JP2003504512A - ファブリック形態のカーボンナノファイバー層のサイクロトロン共鳴プラズマによる蒸着方法と装置及び得られたファブリック層 - Google Patents
ファブリック形態のカーボンナノファイバー層のサイクロトロン共鳴プラズマによる蒸着方法と装置及び得られたファブリック層Info
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Abstract
(57)【要約】
本発明は、触媒なしの基板上にカーボンナノファイバー又はナノチューブをファイバー形態で電子サイクロトロン共鳴プラズマによって蒸着させる方法と装置であって、高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造と、内部の上記基板の反対側の少なくとも一つの電子サイクロトロン共鳴ゾーンとを有する蒸着チャンバー内にマイクロ波出力を注入し、10−4mbar未満の圧力で蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラーにて炭素含有ガスをイオン化及び/又は解離させ、それによって加熱されている上記基板上に蒸着される種を生成する方法と装置に関する。本発明は更に蜘蛛の巣のような互いに連結されたカーボンナノファイバー又はナノチューブのファブリック又はアレイからなり、基板上にあってもよい層に関し、該層は触媒を含まず、ファブリック形態のカーボンナノファイバー又はナノチューブの少なくとも二層を含んでなる複数の層又は多層構造を有し、及びそのような層又は構造を有するフィルター、電子加速又は減速ナノグリッド及びフラットスクリーンに関する。
Description
【0001】
本発明はカーボンナノファイバーウエブの膜を電子サイクロトロン共鳴プラズ
マによって蒸着するための方法と装置に関する。 また、本発明はこのようにして得られたウエブの膜に関する。 本願の技術分野は、一般的に、基板上にカーボン膜を蒸着させるものと定めら
れうる。
マによって蒸着するための方法と装置に関する。 また、本発明はこのようにして得られたウエブの膜に関する。 本願の技術分野は、一般的に、基板上にカーボン膜を蒸着させるものと定めら
れうる。
【0002】
このような膜は、特に、電子を照射する炭素の膜であるが、我々は、目的がダ
イヤモンド膜を合成することであり、有利には一般に400℃と1000℃の間
の温度で、又は特にその機械的性質のために高レベルのC−Csp3結合を持つ
DLC(「ダイヤモンド状カーボン」)タイプのカーボン膜を一般には低温(2
0℃から400℃)で、ダイヤモンドの機械的、光学的及び電気的性質を使用す
る方法をまた探求した。 このような膜は主としてアモルファスである。
イヤモンド膜を合成することであり、有利には一般に400℃と1000℃の間
の温度で、又は特にその機械的性質のために高レベルのC−Csp3結合を持つ
DLC(「ダイヤモンド状カーボン」)タイプのカーボン膜を一般には低温(2
0℃から400℃)で、ダイヤモンドの機械的、光学的及び電気的性質を使用す
る方法をまた探求した。 このような膜は主としてアモルファスである。
【0003】
より正確には、本願は、特にナノチューブ又はナノファイバーから形成された
カーボン膜の調製に関する。 明細書の終わりの表Iは、主に電子放出炭素を蒸着するために使用されるカー
ボン膜を真空下で蒸着させる異なった装置と方法を示している。 この表は二つの異なった範疇の蒸着方法を明らかにしている。
カーボン膜の調製に関する。 明細書の終わりの表Iは、主に電子放出炭素を蒸着するために使用されるカー
ボン膜を真空下で蒸着させる異なった装置と方法を示している。 この表は二つの異なった範疇の蒸着方法を明らかにしている。
【0004】
第一の範疇は、有機分子(しばしばメタン)のガスが、水素と共に又は水素な
しで、混合物として、例えば熱フィラメントの使用、マイクロ波出力の導入、無
線周波数(RF)分極化の使用又は電子サイクロトロン共鳴(ECR)の使用で
の電子衝撃によってC−C、C−H及びH−H結合を破壊することを可能にする
装置に導入されるCVD法(「化学蒸着」)を含む。 使用される装置に依存して、操作圧は高いか(フィラメント、マイクロ波、無
線周波数)低い(ECR、RF)。結果は粒子の解離とイオン化であり、圧力が
減少すると増加する。ガスを固体に転換する反応のために供給が必要なエネルギ
ーは有機分子の共有結合(例えばCH4)の破壊によってかなり減少する。 よって、低い基板温度(例えば800℃の代わりに400℃)でグラファイト
又はダイヤモンドタイプの結晶化構造を得ることができる。また基板の分極化に
より、低い温度での結晶化が有利なものとなり、様々な種類の基板の使用が可能
になる。
しで、混合物として、例えば熱フィラメントの使用、マイクロ波出力の導入、無
線周波数(RF)分極化の使用又は電子サイクロトロン共鳴(ECR)の使用で
の電子衝撃によってC−C、C−H及びH−H結合を破壊することを可能にする
装置に導入されるCVD法(「化学蒸着」)を含む。 使用される装置に依存して、操作圧は高いか(フィラメント、マイクロ波、無
線周波数)低い(ECR、RF)。結果は粒子の解離とイオン化であり、圧力が
減少すると増加する。ガスを固体に転換する反応のために供給が必要なエネルギ
ーは有機分子の共有結合(例えばCH4)の破壊によってかなり減少する。 よって、低い基板温度(例えば800℃の代わりに400℃)でグラファイト
又はダイヤモンドタイプの結晶化構造を得ることができる。また基板の分極化に
より、低い温度での結晶化が有利なものとなり、様々な種類の基板の使用が可能
になる。
【0005】
蒸着方法の第二の範疇は、PVD法(物理蒸着)と呼ばれる、炭素原子又はイ
オンの直接の蒸着を含み、アーク、レーザーアブレーション、イオンビーム又は
蒸発によりグラファイトターゲットに噴霧することにより達成される方法をグル
ープ化している。 所定の温度における膜の品質と構造は主として入射炭素イオン又は原子のエネ
ルギーに依存している。 本願の範囲にある我々にとって特に興味深いナノチューブ又はナノファイバー
膜の製造の場合にもまた上述のPVD及びCVD法が使用される。
オンの直接の蒸着を含み、アーク、レーザーアブレーション、イオンビーム又は
蒸発によりグラファイトターゲットに噴霧することにより達成される方法をグル
ープ化している。 所定の温度における膜の品質と構造は主として入射炭素イオン又は原子のエネ
ルギーに依存している。 本願の範囲にある我々にとって特に興味深いナノチューブ又はナノファイバー
膜の製造の場合にもまた上述のPVD及びCVD法が使用される。
【0006】
しかして、文献(18)及び(19)はレーザーアブレーション又は電気アー
クによるC0炭素原子の直接供給でのPVD法によってカーボンナノチューブを
製造する方法に関している。文献(18)は、より正確には、高圧(50−15
20torr)のヘリウム中の二つのグラファイト電極間のアークによる蒸発を使用
してカーボンナノチューブを製造する方法を記載している。白金族金属の二元混
合物、例えばロジウムと白金が触媒として使用されている。 文献(19)の目的は、100torrでアルゴンが満たされた密閉チャンバー内
における炭素電極を用いるアーク放電での蒸発によるピン状のチューブタイプ炭
素構造の合成である。
クによるC0炭素原子の直接供給でのPVD法によってカーボンナノチューブを
製造する方法に関している。文献(18)は、より正確には、高圧(50−15
20torr)のヘリウム中の二つのグラファイト電極間のアークによる蒸発を使用
してカーボンナノチューブを製造する方法を記載している。白金族金属の二元混
合物、例えばロジウムと白金が触媒として使用されている。 文献(19)の目的は、100torrでアルゴンが満たされた密閉チャンバー内
における炭素電極を用いるアーク放電での蒸発によるピン状のチューブタイプ炭
素構造の合成である。
【0007】
ナノチューブ又はナノファイバーはまたアセチレン又はメタンのような有機分
子の接触(触媒による)脱水素化を介してCVD法により製造できる。 使用される装置は熱フィラメント、無線周波数システム又は高圧のマイクロ波
の注入を利用し、これが原子水素及びラジカル又はイオン、例えばCH3 +、C
H3 0、CH0等々を生じる。 しかし、ランダムで構造化されていない蒸着物ではなくカーボンナノファイバ
ー又はナノチューブの真に構造化された構造物を形成することがこれまでは探求
されてきていることが指摘される。 しかして、文献(15)には、アセチレンと窒素の混合ガスからアセチレンの
分解からの炭素のPECVD(プラズマ増強化学蒸着)に基づく方法を使用する
整列されたカーボンナノチューブの合成が記載されており、蒸着は基板を形成す
る多孔性シリカ内に閉じこめられた鉄の微粒子により触媒されている。
子の接触(触媒による)脱水素化を介してCVD法により製造できる。 使用される装置は熱フィラメント、無線周波数システム又は高圧のマイクロ波
の注入を利用し、これが原子水素及びラジカル又はイオン、例えばCH3 +、C
H3 0、CH0等々を生じる。 しかし、ランダムで構造化されていない蒸着物ではなくカーボンナノファイバ
ー又はナノチューブの真に構造化された構造物を形成することがこれまでは探求
されてきていることが指摘される。 しかして、文献(15)には、アセチレンと窒素の混合ガスからアセチレンの
分解からの炭素のPECVD(プラズマ増強化学蒸着)に基づく方法を使用する
整列されたカーボンナノチューブの合成が記載されており、蒸着は基板を形成す
る多孔性シリカ内に閉じこめられた鉄の微粒子により触媒されている。
【0008】
走査型電子顕微鏡により得られた画像は、ナノチューブがシリカの表面に顕著
に直交しており、約50ミクロンの長さと約100ナノメーターの間隙によって
互いに分離されたチューブの列を形成していることを示している。 文献(16)はまた熱フィラメントを使用する、PECVD法による多結晶ニ
ッケル基板の成長を記載している。カーボンナノチューブは10から500nm
の直径と0.1から50ミクロンの長さを有している。アセチレンが炭素源とし
て使用され、アンモニアが希釈ガスとしてかつ触媒作用用に使用されている。
に直交しており、約50ミクロンの長さと約100ナノメーターの間隙によって
互いに分離されたチューブの列を形成していることを示している。 文献(16)はまた熱フィラメントを使用する、PECVD法による多結晶ニ
ッケル基板の成長を記載している。カーボンナノチューブは10から500nm
の直径と0.1から50ミクロンの長さを有している。アセチレンが炭素源とし
て使用され、アンモニアが希釈ガスとしてかつ触媒作用用に使用されている。
【0009】
文献(17)は900℃から1000℃の基板温度でマイクロ波を使用する、
メタンと水素の混合物からの、CVDによるシリコン基板上のカーボンナノチュ
ーブ膜の成長に関する。ナノチューブを成長させる触媒シードとして作用させる
ために基板上に鉄又はニッケルが前もって蒸着されている。 上述の何れの方法でも、カーボンナノファイバー又はナノチューブの組織化さ
れた構造を、蜘蛛の巣(2D構造)を形成するようにチューブ間の強い結合を持
たせて形成することはできない。 我々はナノファイバー又はナノチューブの整列は確かに得られるが(15)(
16)、特別な注意を払わないと、カーボンナノチューブがしばしばランダムで
組織化されていない形で、チューブ間のC−C結合がないフィラメント又はスパ
イクの寄せ集め構造(1D構造)の形態で成長する(17)ことが分かった。
メタンと水素の混合物からの、CVDによるシリコン基板上のカーボンナノチュ
ーブ膜の成長に関する。ナノチューブを成長させる触媒シードとして作用させる
ために基板上に鉄又はニッケルが前もって蒸着されている。 上述の何れの方法でも、カーボンナノファイバー又はナノチューブの組織化さ
れた構造を、蜘蛛の巣(2D構造)を形成するようにチューブ間の強い結合を持
たせて形成することはできない。 我々はナノファイバー又はナノチューブの整列は確かに得られるが(15)(
16)、特別な注意を払わないと、カーボンナノチューブがしばしばランダムで
組織化されていない形で、チューブ間のC−C結合がないフィラメント又はスパ
イクの寄せ集め構造(1D構造)の形態で成長する(17)ことが分かった。
【0010】
相互の連結を成長させる目的で、ナノ粒子の触媒を添加する試みがなされたけ
れども(18)、この場合もチューブ間に強いC−C結合がない無秩序でランダ
ムな構造がまた得られている。 また、上述の何れの方法も、ナノチューブの膜を調製することを可能にするも
のではなく、更に、カーボンナノファイバー又はナノチューブの組織化された構
造、例えば触媒なしに有機分子から直接得たナノファイバー又はナノチューブの
ウエブを可能にはしない。 最後に、何れの方法も大きな表面、換言すれば一般に1m2以上にわたってナ
ノファイバー又はナノチューブを蒸着することを可能にするものではない。 従って、比較的低い温度で大きな領域にわたってナノ構造の蒸着を可能にする
、触媒を必要としないカーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブを蒸着
させる方法に対して必要性がある。
れども(18)、この場合もチューブ間に強いC−C結合がない無秩序でランダ
ムな構造がまた得られている。 また、上述の何れの方法も、ナノチューブの膜を調製することを可能にするも
のではなく、更に、カーボンナノファイバー又はナノチューブの組織化された構
造、例えば触媒なしに有機分子から直接得たナノファイバー又はナノチューブの
ウエブを可能にはしない。 最後に、何れの方法も大きな表面、換言すれば一般に1m2以上にわたってナ
ノファイバー又はナノチューブを蒸着することを可能にするものではない。 従って、比較的低い温度で大きな領域にわたってナノ構造の蒸着を可能にする
、触媒を必要としないカーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブを蒸着
させる方法に対して必要性がある。
【0011】
よって、本発明の目的は、とりわけ上述の全ての要求に合致するカーボンナノ
ファイバー又はナノチューブのウエブを蒸着させる方法を提供することである。 本発明の目的はまた先行技術の方法の不具合、欠点及び制限を持たず、先行技
術の課題を解決するカーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブを蒸着さ
せる方法を提供することである。 この目的と他の目的は、本発明によれば、触媒なしで基板上にカーボンナノフ
ァイバー又はナノチューブのウエブを電子サイクロトロン共鳴プラズマによって
蒸着させる方法であって、高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造と、内部の
上記基板の反対側に少なくとも一つの電子サイクロトロン共鳴ゾーンとを有する
蒸着チャンバー内にマイクロ波出力を注入し、10−4mbar未満の圧力で炭
素含有ガスのイオン化及び/又は解離を蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラー
に誘発させ、加熱されている上記基板上に蒸着する種を生成する方法によって、
達成される。
ファイバー又はナノチューブのウエブを蒸着させる方法を提供することである。 本発明の目的はまた先行技術の方法の不具合、欠点及び制限を持たず、先行技
術の課題を解決するカーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブを蒸着さ
せる方法を提供することである。 この目的と他の目的は、本発明によれば、触媒なしで基板上にカーボンナノフ
ァイバー又はナノチューブのウエブを電子サイクロトロン共鳴プラズマによって
蒸着させる方法であって、高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造と、内部の
上記基板の反対側に少なくとも一つの電子サイクロトロン共鳴ゾーンとを有する
蒸着チャンバー内にマイクロ波出力を注入し、10−4mbar未満の圧力で炭
素含有ガスのイオン化及び/又は解離を蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラー
に誘発させ、加熱されている上記基板上に蒸着する種を生成する方法によって、
達成される。
【0012】
より詳細には、上記方法は、次の工程を含む:
− 基板を加熱し、
− 炭素含有ガスの10−4mbar以下の圧力を確立し、
− マイクロ波出力を注入し、上記炭素含有ガスから、電子サイクロトロン共鳴
に相当する磁場値に対するプラズマを生成し、 − プラズマと基板の間に電位差をつくり出し、 − 蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラーで分子を解離及び/又はイオン化さ
せ、 − 上記基板上に形成された種を蒸着して、カーボンナノファイバー又はナノチ
ューブのウエブを得る。 本発明の特に好適な実施態様では、上記工程が同時に実施される。 実際、本発明に係る方法は、二つの極端な方法、すなわちPVD(物理蒸着)
とCVD(化学蒸着)の間に位置させることができ、これらの二つの方法を、そ
の不具合を持たないように折衷させた優れた方法を構成している。 本発明に係る方法は上述の要求に合致し、先行技術の方法の課題を解決し、特
に、先行技術のナノファイバー又はナノチューブを蒸着させる方法とは異なり、
特定のECRプラズマを用いる本発明に係る方法は蒸着物を例えば1m2より大
なる非常に広い表面に形成することを可能にする。
に相当する磁場値に対するプラズマを生成し、 − プラズマと基板の間に電位差をつくり出し、 − 蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラーで分子を解離及び/又はイオン化さ
せ、 − 上記基板上に形成された種を蒸着して、カーボンナノファイバー又はナノチ
ューブのウエブを得る。 本発明の特に好適な実施態様では、上記工程が同時に実施される。 実際、本発明に係る方法は、二つの極端な方法、すなわちPVD(物理蒸着)
とCVD(化学蒸着)の間に位置させることができ、これらの二つの方法を、そ
の不具合を持たないように折衷させた優れた方法を構成している。 本発明に係る方法は上述の要求に合致し、先行技術の方法の課題を解決し、特
に、先行技術のナノファイバー又はナノチューブを蒸着させる方法とは異なり、
特定のECRプラズマを用いる本発明に係る方法は蒸着物を例えば1m2より大
なる非常に広い表面に形成することを可能にする。
【0013】
本発明に係る方法では、非常に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造の実施のた
めに閉じこめられた(confining)供給源である特定のECRプラズマ供給源が
使用される。 更に、通常のECRプラズマ法(20)とは異なり、ECR電子サイクロトロ
ン共鳴ゾーンは、本発明では、蒸着チャンバー自体の内部であって基板の反対側
に位置させられ、よってチャンバーと一体にされているので、ECRプラズマ反
応チャンバーと蒸着チャンバーの間が分離していない。 ついで、本発明に係る方法では、特定の閉じこめられた上記ECRプラズマ供
給源は、非常に低い圧力で、一般には10−4mbar未満で使用される。 本発明に係る方法において、カーボンナノファイバー又はナノチューブのウエ
ブ又は蜘蛛の巣のように連結されたカーボンナノファイバー又はチューブの網目
構造から形成された膜を得るために有機分子を強く解離させることができるのは
、本質的にはこの特定の閉じこめられたECRプラズマ供給源とこの非常に低い
圧力の組み合わせである。
めに閉じこめられた(confining)供給源である特定のECRプラズマ供給源が
使用される。 更に、通常のECRプラズマ法(20)とは異なり、ECR電子サイクロトロ
ン共鳴ゾーンは、本発明では、蒸着チャンバー自体の内部であって基板の反対側
に位置させられ、よってチャンバーと一体にされているので、ECRプラズマ反
応チャンバーと蒸着チャンバーの間が分離していない。 ついで、本発明に係る方法では、特定の閉じこめられた上記ECRプラズマ供
給源は、非常に低い圧力で、一般には10−4mbar未満で使用される。 本発明に係る方法において、カーボンナノファイバー又はナノチューブのウエ
ブ又は蜘蛛の巣のように連結されたカーボンナノファイバー又はチューブの網目
構造から形成された膜を得るために有機分子を強く解離させることができるのは
、本質的にはこの特定の閉じこめられたECRプラズマ供給源とこの非常に低い
圧力の組み合わせである。
【0014】
本発明に従ってつくり出されるECRプラズマは、一度導入されると、持続し
、それ自身で安定化する定常の安定なプラズマである。あらゆる可能な解離が終
わるまで、分子の完全な解離が得られる。例えば、メタンは解離してCo種を生
成する。 より正確には、増加するのはプラズマ粒子の寿命であり、プラズマの寿命では
ないと言える。 換言すれば、この顕著な磁気の閉じこめにより、蒸着チャンバーの中心の磁気
ミラーに磁場線に沿って捕捉されて残る電子とイオンの寿命を増加させることが
できる。プラズマ中の分子の解離とイオン化のレベルはよって次のタイプの電子
衝突によって増加する: CH4+e→CH3 ++H0+e+e CH4+e→CH3 0+H0+e CH0+e→C0+H0+e、等々
、それ自身で安定化する定常の安定なプラズマである。あらゆる可能な解離が終
わるまで、分子の完全な解離が得られる。例えば、メタンは解離してCo種を生
成する。 より正確には、増加するのはプラズマ粒子の寿命であり、プラズマの寿命では
ないと言える。 換言すれば、この顕著な磁気の閉じこめにより、蒸着チャンバーの中心の磁気
ミラーに磁場線に沿って捕捉されて残る電子とイオンの寿命を増加させることが
できる。プラズマ中の分子の解離とイオン化のレベルはよって次のタイプの電子
衝突によって増加する: CH4+e→CH3 ++H0+e+e CH4+e→CH3 0+H0+e CH0+e→C0+H0+e、等々
【0015】
低い圧力は電子エネルギーを増加させ、再結合を減少させる。
蒸着された炭素は一般には、少しの割合のsp3結合と多くの割合、例えば8
0%を越えるsp2結合を持つグラファイト型炭素である。 本発明によれば、驚いたことに、本発明によらない圧力、換言すれば10−4 mbarを越える圧力では、実際にそのような炭素膜の成長はないが、他方では
時にはカリフラワー又は溶岩塊の形態を持つ様々な寸法のグラファイト又はダイ
ヤモンドの粒子の外観を呈することが分かった。 上述の構造を持ち触媒のないカーボンファイバーの膜は先行技術の方法では決
して得られなかった。 更に、本発明に係る方法の本質的な利点では、ウエブ様膜の構造が、金属、例
えばニッケル、コバルト又は他の金属のような触媒を必要としないで有機化合物
から直接得られることである。
0%を越えるsp2結合を持つグラファイト型炭素である。 本発明によれば、驚いたことに、本発明によらない圧力、換言すれば10−4 mbarを越える圧力では、実際にそのような炭素膜の成長はないが、他方では
時にはカリフラワー又は溶岩塊の形態を持つ様々な寸法のグラファイト又はダイ
ヤモンドの粒子の外観を呈することが分かった。 上述の構造を持ち触媒のないカーボンファイバーの膜は先行技術の方法では決
して得られなかった。 更に、本発明に係る方法の本質的な利点では、ウエブ様膜の構造が、金属、例
えばニッケル、コバルト又は他の金属のような触媒を必要としないで有機化合物
から直接得られることである。
【0016】
本発明に係る高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造は、磁場がマイクロ波
注入において最大(Bmax)であり、ついで磁場が蒸着チャンバーの中央で最
小(Bmin)であり、最後に磁場は基板上で増加する(B基板)ものである。 換言すれば、注入では上流に強い磁気ミラーを、下流、換言すれば基板レベル
に弱い磁気ミラーを含む。 好適には、本発明では、r1=Bmax/Bminによって定義されるマイク
ロ波注入における上流のミラー比は4より大きい。 この高いミラー比により、イオン化粒子(イオン及び電子)を減少勾配の影響
下で基板に向けて拡散させることができる。
注入において最大(Bmax)であり、ついで磁場が蒸着チャンバーの中央で最
小(Bmin)であり、最後に磁場は基板上で増加する(B基板)ものである。 換言すれば、注入では上流に強い磁気ミラーを、下流、換言すれば基板レベル
に弱い磁気ミラーを含む。 好適には、本発明では、r1=Bmax/Bminによって定義されるマイク
ロ波注入における上流のミラー比は4より大きい。 この高いミラー比により、イオン化粒子(イオン及び電子)を減少勾配の影響
下で基板に向けて拡散させることができる。
【0017】
好適には、r2=B基板/Bminによって定義される基板に向けて下流のミ
ラー比は、1.5以上であり、例えば約1.5に等しい。 好ましくは、本発明では、基板は、成長に必要な活性化エネルギーを提供する
ために、500℃から750℃、好ましくは550℃から700℃の温度まで加
熱される。 基板は電子照射又は外部加熱によって加熱されてもよい;電子は基板によって
吸引されるプラズマのものである。 基板は、その変形温度が操作温度よりも大きい、例えばガラス又はシリコンの
ような広範な材料から選択されうる。 基板は導体である必要はない。何れにしても、加えられた電位を確立するのは
導電性炭素膜である。
ラー比は、1.5以上であり、例えば約1.5に等しい。 好ましくは、本発明では、基板は、成長に必要な活性化エネルギーを提供する
ために、500℃から750℃、好ましくは550℃から700℃の温度まで加
熱される。 基板は電子照射又は外部加熱によって加熱されてもよい;電子は基板によって
吸引されるプラズマのものである。 基板は、その変形温度が操作温度よりも大きい、例えばガラス又はシリコンの
ような広範な材料から選択されうる。 基板は導体である必要はない。何れにしても、加えられた電位を確立するのは
導電性炭素膜である。
【0018】
本発明では、圧力は、電子エネルギーを増加させ再結合を低減するために、好
ましくは8・10−5mbar以下に維持される。 炭素含有ガスは、如何なる形態の炭素でも含みうる;あらゆる有機分子が許容
できる。 本発明では、炭素含有ガスは、例えばメタン、エタン、エチレン、アセチレン
、及び如何なる割合でも場合によっては水素が補填された混合物である。 好適には、マイクロ波出力の注入は、ECRに対応するBの磁場値で2.45
GHzの周波数、メタンタイプのガスに対して約875ガウスで生じる 一般には、基板は、例えば+20ボルトから+100ボルトで、正に分極化さ
れていて、本発明における触媒なしの成長に好適な電子の流れがあり、プラズマ
はフレームに連結されている。 他の可能性はプラズマを例えば−20ボルトから−100ボルトで負に分極化
することからなり、基板がフレームに連結される。
ましくは8・10−5mbar以下に維持される。 炭素含有ガスは、如何なる形態の炭素でも含みうる;あらゆる有機分子が許容
できる。 本発明では、炭素含有ガスは、例えばメタン、エタン、エチレン、アセチレン
、及び如何なる割合でも場合によっては水素が補填された混合物である。 好適には、マイクロ波出力の注入は、ECRに対応するBの磁場値で2.45
GHzの周波数、メタンタイプのガスに対して約875ガウスで生じる 一般には、基板は、例えば+20ボルトから+100ボルトで、正に分極化さ
れていて、本発明における触媒なしの成長に好適な電子の流れがあり、プラズマ
はフレームに連結されている。 他の可能性はプラズマを例えば−20ボルトから−100ボルトで負に分極化
することからなり、基板がフレームに連結される。
【0019】
本発明はまた触媒を用いないで基板へカーボンナノファイバーウエブの膜を電
子サイクロトロン共鳴プラズマにより蒸着する装置に関し、上記装置は、 − 蒸着チャンバー − 上記蒸着チャンバー内に高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造をつくり
出す手段 − 上記蒸着チャンバーの内部内であって上記基板の反対側の電子サイクロトロ
ン共鳴ゾーン − 上記蒸着チャンバー内にマイクロ波出力を注入する手段 − 上記蒸着チャンバーの内部内に炭素含有ガスの10−4mbarの圧力をつ
くり出す手段、 を具備する。 本発明に係る装置は、基板が基板に照射するプラズマの電子により十分には加
熱されていないならば、基板を加熱する手段を更に含んでいてもよい。 本発明に係る装置は、プラズマと基板の間に電位差をつくり出す手段を更に含
んでいてもよい。
子サイクロトロン共鳴プラズマにより蒸着する装置に関し、上記装置は、 − 蒸着チャンバー − 上記蒸着チャンバー内に高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造をつくり
出す手段 − 上記蒸着チャンバーの内部内であって上記基板の反対側の電子サイクロトロ
ン共鳴ゾーン − 上記蒸着チャンバー内にマイクロ波出力を注入する手段 − 上記蒸着チャンバーの内部内に炭素含有ガスの10−4mbarの圧力をつ
くり出す手段、 を具備する。 本発明に係る装置は、基板が基板に照射するプラズマの電子により十分には加
熱されていないならば、基板を加熱する手段を更に含んでいてもよい。 本発明に係る装置は、プラズマと基板の間に電位差をつくり出す手段を更に含
んでいてもよい。
【0020】
既に指摘されたように、本発明に係る装置は、ECRゾーンが蒸着チャンバー
内に一体化されているので、主としてプラズマ生成チャンバー、拡散及び蒸着チ
ャンバーの間が分離されていないという点で先行技術(20)のECRプラズマ
装置より卓越している。 本発明はまた蜘蛛の巣のような互いに連結されたカーボンナノファイバー又は
ナノチューブのウエブ又は網目構造からなる、基板上にあってもよい膜に関し、
上記膜は更に触媒がない。 このタイプのウエブ様膜構造は先行技術の方法によっては決して得られず、特
定の限定されたECRプラズマ供給源と10−4mbar未満の低圧力の使用す
る、触媒のない本発明の方法により、初めて製造されうる。
内に一体化されているので、主としてプラズマ生成チャンバー、拡散及び蒸着チ
ャンバーの間が分離されていないという点で先行技術(20)のECRプラズマ
装置より卓越している。 本発明はまた蜘蛛の巣のような互いに連結されたカーボンナノファイバー又は
ナノチューブのウエブ又は網目構造からなる、基板上にあってもよい膜に関し、
上記膜は更に触媒がない。 このタイプのウエブ様膜構造は先行技術の方法によっては決して得られず、特
定の限定されたECRプラズマ供給源と10−4mbar未満の低圧力の使用す
る、触媒のない本発明の方法により、初めて製造されうる。
【0021】
換言すれば、本発明では、ウエブ(「ナノウエブ」)として定義されうるカー
ボンファイバー又はチューブの単一構造が形成される。 特に金属、例えばニッケル、コバルト等々のような触媒ナノ粒子からつくられ
るナノチューブとは異なり、本発明においては、驚いたことに触媒を全く用いな
いで、蜘蛛の巣のような相互に連結されたカーボンナノファイバーの網目構造を
得る。 本発明に係る膜構造は、規則的なファイバー構造であり、膜がとりわけ汚れ、
触媒で汚染される先行技術のようにランダムで不規則な構造ではない。 「触媒がない」とは、本発明では、膜が触媒として定義されうる元素を含まな
いことを意味し、これらの元素は主として金属、例えばニッケル、コバルト、鉄
であり、あるいはこれらの元素は微量で又は通常の不純物として存在する。
ボンファイバー又はチューブの単一構造が形成される。 特に金属、例えばニッケル、コバルト等々のような触媒ナノ粒子からつくられ
るナノチューブとは異なり、本発明においては、驚いたことに触媒を全く用いな
いで、蜘蛛の巣のような相互に連結されたカーボンナノファイバーの網目構造を
得る。 本発明に係る膜構造は、規則的なファイバー構造であり、膜がとりわけ汚れ、
触媒で汚染される先行技術のようにランダムで不規則な構造ではない。 「触媒がない」とは、本発明では、膜が触媒として定義されうる元素を含まな
いことを意味し、これらの元素は主として金属、例えばニッケル、コバルト、鉄
であり、あるいはこれらの元素は微量で又は通常の不純物として存在する。
【0022】
より正確には、本発明に係る膜は、強い炭素結合により互いに結合された炭素
のナノセグメントから形成されており、先行技術のナノファイバー又はナノチュ
ーブ構造とは異なる形態を構成する。 本発明では、蒸着炭素は、少ない割合のsp3結合と多くの割合、例えば80
%より多いsp2結合を持つグラファイト型炭素である。 「ナノ構造(nano-architecture)」又は「ナノウエブ」は一般には本発明に
係る膜のウエブ又は網目構造が一又は数十nmから一又は数百nm、例えば20
から200nmの平均メッシュサイズを有していることを意味する。 好ましくは、平均メッシュサイズは100nmである。 同様にして、ナノチューブ又はナノファイバーは一般にファイバー又はチュー
ブの直径が一又は数nmから一又は数十nm、例えば1から100nm、好まし
くは20nmであることを意味している。
のナノセグメントから形成されており、先行技術のナノファイバー又はナノチュ
ーブ構造とは異なる形態を構成する。 本発明では、蒸着炭素は、少ない割合のsp3結合と多くの割合、例えば80
%より多いsp2結合を持つグラファイト型炭素である。 「ナノ構造(nano-architecture)」又は「ナノウエブ」は一般には本発明に
係る膜のウエブ又は網目構造が一又は数十nmから一又は数百nm、例えば20
から200nmの平均メッシュサイズを有していることを意味する。 好ましくは、平均メッシュサイズは100nmである。 同様にして、ナノチューブ又はナノファイバーは一般にファイバー又はチュー
ブの直径が一又は数nmから一又は数十nm、例えば1から100nm、好まし
くは20nmであることを意味している。
【0023】
カーボンファイバーウエブのメッシュサイズは、メタンのようなガスの圧力が
例えば8・10−5から6・10−5mbarと減少した場合に増加する。 本発明に係る膜の厚みは一般に一又は数nmから一又は数十nm、例えば1か
ら100nmである。 本発明はまた、基板上にあってもよい本発明に係るカーボンナノファイバー又
はナノチューブウエブの少なくとも2つの膜を含む幾つかの層を持つ構造(多層
構造)に関する。 このタイプの構造は用途によって要求されるだけ多くの膜を含み得、一般に一
又は数十nmから一又は数百nm、例えば2から200nmの厚みを有しうる。 上述の膜又は多層構造が形成されている構造は上述の基板の任意のものから選
択することができる;それは例えばホウケイ酸ガラス又はシリコンのようなガラ
スでありうる。
例えば8・10−5から6・10−5mbarと減少した場合に増加する。 本発明に係る膜の厚みは一般に一又は数nmから一又は数十nm、例えば1か
ら100nmである。 本発明はまた、基板上にあってもよい本発明に係るカーボンナノファイバー又
はナノチューブウエブの少なくとも2つの膜を含む幾つかの層を持つ構造(多層
構造)に関する。 このタイプの構造は用途によって要求されるだけ多くの膜を含み得、一般に一
又は数十nmから一又は数百nm、例えば2から200nmの厚みを有しうる。 上述の膜又は多層構造が形成されている構造は上述の基板の任意のものから選
択することができる;それは例えばホウケイ酸ガラス又はシリコンのようなガラ
スでありうる。
【0024】
ひいては、本発明に係る膜又は構造は「ウエブ」とも呼ばれることに留意され
るべきである。 カーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブ又は網目構造から形成され
た本発明に係る膜は、またその特定の構造とは別に、広範囲の用途に膜を特に適
したものにする所定数の優れた性質を有している。 本発明に係るウエブ又はファイバーはグラファイトのような電導体及び耐火物
である。 しかして、それは一般には700℃を越える温度に耐える。 また、これらの膜の機械強度は優れており、これらの膜は10から20V/μ
の電界閾値の電界効果下で電子エミッターである。 更に、膜は、グラファイトのように雰囲気温度で化学的に不活性である。 最後に、初めて、膜又は多層構造の大きな面積、例えば0.25m2から1m 2 が触媒を使用しないで本発明によって形成される。
るべきである。 カーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブ又は網目構造から形成され
た本発明に係る膜は、またその特定の構造とは別に、広範囲の用途に膜を特に適
したものにする所定数の優れた性質を有している。 本発明に係るウエブ又はファイバーはグラファイトのような電導体及び耐火物
である。 しかして、それは一般には700℃を越える温度に耐える。 また、これらの膜の機械強度は優れており、これらの膜は10から20V/μ
の電界閾値の電界効果下で電子エミッターである。 更に、膜は、グラファイトのように雰囲気温度で化学的に不活性である。 最後に、初めて、膜又は多層構造の大きな面積、例えば0.25m2から1m 2 が触媒を使用しないで本発明によって形成される。
【0025】
上述の性質は、蜘蛛の巣のように相互に連結したカーボンナノファイバー又は
ナノチューブのウエブ又は網目構造から形成された本発明に係る膜及び多層構造
の数多くの可能な用途に好適に使用されうる。 よって、本発明は、基板又はグリッド上でありうる、上記膜又は上記多層構造
の少なくとも一つを有する、フィルター、特に細菌フィルター又はウイルスフィ
ルターに関する。 実際、本発明に係るカーボンナノファイバーウエブの平均メッシュサイズは最
もよく知られた細菌フィルターに対応する。更なる詳細については、読者はG. L
EYRAL, J. FIGARELLA及びM. TERRET, Microbiologie Applique, vol. 2, J. LAN
ORE出版社, p.150(液体)及びp.174(ガス)の著作物を参考にできる。 特に、液体の場合には、0.2μより大きいサイズの細菌及び粒子の殺菌濾過
に使用できるフィルターを製作することができ、0.2μは最も小さい細菌のサ
イズに相当する。
ナノチューブのウエブ又は網目構造から形成された本発明に係る膜及び多層構造
の数多くの可能な用途に好適に使用されうる。 よって、本発明は、基板又はグリッド上でありうる、上記膜又は上記多層構造
の少なくとも一つを有する、フィルター、特に細菌フィルター又はウイルスフィ
ルターに関する。 実際、本発明に係るカーボンナノファイバーウエブの平均メッシュサイズは最
もよく知られた細菌フィルターに対応する。更なる詳細については、読者はG. L
EYRAL, J. FIGARELLA及びM. TERRET, Microbiologie Applique, vol. 2, J. LAN
ORE出版社, p.150(液体)及びp.174(ガス)の著作物を参考にできる。 特に、液体の場合には、0.2μより大きいサイズの細菌及び粒子の殺菌濾過
に使用できるフィルターを製作することができ、0.2μは最も小さい細菌のサ
イズに相当する。
【0026】
本発明に係るフィルターは従って細菌フィルターとして定義される。ある種の
膜に対しては、本発明に係るフィルターはウイルスを濾過することができる。 本発明に係る膜又は多層構造は、有利な形では、大きな表面を有する。この性
質は、使用するには大きな濾過表面が利用できなければならない濾過に特に有利
に使用される。 本発明に係るフィルターでは、膜又は多層構造は、濾過を可能にするためには
、大きなメッシュサイズ、例えば数百μの剛性メッシュ、例えば金属メッシュ上
に広げられる。 本発明はまた本発明に係る少なくとも一の膜又は少なくとも一の多層構造を有
してなる電子加速器又は減速器ナノグリッドに関する。本発明に係る膜の導電性
及び耐火性特性はそのようなナノグリッドに使用される。
膜に対しては、本発明に係るフィルターはウイルスを濾過することができる。 本発明に係る膜又は多層構造は、有利な形では、大きな表面を有する。この性
質は、使用するには大きな濾過表面が利用できなければならない濾過に特に有利
に使用される。 本発明に係るフィルターでは、膜又は多層構造は、濾過を可能にするためには
、大きなメッシュサイズ、例えば数百μの剛性メッシュ、例えば金属メッシュ上
に広げられる。 本発明はまた本発明に係る少なくとも一の膜又は少なくとも一の多層構造を有
してなる電子加速器又は減速器ナノグリッドに関する。本発明に係る膜の導電性
及び耐火性特性はそのようなナノグリッドに使用される。
【0027】
更に、本発明は、基板上にありうる、本発明に係る少なくとも一の膜又は少な
くとも一の多層構造を有するフラットスクリーン、特に大きなサイズのフラット
スクリーンに関する。これらの膜又は構造が磁場効果により電子を放出し、よっ
て有利にはフラットスクリーンに現在使用されている金属マイクロドットに代わ
りうるという点が利用されうる。 上に与えられた用途は本発明に係る膜及び構造の用途のほんの幾つかの例であ
り、これは、その性質、特にその機械強度が有利に用いられる全ての分野で利用
できる。
くとも一の多層構造を有するフラットスクリーン、特に大きなサイズのフラット
スクリーンに関する。これらの膜又は構造が磁場効果により電子を放出し、よっ
て有利にはフラットスクリーンに現在使用されている金属マイクロドットに代わ
りうるという点が利用されうる。 上に与えられた用途は本発明に係る膜及び構造の用途のほんの幾つかの例であ
り、これは、その性質、特にその機械強度が有利に用いられる全ての分野で利用
できる。
【0028】
より詳細には、本発明に係る方法は、例えば図1に記載されたような装置で実
施することができる。 この装置は、中に基板(2)が存在する蒸着チャンバー(1)を本質的に具備
している。 この基板(2)は、例えば並進直線状変位手段(3)により駆動される。基板
(2)は負、正に分極化され、又はフレームに連結されていてもよい。 好ましくは、基板は、一般に+20から+100ボルトと、正に分極化されて
いる。このタイプの正の分極化により、基板上の有機分子の解離を完全にするこ
とが可能であるためである。 基板は一般に平坦な形状と0.25m2から1m2のサイズを有しており、こ
れは、分かるように、カーボンファイバーの膜を比較的大きな表面、例えば0.
25m2から1m2及びそれ以上の基板に蒸着させることを可能にする本発明の
利点の一つであり、これは大きなサイズのフラットスクリーンの製作にとって特
に興味深い。基板は、例えばホウケイ酸タイプのガラス又はシリコンのようなガ
ラスである。 カーボンファイバーの膜が蒸着される基板はまた好ましくは蒸着操作に続く操
作で溶解できる材料から製作することができ、カーボンファイバーのウエブが細
菌フィルターとして使用される場合には、最初の基板からこのようにして分離さ
れたカーボンファイバーの膜をついで例えば金属又は合金、例えばタングステン
又はステンレス鋼からなる例えばより大きなメッシュサイズの剛性メッシュ上に
広げる。
施することができる。 この装置は、中に基板(2)が存在する蒸着チャンバー(1)を本質的に具備
している。 この基板(2)は、例えば並進直線状変位手段(3)により駆動される。基板
(2)は負、正に分極化され、又はフレームに連結されていてもよい。 好ましくは、基板は、一般に+20から+100ボルトと、正に分極化されて
いる。このタイプの正の分極化により、基板上の有機分子の解離を完全にするこ
とが可能であるためである。 基板は一般に平坦な形状と0.25m2から1m2のサイズを有しており、こ
れは、分かるように、カーボンファイバーの膜を比較的大きな表面、例えば0.
25m2から1m2及びそれ以上の基板に蒸着させることを可能にする本発明の
利点の一つであり、これは大きなサイズのフラットスクリーンの製作にとって特
に興味深い。基板は、例えばホウケイ酸タイプのガラス又はシリコンのようなガ
ラスである。 カーボンファイバーの膜が蒸着される基板はまた好ましくは蒸着操作に続く操
作で溶解できる材料から製作することができ、カーボンファイバーのウエブが細
菌フィルターとして使用される場合には、最初の基板からこのようにして分離さ
れたカーボンファイバーの膜をついで例えば金属又は合金、例えばタングステン
又はステンレス鋼からなる例えばより大きなメッシュサイズの剛性メッシュ上に
広げる。
【0029】
蒸着チャンバー又は密閉室(1)はカップラー(4)を介して一又は幾つかの
マイクロ波発信器(矢印13)により生成された出力を受け取り、このカップラ
ーが、蒸着チャンバー又は密閉室内にこの出力を広げる。 密閉室へのこのマイクロ波出力の注入は低圧下で炭素含有ガスのイオン化をつ
くり出す。 本発明によれば、この低圧力は、上に既に示されているように、10−4mb
ar未満、好ましくは8・10−5mbar未満の圧力である。 蒸着密閉室又はチャンバー内の低圧力は矢印(5)により表されているポンピ
ングによって維持されている。 炭素を含むガスは、その一部は、例えば調節バルブ(7)が取り付けられたパ
イプ(6)を介してカップラー内に、上流に導入されている。 ガスは、例えばメタン、エタン、エチレン、アセチレン及びその混合物で、お
そらくは水素と混合されたものから選択される。
マイクロ波発信器(矢印13)により生成された出力を受け取り、このカップラ
ーが、蒸着チャンバー又は密閉室内にこの出力を広げる。 密閉室へのこのマイクロ波出力の注入は低圧下で炭素含有ガスのイオン化をつ
くり出す。 本発明によれば、この低圧力は、上に既に示されているように、10−4mb
ar未満、好ましくは8・10−5mbar未満の圧力である。 蒸着密閉室又はチャンバー内の低圧力は矢印(5)により表されているポンピ
ングによって維持されている。 炭素を含むガスは、その一部は、例えば調節バルブ(7)が取り付けられたパ
イプ(6)を介してカップラー内に、上流に導入されている。 ガスは、例えばメタン、エタン、エチレン、アセチレン及びその混合物で、お
そらくは水素と混合されたものから選択される。
【0030】
カップラー(4)は、90°の角度を形成し、蒸着チャンバー又は密閉室(1
)に直交して連結されるエルボ(9)で終端するマイクロ波注入案内管(8)を
有している。 例えば石英からなるマイクロ波シール(10)が、進入波案内管(11)と上
記90°エルボ(9)の間の導波管に配置されている。 このシールは、大気圧の空気がある進入又は注入案内管(11)とエルボ、並
びにポンピングのために真空下にある蒸着チャンバー又は密閉室の間の分離を確
実にしている。 上述の構造のために、マイクロ波注入及びシール(10)が装置の軸に90°
で位置せしめられており、これにより、シールが炭素で覆われることを避けるこ
とができ、装置が連続的な形で作動することを確実にする。
)に直交して連結されるエルボ(9)で終端するマイクロ波注入案内管(8)を
有している。 例えば石英からなるマイクロ波シール(10)が、進入波案内管(11)と上
記90°エルボ(9)の間の導波管に配置されている。 このシールは、大気圧の空気がある進入又は注入案内管(11)とエルボ、並
びにポンピングのために真空下にある蒸着チャンバー又は密閉室の間の分離を確
実にしている。 上述の構造のために、マイクロ波注入及びシール(10)が装置の軸に90°
で位置せしめられており、これにより、シールが炭素で覆われることを避けるこ
とができ、装置が連続的な形で作動することを確実にする。
【0031】
本発明では、図1において参照番号(12)で表される電子サイクロトロン共
鳴ゾーンが蒸着チャンバー又は密閉室自体の内部にあり、基板とは反対にある。 その結果、本発明ではECRゾーンが蒸着チャンバー内に一体化されているの
で、本発明の装置では、プラズマ生成チャンバー(ECR)、拡散及び蒸着チャ
ンバーの間が分離していない。 本発明では、マイクロ波出力は、高度に不安定な磁気ミラーを持ち蒸着チャン
バー(1)自体の内部に上述したように位置させられた電子サイクロトロン共鳴
ゾーン(12)を有する特定の磁場構造に注入され、それにより、炭素含有ガス
を作っている分子の解離及び/又はイオン化を生じ、上記基板上に蒸着される種
をつくる。
鳴ゾーンが蒸着チャンバー又は密閉室自体の内部にあり、基板とは反対にある。 その結果、本発明ではECRゾーンが蒸着チャンバー内に一体化されているの
で、本発明の装置では、プラズマ生成チャンバー(ECR)、拡散及び蒸着チャ
ンバーの間が分離していない。 本発明では、マイクロ波出力は、高度に不安定な磁気ミラーを持ち蒸着チャン
バー(1)自体の内部に上述したように位置させられた電子サイクロトロン共鳴
ゾーン(12)を有する特定の磁場構造に注入され、それにより、炭素含有ガス
を作っている分子の解離及び/又はイオン化を生じ、上記基板上に蒸着される種
をつくる。
【0032】
電子サイクロトロン共鳴(ECR)磁場は、導体巻線、例えばコイル又はソレ
ノイドで矩形、正方形又は円筒形のもの、あるいは永久磁石によってつくり出さ
れうる。 図1では、磁場コイルは矩形の磁場コイル(14,15,16,17)である
。 蒸着物のサイズは主として生成される電子サイクロトロン共鳴(ECR)磁場
の面積に依存する。図1に示された矩形の磁場コイル(14,15,16,17
)の場合には、例えば25cmのプラズマ高さを得ることが可能であり、これは
1メートルまで伸ばすことができる。 本発明によれば、生成された磁場は特定の形状を有し、高度に不安定な磁気ミ
ラーを持つ磁気構造を形成している。よって、図1の装置においてつくり出され
た軸方向の磁場の形状は、蒸着装置の軸に位置する様々な点で軸方向の磁場Bの
値(テスラ)を与える図2に示されている;横軸が長さの目盛りを表し、各目盛
りが10cmを表す。
ノイドで矩形、正方形又は円筒形のもの、あるいは永久磁石によってつくり出さ
れうる。 図1では、磁場コイルは矩形の磁場コイル(14,15,16,17)である
。 蒸着物のサイズは主として生成される電子サイクロトロン共鳴(ECR)磁場
の面積に依存する。図1に示された矩形の磁場コイル(14,15,16,17
)の場合には、例えば25cmのプラズマ高さを得ることが可能であり、これは
1メートルまで伸ばすことができる。 本発明によれば、生成された磁場は特定の形状を有し、高度に不安定な磁気ミ
ラーを持つ磁気構造を形成している。よって、図1の装置においてつくり出され
た軸方向の磁場の形状は、蒸着装置の軸に位置する様々な点で軸方向の磁場Bの
値(テスラ)を与える図2に示されている;横軸が長さの目盛りを表し、各目盛
りが10cmを表す。
【0033】
この図中、グラフの上部の垂直線の全ては370A、370A、900A及び
900Aの電流によってそれぞれ供給された矩形の磁場コイル(14,15,1
6,17)の位置を表す。 実は、本発明では、重要なものは磁場の形状である。この形状を得るために、
コイルには適切な磁場を得るために電流が供給される。例えば、コイル14及び
15には370Aが供給され磁場B=600Gが生じ、コイル16及び17には
900Aが供給され磁場B=2700Gが付与される。 この場合、上に与えられた所望の比率、すなわち、r1>4及びr2>1.5
が確かに得られる。 軸方向の磁場を表す曲線には、蒸着チャンバーの位置が示されており、それは
、点AとBの間に位置し、基板の位置(点C)と電子サイクロトロン共鳴(EC
R)ゾーンの位置はセグメントDによって表される。矢印はマイクロ波とガスの
注入の方向を示している。
900Aの電流によってそれぞれ供給された矩形の磁場コイル(14,15,1
6,17)の位置を表す。 実は、本発明では、重要なものは磁場の形状である。この形状を得るために、
コイルには適切な磁場を得るために電流が供給される。例えば、コイル14及び
15には370Aが供給され磁場B=600Gが生じ、コイル16及び17には
900Aが供給され磁場B=2700Gが付与される。 この場合、上に与えられた所望の比率、すなわち、r1>4及びr2>1.5
が確かに得られる。 軸方向の磁場を表す曲線には、蒸着チャンバーの位置が示されており、それは
、点AとBの間に位置し、基板の位置(点C)と電子サイクロトロン共鳴(EC
R)ゾーンの位置はセグメントDによって表される。矢印はマイクロ波とガスの
注入の方向を示している。
【0034】
磁場は最大であり、マイクロ波注入場所で高く、そこでは例えば2700Gの
値を有し、磁場は蒸着チャンバーの中央で例えば600Gと最小であり、ついで
磁場は基板上で増加することが分かる。 このようにして注入点で強い磁気ミラーが、下流で低い磁気ミラーが得られる
。 典型的には、注入ミラー比r1は4より大きい。 よって、図1に示された装置の場合には、r1=Bmax/Bmin=270
0G/600G=4.5である。 この高いミラー比r1により、イオン化された粒子、イオン及び電子を減少勾
配の影響下で基板に向けて拡散させることが可能になる。 典型的には、基板に向けて下流のミラー比r2は少なくとも1.5である。 よって、図1に示された装置の場合には、r2=B基板/Bmin=900G
/600G=1.5である。
値を有し、磁場は蒸着チャンバーの中央で例えば600Gと最小であり、ついで
磁場は基板上で増加することが分かる。 このようにして注入点で強い磁気ミラーが、下流で低い磁気ミラーが得られる
。 典型的には、注入ミラー比r1は4より大きい。 よって、図1に示された装置の場合には、r1=Bmax/Bmin=270
0G/600G=4.5である。 この高いミラー比r1により、イオン化された粒子、イオン及び電子を減少勾
配の影響下で基板に向けて拡散させることが可能になる。 典型的には、基板に向けて下流のミラー比r2は少なくとも1.5である。 よって、図1に示された装置の場合には、r2=B基板/Bmin=900G
/600G=1.5である。
【0035】
既に上に示したように、本発明では、顕著な磁気の閉じこめにより、蒸着チャ
ンバーの中心の磁気ミラーに磁場線に沿って捕捉されて残る電子とイオンの寿命
を増加させることができる。 プラズマ中の分子の解離とイオン化のレベルはよって次のタイプの電子衝突に
よって増加する: CH4+e→CH3 ++H0+e+e CH4+e→CH3 0+H0+e CH0+e→C0+H0+e、等々
ンバーの中心の磁気ミラーに磁場線に沿って捕捉されて残る電子とイオンの寿命
を増加させることができる。 プラズマ中の分子の解離とイオン化のレベルはよって次のタイプの電子衝突に
よって増加する: CH4+e→CH3 ++H0+e+e CH4+e→CH3 0+H0+e CH0+e→C0+H0+e、等々
【0036】
本発明を、例示のために与えられ、決して限定のためではない以下の実施例を
参照して説明する。 実施例 本発明では、カーボンファイバー又はチューブのナノウエブは如何なる触媒も
用いないで様々な基板上に蒸着されたものである。使用される装置は程度の差は
あれ図1に示されたものと同じである。
参照して説明する。 実施例 本発明では、カーボンファイバー又はチューブのナノウエブは如何なる触媒も
用いないで様々な基板上に蒸着されたものである。使用される装置は程度の差は
あれ図1に示されたものと同じである。
【0037】
実施例1
この実施例では、使用されるガスはメタンであり、基板は640℃に加熱され
たシリコンである。 蒸着チャンバー又は密閉室内の圧力は6・10−5mbarである。 このようにして、およそ20nmのファイバー直径の互いに連結されたカーボ
ンナノファイバー又はナノチューブのウエブ又は網目構造の多層が得られ、これ
は、蜘蛛の巣のようであり、その平均メッシュサイズは200nm未満である。 図3A及び3Bはそのような多層の走査型電子顕微鏡(SEM)写真である。 我々はまた膜(単一層)を多層蒸着物から取り除き、透過型電子顕微鏡(TE
M)のグリッドにそれを広げた:このタイプの操作は本発明に係る方法によって
得られた膜の堅さを明らかにする。単一層の透過型電子顕微鏡(TEM)写真を
図5に示す。
たシリコンである。 蒸着チャンバー又は密閉室内の圧力は6・10−5mbarである。 このようにして、およそ20nmのファイバー直径の互いに連結されたカーボ
ンナノファイバー又はナノチューブのウエブ又は網目構造の多層が得られ、これ
は、蜘蛛の巣のようであり、その平均メッシュサイズは200nm未満である。 図3A及び3Bはそのような多層の走査型電子顕微鏡(SEM)写真である。 我々はまた膜(単一層)を多層蒸着物から取り除き、透過型電子顕微鏡(TE
M)のグリッドにそれを広げた:このタイプの操作は本発明に係る方法によって
得られた膜の堅さを明らかにする。単一層の透過型電子顕微鏡(TEM)写真を
図5に示す。
【0038】
実施例2
この実施例では、使用されるガスはメタンであり、基板は680℃に加熱され
たホウケイ酸ガラスである。 蒸着チャンバー又は密閉室内の圧力は8・10−5mbarである。 しかして、実施例1と同じようにして、およそ20nmのファイバー直径の互
いに連結されたカーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブ又は網目構造
の多層が得られ、これは、蜘蛛の巣のようであり、その平均メッシュサイズは1
00nmに近いかそれ未満である。 図4A及び4Bはそのような多層の走査型電子顕微鏡(SEM)写真である。 これらのSEM分析及び必要ならばTEM分析とは別に、他の分析をまた実施
してもよい。実施例1及び2において多層又は単一層で実施された分析の全ての
結果は次の通りである: − 組成物:炭素(数%の水素を同定した)(ERDA−弾性収縮力検出分析に
よる測定) − TEM:回折写真:観測された距離d(hkl)は3.47Aであり、これ
は平坦なグラファイトの結晶(d=3.35A)より更にナノチューブタイプの
構造(d=3.44A)に相当する。
たホウケイ酸ガラスである。 蒸着チャンバー又は密閉室内の圧力は8・10−5mbarである。 しかして、実施例1と同じようにして、およそ20nmのファイバー直径の互
いに連結されたカーボンナノファイバー又はナノチューブのウエブ又は網目構造
の多層が得られ、これは、蜘蛛の巣のようであり、その平均メッシュサイズは1
00nmに近いかそれ未満である。 図4A及び4Bはそのような多層の走査型電子顕微鏡(SEM)写真である。 これらのSEM分析及び必要ならばTEM分析とは別に、他の分析をまた実施
してもよい。実施例1及び2において多層又は単一層で実施された分析の全ての
結果は次の通りである: − 組成物:炭素(数%の水素を同定した)(ERDA−弾性収縮力検出分析に
よる測定) − TEM:回折写真:観測された距離d(hkl)は3.47Aであり、これ
は平坦なグラファイトの結晶(d=3.35A)より更にナノチューブタイプの
構造(d=3.44A)に相当する。
【0039】
ナノチューブは、グラファイト(その膜は平坦なままである)におけるように
、巻回され、六角炭素サイクルを持つ同心フィルムであることに留意されるべき
である。 − SEM:およそ20nmのファイバー直径のナノウエブの多層(図3A、3
B、4A及び4Bを参照) − XPS(X線光電子分光法):およそ80%のsp2結合(平坦又は巻回グ
ラファイト) − グラファイトのような良好な導電体である材料 − X線分析:グラファイト構造 − ラマン分光法(レーザーを用いた光学法):グラファイト構造。 − 温度抵抗:700℃以上。 − グラファイトのように、雰囲気温度で化学的に不活性。
、巻回され、六角炭素サイクルを持つ同心フィルムであることに留意されるべき
である。 − SEM:およそ20nmのファイバー直径のナノウエブの多層(図3A、3
B、4A及び4Bを参照) − XPS(X線光電子分光法):およそ80%のsp2結合(平坦又は巻回グ
ラファイト) − グラファイトのような良好な導電体である材料 − X線分析:グラファイト構造 − ラマン分光法(レーザーを用いた光学法):グラファイト構造。 − 温度抵抗:700℃以上。 − グラファイトのように、雰囲気温度で化学的に不活性。
【0040】
【0041】
参考文献
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る方法の実施のための矩形コイルを持つ電子サイクロ
トロン共鳴プラズマ供給源を示し、基板は有利には一次元に沿って巻き戻されて
いる。
トロン共鳴プラズマ供給源を示し、基板は有利には一次元に沿って巻き戻されて
いる。
【図2】 プラズマ供給源の軸方向の磁場のプロフィールを示す。
【図3】 図3A及び図3Bは、本発明に係る方法によりシリコン基板上に
蒸着された多層のカーボンナノファイバーウエブの走査型電子顕微鏡(SEM)
により撮られた写真である。一目盛りは1μを表す。
蒸着された多層のカーボンナノファイバーウエブの走査型電子顕微鏡(SEM)
により撮られた写真である。一目盛りは1μを表す。
【図4】 図4A及び図4Bは、本発明に係る方法によりホウケイ酸ガラス
基板上に蒸着された多層のカーボンナノファイバーウエブの走査型電子顕微鏡(
SEM)により撮られた写真である。一目盛りは1μを表す。
基板上に蒸着された多層のカーボンナノファイバーウエブの走査型電子顕微鏡(
SEM)により撮られた写真である。一目盛りは1μを表す。
【図5】 本発明に係る方法によりホウケイ酸ガラス基板上に蒸着された単
一層のカーボンナノファイバーの走査型電子顕微鏡(SEM)により撮られた写
真である。一目盛りは100nmを表す。
一層のカーボンナノファイバーの走査型電子顕微鏡(SEM)により撮られた写
真である。一目盛りは100nmを表す。
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フロントページの続き
Fターム(参考) 4G146 AA11 AB06 AB07 AB08 AC03A
AC03B AC15A AC15B BA04
BA42 BC09 BC10
4K030 AA09 AA10 AA17 BA27 BB11
FA02 LA11
5C036 EE01 EE03 EF01 EF06 EF09
EG12 EH11
Claims (26)
- 【請求項1】 触媒なしで基板上にカーボンナノファイバー又はナノチュー
ブのウエブを電子サイクロトロン共鳴プラズマによって蒸着させる方法であって
、高度に不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造と、内部の上記基板の反対側に少な
くとも一つの電子サイクロトロン共鳴ゾーンとを有する蒸着チャンバー内にマイ
クロ波出力を注入し、10−4mbar未満の圧力で炭素含有ガスのイオン化及
び/又は解離を蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラーに誘発させ、加熱されて
いる上記基板上に蒸着する種を生成する方法。 - 【請求項2】 − 基板を加熱し、 − 炭素含有ガスの10−4mbar以下の圧力を生成し、 − マイクロ波出力を注入し、上記炭素含有ガスから、電子サイクロトロン共鳴
に相当する磁場値に対するプラズマを生成させ、 − プラズマと基板の間に電位差をつくり出し、 − 蒸着チャンバーの中央の上記磁気ミラーで分子を解離及び/又はイオン化さ
せ、 − 上記基板上に形成された種を蒸着して、カーボンナノファイバー又はナノチ
ューブのウエブを得る、工程を含んでなる、請求項1に記載の方法。 - 【請求項3】 上記工程が同時に実施される請求項2に記載の方法。
- 【請求項4】 蒸着された炭素が、少しの割合のsp3結合と多くの割合の
sp2結合を持つグラファイト型炭素である請求項1ないし3の何れか1項に記
載の方法。 - 【請求項5】 磁気ミラーを持つ上記構造が、磁場がマイクロ波注入場所で
最大(Bmax)で、ついで磁場が蒸着チャンバーの中央で最小(Bmin)で
あり、最後に磁場が基板上で増加する(B基板)ような構造である、請求項1に
記載の方法。 - 【請求項6】 r1=Bmax/Bminによって定義されるマイクロ波注
入場所の上流のミラー比が4より大きい請求項1に記載の方法。 - 【請求項7】 r2=B基板/Bminによって定義される基板に向けて下
流のミラー比が1.5以上である請求項1ないし6の何れか1項に記載の方法。 - 【請求項8】 基板が500℃から750℃の温度まで加熱される請求項1
ないし7の何れか1項に記載の方法。 - 【請求項9】 圧力が8・10−5mbar以下である請求項1ないし8の
何れか1項に記載の方法。 - 【請求項10】 上記炭素含有ガスが、メタン、エタン、エチレン、アセチ
レン、及び場合によっては水素が補填された混合物から選択される請求項1ない
し9の何れか1項に記載の方法。 - 【請求項11】 基板の加熱が電子照射又は外部加熱により達成される請求
項1に記載の方法。 - 【請求項12】 マイクロ波出力の注入が2.45GHzの周波数でなされ
る請求項1に記載の方法。 - 【請求項13】 基板が、例えば+20ボルトから+100ボルトで、正に
分極化され、プラズマがフレームに連結されている、請求項1に記載の方法。 - 【請求項14】 プラズマが、例えば−20ボルトから−100ボルトで、
負に分極化され、基板がフレームに連結されている、請求項1に記載の方法。 - 【請求項15】 触媒なしで基板上へカーボンナノファイバーウエブの膜を
電子サイクロトロン共鳴(ECR)プラズマによって蒸着させる装置であって、
− 蒸着チャンバー − 上記蒸着チャンバー内に強く不安定な磁気ミラーを持つ磁気構造をつくり出
す手段 − 上記蒸着チャンバーの内部内で上記基板の反対側の電子サイクロトロン共鳴
ゾーン − 上記蒸着チャンバー内にマイクロ波出力を注入する手段 − 上記蒸着チャンバーの内部内に炭素含有ガスの10−4mbar未満の圧力
をつくり出す手段、 を具備する装置。 - 【請求項16】 基板を加熱する手段を更に含んでなる請求項15に記載の
装置。 - 【請求項17】 プラズマと基板の間に電位差をつくり出す手段を更に含ん
でなる請求項15又は16に記載の装置。 - 【請求項18】 蜘蛛の巣のような互いに連結されたカーボンナノファイバ
ー又はナノチューブのウエブ又は網目構造からなり、基板上にあってもよい膜で
あって、触媒を含まない膜。 - 【請求項19】 炭素が、少しの割合のsp3結合と多くの割合のsp2結
合を持つグラファイト型炭素である請求項18に記載の膜。 - 【請求項20】 ウエブ又は網目構造が、一又は数十nmから一又は数百n
m、例えば20から200nmの平均メッシュサイズを有している請求項18又
は19に記載の膜。 - 【請求項21】 ナノファイバー又はナノチューブの平均直径が一又は数n
mから一又は数十nm、例えば1から100nmである請求項18ないし20の
何れか1項に記載の膜。 - 【請求項22】 請求項18ないし21の何れか1項に記載のカーボンナノ
ファイバー又はナノチューブの少なくとも二の層を含んでなる、幾つかの層の構
造又は多層構造。 - 【請求項23】 基板上にあってもよい、請求項18ないし21の何れか1
項に記載の少なくとも一の膜又は請求項22に記載の少なくとも一の多層構造を
含んでなるフィルター。 - 【請求項24】 上記膜又は多層構造が、大なるメッシュサイズを持つ剛性
グリッドに対して広げられている請求項23に記載のフィルター。 - 【請求項25】 請求項18ないし21の何れかに記載の少なくとも一の膜
、又は請求項22に記載の少なくとも一の多層構造を有してなる電子加速又は減
速ナノグリッド。 - 【請求項26】 基板上にあってもよい、請求項18ないし21の何れか1
項に記載の膜又は請求項22に記載の少なくとも一の多層構造を含んでなる、特
に大なる寸法の、フラットスクリーン。
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