JP2003518624A - 画像検出器の感度の温度補償方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 光ダイオード（Ｄｐ）をそれぞれ有し、読取回路（３０ａ、３０ｂ）に接続される感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）による画像の感度の温度補償方法である。感光点は、像を伝達する情報に曝され、この情報に対して感受性を有する場合に像を検出することができる検出用感光点（Ｒ１乃至Ｒ９）及び情報から保護されたブラインド点（Ｏ１及びＯ６）に分割される。感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）の温度が基準温度（θｒｅｆ）に達すると、ブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）の光ダイオードにおける平均漏洩電流（Ｉθｒｅｆ）を算出し、読取処理の際にブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）より供給された信号から第１の平均値（ＣＯＤ１）を生成し、− 感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）の温度が求めるべき周囲温度（θ）に達すると、さらなる読取処理の際にブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）より供給された信号から他の平均値（ＣＯＤ１'）を生成し、− 平均漏洩電流（Ｉθｒｅｆ）と、２つの平均値（ＣＯＤ１'、ＣＯＤ１）の差から周囲温度（θ）を算出し、− 周囲温度（θ）に対応するゲイン画像（ＩＧ）又は擬似ゲイン画像（ＱＩＧ）を作成し、− ゲイン画像又は擬似ゲイン画像を用いて周囲温度（θ）で記録された画像を修正する。適用例： 特に放射線学における画像検出器。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 本発明は、半導体による画像検出器に関し、その感度の変動、特に温度による
変化をなくすことを目的とする。

【０００２】 このような画像検出器は、それぞれ光ダイオードとスイッチからなる複数の感
光点で画像を取得するものである。感光点は、水素化アモルファスシリコン（ａ
ＳｉＨ）等の半導体材料の薄膜形成技術によって製造する。この感光点を、マト
リックス状又は線形アレイ状に配置すると、可視又は近可視放射線に含まれる像
を検出することが可能になる。こうして得られる信号は、容易に記憶、処理でき
るように、ディジタル化される。

【０００３】 このような感光点の構造は、放射線像を検出することができるので、特に医療
分野や工業検査の分野への適用に向いている。即ち、シンチレータを被せ、放射
線像を含むＸ線に曝しておけば良いのである。シンチレータとは、入射Ｘ線を、
感光点が検知可能な周波数帯域の放射線に変換するものである。

【０００４】 現在では、感光点を数百万個も有する大規模の感光マトリックスすら存在する
。図１には、周知のマトリックス型画像検出器を示す。図を見やすくするために
、感光点を９個しか示していない。各感光点Ｐ１乃至Ｐ９は、光ダイオードＤｐ
及びスイッチダイオードとして示してあるスイッチ機能を有する要素Ｄｃからな
る。スイッチ機能を有する要素として、トランジスタを使用することも可能であ
る。光ダイオードＤｐとスイッチダイオードＤｃは、頭−尾状に接続される。

【０００５】 各感光点Ｐ１乃至Ｐ９は、行導体Ｙ１乃至Ｙ３と列導体Ｘ１乃至Ｘ３の間に接
続される。行導体Ｙ１乃至Ｙ３は、ドライバと称するアドレッシング装置３に接
続される。大型のマトリックスにおいては、ドライバ３が複数ある場合もある。
アドレッシング装置３は、一般的に、シフトレジスタ、スイッチ回路及びクロッ
ク回路を有する。アドレッシング装置３は、同一の行導体Ｙ１に接続された感光
点Ｐ１乃至Ｐ３をマトリックスのそれ以外の部分から隔離するための電圧又はオ
ン状態にする電圧を行導体Ｙ１乃至Ｙ３に供給する。アドレッシング装置３は、
行導体Ｙ１乃至Ｙ３を連続的にアドレッシングすることを可能にする。

【０００６】 列導体Ｘ１乃至Ｘ３は、読取装置ＣＬに接続されている。

【０００７】 感光点Ｐ１乃至Ｐ９が、検知すべき情報に曝され、受信状態に入っている画像
記録モード、即ち、逆バイアスされた感光ダイオードＤｐ及びスイッチダイオー
ドＤｃがそれぞれキャパシタを形成する状態にあるとき、２つのダイオードＤｐ
、Ｄｃ間の接合点Ａで電荷が蓄積されていく。非常に強力な照射下であっても、
感光ダイオードが線状検出範囲内又は暗い場所にある限り、電荷量は受信信号の
強度にほぼ比例する。続いて、読取モードに入り、このモードでは、行導体Ｙ１
乃至Ｙ３に読取パルスが順次与えられ、この読取パルスによって光ダイオードＤ
ｐがオン状態になり、列導体Ｘ１乃至Ｘ３に蓄積された電荷が読取装置ＣＬに流
れ、積分される。

【０００８】 ここで、読取装置ＣＬをより具体的に説明する。読取回路は、列導体Ｘ１乃至
Ｘ３と同じ数の読取回路５からなる電荷積分回路型のものである。各感光点は、
読取回路５に接続される。各電荷積分回路は、読取キャパシタＣ１乃至Ｃ３によ
って積分器として実装された演算増幅器Ｇ１乃至Ｇ３からなる。各キャパシタＣ
１乃至Ｃ３は、演算増幅器Ｇ１乃至Ｇ３のマイナス入力と出力Ｓ１乃至Ｓ３との
間に実装される。各列導体Ｘ１乃至Ｘ３は、演算増幅器Ｇ１乃至Ｇ３のマイナス
入力に接続される。各演算増幅器Ｇ１乃至Ｇ３のプラス入力は、一定の入力基準
電圧ＶＲに接続され、これにより各列導体Ｘ１乃至Ｘ３に基準電圧が供給される
。各演算増幅器Ｇ１乃至Ｇ３は、キャパシタＣ１乃至Ｃ３と並列に実装されるリ
セットスイッチＩ１乃至Ｉ３を有する。

【０００９】 積分回路の出力Ｓ１乃至Ｓ３は、電荷積分回路によって積分された電荷に対応
する信号を連続的に供給するマルチプレクサ装置６に接続される。読取モードで
は、この信号は、積分時間の間に、同じ列に属する感光点に蓄積された電荷に対
応する。マルチプレクサ装置６より供給された信号は、続いて、少なくとも１つ
のアナログ／ディジタル変換機７によってディジタル化され、アナログ／ディジ
タル変換機７から出力されるこのディジタル化信号が検出された画像の内容を表
現する。このディジタル化信号は、それを記憶、処理及び表示できる管理系統８
に送られる。

【００１０】 このような検出器において、感度が変動し、その結果、検出画像の輝度に局所
的及び全体的変化が生じることが判明した。感度の変動には複数の原因がある。
第１に、空間的変動があり、第２に、温度による変動がある。これは、一方では
、検出器における２つの感光点がまったく同一の光束に曝されても同等のレスポ
ンスが得られないこと、他方では、１つの感光点が同一の光束に曝されても、２
５℃と３５℃とで得られるレスポンスが異なることを意味する。この違いは、あ
る部分は、感光点を構成する半導体素子が必ずしもすべて同一の製造バッチから
来るものではないことによるものであり、ある部分は、放射線学に使用されるシ
ンチレータ材料によるものである。その結果、非均一領域に、あるはずのない像
が映し出され、温度が上昇するにつれ徐々に白っぽくなってしまう。

【００１１】 いわゆるゲイン画像を使用して画像を修正することで、感度の空間的変動を解
消する方法は周知であるが、ゲイン画像によって温度による感度の変動を解消す
ることはできない。

【００１２】 ゲイン画像とは、検査対象が存在しない状態で、較正された均一の照明で撮ら
れた画像である。均一な照明下では画像が均一になる筈なので、このゲイン画像
を使用して感度の空間的変動を適切に修正することができる。このゲイン画像を
作成する頻度は非常に低くて済み、１年に１度ほどで良い。ゲイン画像を読取っ
た時に感光点から供給された信号を管理装置８に記憶しておき、その後、実用の
画像における感度の空間的非均一性を修正するために使用することができる。

【００１３】 この方法では、温度によって生じた感度の変動を解消することはできない。そ
うするためには、ゲイン画像を温度変化と同期して作成することが必要になり、
ゲイン画像を記録する頻度が大幅に増加してしまう。これは、操作員による画像
検出器の使用方法に合わない。

【００１４】 本発明は、特に温度による画像検出器の感度の変動を除去するために、周囲温
度に対応したゲイン画像又は擬似ゲイン画像の使用を提案するものであるが、こ
のゲイン画像は周囲温度に一致させるために単に修正の直前に記録されるもので
はなく、周囲温度を求める計算に基づいて作成されるものである。

【００１５】 それを実現すべく、本発明は、光ダイオードをそれぞれ有し、読取回路に接続
される感光点による画像の感度の温度補償方法であって、該感光点が、像を伝達
する情報に曝され、この情報に対して感受性を有する場合に像を検出することが
できる検出用感光点と、情報から保護されたブラインド点とに分割され、 − 感光点の温度が基準温度に達すると、ブラインド感光点の光ダイオードにお
ける平均漏洩電流を算出し、読取処理の際にブラインド感光点より供給された信
号から第１の平均値を生成し、 − 感光点の温度が求めるべき周囲温度に達すると、さらなる読取処理の際にブ
ラインド感光点より供給された信号から他の平均値を生成し、 − 平均漏洩電流と、２つの平均値の差から周囲温度を算出し、 − 周囲温度に対応するゲイン画像又は擬似ゲイン画像を作成し、 − ゲイン画像又は擬似ゲイン画像を用いて周囲温度で記録された画像を修正す
ることを特徴とする補償方法を提供する。

【００１６】 好ましくは、第１の平均値を生成するために供給される信号及び求めるべき周
囲温度において平均値を生成するために供給される信号は、画像検出器の標準積
分時間にほぼ等しい積分時間に亘って積分された電荷に相当するものである。

【００１７】 基準温度において、平均漏洩電流を算出するために、２つの異なる積分時間に
おいてブラインド感光点より供給された信号から２つの平均値を求め、この２つ
の平均値を使用して較正を行うことが可能である。

【００１８】 ２つの平均値のうち一方が、第１の平均値であることが好ましい。他方の平均
値が、画像検出器の標準積分時間より長い積分時間に亘って積分された電荷に相
当する。

【００１９】 画像検出器が作動する可能性の高い温度範囲内にある、それぞれ相違する特定
の温度で記録され、予めメモリ装置に記憶された一連のゲイン画像から、求めら
れた温度に対応するゲイン画像を取得するようにしても良い。

【００２０】 算出された周囲温度と基礎温度の差を考慮して、温度に対する基礎ゲイン画像
の変化係数によって基礎温度で記録された基礎ゲイン画像を修正することで、求
められた周囲温度に対応する擬似ゲイン画像を取得することもできる。

【００２１】 基礎温度は、基準温度であっても良い。平均値は、好ましくは、黒色の画像に
よって作成される。

【００２２】 本発明は、さらに、それぞれ光ダイオードを有し、読取回路に接続される感光
点を具備する補償方法を実行するための画像検出器に関するものである。感光点
は、像を伝達する情報に曝され、この情報に対して感受性を有する場合に像を検
出することができる検出用感光点と、情報から保護されたブラインド点とに分割
される。該検出器は、ブラインド感光点より供給された信号から平均値を求める
ための手段、ブラインド感光点のダイオードにおける平均漏洩電流を求めるため
の手段、平均漏洩電流及びその平均値の差から周囲温度を求めるための手段、求
められた周囲温度に基づいてゲイン画像又は擬似ゲイン画像を作成するための手
段及びゲイン画像又は擬似ゲイン画像を用いて周囲温度で記録された画像を修正
するための手段を具備する。

【００２３】 平均漏洩電流を求めるための手段は、ブラインド感光点から供給される信号の
平均値をディジタル形式で受取る。 ゲイン画像を作成するための手段は、それぞれ１つの温度に対応する１つ以上
のゲイン画像を記憶したメモリ装置を有する。

【００２４】 擬似ゲイン画像を作成するための手段は、基礎温度で記録された基礎ゲイン画
像と、基礎画像の温度に対する変化係数を記憶したメモリ装置を有する。

【００２５】 ブラインド感光点は、検出用感光点が接続された導体の最外部に接続されるこ
とが好ましい。 ブラインド感光点は、検出用感光点が受信する情報に対して不透明な材料で被
覆され、この材料が特に黒色の塗料であることが好ましい。

【００２６】 検出用感光点は、Ｘ線を検知可能な放射線に変換するシンチレータ材料で被覆
され、ブラインド感光点は、鉛等のＸ線不透過性材料で被覆される。

【００２７】 情報に対して不透明な材料は、Ｘ線不透過性材料とブラインド感光点との間に
配置される。

【００２８】 本発明のさらなる特徴及び利点は、図面を参照して以下の説明を読むことで明
らかになる。その図面において、 既に説明した図１には、周知の画像検出器の例を示し、 図２には、本発明の方法によって作動する本発明による画像検出器の例を示す
。

【００２９】 図１に示した形態と同様に、感光点Ｏ１乃至Ｏ６及びＲ１乃至Ｒ９は、光ダイ
オードＤｐ及びスイッチダイオードとして示したスイッチ機能を有する要素Ｄｃ
からなるものである。このスイッチダイオードは、トランジスタで置換すること
もできる。光ダイオードＤｐとスイッチダイオードＤｃは、頭−尾状に接続され
る。各感光点は、行導体Ｙ１乃至Ｙ３と列導体Ｗ１、Ｗ２及びＺ１乃至Ｚ３との
間に接続される。感光点Ｏ１乃至Ｏ６及びＲ１乃至Ｒ９は行と列によるマトリッ
クス状に配置されているが、線形アレイ状に配置されていても良い。図１の例と
比較すると、この図に示した画像検出器は、感光点及び列導体が多いが、行導体
の数は同じである。行導体は、図１に示したものと同様のアドレッシング装置３
に接続される。

【００３０】 本発明の１つの特徴によると、感光点は２つの群に分割される、即ち、像を伝
達する情報に曝され、この像に対して感受性を有する場合、この像を検出するこ
とができる検出用感光点Ｒ１乃至Ｒ９と、補償用に使用されるブラインド感光点
Ｏ１乃至Ｏ６とに分割される。このブラインド感光点Ｏ１乃至Ｏ６は、検出すべ
き像を伝達する情報から遮蔽される。画像の検出時、それが物の画像であっても
、患者の画像であっても、さらに黒色（非照射）又はゲイン画像であっても、ブ
ラインド感光点は何も受信しない。このブラインド感光点Ｏ１乃至Ｏ６は、検出
用感光点Ｒ１乃至Ｒ９と同様に読取られる。

【００３１】 ブラインド感光点Ｏ１乃至Ｏ６は、行導体Ｙ１乃至Ｙ３の最外部２０に接続さ
れる。この例においては、行の始めに置かれるが、行の最後に置くことも可能で
ある。

【００３２】 ブラインド感光点の数はそれほど重要ではないが、１行に検出用感光点が２０
００個存在する場合、１行につき１０個程度が適当であろう。これらの感光点Ｏ
１乃至Ｏ６及びＲ１乃至Ｒ９は、符号２１で示す絶縁基板に埋め込まれる。

【００３３】 ブラインド感光点Ｏ１乃至Ｏ６を検出用感光点が曝される情報から遮蔽するた
めに、検出用感光点が受信する情報に対して不透明な材料ＰＮ（例えば、黒色の
塗料が適している）で被覆される。

【００３４】 本発明による画像検出器を放射線学に用いる形態において、検出用感光点Ｒ１
乃至Ｒ９は、検出用感光点Ｒ１乃至Ｒ９が検知可能な波長帯域の放射線に、Ｘ線
を変換するシンチレータ材料ＳＣで被覆される。ブラインド感光点Ｏ１乃至Ｏ６
に関しては、これらはシンチレータ材料ＳＣではなく、例えば鉛層等のＸ線不透
過性の材料ＰＢで被覆される。この形態では、検出用感光点によって受信される
情報に対して不透明な材料ＰＮの有無は任意であるが、使用する場合、ブライン
ド感光点Ｏ１乃至Ｏ６とＸ線不透過性材料ＰＢとの間に配置する。

【００３５】 画像検出器のＸ線が当る側の表面は、その全面が、例えば炭素繊維等の保護材
料ＰＰで被覆される。図２において、この材料は一部しか示されていない。

【００３６】 図１の例と同様に、読取装置ＣＬは列導体Ｗ１、Ｗ２及びＺ１乃至Ｚ３と同じ
数の読取回路３０ａ、３０ｂを有し、各読取回路が電荷積分型のものであり、読
取キャパシタ３１ａ、３１ｂ及び該読取キャパシタ３１ａ、３１ｂと並列接続さ
れるリセットスイッチＩａ、Ｉｂによって積分器として実装される演算増幅器Ｇ
ａ、Ｇｂを有する。図１のように、積分回路Ｇａ、Ｇｂの出力３２ａ、３２ｂは
、電荷積分回路によって積分された電荷に対応する信号を連続的に供給するマル
チプレクサ装置６０に接続される。マルチプレクサ装置６０から供給される信号
は、続いて、少なくとも１つのアナログ／ディジタル変換機（ＡＤＣ）７０によ
ってディジタル化される。検出用感光点Ｒ１乃至Ｒ９に接続された読取回路３０
ｂから出力される信号は検出すべき画像を表現するものであり、ブラインド感光
点Ｏ１乃至Ｏ６に接続された読取回路３０ａから出力される残りの信号は補償用
に利用される。

【００３７】 ディジタル化信号は、次に、それを記憶、処理及び表示することができる管理
系統８０に送られる。

【００３８】 本発明による方法では、感光点の温度が基準温度θｒｅｆに達すると、ブライ
ンド感光点の光ダイオードにおける平均漏洩電流Ｉθｒｅｆが算出され、読取処
理中にブラインド感光点Ｏ１乃至Ｏ６から供給された信号から第１の平均値ＣＯ
Ｄ１が作成される。基準温度は、温度計によって測定することができる。

【００３９】 感光点の温度が求めるべき周囲温度θに達すると、さらなる読取処理中に感光
点Ｏ１乃至Ｏ６より供給された信号からもう１つの平均値ＣＯＤ１'が作成され
る。

【００４０】 ２つの平均値ＣＯＤ１及びＣＯＤ１'はディジタル形式で使用されるので、ブ
ラインド感光点から供給される既にアナログ／ディジタル変換機７０によって変
換された信号に基づいて求めることが望ましい。

【００４１】 アナログ／ディジタル変換機７０自体が平均値を供給するようにしても良い。
しかし、平均値をアナログ形式で求め、その後に変換するようにしても良い。限
定的なものではない図２による実施形態において、平均値を求めるための手段７
００は、破線によって概略的に示してあり、アナログ／ディジタル変換機７０を
含むものである。

【００４２】 第１の平均値ＣＯＤ１を求めるために使用される信号は、第１の積分時間ｔ１
の間にブラインド感光点に蓄積された電荷に対応する。この第１積分時間は、検
出器の標準積分時間、即ち検出器の標準的な使用方法に相当する積分時間にほぼ
等しいことが望ましい。例えば、ｔ１は、０．５乃至５秒の範囲内であれば良い
。

【００４３】 同様に、求めるべき周囲温度において、もう１つの平均値ＣＯＤ１'を生成す
るために使用される信号は、積分時間ｔ１'でブラインド感光点に蓄積される電
荷に対応し、この積分時間ｔ'１は、検出器の標準積分時間にほぼ等しく、よっ
てｔ１にほぼ等しいことが望ましい。

【００４４】 周囲温度θは、平均値ＣＯＤ１、ＣＯＤ１'の差及び基準温度における平均漏
洩電流Ｉθｒｅｆから計算される。

【００４５】 次に、感光点の温度はまだ求められた周囲温度θであるが、検出画像を修正す
るために、算出された周囲温度θに対応するゲイン画像ＩＧ又は擬似ゲイン画像
ＱＩＧが生成される。

【００４６】 ここで、これらの過程を実行するための方法の例を挙げる。光ダイオードにお
ける漏洩電流は、温度に依存して指数的に変化する。この漏洩電流は、次の数式
で表すことができる。

【００４７】 感光点における電流Ｉｐは、次の数式で表すことができる。

【００４８】 ここで、 ・ＣＯＤ： 積分時間ｔの経過後に、この感光点に蓄積されている電荷を読取る
処理の際にアナログ／ディジタル変換機７０が供給するコードを、２進法（ＬＳ
Ｂ）で表したもの。積分時間ｔは、感光点の点Ａで蓄積された電荷の連続する２
つの放電間に経過した時間に対応する。変換機が１４ビットのものである場合、
ＣＯＤは０から２¹⁴までの値をとることが可能である。 ・ＦＳＲ： アナログ／ディジタル変換機の符号化電圧範囲。この範囲は、例え
ば４ボルト等である。 ・ｎは、アナログ／ディジタル変換機の解像度である。この解像度は、例えば１
４ビット等である。 ・Ｃｌｅｃは、読取回路ＣＬの出力における等価読取キャパシタンスを示す。 ・Ｇ： 読取回路の出力とアナログ／ディジタル変換機の入力の差である電圧利
得。

【００４９】 ブラインド（従って、放射線に曝されていない）感光点Ｏ１乃至Ｏ６の読取処
理の際に、感光点に蓄積された電荷は、光ダイオードの漏洩電流に精確に対応す
る訳ではない。この電荷は、アドレッシング装置３が受信するパルスによって感
光点で発生した駆動電荷及び読取られている列導体に接続された感光点に由来す
る電荷も含んでいる。 この付加電荷を除去するために、漏洩電流を求めるための較正処理が行われる
。感光点の温度が基準温度θｒｅｆに達すると、２つの異なる積分時間を有する
ブラインド感光点から供給される信号から２つの平均値ＣＯＤ１、ＣＯＤ２が生
成される。

【００５０】 以下の説明において、限定的ではない説明の簡略化を目的として、２つの平均
値のうち一方のＣＯＤ１は、基準温度θｒｅｆで求められた値に相当するものと
するが、これは求めるべき温度θを算出するためのものである。２つのうち他方
の平均値ＣＯＤ２は、基準温度θｒｅｆにおける第２の読取処理中にブラインド
感光点Ｏ１乃至Ｏ６から供給される信号によって生成されるものとする。

【００５１】 ２つのうち第１の平均値ＣＯＤ１に対応する積分時間ｔ１は、検出器の標準積
分時間にほぼ等しい。２つのうち第２の平均値ＣＯＤ２に対応する積分時間ｔ２
は、第１の時間ｔ１より長い。例えば、時間ｔ１の２乃至１０倍長い時間を選択
することができる。従って、この時間ｔ２の値は、１乃至２０秒であることが可
能である。

【００５２】 平均漏洩電流を算出し、平均値を生成するための読取処理は、感光点が放射線
に曝されていない黒色画像に対して行われることが好ましい。放射線学に適用す
る場合、Ｘ線が不要になるからである。しかし、実用の画像を使用することも可
能である。

【００５３】 この２つの平均値ＣＯＤ１、ＣＯＤ２によって、次の数式から、基準温度θｒ
ｅｆにおける平均漏洩電流Ｉθｒｅｆを容易に求めることができる。

【００５４】 そして、周囲温度θを次の数式によって求めることができる。

【００５５】 周囲温度θが算出されると、後はこの周囲温度θに対応するゲイン画像ＩＧ又
は擬似ゲイン画像ＱＩＧを作成するだけであり、このゲイン画像ＩＧ又は擬似ゲ
イン画像ＱＩＧは、温度θにおける実際の画像を、感度の面でディジタル形式で
修正するために使用される。

【００５６】 温度に対応させられたゲイン画像ＩＧは、メモリ装置１００に予め記憶してあ
る一連のゲイン画像ＩＧ₁、．．．、ＩＧ_nから生成することができる。ゲイン画
像は、それぞれ１つの温度に対応させてある。画像検出器を、作動が必要となる
おそれのある一連の温度に予め曝し、各温度につき、メモリ装置１００にゲイン
画像ＩＧ₁、．．．、ＩＧ_nを予め記憶しておく。それによってゲイン画像ＩＧ₁
、．．．、ＩＧ_nを記録したライブラリが構成される。

【００５７】 修正がそれほど精確でなくても良い場合、基礎温度で基礎ゲイン画像ＩＧｂを
記録し、温度の関数として基礎ゲイン画像の変化係数Ｋを求めるだけでも良い。
基礎ゲイン画像ＩＧｂは、メモリ装置１００に記憶される。この変更例では、メ
モリ容量がかなり少なくて済む。擬似ゲイン画像ＱＩＧは、基礎温度と算出され
た周囲温度との差を使用して基礎ゲイン画像ＩＧｂに係数Ｋを掛けることで得ら
れる。基礎温度は、基準温度θｒｅｆであっても良い。

【００５８】 図２には、同一のメモリ装置に両方の変更例を示すが、これは限定的なもので
はない。実際に行った測定によると、係数Ｋは約−０．５％／℃であった。

【００５９】 上述の機能は、すべて管理装置８０によって行うようにしても、アナログ／デ
ィジタル変換機７０と管理装置８０の間に配置された任意の処理ユニット８００
によって行うようにしても良い。後者の場合、修正画像の使用が可能になる。図
２には、平均漏洩電流を求めるための手段８１、周囲温度θを求めるための手段
８２、メモリ装置１００と協働するゲイン画像ＩＧ又は擬似ゲイン画像ＱＩＧを
作成するための手段８３及び修正手段８４を含む処理ユニット８００を有する形
態を詳細に示す。この修正手段８４は、修正すべき実用画像の読取処理の際に感
光点に供給される信号を受取る。この信号は、アナログ／ディジタル変換機７０
から供給される。

【図面の簡単な説明】

【図１】 周知の画像検出器の一例である。

【図２】 本発明による方法によって作動する本発明による画像検出器の一
例である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０１Ｌ 27/146 Ｈ０４Ｎ 5/335 Ｓ 31/09 Ｈ０１Ｌ 31/00 Ａ Ｈ０４Ｎ 5/32 27/14 Ａ 5/335 Ｋ (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ，ＴＲ)，ＯＡ(ＢＦ ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ， ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，Ｇ Ｍ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＭＺ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ， ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＧ，ＡＬ，ＡＭ， ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，Ｂ Ｚ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＲ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ ，ＤＭ，ＤＺ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ， ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，Ｊ Ｐ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ， ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＭＺ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，Ｒ Ｏ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ， ＶＮ，ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ Ｆターム(参考） 2G088 EE01 EE27 FF02 GG19 GG20 JJ05 JJ29 KK06 KK32 LL15 LL21 4M118 AA10 AB01 BA05 CA02 CB06 CB11 DD09 FB09 FB13 GA10 GB09 5C024 AX12 CX32 DX04 EX15 GX03 GX09 GZ36 HX21 HX31 5F088 AA01 BA03 BA10 BB03 BB06 EA04 EA07 EA16 KA08 LA08 【要約の続き】 又は擬似ゲイン画像（ＱＩＧ）を作成し、− ゲイン画 像又は擬似ゲイン画像を用いて周囲温度（θ）で記録さ れた画像を修正する。適用例： 特に放射線学における 画像検出器。

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ダイオード（Ｄｐ）をそれぞれ有し、読取回路（３０ａ、
   ３０ｂ）に接続される感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）による画像の感度
   の温度補償方法であって、該感光点が、像を伝達する情報に曝され、この情報に
   対して感受性を有する場合に像を検出することができる検出用感光点（Ｒ１乃至
   Ｒ９）と、情報から保護されたブラインド点（Ｏ１乃至Ｏ６）とに分割され、 − 感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）の温度が基準温度（θｒｅｆ）に達
   すると、ブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）の光ダイオードにおける平均漏洩電
   流（Ｉθｒｅｆ）を算出し、読取処理の際にブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）
   より供給された信号から第１の平均値（ＣＯＤ１）を生成し、 − 感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）の温度が求めるべき周囲温度（θ）
   に達すると、さらなる読取処理の際にブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）より供
   給された信号から他の平均値（ＣＯＤ１'）を生成し、 − 平均漏洩電流（Ｉθｒｅｆ）と、２つの平均値（ＣＯＤ１'、ＣＯＤ１）の
   差から周囲温度（θ）を算出し、 − 周囲温度（θ）に対応するゲイン画像（ＩＧ）又は擬似ゲイン画像（ＱＩＧ
   ）を作成し、 − ゲイン画像又は擬似ゲイン画像を用いて周囲温度（θ）で記録された画像を
   修正することを特徴とする補償方法。
2. 【請求項２】 第１の平均値（ＣＯＤ１）を生成するために供給される信号
   及び求めるべき周囲温度において平均値（ＣＯＤ１'）を生成するために供給さ
   れる信号が、画像検出器の標準積分時間にほぼ等しい積分時間（ｔ１）に亘って
   積分された電荷に相当することを特徴とする請求項１に記載の補償方法。
3. 【請求項３】 基準温度（θｒｅｆ）において、平均漏洩電流（Ｉθｒｅｆ
   ）を算出するために、２つの異なる積分時間（ｔ１、ｔ２）においてブラインド
   感光点より供給された信号から２つの平均値（ＣＯＤ１、ＣＯＤ２）を求め、こ
   の２つの平均値（ＣＯＤ１、ＣＯＤ２）を使用して較正を行うことを特徴とする
   請求項１又は２に記載の補償方法。
4. 【請求項４】 ２つの平均値のうち一方（ＣＯＤ１）が、第１の平均値であ
   ることを特徴とする請求項３に記載の補償方法。
5. 【請求項５】 ２つの平均値のうち他方（ＣＯＤ２）が、画像検出器の標準
   積分時間より長い積分時間（ｔ２）に亘って積分された電荷に相当することを特
   徴とする請求項４に記載の補償方法。
6. 【請求項６】 画像検出器が作動する可能性の高い温度範囲内にある、それ
   ぞれ相違する特定の温度で記録され、予めメモリ装置（１００）に記憶された一
   連のゲイン画像（ＩＧ₁、．．．、ＩＧ_n）から、求められた温度（θ）に対応す
   るゲイン画像（ＩＧ）を取得することを特徴とする請求項１乃至５のうち何れか
   １項に記載の補償方法。
7. 【請求項７】 算出された周囲温度と基礎温度の差を考慮して、温度に対す
   る基礎ゲイン画像の変化係数（Ｋ）によって基礎温度で記録された基礎ゲイン画
   像（ＩＧｂ）を修正することで、求められた周囲温度に対応する擬似ゲイン画像
   （ＱＩＧ）を取得することを特徴とする請求項１乃至５のうち何れか１項に記載
   の補償方法。
8. 【請求項８】 平均値（ＣＯＤ１、ＣＯＤ２、ＣＯＤ１'）を生成するため
   の読取処理を、黒色画像に対して行うことを特徴とする請求項１乃至７のうち何
   れか１項に記載の補償方法。
9. 【請求項９】 それぞれ光ダイオード（Ｄｐ）を有し、読取回路（３０ａ、
   ３０ｂ）に接続される感光点（Ｏ１乃至Ｏ６、Ｒ１乃至Ｒ９）を具備する画像検
   出器であって、該感光点（Ｒ１乃至Ｒ９、Ｏ１乃至Ｏ６）が、像を伝達する情報
   に曝され、この情報に対して感受性を有する場合に像を検出することができる検
   出用感光点（Ｒ１乃至Ｒ９）と、情報から保護されたブラインド点（Ｏ１乃至Ｏ
   ６）とに分割され、さらに、ブラインド感光点より供給された信号から平均値（
   ＣＯＤ１、ＣＯＤ１'）を求めるための手段（７００）、ブラインド感光点のダ
   イオードにおける平均漏洩電流（Ｉθｒｅｆ）を求めるための手段（８１）、平
   均漏洩電流（Ｉθｒｅｆ）及びその平均値の差から周囲温度（θ）を求めるため
   の手段（８２）、求められた周囲温度に基づいてゲイン画像（ＩＧ）又は擬似ゲ
   イン画像（ＱＩＧ）を作成するための手段（８３）、及びゲイン画像又は擬似ゲ
   イン画像を用いて周囲温度で記録された画像を修正するための手段（８４）を具
   備することを特徴とする、請求項１乃至８の何れか１項に記載の方法を実行する
   ための画像検出器。
10. 【請求項１０】 平均漏洩電流を求めるための手段（８１）が、平均値（Ｃ
    ＯＤ１、ＣＯＤ２）をディジタル形式で受取ることを特徴とする請求項９に記載
    の画像検出器。
11. 【請求項１１】 ゲイン画像（ＩＧ）を作成するための手段（８３）が、そ
    れぞれ１つの温度に対応する１つ以上のゲイン画像（ＩＧ₁、．．．、ＩＧ_n）を
    記憶したメモリ装置（１００）を有することを特徴とする請求項９又は１０に記
    載の画像検出器。
12. 【請求項１２】 擬似ゲイン画像を作成するための手段（８３）が、基礎温
    度で記録された基礎ゲイン画像（ＩＧｂ）と、基礎画像の温度に対する変化係数
    （Ｋ）を記憶したメモリ装置（１００）を有することを特徴とする請求項９乃至
    １１のうち何れか１項に記載の画像検出器。
13. 【請求項１３】 ブラインド感光点が、検出用感光点（Ｒ１乃至Ｆ９）が接
    続された導体（Ｙ１乃至Ｙ３）の最外部（２０）に接続されることを特徴とする
    請求項９乃至１２のうち何れか１項に記載の画像検出器。
14. 【請求項１４】 ブラインド感光点が、検出用感光点が受信する情報に対し
    て不透明な材料（ＰＮ）で被覆され、この材料が特に黒色の塗料であることを特
    徴とする請求項９乃至１３のうち何れか１項に記載の画像検出器。
15. 【請求項１５】 検出用感光点（Ｒ１乃至Ｒ９）が、Ｘ線を検知可能な放射
    線に変換するシンチレータ材料（ＳＣ）で被覆され、ブラインド感光点（Ｏ１乃
    至Ｏ６）が、鉛等のＸ線不透過性材料（ＰＢ）で被覆されることを特徴とする請
    求項１４に記載の画像検出器。
16. 【請求項１６】 情報に対して不透明な材料（ＰＮ）が、Ｘ線不透過性材料
    （ＰＢ）とブラインド感光点（Ｏ１乃至Ｏ６）との間に配置されることを特徴と
    する請求項１５に記載の検出器。