JP2003508874A - 界面化学のための電子ビームプラズマ形成 - Google Patents
界面化学のための電子ビームプラズマ形成Info
- Publication number
- JP2003508874A JP2003508874A JP2001519466A JP2001519466A JP2003508874A JP 2003508874 A JP2003508874 A JP 2003508874A JP 2001519466 A JP2001519466 A JP 2001519466A JP 2001519466 A JP2001519466 A JP 2001519466A JP 2003508874 A JP2003508874 A JP 2003508874A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tube
- anode
- field
- electron beam
- electron
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 claims abstract description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 5
- 238000010893 electron trap Methods 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 25
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 7
- 230000001954 sterilising effect Effects 0.000 abstract description 6
- 238000004659 sterilization and disinfection Methods 0.000 abstract description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 abstract description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract description 3
- 150000003961 organosilicon compounds Chemical class 0.000 abstract description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 2
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000002510 pyrogen Substances 0.000 description 6
- 244000005700 microbiome Species 0.000 description 5
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 3
- 230000002459 sustained effect Effects 0.000 description 3
- YZSCPLGKKMSBMV-UHFFFAOYSA-N 5-fluoro-4-(8-fluoro-4-propan-2-yl-2,3-dihydro-1,4-benzoxazin-6-yl)-N-[5-(1-methylpiperidin-4-yl)pyridin-2-yl]pyrimidin-2-amine Chemical compound FC=1C(=NC(=NC=1)NC1=NC=C(C=C1)C1CCN(CC1)C)C1=CC2=C(OCCN2C(C)C)C(=C1)F YZSCPLGKKMSBMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005461 Bremsstrahlung Effects 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 2
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 2
- 241000894006 Bacteria Species 0.000 description 1
- 101150000715 DA18 gene Proteins 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000645 desinfectant Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 230000002779 inactivation Effects 0.000 description 1
- 208000015181 infectious disease Diseases 0.000 description 1
- 230000002458 infectious effect Effects 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 229910001872 inorganic gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000813 microbial effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000003642 reactive oxygen metabolite Substances 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012815 thermoplastic material Substances 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C59/00—Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
- B29C59/16—Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by wave energy or particle radiation, e.g. infrared heating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C59/00—Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
- B29C59/14—Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by plasma treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J33/00—Discharge tubes with provision for emergence of electrons or ions from the vessel; Lenard tubes
- H01J33/02—Details
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C35/00—Heating, cooling or curing, e.g. crosslinking or vulcanising; Apparatus therefor
- B29C35/02—Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould
- B29C35/08—Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation
- B29C35/0866—Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation using particle radiation
- B29C2035/0877—Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation using particle radiation using electron radiation, e.g. beta-rays
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Apparatus For Disinfection Or Sterilisation (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
1つ以上の電子ビーム管(11)が、空気または他の雰囲気ガス中の電子ビーム(15)をターゲット物体(31)へ向けるように構成される。電子ビーム(15)は空気をイオン化し、プラズマ(21)またはグロー放電を生成する。ビーム軌道における電場または磁場が、ビーム電子が周囲の雰囲気と衝突することにより形成された二次電子をトラップすることによりプラズマ(21)を持続させる。ターゲット物体(31)は滅菌などの表面処理のために、または薄膜成長のために、場内に配置され得る。後者の場合、装置はハウジング(51)で取囲まれ、ビーム軌道中に反応性ガスが導入される。このガスは、たとえば有機シリコン化合物などの、電子ビームまたはプラズマによりクラッキング可能なものであり、シリコンを遊離させてイオン化酸素と結合させ、基板上に二酸化シリコン層を形成するとされる。
Description
【0001】
本発明は、表面の薄膜堆積、グラフト、清浄、パイロジェン除去(depyrogena
tion)および滅菌を含む、界面化学において用いるための電子ビーム持続性高圧
気体プラズマの形成に関する。
tion)および滅菌を含む、界面化学において用いるための電子ビーム持続性高圧
気体プラズマの形成に関する。
【0002】
界面化学とは、表面の上または内部で化学反応を起こすことを意味する。前者
の場合、薄膜の成長または、有機物(バクテリアもしくはパイロジェンとして知
られるその副産物など)の不活性化は、イオンまたは電子ビームを用いて、通常
低圧で起こることが公知である。後者の場合、シリコンなどの特定の表面が表面
反応に伴って酸化物に転化され得る。このような転化の例として、シリコンウエ
ハの表面近傍に反応性酸素種を通常真空で導入することにより、そのウェハ表面
を二酸化シリコンに転化させるものがある。
の場合、薄膜の成長または、有機物(バクテリアもしくはパイロジェンとして知
られるその副産物など)の不活性化は、イオンまたは電子ビームを用いて、通常
低圧で起こることが公知である。後者の場合、シリコンなどの特定の表面が表面
反応に伴って酸化物に転化され得る。このような転化の例として、シリコンウエ
ハの表面近傍に反応性酸素種を通常真空で導入することにより、そのウェハ表面
を二酸化シリコンに転化させるものがある。
【0003】
A.ローリン(A. Roulin)他の米国特許第5,508,075号は、表面上
に実装用薄板として酸素障壁層を形成することを開示する。プラズマ増速化学気
相成長(PECVD)を行なうために真空チャンバ内でプラズマが形成される。
このプラズマ中で有機シリコン化合物が酸素と結合されるので、これら2つの化
合物が反応して表面上に堆積し、かつ表面に化学結合される。酸化シリコンは表
面上に直接形成され得る。この特許によれば、好ましい基板または表面は、可撓
性のある熱可塑性材料である。
に実装用薄板として酸素障壁層を形成することを開示する。プラズマ増速化学気
相成長(PECVD)を行なうために真空チャンバ内でプラズマが形成される。
このプラズマ中で有機シリコン化合物が酸素と結合されるので、これら2つの化
合物が反応して表面上に堆積し、かつ表面に化学結合される。酸化シリコンは表
面上に直接形成され得る。この特許によれば、好ましい基板または表面は、可撓
性のある熱可塑性材料である。
【0004】
表面処理に電子ビームが有用であることは公知である。G. ワカロプロス(G.
Wakalopulos)の米国特許第5,909,032号は、表面処理に適した線状ま
たはストライプ状の電子ビームを生成する電子ビーム管の構成を開示する。この
Wakalopulos特許は、薄窓を通じて空気などの周囲環境(電子ビームが生成され
る管内部の真空環境に対して比較的高圧の環境)内へビームを放出する密閉真空
管である、電子ビーム管を特徴とする。Wakalopulosの管の構造は、米国特許第
5,637,953号および第5,414,267号に示されており、これらは
ともに本発明の譲受人に譲渡されている。
Wakalopulos)の米国特許第5,909,032号は、表面処理に適した線状ま
たはストライプ状の電子ビームを生成する電子ビーム管の構成を開示する。この
Wakalopulos特許は、薄窓を通じて空気などの周囲環境(電子ビームが生成され
る管内部の真空環境に対して比較的高圧の環境)内へビームを放出する密閉真空
管である、電子ビーム管を特徴とする。Wakalopulosの管の構造は、米国特許第
5,637,953号および第5,414,267号に示されており、これらは
ともに本発明の譲受人に譲渡されている。
【0005】
上述のビーム管は電子ビームを出し、それが空気と相互作用して空気のイオン
化を起こし、ビームの一次電子とともに表面処理に加わる二次電子を作り出す。
ここで遭遇する問題の1つは、このビームが一過性のものであり、すぐに中和さ
れてしまうことである。ビームが連続的であることから、このビームの一過性の
性質が重要な問題とならない適用例もある。一方、所望の効果を達成するために
はより持続性のビームを必要とする適用例もある。
化を起こし、ビームの一次電子とともに表面処理に加わる二次電子を作り出す。
ここで遭遇する問題の1つは、このビームが一過性のものであり、すぐに中和さ
れてしまうことである。ビームが連続的であることから、このビームの一過性の
性質が重要な問題とならない適用例もある。一方、所望の効果を達成するために
はより持続性のビームを必要とする適用例もある。
【0006】
以前から、滅菌には電子ビームが用いられてきた。しかしながら、微生物の残
骸が表面に強く粘着するので、タンパク質材料の残留物が残ってしまう場合が多
い。微生物を不能にすることにより、その微生物を表面に保持している化学結合
が必ずしも損なわれることはない。
骸が表面に強く粘着するので、タンパク質材料の残留物が残ってしまう場合が多
い。微生物を不能にすることにより、その微生物を表面に保持している化学結合
が必ずしも損なわれることはない。
【0007】
本発明の目的は、表面の滅菌用に持続性のビームを有し、また処理された表面
からのタンパク質材料を不活性化するための持続放電を有する、高圧電子ビーム
管装置を考案することであった。
からのタンパク質材料を不活性化するための持続放電を有する、高圧電子ビーム
管装置を考案することであった。
【0008】
本発明の別の目的は、化学気相成長、グラフト、および特に薄膜形成のための
、高圧プラズマ装置を考案することであった。
、高圧プラズマ装置を考案することであった。
【0009】
上記の目的は、Wakalopulosの電子ビーム管に加えて外部の電場または磁場を
用いて、この管により放出される、100kV未満のビームエネルギを有する電
子ビームにより生成された荷電粒子を瞬間的に閉じ込めることにより、達成され
ている。この外部の閉じ込め場の効果は、電子ビームが空気またはその他の気体
と相互作用して構築された気体プラズマを持続させることである。ビーム管の外
部の構造は、空気環境または他の特殊用途の気体などの、周囲温度および雰囲気
圧となり得る。
用いて、この管により放出される、100kV未満のビームエネルギを有する電
子ビームにより生成された荷電粒子を瞬間的に閉じ込めることにより、達成され
ている。この外部の閉じ込め場の効果は、電子ビームが空気またはその他の気体
と相互作用して構築された気体プラズマを持続させることである。ビーム管の外
部の構造は、空気環境または他の特殊用途の気体などの、周囲温度および雰囲気
圧となり得る。
【0010】
電場の場合、ビーム管外部の陽極および陰極が用いられる。ビーム管の最も近
くにあるのはスクリーン陽極であり、これは電子ビームがスクリーンを通過でき
るようにする。わずかに遠い距離にあるのは制動陰極であり、これは電子をスク
リーン陽極へ向けて跳ね返し、電子トラップを形成する。電子ビームがビーム管
から出ていくにつれて、電子は空気分子をイオン化し、グロー放電と同様、電子
ビームによる電子の超過を除いてほぼ中性のプラズマを形成する。二次電子、お
よびビーム電子の実質的な部分(fraction)は、スクリーン陽極と制動陰極との
間の物体に突き当たる。ビーム管はストライプ状のビームを生成し、これはター
ゲット表面の帯状領域(swath)において反応する。物体をプラズマ中へ運ぶベ
ルトまたはウェブにより、このような物体の表面を、表面処理のために電子に晒
すことができる。
くにあるのはスクリーン陽極であり、これは電子ビームがスクリーンを通過でき
るようにする。わずかに遠い距離にあるのは制動陰極であり、これは電子をスク
リーン陽極へ向けて跳ね返し、電子トラップを形成する。電子ビームがビーム管
から出ていくにつれて、電子は空気分子をイオン化し、グロー放電と同様、電子
ビームによる電子の超過を除いてほぼ中性のプラズマを形成する。二次電子、お
よびビーム電子の実質的な部分(fraction)は、スクリーン陽極と制動陰極との
間の物体に突き当たる。ビーム管はストライプ状のビームを生成し、これはター
ゲット表面の帯状領域(swath)において反応する。物体をプラズマ中へ運ぶベ
ルトまたはウェブにより、このような物体の表面を、表面処理のために電子に晒
すことができる。
【0011】
磁場の場合は、ビーム管外部のコイルが用いられる。このコイルは、ビーム管
に平行なまたは管の軸に対してある角度をなす軸を持つ場を有しうる。ビーム管
からの電子は磁束線に従うので、滅菌すべき表面を有するもの(たとえばバイア
ル)はその磁束の通路に置かれる。滅菌のために、プラズマは微生物を不能にし
、また表面上の分子の残留物と相互作用してパイロジェンを除去し、表面から感
染性の有機物をなくす。パイロジェン除去の後、純水で簡単に洗浄することによ
り、灰を取除くことができる。
に平行なまたは管の軸に対してある角度をなす軸を持つ場を有しうる。ビーム管
からの電子は磁束線に従うので、滅菌すべき表面を有するもの(たとえばバイア
ル)はその磁束の通路に置かれる。滅菌のために、プラズマは微生物を不能にし
、また表面上の分子の残留物と相互作用してパイロジェンを除去し、表面から感
染性の有機物をなくす。パイロジェン除去の後、純水で簡単に洗浄することによ
り、灰を取除くことができる。
【0012】
スクリーン陽極および制動陰極の電極またはコイル構造は、通常空気中の電子
ビームに対応づけられる一過性のプラズマよりも高密度高持続性のプラズマを作
る場を持続させる傾向にある。このようなプラズマは、独立電源により通電され
る持続場に存在すると言われている。
ビームに対応づけられる一過性のプラズマよりも高密度高持続性のプラズマを作
る場を持続させる傾向にある。このようなプラズマは、独立電源により通電され
る持続場に存在すると言われている。
【0013】
プラズマが密閉ハウジング中の不活性環境で生成される場合、電子ビームと相
互作用することになる特殊な気体が電子ビーム中に導入され得る。このような気
体の例としては有機シリコンガスがあり、これは分解して、単に有機シリコンガ
スをビーム中に導入することにより成長可能な二酸化シリコンまたは同様の膜材
料になる。同様に、プラズマ増速化学気相成長(PECVD)のために他の分解
ガスを導入することもできる。
互作用することになる特殊な気体が電子ビーム中に導入され得る。このような気
体の例としては有機シリコンガスがあり、これは分解して、単に有機シリコンガ
スをビーム中に導入することにより成長可能な二酸化シリコンまたは同様の膜材
料になる。同様に、プラズマ増速化学気相成長(PECVD)のために他の分解
ガスを導入することもできる。
【0014】
図1を参照して、電子ビーム管11が、ビーム15が出てくる薄窓13を有し
て示される。ビーム15は静電集束構造物14の前にある陰極12から生成され
、螺旋コイル16により生成された磁場によってさらに集束される。ビーム管1
1の詳細な構造は、G.Wakalopulosの米国特許第5,612,588号に記載
されており、この特許は本発明の譲受人に譲渡されている。薄窓13の厚さは数
マイクロメータ以下しかないので、窓を貫通する際のビームエネルギの損失はほ
とんどない。この窓は原子番号の小さい材料からなるのが好ましく、それによっ
て電子はこの材料を容易に貫通できるが気体分子は貫通できないようにする。こ
れにより、管の内部を真空圧にし、かつ管の外部を雰囲気圧(通常は大気圧)に
することが可能になる。陽極として作用するこの窓は、安全上の理由から接地電
位に維持され、一方、陰極は負の電位、たとえば窓の電位に対して−50(kV
)に維持される。ビームエネルギの約50%が窓13外部の気体分子との衝突で
損失されるとすれば、元のビームエネルギのほぼ半分が残ってターゲット表面へ
運ばれることになる。このような電子エネルギレベルは、種々の材料の表面を滅
菌するのには十分であるが、ほとんどのターゲット材料に対して、表面から数1
0マイクロメータより深く貫通するには不十分である。これは、厚さ3ミクロン
の薄い管の窓とは異なり、ターゲット材料はより厚いので、低エネルギビームで
は認め得るほどの深さまで貫通できない。
て示される。ビーム15は静電集束構造物14の前にある陰極12から生成され
、螺旋コイル16により生成された磁場によってさらに集束される。ビーム管1
1の詳細な構造は、G.Wakalopulosの米国特許第5,612,588号に記載
されており、この特許は本発明の譲受人に譲渡されている。薄窓13の厚さは数
マイクロメータ以下しかないので、窓を貫通する際のビームエネルギの損失はほ
とんどない。この窓は原子番号の小さい材料からなるのが好ましく、それによっ
て電子はこの材料を容易に貫通できるが気体分子は貫通できないようにする。こ
れにより、管の内部を真空圧にし、かつ管の外部を雰囲気圧(通常は大気圧)に
することが可能になる。陽極として作用するこの窓は、安全上の理由から接地電
位に維持され、一方、陰極は負の電位、たとえば窓の電位に対して−50(kV
)に維持される。ビームエネルギの約50%が窓13外部の気体分子との衝突で
損失されるとすれば、元のビームエネルギのほぼ半分が残ってターゲット表面へ
運ばれることになる。このような電子エネルギレベルは、種々の材料の表面を滅
菌するのには十分であるが、ほとんどのターゲット材料に対して、表面から数1
0マイクロメータより深く貫通するには不十分である。これは、厚さ3ミクロン
の薄い管の窓とは異なり、ターゲット材料はより厚いので、低エネルギビームで
は認め得るほどの深さまで貫通できない。
【0015】
ビーム15は、窓の電位であり得るスクリーン陽極17を通過する。スクリー
ン陽極17は金網のアルミニウムの網戸に類似している。このビームはスクリー
ン陽極を通る際に気体をイオン化して二次電子を生成し、室温の気体プラズマを
形成し、実質的な電子の部分はウェブ31の表面処理に利用可能である。大きな
負の電位(たとえば−1000ボルト)のワイヤループなどの反射陰極33によ
り、ビームから電子が偏向されて陽極へ向けて跳ね返され、それによってプラズ
マを持続させる。
ン陽極17は金網のアルミニウムの網戸に類似している。このビームはスクリー
ン陽極を通る際に気体をイオン化して二次電子を生成し、室温の気体プラズマを
形成し、実質的な電子の部分はウェブ31の表面処理に利用可能である。大きな
負の電位(たとえば−1000ボルト)のワイヤループなどの反射陰極33によ
り、ビームから電子が偏向されて陽極へ向けて跳ね返され、それによってプラズ
マを持続させる。
【0016】
ビーム15は、処理表面である、または処理(たとえば滅菌)すべき表面を運
搬するウェブ31の方へ窓13の外へ向けられて示されている。窓13の大きさ
は、ビーム15中の電子および周囲環境からのイオン化された気体からなるプラ
ズマ雲21を作り出すのに十分な大きさである。スクリーン陽極17および反射
陰極33により持続されるこのプラズマは、プラズマ中のターゲット表面、すな
わちウェブ31上に作用する。
搬するウェブ31の方へ窓13の外へ向けられて示されている。窓13の大きさ
は、ビーム15中の電子および周囲環境からのイオン化された気体からなるプラ
ズマ雲21を作り出すのに十分な大きさである。スクリーン陽極17および反射
陰極33により持続されるこのプラズマは、プラズマ中のターゲット表面、すな
わちウェブ31上に作用する。
【0017】
電源は直流電源または交流電源のいずれであってもよい。後者の場合、プラズ
マを電極間の容積に閉じ込めるために無線周波数が好ましい。典型的なr.f.
周波数は13MHzから27MHzの範囲となるであろう。
マを電極間の容積に閉じ込めるために無線周波数が好ましい。典型的なr.f.
周波数は13MHzから27MHzの範囲となるであろう。
【0018】
処理対象表面はロール25から巻かれ、巻取ロール27により張力をかけて維
持される。供給ロール25および巻取ロール27により、プラズマ容積中で処理
対象材料が無限に供給される。これに代えて、装置製造中のシリコンウエハの態
様で、コンベア上で処理対象表面を運ぶこともできる。
持される。供給ロール25および巻取ロール27により、プラズマ容積中で処理
対象材料が無限に供給される。これに代えて、装置製造中のシリコンウエハの態
様で、コンベア上で処理対象表面を運ぶこともできる。
【0019】
図2では、管41、43および45の線形アレイが、スクリーン陽極17と反
射陰極33との間に間隔をあけて置かれたウェブ31上に突き当たる電子ビーム
42、44および46をそれぞれ生成する。管41、43および45の構造は図
1のビーム管11と同様である。発生する電子ビーム42、44および46は、
ウェブ31の幅にわたって配置され得るストライプ状のビームであるので、ウェ
ブ表面全体が、供給ウェブ25から巻取ウェブ27へ巻かれる材料として処理さ
れ得る。ビーム管から発生する電子ビームによってウェブの全幅が処理され得る
ように、何個のビーム管をアレイ中に配置してもよい。ここでもまた、スクリー
ン陽極17と反射電極13との間に気体のプラズマが形成される。この気体プラ
ズマは、直流モードで、接地または正電圧をスクリーン陽極17に与え負電圧を
反射陰極33に与える、電源23により持続される。
射陰極33との間に間隔をあけて置かれたウェブ31上に突き当たる電子ビーム
42、44および46をそれぞれ生成する。管41、43および45の構造は図
1のビーム管11と同様である。発生する電子ビーム42、44および46は、
ウェブ31の幅にわたって配置され得るストライプ状のビームであるので、ウェ
ブ表面全体が、供給ウェブ25から巻取ウェブ27へ巻かれる材料として処理さ
れ得る。ビーム管から発生する電子ビームによってウェブの全幅が処理され得る
ように、何個のビーム管をアレイ中に配置してもよい。ここでもまた、スクリー
ン陽極17と反射電極13との間に気体のプラズマが形成される。この気体プラ
ズマは、直流モードで、接地または正電圧をスクリーン陽極17に与え負電圧を
反射陰極33に与える、電源23により持続される。
【0020】
複数の管を結合させることにより、表面上のより大きな帯状領域を処理するこ
とができる。これらの管は、ビームのストライプが材料の幅にわたって並列する
ように整列されていてもよく、または、ビームが材料の幅にわたるようにわずか
に重なりながら、一方が他方の少し後ろになるように互い違いにされてもよい。
図2では、ストライプの長さに沿ったビームを有する管が示されているように見
えるが、実際には、これらのビームは上述のようにウェブの横方向に互い違いに
なっている。これらのビームは空気中で作用し、空気をイオン化して、スクリー
ン陽極と反射陰極との間の容積中にグロー放電を生じさせる。この放電がビーム
と組合わされて表面処理の役割を果たし、硬化、滅菌または化学反応の開始を行
ない、そのうちいくつかが、現在は化学気相成長において行なわれているように
、シリコンウエハ上に結果的に薄膜を成長させることになる。空気環境の代替例
として、図3に示すように、不活性ガスまたはその他の環境を設けることもでき
る。
とができる。これらの管は、ビームのストライプが材料の幅にわたって並列する
ように整列されていてもよく、または、ビームが材料の幅にわたるようにわずか
に重なりながら、一方が他方の少し後ろになるように互い違いにされてもよい。
図2では、ストライプの長さに沿ったビームを有する管が示されているように見
えるが、実際には、これらのビームは上述のようにウェブの横方向に互い違いに
なっている。これらのビームは空気中で作用し、空気をイオン化して、スクリー
ン陽極と反射陰極との間の容積中にグロー放電を生じさせる。この放電がビーム
と組合わされて表面処理の役割を果たし、硬化、滅菌または化学反応の開始を行
ない、そのうちいくつかが、現在は化学気相成長において行なわれているように
、シリコンウエハ上に結果的に薄膜を成長させることになる。空気環境の代替例
として、図3に示すように、不活性ガスまたはその他の環境を設けることもでき
る。
【0021】
図3を参照して、閉じられた気密ハウジング51がビーム管11を取囲み、こ
のビーム管が窓13を通じて電子ビーム15をウェブ表面31上に投射する。上
述のとおり、ビーム付近にプラズマ雲21が形成される。ハウジング51はまず
真空にされ、その後、供給タンク53からアルゴンなどの不活性ガスが充填され
る。クラッキング対象となる第2のガスが供給タンク55からノズル23を介し
て注入される。この反応性ガスは、シリコン−炭化水素化合物などの半無機ガス
である。反応性ガスは電子ビームおよびプラズマ雲によりクラッキングされるの
で、シリコンまたは他の材料の薄膜は、この反応性ガスに依存して、ウェブ上に
堆積され得る。不活性ガスの典型的な気圧は760Torrである。反応性ガス
の典型的な気圧も同様に760Torrである。反応性ガスの流量は、ハウジン
グ51内を軽い過供給状態に維持するように調整される。クラッキングはビーム
15の真正面で最も効率よく起こるので、ノズル23はビームに近接してオリフ
ィスを有し、反応性ガスがビームの通路を横断するように強いる。
のビーム管が窓13を通じて電子ビーム15をウェブ表面31上に投射する。上
述のとおり、ビーム付近にプラズマ雲21が形成される。ハウジング51はまず
真空にされ、その後、供給タンク53からアルゴンなどの不活性ガスが充填され
る。クラッキング対象となる第2のガスが供給タンク55からノズル23を介し
て注入される。この反応性ガスは、シリコン−炭化水素化合物などの半無機ガス
である。反応性ガスは電子ビームおよびプラズマ雲によりクラッキングされるの
で、シリコンまたは他の材料の薄膜は、この反応性ガスに依存して、ウェブ上に
堆積され得る。不活性ガスの典型的な気圧は760Torrである。反応性ガス
の典型的な気圧も同様に760Torrである。反応性ガスの流量は、ハウジン
グ51内を軽い過供給状態に維持するように調整される。クラッキングはビーム
15の真正面で最も効率よく起こるので、ノズル23はビームに近接してオリフ
ィスを有し、反応性ガスがビームの通路を横断するように強いる。
【0022】
図4において、電子管11が標準圧力の周囲環境において用いられ、衛生およ
び医療用の消毒液で充填されることになるバイアル61の滅菌およびパイロジェ
ン除去を行なう。最初に、電子ビーム15を単独で用いて空のバイアルの内壁を
照射し、プラズマ雲21で微生物をすべて殺す。このプラズマは管11からの電
子および二次電子により形成される。その後、電磁コイル63においてRF場が
励磁されることにより、それが壁面近傍の二次電子にさらなるエネルギを与え、
微生物の残骸を酸化させて不活性の状態にする。このコイルは軸方向の磁場を有
する単純な螺旋状に巻かれたコイルである。このコイルはCWまたはパルスモー
ドのいずれかで作動され得る。磁場の強さは数百ガウス程度であり、電子を磁束
線に従わせるのに十分な強さである。コイルの寸法は、磁束線がバイアルの壁の
近傍にくるように選択される。磁場の線により閉じ込められた電子はバイアルの
表面上に突き当たり、パイロジェン除去を起こす。バイアルは自動的にコイル内
に配置され得る。
び医療用の消毒液で充填されることになるバイアル61の滅菌およびパイロジェ
ン除去を行なう。最初に、電子ビーム15を単独で用いて空のバイアルの内壁を
照射し、プラズマ雲21で微生物をすべて殺す。このプラズマは管11からの電
子および二次電子により形成される。その後、電磁コイル63においてRF場が
励磁されることにより、それが壁面近傍の二次電子にさらなるエネルギを与え、
微生物の残骸を酸化させて不活性の状態にする。このコイルは軸方向の磁場を有
する単純な螺旋状に巻かれたコイルである。このコイルはCWまたはパルスモー
ドのいずれかで作動され得る。磁場の強さは数百ガウス程度であり、電子を磁束
線に従わせるのに十分な強さである。コイルの寸法は、磁束線がバイアルの壁の
近傍にくるように選択される。磁場の線により閉じ込められた電子はバイアルの
表面上に突き当たり、パイロジェン除去を起こす。バイアルは自動的にコイル内
に配置され得る。
【0023】
図5は図4と同様の構成を示しており、直列な2つの区分65および67を有
する螺旋状に巻かれたコイルが設けられており、共通の軸方向の磁場がバイアル
61を包んでいる。2つのコイル区分65と67とは間隔が空けられており、こ
れらの区分間でコンベア69がコンベア上の一連のバイアルを運べるようになっ
ている。より正確には、バイアル61はコンベアベルト69によってコイル区分
65および67の軸方向の磁場を通って運ばれる。バイアルが電子ビーム15の
通路にあり、かつ軸方向の磁場の中心にあるとき、それは瞬間的に停止し、電子
がバイアルの外表面上に突き当たることができるようにする。あるバイアルが電
子によって擦られた後、このコンベアは進み、別のバイアルが同様に処理される
。
する螺旋状に巻かれたコイルが設けられており、共通の軸方向の磁場がバイアル
61を包んでいる。2つのコイル区分65と67とは間隔が空けられており、こ
れらの区分間でコンベア69がコンベア上の一連のバイアルを運べるようになっ
ている。より正確には、バイアル61はコンベアベルト69によってコイル区分
65および67の軸方向の磁場を通って運ばれる。バイアルが電子ビーム15の
通路にあり、かつ軸方向の磁場の中心にあるとき、それは瞬間的に停止し、電子
がバイアルの外表面上に突き当たることができるようにする。あるバイアルが電
子によって擦られた後、このコンベアは進み、別のバイアルが同様に処理される
。
【図1】 材料のウェブの表面処理のために電子ビームを持続電場へ放出す
る電子ビーム管の側面図である。
る電子ビーム管の側面図である。
【図2】 材料のウェブの処理のために複数のビームを単一の持続電場へ放
出するための複数の電子ビーム管の側面図である。
出するための複数の電子ビーム管の側面図である。
【図3】 持続電場を有するプラズマ増速化学気相成長のためのチャンバ内
の電子ビーム管の側面図である。
の電子ビーム管の側面図である。
【図4】 バイアルの表面処理のための、電子ビームをビーム管と同軸の持
続磁場内へ放出する電子ビーム管の側面図である。
続磁場内へ放出する電子ビーム管の側面図である。
【図5】 バイアルの表面処理のための、電子ビームをビーム管の軸を横断
する持続磁場内へ放出する電子ビーム管の側面図である。
する持続磁場内へ放出する電子ビーム管の側面図である。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
G21K 5/04 G21K 5/04 E
H01L 21/31 H01L 21/31 C
Fターム(参考) 4C058 AA24 AA30 BB06 CC02 EE26
KK03 KK06 KK22
4G075 AA24 AA30 BB10 BC04 CA39
CA42 CA47 DA02 DA18 EB01
EB31 EC01 EC21 EC30 FC11
4K030 AA06 BA44 FA12 KA30
5F045 AA08 AA14 AB32 AC16 AE29
AF11 DP23 DQ16 EH01
Claims (12)
- 【請求項1】 表面処理装置であって、 電子源を有する真空管本体と、前記電子源から間隔を空けられた内部陽極と、
電子透過性気体不透性の薄膜の前記陽極近くに位置する窓とを有する電子ビーム
管を含み、前記窓は、前記陽極により加速された電子が前記窓を通過してビーム
状で気体周囲環境内へ入るように配置されており、前記陽極は、前記窓を通過す
る電子が75kVより小さいエネルギを有しかつ気体周囲環境との衝突により二
次電子を形成するような電位を有しており、前記表面処理装置はさらに、 前記ビーム管の外側であって、前記管の窓に近接しかつ周囲環境内にある場を
含み、前記電子ビームが前記場内へ入り、それによって電子がトラップされ、前
記表面処理装置はさらに、 前記ビームの通路内および前記場内であって、前記ビーム管外部に配置される
処理対象表面を含む、表面処理装置。 - 【請求項2】 前記周囲環境が空気環境である、請求項1に記載の装置。
- 【請求項3】 選択された気体を前記処理対象表面へ向けて注入するノズル
をさらに含み、前記周囲環境が前記選択された気体により形成される、請求項1
に記載の装置。 - 【請求項4】 前記選択された気体により形成された周囲環境を取り囲む気
密ハウジングをさらに含む、請求項3に記載の装置。 - 【請求項5】 前記場が、前記管外部の陽極および陰極により形成された電
場であり、前記ビームにより生成された二次電子をトラップする場を有する、請
求項1に記載の装置。 - 【請求項6】 前記場が、前記管外部のコイルにより形成された磁場であり
、前記ビームにより生成された二次電子をトラップする場を有する、請求項1に
記載の装置。 - 【請求項7】 前記処理対象表面が、2つの対向する部材間で張力をかけら
れたウェブであり、前記ウェブは、前記管外部の陽極と陰極との間を、かつ電子
トラップを通過する、請求項5に記載の装置。 - 【請求項8】 ビーム管外部の前記陽極が導電性のスクリーンである、請求
項5に記載の装置。 - 【請求項9】 ビーム管外部の前記陰極が導電性のスクリーンである、請求
項5に記載の装置。 - 【請求項10】 前記処理対象表面が、ビーム外部の陽極と陰極との間を、
かつ電子トラップを通過する、キャリア上に配置されるシリコンウエハである、
請求項5に記載の装置。 - 【請求項11】 前記磁場がビームに平行な軸を有する、請求項6に記載の
装置。 - 【請求項12】 前記磁場がビームを横断する軸を有する、請求項6に記載
の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/379,543 | 1999-08-23 | ||
US09/379,543 US6239543B1 (en) | 1999-08-23 | 1999-08-23 | Electron beam plasma formation for surface chemistry |
PCT/US2000/040309 WO2001015199A1 (en) | 1999-08-23 | 2000-07-06 | Electron beam plasma formation for surface chemistry |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003508874A true JP2003508874A (ja) | 2003-03-04 |
Family
ID=23497689
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001519466A Pending JP2003508874A (ja) | 1999-08-23 | 2000-07-06 | 界面化学のための電子ビームプラズマ形成 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6239543B1 (ja) |
EP (1) | EP1218916A4 (ja) |
JP (1) | JP2003508874A (ja) |
KR (1) | KR100670714B1 (ja) |
AU (1) | AU6803500A (ja) |
TW (1) | TW457511B (ja) |
WO (1) | WO2001015199A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009526971A (ja) * | 2006-02-14 | 2009-07-23 | アドバンスト・エレクトロン・ビームズ・インコーポレーテッド | 電子ビーム照射器 |
WO2013054539A1 (ja) * | 2011-10-13 | 2013-04-18 | 岩崎電気株式会社 | 電子線照射による不活化方法および処理装置 |
JP2014204814A (ja) * | 2013-04-12 | 2014-10-30 | 四国化工機株式会社 | 電子線照射による不活化方法および処理装置 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW512181B (en) * | 2000-02-03 | 2002-12-01 | Cosmos Vacuum Technology Corp | A process for covering a film on the surface of the micro cutting router by coating super micro atomized multi-elements |
US6833551B2 (en) * | 2001-03-20 | 2004-12-21 | Advanced Electron Beams, Inc. | Electron beam irradiation apparatus |
JP4956876B2 (ja) * | 2001-09-20 | 2012-06-20 | 凸版印刷株式会社 | 真空成膜装置及びそれを用いた成膜方法 |
US7295015B2 (en) * | 2004-02-19 | 2007-11-13 | Brooks Automation, Inc. | Ionization gauge |
US7030619B2 (en) * | 2004-02-19 | 2006-04-18 | Brooks Automation, Inc. | Ionization gauge |
US7375345B2 (en) * | 2005-10-26 | 2008-05-20 | Tetra Laval Holdings & Finance S.A. | Exposed conductor system and method for sensing an electron beam |
US20080136064A1 (en) * | 2006-12-12 | 2008-06-12 | Husky Injection Molding Systems Ltd. | Molding apparatus and a molding method |
JP5054192B2 (ja) * | 2007-07-11 | 2012-10-24 | ストークリー−ヴァン キャンプ インコーポレイテッド | 容器充填用能動的滅菌ゾーン |
DE102008058913A1 (de) * | 2008-11-25 | 2010-05-27 | Rolls-Royce Deutschland Ltd & Co Kg | Verfahren zur Herstellung hybrider Bauteile für Fluggasturbinen |
US20110062353A1 (en) * | 2009-09-17 | 2011-03-17 | Ushio America, Inc. | Irradiation systems |
DE102014001344B4 (de) * | 2014-02-02 | 2015-08-20 | Crosslinking AB | Elektronenstrahleinheit mit schräg zur Transportrichtung ausgerichteten Heizkathodendrähten sowie Verfahren zur Bestrahlung |
DE102016006880B3 (de) * | 2016-06-06 | 2017-08-17 | Crosslinking AB | Verfahren zum Bestrahlen eines Behältnisses sowie Elektronenbestrahlungseinheit dazu |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR910000508B1 (ko) * | 1984-08-31 | 1991-01-26 | 니찌덴 아넬바 가부시끼가이샤 | 동적자계를 이용한 방전 반응장치 |
US4827137A (en) * | 1986-04-28 | 1989-05-02 | Applied Electron Corporation | Soft vacuum electron beam patterning apparatus and process |
JPH0817171B2 (ja) * | 1990-12-31 | 1996-02-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | プラズマ発生装置およびそれを用いたエッチング方法 |
DE4232998A1 (de) * | 1992-10-01 | 1994-04-07 | Basf Ag | Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Kunststoffteilen |
US5612588A (en) * | 1993-05-26 | 1997-03-18 | American International Technologies, Inc. | Electron beam device with single crystal window and expansion-matched anode |
US5414267A (en) | 1993-05-26 | 1995-05-09 | American International Technologies, Inc. | Electron beam array for surface treatment |
CH685755A5 (de) | 1993-06-03 | 1995-09-29 | Tetra Pak Suisse Sa | Verfahren zur Herstellung eines Schichtstoffes. |
US5909032A (en) | 1995-01-05 | 1999-06-01 | American International Technologies, Inc. | Apparatus and method for a modular electron beam system for the treatment of surfaces |
WO1997013266A2 (en) * | 1995-06-19 | 1997-04-10 | The University Of Tennessee Research Corporation | Discharge methods and electrodes for generating plasmas at one atmosphere of pressure, and materials treated therewith |
US5637953A (en) | 1996-01-22 | 1997-06-10 | American International Technologies, Inc. | Cathode assembly for a line focus electron beam device |
DE19644150A1 (de) * | 1996-10-24 | 1998-04-30 | Roland Dr Gesche | Magnetfeldunterstütztes Reinigen, Entfetten und Aktivieren mit Niederdruck-Gasentladungen |
-
1999
- 1999-08-23 US US09/379,543 patent/US6239543B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-07-06 EP EP00955916A patent/EP1218916A4/en not_active Withdrawn
- 2000-07-06 KR KR1020027002281A patent/KR100670714B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-07-06 JP JP2001519466A patent/JP2003508874A/ja active Pending
- 2000-07-06 AU AU68035/00A patent/AU6803500A/en not_active Abandoned
- 2000-07-06 WO PCT/US2000/040309 patent/WO2001015199A1/en not_active Application Discontinuation
- 2000-08-05 TW TW089115800A patent/TW457511B/zh active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009526971A (ja) * | 2006-02-14 | 2009-07-23 | アドバンスト・エレクトロン・ビームズ・インコーポレーテッド | 電子ビーム照射器 |
WO2013054539A1 (ja) * | 2011-10-13 | 2013-04-18 | 岩崎電気株式会社 | 電子線照射による不活化方法および処理装置 |
JP2013099521A (ja) * | 2011-10-13 | 2013-05-23 | Shikoku Kakoki Co Ltd | 電子線照射による不活化方法および処理装置 |
JP2014204814A (ja) * | 2013-04-12 | 2014-10-30 | 四国化工機株式会社 | 電子線照射による不活化方法および処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW457511B (en) | 2001-10-01 |
WO2001015199A1 (en) | 2001-03-01 |
EP1218916A1 (en) | 2002-07-03 |
KR20020026594A (ko) | 2002-04-10 |
AU6803500A (en) | 2001-03-19 |
KR100670714B1 (ko) | 2007-01-18 |
US6239543B1 (en) | 2001-05-29 |
EP1218916A4 (en) | 2002-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003508874A (ja) | 界面化学のための電子ビームプラズマ形成 | |
US7446479B2 (en) | High-density plasma source | |
US6805779B2 (en) | Plasma generation using multi-step ionization | |
US6113851A (en) | Apparatus and process for dry sterilization of medical and dental devices and materials | |
US7750575B2 (en) | High density plasma source | |
WO2004042774A1 (en) | Methods and apparatus for generating high-density plasma | |
JPH01502203A (ja) | クラスタービームを用いたエネルギー強化表面反応 | |
JPS62102533A (ja) | プラズマ装置 | |
KR20110118622A (ko) | 자체 세정 애노드를 포함하는 폐쇄 드리프트 자계 이온 소스 장치와 이 장치를 사용하여 기판을 개질하는 방법 | |
WO2004102610A2 (en) | Generation of uniformly-distributed plasma | |
WO2004040615A2 (en) | High-power pulsed magnetically enhanced plasma processing | |
US7553446B1 (en) | Biological agent decontamination system and method | |
JPH07501654A (ja) | 帯電粒子の加速方法および粒子加速器 | |
JP2003073814A (ja) | 製膜装置 | |
WO2004008510A1 (ja) | 基板の表面処理方法 | |
KR900019219A (ko) | 빔 디포지션법 및 이를 실시하기 위한 장치 | |
KR100428619B1 (ko) | 기판내에저선량의이온을주입하는방법및장치 | |
JP2001148340A (ja) | 荷電粒子ビーム露光方法及び装置 | |
Vasilieva et al. | Hybrid Plasma–Prospects for Application in Medicine and Biology | |
Kazakov et al. | Formation of emission plasma by a constricted arc discharge in a pulsed forevacuum plasma-cathode electron source | |
JPS58205541A (ja) | 蒸着装置 | |
JPH03112100A (ja) | 高速原子線放射装置 | |
JPS60165721A (ja) | 反応性イオンビ−ムエツチング方法 | |
JPH0738167U (ja) | 薄膜形成装置 | |
WO2004095498A2 (en) | High-density plasma source using excited atoms |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20040903 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080219 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080624 |