JP2003529972A - 画像検出器の温度補償方法 - Google Patents

画像検出器の温度補償方法

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JP2003529972A JP2001549008A JP2001549008A JP2003529972A JP 2003529972 A JP2003529972 A JP 2003529972A JP 2001549008 A JP2001549008 A JP 2001549008A JP 2001549008 A JP2001549008 A JP 2001549008A JP 2003529972 A JP2003529972 A JP 2003529972A
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Abstract

(57)【要約】 本発明は各々が行導体（Ｙ１からＹ３）と列導体（Ｗ１、Ｗ２、Ｚ１からＺ３）に接続された、室温に敏感な感光点（Ｏ１からＯ６、Ｒ１からＲ９）を具備する画像センサにおける温度補償のための方法に関する。各感光点は、前記導体の１つを介して読取回路に接続される。感光点は、検出すべき画像に対応する光情報に曝される検出用感光点（Ｒ１からＲ９）と光情報から保護されたブラインド感光点（Ｏ１からＯ６）とに分割される。検出用感光点と繋がる読取回路（３０ｂ）は検出すべき画像の測定電圧の代表値をそれぞれ供給し、ブラインド感光点と繋がる読取回路（３０ａ）は温度補償を可能にする暗電圧をそれぞれ供給する。画像検出時において、当該方法は１つ以上の検出済みの画像から生じた暗電圧を受けることと、読取回路が温度とはほぼ無関係に生成された測定電圧を供給するように、平均修正値を使用して、次の画像を検出する間に検出用感光点（Ｒ１からＲ９）と繋がる読取回路（３０ｂ）に印加されるべき修正電圧（ＶＤＲ）を生成することを含む。本発明は特に放射線画像検出器に適用できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 本発明は、温度変化にほとんど影響を受けず、特に如何なる温度でもほぼ一定
の画像ダイナミックレンジを有することを保証する、画像検出器の温度補償の方
法に関係するものである。
【０００２】 このような画像検出器は、それぞれ光ダイオードとスイッチからなる複数の感
光点で画像を取得するものである。感光点は、水素化アモルファスシリコン（ａ
ＳｉＨ）等の半導体材料の薄膜形成技術によって製造する。この感光点を、マト
リクス状又は線形アレイ状に配置すると、可視又は近可視放射線に含まれる像を
検出することが可能になる。こうした感光点によって生成される信号は、容易に
記憶、処理できるように、一般的にディジタル化される。
【０００３】 このような感光点の構造は、放射線像を検出することができるので、特に医療
分野や工業検査の分野への適用に向いている。即ち、シンチレータを被せ、放射
線像を含むＸ線に曝しておけば良いのである。シンチレータとは、入射Ｘ線を、
感光点が検知可能な周波数帯域の放射線に変換するものである。
【０００４】 現在では、感光点を数百万個も有する大規模の感光マトリクスすら存在する。
【０００５】 図１には、周知のマトリクス型画像検出器を示す。図を見やすくするために、
感光点を９個しか示していない。各感光点Ｐ１からＰ９は、光ダイオードＤｐ及
びスイッチダイオードとして示してあるスイッチ機能を有する要素Ｄｃからなる
。スイッチ機能を有する要素として、トランジスタを使用することも可能である
。光ダイオードＤｐとスイッチダイオードＤｃは、背面配列状に接続される。
【０００６】 各感光点Ｐ１からＰ９は、行導体Ｙ１からＹ３と列導体Ｘ１からＸ３の間に接
続される。行導体Ｙ１からＹ３は、ドライバと称するアドレッシング装置３に接
続される。大型のマトリクスにおいては、ドライバ３が複数ある場合もある。ア
ドレッシング装置３は、一般的に、シフトレジスタ、スイッチ回路及びクロック
回路を有する。アドレッシング装置３は、同一の行導体Ｙ１に接続された感光点
Ｐ１からＰ３をマトリクスのそれ以外の部分から隔離するための電圧又はオン状
態にする電圧を行導体Ｙ１からＹ３に供給する。アドレッシング装置３は、行導
体Ｙ１からＹ３を連続的にアドレッシングすることを可能にする。
【０００７】 列導体Ｘ１からＸ３は、読取装置ＣＬに接続されている。
【０００８】 感光点Ｐ１からＰ９が、検知すべき信号に曝され、受信状態に入っている画像
記録モード、即ち、逆バイアスされた感光ダイオードＤｐ及びスイッチダイオー
ドＤｃがそれぞれキャパシタを形成する状態にあるとき、２つのダイオードＤｐ
、Ｄｃ間の接合点Ａで電荷が蓄積されていく。非常に強力な照射下であっても、
感光ダイオードが線状検出範囲内又は暗い場所にある限り、電荷量は受信信号の
強度にほぼ比例する。続いて、読取モードに入り、このモードでは、行導体Ｙ１
からＹ３に読取パルスが順次与えられ、この読取パルスによって光ダイオードＤ
ｐがオン状態になり、列導体Ｘ１からＸ３に蓄積された電荷が読取装置ＣＬに流
れる。
【０００９】 ここで、読取装置ＣＬをより具体的に説明する。読取回路は、列導体Ｘ１から
Ｘ３と同じ数の読取回路５からなる電荷積分回路型のものである。各電荷積分回
路は、読取キャパシタＣ１からＣ３によって積分器として実装された演算増幅器
Ｇ１からＧ３からなる。各電荷積分回路は、演算増幅器Ｇ１からＧ３のマイナス
入力と出力Ｓ１からＳ３との間に実装される。各列導体Ｘ１からＸ３は、演算増
幅器Ｇ１からＧ３のマイナス入力に接続される。各演算増幅器Ｇ１からＧ３のプ
ラス入力は、一定の入力基準電圧ＶＲに接続され、これにより各列導体Ｘ１から
Ｘ３に基準電圧が供給される。各演算増幅器Ｇ１からＧ３は、キャパシタＣ１か
らＣ３と並列に実装されるリセットスイッチＩ１からＩ３を有する。
【００１０】 積分回路の出力Ｓ１からＳ３は、電荷積分回路によって積分された電荷に対応
する信号を連続的に供給するマルチプレクサ装置６に接続される。読取モードで
は、この信号は同じ列に属する感光点に蓄積された電荷に対応する。マルチプレ
クサ装置６より供給された信号は、続いて、少なくとも１つのアナログ／ディジ
タル変換器７によってディジタル化され、アナログ／ディジタル変換器７から出
力されるこのディジタル化信号が検出された画像の内容を表現する。このディジ
タル化信号は、それを記憶、処理及び表示できる管理系統８に送られる。
【００１１】 障害などは、こういった感光装置からの有効な画像品質に影響を与える。
【００１２】 感光点の半導体構成部品は特にそれらの不完全な結晶構造を有する残留物を残
す。画像記録モードに対応する電荷はそれに対する読取モードの間には読取られ
ず、次の画像読取モードの間に再生される。残留物の問題を克服しようとするた
め、特に欧州特許出願第３６４３１４号において、検知すべき信号から発生する
電荷に駆動電荷(drive charge)を加えることと、２つの読取パルス間に一般的に
読取パルスより振幅の小さいバイアスパルスを印加することが提案された。
【００１３】 感光点の半導体構成要素は全てが正確に同じであるというわけでなく、感光点
のマトリクスには局所的に損なわれた領域がある。読取装置ＣＬの構成要素も不
均一性の原因になる。
【００１４】 「黒画像（black image）」とも呼ばれる、いわゆる補正画像(offset image)
を有する有効な画像を補正することは一般的な方法である。画像記録モードの間
に画像検出器を強度ゼロの信号に曝し、それから読取モードを実行することによ
り、処理サイクルの開始時にこの黒画像が生成される。
【００１５】 補正画像は光量の無い状態で生成され、対応する読取モード中の、感光点にお
ける電荷の読取は以下の３つの部類に収まる。第１番目は駆動電荷を表すもので
あり、その値は以下の式によって与えられる。 Ｑ＝（ＶＰ２−ＶＰ１）Ｃｐ 条件： ＶＰ２：読取パルスの振幅 ＶＰ１：バイアスパルスの振幅（この読取パルスとバイアスパルスはア
ドレッシング回路３により供給される） Ｃｐ ：感光点Ｐ１からＰ９のキャパシタンス
【００１６】 第２番目の部類の電荷は、感光点を読取る光ダイオードＤｐの漏洩電流から発
生する電荷である。この電流は２つの連続した読取パルス又はバイアスパルスを
印加する間に確立される。
【００１７】 第３番目の部類の電荷は、読取モードの間だけであるが電荷が読取られるとき
に同じ列導体に接続された全ての感光点から流出する漏洩電流に起因する電荷で
ある。
【００１８】 しかし、第１番目の部類の電荷は比較的温度が安定しているが、他の２部類の
電荷の場合はそうでないことがわかっている。補正画像は温度と共に変化する。
この変化は非常に重要であり、例えば２５℃では、補正画像の感光点で蓄積され
、電荷積分回路５により電圧に変換された電荷は０．５ボルトとなる一方で、５
０℃では２ボルトにまで達する。
【００１９】 この現象は煩わしいものである。克服することはできるが、方法は制限されて
おり、感光装置の熱時定数と比較して十分に高い周波数で、補正画像を頻繁に記
録し、それらの補正画像で有効画像を修正しなければならない。
【００２０】 さらに、この現象は、作業時の温度が上昇するにつれさらに他の短所を伴うこ
とがわかっている。画像検出器のダイナミックレンジは温度と関連して低下する
。生成される画像は温度が上昇するにつれコントラストが悪化していき、表現さ
れる陰影が少なくなり、画像のダイナミックレンジが減少する。
【００２１】 この理由は、アナログ／ディジタル変換器７が、感光点それぞれにマルチプレ
クサ装置６により供給された電圧値をディジタル化する固定符号化レンジを有す
るからである。この符号化レンジの標準値は０から５ボルトの間である。４０℃
において、感光点の補正レベルが１．８ボルトである場合、有効画像でこの感光
点レベルを符号化するのに使用可能な残余ボルトは、３．２ボルトだけである。
【００２２】 本発明は周囲温度の変化に関連する上述の問題を克服することを目的とし、画
像検出器が不可避な周囲温度の変化に実質的に影響されないようにする、画像検
出器の温度補償方法を提供する。
【００２３】 よって、本発明による方法は、周囲温度に敏感であり、各々が行導体と列導体
に接続され、各々が前記導体の１つを介して読取回路に接続される感光点を具備
する画像検出器の温度補償のための方法である。感光点は、検出すべき画像に相
応する光情報に曝される検出用感光点と、光情報から保護されたブラインド感光
点とに分割される。検出用感光点と繋がる読取回路は、検出すべき画像の測定電
圧の代表値をそれぞれ供給する。ブラインド感光点と繋がる読取回路は、温度補
償の役割をする暗電圧をそれぞれ供給する。当該方法は画像を検出する間に暗電
圧を取り出すこと、１つ以上の検出済みの画像から発生する暗電圧からの平均修
正値を生成すること、及び、読取回路が温度とはほぼ無関係に生成された測定電
圧を供給するように、次の画像を検出する間に検出用感光点と繋がる読取回路に
印加されるべき修正電圧を、平均修正値から生成することを含む。
【００２４】 さらに詳細には、アナログ／ディジタル変換器で感光点の測定電圧及び暗電圧
を変換することと、ディジタル化された暗電圧から平均修正値を生成することを
含む。この平均修正値は、検出用感光点と繋がる読取回路に印加されるべき修正
電圧を供給するディジタル／アナログ変換器を制御する役割を果たす。
【００２５】 平均修正値は複数の検出画像から発生する暗電圧の単純平均化により生成する
ことが望ましい。
【００２６】 平均修正値が複数の検出済み画像から発生する暗電圧のスライディング平均化
により生成されれば、さらによい結果が得られる。
【００２７】 さらに能率的な補償を行うために、平均化を、画像検出器の熱時定数と互換性
があるものにする。このためには、平均修正値は１つ以上の検出済みの画像から
発生する暗電圧から生成され、平均化に使用される最新画像の検出と最古の画像
の検出とを分離する時間間隔は当該検出器の熱時定数よりも少ない。
【００２８】 本発明は、各々が行導体と列導体に接続され、該導体の１つを介して読取回路
に接続される感光点を有する、温度補償された画像検出器にも関係する。感光点
は、検出すべき画像に相応する光情報に曝される検出用感光点と、光情報から保
護されたブラインド感光点とに分割される。検出用感光点と繋がる読取回路は、
検出すべき画像の測定電圧の代表値をそれぞれ供給する。ブラインド感光点と繋
がる読取回路は、温度補償の役割をする暗電圧をそれぞれ供給する。当該検出器
は、画像を検出する間に暗電圧を取り出し、１つ以上の検出済みの画像から発生
する暗電圧からの平均修正値を生成し、及び、読取回路が温度とはほぼ無関係に
生成された測定電圧を供給するように、次の画像を検出する間に検出用感光点と
繋がる読取回路に印加されるべき修正電圧を、平均修正値から生成する手段を具
備する。
【００２９】 暗電圧を取り出す手段と平均修正値を生成する手段は、読取回路と平均修正値
を生成する手段との間に配置された少なくとも１つのアナログ／ディジタル変換
器からディジタル形式で暗電圧を受信する。
【００３０】 修正電圧を生成する手段は、暗電圧を取り出し平均修正値を生成する手段と、
検出用感光点の読取回路との間に配設されたディジタル／アナログ変換器を具備
する。
【００３１】 検出用感光点と接続された読取回路は、一方の平板が電荷導体を介して検出用
感光点からの電荷を受取り、もう一方の平板が修正電圧を受けるキャパシタを具
備する電荷積分回路である。 ブラインド感光点と接続された読取回路は、一方の平板が導体を介してブライ
ンド感光点からの電荷を受取り、もう一方の平板が固定基準電圧を受けるキャパ
シタを具備する電荷積分回路である。
【００３２】 画像検出の解像度を低下させないように、ブラインド感光点は単純な方法で行
導体の最外部に接続されることが望ましい。
【００３３】 ブラインド感光点は、検出用感光点が曝される情報に対して不透明な材料、例
えば黒色の塗料で被覆される。
【００３４】 検出用感光点が、Ｘ線を検知可能な放射線に変換するシンチレータ材料で被覆
されるとき、ブラインド感光点は、鉛等のＸ線不透過性材料で被覆される。情報
に対して不透明な材料がある場合、それは鉛とブラインド感光点の間に配置され
る。
【００３５】 さらに、本発明の特徴及び長所は添付図と以下の詳細な説明を熟読して明らか
となる。
【００３６】 これらの添付図では、解り易くするために尺度は考慮されていない。
【００３７】 図２ａ、２ｂには、図１に示した形態と同様に、光ダイオードＤｐ及びスイッ
チダイオードとして示してあるスイッチ機能を有する要素Ｄｃを備える、感光点
Ｏ１からＯ６及びＲ１からＲ９を示した。このスイッチダイオードはトランジス
タで置換えることができる。光ダイオードＤｐとスイッチダイオードＤｃは背面
配列状に相互に接続される。各感光点は行導体Ｙ１からＹ３と列導体Ｗ１、Ｗ２
及びＺ１からＺ３との間に接続される。感光点Ｏ１からＯ６とＲ１からＲ９は行
と列によるマトリクス状に配置される。図１の例と比較すると、この図に示した
画像検出器は、感光点及び列導体が多いが、行導体の数は同じである。行導体は
、図１に示したものと同様のアドレッシング装置３に接続される。
【００３８】 本発明の１つの特徴によると、感光点は２つの群に分割される、即ち、検出す
べき画像を搬送する光情報に曝される検出用感光点Ｒ１からＲ９と、補償用に使
用されるブラインド感光点Ｏ１からＯ６とに分割される。こういったブラインド
感光点Ｏ１からＯ６は、検出すべき画像を搬送する光情報から遮蔽される。画像
の検出時、それが有効画像であっても補正画像であっても、ブラインド感光点Ｏ
１からＯ６は何も受信しない。こういったブラインド感光点Ｏ１からＯ６は検出
用感光点Ｒ１からＲ９と同じ方法で読取られる。
【００３９】 前記ブラインド感光点Ｏ１からＯ６は、行導体Ｙ１からＹ３の最外部２０に接
続される。この例において、ブラインド感光点は行の先頭部に配置されているが
、行の後尾部に配置することも可能である。
【００４０】 ブラインド感光点の数はそれほど重要ではないが、１行に検出用感光点が２０
００個存在する場合、１行につき１０個程度が適当であろう。これらの感光点Ｏ
１からＯ６及びＲ１からＲ９は、符号２１で示す絶縁基板に埋め込まれる。
【００４１】 ブラインド感光点Ｏ１からＯ６を光情報から遮蔽するために、光情報に対して
不透明な材料ＰＮ（例えば、黒色の塗料が適している）で被覆される。
【００４２】 本発明による画像検出器を放射線学に用いる形態において、検出用感光点Ｒ１
からＲ９は、検出用感光点Ｒ１からＲ９が検知可能な波長帯域の放射線に、Ｘ線
を変換するシンチレータ材料ＳＣで被覆される。ブラインド感光点Ｏ１からＯ６
に関しては、これらはシンチレータ材料ＳＣではなく、例えば鉛層等のＸ線不透
過性の材料ＰＢで被覆される。この形態では、光情報に対して不透明な材料ＰＮ
の有無は任意であるが、使用する場合、ブラインド感光点Ｏ１からＯ６とＸ線不
透過性材料ＰＢとの間に配置する。
【００４３】 画像検出器のＸ線を発する側の表面は、その全面が、例えば炭素繊維等の保護
材料ＰＰで被覆される。
【００４４】 図１の例と同様に、読取装置ＣＬは列導体Ｗ１、Ｗ２及びＺ１からＺ３と同じ
数の読取回路３０ａ、３０ｂを有し、それらの読取回路は電荷積分型のものであ
る。回路３０ａは導体Ｗ１及びＷ２に接続され、回路３０ｂは導体Ｚ１からＺ３
に接続される。前記回路は前記導体を介して電荷を受取る。各積分回路３０ａ、
３０ｂは入力として固定入力基準電圧ＶＲも受ける。各電荷積分回路３０ａ、３
０ｂは、積分キャパシタ３１ａと３１ｂを具備し、その一方の平板は、該積分回
路３０ａ、３０ｂが接続されている導体Ｗ１、Ｗ２及びＺ１からＺ３を介して電
荷を受取る。この電荷は基本的に読取られている感光点から発生する。前記キャ
パシタ３１ａと３１ｂのもう一方の平板は、次に説明する電位にある。読取回路
３０ａがブラインド感光点Ｏ１からＯ６に通じる導体Ｗ１、Ｗ２に接続されてい
る場合、その電圧は絶対基準電圧ＶＤＲ０である。読取回路３０ｂが検出用感光
点Ｒ１からＲ９に通じる導体Ｚ１からＺ３に接続されている場合は、その電圧は
温度従属修正電圧(temperature-slaved correction voltage)ＶＤＲである。
【００４５】 検出用感光点Ｒ１からＲ９に通じる導体Ｚ１からＺ３に接続された読取回路３
０ｂの出力３２ｂに現れる電圧Ｖｓ２は以下に示される。 Ｖｓ２＝ＶＤＲ−Ｑ／Ｃ ここで、Ｑは積分キャパシタ３１ｂで積分された総電荷量であり、Ｃは積分キャ
パシタ３１ｂのキャパシタンスである。
【００４６】 読取回路３０ａの出力３２ａに現れる電圧も同様の方法で得られる。
【００４７】 各積分回路３０ａ、３０ｂは、その対応する積分キャパシタ３１ａ、３１ｂと
並列に配設されたリセットスイッチＩａ、Ｉｂを具備する。
【００４８】 読取回路の出力３２ａ、３２ｂは、電荷積分回路により積分された電荷に対応
する信号を連続的に供給するマルチプレクサ装置６０に接続される。読取モード
においては、これらの信号は同一線上にある全ての感光点により蓄積された電荷
に対応する。マルチプレクサ装置６０により供給された信号は少なくとも１つの
アナログ／ディジタル変換器（ＡＤＣ）７０でディジタル化される。ディジタル
化された信号は、その信号を受信、つまり記憶、処理及び任意的に表示すること
ができる管理用装置８０に送信される。
【００４９】 読取モードの間、検出用感光点Ｒ１からＲ９と接続された読取回路３０ｂはそ
れぞれ、検出用感光点により受光された照射に対応する測定電圧を供給する。一
方、ブラインド感光点は曝されていないので、ブラインド感光点Ｏ１からＯ６と
接続された読取回路３０ａはそれぞれ、画像検出器の温度補償を有効にするため
に使用される暗電圧を供給する。
【００５０】 画像を検出している間に、暗電圧が取り出され、アナログ／ディジタル変換器
７０による出力としてディジタル形式で管理用装置８０に供給される。そして、
その管理用装置において平均修正値が１つ以上の検出済みの画像から発生する暗
電圧から生成される。図２ａでは、１つ以上のメモリと演算デバイスで製造され
たこの管理用装置８０は、検出済みの画像の表示を可能にする表示装置８０．１
とは独立して図示されている。前記２つの装置を一体化することも考えられる。
【００５１】 次の画像を検出する間に検出用感光点と繋がる読取回路に印加されるべき修正
電圧を、平均修正値から生成する手段９０も存在する。修正電圧ＶＤＲを生成す
る前記手段９０は、管理用装置８０に接続される入力側と、検出用感光点に通じ
る導体に接続される読取回路３０ｂに繋がる出力側を有する。こういった手段は
ディジタル／アナログ変換器（ＤＡＣ）９０の形で図示されている。
【００５２】 この修正電圧ＶＤＲを印加することにより、読取回路３０ｂの出力３２ｂでの
測定電圧は実質的に温度とは無関係な状態になっている。
【００５３】 温度補償の効果をあげるために、大多数の画像を平均化することにより平均修
正値を生成することが望ましい。単純平均化を実施することが可能となる。つま
り、平均化に使用される全ての画像に同等の重要度が与えられている。スライデ
ィング平均化が実施される場合、つまり、平均化に使用される画像のなかで前の
画像に与えられる重要度のほうが新しい画像に与えられる重要度よりも低い場合
、その効果はさらにあがる。
【００５４】 さらに修正の効果を上げるために、画像検出器の熱時定数と互換性のある平均
化を実施することが望ましい。このためには、平均修正値は１つ以上の検出済み
の画像から発生する暗電圧から生成され、平均化に使用される最新画像の検出と
最古の画像の検出とを分離する時間間隔は当該検出器の熱時定数よりも少ない。
【００５５】 これは、検出器の熱時定数が１０分である場合、平均化が行われるのは多くと
も１０分間であることを意味する。
【図面の簡単な説明】
【図１】 図１は従来の画像検出器の平面概要図である。
【図２】 図２ａは本発明による画像検出器の実施例の平面図である。図２
ｂは図２ａの画像検出器の断面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ，ＴＲ)，ＯＡ(ＢＦ ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ， ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，Ｇ Ｍ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＭＺ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ， ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＧ，ＡＬ，ＡＭ， ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，Ｂ Ｚ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＲ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ ，ＤＭ，ＤＺ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ， ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，Ｊ Ｐ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ， ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＭＺ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，Ｒ Ｏ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ， ＶＮ，ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 周囲温度に敏感であり、各々が行導体（Ｙ１からＹ３）と列
    導体（Ｗ１、Ｗ２、Ｚ１からＺ３）に接続され、各々が前記導体の１つを介して
    読取回路に接続される感光点（Ｏ１からＯ６、Ｒ１からＲ９）を具備する画像検
    出器の温度補償のための方法であって、 感光点が、検出すべき画像に相応する光情報に曝される検出用感光点（Ｒ１から
    Ｒ９）と光情報から保護されたブラインド感光点（Ｏ１からＯ６）とに分割され
    、検出用感光点と繋がる読取回路（３０ｂ）は検出すべき画像の測定電圧の代表
    値をそれぞれ供給し、ブラインド感光点と繋がる読取回路（３０ａ）は温度補償
    の役割をする暗電圧をそれぞれ供給し、 当該方法は画像を検出する間に暗電圧を取り出すこと、１つ以上の検出済みの画
    像から発生する暗電圧からの平均修正値を生成すること、及び、読取回路が温度
    とはほぼ無関係に生成された測定電圧を供給するように、次の画像を検出する間
    に検出用感光点（Ｒ１からＲ９）と繋がる読取回路（３０ｂ）に印加されるべき
    修正電圧（ＶＤＲ）を、平均修正値から生成することを含む ことを特徴とする方法。
  2. 【請求項２】 アナログ／ディジタル変換器（７０）で感光点の測定電圧及
    び暗電圧を変換することと、ディジタル化された暗電圧から平均修正値を生成す
    ることを含み、該平均修正値が、検出用感光点と繋がる読取回路に印加されるべ
    き修正電圧を供給するディジタル／アナログ変換器（９０）を制御する役割を果
    たすことを特徴とする請求項１に記載の画像検出器の温度補償方法。
  3. 【請求項３】 複数の検出画像から発生する暗電圧を単純平均化することに
    よる平均修正値の生成を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像検出
    器の温度補償方法。
  4. 【請求項４】 複数の検出済み画像から発生する暗電圧のスライディング平
    均化することによる平均修正値の生成を含むことを特徴とする請求項１又は２に
    記載の画像検出器の温度補償方法。
  5. 【請求項５】 １つ以上の検出済みの画像から発生する暗電圧からの平均修
    正値の生成を含み、平均化に使用される最新画像の検出と最古の画像の検出とを
    分離する時間間隔は当該検出器の熱時定数よりも少ないことを特徴とする請求項
    １ないし４のいずれか１項に記載の画像検出器の温度補償方法。
  6. 【請求項６】 ブラインド感光点を少なくとも１つの行導体（Ｙ１からＹ３
    ）の最外部（２０）に接続することを含むことを特徴とする請求項１ないし５の
    いずれか１項に記載の画像検出器の温度補償方法。
  7. 【請求項７】 各々が行導体（Ｙ１からＹ３）と列導体（Ｗ１、Ｗ２、Ｚ１
    からＺ３）に接続され、該導体の１つを介して読取回路（３０ａ、３０ｂ）に接
    続される感光点（Ｏ１からＯ６、Ｒ１からＲ９）を有する、温度補償された画像
    検出器であって、 感光点が、検出すべき画像に相応する光情報に曝される検出用感光点（Ｒ１から
    Ｒ９）と光情報から保護されたブラインド感光点（Ｏ１からＯ６）とに分割され
    、検出用感光点と繋がる読取回路（３０ｂ）は検出すべき画像の測定電圧の代表
    値をそれぞれ供給し、ブラインド感光点と繋がる読取回路（３０ａ）は温度補償
    の役割をする暗電圧をそれぞれ供給し、 画像を検出する間に暗電圧を取り出し、１つ以上の検出済みの画像から発生する
    暗電圧からの平均修正値を生成し、及び、読取回路が温度とはほぼ無関係に生成
    された測定電圧を供給するように、次の画像を検出する間に検出用感光点（Ｒ１
    からＲ９）と繋がる読取回路（３０ｂ）に印加されるべき修正電圧（ＶＤＲ）を
    、平均修正値から生成する手段を具備する ことを特徴とする温度補償された画像検出器。
  8. 【請求項８】 暗電圧を取り出す手段と平均修正値を生成する手段が、読取
    回路（３０ａ、３０ｂ）の出力側に配置された少なくとも１つのアナログ／ディ
    ジタル変換器（７０）からディジタル形式で暗電圧を受けることを特徴とする請
    求項７に記載の温度補償された画像検出器。
  9. 【請求項９】 修正電圧を生成する手段が、暗電圧を取り出し平均修正値を
    生成する手段（８０）と、検出用感光点の読取回路（３０ｂ）との間に配置され
    たディジタル／アナログ変換器を具備することを特徴とする請求項８に記載の温
    度補償された画像検出器。
  10. 【請求項１０】 検出用感光点（Ｒ１からＲ９）と接続された読取回路（３
    ０ｂ）が、一方の平板が電荷導体（Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３）を介して検出用感光点（
    Ｒ１からＲ９）からの電荷を受取り、もう一方の平板が修正電圧（ＶＤＲ）を受
    けるキャパシタ（３１ｂ）を具備する電荷積分回路であることを特徴とする請求
    項７ないし９のいずれか１項に記載の温度補償された画像検出器。
  11. 【請求項１１】 ブラインド感光点（Ｏ１からＯ６）と接続された読取回路
    （３０ａ）が、一方の平板が電荷導体（Ｗ１、Ｗ２）を介してブラインド感光点
    （Ｏ１からＯ６）からの電荷を受取り、もう一方の平板が固定基準電圧（ＶＤＲ
    ０）を受けるキャパシタ（３１ａ）を具備する電荷積分回路であることを特徴と
    する請求項７ないし１０のいずれか１項に記載の温度補償された画像検出器。
  12. 【請求項１２】 ブラインド感光点が、少なくとも１つの行導体（Ｙ１から
    Ｙ３）の最外部（２０）に接続されることを特徴とする請求項７ないし１１のい
    ずれか１項に記載の温度補償された画像検出器。
  13. 【請求項１３】 ブラインド感光点（Ｏ１からＯ６）が、黒色の塗料等の、
    検出用感光点が曝される情報に対して不透明な材料（ＰＮ）で被覆されることを
    特徴とする請求項７ないし１２のいずれか１項に記載の温度補償された画像検出
    器。
  14. 【請求項１４】 検出用感光点（Ｒ１からＲ９）が、Ｘ線を検知可能な放射
    線に変換するシンチレータ材料（ＳＣ）で被覆され、ブラインド感光点（Ｏ１か
    らＯ６）が、鉛等の（ＰＢ）で被覆され、光情報に対して不透明な材料がある場
    合、それはＸ線不透過性材料（ＰＢ）とブラインド感光点（Ｏ１からＯ６）の間
    に配置されることを特徴とする請求項７ないし１３のいずれか１項に記載の温度
    補償された画像検出器。
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