JP2003526517A - アーク溶接プロセスの制御方法およびその方法を要する溶接機 - Google Patents

アーク溶接プロセスの制御方法およびその方法を要する溶接機

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JP2003526517A JP2001566845A JP2001566845A JP2003526517A JP 2003526517 A JP2003526517 A JP 2003526517A JP 2001566845 A JP2001566845 A JP 2001566845A JP 2001566845 A JP2001566845 A JP 2001566845A JP 2003526517 A JP2003526517 A JP 2003526517A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 溶接電圧と溶接電流を有する電気アーク溶接プロセスにおいて使用するためのリアルタイム制御信号発生方法を提供する。 【解決手段】 第1時刻に溶接電圧と溶接電流を測定し、該溶接電圧あるいは溶接電流のいずれかを瞬間的に約10%未満変化させ、次に該変化後第2時刻に溶接電圧と溶接電流を測定し、第1時刻と第2時刻の間の溶接電圧の差と溶接電流の差をそれぞれ決定し、該溶接電圧の差を溶接電流の差で割ることにより所望の制御信号を示す導関数値を生じて、該値によって制御信号を発生させることからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は電気アーク溶接技術に関し、さらに詳しくは独自の制御パラメータを
用いるアーク溶接制御方法および該パラメータを用いて展開するコントローラを
有する溶接機に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電気アーク溶接は、スプレー転移・パルス転移・直流GMAW溶接あるいは交
流溶接を使うか否かに関し、溶接品質に影響する多くのプロセス制御変数を有す
る複雑な電気現象である。定電圧溶接プロセスにおいて、溶接は電流Iaによっ
て通常制御される。電圧が一定に保たれると、CTWDの変化によって他のプロ
セス変動と同様、電流も変化するので、電圧・電流特性曲線を使う制御装置は固
有の限界を有する。工作物と接触端の距離CTWDが減ると電流が増え、その逆
も成り立つので、CTWDは電流に対し重要な影響をする。パラメータをリアル
タイムで決められるのは困難なので、CTWDに基づいて直流GMAW溶接プロ
セスを調整することには上述の困難を伴う。アーク電流に影響されない制御信号
を与える溶接パラメータはこれまで測定されていない。さらに重要なことには、
リアルタイムでアーク長さを直接調整するために制御信号を生ずるパラメータは
いまだない。電極の底と工作物の間の距離を固定値に保つことは、優れたかつ再
現性のある溶接品質を生じることが知られている。
【0003】
【課題を解決するための手段】
本発明はアーク溶接プロセスの制御において、溶接電流に依存しないでアーク
抵抗を表す独自の制御信号を生じるパラメータを測定することによって、従来技
術の問題点を克服する。したがって、本発明を用いて生じた制御信号は、溶接電
流に基づく制御に関わる導関変数によって影響されない。本発明によれば、溶接
電流に対する溶接電圧の導関数は、アーク長さのような溶接状態を保つため、制
御信号として使われるパラメータを与えるために測定される。この導関数は、電
流によって電圧を分割するだけで得られる負荷抵抗とは明らかに固化となる独自
の制御パラメータである。このパラメータは溶接プロセスを制御する信号を生じ
るために用いられるのではない。
【0004】 本発明は、アーク長さを選ばれた距離に保つため、リアルタイム制御信号を生
じることのできる溶接プロセスの特性を示すパラメータに関している。アーク長
さに結びつけられた電極突出(ESO)の長さは、工作物と溶接端の距離CTW
Dに等しい。
【0005】 アーク電圧Varc は、(アーク長さLarc ×定数B)+定数Aに等しい成分を
もつ。第1定数Aは陰極および陽極における仕事関数、および陰極電圧降下であ
る。陰極および陽極の電圧降下は、鉄素材に対し約4.15Vと知られている。
本発明の好ましい実施態様は溶接鋼に対するプロセスであるが、アルミニウムの
ような他の金属も本発明を使って溶接し得る。こうして、陰極および陽極での電
圧降下は合わせて8.3Vに等しい。仕事関数は陰極現象で、通常約3.7Vで
ある。したがって、第1定数Aは8.3+3.7=12.0の範囲にある。定数
B(×アーク長さLarc )はシールドガスに関係する。アルゴン85%、二酸化
炭素15%の組成をもつガスに対して、定数Bは18.7である。したがって、
arc は第1定数(12.0)+第2定数(18.7)×アーク長さLarc (c
m)によって変化する。Varc の他の成分は、溶接電流Ia×アーク抵抗Rarc
である。すなわち、Varc =BLarc +IaRarc である。したがって、Varc
がわかればアーク長さを決めるために適切なアルゴリズムが用いられる。そして
、アーク長さは維持される。Iaは検知可能なので、唯一の未知数はRarc であ
る。本発明はアーク抵抗Rarc を表す信号を促進する。こうして、アーク長さは
本発明を用いて、アーク抵抗を表す信号を展開するために維持され得る。
【0006】 本発明を用いて、独自のパラメータdV/dIがアーク長さを維持するために
用いられるアーク抵抗を表す制御信号として使われる。この導関数は、アーク自
身の抵抗に関係する。実際にそれはCTWDにわたる全抵抗(RESO +Rarc
に関係する。RESO の寄与度は低いので、dV/dI信号はアーク抵抗Rarc
表す。この信号は、リアルタイムで単に溶接電圧を溶接電流で割った負荷抵抗に
は等しくない。本発明は、電圧の導関数を検知することに関するものである。こ
のパラメータは、アーク長さを維持するとともに、アーク電圧を決定するために
使われる。
【0007】 本発明によれば、リアルタイム制御信号を発生する方法が提供される。この方
法は、溶接電流に対する溶接電圧の導関数を決定することからなる。この制御信
号は、抵抗あるいはインピーダンスとして参照される。こうして、この新規な制
御信号は、アーク抵抗の大きさによって変化し、アーク電圧に対する直接の相関
として使われる。擬似抵抗(「増加抵抗」)は、制御信号であり、独自のパラメ
ータを構成する。この制御信号は実際の溶接電流と掛け合わされ、アーク電圧を
表す信号値を得るために、アーク長さが加えられる値を生じる。公知の制御関数
が存在し、それは第1成分(a)が第1定数(約8〜20で、鉄に対しては12
)の総和、第2定数(約10〜35で、アルゴン90%・CO2 10%のガスに
対しては18.5)×アーク長さLarc が、アーク電圧−溶接電流×アーク抵抗
(c)である第2成分(b)と比較される。本発明は、この制御関数をアーク抵
抗を表す制御信号を生ずることによって実施させる。これらの制御システムは、
電圧の導関数として新規な制御信号を生じることによって達成される。
【0008】 本発明の他の面によれば、導関数は溶接電流の小さな変動によって得られる。
その変動パターンが溶接電流に適用されて、「増加抵抗」Rz を決定する。変動
の前に、電圧と電流が検知される。次に電流が増し、ある遅延時間だけ待つ。こ
の遅延により、誘導リアクタンスによる歪みを除く。電圧と電流が再び測定され
、記録される。その電圧を差し引き電流を差し引くことにより、電流に対する電
圧の導関数が得られる。この導関数を使って、高分解回路が使われる。電流差が
小さく、導関数値が0.005〜0.0075Ωの範囲にあるからである。電圧
差も小さく、0.15〜2.0Vの範囲にある。したがって、高分解が検知のた
めに用いられる。しかも、増加抵抗値が導関数測定であるので、絶対的な精度は
決定的でない。こうして、高分解が要求されるが、データ値の精度は決定的でな
い。電流変動の大きな値がアーク長さに影響するので、この変動はその影響を避
けるように制限される。実際には、電流変動は約10%未満で、溶接プロセスに
用いられる電流の約5%未満である。導関数は電流を増すだけで得られるが、本
発明の好ましい実施態様では、第2の電圧・電流測定に先立って電流が増加され
る。その後で、電流は溶接電流値以下に減らされて、第3測定に供される。次に
、溶接電流値まで再び上げられて第4測定に供される。したがって、4つの電圧
・電流値があり、1つの電流変動パターンに対して3つの異なる値が集められる
。第2差値は、第1あるいは第3電流差よりも大きな変動に基づいている。これ
ら3つの差の組を得て、導関数を算出し、平均値を出すことによって、実際の導
関数値すなわち制御信号が得られる。
【0009】 増加抵抗Rz を好ましく得るため、溶接機の電源制御システムを用いる。結果
としての電圧・電流データが測定され、上記方法でdV/dIを得る。あるいは
、電源自身が電圧波形を揺動させる。これらのデータはdV/dIを得るために
測定される。他の実施例では、PWMにおいてパルス幅に対する入力のような電
流または電圧に関する信号を揺動するために電源が使われる。次に電圧と電流が
測定される。また別の実施例では、高電力関数発生器のような外郭回路を用いる
。さらに別の実施例では、高電力トランジスタのような外部回路を有する電源の
出力を揺動させる。これらの実施例では電流あるいは電圧の突起の増減を伴って
いるが、正弦波や他の任意の波形を用いて変動することも可能である。各測定の
前に時間遅延があるので、誘導リアクタンスが測定結果に誤差を誘起することは
ない。電圧差は電流が安定した後に検知される。その安定化時間は50〜100
μsの範囲にあることがわかった。これらは最短の遅延であり、それよりも長い
遅延は適切でない。
【0010】 変動パターンを集めた多くのデータにおいて、電流は正に次に負に変動する。
これにより、アーク長さの変動を小さなものにできる。正と負の遷移が等しいこ
とにより、電源の出力をバランスさせ、溶融レートを電流変動によって影響させ
ないようにできる。第2電流遷移は第1遷移の2倍である。これにより、集めら
れたデータ値を2倍にして、より良好な分解ができる。3つの連続的な導関数を
用いて、より一貫した制御信号が得られる。実際には、電圧・電流測定はそれぞ
れ約10msである。このようなタイミングにより、大ていの波形を制御波形か
ら変化させない。dV/dIデータが電極突出とアーク長さを評価するために引
き出される。
【0011】 上述したように、多くの制御メカニズムによって、電源出力を揺動させ、dV
/dIを得るのに必要なデータを測定することができる。大ていの高速溶接電源
は、バック・コンバータすなわち直流・直流コンバータにようなスイッチング電
源に基づいている。特別な回路によってノイズを除かない限り、スイッチング・
ノイズにより、溶接電流・電圧の正確な測定が困難になる。dV/dI測定を達
成する好ましい方法は、電源のスイッチングに同期して揺動を制御し必要なデー
タを測定するように特別に設計された高速内蔵制御アルゴリズムを使うことであ
る。dV/dI測定が要求される時メイン電源が制御信号を内蔵アルゴリズムに
送る。するとアルゴリズムによって、電流が定められたシーケンスで流れ、電源
の半導体でスイッチングする間、正確なタイミングでデータが測定される。デー
タが得られると、制御信号がメイン電源に戻される。デジタル信号プロセッサ、
プログラマブル・ケント・アレイあるいはマイクロプロセッサによって、内蔵ア
ルゴリズム(制御システム)が実行される。もちろん、電流変動を得てデータを
集めることは他の手段によっても実施可能である。
【0012】 dV/dIをリアルタイム関数として得るため、電流あるいは電圧が揺動され
、異なる時に測定される。より良い分解とノイズ除去は1ステップ以上の揺動を
導入することによって得られる。dV/dI値は揺動後のいくつかのdV/dI
測定値の平均である制御信号を与えるために発生される。この手続はスプレー転
移・パルス転移・短絡回路転移・直流および交流金属溶接のようなアークを用い
る溶接プロセスに対して用いられる。各プロセスは増加抵抗RZ を生ずるために
変動するアーク電流を有する。
【0013】 本発明の主要な目的は、電気アーク溶接プロセスに用いられる電圧の導関数で
ある制御信号を生じるための方法およびシステムを提供することにある。この制
御信号は予め定められたアーク長さを維持するため、溶接プロセスのフィードバ
ック・ループ制御のため、他のパラメータを得るために用いられる。 本発明の他の目的は、アーク長さや他のパラメータを維持するための制御関数
を正確に得るために用いられる上記方法およびシステムを提供することにある。 さらに他の目的は、電気アーク溶接プロセスにおいてさまざまなパラメータを
正確に測定する上記方法およびシステムを提供することにある。これらのパラメ
ータは従来技術の制御では容易に得られなかった。これらおよび他の目的、およ
び効果は添付図面とともに以下の説明から明らかになるであろう。
【0014】
【実施例】
以下、図面を参照するが、これらは本発明の実施例を説明するためにのみ用い
、本発明をこれらと同一のものに限定するためではない。図1は電気アーク溶接
プロセスを示し、接触端12は開口部14を有し、そこから鋼電極Eが鉄製工作
物WPに向かって進む。実施例では溶接金属は鋼だが、アルミニウムのような他
の金属も本発明を使って溶接された。電極の端と工作物の間に電気アークCがあ
る。実際には、電気エネルギーが接触端によって電極Eを通ってアークCを生じ
るように導かれ、電極の端を溶かし、スプレー、短絡あるいは球状転移のいずれ
かによって金属を移す。端12と工作物WPの間の距離はCTWDで、これは電
極突出ESOとアーク長さLarc の和である。溶接電圧Va は、電極に係る電圧
ESO とアークにかかる電圧Varc に分割される。これらのパラメータは電気ア
ーク溶接において標準的で、本発明を説明するのに用いる。電極Eは溶接電流I a を用いてI2 Rによって加熱される。加熱は長さESOに沿って均一である。
電極の加熱はアークCによるIVとは大いに異なる。アーク加熱は電極Eの端か
ら溶ける金属の全加熱の通常75〜80%である。溶融は電極の端で生じ、この
端はバリア20を有する。このバリアにより、電極EがアークCによる熱から守
られる。周知のように、温度が上がると抵抗は増すが、電極Eの残りの抵抗はい
くらか一定に保たれる。温度が上がると、熱伝導率と比熱も上がる。こうして、
バリア20は電極をアークから切離し、電極Eが進むとき金属を溶かす熱が増す
ひじょうに薄い層である。溶接電圧Va は定数Aによって影響され、Aは陰極す
なわち工作物WPの仕事関数に関係し、通常の陽極あるいは陰極の電圧はともに
約4.15Vである。実際には、鋼を溶接するとき定数Aは約12である。定数
Aは、シールドガスのタイプに関する定数B×アーク長さLarc に加えられる。
この関係(A+BLarc )は、アーク電圧を長さ溶接電流×アーク抵抗Rarc
加えられる。電極電圧VESO は溶接電流Ia と突出抵抗RESO の積である。RES O は小さいので一般にVarc がVa になる。これらの関係により、アーク長さは
a 、Ia およびRarc をモニターすることで維持される。本発明はRarc の値
を生じるのに使われる。関係式Va =A+BLarc +Iaa rc は本発明にしが
って、独自の制御信号を用いて実施する際に使われる。この制御信号は導関数d
V/dIで、増加抵抗RZ として参照される。増加抵抗RZ はRarc +RESO
あるが、溶接電圧を溶接電流で割って得られる負荷抵抗ではない。Varc は直接
には測定できない。しかし、Va は測定可能でVarc +Ia ×RESO に等しい。
したがって、Va =A+BLarc +Ia (Rarc +RESO )となる。
【0015】 信号dV/dIを与えるため、いくつかのソフトウエア回路が使われる。その
ソフト回路を図2に示し、この回路により図3のような電流揺動を生じる。溶接
機30は電極Eと工作物WPの間に溶接電圧Va を生じる。実際には図1の端1
2と工作物WPの間に電圧がかかる。電圧Va と溶接電流Ia を生じさせるため
、電極Eと工作物WPにつなげられる出力リード42・44を有する電源40が
供給される。その入力は3相入力線52につながれた整流器50である。電源は
パルス幅変調器60の出力線62の信号によって決まる溶接電流の波形をもつ高
周波スイッチング・インバータである。変調器は出力72aと入力72b・72
cをもつ誤差アンプ72の指示のもと、波形の回路70によって制御される信号
を有する入力線64をもっている。入力72bは命令電流信号IC である。入力
72cは電極Eを通って工作物WPに流れる溶接電流Ia である。リアルタイム
溶接電圧を測定するため、リード42・44と並列につながれた入力リード82
・84をもつセンサ80がある。同様に、リード94・96によって分流器92
から溶接電流Ia を検知する。溶接機30はスプレー溶接・短絡溶接・直流溶接
あるいは交流溶接用に使われる。本発明はIa に対するVa の導関数である新規
な制御信号を用いる。Ia とVa を図3に示す。この導関数を得るためのシステ
ムを図2に示す。電流変動パターン100により電圧変動パターン100aが生
じる。パターン100は時刻T1における電圧レベル100aに相当する制御レ
ベル110から電圧レベル112aに相当する新レベル112に増加する溶接電
流Ia を要する。この新レベル112は制御レベルよりも10%未満高く、より
好ましくは5%未満高い。dV/dIの値は時刻T1の前に点1でライン110
bで示すようにVa とIa を決定し、時刻T2の前に点2でライン112bで示
すようにVa とIa を決定することにより得られる。これら2組の電圧と電流の
差を取り、その差を割ることによりdV/dIが得られる。点2でのレベル11
2の測定は時刻T1とライン112bの間で100μsの時間遅延後に行われる
。これにより、点1と点2の間のVa とIa を読み取る前に、誘導リアクタンス
による電圧の影響をなくすことができる。時刻T2でIa はレベル114まで下
がる。このレベル114は一般にレベル110よりも10%未満低く、好ましく
は5%未満低い。これに伴い、Va もレベル114aに下がる。時刻T3の直前
で、点3でライン114bに示すように、Va とIa の3回目の測定がなされる
。その後、Ia はレベル110に等しいレベル116まで戻る。少し遅れて、す
なわち約100μsの後、点4で4回目の測定がなされる。点1と点2、点2と
点3、および点3と点4の間の値の差を測ることにより、同一制御信号の3つの
異なった値が読み取れる。これらの3つの値は記録され、加えられ、割られて、
最終的な導関数dV/dIが得られる。この信号は本発明によって得られる独自
の信号である。任意時間後、他の変動パターン100が次のdV/dIを読み取
るためになされる。パターン100は周期的にくり返され、リアルタイムで導関
数を生じて溶接プロセスを制御する。
【0016】 再び図2にもどると、ライン122に電圧信号が生じると電流変動パターン1
00を生じる。信号発生器120によってパルス幅変調器60にかぶさってパタ
ーン100が生じる。この信号はライン124を通って、パルス幅変調器60へ
の第2入力となる。各時点で信号発生器120が始動され、パターン100が実
施される。周期的にオッシレータ130によってカウンタ132を駆動し、それ
によってワンショット回路134を動かして、信号発生器120を動かす。オッ
シレータをカウンタはプログラムされているので、パターン100は数秒毎に周
期的にくり返される。こうして、ライン122に信号が生じて(10ms)、I a の変動パターン100をくり返させる。点1、2、3、4でライン150に信
号が生じて、ブロック152でVa を読み、ブロック154でIa を読む。これ
ら2つの値を使って、ブロック160でdV/dIが得られる。各導関数測定値
はブロック162に貯えられて、ブロック164で平均化されて制御信号RZ
与える。パターン100で、3つの読み取りがなされる。これらの値は貯えられ
、平均化されて、図2のRZ である導関数信号dV/dIを生じる。この信号は
一般に、唯一のdV/dI計算による信号と同一である。
【0017】 増加抵抗RZ を平均化するためのソフト・プログラムは図4に示されている。
このプログラムで、ブロック200に示すように点1でマイクロプロセッサ等に
よってVa とIa が読み取られる。そのデータがブロック202に貯えられる。
その後、ブロック204のように点2でVa とIa が読み取られ、ブロック20
6に貯えられる。同様に、ブロック208のようにVa とIa が読み取られ、ブ
ロック210に貯えられる。さいごにブロック212のように点4でVa とIa
が読み取られ、ブロック214のように貯えられる。そしてブロック220に示
すように、第1導関数dV/dIに相当するデジタル数が計算される。この値が
アナログであれば、独自の制御信号である。その後、導関数計算が2回くり返さ
れる。これら3つの導関数計算の値(デジタルあるいはアナログ)はすべて本質
的に同一であるが、ブロック220に示すように加え合わされる。次に、ブロッ
ク222に示すように220の合計値が3で割られ、ライン224に平均値のd
V/dI(=RZ )を生じる。これは3つの測定値の平均に等しい制御信号であ
る。変動パターン100は本発明の実施例に使われるので、平均化プロセスは3
つのRZ の決定を要する。もちろん、いかなる数の制御信号(RZ )でも加えら
れ、平均化され得る。
【0018】 RZ は消耗電極とアークを用いるすべての溶接法において得られる。電極の端
を溶かすため、工作物上に溶融金属を堆積させる。変動パターン100の間の小
さな電流変化は電極溶融の変化をもたらさない。RZ のリアルタイム適用を図5
〜9に示す。たとえば、図5のようなスプレー溶接において、電流の変動パター
ン230が周期的に生じる。これに伴い、電圧の変動パターン230aが生じる
。次に導関数が得られて、増加抵抗RZ を生じる。同様に、図6に示すように、
パルス溶接において、背景電流とピーク電流が存在する。これに伴い、電圧も同
様に変動する。背景電流240の間、電極から工作物への転移は生じないが、こ
れに対応する電圧パターン240aが生じる。これにより、導関数が生じる。ピ
ーク電流242に伴って、ピーク電圧242aが生じる。ピーク電流に対して増
加抵抗RZ が得られる。これによりアーク長さが保たれる。図7に短絡溶接を示
す。アーク(プラズマ)部の間、Ia の変動パターン250が得られる。これに
伴い、Va の変動パターン250aが生じる。短絡部252の間はアークがない
ので、測定はない。リンカーン電気社(米国オハイオ州クリーブランド)によっ
て開発されたSTT溶接サイクルも背景電流とプラズマ・ブーストの間、本発明
を使うことができる。これらの間、電流は一定に保たれる。しかし、STTの短
絡部の間は、電流は変動しない。
【0019】 本発明は電流が一定に保たれ、かつ変動できるアークを用いるすべてのタイプ
の溶接サイクルに適用できる。これを図8に示す。電流の変動パターン260に
伴い、電圧の変動パターン260aが生じている。定電流は図5のスプレー溶接
の場合に似ている。交流溶接において、電流は一般に一定に保たれるが、図9の
ように逆極性になる。正極性の間、電流変動パターン270によって電圧変動パ
ターン270aが生じる。負極性の間、電流変動パターン272によって電圧変
動パターン272aが生じる。図5〜9のいくつかの共通の溶接プロセスに対す
る電流と電圧が、独自の増加抵抗RZ の普遍的な適用を示す。もちろん、他の電
気アーク溶接プロセスも、電極抵抗に対し極めて高いアーク抵抗をもつ本発明を
使用できる。
【0020】 本発明を実施する際、導関数が制御信号として得られる。いくつかのシステム
が導関数値を得るために使われ得る。図2は1つのシステムを示しているが、図
10・11は他のシステムを示している。図10で、電源40は出力リード42
・44間につながれた関数発生器400を有する。関数発生器は電流変動を生じ
、いくつかの特定測定点を作るために要する特定変動を生じるために調時される
。オッシレータ402がカウンタ404を動かす。ライン406上のカウンタ出
力が、それぞれセンサ80・90からの電圧・電流値が読み取られ、ブロック4
10に貯えられる段階を示す。次にこれらはブロック222で平均化され、ライ
ン224に制御信号RZ を生じる。同様に、図11でカウンタ420はオッシレ
ータ420aによって動かされ、スイッチ450のゲート424を制御する一連
の信号をライン422に生じる。これによりアークからの電流Ia の一部を周期
的に分流する。この変動パターンは2つのレベルのみ有する。それを図11Aに
示す。スイッチ450が導通すると、電流は低いレベル460まで減る。ブロッ
ク410によって、点1と点2でVa とIa が読み取られる。これがdV/dI
である。これらのいくつかが続いて生じ、ブロック470で平均化され、ライン
472に制御信号RZ を生じる。他の配列もdV/dIを決定するのに用いられ
得る。RZ はアーク抵抗に関するものである。
【0021】 さまざまなシステムをソフトウエアが制御信号RZ を得るのに用いられ得る。
Z は他のさまざまなパラメータとともに操作されて、溶接プロセスに対する制
御あるいは命令信号を生じる。リアルタイムでのRZ の発生は溶接技術において
独自であり、dV/dIを得るのに非常に有利である。制御信号の使用は消耗的
でない。他の使用も本技術内にある。本発明は経験的な修正によって単純化され
たシステムのような数学的に発生する構造をもつ制御システムにおいて用いられ
る。
【0022】 図12は本発明により一定アーク長さを保つ現在使われている制御システムを
示す。アーク長さLarc の調整はRZ (=dV/dI)のいくつかの値を得るこ
とにより可能になる。Va =VESO +Varc で、これは(a)第1定数A(8〜
20)、(b)第2定数B(10〜35)×Larc 、および(c)Ia ×Rarc
の和に等しい。アーク長さを一定に保つことにより、アーク抵抗は変わらず、R ESO +Rarc は一定に保たれる。溶接電圧Va =VESO +Varc 。アーク電圧V arc =A+BLarc +Iaarc 。したがって、Va =A+BLarc +Iaar c +VESO =A+BLarc +Ia (Rarc +RESO )。dV/dIは(Rarc
ESO )に関して直接変ってる。したがって、Va はdV/dIに関して変わる
。したがって、Va =A+BLarc +Ia dV/dI。この関係は図12のシス
テム500によってアーク長さを保つのに使われる制御方程式である。溶接電流
a はフィルター502でフィルターをかけられ、ブロック504でdV/dI
と掛け合わされる。これにより、Ia dV/dIを確定する信号レベルが生じる
。この信号レベルはジャンクション508で、フィルター506でフィルターを
かけられたフィードバック溶接電圧Va から引かれる。レベル(Va −Ia dV
/dI)はジャンクション510で実際のアーク長さLarc と比較される。この
実際のアーク長さLarc はブロック520で第2定数B(8〜20)を掛けられ
、ブロック522で第1定数A(10〜35)を加えられる。ライン530のレ
ベルにより、パルス幅変調器540が制御され、Larc を保つ。システム500
はRZ (=dV/dI)を使う制御システムである。
【0023】 図12のシステム500はアーク長さを一定に保つ。これは本発明の主要な用
途である。しかしワイヤ供給速さWFSが増すと、Ia は増してアーク長さを保
たなければならない。より高いIa より、工作物の溶融溜内にアークをより深く
浸透させる。こうして、Larc は一定長さよりも長くなり、電極はより長く突き
出されることになる。このような偏位を補償するため、オペレータは図13のゲ
インK1 を得る。システム500’はシステム500と似ているが、換算ブロッ
クがオペレータ調整ゲインK1 を有する点が異なっている。ゲインK1 は0.0
〜2.0の範囲で変わり得る。通常、オペレータはK1 を約0.2〜0.3に設
定する。定電圧溶接に対し、K1 は0.0である。Larc を十分に調整すると、
1 は1.0〜2.0と高くなる。実際には、K1 は約0.3である。
【0024】 システム500・500’に代わるソフトウエア制御システム600を図14
に示す。図12のブロック502・504および図13のブロック502・50
4によって与えられる制御関数K1a dV/dIが、Ia の使用を避けるため
に簡単化され得る。経験的に、Ia dV/dIはK3 dV/dI+K4 に等しい
ことがわかっている。定数K3 とK4 は経験的に得られる。システム600はシ
ステム500における要素と同様の符号を付けられたアーク長さ要素を保つ。要
素502と504はブロック602に置き換えられてK3 とdV/dIを掛け合
わせ、ブロック604でK4 を加える。アーク長さは保たれる。実際には、WF
Sはライン610でアーク長さに設定される。ライン610のWFSの値が検索
表620に送られ、K3 とK4 を得る。システム600はdV/dIを使ってア
ーク長さを制御する。他の変化および制御システムも、特に一定アーク長さを保
つため、数学的あるいは経験的に制御信号dV/dIを使うように開発され得る
ことが理解され得るであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 標準的なアーク溶接を示す側面図。
【図2】 本発明の一実施例を説明するためのブロック回路図。
【図3】 図2の回路によって生じる電流変動と電圧変動のグラフ。
【図4】 図2・3の実施例で得られる電流・電圧データ処理に使うフロー図。
【図5】 本発明の他の実施例からなる電流・電圧変動のグラフ。
【図6】 本発明の他の実施例からなる電流・電圧変動のグラフ。
【図7】 本発明の他の実施例からなる電流・電圧変動のグラフ。
【図8】 本発明の他の実施例からなる電流・電圧変動のグラフ。
【図9】 本発明の他の実施例からなる電流・電圧変動のグラフ。
【図10】 本発明によるdV/dIを得るための一方法を示すブロック回路図。
【図11】 他の方法からなるdV/dI(=RZ )を得るためのブロック回路図。
【図11a】 図11で得られる電流変動のパターンの一部を示すグラフ。
【図12】 オペレータの介在なしにRZ を使ってアーク長さを保つためのブロック回路図
【図13】 オペレータの介在を伴ってRZ を使ってアーク長さを保つためのブロック回路
図。
【図14】 経験的修正によって図12のシステムを簡単化したブロック回路図。
【符号の説明】
10: 電気アーク溶接プロセス 12: 接触端 E: 電極 WP: 工作物 A: アーク Va : 溶接電圧 Ia : 溶接電流 Larc :アーク長さ 30: 溶接機 40: 電源 60: パルス幅変調器 dV/dI: 導関数 RZ : 増加抵抗 80,90: センサ 100: 電流変動パターン 100a:電圧変動パターン 230: 電流変動パターン 230a:電圧変動パターン 250: 電流変動パターン 250a:電圧変動パターン 260: 電流変動パターン 260a:電圧変動パターン 270: 電流変動パターン 270a:電圧変動パターン 272: 電流変動パターン 272a:電圧変動パターン 500,500’,600: システム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),OA(BF ,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW, ML,MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,G M,KE,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ, MD,RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM, AT,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,C A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM ,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH, GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS ,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN, MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,S D,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM,TR ,TT,TZ,UA,UG,US,UZ,VN,YU, ZA,ZW

Claims (39)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1時刻に溶接電圧と溶接電流を測定し、該溶接電圧あるい
    は溶接電流を約10%未満瞬間に変化させ、該変化後第2時刻に溶接電圧と溶接
    電流を測定し、第1時刻と第2時刻の間の溶接電圧の量と溶接電流の差をそれぞ
    れ決定し、該第1時刻を第2時刻の間の溶接電圧の差を溶接電流の差で割ること
    により制御信号を表す導関数値を作り、該導関数値によって制御信号を発生させ
    ることを特徴とする、溶接電圧と溶接電流を有する電気アーク溶接プロセスにお
    いて使用するためのリアルタイム制御信号発生方法。
  2. 【請求項2】 継続する時刻に複数の導関数値を作り、該値を平均化するこ
    とによって制御信号を発生させることを含む請求項1の方法。
  3. 【請求項3】 前記変化が溶接電流を変化させることによるものである請求
    項2の方法。
  4. 【請求項4】 前記変化が溶接電流を変化させることによるものである請求
    項1の方法。
  5. 【請求項5】 前記の複数が、少なくとも3である請求項3の方法。
  6. 【請求項6】 前記の複数が、少なくとも3である請求項2の方法。
  7. 【請求項7】 前記の複数が、3で割り切れる請求項3の方法。
  8. 【請求項8】 前記の複数が、3で割り切れる請求項2の方法。
  9. 【請求項9】 第1時刻に溶接電圧と溶接電流を記録するデジタルデバイス
    、第2時刻に第1時刻と第2時刻の間に溶接電流を変化させる制御デバイス、第
    1及び第2時刻で溶接電圧と溶接電流の差を測定するデジタル・デバイスおよび
    溶接電圧の差を溶接電流の差で割った値を測定し制御信号を生じさせるための導
    関数回路からなることを接触端と工作物の間に溶接電圧を発生させ、接触端から
    伸びる電極とアークを通る溶接電流を発生させるための電源、溶接電圧を検知す
    るセンサ、溶接電流を検知するセンサ、および溶接電圧および/または溶接電流
    を制御するコントローラを有する電気アーク溶接機において使用するためのリア
    ルタイム制御信号発生用システム。
  10. 【請求項10】 第1時刻にプロセス溶接電圧とプロセス溶接電流を測定し
    、プロセス溶接電流よりも高く溶接電流を増加させ、第1時間遅延後、第2時刻
    に再び溶接電圧と溶接電流を測定し、次にプロセス溶接電流よりも低く溶接電流
    を減少させ、第2時間遅延後、第3時刻に溶接電圧と溶接電流を測定し、次にプ
    ロセス溶接電流近くまで、溶接電流を増加させ、第3時間遅延後、第4時刻に溶
    接電圧と溶接電流を測定し、第2時刻と第3時刻の間で溶接電圧と溶接電流の差
    を決定し、該電圧の差を電流の差で割って制御信号を発生させることを特徴とす
    る溶接電圧と溶接電流を有する電気アーク溶接プロセスにおいて使用するための
    リアルタイム制御信号発生方法。
  11. 【請求項11】 各時間遅延が約50μsよりも大きい請求項10の方法。
  12. 【請求項12】 第1及び第2時刻の間の溶接電圧と溶接電流の差を決定し
    、第3及び第4時刻の間の溶接電圧と溶接電流の差を決定し、これらの電圧の差
    を電流の差で割り、それらの商を加えてその値を3で割って制御信号を発生させ
    ることを含む請求項10の方法。
  13. 【請求項13】 各時間遅延が約50μsよりも大きい請求項12の方法。
  14. 【請求項14】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    信号を得、該信号を閉ループフィードバックとして使って溶接プロセスの電極突
    出を制御することを含む請求項13の方法。
  15. 【請求項15】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    信号を得、該信号を閉ループフィードバックとして使って溶接プロセスの電極突
    出を制御することを含む請求項12の方法。
  16. 【請求項16】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    信号を得、該信号を閉ループフィードバックとして使って溶接プロセスの電極突
    出を制御することを含む請求項11の方法。
  17. 【請求項17】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    信号を得、該信号を閉ループフィードバックとして使って溶接プロセスの電極突
    出を制御することを含む請求項10の方法。
  18. 【請求項18】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    第1値を与え、該第1値をプロセス溶接電圧から引いてアーク電圧を表す第2値
    を与え、該第2値から第1既知定数を引いて第3値を与え、該第3値を第2既知
    定数で割ってアーク長さを表す信号を得、該信号を閉ループフィードバックとし
    て使って溶接プロセスのアーク長さを制御することを含む請求項13の方法。
  19. 【請求項19】 第1既知定数の値が約8〜20である請求項18の方法。
  20. 【請求項20】 第2既知定数の値が10〜35の範囲である請求項18の
    方法。
  21. 【請求項21】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    第1値を与え、該第1値をプロセス溶接電圧から引いてアーク電圧を表す第2値
    を与え、該第2値から第1既知定数を引いて第3値を与え、該第3値を第2既知
    定数で割ってアーク長さを表す信号を得、該信号を閉ループフィードバックとし
    て使って溶接プロセスのアーク長さを制御することを含む請求項12の方法。
  22. 【請求項22】 第1既知定数の値が約8〜20である請求項21の方法。
  23. 【請求項23】 第2既知定数の値が10〜35の範囲である請求項21の
    方法。
  24. 【請求項24】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    第1値を与え、該第1値をプロセス溶接電圧から引いてアーク電圧を表す第2値
    を与え、該第2値から第1既知定数を引いて第3値を与え、該第3値を第2既知
    定数で割ってアーク長さを表す信号を得、該信号を閉ループフィードバックとし
    て使って溶接プロセスのアーク長さを制御することを含む請求項11の方法。
  25. 【請求項25】 第1既知定数の値が約8〜20である請求項24の方法。
  26. 【請求項26】 第2既知定数の値が10〜35の範囲である請求項24の
    方法。
  27. 【請求項27】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    第1値を与え、該第1値をプロセス溶接電圧から引いてアーク電圧を表す第2値
    を与え、該第2値から第1既知定数を引いて第3値を与え、該第3値を第2既知
    定数で割ってアーク長さを表す信号を得、該信号を閉ループフィードバックとし
    て使って溶接プロセスのアーク長さを制御することを含む請求項10の方法。
  28. 【請求項28】 第1既知定数の値が約8〜20である請求項27の方法。
  29. 【請求項29】 第2既知定数の値が10〜35の範囲である請求項27の
    方法。
  30. 【請求項30】 溶接電流に対する溶接電圧の導関数を検知して制御信号を
    発生することを特徴とする電気アーク溶接において使用するためのリアルタイム
    制御信号発生方法。
  31. 【請求項31】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて空極突出電圧を表す
    信号を得、該信号を閉ループフィールドバックをして使って溶接プロセスの電極
    突出を電極突出を制御することを含む請求項30の方法。
  32. 【請求項32】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    第1値を与え、該第1値をプロセス溶接電圧から引いてアーク電圧を表す第2値
    を与え、該第2値から第1既知定数を引いて第3値を与え、該第3値を第2既知
    定数で割ってアーク長さを表す信号を得、該信号を閉ループフィードバックとし
    て使って溶接プロセスのアーク長さを制御することを含む請求項30の方法。
  33. 【請求項33】 第1既知定数の値が約8〜20である請求項32の方法。
  34. 【請求項34】 第2既知定数の値が10〜35の範囲である請求項32の
    方法。
  35. 【請求項35】 制御信号にアーク抵抗に関する定数を掛けてある信号レベ
    ルを得、該信号レベルをリアルタイム溶接電圧から引き、該差の信号を、第2定
    数を掛けられて第1定数に加えられたアーク長さを表すアーク長さ信号と比較し
    て、フィードバック信号を作り、アーク長さをほとんど一定に保つことを含む請
    求項30の方法。
  36. 【請求項36】 制御信号にプロセス溶接電流を掛けて電極突出電圧を表す
    信号を得、該信号を閉ループフィードバックとして使って溶接プロセスの電極突
    出を制御することを含む請求項35の方法。
  37. 【請求項37】 第2既知定数の値が10〜35の範囲である請求項35の
    方法。
  38. 【請求項38】 第1時刻に溶接電流を所定電流よりもその10%未満より
    高くなるように増加させ、該レベルをある時間遅延の間保持した後、第2時刻に
    該溶接電流を少なくとも該所定電流の近くまで減少させる回路、第1・第2時刻
    に溶接電圧と溶接電流を測定するためのセンサ、該2つの電圧を引いてある値を
    与えるための回路、および該値を2つの電流の差で割って溶接プロセスにおいて
    ある選ばれたパラメータを制御するのに使うための信号を作る回路を有する。予
    め選ばれた所定電流波形を保つためのコントローラを有し、溶接電流と溶接電圧
    を生じるための電源からなる、アーク溶接プロセス遂行用アーク溶接機。
  39. 【請求項39】 前記選ばれたパラメータがアーク長さである請求項38の
    溶接機。
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