膜が塗布された部分の回路パターンは、TABテープ101の上方から照明光を照射し、その反射光による回路パターン像を撮像装置により撮像して画像処理しても、コントラストがとれず検出することができない。そのため、通常、フォトソルダレジスト105等の保護膜が塗布された部分の回路パターンを検出する場合は、TABテープ101の下方から照明光を照射し、TABテープ101を透過した透過光による回路パターン像をTABテープ101の上方に設けた撮像装置により撮像して画像処理している。
【0007】
従って、1つのTABテープの検査を行うためには、TABテープを上方から照明する照明装置を備えた検査装置と、TABテープを下方から照明する照明装置を備えた検査装置の2種類の検査装置を必要としている。
【0008】
上下両方向からワークを照射して検査する検査装置としては、例えば、特開平11−312241号、特開2001−21333号が知られている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
上記公知技術に示されるような検査装置を用いれば、2種類の検査装置を必要としない。
しかし、TABテープの検査装置については、以下に示すような問題があり、上記のような検査装置は実現されていない。
【0010】
TABテープからの反射光または透過光を撮像装置で撮像する場合、TABテープを検査する位置が、撮像装置の焦点深度範囲内になければボケてしまい検査することができない。そのため、先に述べたように、反射光により検査する場合は、TABテープを平面度の良いステージに真空吸着等により保持して検査している。
しかし、透過により検査しようとする場合は、TABテープをステージに保持した状態では下方からの照明ができない。そこで、ステージを用いず、テープを搬送する機構によりテンションをかけて平面を保つという方法が考えられる。
【0011】
通常、検査装置や露光装置においてTABテープを搬送する場合、TABテープはローラに挟持されローラが回転することにより搬送される。これらの装置においては、搬送下流側に搬送用ローラが、上流側にブレーキローラが設けられ、蛇行やスリップが生じないように搬送されている。この搬送用ローラとブレーキローラとの作用により、TABテープに搬送方向に沿ったテンションを与えている。
【0012】
しかし、このようにしてTABテープの搬送方向にテンションをかけただけでは、TABテープの幅方向(搬送方向に対する直角方向)のそりは補正されない。
【0013】
TABテープは、樹脂であるフィルム状のテープの基板表面に、膨張係数の異なる金属膜等が形成され、熱処理されている。そのため、テープの幅方向にそりを生じていることが多い。
また、搬送方向のみのテンションでは、装置の振動等によるテープの上下振動を防ぐこともできない。このテープ幅方向のそりや振動が撮像装置の焦点深度より大きくなると、撮像された画像はピントがぼけた状態となり、画像処理ができず、回路パターンの良否の判定ができない。
【0014】
このため、透過光により、TABテープ上の回路パターンを検査する場合は、撮像装置を用いて画像処理を行うことによる自動検査装置での実現は困難であり、透過光を目視により観察し、テープのそりや振動に応じてピントを手動で調節しながら検査を行う方法が採られている。
即ち、反射光による検査は自動検査装置による検査は可能であるが、透過光による検査は自動検査装置による検査はできず、また反射光と透過光による両者の検査を合体した検査装置は実現されていない。
【0015】
本発明の目的は、上記の問題点に鑑みて、透過光による検査を自動検査するパターン検査装置を実現すると共に、1つの装置で反射光による検査と透過光による検査を自動検査するパターン検査装置を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の課題を解決するために、次のような手段を採用した。
第1の手段は、フィルム状の帯状ワークに形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、前記帯状ワークの一方の面側から照射する照明手段と、前記帯状ワークの他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段とを備えたことを特徴とする。
【0017】
第2の手段は、第1の手段において、前記撮像手段は、撮像の際に前記照明手段と共に前記帯状ワークの幅方向に移動可能に設けられていることを特徴とする。
【0018】
第3の手段は、フィルム状の帯状ワークに形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、前記帯状ワークの一方の面側から照射する第1の照明手段と、前記帯状ワークの他方の面側から照射する第2の照明手段と、前記帯状ワークの一方または他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段とを備えたことを特徴とする。
【0019】
第4の手段は、第3の手段において、前記撮像手段は、撮像の際に前記第1の照明手段および第2の照明手段と共に前記帯状ワークの幅方向に移動可能に設けられていることを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施形態を図1ないし図9を用いて説明する。
図1は、本実施形態の発明に係る検査装置の構成を示す斜視図である。
同図において、1はTABテープ、2は撮像位置の搬送下流側に設けられた搬送用ローラ、3は、撮像位置の搬送上流側に設けられ、搬送用ローラ2と共にTABテープ1に搬送方向にテンションを与え、蛇行やスリップが生じないようにして搬送するブレーキローラ、4はテープローラ、5は撮像位置にある被検査パターン、6はTABテープ1の上方に配置された落射照明装置、7はTABテープ1の下方に配置された透過照明装置、8は落射照明装置6によって照射されTABテープ1からの反射光および透過照明装置7によって照射されTABテープ1からの透過光を受光することにより、TABテープ1上の被検査パターン5を撮像する撮像装置、9は落射照明装置6を覆うカバーの上部に設けられ、検査時、TABテープ1からの反射光または透過光を撮像装置8に通過させるための観察窓、10はベースプレート、11は、落射照明装置6,透過照明装置7,および撮像装置8を支持するフレームと一体に構成し、ベースプレート10に対してTABテープ1の幅方向に移動可能に設けられたスライドプレート、12はモータ、13はモータ12の駆動によって回動されスライドプレート11をTABテープ1の幅方向に移動させるためのボールネジ、14はスライドプレート11と一体に構成され、落射照明装置6,透過照明装置7,および撮像装置8を支持するフレームである。
【0021】
図2は、図1に示した検査装置における落射照明装置6,透過照明装置7,および撮像装置8の部分を拡大して示した断面図である。
同図において、61,62,63はそれぞれ落射照明装置6のカバー内に設けられるLED,フィルタ,レンズ、81は撮像装置8に設けられ、その長手方向がTABテープ1の搬送方向に沿うように設けられるCCDラインセンサである。
同図に示すように、落射照明装置6は、TABテープ1の上方から照明光を照射し、TABテープ1に照射された光をその表面で反射させ、観察窓9を通って撮像装置8のCCDラインセンサ81に入力させるものである。
【0022】
一方、透過照明装置7にも落射照明装置6と同様のLED,フィルタ,レンズが設けられており、透過照明装置7はTABテープ1の下方から照明光を照射し、TABテープ1に照射された光をTABテープ1を透過させ、観察窓9を通って撮像装置8のCCDラインセンサ81に入力させるものである。
【0023】
図3は、図1に示した検査装置における、ワーク保持手段となるTABテープ1の幅方向の引張り機構を示す斜視図である。
同図において、15はTABテープ1の両側に設けられ、TABテープ1を挟持動作するグリップ用アクチュエータ、16,17は両者間でTABテープ1を挟持するグリップ用上部材およびグリップ用下部材、18はTABテープ1の幅方向にテンションをかけるためにスライドプレート19を駆動するスライド用アクチュエータ、19はグリップ用上部材16およびグリップ用下部材17を支持し、スライド用アクチュエータ18によって駆動されるスライドプレート、20はスライドプレートストッパである。
【0024】
図4は、図3に示したグリップ用アクチュエータ15の部分を拡大して示した斜視図である。
同図において、151はモータ、152はモータ151の回動により図示矢印方向aに移動可能な傾斜部材、153はグリップ用上部材16に取り付けられると共に傾斜部材152上を回動して、グリップ用上部材16を図示矢印方向bに上下動させる回動部材である。
【0025】
TABテープ1が搬送されている状態では、グリップ用上部材16は上昇しており、グリップ用上部材16はグリップ用下部材17とピンと共に、テープ搬送中の蛇行を防ぐテープガイドとして働く。TABテープ1の検査位置が撮像位置まで移動すると、TABテープ1の搬送を停止し、図4に示すように、グリップ用アクチュエータ15のモータ151が駆動され、グリップ用上部材16が下降する。グリップ用上部材16が下降されると、グリップ用下部材17との間でTABテープ1を上下から挟持保持する。その状態で、図3に示すように、スライド用アクチュエータ18を駆動することにより、スライドプレート19と一体に構成されたグリップ用上部材16とグリップ用下部材17はTABテープ1を挟持した状態でTABテープの幅方向に移動する。これによってTABテープ1をTABテープ1の幅方向にテンションをかけることができ、TABテープ1を平面度良く保持することができる。
【0026】
次に、本実施形態に係るパターン検査装置の検査動作の手順を図5ないし図7を用いて説明する。
図5は、パターン検査装置内に設けられる制御装置によって制御される検査装置各部との制御関係を示す図であり、制御装置21は、撮像装置8、落射照明装置6、テープ引張り機構22、透過照明装置7、テープ搬送機構23、不良品パンチ機構24等に対して、検査動作の所定のタイミングで制御信号を送信し、制御する。制御装置21には、予めパターン検査の基準となるマスターデータ25が入力されており、マスターデータ25には、落射照明に用いられるものと透過照明に用いられるものとの2種類がある。
【0027】
まず、制御部21によってテープ搬送機構23が駆動され、TABテープ1が搬送され、被検査パターン5が撮像位置に停止する。次に、テープ引張り機構22のグリップ用上部材16、グリップ用下部材17によってTABテープ1の周辺部が挟持された状態でテープの幅方向にテンションがかけられる。
【0028】
次に、図6(a)に示すように、落射照明装置6によってTABテープ1上の検査パターンに対して照明光が照射される。検査パターンからの反射光は撮像装置8のCCDラインセンサ81にて受光される。
次に、図6(b)に示すように、落射照明装置6による照明をしている状態で、フレーム14がTABテープ1の幅方向に移動する。その結果、落射照明装置6と撮像装置8は共にTABテープ1の幅方向に移動し、TABテープ1の一方のエッジAから他方のエッジBに向かって走査し、撮像装置8には、TABテープ1のエッジAからエッジB間の被検査パターンが撮像される。撮像された被検査パターンの情報は、テープの幅方向の位置に対応して制御部21に記憶される。
【0029】
撮像装置18による撮像がTABテープ1のエッジBにまで達すると、落射照明装置6による照明を停止し、図7(a)に示すように、透過照明装置7によってTABテープ1上の検査パターンに対して照明光が照射され、検査パターンを透過した透過光は撮像装置8のCCDラインセンサ81にて受光される。
次に、図7(b)に示すように、透過照明装置7による照明をしている状態で、フレーム14がTABテープ1の幅方向に移動する。その結果、透過照明装置7と撮像装置8は共にTABテープ1の幅方向に移動し、TABテープ1の他方のエッジBから一方のエッジAに向かって走査し、撮像装置8には、TABテープ1のエッジBからエッジA間の被検査パターンが撮像される。撮像された被検査パターンの情報は、先と同様に、テープの幅方向に位置に対応して制御部21に記憶される。
撮像装置8による撮像がTABテープ1のエッジAにまで達すると、透過照明装置7による照明を停止し、再びテープ搬送機構23が駆動され、TABテープ1が搬送され、新たな被検査パターン5が所定の撮像位置に停止するように制御される。
【0030】
上記のごとく、フレーム14、即ち、撮像装置8の往復移動により得られた、TABテープ1上の被検査パターンの反射光による情報(落射照明イメージ)と透過光による情報(透過照明イメージ)の2つの情報は、制御装置21内で、記憶されているそれぞれのマスターデータ25と比較され良否が判定される。
【0031】
次に、本実施形態に係るパターン検査装置における良否判定の手順を図8および図9を用いて説明する。
図8に示すように、上述の画像取得処理により、落射照明イメージと透過照明イメージとが取得される。初めに、落射照明イメージと落射照明用のマスタデータ1とが画像比較され、次いで、透過照明イメージと透過照明用のマスタデータ2とが画像比較される。次に、双方の画像比較の結果に基づいて良品、不良品の判定が行われる。
【0032】
双方の画像比較において、双方ともに欠陥(不良)がない場合は、良品と判定されて、TABテープ1は搬送され、次の検査位置が検査され、次の画像が取得される。
双方の画像比較の結果、いずれか一方の画像比較において不良がある場合は、不良とされた位置における落射照明イメージと透過照明イメージとが比較される。例えば、図9(a)、(b)はそれぞれTABテープの保護テープ上にゴミ(異物)が付着した状態および配線パターンに太りがある状態を示し、図9(c)、(d)に示すように、透過照明イメージにおいて、パターンの太りが見られる場合、これだけでは、図9(c)、(d)に示すように、パターンの太りによるものか、裏面にゴミがあるものによるものか判定できない。これを図9(e)、(f)に示すように、落射照明イメージによれば、裏面にゴミがある場合はパターンの太りは見られず、実際にパターンの太りがある場合のみパターンの太りが見られる。
【0033】
従って、透過照明イメージにおいて、パターンの太りが見られる位置に、落射照明イメージにおいてパターンの太りが見られなければ、それはパターンの太りではなく、裏面に貼られた保護膜上にあるゴミとして扱い、その大きさや位置が許容範囲であるかを判別して良否を決定する。また、落射照明イメージにおいても、パターンの太りが見られれば、それはパターンの太りとして扱い、その大きさや位置が許容範囲かどうかを判別して良否を判定する。
【0034】
不良でないと判定されれば、TABテープは搬送され、次の検査位置が検査され、不良と判定されれば、不良品パンチのための処理が行われて、TABテープは搬送され、次の検査位置が検査される。
【0035】
以上述べたように、本実施形態の発明によれば、テープ引っ張り機構を設けたことにより、TABテープを吸着保持するステージを設けることなく、テープのそりや振動を、撮像位置の焦点深度の範囲内に収めることができるようになる。その結果、透過光による検査であっても、撮像装置を用いた自動検査を実現することができるようになる。
さらに、1台の装置で、反射光による検査と透過光による検査とを自動で行うことができるので、それぞれの検査結果を画像処理して比較することにより、効率の良い検査や不良部分の検査を精度よく行うことができるようになる。
【0036】
【発明の効果】
請求項1に記載の発明によれば、フィルム状の帯状ワークに形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、前記帯状ワークの一方の面側から照射する照明手段と、前記帯状ワークの他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段とを備えたので、透過光による検査を自動検査するパターン検査装置を実現することが可能となる。
【0037】
請求項2に記載の発明によれば、前記撮像手段は、撮像の際に前記照明手段と共に前記帯状ワークの幅方向に移動可能に設けられているので、撮像位置が移動しても、被検査パターンに対して照明手段から常に一定の照明光が得られる。
【0038】
請求項3に記載の発明によれば、フィルム状の帯状ワークに形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、前記帯状ワークの一方の面側から照射する第1の照明手段と、前記帯状ワークの他方の面側から照射する第2の照明手段と、前記帯状ワークの一方または他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段とを備えたので、1つの装置で反射光による検査と透過光による検査を自動検査するパターン検査装置を実現することが可能となる。
【0039】
請求項4に記載の発明によれば、前記撮像手段は、撮像の際に前記第1の照明手段および第2の照明手段と共に前記帯状ワークの幅方向に移動可能に設けられているので、撮像位置が移動しても、被検査パターンに対して、第1の照明手段または第2の照明手段から常に一定の照明光が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態の発明に係る検査装置の構成を示す斜視図である。
【図2】図1に示した検査装置における落射照明装置6,透過照明装置7,および撮像装置8の部分を拡大して示した断面図である。
【図3】図1に示した検査装置におけるTABテープ1の幅方向の引張り機構を示す斜視図である。
【図4】図3に示したグリップ用アクチュエータ15の部分を拡大して示した斜視図である。
【図5】パターン検査装置内に設けられる制御装置によって制御される検査装置各部との制御関係を示す図である。
【図6】落射照明装置6によって照明されている状態で、撮像装置8がTABテープ1の幅方向に移動しながら、被検査パターンを撮像する状態を示す図である。
【図7】透過照明装置7によって照明されている状態で、撮像装置8がTABテープ1の幅方向に移動しながら、被検査パターンを撮像する状態を示す図である。
【図8】本実施形態に係るパターン検査装置における良否判定の手順を示す図である。
【図9】良否判定を説明するための図である。
【図10】フィルム状のTABテープの一部を示す図である。
【符号の説明】
1 TABテープ
2 搬送用ローラ
3 ブレーキローラ
4 テープローラ
5 被検査パターン
6 落射照明装置
61 LED
62 フィルタ
63 レンズ
7 透過照明装置
8 撮像装置
81 CCDラインセンサ
9 観察窓
10 ベースプレート
11 スライドプレート
12 モータ
13 ボールネジ
14 フレーム
15 グリップ用アクチュエータ
151 モータ
152 傾斜部材
153 回動部材
16 グリップ用上部材
17 グリップ用下部材
18 スライド用アクチュエータ
19 スライドプレート
20 スライドプレートストッパ
21 制御装置
22 テープ引張り機構
23 テープ搬送機構
24 不良品パンチ機構
25 マスターデータ
Claims (4)
- フィルム状の帯状ワークに形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、
前記帯状ワークの一方の面側から照射する照明手段と、前記帯状ワークの他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段とを備えたことを特徴とするパターン検査装置。 - 前記撮像手段は、撮像の際に前記照明手段と共に前記帯状ワークの幅方向に移動可能に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のパターン検査装置。
- フィルム状の帯状ワークに形成されたパターンを撮像し、該パターンの外観を検査するパターン検査装置において、
前記帯状ワークの一方の面側から照射する第1の照明手段と、前記帯状ワークの他方の面側から照射する第2の照明手段と、前記帯状ワークの一方または他方の面側に配置され、前記帯状ワークを撮像する撮像手段と、前記帯状ワークの幅方向にテンションを与えるワーク保持手段とを備えたことを特徴とするパターン検査装置。 - 前記撮像手段は、撮像の際に前記第1の照明手段および第2の照明手段と共に前記帯状ワークの幅方向に移動可能に設けられていることを特徴とする請求項3に記載のパターン検査装置。
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