JP2003334949A - 液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法、及び固有振動周期測定装置、並びに、液体噴射ヘッド、及び液体噴射装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡便で精度良く測定できる固有振動周期測定
方法を提供する。 【解決手段】 圧力室内の液体に圧力振動を励起させる
励振要素、及び、該励振要素よりも後に発生されてノズ
ル開口からインク滴を吐出させる吐出要素とを含み、励
振要素から吐出要素までの時間間隔を第１時間間隔に設
定した第１評価パルスと時間間隔を第１時間間隔よりも
長い第２時間間隔に設定した第２評価パルスとを圧電振
動子へ供給することで、第１評価パルスＴＰ１に対応す
る第１インク量量ＩｗＳと第２評価パルスＴＰ２に対応
する第２インク量ＩｗＬとを測定し、測定された第１イ
ンク量と第２インク量からインク量比を取得する。この
インク量比に基づき、圧力室内のインクに関する固有振
動周期を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、インクジェット式
記録装置、ディスプレー製造装置、電極形成装置、或い
は、バイオチップ製造装置等に用いられ、各種の液体を
液滴として吐出可能な液体噴射ヘッドに係り、圧力室内
に収容された液体の固有振動周期を測定する方法及び装
置、並びに、測定された固有振動周期に基づいて駆動信
号の波形を定める液体噴射装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】液体を液滴の状態で吐出可能な液体噴射
ヘッドを有する液体噴射装置としては、例えば、インク
滴を吐出して記録紙上に画像等を記録する画像記録装
置、液状の電極材を基板上に吐出して電極を形成する電
極形成装置、生体試料を吐出してバイオチップを製造す
るバイオチップ製造装置、或いは、所定量の試料を容器
に吐出するマイクロピペットが提案されている。

【０００３】上記の液体噴射ヘッドは、液滴を吐出させ
るにあたり、圧力室内に収容された液体の圧力変動を利
用している。この液体噴射ヘッドでは、圧力変動に伴っ
て圧力室内の液体には圧力室内が恰も音響管であるかの
ように振る舞う圧力振動が励起される。この圧力振動の
周期は、液体噴射ヘッドの種類毎に定まるので固有振動
周期とも呼ばれる。そして、この固有振動周期は、同種
の液体噴射ヘッド同士の間でもばらつきが生じ得る。こ
れは、液体噴射ヘッドを構成する部品の寸法や取付精度
にばらつきが生じてしまうからである。この固有振動周
期のばらつきによって、液滴の吐出特性、例えば、液滴
の吐出量や飛行速度がばらついてしまう。これは、同一
の駆動信号で駆動した場合、液体圧力の変化が固有振動
周期に応じて異なり、液滴吐出時点におけるメニスカス
（ノズル開口で露出している液体の自由表面）の位置や
移動速度が相違するからである。

【０００４】このような事情に基づき、液体噴射ヘッド
の固有振動周期を測定し、その測定結果に基づいて駆動
信号を構成する各波形要素を制御する装置が提案されて
いる。固有振動周期の測定方法は種々提案されている
が、測定に長時間要すると生産性の低下を招く。この点
を考慮し、励振信号から吐出信号までの時間間隔を異な
らせた３種の評価パルスを用い、各評価パルスに対応す
る液体吐出量に基づいて液体噴射ヘッドを複数のＴｃラ
ンクに分類する方法が提案されている（例えば、特許文
献１参照。）。この方法では、１つの液体噴射ヘッドに
ついて吐出液体量の測定を３回行えば足りるので、測定
作業を効率良く行うことができ、量産に適する。

【０００５】

【特許文献１】特開２００２−１５４２１２号公報

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、さらな
る生産性の向上を図るには、固有振動周期の測定を一層
効率化する必要がある。また、液滴の吐出量や飛行速度
をより高い精度で制御すべく、その液体噴射ヘッドの固
有振動周期そのものを測定することが望まれている。

【０００７】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、その主たる目的は、固有振動周期の測定
を一層効率化すると共に、固有振動周期の測定精度を向
上させることにある。また、他の目的は、液滴の吐出量
や飛行速度をより高い精度で制御することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために提案されたものであり、ノズル開口に連通
すると共に液体を収容可能な圧力室と、該圧力室に液体
を供給する液体供給口と、前記圧力室内の液体に圧力変
動を生じさせる圧力発生素子とを備えた液体噴射ヘッド
の前記圧力室内に収容された液体に対する固有振動周期
を測定する固有振動周期測定方法において、圧力室内の
液体に圧力振動を励起させる励振要素、及び、該励振要
素よりも後に発生されてノズル開口から液滴を吐出させ
る吐出要素とを含み、励振要素から吐出要素までの時間
間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パルスと前記時
間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔に設定し
た第２評価パルスとを圧力発生素子へ供給することで、
第１評価パルスに対応する第１液体量と第２評価パルス
に対応する第２液体量とを測定する液体量測定工程と、
該測定された第１液体量と第２液体量から液体量比を取
得する液体量比取得工程と、該液体量比に基づき、圧力
室内の液体に関する固有振動周期を決定する固有振動周
期決定工程とを経ることを特徴とする。

【０００９】また、本発明は、ノズル開口に連通すると
共に液体を収容可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給
する液体供給口と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生
じさせる圧力発生素子とを備えた液体噴射ヘッドの前記
圧力室内に収容された液体に対する固有振動周期を測定
する固有振動周期測定装置において、圧力室内の液体に
圧力振動を励起させる励振要素、及び、該励振要素より
も後に発生されてノズル開口から液滴を吐出させる吐出
要素とを含み、励振要素から吐出要素までの時間間隔を
第１時間間隔に設定した第１評価パルスと前記時間間隔
を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔に設定した第２
評価パルスとを発生し、圧力発生素子に供給可能な駆動
手段と、前記第１評価パルスに対応する第１液体量と第
２評価パルスに対応する第２液体量とを測定する液体量
測定手段と、液体量測定手段によって測定された第１液
体量と第２液体量から液体量比を取得する液体量比取得
手段と、該液体量比取得手段が取得した液体量比に基づ
き、圧力室内の液体についての固有振動周期を決定する
固有振動周期決定手段とを備えることを特徴とする。

【００１０】これらの発明によれば、第１液体量と第２
液体量の液体量比を用いているので、１つの液体噴射ヘ
ッドに対して液体量の測定が２回で済む。このため、簡
便であり製造ラインの自動化への対応も容易である。従
って、生産性を落とすことなく液体噴射へッドを製造で
き、量産に適する。さらに、固有振動周期と液体量比と
は高い相関関係を有しているので、その液体噴射ヘッド
の固有振動周期を精度良く決定できる。

【００１１】前記発明において、励振要素から吐出要素
までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を、
最大固有振動周期の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期
の液体噴射ヘッドとに供給することで、最大周期液体量
変動曲線と最小周期液体量変動曲線とを予め取得し、前
記固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が増加する増
加時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１
時間間隔及び第２時間間隔の一方を設定すると共に、固
有振動周期の増加に伴って吐出液体量が減少する減少時
間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１時間
間隔及び第２時間間隔の他方を設定することが好まし
い。なお、「最大固有振動周期」とは液体噴射ヘッドの
製造上生じ得る最大値の固有振動周期である。また、
「最小固有振動周期」とは液体噴射ヘッドの製造上生じ
得る最小値の固有振動周期である。また、「測定用信
号」とは、液体量変動曲線（励振要素から吐出要素まで
の時間間隔と吐出液量との相関関係を示す曲線）を取得
するために圧力発生素子に供給される信号である。この
発明によれば、固有振動周期が増加側（或いは減少側）
に順次変化すると、第１液体量と第２液体量の一方は増
加し他方は減少する。このため、固有振動周期の単位変
化量に対する液体量比の変化量を、他の設定よりも大き
くすることができる。その結果、固有振動周期を高い精
度で決定できる。

【００１２】前記発明において、前記増加時間範囲を、
最大周期液体量変動曲線におけるピーク点から最小周期
液体量変動曲線における直近のボトム点までの範囲に設
定し、前記減少時間範囲を、最大周期液体量変動曲線に
おけるボトム点から最小周期液体量変動曲線における直
近のピーク点までの範囲に設定することが好ましい。

【００１３】前記発明において、前記励振要素から吐出
要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号
を標準固有振動周期を有する液体噴射ヘッドに供給する
ことで、標準周期液体量変動曲線を予め取得し、前記第
１時間間隔及び第２時間間隔を、標準周期液体量変動曲
線における単位時間当たりの液体量の変化が最大となる
タイミングで吐出要素が供給される間隔に設定すること
が好ましい。さらに、前記増加時間範囲と減少時間範囲
とを、互いに隣り合う時間範囲に定めることが好まし
い。なお、「標準固有振動周期」とはその液体噴射ヘッ
ドにおける設計値通りの固有振動周期である。この発明
によれば、固有振動周期の変化幅に対する液体量比の変
化幅を可及的に広げることができ、液体量比から固有振
動周期を高い精度で決定できる。

【００１４】前記発明において、励振要素から吐出要素
までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を、
最大固有振動周期の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期
の液体噴射ヘッドとに供給することで、最大周期液体量
変動曲線と最小周期液体量変動曲線とを予め取得し、前
記第１時間間隔及び第２時間間隔は、吐出要素の供給タ
イミングが、最大周期液体量変動曲線のピーク点から直
近の最小周期液体量変動曲線のピーク点までの範囲内と
なる間隔に設定されていることが好ましい。

【００１５】この発明によれば、測定対象となる液体噴
射ヘッドの液体量変動曲線は、最大周期液体量変動曲線
と最小周期液体量変動曲線の間に存在する。このため、
液体量比取得工程で取得された液体量比に基づき、圧力
室内の液体についての固有振動周期を極めて高い精度で
決定できる。

【００１６】前記発明において、前記励振要素から吐出
要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号
を標準固有振動周期を有する液体噴射ヘッドに供給する
ことで、標準周期液体量変動曲線を予め取得し、該標準
周期液体量変動曲線のボトム点に対応する励振要素から
吐出要素までの時間間隔を標準時間間隔とすると共に、
前記第１時間間隔と第２時間間隔の中央値を該標準時間
間隔に一致させることが好ましい。この発明において、
前記第１時間間隔を標準時間間隔から標準固有振動周期
の１／４を減じた時間間隔に設定し、第２時間間隔を標
準時間間隔に標準固有振動周期の１／４を加えた時間間
隔に設定することが好ましい。

【００１７】前記発明において、前記励振要素の電位差
を、前記吐出要素の電位差の９０％以上に設定すること
が好ましく、９５％以上に設定することがより好まし
い。

【００１８】前記発明において、液体量比取得工程で取
得された液体量比が判断基準範囲内か否かを判定する液
体量比判定工程と、前記判断基準範囲を越えていると判
定された場合に、第１評価パルスと第２評価パルスの少
なくとも一方を再設定する評価パルス再設定工程と、該
評価パルス再設定工程で再設定された新たな評価パルス
を用いて液体量を測定する液体量再測定工程と、該液体
量再測定工程で測定された液体量を用いて液体量比を再
取得する液体量比再取得工程とを、前記固有振動周期決
定工程に先立って行うことが好ましい。この発明では、
固有振動周期が設計値から大きく外れた液体噴射ヘッド
であっても、その固有振動周期を精度良く測定すること
ができる。

【００１９】前記発明において、前記評価パルス再設定
工程は、前記液体量比取得工程で取得された液体量比
を、仮の標準振動周期を示す情報として用い、第１評価
パルスと第２評価パルスの両方を再設定することが好ま
しい。また、前記発明において、前記評価パルス再設定
工程は、第１評価パルスと第２評価パルスの一方を再設
定し、前記液体量比再取得工程は、新たな評価パルスに
対応する液体量と既測定の液体量とを用いて新たな液体
量比を取得することが好ましい。具体的には、前記評価
パルス再設定工程にて、決定された固有振動周期が許容
判断基準範囲未満の場合に前記第１評価パルスの時間間
隔を第１時間間隔よりも短い第３時間間隔に再設定し、
決定された固有振動周期が許容判断基準範囲よりも長か
った場合に前記第２評価パルスの時間間隔を第２時間間
隔よりも長い第４時間間隔に再設定する。

【００２０】前記発明において、前記固有振動周期決定
工程では、前記固有振動周期を、液体量比と固有振動周
期の相関関係とに基づいて決定することが好ましい。こ
の場合において、前記液体量比と固有振動周期の相関関
係を、液体量比を変数とする一次式によって定めること
が好ましい。具体的には、前記一次式は、複数設定され
た液体量比の範囲毎に傾き及び切片が与えられることが
好ましい。さらに、この範囲は、標準固有振動周期に対
応する標準液体量比よりも小さい側の第１範囲と、標準
液体比以上の第２範囲とから構成される。また、この範
囲は、標準固有振動周期に対応する標準液体量比を含む
第３範囲と、第３範囲よりも小さい側の第４範囲と、第
３範囲よりも大きい側の第５範囲とから構成される。こ
れらの発明によれば、液体量比に基づいて固有振動周期
を精度良く決定できる。

【００２１】前記発明において、前記液体量測定工程で
は、圧力発生素子に対して１０ｋＨｚ以下の低周波数で
第１評価パルス及び第２評価パルスを供給することが好
ましい。さらには、５ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価
パルス及び第２評価パルスを供給することがより好まし
い。この発明によれば、液滴を安定した状態で吐出させ
ることができ、液滴の重量をより精度良く測定すること
ができる。

【００２２】前記発明において、測定環境の温度を測定
する環境温度測定工程と、測定された環境温度に基づい
て固有振動周期を補正する固有振動周期補正工程とを行
うことが好ましい。なお、この発明において「固有振動
周期の補正」とは、液体量を補正することによって固有
振動周期を補正する場合と、決定された固有振動周期を
直接的に補正する場合の両方を含む。この発明によれ
ば、測定環境の温度に応じて液体の粘性が変化しても精
度良く固有振動周期を決定することができる。

【００２３】前記発明において、液体供給口、圧力室及
びノズル開口のうちの少なくともいずれかの寸法情報を
取得する寸法情報取得工程と、取得された寸法情報に基
づいて固有振動周期を補正する固有周期補正工程とを行
うことが好ましい。なお、この発明において「固有振動
周期の補正」とは、液体量を補正することによって固有
振動周期を補正する場合と、決定された固有振動周期を
直接的に補正する場合の両方を含む。

【００２４】前記発明において、前記液体は、描画用の
色材を含有するインクであることが好ましい。

【００２５】また、前記発明で決定された固有振動周期
は、その固有振動周期を示す固有情報（数値情報や液体
量比を示す液体量比情報）の形態で情報付与媒体（固有
情報記憶手段や表記部材）に記録され、液体噴射ヘッド
に付与される。そして、液体噴射ヘッドに付与された固
有情報は波形設定手段に参照され、波形設定手段はこの
固有情報に基づいて駆動信号の波形形状を適正化する。
さらに、駆動信号発生手段は波形形状が適正化された駆
動信号を発生し、この駆動信号は圧力発生素子に供給さ
れる。具体的には、前記駆動信号は圧力発生素子に供給
される駆動パルスを有するものであり、この駆動パルス
を、液滴を吐出させるための吐出要素を含む複数の波形
要素によって構成する。そして、前記波形設定手段は、
前記固有情報に基づき、調整対象となる波形要素の制御
因子を定める。この発明によれば、適正化された駆動信
号によって圧力発生素子を駆動するので、液滴の吐出量
や飛行速度をより高い精度で制御することができる。

【００２６】上記発明において、前記制御因子を波形要
素の発生時間とし、前記波形設定手段は、調整対象とな
る波形要素の発生時間を定めるにあたり、前記固有情報
に応じて変動する第１補正時間を調整対象となる波形要
素の基準発生時間に加算する構成が好ましい。さらに、
前記波形設定手段は、装置が使用される環境温度に応じ
て変動する第２補正時間を前記基準発生時間に加算する
ことで、調整対象となる波形要素の発生時間を定める構
成が好ましい。この発明によれば、演算によって波形要
素の発生時間を容易に定めることができる。なお、この
発明において、第１補正時間及び第２補正時間は、正数
及び負数が含まれる。

【００２７】上記発明において、前記調整対象となる波
形要素は、液滴吐出後におけるメニスカスの振動抑制に
係わる振動抑制要素であることが好ましい。例えば、圧
力室を膨張させることで液滴吐出後における圧力室内の
液体圧力の変動を緩和する膨張制振要素と、前記吐出要
素と膨張制振要素との間に発生される一定電位の制振ホ
ールド要素とを備えた駆動パルスにおいては、前記波形
設定手段は、前記固有情報に応じて制振ホールド要素の
発生時間を定める。また、圧力室を収縮させることで液
滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動を吸収する
収縮制振要素を備えた駆動パルスにおいては、前記波形
設定手段は、前記固有情報に応じて収縮制振要素の発生
時間を定める。この発明によれば、振動抑制要素の適正
化により、液滴吐出後のメニスカスの振動を速やかに収
束させることができ、高周波駆動時における液滴の吐出
特性を安定化できる。なお、「メニスカス」とは、ノズ
ル開口で露出している液体の自由表面を意味する。

【００２８】上記発明において、前記調整対象となる波
形要素は、吐出要素と膨張要素との間に発生される一定
電位の膨張ホールド要素であることが好ましい。また、
固有情報に応じて駆動信号の中間電位を定める構成であ
ることが好ましい。

【００２９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。なお、以下の説明では、液体噴射
装置の一種であるインクジェット式プリンタ（以下、単
にプリンタという）を例に挙げる。このプリンタは、画
像記録装置の一種であり、インクジェット式記録へッド
（液体噴射ヘッドの一種，以下、記録へッドという。）
から液体状のインク（液体の一種）を液滴の状態で吐出
させ、記録紙等の印刷記録媒体上に文字や画像を記録す
る。

【００３０】まず、図１及び図２に基づき、記録へッド
１の構造について説明する。例示した記録へッド１は、
複数の圧電振動子２、固定板３、及び、フレキシブルケ
ーブル４等をユニット化した振動子ユニット５と、この
振動子ユニット５を収納可能なケース６と、ケース６の
先端面に接合される流路ユニット７を備えている。

【００３１】ケース６は、振動子ユニット５を収納し固
定するための収納空部８を内部に形成した合成樹脂製の
ブロック状部材である。この収納空部８は、ケース６の
高さ方向を貫通する空部であり、収納される振動子ユニ
ット５の数と同じ数だけ設けられる。そして、振動子ユ
ニット５は、圧電振動子２の先端面を収納空部８の先端
側開口に臨ませた状態で収納され、固定板３が収納空部
８を区画するケース６内壁面に接着されている。

【００３２】圧電振動子２は、圧力発生素子の一種であ
り、入力された電気エネルギーに応じて変形する電気機
械変換素子の一種でもある。本実施形態の圧電振動子２
は、３０μｍ〜１００μｍ程度の極めて細い幅の櫛歯状
に切り分けられている。また、この圧電振動子２は、圧
電体と内部電極とを交互に積層して構成された積層型の
圧電振動子であり、圧電体と内部電極との間の電位差に
応じ、電界方向と直交する方向に伸縮する。各圧電振動
子２は、所謂片持ち梁の状態で固定板３上に取り付けら
れている。即ち、各圧電振動子２の基端側部分を固定板
３上に接合することで、自由端部分を固定板３の縁より
も外側に突出させている。そして、各圧電振動子２の先
端面は、それぞれ流路ユニット７の島部９に接合されて
いる。また、フレキシブルケーブル４は、固定板３とは
反対側となる基端側部分の表面で、各圧電振動子２と電
気的に接続されている。

【００３３】流路ユニット７は、図２に示すように、流
路形成基板１０を間に挟んでノズルプレートを流路形成
基板１０の一方の表面に配置し、弾性板１２をノズルプ
レート１１とは反対側となる他方の表面に配置して接着
することで構成されている。

【００３４】上記のノズルプレート１１は、ドット形成
密度に対応したピッチで複数のノズル開口１３を列状に
開設したステンレス鋼製の薄いプレートである。本実施
形態では、１８０ｄｐｉのピッチで９６個のノズル開口
１３を開設し、これらのノズル開口１３によってノズル
列を構成する。そして、このノズル列を、インク供給源
毎、例えば、インクカートリッジ毎に複数列形成する。

【００３５】上記の流路形成基板１０は、ノズルプレー
ト１１の各ノズル開口１３と同じピッチで圧力室１４と
なる空部及びインク供給口１５となる溝部を複数形成す
ると共に、共通インク室１６となる空部を形成した板状
の部材である。この流路形成基板１０は、例えばシリコ
ンウエハーをエッチング加工したり、ニッケル等の金属
板をプレス加工することにより作製されている。本実施
形態では、この流路形成基板１０を、シリコンウエハー
のエッチング加工によって作成している。上記の圧力室
１４は、ノズル開口１３の列設方向（ノズル列方向）に
対して直交する方向に細長い室である。インク供給口１
５は、共通インク室１６と圧力室１４との間を連通する
流路幅の狭い溝である。また、圧力室１４内における共
通インク室１６から最も離れた位置には、ノズル開口１
３と圧力室１４とを連通するためのノズル連通口１７を
板厚方向に貫通させた状態で設けている。

【００３６】弾性板１２は、支持板１８の表面に弾性体
膜１９を積層した二重構造である。本実施形態では、ス
テンレス製の支持板１８の表面にＰＰＳ（ポリフェニレ
ンサルファイド）やＰＩ（ポリイミド）製の樹脂フィル
ムを弾性体膜１９としてラミネートしている。そして、
この弾性板１２には、圧力室１４の一方の開口面を封止
するダイヤフラム部２０が設けられると共に、共通イン
ク室１６の一方の開口面を封止するコンプライアンス部
２１が設けられている。そして、ダイヤフラム部２０
は、圧力室１４に対応した部分の支持板１８を環状にエ
ッチング加工することで作製され、弾性体膜１９のみの
弾性部２２と圧電振動子２が接合される島部９とが設け
られている。また、コンプライアンス部２１は、共通イ
ンク室１６に対応する部分の支持板１８をエッチング加
工で除去し、弾性体膜１９のみとしている。

【００３７】上記構成の記録へッド１では、振動子電位
に応じて圧電振動子２が素子長手方向に伸縮し、圧力室
１４の容積が変化する。例えば、放電によって振動子電
位を下降させると圧電振動子２は伸張し、島部９がノズ
ルプレート１１側に押圧される。この島部９の押圧によ
って、ダイヤフラム部２０の弾性部２２が変形して圧力
室１４は収縮する。一方、充電によって振動子電位を上
昇させると圧電振動子２は収縮し、島部９が圧電振動子
２側に引っ張られる。この島部９の移動によって圧力室
１４は膨張する。

【００３８】このような圧力室１４の容積変化によって
圧力室１４内のインク圧力が変動する。即ち、インク圧
力は、圧力室１４の収縮によって上昇し、圧力室１４の
膨張によって下降する。従って、圧力室１４の容積を制
御することで、ノズル開口１３からインク滴を吐出させ
ることができる。例えば、膨張によって圧力室１４内を
負圧化し、インク供給口１５を通じて圧力室１４内にイ
ンクを充填する。インクの充填後に圧力室１４を急激に
収縮させると、圧力室１４内のインクが加圧されるの
で、ノズル開口１３からインク滴を吐出させることがで
きる。

【００３９】次に、この記録へッド１の製造工程につい
て説明する。この製造工程は、各構成部品から記録へッ
ド１を組み立てる組立工程と、組立後の記録へッド１に
ついて圧力室１４内のインク圧力についての固有振動周
期Ｔｃを測定する測定工程と、測定工程で得られた固有
振動周期Ｔｃを示す情報（固有情報）を記録へッド１に
付与する情報付与工程とからなる。

【００４０】上記の組立工程では、それぞれ別個に作製
されたケース６、振動子ユニット５、及び、流路ユニッ
ト７から記録へッド１を組み立てる。この組立工程で
は、まず、ケース６の先端面に流路ユニット７を接合す
る。この接合は、例えば、接着剤を用いて行う。ケース
６と流路ユニット７とを接合したならば、振動子ユニッ
ト５をケース６の収納空部８内に収納し固定する。この
場合、まず、振動子ユニット５を治具で支持して移動さ
せ、収納空部８内に挿入する。そして、圧電振動子２の
先端面を弾性板１２の島部９に当接させた状態で位置決
めする。位置決めをしたならば、この位置決め状態で固
定板３の背面とケース６の内壁との間に接着剤を注入し
て振動子ユニット５を接着する。

【００４１】記録へッド１を組み立てたならば測定工程
に移行する。この測定工程では、インク量の測定を行う
インク量測定工程と、このインク量測定工程で得られた
インク量に基づき、インク量比を取得するインク量比取
得工程と、圧力室１４内のインクの固有振動周期Ｔｃを
決定する固有振動周期決定工程とを順に行う。そして、
これらの各工程は、図３に示す固有振動周期測定装置を
用いて行われる。

【００４２】例示した固有振動周期測定装置は、圧電振
動子２を駆動可能な駆動手段の一種である評価パルス発
生回路３１（圧電振動子２を駆動するための評価パルス
ＴＰを発生する評価パルス発生手段とも表現できる。）
と、液体量測定手段の一種である電子天秤３２（重量計
測装置，重量計測手段とも表現できる。）と、これらの
評価パルス発生回路３１及び電子天秤３２に対して電気
的に接続され、液体量比取得手段及び固有振動周期決定
手段の一種としても機能する制御部３３とを備えてい
る。この制御部３３は、ＣＰＵ３３ａ，ＲＯＭ３３ｂ，
ＲＡＭ３３ｃ，及び情報記憶部３３ｄ（例えばＥＥＰＲ
ＯＭ）等を備えている。

【００４３】インク量測定工程は、本発明における液体
量測定工程の一種である。本実施形態のインク量測定工
程では、評価パルス発生回路３１と記録へッド１とを電
気的に接続し、評価パルス発生回路３１が発生した評価
パルスＴＰを圧電振動子２に供給して記録へッド１から
インク滴を吐出させる。そして、吐出させたインク滴の
重量を電子天秤３２で測定する。

【００４４】このインク量測定工程において評価パルス
発生回路３１は、図４に示すように、励振要素ＰＳ１か
ら吐出要素ＰＳ３までの時間間隔Ｐｗｈ１を第１時間間
隔にした第１評価パルスＴＰ１と、この時間間隔Ｐｗｈ
１を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔にした第２評
価パルスＴＰ２とをそれぞれ圧電振動子２に供給し、第
１評価パルスＴＰ１に対応する第１インク量ＩｗＳと第
２評価パルスＴＰ２に対応する第２インク量ＩｗＬとを
測定する。なお、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２に
ついては、後で詳しく説明する。

【００４５】また、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２
を用いた場合、記録へッド１から吐出されるインク滴
は、１滴が十数ピコリットル（ｐＬ）程度の少量とな
る。このため、１滴の重量も十数ナノグラム（ｎｇ）程
度であり、１滴毎に正確な重量を測定することは困難で
ある。そこで、電子天秤３２でインク滴の重量を測定す
る際には、複数のインク滴を各ノズル開口１３から吐出
させ、その総重量を測定する。例えば、総吐出回数が１
００，０００回となるように各ノズル開口１３からイン
ク滴を吐出させ、全体の重量を測定する。

【００４６】この場合において、これらの評価パルスＴ
Ｐ１，ＴＰ２は、１０ｋＨｚ以下の低周波数にて、特に
は５ｋＨｚ以下の低周波数にて、圧電振動子２に供給さ
れることが好ましい。これは、１０ｋＨｚよりも高い高
周波数で評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を圧電振動子２に供
給すると、吐出されるインク量が、周波数変動の影響を
受けて変動してしまう虞があるためである。評価パルス
の供給周期とインク量の関係を図５に示す。

【００４７】そして、制御部３３は、測定されたインク
重量を第１インク量ＩｗＳ或いは第２インク量ＩｗＬと
して取得する。この場合において、制御部３３は、測定
されたインク重量をそのまま第１インク量ＩｗＳ或いは
第２インク量ＩｗＬとして取得してもよい。また、測定
されたインク重量を総吐出回数で除算した１滴のインク
重量を、第１インク量ＩｗＳ或いは第２インク量ＩｗＬ
として取得してもよい。なお、吐出されたインク量が判
れば良いので、吐出されたインク滴を捕集し、その容積
を測定してもよい。

【００４８】また、インク量比取得工程は、本発明にお
ける液体量比取得工程の一種である。本実施形態では、
電子天秤３２から受信した第１インク量ＩｗＳと第２イ
ンク量ＩｗＬの重量情報に基づき、制御部３３がインク
量比（第１インク量ＩｗＳ／第２インク量ＩｗＬ，液体
量比の一種）を演算する。即ち、制御部３３は、インク
量比取得手段（液体量比取得手段の一種）として機能し
ており、演算結果をインク量比として取得する。

【００４９】また、固有振動周期決定工程は、予め取得
しておいたインク量比と固有振動周期Ｔｃの相関関係に
基づき、測定対象となる記録ヘッド１の固有振動周期Ｔ
ｃを決定する。即ち、制御部３３は、取得したインク量
比をこの相関関係にあてはめることで固有振動周期Ｔｃ
を決定する。従って、制御部３３は、固有振動周期決定
手段としても機能する。なお、本実施形態において、こ
のインク量比と固有振動周期Ｔｃの相関関係を示す情報
（相関関係情報）は、上記のＲＯＭ３３ｂ、又は、情報
記憶部３３ｄに記憶されている。

【００５０】以下、これらのインク量測定工程、インク
量比取得工程、及び固有振動周期Ｔｃ取得工程につい
て、詳細に説明する。

【００５１】まず、インク量測定工程について説明す
る。このインク量測定工程で使用する評価パルスＴＰ
は、上記したように、図４に示す形状のパルス信号であ
る。即ち、評価パルスＴＰは、基準電位としての中間電
位Ｖｍから最大電位Ｖｈまで一定勾配で電位を上昇させ
る励振要素ＰＳ１と、励振要素ＰＳ１に続いて発生され
て最大電位Ｖｈを維持する第１ホールド要素ＰＳ２と、
第１ホールド要素ＰＳ２に続いて発生されて最大電位Ｖ
ｈから最低電位ＶＬまで一定の急勾配で電位を下降させ
る吐出要素ＰＳ３と、吐出要素ＰＳ３に続いて発生され
て最低電位ＶＬを維持する第２ホールド要素ＰＳ４と、
最低電位ＶＬから中間電位Ｖｍまで一定勾配で電位を上
昇させる制振要素ＰＳ５とから構成されている。

【００５２】上記の励振要素ＰＳ１は、圧力室１４内の
インクに圧力振動を励起させる要素である。この励振要
素ＰＳ１が圧電振動子２に供給されると、詳しくは、励
振要素ＰＳ１を供給し、その後最大電位Ｖｈを維持する
と、圧力室１４は、中間電位Ｖｍに対応する基準容積か
ら最大電位Ｖｈに対応する最大容積まで膨張する。この
最大電位Ｖｈが供給されている期間において、圧力室１
４は最大容積を維持する。この容積変化によって圧力室
１４内のインク圧力は、例えば図６（ａ）に示すように
変動する。即ち、圧力室１４が膨張されると、圧力室１
４内のインク圧力は定常状態よりも低くなる。そして、
励振要素ＰＳ１の供給が終了すると、続いて、インク供
給口１５を通じて圧力室１４内にインクが流入する等に
よって圧力室１４内のインク圧力は上昇し、定常状態よ
りも高くなる。その後、圧力室１４内のインク圧力は降
下し、定常状態よりも低くなる。その結果、この励振要
素ＰＳ１が圧電振動子２に供給されると、圧力室１４内
のインクには固有振動周期Ｔｃの圧力振動が励起され
る。

【００５３】この励振要素ＰＳ１の発生時間Ｐｗｃ１、
即ち、圧電振動子２への供給時間は、固有振動周期Ｔｃ
の圧力振動を励起させ得る時間に設定される。そして、
圧力振動を効率よく励起させるという目的からすれば、
この時間Ｐｗｃ１は、圧力室１４内におけるインクの固
有振動周期Ｔｃの設計値以下に設定されることが好まし
く、設計値の１／２以下に設定されるのがより好まし
い。なお、本実施形態の記録へッド１では固有振動周期
Ｔｃの設計値が７．２μｓであるので、励振要素ＰＳ１
の発生時間Ｐｗｃ１をその略１／２に相当する３．５μ
ｓに設定している。

【００５４】吐出要素ＰＳ３は、圧力室１４を急激に収
縮させることでインクを加圧し、ノズル開口１３からイ
ンク滴を吐出させる要素である。この吐出要素ＰＳ３が
圧電振動子２に供給されると、圧力室１４は、最大電位
Ｖｈに対応する最大容積から最低電位ＶＬに対応する最
小容積まで急激に収縮される。この圧力室１４の急激な
収縮に伴い、圧力室１４内のインク圧力が急激に上昇
し、ノズル開口１３からはインク滴が吐出される。そし
て、この吐出要素ＰＳ３の発生時間Ｐｗｄ１は、インク
滴を吐出させるために必要な圧力が得られる時間に設定
される。この発生時間Ｐｗｄ１は、圧電振動子２を用い
た記録へッド１の場合、好ましくは、圧電振動子２の固
有振動周期Ｔａの設計値に設定される。本実施形態にお
いて、固有振動周期Ｔａの設計値が固有振動周期Ｔｃの
略１／２であることから、発生時間Ｐｗｄ１は、励振要
素ＰＳ１の発生時間Ｐｗｃ１と同じ長さに設定されてい
る。

【００５５】第１ホールド要素ＰＳ２は、励振要素ＰＳ
１の終端から吐出要素ＰＳ３の始端までを同電位で接続
する要素であり、励振要素ＰＳ１から吐出要素ＰＳ３ま
での時間間隔、言い換えれば、吐出要素ＰＳ３の供給タ
イミングを規定する。そして、この第１ホールド要素Ｐ
Ｓ２の時間幅Ｐｗｈ１を変化させると、吐出されるイン
ク量が変化する。これは、励振要素ＰＳ１の供給によっ
て圧力室１４内のインクに固有振動周期Ｔｃの圧力振動
が生じるためである。

【００５６】以下、この点について説明する。上記の励
振要素ＰＳ１を圧電振動子２へ供給して振動子電位を最
大電位Ｖｈで維持すると、図６（ａ）に模式的に示すよ
うに、圧力室１４内のインク圧力は、その記録へッド１
の固有振動周期Ｔｃで周期的に上下動する。そして、こ
のインク圧力の周期的な変動によってメニスカス（即
ち、ノズル開口で露出しているインクの自由表面）の状
態も変化する。例えば、圧力室１４内のインクが定常圧
力の場合には、図６（ｂ）に示すように、メニスカスＭ
はノズル面（ノズルプレート１１の外側表面）と略同一
位置で静止する。そして、インク圧力が定常圧力よりも
高い場合には、図６（ｃ）に示すように、メニスカスＭ
はノズル面よりも外側（インク滴の吐出側）に隆起した
状態となる。一方、インク圧力が定常圧力よりも低い場
合には、図６（ｄ）に示すように、メニスカスＭはノズ
ル面よりも奥側（圧力室１４側）に引き込まれた状態と
なる。

【００５７】そして、吐出されるインク量は、吐出要素
ＰＳ３の供給タイミングにおけるメニスカスＭの状態に
よって定められる。例えば、図６（ｂ）に示す状態、即
ち、メニスカスの定常状態で吐出要素ＰＳ３が供給され
た場合のインク量を基準にすると、図６（ｃ）に示すメ
ニスカスの隆起状態では、定常状態からの隆起分だけイ
ンク量が基準よりも増加する。一方、図６（ｄ）に示す
メニスカスの引き込み状態では、定常状態から引き込ま
れた分だけインク量が基準よりも減少する。

【００５８】これは、励振要素ＰＳ１の供給による圧力
室１４内のインクの振動エネルギーよりも、圧電振動子
２から加えられるエネルギーの方が十分に大きいからと
考えられる。即ち、圧電振動子２からの圧力変動がイン
クの圧力振動よりも十分に大きければ、インク滴吐出時
における圧力室１４の収縮速度や収縮量に関し、インク
の圧力振動の影響は殆ど受けず、メニスカスＭの位置の
差がインク量の差となって現れると考えられる。

【００５９】そして、図６（ａ）に示すように、メニス
カスＭの状態は圧力室１４内のインク圧力の変動に伴っ
て周期的に変化する。このため、第１ホールド要素ＰＳ
２の時間間隔Ｐｗｈ１をｔ１に設定するとメニスカスＭ
が定常状態となって基準インク量のインク滴が吐出され
る。また、この時間間隔Ｐｗｈ１をｔ２に設定するとメ
ニスカスＭが隆起状態となって基準のインク量よりも多
い量のインク滴が吐出される。さらに、この時間間隔Ｐ
ｗｈ１をｔ３に設定するとメニスカスＭが引き込み状態
となるので、基準のインク量よりも少ない量のインク滴
が吐出される。従って、各評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を
用いてインク量を測定すると、第１ホールド要素ＰＳ２
の時間間隔に応じたインク量が得られる。

【００６０】ところで、上記の記録へッド１では、振動
子ユニット５や流路ユニット７の寸法精度や取付精度等
の累積公差によって、圧力室１４内におけるインクの固
有振動周期Ｔｃにばらつきが生じる。また、この固有振
動周期Ｔｃが同じであったとしても、各圧電振動子２か
ら発生される力（押圧力や引っ張り力）が振動子ユニッ
ト５毎にばらつく。そして、固有振動周期Ｔｃがばらつ
いた場合には、図８に示すように、インクの圧力変動周
期が時間軸方向に伸縮し、これに伴いメニスカスＭの振
動周期も時間軸方向に伸縮する。このため、吐出される
インク量も、メニスカスＭの振動周期と同期して変動す
る。その結果、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを一定
にしたとしても、その記録へッド１の固有振動周期Ｔｃ
に応じて吐出されるインク量が相違する。また、圧電振
動子２からの力が変化した場合には、図７に示すよう
に、インク量の変動周期は同じであるが、吐出されるイ
ンク量が相違する。以下、これらの点について説明す
る。

【００６１】まず、固有振動周期Ｔｃの違いによって吐
出されるインク量が変動する点について説明する。以下
の説明では、設計値通りの固有振動周期Ｔｃを有する標
準の記録へッドと、製造上生じ得る最大の固有振動周期
Ｔｃの記録へッドと、製造上生じ得る最小の固有振動周
期Ｔｃの記録へッドの３種類の記録へッド１を例に挙げ
て説明することにする。

【００６２】なお、以下の説明においては、便宜上、設
計値通りの固有振動周期Ｔｃを標準固有振動周期Ｔｃｓ
ｔｄといい、この標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄを有する
記録へッド１を標準周期記録へッドという。そして、製
造上生じ得る最大の固有振動周期Ｔｃを最大固有振動周
期Ｔｃｍａｘといい、この最大固有振動周期Ｔｃｍａｘ
を有する記録へッド１を最大周期記録へッドという。ま
た、製造上生じ得る最小の固有振動周期Ｔｃを最小固有
振動周期Ｔｃｍｉｎといい、この最小固有振動周期Ｔｃ
ｍｉｎを有する記録へッド１を最小周期記録へッドとい
う。

【００６３】また、組立後の記録へッド１から標準周期
記録へッド、最大周期記録へッド、及び最小周期記録へ
ッドを選別するには、その固有振動周期Ｔｃを別方法で
測定する必要がある。この固有振動周期Ｔｃの測定は、
例えば、インク量変動曲線における変動周期を測定する
ことで行う。

【００６４】ここで、インク量変動曲線とは、図７の下
半に、実線、二点鎖線、点線で示された曲線であって、
第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔Ｐｗｈ１と吐出され
るインク量との関係を示す曲線である。このインク量変
動曲線は、例えば、上記の時間間隔Ｐｗｈ１を微小ステ
ップ単位で段階的に異ならせた複数種類の評価パルスＴ
Ｐ毎に測定用信号を構成し、各測定用信号を用いてイン
ク量の測定を行うことで得られる。例示したインク量変
動曲線では、時間間隔Ｐｗｈ１が長くなる程にインク量
が周期的に増減する。そして、このインク量変動曲線
は、次式（１）によって近似することができる。

【００６５】 Ｉｗ＝Ａ×ｓｉｎ｛２π（ｔ／Ｔｃ）＋α｝＋Ｏ … （１） この式（１）において、Ｉｗはインク滴（液滴）重量，
Ａは振動重量振幅，αは初期位相項，Ｏはベース重量で
ある。なお、上記Ａは、吐出要素ＰＳ３の電位差Ａ（図
４参照）に対応する。

【００６６】図７及び図８から判るように、このインク
量変動曲線の変動周期は、その記録へッド１における固
有振動周期Ｔｃに相当する。即ち、標準周期記録へッド
では、圧力室１４内のインク圧力、メニスカスＭの位
置、及び、インク量は、それぞれ、図８に実線で示すよ
うに、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄで周期的に変動す
る。そして、最大周期記録へッドでは、圧力室１４内の
インク圧力、メニスカスＭの位置、及び、インク量は、
それぞれ、図８に二点鎖線で示すように、最大固有振動
周期Ｔｃｍａｘで周期的に変動する。また、最小周期記
録へッドでは、圧力室１４内のインク圧力、メニスカス
Ｍの位置、及び、インク量は、それぞれ、図８に点線で
示すように、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎで周期的に変
動する。

【００６７】このため、インク量変動曲線における隣り
合う２つのボトム点同士、或いは、ピーク点同士の時間
間隔を測定することにより、その記録へッド１の固有振
動周期Ｔｃが測定できる。なお、以下の説明において
は、便宜上、標準周期記録へッドのインク量変動曲線を
標準周期インク量変動曲線（標準周期液体量変動曲線の
一種）という。同様に、最大周期記録へッドのインク量
変動曲線を最大周期インク量変動曲線（最大周期液体量
変動曲線の一種）といい、最小周期記録へッドのインク
量変動曲線を最小周期インク量変動曲線（最小周期液体
量変動曲線の一種）という。

【００６８】そして、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃ
が相違すると、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗ
ｈ１を固定しても吐出されるインク量が相違する。例え
ば、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ４
に設定した場合には、最大周期記録へッドにおけるイン
ク量Ｉｗａ３は、標準周期記録へッドにおけるインク量
Ｉｗａ２よりも多くなる。一方、最小周期記録へッドに
おけるインク量Ｉｗａ１は、標準周期記録へッドにおけ
るインク量Ｉｗａ２よりも少なくなる。また、第１ホー
ルド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ５に設定した場
合には、最大周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗｂ３
は標準周期記録へッドのインク量Ｉｗｂ２よりも少なく
なり、最小周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗｂ１は
標準周期記録へッドのインク量Ｉｗｂ２よりも多くな
る。

【００６９】次に、圧電振動子２からの力が変化した場
合について説明する。この場合には、上記したように、
インク量の変動周期は同じであるが、吐出されるインク
量が相違する。例えば、標準的な力の圧電振動子２を有
する振動子ユニット５を用いた場合には、図７に実線の
インク量変動曲線で示すように、吐出されるインク量が
周期的に変化する。そして、標準よりも強い力の圧電振
動子２を有する振動子ユニット５を用いた場合には、図
７に点線で示すように、インク量変動曲線は、標準的な
振動子ユニット５によるインク量変動曲線よりも全体的
に上昇すると共に、その上昇分に比例してインク量の変
動幅も広くなる。反対に、標準よりも弱い力の圧電振動
子２を有する振動子ユニット５を用いた場合には、図７
に二点鎖線で示すように、インク量変動曲線は、標準的
な振動子ユニット５によるインク量変動曲線よりも全体
的に下降すると共に、その下降分に比例してインク量の
変動幅も狭くなる。従って、圧電振動子２からの力が相
違した場合にも、固有振動周期Ｔｃが相違した場合と同
様に、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１を固
定したとしても吐出されるインク量が相違する。

【００７０】以上から、第１ホールド要素ＰＳ２の発生
時間Ｐｗｈ１を一定時間に固定した場合、吐出されるイ
ンク量は、その記録へッド１におけるインクの固有振動
周期Ｔｃに応じて変化するが、振動子ユニット５の特性
等によっても変化することが判る。このため、１つの評
価パルスＴＰのみを用いてインク量を測定した場合に
は、インク量の設計値からの差は判るが、その差が固有
振動周期Ｔｃの差に起因するものなのか、振動子ユニッ
ト５の特性差に起因するものなのかは判断できない。

【００７１】そこで、本実施形態では、インク量測定工
程にて第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬを測定
し、インク量比測定工程にてこれらの第１インク量Ｉｗ
Ｓと第２インク量ＩｗＬとからインク量比（ＩｗＳ／Ｉ
ｗＬ）を求め、固有振動周期決定工程にてこのインク量
比と固有振動周期Ｔｃの相関関係から測定対象の記録へ
ッド１の固有振動周期Ｔｃを決定するようにした。以
下、この点について説明する。

【００７２】振動子ユニット５の特性が相違する複数の
インク量変動曲線同士の間では、上記したように、ベー
スレベル（例えば平均インク量）の変動に比例してその
振幅が変化する。また、各インク量変動曲線の振動周期
は、振動子ユニット５の特性に拘わらず揃っている。こ
のため、上記のインク量比は、固有振動周期Ｔｃが同じ
であればベースレベルが変動しても略一定値となる。こ
れに対して、固有振動周期Ｔｃが相違する複数のインク
量変動曲線は、固有振動周期Ｔｃの差によって時間軸方
向に伸縮する。このため、固有振動周期Ｔｃが相違する
場合、インク量比は固有振動周期Ｔｃに応じて変化す
る。

【００７３】例えば、図７に示すように、振動子ユニッ
ト５の特性が相違する場合には、第１ホールド要素ＰＳ
２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ６として測定したインク量Ｉ
ｗｃ１，Ｉｗｃ２，Ｉｗｃ３と、この発生時間Ｐｗｈ１
をｔ７として測定したインク量Ｉｗｄ１，Ｉｗｄ２，Ｉ
ｗｄ３の間では、次式（２）の関係が成立する。

【００７４】 Ｉｗｃ１／Ｉｗｄ１＝Ｉｗｃ２／Ｉｗｄ２＝Ｉｗｃ３／Ｉｗｄ３ … （２）

【００７５】また、これらのインク量Ｉｗｄ１，Ｉｗｄ
２，Ｉｗｄ３と、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐ
ｗｈ１をｔ８として測定したインク量Ｉｗｅ１，Ｉｗｅ
２，Ｉｗｅ３との間では、次式（３）の関係が成立す
る。

【００７６】 Ｉｗｄ１／Ｉｗｅ１＝Ｉｗｄ２／Ｉｗｅ２＝Ｉｗｄ３／Ｉｗｅ３ … （３）

【００７７】同様に、これらのインク量Ｉｗｃ１，Ｉｗ
ｃ２，Ｉｗｃ３と、インク量Ｉｗｅ１，Ｉｗｅ２，Ｉｗ
ｅ３との間では、次式（４）の関係が成立する。

【００７８】 Ｉｗｃ１／Ｉｗｅ１＝Ｉｗｃ２／Ｉｗｅ２＝Ｉｗｃ３／Ｉｗｅ３ … （４）

【００７９】一方、固有振動周期Ｔｃが相違する場合に
は、図８に示すように、第１ホールド要素ＰＳ２の発生
時間Ｐｗｈ１をｔ４及びｔ５に設定してそれぞれインク
量を測定すると、即ち、最小周期記録へッドに対応する
インク量Ｉｗａ１，Ｉｗｂ１と、標準周期記録へッドに
対応するインク量Ｉｗａ２，Ｉｗｂ２と、最大周期記録
へッドに対応するインク量Ｉｗａ３，Ｉｗｂ３とを測定
すると、次式（５）の関係が成立する。

【００８０】 Ｉｗａ１／Ｉｗｂ１＜Ｉｗａ２／Ｉｗｂ２＜Ｉｗａ３／Ｉｗｂ３ … （５）

【００８１】これらのインク量Ｉｗａ１、Ｉｗａ２、及
び、Ｉｗａ３に関し、Ｉｗａ１はＩｗａ２よりも少な
く、Ｉｗａ２はＩｗａ３よりも少ない。そして、Ｉｗａ
１は最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎにおけるインク量であ
り、Ｉｗａ３は最大固有振動周期Ｔｃｍａｘにおけるイ
ンク量であるので、発生時間Ｐｗｈ１をｔ４に設定した
場合のインク量は、固有振動周期Ｔｃが増加する程に増
加している。一方、Ｉｗｂ１、Ｉｗｂ２、及び、Ｉｗｂ
３に関し、Ｉｗｂ１はＩｗｂ２よりも多く、Ｉｗｂ２は
Ｉｗｂ３よりも多い。そして、Ｉｗｂ１は最小固有振動
周期Ｔｃｍｉｎにおけるインク量であり、Ｉｗｂ３は最
大固有振動周期Ｔｃｍａｘにおけるインク量であるの
で、発生時間Ｐｗｈ１をｔ５に設定した場合のインク量
は、固有振動周期Ｔｃが増加する程に減少するといえ
る。従って、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ
１をｔ４及びｔ５に設定して取得したインク量比（Ｉｗ
ａ／Ｉｗｂ）は、その記録へッド１におけるインクの固
有振動周期Ｔｃと１対１に対応する。

【００８２】以上の説明から明らかなように、インク量
比取得工程で取得する第１インク量ＩｗＳと第２インク
量ＩｗＬのインク量比は、振動子ユニット５の特性差等
に起因するインク量のばらつきについては無効化し、圧
力室１４内におけるインクの固有振動周期Ｔｃの差に応
じて変動するパラメータとなる。従って、このインク量
比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）と固有振動周期Ｔｃの相関関係を
予め取得しておくことで、組立後の記録へッド１のイン
ク量（即ち、インク量比）からその記録へッド１におけ
る固有振動周期Ｔｃが決定できる。

【００８３】この場合において、上記励振要素ＰＳ１の
電位差が大きい程、つまり、励振要素ＰＳ１の電位勾配
が急峻である程、インク量変動曲線における振幅が大き
くなるという知見が得られた。これは、励振要素ＰＳ１
の電位差が大きい程にメニスカスＭの振幅が大きくなる
からと考えられる。例えば、図９に示すように、吐出要
素ＰＳ３の電位差Ａに対する励振要素ＰＳ１の電位差Ｂ
の比（Ｂ／Ａ，図４参照）に関し、３５％に設定した場
合と９５％に設定した場合とを比較すると、９５％に設
定した場合の方がインク量の変化が顕著になっている。
このように、インク量の変化が顕著であると、固有振動
周期Ｔｃの僅かな違いをインク量比で表すことができ
る。このため、固有振動周期Ｔｃの検出感度を向上させ
ることができて好ましい。そして、この実験結果から、
吐出要素ＰＳ３の電位差Ａに対する励振要素ＰＳ１の電
位差Ｂの比に関し、９０％以上となっていることが好ま
しく、９５％以上となっていることがより好ましいとい
える。

【００８４】また、固有振動周期Ｔｃを取得する際に用
いる２種類の評価パルスＴＰ１，ＴＰ２に関し、各評価
パルスＴＰ１，ＴＰ２における第１ホールド要素ＰＳ２
の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔，第２時間間隔）、
即ち、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングは任意に設定で
きる。しかし、この第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔
Ｐｗｈ１の選択の仕方によって固有振動周期Ｔｃの検出
精度が相違する。例えば、第１時間間隔と第２時間間隔
との差を比較的小さく設定すると、固有振動周期Ｔｃの
変化量に対するインク量比の変化量も小さくなり、検出
感度が低くなってしまう。

【００８５】本実施形態では、図１０に示すように、吐
出要素ＰＳ３の供給タイミングが最大周期インク量変動
曲線のピーク点から直近の最小周期インク量変動曲線の
ピーク点までの範囲となるように、時間間隔Ｐｗｈ１
（第１時間間隔，第２時間間隔）を設定する。言い換え
れば、最大周期インク量変動曲線における２つの隣り合
うピーク点同士の間に属し、且つ、最小周期インク量変
動曲線における２つの隣り合うピーク点同士の間に属す
る重複範囲に時間間隔Ｐｗｈ１を設定する。この範囲に
時間間隔Ｐｗｈ１を設定すると、測定対象となる記録へ
ッド１のインク量変動曲線は、最大周期インク量変動曲
線と最小周期インク量変動曲線の間に存在する。このた
め、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）からその記録へッド
１における固有振動周期Ｔｃを高精度に定めることがで
きる。

【００８６】さらに詳しくは、上記範囲内において、標
準周期インク量変動曲線のボトム点で吐出要素ＰＳ３が
供給される時間間隔Ｐｗｈ１（時間間隔ｔ９）を標準時
間間隔とし、第１時間間隔をこの標準時間間隔から標準
固有振動周期Ｔｃｓｔｄの１／４を減じた時間間隔に設
定すると共に、第２時間間隔をこの標準時間間隔に標準
固有振動周期Ｔｃｓｔｄの１／４を加えた時間間隔に設
定する。この設定により、第１時間間隔と第２時間間隔
の中央値を標準時間間隔に一致させている。

【００８７】このように設定すると、標準固有振動周期
Ｔｃｓｔｄを有する記録へッド１については、第１評価
パルスＴＰ１に対応するインク量ＩｗＳと第２評価パル
スＴＰに対応するインク量ＩｗＬとが略等しくなり、イ
ンク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）は値１．０００に近くな
る。そして、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い固
有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１については、イン
ク量ＩｗＳがインク量ＩｗＬよりも小さくなり、インク
量比は値１．０００よりも小さくなる。また、標準固有
振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い固有振動周期Ｔｃを有す
る記録へッド１については、インク量ＩｗＳがインク量
ＩｗＬよりも大きくなり、インク量比は値１．０００よ
りも大きくなる。

【００８８】なお、標準時間間隔と第１時間間隔の差、
及び標準時間間隔と第２時間間隔の差は、上記の例に限
らず適宜に設定することができる。少なくとも標準固有
振動周期Ｔｃの０．１倍（０．１Ｔｃｓｔｄ）程度の差
があれば、固有振動周期Ｔｃを好適に測定できる。

【００８９】次に、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）から
固有振動周期Ｔｃを決定する工程、即ち、固有振動周期
決定工程について説明する。

【００９０】ここで、図１１は、固有振動周期Ｔｃを縦
軸に、インク量比を横軸にそれぞれ設定し、複数の記録
へッド１について固有振動周期Ｔｃとインク量比の関係
を示した図である。この図１１から、固有振動周期Ｔｃ
とインク量比とは高い相関関係があることが判る。即
ち、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも短ければ短いほど
インク量比の値は小さくなり、固有振動周期Ｔｃが設計
値よりも長ければ長いほどインク量比の値は大きくな
る。また、固有振動周期Ｔｃが設計値（７．２μｓ）に
近ければ近いほどインク量比は値１．０００に近づく。

【００９１】さらに、この図１１より、固有振動周期Ｔ
ｃとインク量比の相関関係は、インク量比を変数とする
一次式によって表せることが判る。言い換えれば、固有
振動周期Ｔｃとインク量比との関係は、直線状の検量線
で表すことができる。この場合において、インク量比の
全範囲を単一の一次式で近似することもできる。しか
し、この例では、インク量比の値１．０００（標準イン
ク量比に相当）を境に、インク量比の小さい側と大きい
側とで有意の差がみられる。このため、値１．０００よ
りも小さい側の範囲（第１範囲に相当）と、値１．００
０以上の範囲（第２範囲に相当）とに分けて一次式を設
定することが好ましい。例えば、値１．０００よりも小
さい側の範囲を符号ＬＡ１の検量線に相当する一次式で
近似し、値１．０００以上の範囲を符号ＬＡ２の検量線
に相当する一次式で近似する。このように、複数範囲毎
に一次式（ＬＡ１，ＬＡ２）を設定すると、単一の一次
式で近似した場合よりも精度よく固有振動周期Ｔｃを取
得できる。

【００９２】なお、この観点からすれば、図１２に示す
ように、インク量比の範囲を、値１．０００を中心と
し、値０．９５０以上であって値１．０５０未満に設定
された標準範囲（第３範囲に相当）と、この標準範囲よ
りも小さい側の範囲（第４範囲に相当）と、標準範囲よ
りも大きい側の範囲（第５範囲に相当）とに分け、各範
囲毎に一次式（検量線ＬＢ１〜ＬＢ３）を設定してもよ
い。このようにすれば、より高い精度で固有振動周期Ｔ
ｃを取得できる。

【００９３】このように、インク量比（ＩｗＳ／Ｉｗ
Ｌ）と固有振動周期Ｔｃが高い相関関係を有しているの
で、いくつかのサンプルを用いて一次式（検量線ＬＡ１
〜ＬＡ２，検量線ＬＢ１〜ＬＢ３）を予め設定し、制御
部３３のＲＯＭやＥＥＰＲＯＭに記憶させておくこと
で、インク量比から固有振動周期Ｔｃを簡便に取得でき
る。即ち、制御部３３（固有振動周期決定手段）は、上
記の一次式にインク量比を代入する演算を行うことで、
その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを取得でき
る。そして、この方法では、インク量比が固有振動周期
Ｔｃに１対１に対応しているので、固有振動周期Ｔｃを
精度良く取得できる。

【００９４】組立後の記録へッド１について固有振動周
期Ｔｃを測定したならば、情報付与工程に移行し、得ら
れた固有振動周期Ｔｃを表す情報（固有情報）を記録へ
ッド１に付与する。

【００９５】この情報付与工程では、例えば、得られた
固有振動周期Ｔｃの値を固有情報とし、図１３（ａ）に
示すように、固有振動周期Ｔｃの値を文字やバーコード
等の光学的に読み取り可能な態様で粘着シール３５（表
記部材の一種）に表記し、この粘着シール３５をケース
表面（例えば、側面）に貼設する。また、図１３（ｂ）
に示すように、記録へッド１内に設けたＲＯＭ等の情報
記憶素子３６（固有情報記憶手段の一種）に記憶させて
もよい。即ち、固有振動周期Ｔｃを表す固有情報は、粘
着シール３５や情報記憶素子３６等の情報付与媒体を介
して記録へッド１に付与される。なお、上記したよう
に、インク量比が固有振動周期Ｔｃと１対１に対応して
いるので、上記の固有情報としてはインク量比の値を用
いることもできる。

【００９６】以上説明した製造方法によれば、第１ホー
ルド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１が異なる２種類の評
価パルスＴＰ１，ＴＰ２を用いてインク量の測定を行う
ことで、その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを
測定できる。そして、このインク量測定は簡便であり、
自動化への対応も容易であるので、量産に適する。

【００９７】ところで、上記した第１実施形態では、標
準周期インク量変動曲線のボトム点に対応する標準時間
間隔（時間間隔ｔ９，図１０参照。）を基準とし、この
標準時間間隔から規定時間短い第１時間間隔、及び規定
時間長い第２時間間隔を用いてインク量ＩｗＳ，Ｉｗ
Ｌ、及びインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を取得する構成
について説明したが、本発明はこの構成に限定されるも
のではない。例えば、固有振動周期Ｔｃの増加に伴って
インク量が増加する増加時間範囲内で吐出要素ＰＳ３が
供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の一
方を設定し、且つ、固有振動周期Ｔｃの増加に伴ってイ
ンク量が減少する減少時間範囲内で吐出要素ＰＳ３が供
給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の他方
を設定してもよい。

【００９８】以下、このように構成した第２実施形態に
ついて説明する。なお、インク量比を用いることで振動
子ユニット５の特性差等に起因するインク量のばらつき
の影響は無視できるため、以下の説明では振動子ユニッ
ト５の特性差等に起因するインク量のばらつきは考慮し
ないことにする。

【００９９】図１４は、図８のインク量変動曲線におけ
る符号Ｘで示す領域を拡大して示した図である。この図
１４において、点線は最小周期インク量変動曲線であ
り、二点鎖線は最大周期インク量変動曲線である。ま
た、実線は標準周期インク量変動曲線である。さらに、
この例では、最小周期記録へッドと標準周期記録へッド
の中間の固有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１（便宜
上、第１中間記録へッドという。）のインク量変動曲線
を破線で示し、最大周期記録へッドと標準周期記録へッ
ドの中間の固有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１（便
宜上、第２中間記録へッドという。）のインク量変動曲
線を一点鎖線で示している。

【０１００】また、この図１４において、最大周期イン
ク量変動曲線における１番目のピーク点をタイミングｐ
１とし、最小周期インク量変動曲線における１番目のボ
トム点をタイミングｐ２としている。そして、最大周期
インク量変動曲線における１番目のボトム点をタイミン
グｐ３とし、最小周期インク量変動曲線における２番目
のピーク点をタイミングｐ４としている。この例では、
上記の増加時間範囲は、タイミングｐ１以上であってタ
イミングｐ２以下の時間範囲Ｘ１となり、上記の減少時
間範囲は、タイミングｐ３以上であってタイミングｐ４
以下の時間範囲Ｘ２となる。

【０１０１】この増加時間範囲内に属するタイミングｐ
５でのインク量Ｉｗｆ１〜Ｉｗｆ５を比較すると次の関
係が成立する。即ち、固有振動周期Ｔｃが最も短い最小
周期記録へッドのインク量Ｉｗｆ１が最も少なく、固有
振動周期Ｔｃが２番目に短い第１中間記録へッドのイン
ク量Ｉｗｆ２が２番目に少なく、標準周期記録へッドの
インク量が３番目に少なくなる。また、固有振動周期Ｔ
ｃが２番目に長い第２中間記録へッドのインク量Ｉｗｆ
４が２番目に多く、固有振動周期Ｔｃが最も長い最大周
期記録へッドのインク量Ｉｗｆ５が最も多くなる。そし
て、これらのインク量Ｉｗｆ１〜Ｉｗｆ５の関係は、タ
イミングｐ１からｐ２の範囲で同じように成立する。言
い換えると、各インク量変動曲線は、タイミングｐ１か
らｐ２の範囲内では交差しない。従って、このタイミン
グｐ１からｐ２の範囲内では、吐出要素ＰＳ３の供給タ
イミングを固定すると、記録へッド１の固有振動周期Ｔ
ｃの増加に伴ってインク量が増加する。

【０１０２】一方、減少時間範囲内に属するタイミング
ｐ６でのインク量Ｉｗｇ１〜Ｉｗｇ５を比較すると次の
関係が成立する。即ち、固有振動周期Ｔｃが最も短い最
小周期記録へッドのインク量Ｉｗｇ１が最も多く、固有
振動周期Ｔｃが２番目に短い第１中間記録へッドのイン
ク量Ｉｗｇ２が２番目に多く、標準周期記録へッドのイ
ンク量が３番目に多い。また、固有振動周期Ｔｃが２番
目に長い第２中間記録へッドのインク量Ｉｗｇ４が２番
目に少なく、固有振動周期Ｔｃが最も長い最大周期記録
へッドのインク量Ｉｗｇ５が最も少ない。そして、これ
らのインク量Ｉｗｇ１〜Ｉｗｇ５の関係は、タイミング
ｐ３からｐ４の範囲で同じように成立する。即ち、各イ
ンク量変動曲線は、タイミングｐ３からｐ４の範囲内で
は交差しない。従って、このタイミングｐ３からｐ４の
範囲内では、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを固定す
ると、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃの増加に伴って
インク量が減少する。

【０１０３】そして、第１評価パルスＴＰ１における吐
出要素ＰＳ３の供給タイミング（第１供給タイミング）
を増加時間範囲内に設定し、第２評価パルスＴＰ２にお
ける吐出要素ＰＳ３の供給タイミング（第２供給タイミ
ング）を減少時間範囲内に設定すると、換言すれば、イ
ンク量変動曲線における同一次数のボトム範囲が第１供
給タイミングと第２供給タイミングの間に存在するよう
に設定すると、算出したインク量比からその記録へッド
１の固有振動周期Ｔｃを高い精度で取得することができ
る。

【０１０４】即ち、インク量比は、第１評価パルスＴＰ
１の第１インク量ＩｗＳが分子となり、第２評価パルス
ＴＰ２の第２インク量ＩｗＬが分母となっている。この
ため、固有振動周期Ｔｃが増加する程に第１インク量Ｉ
ｗＳは増加し第２インク量ＩｗＬは減少することにな
る。反対に、固有振動周期Ｔｃが減少する程に第１イン
ク量ＩｗＳは減少し第２インク量ＩｗＬは増加すること
になる。その結果、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対する
インク量比の変化幅を、後述する比較例よりも大きくす
ることができ、インク量比からその記録へッド１におけ
る固有振動周期Ｔｃを高い精度で取得することができ
る。

【０１０５】例えば、第１評価パルスＴＰ１における吐
出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ２とし、
第２評価パルスＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タ
イミングをタイミングｐ３とした場合には、図１５に示
すように、固有振動周期Ｔｃの変化幅が約６．６μｓ〜
８．５μｓの範囲であるのに対し、インク量比の変化幅
が約０．８５０〜１．１５０になる。そして、この範囲
内においては、実線で示すように、固有振動周期Ｔｃと
インク量比の相関関係は、インク量比を変数とする一次
式（符号ＬＣで示す検量線）で表すことができる。この
ように、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対してインク量比
の変化幅が十分に広いため、インク量比からその記録へ
ッド１における固有振動周期Ｔｃを高い精度で取得する
ことができる。なお、この例に用いた記録へッド１は、
固有振動周期Ｔｃの設計値が７．５μｓである。

【０１０６】ところで、この図１５の相関関係を取得す
る際に用いた各評価パルスＴＰ１，ＴＰ２に関し、その
吐出要素ＰＳ３の供給タイミングｐ２，ｐ３は、何れも
インク量変動曲線のボトム点に近い側であった。そし
て、これらの供給タイミングｐ２，ｐ３は、固有振動周
期Ｔｃの変化幅に対するインク量の変化幅が、増加時間
範囲や減少時間範囲内において比較的小さいタイミング
である。

【０１０７】例えば、この供給タイミングｐ２を供給タ
イミングｐ５と比較すると、供給タイミングｐ５では最
小固有振動周期Ｔｃｍｉｎから最大固有振動周期Ｔｃｍ
ａｘまで固有振動周期Ｔｃが変化すると、インク量がＩ
ｗｆ１からＩｗｆ５まで変化する。これに対して、供給
タイミングｐ２では、固有振動周期Ｔｃが最小固有振動
周期Ｔｃｍｉｎから最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまで変
化すると、インク量がＩｗｈ１からＩｗｈ５まで変化す
る。そして、図から明らかなように、インク量Ｉｗｆ５
とＩｗｆ１の差はインク量Ｉｗｈ５とＩｗｈ１の差より
も大きい。また、供給タイミングｐ１では、最小固有振
動周期Ｔｃｍｉｎから最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまで
固有振動周期Ｔｃが変化すると、インク量がＩｗｉ１か
らＩｗｉ５まで変化する。そして、その変化幅は、供給
タイミングｐ５でのインク量Ｉｗｆ１からＩｗｆ５まで
の差よりも小さい。

【０１０８】以上から、増加時間範囲内及び減少時間範
囲内において、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングに最適
値があることを意味する。以下、この最適値について説
明する。

【０１０９】図１６は、上記の増加時間範囲（ｐ１以上
ｐ２以下）におけるインク量の変化を、固有振動周期Ｔ
ｃが相違する上記５種類の記録へッド１毎に示した図で
あり、図１７は、上記の減少時間範囲（ｐ３以上ｐ４以
下）におけるインク量の変化を上記５種類の記録へッド
１毎に示した図である。図１６において、タイミングｐ
１２は、標準周期インク量変動曲線（実線）における単
位時間当たりのインク量の変化が最大となるタイミング
である。そして、タイミングｐ１１はタイミングｐ１と
ｐ１２の中間のタイミングであり、タイミングｐ１３は
タイミングｐ１２とｐ２の中間のタイミングである。ま
た、図１７において、タイミングｐ２２は、標準周期イ
ンク量変動曲線（実線）における単位時間当たりのイン
ク量の変化が最大となるタイミングである。そして、タ
イミングｐ２１はタイミングｐ３とｐ２２の中間のタイ
ミングであり、タイミングｐ２３はタイミングｐ２２と
ｐ４の中間のタイミングである。

【０１１０】これらの図より明らかなように、増加時間
範囲においては、各インク量変動曲線は、タイミングｐ
１２におけるインク量の変化幅（Ｉｗｊ５−Ｉｗｊ１）
が最も大きい。同様に、減少時間範囲においては、各イ
ンク量変動曲線は、タイミングｐ２２におけるインク量
の変化幅（Ｉｗｋ１−Ｉｗｋ５）が最も大きい。従っ
て、増加時間範囲では吐出要素ＰＳ３の供給タイミング
をタイミングｐ１２に設定することで、固有振動周期Ｔ
ｃの増減に伴うインク量の増減幅を最大にできる。一
方、減少時間範囲では吐出要素ＰＳ３の供給タイミング
をタイミングｐ２２に設定することで、固有振動周期Ｔ
ｃの増減に伴うインク量の増減幅を最大にできる。その
結果、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対するインク量比の
変化幅を可及的に大きくすることができ、インク量比か
らその記録へッド１における固有振動周期Ｔｃをより高
い精度で取得できる。

【０１１１】なお、この場合、第１評価パルスＴＰ１及
び第２評価パルスＴＰ２を設定するにあたり、標準周期
インク量変動曲線を取得する必要がある。この標準周期
インク量変動曲線は、上記したように、励振要素ＰＳ１
から吐出要素ＰＳ３までの時間間隔を変えた複数の評価
パルスＴＰを測定用信号として用い、この測定用信号を
標準周期記録へッドに供給することで測定できる。

【０１１２】次に、比較例として、上記の増加時間範囲
及び減少時間範囲外の時間範囲を用いた場合について説
明する。ここでは、上記の増加時間範囲Ｘ１と減少時間
範囲Ｘ２とに挟まれた範囲Ｘ３、即ち、タイミングｐ２
よりも遅くタイミングｐ３よりも早い範囲（以下、ボト
ム範囲という。）を例に挙げて説明する。

【０１１３】図１８は、このボトム範囲内におけるにお
けるインク量の変化を、固有振動周期Ｔｃが相違する上
記５種類の記録へッド１毎に示した図である。そして、
この図１８に示すように、ボトム範囲内には、インク量
と固有振動周期Ｔｃとが１対１に対応しないタイミング
がある。例えば、タイミングｐ３１を吐出要素ＰＳ３の
供給タイミングにすると、標準周期記録へッドと最小周
期記録へッドとがほぼ同じインク量Ｉｗｍ１となる。さ
らに、第１中間記録へッドのインク量Ｉｗｍ２は、上記
のインク量Ｉｗｈ１よりも少なくなっている。このこと
は、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎから標準固有振動周期
Ｔｃｓｔｄまでの範囲内では、インク量が固有振動周期
Ｔｃの増加に伴って一旦減少してから上昇するという逆
転現象が生じていることを意味する。従って、測定対象
の記録へッド１がこの範囲内の固有振動周期Ｔｃを有す
る場合には、測定されたインク量に対する固有振動周期
Ｔｃが２つ存在することになる。

【０１１４】同様に、上記のタイミングｐ３１よりも少
し遅いタイミングｐ３３を吐出要素ＰＳ３の供給タイミ
ングにした場合には、標準周期記録へッドと第２中間記
録へッドとがほぼ同じインク量Ｉｗｎ３となり最も少な
い。さらに、最大周期記録へッドと第１中間記録へッド
とがほぼ同じインク量Ｉｗｎ４となる。このため、第１
中間記録へッドの固有振動周期Ｔｃから最大周期記録へ
ッドの最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまでの広い範囲でイ
ンク量の逆転現象が生じ、１つのインク量に対する固有
振動周期Ｔｃが２つ存在することになる。

【０１１５】従って、吐出要素ＰＳ３の供給タイミング
をこのボトム範囲内に設定すると、１つのインク量に対
する固有振動周期Ｔｃが２つ存在するタイミング同士を
用いることになり、測定精度を高めるという点で好まし
くない。さらに、この範囲内は、インク量変動曲線のボ
トム点付近であるので、固有振動周期Ｔｃの増加量に対
するインク量の増減量が少ない。この点でも、測定精度
を高め難くなるので好ましくない。

【０１１６】その結果、２つの評価パルスＴＰ１，ＴＰ
２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをこのボト
ム範囲内に設定した場合には、固有振動周期Ｔｃの変化
幅に対するインク量比の変化幅が、上記実施形態よりも
小さくなり、固有振動周期Ｔｃの測定精度が低下する。
例えば、第１評価パルスＴＰ１における吐出要素ＰＳ３
の供給タイミングをタイミングｐ３２とし、第２評価パ
ルスＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを
タイミングｐ３３とした場合には、図１９に符号ＬＤの
検量線で表される一次式のように、固有振動周期Ｔｃの
変化幅が約６．６μｓ〜８．５μｓの範囲であるのに対
し、インク量比の変化幅が約０．９６０〜１．０７０に
なる。

【０１１７】これを、図１５の例、即ち、上記した増加
時間範囲及び減少時間範囲を用いた例と比較すると、固
有振動周期Ｔｃの変化幅は両方とも約６．６μｓ〜８．
５μｓである。しかし、インク量比の変化幅に関し、図
１３の例では約０．８５０〜１．１５０の範囲で変動す
るが、図１９の例では約０．９６０〜１．０７０の範囲
でしか変動しない。このため、増加時間範囲及び減少時
間範囲を用いることで、測定対象の記録へッド１におけ
る固有振動周期Ｔｃをより高い精度で測定できることが
判る。

【０１１８】そして、インク量比取得工程では、上記し
たように、測定工程で測定した第１インク量ＩｗＳと第
２インク量ＩｗＬからインク量比を求め、固有振動周期
決定工程では、求めたインク量比を固有振動周期Ｔｃと
インク量比との相関関係にあてはめることで、その記録
へッド１における固有振動周期Ｔｃを決定する。さら
に、情報付与工程では、決定した固有振動周期Ｔｃの情
報を情報付与媒体を介して記録へッド１に付与する。

【０１１９】図１５の例で説明すると、その記録へッド
１におけるインク量比が０．９５０であった場合には固
有振動周期Ｔｃは７．２５μｓと判定し、インク量比が
０．９９０であった場合には固有振動周期Ｔｃは７．５
μｓと判定する。

【０１２０】以上説明したようにこの第２実施形態で
も、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１が異な
る２種類の評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を用いてインク量
の測定を行うことで、その記録へッド１における固有振
動周期Ｔｃを測定できる。そして、このインク量測定は
簡便であり、自動化への対応も容易であるので、量産に
適する。さらに、この実施形態では、吐出要素ＰＳ３の
供給タイミングに関し、第１評価パルスＴＰ１は増加時
間範囲内に設定し、第２評価パルスＴＰ２は減少時間範
囲内に設定しているので、測定対象の記録へッド１につ
いて固有振動周期Ｔｃを精度良く測定することができ
る。

【０１２１】なお、増加時間範囲と減少時間範囲の組み
合わせに関し、上記実施形態の組み合わせに限られな
い。例えば、増加時間範囲に関し、図８に符号Ｙで示す
ように、最大周期インク量変動曲線における２番目のピ
ーク点から最小周期インク量変動曲線における２番目の
ボトム点までの範囲としても良い。この場合、第１評価
パルスＴＰ１における吐出要素ＰＳ３の供給タイミング
が減少時間範囲内に設定され、第２評価パルスＴＰ２に
おける吐出要素ＰＳ３の供給タイミングが増加時間範囲
内に設定されることになる。そして、このように構成し
た場合にも、上記実施形態と同様の作用効果を奏する。

【０１２２】なお、増加時間範囲と減少時間範囲の組み
合わせは、互いに隣り合う時間範囲であることが好まし
い。これは、増加時間範囲と減少時間範囲の組み合わせ
が２周期以上時間軸方向に離隔すると、後側の時間範囲
において、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎと最大固有振動
周期Ｔｃｍａｘとの差（変化幅）が大きくなり過ぎ、ま
た、減衰によってインク量の変化幅も小さくなり過ぎて
しまい、固有振動周期Ｔｃの測定精度が低下する虞があ
るためである。

【０１２３】ところで、上記各実施形態では、インク量
比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を取得するための検量線（一次
式）は、１種類の第１評価信号ＴＰ１及び第２評価信号
ＴＰ２によって作成されていた。このため、測定対象と
なる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃが設計値から大き
く外れている場合には、決定された固有振動周期Ｔｃの
精度が低くなってしまう。これは、検量線には最適な測
定範囲があるからである。このような記録へッド１は、
通常、不良品として扱われる。しかし、生産性向上のた
めには、このような記録へッド１であっても、固有振動
周期Ｔｃを精度良く測定してプリンタに搭載することが
求められている。

【０１２４】この場合において、インク量比取得工程で
取得されたインク量比が判断基準範囲を越えていると判
定された場合に、第１評価信号と第２評価信号の少なく
とも一方を再設定すると、検量線による測定範囲を変え
ることができる。このため、固有振動周期Ｔｃが設計値
から大きく外れている記録へッド１であってもプリンタ
に搭載することができる。以下、このように構成した第
３実施形態について説明する。

【０１２５】この第３実施形態では、図２０に示すよう
に、検量線ＬＥ１〜ＬＥ３に対応する３種類の一次式を
用いて固有振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係を表し
ている。具体的には、標準固有振動周期Ｔｃ用の一次式
（便宜上、第１の一次式ＬＥ１という。）と、標準固有
振動周期Ｔｃよりも短い固有振動周期Ｔｃ用の一次式
（便宜上、第２の一次式ＬＥ２という。）と、標準固有
振動周期Ｔｃよりも長い固有振動周期Ｔｃ用の一次式
（便宜上、第３の一次式ＬＥ３という。）によって固有
振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係を表している。な
お、第１の一次式ＬＥ１は、インク量比取得工程で取得
されたインク量比が判断基準範囲内であった場合に用い
られる相関関係を表している。そして、第２の一次式Ｌ
Ｅ２は、取得されたインク量比が判断基準範囲を超えて
小さかった場合に用いられる相関関係を表している。ま
た、第３の一次式ＬＥ３は、取得されたインク量比が判
断基準範囲を超えて大きかった場合に用いられる相関関
係を表している。

【０１２６】本実施形態において第１の一次式ＬＥ１
は、第１評価パルスＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時
間間隔）を３．５μｓに、第２評価パルスＴＰの時間間
隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を７μｓにそれぞれ設定
し、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を固有振動周期
Ｔｃが異なる複数の記録へッド１に供給して得られたイ
ンク量（インク量比）に基づいて定められている。ま
た、第２の一次式ＬＥ２は、第１評価パルスＴＰ１の時
間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔）を２．７μｓに、第２
評価パルスＴＰの時間間隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を
５．７μｓにそれぞれ設定し、これらの評価パルスＴＰ
１，ＴＰ２を固有振動周期Ｔｃが異なる複数の記録へッ
ド１に供給して得られたインク量（インク量比）に基づ
いて定められている。同様に、第３の一次式ＬＥ３は、
第１評価パルスＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間
隔）を４．３μｓに、第２評価パルスＴＰの時間間隔Ｐ
ｗｈ１（第２時間間隔）を８．３μｓにそれぞれ設定
し、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を固有振動周期
Ｔｃが異なる複数の記録へッド１に供給して得られたイ
ンク量（インク量比）に基づいて定められている。な
お、本実施形態における標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄ
（固有振動周期Ｔｃの設計値）は、６．８μｓである。

【０１２７】以下、本実施形態における測定工程につい
て説明する。この測定工程では、まず、第１の一次式Ｌ
Ｅ１の取得時に使用した評価パルスＴＰ１，ＴＰ２（第
１時間間隔＝３．５μｓ，第２時間間隔＝７μｓ）をそ
れぞれ圧電振動子２に供給することにより、ノズル開口
１３から所定数のインク滴を吐出させる。そして、この
インク滴を捕集して電子天秤３２で重量を測定し、基準
となる第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬを得る
（インク量測定工程）。基準の第１インク量ＩｗＳと第
２インク量ＩｗＬを測定したならば、制御部３３は、電
子天秤３２から取得したこれらの第１インク量ＩｗＳ及
び第２インク量ＩｗＬからインク量比（ＩｗＳ／Ｉｗ
Ｌ）を演算によって取得する（インク量比取得工程）。

【０１２８】インク量比を取得したならば、制御部３３
は、このインク量比が判断基準範囲内にあるか、判断基
準範囲を超えているかを判定する（インク量比判定工
程，液体量比判定工程の一種）。本実施形態では、判断
基準範囲が０．９〜１．１である。このため、取得した
インク量比が０．９以上１．１以下の範囲内にあれば、
制御部３３（液体量比判定手段）は、判断基準範囲内に
あると判定する。そして、取得したインク量比が０．９
よりも小さかった場合、制御部３３は、インク量比が判
断基準範囲を超えて小さいと判定する。同様に、取得し
たインク量比が１．１よりも大きかった場合、制御部３
３は、インク量比が判断基準範囲を超えて大きいと判定
する。

【０１２９】ここで、インク量比が判断基準範囲内にあ
ると判定された場合には、制御部３３（固有振動周期決
定手段）は、第１の一次式ＬＥ１を用いて測定対象とな
る記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを決定する（固有振
動周期決定工程）。この場合には、上記した各実施形態
と同様の手順で固有振動周期Ｔｃが決定される。即ち、
制御部３３は、取得したインク量比を第１の一次式ＬＥ
１に代入することで固有振動周期Ｔｃを決定する。

【０１３０】一方、インク量比が判断基準範囲を超えて
小さいと判定された場合には、制御部３３（評価パルス
再設定手段）は、第１評価パルスＴＰと第２評価パルス
ＴＰの両方を再設定する。具体的には、第２の一次式Ｌ
Ｅ２の取得時に使用した評価パルスＴＰ１，ＴＰ２（第
１時間間隔＝２．７μｓ，第２時間間隔＝５．７μｓ）
に設定する（評価パルス再設定工程）。

【０１３１】評価パルスＴＰを再設定したならば、制御
部３３は、再設定された新たな評価パルスＴＰ１，ＴＰ
２を圧電振動子２に供給する。そして、電子天秤３２
は、新たな第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬ
を測定する（液体量再測定工程の一種であるインク量再
測定工程。）。なお、このインク量再測定工程における
具体的動作は、上記のインク量取得工程と同様であるの
で、その説明は省略する。

【０１３２】新たな第１インク量ＩｗＳ及び第２インク
量ＩｗＬを測定したならば、制御部３３（液体量比再取
得手段）は、これらの第１インク量ＩｗＳ及び第２イン
ク量ＩｗＬに基づいてインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を
再取得する（液体量比再取得工程の一種であるインク量
比再取得工程）。

【０１３３】インク量比を再取得したならば、制御部３
３（固有振動周期決定手段）は、第２の一次式ＬＥ２を
用いて測定対象となる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃ
を決定する（固有振動周期決定工程）。この場合にも、
上記した各実施形態と同様の手順で固有振動周期Ｔｃが
決定される。即ち、制御部３３は、再取得したインク量
比を第２の一次式ＬＥ２に代入することで固有振動周期
Ｔｃを決定する。

【０１３４】なお、インク量比が判断基準範囲を超えて
大きいと判定された場合も、同様の手順によって固有振
動周期Ｔｃが決定される。簡単に説明すると、まず、評
価パルス再設定工程にて、制御部３３は、第１評価パル
スＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔）を４．３
μｓに設定すると共に、第２評価パルスＴＰ２の時間間
隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を８．３μｓに設定する。
次に、インク量再測定工程に移行し、制御部３３及び電
子天秤３２によって、新たな第１インク量ＩｗＳ及び第
２インク量ＩｗＬが測定される。そして、インク量比再
取得工程に移行し、制御部３３によって、新たな第１イ
ンク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬからインク量比が
再取得される。最後に、固有振動周期決定工程に移行
し、制御部３３は、取得したインク量比と第３の一次式
ＬＥ３とから測定対象となる記録へッド１の固有振動周
期Ｔｃを決定する。

【０１３５】本実施形態の構成では、固有振動周期Ｔｃ
の設計値を基準とする評価パルスＴＰ１，ＴＰ２でイン
ク量比を取得し、このインク量比が判断基準範囲（許容
範囲）から外れていた場合、即ち、測定対象となる記録
へッド１の固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく外れて
いた場合には、その固有振動周期Ｔｃに適した評価パル
スＴＰ１，ＴＰ２でインク量比を再取得する。そして、
再取得されたインク量比を、対応する一次式（第２の一
次式ＬＥ２，第３の一次式ＬＥ３）にあてはめて固有振
動周期Ｔｃを決定する。このため、固有振動周期Ｔｃが
設計値から大きく外れた記録へッド１であっても、その
固有振動周期Ｔｃを精度良く測定することができる。

【０１３６】なお、この実施形態では、インク量比が判
断基準範囲を超えていると判定された場合、第１評価パ
ルスＴＰと第２評価パルスＴＰの両方が再設定される
が、本発明は、この構成に限定されるものではない。例
えば、インク量比が判断基準範囲を超えていると判定さ
れた場合、第１評価パルスＴＰと第２評価パルスＴＰの
何れか一方を再設定する構成としてもよい。

【０１３７】例えば、基準の評価パルスＴＰ１、ＴＰ２
で取得されたインク量比が判断基準範囲を超えて小さい
と判定された場合、制御部３３は、評価パルス再設定工
程にて、時間間隔Ｐｗｈ１の短い側である第１評価パル
スＴＰ１を再設定する。即ち、制御部３３は、この第１
評価パルスＴＰ１の第１時間間隔を標準よりも短い時間
（上記の例では２．７μｓ）に設定する。反対に、判断
基準範囲を超えて大きいと判定された場合には、制御部
３３は、時間間隔Ｐｗｈ１の長い側である第２評価パル
スＴＰ２を再設定する。即ち、制御部３３は、この第１
評価パルスＴＰ１の第１時間間隔を標準よりも長い時間
（上記の例では８．３μｓ）に設定する。

【０１３８】次に、インク量再測定工程では、制御部３
３及び電子天秤３２は、再設定された評価パルスＴＰに
ついてインク量を測定する。また、インク量比再取得工
程では、再設定された評価パルスＴＰのインク量と、再
設定されなかった評価パルスＴＰのインク量とを用いて
インク量比を再取得する。

【０１３９】インク量比を再取得したならば、上記の実
施形態と同様の手順で固有振動周期Ｔｃを決定する（固
有振動周期決定工程）。なお、この場合における一次式
に関し、第２の一次式ＬＥ２は、第１時間間隔を２．７
μｓにした評価パルスＴＰ１と第２時間間隔を７μｓに
した評価パルスＴＰ２とによって作成される。また、第
３の一次式ＬＥ３は、第１時間間隔を３．５μｓにした
評価パルスＴＰ１と第２時間間隔を８．３μｓにした評
価パルスＴＰ２とによって作成される。

【０１４０】そして、この実施形態の構成でも、上記実
施形態と同様に、固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく
外れた記録へッド１であっても、その固有振動周期Ｔｃ
を精度良く測定することができる。

【０１４１】なお、上記構成は、第１実施形態のように
評価パルスＴＰ１，ＴＰ２の時間間隔Ｐｗｈ１を、標準
時間間隔（時間間隔ｔ９）からの差で規定するようにし
た実施形態にも同様に適用できる。この場合、制御部３
３は、インク量比取得工程で取得されたインク量比（Ｉ
ｗＳ／ＩｗＬ）を、仮の標準振動周期Ｔｃｓｔｄを示す
情報として用い、標準時間間隔を再設定する。そして、
再設定された標準時間間隔を基準として第１評価パルス
ＴＰと第２評価パルスＴＰの両方を再設定する。

【０１４２】ところで、発生時間Ｐｗｈ１とインク重量
（インク量）との相関関係は、環境温度に依存して変化
する。これは、環境温度に応じてインクの粘度が変動す
るためと考えられる。即ち、図２１に例示するように、
インクの粘度が高いほど、インク滴の吐出量が減少する
ことが確認できている。従って、測定温度が変化し得る
環境下で固有振動周期Ｔｃの測定を行う場合を考慮する
と、測定環境の温度に応じて固有振動周期Ｔｃの情報を
補正できる構成が好ましい。

【０１４３】この場合、例えば、図３に示すように、記
録へッド１に設けられたサーミスタ３７（温度検出手段
の一種）によって測定環境の温度を測定し、測定結果
（温度情報）を制御部３３に入力する（環境温度測定工
程）。そして、制御部３３は、決定された固有振動周期
Ｔｃの値をこの温度情報に基づいて補正する（固有振動
周期補正工程）。これにより、測定環境が標準温度（例
えば、測定装置の仕様で指定された環境温度）から外れ
ざるを得ない環境下であっても、精度良く固有振動周期
Ｔｃを測定できる。

【０１４４】なお、測定された温度情報に応じて吐出さ
れたインク量を補正してもよい。この場合、例えば、サ
ーミスタ３８（温度検出手段の一種，図３参照）を電子
天秤３２に対して電気的に接続する。電子天秤３２は、
測定したインク重量の値をこのサーミスタ３８からの測
定結果（温度情報）に基づいて補正する（環境温度測定
工程，固有振動周期補正工程）。そして、制御部３３
は、補正したインク重量の値に基づいてインク量比を取
得し、固有振動周期Ｔｃを決定する。この構成でも精度
良く固有振動周期Ｔｃを測定できる。

【０１４５】また、発生時間Ｐｗｈ１とインク重量（イ
ンク量）との相関関係は、インク供給口１５、圧力室１
４、ノズル開口１３のうちの少なくともいずれかの寸法
に依存して変化し得る。例えば、図２２に例示するよう
に、ノズル開口１３の開口径に関し、開口径が２０μｍ
の記録へッド１と２１μｍの記録へッド１とでは、２０
μｍの記録へッド１の方がインク量が少し多くなること
が確認できている。これは、他の因子、インク供給口１
５、圧力室１４についても同様と考えられるので、寸法
に対してインク量の情報を補正できる構成が好ましい。

【０１４６】この場合、例えば、キーボードやバーコー
ドリーダ等の各種入力装置（図示せず）を制御部３３に
対して電気的に接続し、この入力装置を通じて測定対象
となる記録へッド１の寸法情報を制御部３３に入力す
る。そして、制御部３３は、決定された固有振動周期Ｔ
ｃの値をこの寸法情報に基づいて補正する（固有振動周
期補正工程）。また、寸法情報に基づいてインク量を補
正してもよい。この場合には、上記の入力装置を電子天
秤３２に対して電気的に接続し、この入力装置を通じて
測定対象となる記録へッド１の寸法情報を制御部に入力
する。そして。電子天秤３２は、インク重量の測定値
（第１インク量ＩｗＳ，第２インク量ＩｗＬ）をこの寸
法情報に基づいて補正する（固有振動周期補正工程）。
これにより、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを精度良
く測定できる。

【０１４７】次に、上記の手順で測定された固有振動周
期Ｔｃの使用方法について説明する。ここで、図２３
は、プリンタの電気的構成を説明するブロック図であ
る。

【０１４８】まず、プリンタの構成について説明する。
例示したプリンタは、プリンタコントローラ４１とプリ
ントエンジン４２とを備えている。プリンタコントロー
ラ４１は、ホストコンピュータ（図示せず）等からの印
刷データ等を受信するインターフェース４３と、各種デ
ータの記憶等を行うＲＡＭ４４と、各種データ処理のた
めの制御ルーチン等を記憶したＲＯＭ４５と、ＣＰＵ等
からなる制御部４６と、発振回路４７と、記録へッド１
へ供給する駆動信号を発生する駆動信号発生回路４８
と、印刷データをドット毎に展開することで得られた記
録データや駆動信号等をプリントエンジン４２に送信す
るためのインターフェース４９とを備えている。

【０１４９】また、プリントエンジン４２は、記録へッ
ド１と、キャリッジ機構５１と、紙送り機構５２とから
構成されている。そして、記録へッド１は、記録データ
がセットされるシフトレジスタ５３と、シフトレジスタ
５３にセットされた記録データをラッチするラッチ回路
５４と、電圧増幅器として機能するレベルシフタ５５
と、圧電振動子２に対する駆動信号の供給を制御するス
イッチ回路５６と、圧電振動子２とを備えている。な
お、上記の記録へッド１には情報記憶素子３６が備えら
れている。この情報記憶素子３６は、固有情報記憶手段
の一種であり、上記の固有情報が記憶されている。そし
て、この情報記憶素子３６は制御部４６と電気的に接続
されている。これにより、制御部４６は、情報記憶素子
３６に格納された固有情報（固有振動周期Ｔｃを表す情
報）を適宜読み出すことができる。

【０１５０】また、固有情報を粘着シール３５等の表記
部材によって表記し、この表記部材を記録へッド１に貼
設した場合には、スキャナーやラインセンサ等の情報読
取装置６１（情報読取手段）やキーボードやタッチパネ
ル等の情報入力装置６２（情報入力手段）によって固有
情報が制御部４６に送信される。例えば、固有情報がバ
ーコード等の機械的に読み取り可能な情報であった場合
には、情報読取装置６１を用いて固有情報を読み取り、
制御部４６に送信する。また、固有情報がアルファベッ
トや数字等によって構成されたコード情報であった場合
には、情報入力装置６２によってコード情報を入力し、
制御部４６に送信する。そして、制御部４６は、受信し
た固有情報を不揮発性の情報記憶部（例えばＥＥＰＲＯ
Ｍ，固有情報記憶手段の一種，図示せず）に記憶する。

【０１５１】上記の制御部４６は主制御手段として機能
し、ＲＯＭ４５に記憶された動作プログラムに基づいて
プリンタの各部を制御する。そして、駆動信号発生回路
４８は、制御部４６によって定められた波形形状の駆動
信号ＣＯＭを発生する。即ち、この駆動信号発生回路４
８は、駆動信号発生手段の一種として機能する。駆動信
号発生回路４８から発生される駆動信号ＣＯＭは、駆動
パルス（インク滴を吐出させるために必要な波形要素を
複数有するパルス信号）を印刷周期中に少なくとも１つ
含んでおり、印刷周期単位で繰り返し発生される。そし
て、この駆動信号ＣＯＭ（駆動パルス）は、上記のスイ
ッチ回路５６を介して、圧電振動子２へ選択的に供給さ
れる。

【０１５２】また、制御部４６は波形設定手段としても
機能し、情報記憶素子３６に記憶された固有情報（波形
設定情報）に基づいて波形要素の制御因子を定める。こ
れにより、駆動パルスの波形形状を、使用される記録へ
ッド１の固有振動周期Ｔｃに応じて適正化する。なお、
制御因子とは、制御対象となる波形要素を定めるための
条件であり、例えば発生時間や電位差がある。この制御
因子は、その波形要素が定められれば良いので、発生時
間と電位差の組み合わせに限られるものではない。例え
ば、発生時間と電位勾配の組み合わせであっても良い。
そして、本実施形態では、後述するように、この制御因
子を波形要素の発生時間に設定している。

【０１５３】次に、駆動信号発生回路４８が発生する駆
動信号ＣＯＭの具体例と、固有情報に基づく駆動信号Ｃ
ＯＭの適正化（駆動パルスの適正化）について説明す
る。

【０１５４】図２４に例示した第１駆動信号ＣＯＭ１
は、波形形状を同一にしたノーマルドット駆動パルスを
複数一連に接続した信号である。即ち、この第１駆動信
号ＣＯＭ１は、印刷周期Ｔの最初に発生される第１ノー
マルドット駆動パルスＤＰ１と、この第１ノーマルドッ
ト駆動パルスＤＰ１に続いて発生される第２ノーマルド
ット駆動パルスＤＰ２と、第２ノーマルドット駆動パル
スＤＰ２に続いて発生される第３ノーマルドット駆動パ
ルスＤＰ３とを備えており、これらの各ノーマルドット
駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３を印刷周期Ｔ毎に繰り返し発
生する。

【０１５５】これらの各ノーマルドット駆動パルスＤＰ
１〜ＤＰ３は、単独でインク滴を吐出可能な駆動パルス
であり、中間電位ＶＭから最大電位ＶＰまでインク滴を
吐出させない程度の一定勾配で電位を上昇させる膨張要
素Ｐ１１と、最大電位ＶＰを所定時間保持する膨張ホー
ルド要素Ｐ１２と、最大電位ＶＰから最低電位ＶＬまで
急勾配で電位を下降させる吐出要素Ｐ１３と、最低電位
ＶＧを所定時間保持する制振ホールド要素Ｐ１４と、最
低電位ＶＧから中間電位ＶＭまで電位を上昇させる膨張
制振要素Ｐ１５とから構成されている。なお、これらの
膨張要素Ｐ１１〜膨張制振要素Ｐ１５が、このノーマル
ドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３における波形要素に相
当する。そして、各ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜
ＤＰ３が圧電振動子２に供給される毎に、ノーマルドッ
トを形成し得る量、例えば、１３ｐＬ程度のインク滴が
ノズル開口１３から吐出される。

【０１５６】この第１駆動信号ＣＯＭ１では、ドットパ
ターンデータがスモールドットのデータであった場合に
第２ノーマルドット駆動パルスＤＰ２のみを圧電振動子
２に供給する。また、ミドルドットのデータであった場
合に第１ノーマルドット駆動パルスＤＰ１と第３ノーマ
ルドット駆動パルスＤＰ３とを圧電振動子２に供給し、
ラージドットのデータであった場合に各ノーマルドット
駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３を圧電振動子２に供給する。

【０１５７】そして、制御部４６（波形設定手段）は、
その記録へッド１の固有情報（測定された固有振動周期
Ｔｃ）に応じて駆動信号発生回路４８（駆動信号発生手
段）を制御し、メニスカスＭの振動抑制に係わる波形要
素の制御因子を定める。この例では、制振ホールド要素
Ｐ１４の発生期間Ｐｗｈ１２を定め、併せて、隣り合う
ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３同士の間隔Ｐ
ｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３を定める。

【０１５８】この制振ホールド要素Ｐ１４の発生期間Ｐ
ｗｈ１２は、インク滴吐出後における膨張制振要素Ｐ１
５の供給開始タイミングを規定する。即ち、この発生期
間Ｐｗｈ１２を設計値よりも短く設定すると膨張制振要
素Ｐ１５が早めのタイミングで供給され、設計値よりも
長く設定すると膨張制振要素Ｐ１５が遅めのタイミング
で供給される。そして、装着された記録へッド１の固有
振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い
場合には膨張制振要素Ｐ１５を早めのタイミングで供給
し、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には膨
張制振要素Ｐ１５を遅めのタイミングで供給する。この
構成により、膨張制振要素Ｐ１５をその記録へッド１に
適したタイミングで供給でき、メニスカスＭの振動を効
果的に（速やかに）収束させることができる。

【０１５９】従って、制振ホールド要素Ｐ１４の発生時
間Ｐｗｈ１２に関し、測定された固有振動周期Ｔｃが標
準固有振動周期Ｔｃｓｔｄに等しい場合には、この発生
期間Ｐｗｈ１２も設計値に設定する。そして、測定され
た固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄより
も短い場合には、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも短
く設定し、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合
には、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも長く設定す
る。

【０１６０】この発生時間Ｐｗｈ１２の設定は、テーブ
ル情報を用いることで行うことができる。例えば、測定
された固有振動周期Ｔｃと発生時間Ｐｗｈ１２の関係を
示すテーブル情報をプリンタコントローラ４１のＲＯＭ
４５や不揮発性の情報記憶部（例えばＥＥＰＲＯＭ，固
有情報記憶手段の一種，図示せず）に記憶し、制御部４
６によって発生時間Ｐｗｈ１２を取得させる。即ち、制
御部４６は、このテーブル情報と情報記憶素子３６の固
有情報とに基づき、発生時間Ｐｗｈ１２を設定する。

【０１６１】この場合において、発生時間Ｐｗｈ１２の
変更ステップは、決定された固有振動周期Ｔｃに応じて
細かく設定することができる。例えば、発生時間Ｐｗｈ
１２の調整代が設計値を中心に±１μｓである場合、変
更ステップを設計値よりも短い側に２０ステップ（即
ち、０．０５μｓ間隔）及び長い側に２０ステップ（即
ち、０．０５μｓ間隔）まで細かく設定できる。従っ
て、その記録へッド１に最適な発生時間Ｐｗｈ１２を高
い精度で設定できる。

【０１６２】また、本実施形態では、制御因子が波形要
素（制振ホールド要素Ｐ１４）の発生時間であるので、
固有情報に応じて変動する第１補正時間を、調整対象と
なる波形要素の基準発生時間に加算することで、この波
形要素の発生時間を定めることができる。この場合にお
いて、プリンタが使用される環境温度に応じて変動する
第２補正時間を、波形要素の基準発生時間に加算する
と、調整対象となる波形要素の発生時間をより精度良く
定めることができる。

【０１６３】例えば、制御部４６は、次式（６）〜
（８）に示す計算式に基づいて発生時間Ｐｗｈ１２を定
めることができる。

【０１６４】 Ｐｗｈ１２＝ＢＴ＋ＲＴ１＋ＲＴ２ … （６） ＲＴ１＝（Ｔｃ−Ｔｃｓｔｄ）×ａ … （７） ＲＴ２＝ｂ×（ｔ−ｔａ）／（ｔｂ−ｔａ） … （８） なお、上記各式において、Ｐｗｈ１２は制振ホールド要
素の発生時間，ＢＴは基準発生時間、ＲＴ１は第１補正
時間、ＲＴ２は第２補正時間、Ｔｃは測定された固有振
動周期、Ｔｃｓｔｄは標準固有振動周期、ａは第１補正
係数、ｂは第２補正係数、ｔは測定温度、ｔａは温度範
囲の上限値、ｔｂは温度範囲の下限値である。

【０１６５】また、ノーマルドット駆動パルス同士の間
隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３は、制振ホールド要素Ｐ１４
の発生時間Ｐｗｈ１２に併せて変更される。これは、記
録周期Ｔは一定であるため、単に制振ホールド要素Ｐ１
４の発生時間Ｐｗｈ１２を変更しただけでは不都合が生
じ得るからである。

【０１６６】例えば、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値より
も短く設定した場合には、第３ノーマルドット駆動パル
スＤＰ３の発生終了時から次記録周期における第１ノー
マルドット駆動パルスＤＰ１の発生開始時までの間隔Ｐ
ｄｉｓ１が、他の間隔Ｐｄｉｓ２，Ｐｄｉｓ３よりも長
くなる。この間隔の違いによりインク滴の着弾間隔に差
が生じ、ベタ記録の場合（塗りつぶしの場合）等におい
て色むらの原因となる。従って、この場合には、発生時
間Ｐｗｈ１２が短くなった分だけ間隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄ
ｉｓ３を長く設定し、ノーマルドット駆動パルス同士の
間隔を揃える。

【０１６７】一方、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも
長く設定した場合には、第３ノーマルドット駆動パルス
ＤＰ３の発生終了時が記録周期Ｔの発生終了時点を越え
てしまう。この場合、第３ノーマルドット駆動パルスＤ
Ｐ３の膨張制振要素Ｐ１５が途中で切れてしまうことに
なる。従って、この場合には、発生時間Ｐｗｈ１２が長
くなった分だけ間隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３を短く設定
し、ノーマルドット駆動パルス同士の間隔を揃えつつ各
ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３を記録周期Ｔ
内に収める。

【０１６８】また、制御部４６（波形設定手段）によ
り、その記録へッド１の固有情報に応じて、膨張ホール
ド要素Ｐ１２の発生時間Ｐｗｈ１１を変更するようにし
てもよい。この場合には、吐出要素Ｐ１３の供給タイミ
ングにおけるメニスカスＭの状態を、固有振動周期Ｔｃ
の違いに拘わらず揃えることができる。これにより、イ
ンク滴の吐出量を揃えることができ、ひいては画質の向
上が図れる。

【０１６９】また、制御部４６（波形設定手段）によ
り、その記録へッド１の固有情報に応じて、第１駆動信
号ＣＯＭ１の中間電位ＶＭ（基準電位）を変えてもよ
い。例えば、固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃ
ｓｔｄよりも短い記録へッド１では、圧力室１４内のイ
ンクの運動エネルギーが、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄ
の記録へッド１における運動エネルギーよりも大きいと
考えられる。反対に、固有振動周期Ｔｃが標準固有振動
周期Ｔｃｓｔｄよりも長い記録へッド１では、圧力室１
４内のインクの運動エネルギーが、標準固有振動周期Ｔ
ｃｓｔｄの記録へッド１における運動エネルギーよりも
小さいと考えられる。

【０１７０】そして、中間電位ＶＭは、膨張要素要素Ｐ
１１の電位差、即ち、圧力室１４の膨張しろ（代）を規
定する。このため、中間電位ＶＭを設計値よりも低く設
定することで圧力室１４の膨張代が増え、圧力室１４内
のインクに付与される運動エネルギーをその分だけ高く
できる。反対に、中間電位ＶＭを設計値よりも高くする
ことにより圧力室１４の膨張代が減り、圧力室１４内の
インクに付与される運動エネルギーをその分だけ低くで
きる。

【０１７１】従って、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも
短い記録へッド１については中間電位ＶＭを設計値より
も高く設定し、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも長い記
録へッド１については中間電位ＶＭを設計値よりも低く
設定することにより、固有振動周期Ｔｃに応じてばらつ
くインクの運動エネルギーを均一化でき、インク滴の吐
出特性を揃えることができる。

【０１７２】次に、図２５に例示した第２駆動信号ＣＯ
Ｍ２について説明する。この第２駆動信号ＣＯＭ２は、
メニスカスＭを微振動させる微振動パルスＶＰ１と、こ
の微振動パルスＶＰ１の後に発生され、マイクロドット
を形成し得る極く少量のインク滴をノズル開口１３から
吐出させるマイクロドット駆動パルスＤＰ４と、ミドル
ドットを形成し得る少量のインク滴をノズル開口１３か
ら吐出させるミドルドット駆動パルスＤＰ５とを含み、
これらの各パルスＶＰ１，ＤＰ４，ＤＰ５を印刷周期Ｔ
毎に繰り返し発生する。

【０１７３】この第２駆動信号ＣＯＭ２では、インク滴
を吐出させない場合に微振動パルスＶＰ１のみを選択し
て圧電振動子２に供給し、ドットパターンデータがマイ
クロドットのデータであった場合にマイクロドット駆動
パルスＤＰ４のみを圧電振動子２に供給する。また、ミ
ドルドットのデータであった場合にミドルドット駆動パ
ルスＤＰ５のみを圧電振動子２に供給し、ラージドット
のデータであった場合にマイクロドット駆動パルスＤＰ
４とミドルドット駆動パルスＤＰ５とを圧電振動子２に
供給する。

【０１７４】なお、この第２駆動信号ＣＯＭ２における
各インク滴のインク量は、対応する第１駆動信号ＣＯＭ
１のインク滴のインク量よりも少ない。即ち、マイクロ
ドット駆動パルスＤＰ４の供給によって吐出されるイン
ク量は、第２ノーマルドット駆動パルスＤＰ２の供給に
よって吐出されるインク量よりも少ない。そして、ミド
ルドット駆動パルスＤＰ５の供給によって吐出されるイ
ンク量は、２つのノーマルドット駆動パルスＤＰ１，Ｄ
Ｐ３によって吐出される合計のインク量よりも少ない。
さらに、マイクロドット駆動パルスＤＰ４及びミドルド
ット駆動パルスＤＰ５の供給によって吐出される合計の
インク量は、３つのノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜
ＤＰ３の供給によって吐出される合計のインク量よりも
少ない。

【０１７５】上記の微振動パルスＶＰ１は、最低電位Ｖ
Ｇから微振動膨張電位ＶＥまで、インク滴を吐出させな
い程度の比較的緩やかな電位勾配で電位を上昇させる微
振動膨張要素Ｐ２１と、微振動膨張要素Ｐ２１に続いて
発生されて微振動膨張電位ＶＥを所定時間維持する微振
動ホールド要素Ｐ２２と、微振動ホールド要素Ｐ２２に
続いて発生されて微振動膨張電位ＶＥから最低電位ＶＧ
まで比較的緩やかな電位勾配で電位を下降させる微振動
収縮要素Ｐ２３とから構成される。そして、この微振動
パルスＶＰ１が圧電振動子２に供給されると、インク滴
が吐出されない程度の圧力変動が圧力室１４内のインク
に生じ、メニスカスＭが微振動する。これにより、ノズ
ル開口１３付近のインク増粘が防止される。

【０１７６】マイクロドット駆動パルスＤＰ４は、最低
電位ＶＧから最大電位ＶＰまで比較的急峻な勾配で電位
を上昇させる引き込み要素Ｐ２４と、引き込み要素Ｐ２
４に続いて発生されて最大電位ＶＰを極く短時間維持す
る引き込みホールド要素Ｐ２５と、最大電位ＶＰから吐
出電位ＶＦまで比較的急峻な勾配で電位を下降させる吐
出要素Ｐ２６と、吐出電位ＶＦを極く短い時間維持する
吐出ホールド要素Ｐ２７と、吐出電位ＶＦから最低電位
ＶＧまで比較的緩やかな電位勾配で電位を下降させる収
縮制振要素Ｐ２８とから構成される。そして、このマイ
クロドット駆動パルスＤＰ４が圧電振動子２２に供給さ
れると、上記したように極く少量のインク滴が吐出され
る。

【０１７７】ミドルドット駆動パルスＤＰ５は、インク
滴を吐出する吐出パルスＰ１とこの吐出パルスＰ１の後
に発生されてインク滴吐出後におけるメニスカスＭの振
動を抑制する制振パルスＰ２とを備える。

【０１７８】吐出パルスＰ１は、最低電位ＶＧから第２
最大電位ＶＰ´までインク滴を吐出させない程度の勾配
で電位を上昇させる充填要素Ｐ２９と、充填要素Ｐ２９
に続いて発生されて第２最大電位ＶＰ´を所定時間維持
する充填ホールド要素Ｐ３０と、第２最大電位ＶＰ´か
ら最低電位ＶＧまで比較的急峻な勾配で電位を下降させ
る吐出要素Ｐ３１とから構成される。なお、第２最大電
位ＶＰ´は、最大電位ＶＰよりも低く吐出電位ＶＦより
も高い電位に設定される。制振パルスＰ２は、最低電位
ＶＧから制振電位ＶＤまで、インク滴を吐出させない程
度の比較的緩やかな電位勾配で電位を上昇させる膨張制
振要素Ｐ３２と、膨張制振要素Ｐ３２に続いて発生され
て制振電位ＶＤを所定時間維持する制振ホールド要素Ｐ
３３と、制振ホールド要素Ｐ３３に続いて発生されて制
振電位ＶＤから最低電位ＶＧまで比較的緩やかな電位勾
配で電位を下降させる収縮復帰要素Ｐ３４とから構成さ
れる。そして、このミドルドット駆動パルスＤＰ５で
は、これらの吐出パルスＰ１と制振パルスＰ２との間を
定電位のパルス接続要素Ｐ３５で接続している。

【０１７９】このミドルドット駆動パルスＤＰ５が圧電
振動子２に供給されると、上記したように少量のインク
滴が吐出される。そして、このミドルドット駆動パルス
ＤＰ５では、吐出パルスＰ１の供給によってノズル開口
１３からインク滴が吐出され、制振パルスＰ２の供給に
よってインク滴吐出直後における圧力室１４内のインク
の圧力変動が吸収される。

【０１８０】そして、制御部４６（波形形状設定手段）
は、その記録へッド１の固有情報に応じて駆動信号発生
回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭ
の振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この
例では、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２、及
び、パルス接続要素Ｐ３５の発生時間Ｐｗｈｍ２を変更
する。

【０１８１】まず、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗ
ｄμ２について説明する。この発生時間Ｐｗｄμ２は収
縮制振要素Ｐ２８による圧力室１４の収縮速度を規定す
る。従って、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも短くす
ると圧力室１４の収縮速度が設計値よりも速くなり、発
生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも長くすると圧力室１４
の収縮速度が設計値よりも遅くなる。

【０１８２】そして、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐ
ｗｄμ２に関し、固有情報が示す固有振動周期Ｔｃが標
準固有振動周期Ｔｃｓｔｄであった場合には、この発生
時間Ｐｗｄμ２も設計値に設定する。そして、この固有
振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い
場合には、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも短く設定
する。一方、この固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期
Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には、発生時間Ｐｗｄμ２を
設計値よりも長く設定する。このようにすると、収縮制
振要素Ｐ２８を固有振動周期Ｔｃに応じて最適化でき、
この固有振動周期Ｔｃに応じて変化するインク滴吐出後
のインクの運動エネルギーを効率良く吸収できる。

【０１８３】なお、この収縮制振要素Ｐ２８の発生時間
Ｐｗｄμ２の変更は、上記した第１駆動信号ＣＯＭ１と
同様にして行うことができる。例えば、固有振動周期Ｔ
ｃと発生時間Ｐｗｄμ２の関係を規定するテーブル情報
を用意し、このテーブル情報を制御部４６に参照させる
ことで発生時間Ｐｗｄμ２を定めることができる。この
場合において、制御因子は波形要素の発生時間であるの
で、基準発生時間に第１補正時間と第２補正時間を加算
することで発生時間Ｐｗｄμ２を定めてもよい。

【０１８４】また、この収縮制振要素Ｐ２８の発生時間
Ｐｗｄμ２を設計値から変えた場合には、併せて、マイ
クロドット駆動パルスＤＰ４の終端とミドルドット駆動
パルスＤＰ５（吐出パルスＰ１）の始端とを最低電位Ｖ
Ｇで接続する定電位要素Ｐ３６の発生時間Ｐｗｈμ３も
変更する。即ち、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも短
く設定した場合には定電位要素Ｐ３６の発生時間をＰｗ
ｈμ３をその分長く設定し、発生時間Ｐｗｄμ２を設計
値よりも長く設定した場合には定電位要素Ｐ３６の発生
時間をＰｗｈμ３をその分短く設定する。これにより、
マイクロドット駆動パルスＤＰ４の終端とミドルドット
駆動パルスＤＰ５の間隔、詳しくは、吐出要素Ｐ２６と
吐出要素Ｐ３１の間隔を一定にすることができ、インク
滴の着弾位置のばらつきを防止できる。

【０１８５】次に、パルス接続要素Ｐ３５の発生時間Ｐ
ｗｈｍ２について説明する。この発生時間Ｐｗｈｍ２
は、ミドルドット駆動パルスＤＰ５における膨張制振要
素Ｐ３２の供給開始タイミングを規定する。即ち、上記
したノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３における
制振ホールド要素Ｐ１４と同様な機能を有する。従っ
て、この発生時間Ｐｗｈｍ２に関し、固有情報が示す固
有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄであった
場合には、この発生時間Ｐｗｈｍ２も設計値に設定す
る。そして、この固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期
Ｔｃｓｔｄよりも短い場合には、Ｐｗｈｍ２を設計値よ
りも短く設定する。一方、この固有振動周期Ｔｃが標準
固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には、Ｐｗｈｍ
２を設計値よりも長く設定する。その結果、膨張制振要
素Ｐ３２をその記録へッド１に適したタイミングで供給
でき、メニスカスＭの振動を効果的に収束させることが
できる。

【０１８６】次に、図２６に例示した第３駆動信号ＣＯ
Ｍ３について説明する。この第３駆動信号ＣＯＭ３は、
上記の第２駆動信号ＣＯＭ２と同じく、微振動パルスＶ
Ｐ１（Ｐ２１〜Ｐ２３）、マイクロドット駆動パルスＤ
Ｐ４（Ｐ２４〜Ｐ２８）、ミドルドット駆動パルスＤＰ
５（Ｐ２９〜Ｐ３５）とを含み、これらの各パルスＶＰ
１，ＤＰ４，ＤＰ５を印刷周期Ｔ毎に繰り返し発生す
る。これらの各パルスは、各波形要素の電位差や時間幅
に多少の相違があるものの上記した第２駆動信号ＣＯＭ
２の各パルスと同等なものであるので、その詳細な説明
は省略する。

【０１８７】この第３駆動信号ＣＯＭ３では、記録へッ
ド１の往路走査時と復路走査時とでこれらの駆動パルス
の発生順序を入れ替えている。即ち、記録へッド１の往
路走査時において駆動信号発生回路４８は、（ａ）に示
すように、印刷周期の開始時からミドルドット駆動パル
スＤＰ５を発生し、次にマイクロドット駆動パルスＤＰ
４を発生し、最後に微振動パルスＶＰ１を発生する。一
方、記録へッド１の復路走査時において駆動信号発生回
路４８は、（ｂ）に示すように、印刷周期の開始時から
マイクロドット駆動パルスＤＰ４を発生し、次に微振動
パルスＶＰ１を発生し、最後にミドルドット駆動パルス
ＤＰ５を発生する。

【０１８８】そして、制御部４６（波形形状設定手段）
は、その記録へッド１の固有情報に応じて駆動信号発生
回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭ
の振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この
例では、上記した第２駆動信号ＣＯＭ２と同様に、収縮
制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２、パルス接続要素
Ｐ３５の発生時間Ｐｗｈｍ２を変更する。

【０１８９】なお、固有情報（測定された固有振動周期
Ｔｃ）に基づく駆動パルスの適正化は、上記した各駆動
パルスに限定されるものではない。即ち、種々の駆動パ
ルスについて適正化することができる。例えば、図２７
に示すマイクロドット駆動パルスＤＰ６についても固有
情報に基づく適正化が行える。

【０１９０】このマイクロドット駆動パルスＤＰ６は、
最低電位ＶＧから第１最大電位ＶＰ１までインク滴を吐
出させない程度の勾配で電位を可及的に上昇させる引き
込み要素Ｐ４１と、第１最大電位ＶＰ１を極く短時間保
持する引き込みホールド要素Ｐ４２と、第１最大電位Ｖ
Ｐ１から吐出電位ＶＦまで可及的急勾配で電位を下降さ
せる吐出要素Ｐ４３と、吐出電位ＶＦを極く短時間維持
する第１吐出ホールド要素Ｐ４４と、吐出電位ＶＦから
第２最大電位ＶＰ２まで可及的急勾配で電位を上昇させ
る吐出引き込み要素Ｐ４５と、第２最大電位を極く短時
間維持する第１制振ホールド要素Ｐ４６と、第２最大電
位から制振電位ＶＢまで一定勾配で電位を下降させる第
１制振要素Ｐ４７と、制振電位ＶＢを所定時間維持する
第２制振ホールド要素Ｐ４８と、制振電位ＶＢから最低
電位ＶＧまで一定勾配で電位を下降させる第２制振要素
Ｐ４９とから構成されている。

【０１９１】このマイクロドット駆動パルスＤＰ６が圧
電振動子２に供給されると、ノズル開口１３からはマイ
クロドットに対応する極く少量のインク滴が吐出され
る。なお、このマイクロドット駆動パルスＤＰ６の供給
によって吐出されるインク滴の量は、上記したマイクロ
ドット駆動パルスＤＰ４のの供給によって吐出されるイ
ンク滴の量よりも少ない。

【０１９２】そして、制御部４６（波形形状設定手段）
は、その記録へッド１の固有情報に応じて駆動信号発生
回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭ
の振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この
例では、第１制振ホールド要素Ｐ４６の発生時間Ｐｗｈ
３を変更して適正化する。この適正化により、インク滴
吐出直後におけるメニスカスＭの振動を速やかに収束さ
せることができ、高周波駆動を行った場合に、インク滴
の吐出量や飛行速度等を安定化することができる。

【０１９３】以上説明したように、上記各実施形態にお
いて、制御部４６は、固有情報に基づいて駆動パルスＤ
Ｐ１〜ＤＰ６を構成する波形要素（例えば、制振ホール
ド要素Ｐ１４，吐出ホールド要素Ｐ２７）の制御因子
（例えば、発生時間）を変更する。そして、この固有情
報は、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）に基づいて取得さ
れているので、その記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを
高い精度で表している。従って、圧力室１４内のインク
の固有振動周期Ｔｃが個々の記録へッド１同士の間でば
らついたとしても、その記録へッド１に適した波形形状
の駆動信号ＣＯＭで駆動することができる。その結果、
製造段階における固有振動周期Ｔｃのばらつきを補正で
き、各記録へッド１におけるインク滴の吐出特性を揃え
ることができる。

【０１９４】ところで、本発明は、上記の各実施形態に
限定されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づ
いて種々の変更が可能である。

【０１９５】まず、固有情報に応じて変更される波形要
素に関し、上記実施形態では、インク滴吐出後における
メニスカスＭの振動抑制に係わる波形要素として、制振
ホールド要素Ｐ１４、収縮制振要素Ｐ２８、パルス接続
要素Ｐ３５などを例に挙げて説明したが、他の波形要素
を変更してもよい。例えば、インク滴の飛行特性に影響
を及ぼす波形要素、例えば、ノーマルドット駆動パルス
ＤＰ１〜ＤＰ３の膨張要素Ｐ１１や、ミドルドット駆動
パルスＤＰ５の充填ホールド要素Ｐ３０を変更してもよ
い。

【０１９６】また、上記の固有情報に代えて、インク量
比を表すインク量比情報（本発明の波形設定情報の一
種）を記録へッド１に付与してもよい。そして、制御部
４６は、情報記憶素子３６に記憶される等したインク量
比情報に基づき、駆動パルスに対する波形変更を同様に
行う。

【０１９７】また、圧力発生素子は、圧電振動子２に限
られるものではなく、他の素子を用いてもよい。例え
ば、発熱素子を用いてもよい。また、磁歪素子や静電ア
クチュエータ等の電気機械変換素子も用いることができ
る。

【０１９８】また、上記実施形態では、固有振動周期Ｔ
ｃ（インク量比）を記録へッド１の全体で測定していた
が、これをノズル列毎に測定するようにしてもよい。こ
の場合には、各ノズル列毎に固有振動周期Ｔｃが付与さ
れるので、きめ細かな制御が実現できる。

【０１９９】また、以上は、液体噴射装置の一種である
インクジェット式プリンタを例に挙げて説明したが、本
発明は他の液体噴射装置にも適用することができる。例
えば、液晶ディスプレー等のカラーフィルタを製造する
ディスプレー製造装置，有機ＥＬ（Electro Luminescen
ce）ディスプレーやＦＥＤ（面発光ディスプレー）等の
電極を形成する電極製造装置，バイオチップ（生物化学
素子）を製造するチップ製造装置，極く少量の試料溶液
を正確な量供給するマイクロピペットにも適用すること
ができる。そして、ディスプレー製造装置では、色材噴
射ヘッドからＲ（Red）・Ｇ（Green）・Ｂ（Blue）の各
色材の溶液を吐出する。また、電極製造装置では、電極
材噴射ヘッドから液状の電極材料を吐出する。チップ製
造装置では、生体有機物噴射ヘッドから生体有機物の溶
液を吐出する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 記録ヘッドの構造を説明する断面図である。

【図２】 流路ユニットの構造を説明する要部拡大断面
図である。

【図３】 固有振動周期測定装置を説明するブロック図
である。

【図４】 評価パルス発生回路から発生される評価パル
スの説明図である。

【図５】 評価パルスの供給周期とインク量の関係を説
明する図である。

【図６】 （ａ）は、励振要素を供給した際における圧
力室の圧力変動及びメニスカスの位置を説明する図、
（ｂ）〜（ｄ）は、励振要素を供給した際におけるメニ
スカスの位置を説明する図である。

【図７】 メニスカスの位置とインク量の関係を説明す
る図である。

【図８】 固有振動周期が相違する複数の記録ヘッドに
関する圧力室の圧力変動、メニスカスの位置、インク量
の関係を説明する図である。

【図９】 励振要素の電位差を変えた場合における発生
時間Ｐｗｈ１とインク量の関係を説明する図である。

【図１０】 第１評価パルス及び第２評価パルスの設定
を説明する図である。

【図１１】 複数の記録へッドについて固有振動周期Ｔ
ｃとインク量比の関係を示した図であり、相関関係を２
つの一次式で近似した例である。

【図１２】 複数の記録へッドについて固有振動周期Ｔ
ｃとインク量比の関係を示した図であり、相関関係を３
つの一次式で近似した例である。

【図１３】 固有情報を付与する情報付与媒体を説明す
る図であり、（ａ）は粘着シールによる態様を示し、
（ｂ）は情報記憶素子による態様を示す。

【図１４】 図８におけるＸ部を拡大した図である。

【図１５】 複数の記録へッドについて固有振動周期Ｔ
ｃとインク量比の関係を示した図であり、相関関係を一
次式で近似した例である。

【図１６】 固有振動周期の相違に伴うインク量の違い
を説明する図であり、増加時間範囲を拡大して示した図
である。

【図１７】 固有振動周期の相違に伴うインク量の違い
を説明する図であり、減少時間範囲を拡大して示した図
である。

【図１８】 比較例を説明する図であり、ボトム範囲に
おける固有振動周期毎のインク量の違いを説明する図で
ある。

【図１９】 比較例における固有振動周期Ｔｃとインク
量比の関係を示した図である。

【図２０】 ３種類の一次式を用いて固有振動周期Ｔｃ
とインク量比の相関関係を近似した例である。

【図２１】 測定環境の温度（インク粘度）が変化した
場合における発生時間Ｐｗｈ１とインク量の関係を説明
する図である。

【図２２】 ノズル開口の径が変化した場合における発
生時間Ｐｗｈ１とインク量の関係を説明する図である。

【図２３】 プリンタの構成を説明するブロック図であ
る。

【図２４】 駆動信号発生回路から発生される第１駆動
信号を説明する図である。

【図２５】 駆動信号発生回路から発生される第２駆動
信号を説明する図である。

【図２６】 （ａ），（ｂ）は、駆動信号発生回路から
発生される第３駆動信号を説明する図である。

【図２７】 マイクロドット駆動パルスの他の例を説明
する図である。

【符号の説明】

１…インクジェット式記録ヘッド，２…圧電振動子，３
…固定板，４…フレキシブルケーブル，５…振動子ユニ
ット，６…ケース，７…流路ユニット，８…収納空部，
９…島部，１０…流路形成基板，１１…ノズルプレー
ト，１２…弾性板，１３…ノズル開口，１４…圧力室，
１５…インク供給口，１６…共通インク室，１７…ノズ
ル連通口，１８…支持板，１９…弾性体膜，２０…ダイ
ヤフラム部，２１…コンプライアンス部，２２…弾性
部，３１…評価パルス発生回路，３２…電子天秤，３３
…固有振動周期測定装置の制御部，３５…粘着シール，
３６…情報記憶素子，３７，３８…サーミスタ，４１…
プリンタコントローラ，４２…プリントエンジン，４３
…インターフェース，４４…ＲＡＭ，４５…ＲＯＭ，４
６…制御部，４７…発振回路，４８…駆動信号発生回
路，４９…インターフェース，５１…キャリッジ機構，
５２…紙送り機構，５３…シフトレジスタ，５４…ラッ
チ回路，５５…レベルシフタ，５６…スイッチ回路，６
１…情報読取装置，６２…情報入力装置

フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願2002−70656(P2002−70656) (32)優先日 平成14年３月14日(2002．3．14) (33)優先権主張国 日本（ＪＰ） (72)発明者 高橋 智明 長野県諏訪市大和３丁目３番５号 セイコ ーエプソン株式会社内 (72)発明者 田中 良一 長野県諏訪市大和３丁目３番５号 セイコ ーエプソン株式会社内 (72)発明者 西田 圭介 長野県諏訪市大和３丁目３番５号 セイコ ーエプソン株式会社内 Ｆターム(参考） 2C056 EB29 EB30 EB59 EC42 FA04 KD10 2C057 AL14 AL26 AM21 AM22 AP82 AR04 AR16 BA03 BA14

Claims (41)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ノズル開口に連通すると共に液体を収容
   可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給する液体供給口
   と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生じさせる圧力発
   生素子とを備えた液体噴射ヘッドの前記圧力室内に収容
   された液体に対する固有振動周期を測定する固有振動周
   期測定方法において、 圧力室内の液体に圧力振動を励起させる励振要素、及
   び、該励振要素よりも後に発生されてノズル開口から液
   滴を吐出させる吐出要素とを含み、励振要素から吐出要
   素までの時間間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パ
   ルスと前記時間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間
   間隔に設定した第２評価パルスとを圧力発生素子へ供給
   することで、第１評価パルスに対応する第１液体量と第
   ２評価パルスに対応する第２液体量とを測定する液体量
   測定工程と、 該測定された第１液体量と第２液体量から液体量比を取
   得する液体量比取得工程と、 該液体量比に基づき、圧力室内の液体に関する固有振動
   周期を決定する固有振動周期決定工程とを経ることを特
   徴とする液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
2. 【請求項２】 励振要素から吐出要素までの時間間隔を
   段階的に変えた複数の測定用信号を、最大固有振動周期
   の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期の液体噴射ヘッド
   とに供給することで、最大周期液体量変動曲線と最小周
   期液体量変動曲線とを予め取得し、 前記固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が増加する
   増加時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第
   １時間間隔及び第２時間間隔の一方を設定すると共に、
   固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が減少する減少
   時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１時
   間間隔及び第２時間間隔の他方を設定したことを特徴と
   する請求項１に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測
   定方法。
3. 【請求項３】 前記増加時間範囲を、最大周期液体量変
   動曲線におけるピーク点から最小周期液体量変動曲線に
   おける直近のボトム点までの範囲に設定し、 前記減少時間範囲を、最大周期液体量変動曲線における
   ボトム点から最小周期液体量変動曲線における直近のピ
   ーク点までの範囲に設定したことを特徴とする請求項２
   に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
4. 【請求項４】 前記励振要素から吐出要素までの時間間
   隔を段階的に変えた複数の測定用信号を標準固有振動周
   期を有する液体噴射ヘッドに供給することで、標準周期
   液体量変動曲線を予め取得し、 前記第１時間間隔及び第２時間間隔を、標準周期液体量
   変動曲線における単位時間当たりの液体量の変化が最大
   となるタイミングで吐出要素が供給される間隔に設定し
   たことを特徴とする請求項２又は３に記載の液体噴射ヘ
   ッドの固有振動周期測定方法。
5. 【請求項５】 前記増加時間範囲と減少時間範囲とを、
   互いに隣り合う時間範囲に定めたことを特徴とする請求
   項２から４の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動
   周期測定方法。
6. 【請求項６】 励振要素から吐出要素までの時間間隔を
   段階的に変えた複数の測定用信号を、最大固有振動周期
   の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期の液体噴射ヘッド
   とに供給することで、最大周期液体量変動曲線と最小周
   期液体量変動曲線とを予め取得し、 前記第１時間間隔及び第２時間間隔は、吐出要素の供給
   タイミングが、最大周期液体量変動曲線のピーク点から
   直近の最小周期液体量変動曲線のピーク点までの範囲内
   となる間隔に設定されていることを特徴とする請求項１
   に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
7. 【請求項７】 前記励振要素から吐出要素までの時間間
   隔を段階的に変えた複数の測定用信号を標準固有振動周
   期を有する液体噴射ヘッドに供給することで、標準周期
   液体量変動曲線を予め取得し、 該標準周期液体量変動曲線のボトム点に対応する励振要
   素から吐出要素までの時間間隔を標準時間間隔とすると
   共に、前記第１時間間隔と第２時間間隔の中央値を該標
   準時間間隔に一致させたことを特徴とする請求項６に記
   載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
8. 【請求項８】 前記第１時間間隔は、標準時間間隔から
   標準固有振動周期の１／４を減じた時間間隔であり、第
   ２時間間隔は、標準時間間隔に標準固有振動周期の１／
   ４を加えた時間間隔であることを特徴とする請求項７に
   記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
9. 【請求項９】 前記励振要素の電位差を、前記吐出要素
   の電位差の９０％以上に設定したことを特徴とする請求
   項１から８の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動
   周期測定方法。
10. 【請求項１０】 前記励振要素の電位差を、前記吐出要
    素の電位差の９５％以上に設定したことを特徴とする請
    求項１から８の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振
    動周期測定方法。
11. 【請求項１１】 液体量比取得工程で取得された液体量
    比が判断基準範囲内か否かを判定する液体量比判定工程
    と、 前記判断基準範囲を越えていると判定された場合に、第
    １評価パルスと第２評価パルスの少なくとも一方を再設
    定する評価パルス再設定工程と、 該評価パルス再設定工程で再設定された新たな評価パル
    スを用いて液体量を測定する液体量再測定工程と、 該液体量再測定工程で測定された液体量を用いて液体量
    比を再取得する液体量比再取得工程とを、前記固有振動
    周期決定工程に先立って行うことを特徴とする請求項１
    から１０の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周
    期測定方法。
12. 【請求項１２】 前記評価パルス再設定工程は、前記液
    体量比取得工程で取得された液体量比を、仮の標準振動
    周期を示す情報として用い、第１評価パルスと第２評価
    パルスの両方を再設定することを特徴とする請求項１１
    に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
13. 【請求項１３】 前記評価パルス再設定工程は、第１評
    価パルスと第２評価パルスの一方を再設定し、 前記液体量比再取得工程は、新たな評価パルスに対応す
    る液体量と既測定の液体量とを用いて新たな液体量比を
    取得することを特徴とする請求項１１に記載の液体噴射
    ヘッドの固有振動周期測定方法。
14. 【請求項１４】 前記評価パルス再設定工程は、決定さ
    れた固有振動周期が許容判断基準範囲未満の場合に前記
    第１評価パルスの時間間隔を第１時間間隔よりも短い第
    ３時間間隔に再設定し、決定された固有振動周期が許容
    判断基準範囲よりも長かった場合に前記第２評価パルス
    の時間間隔を第２時間間隔よりも長い第４時間間隔に再
    設定することを特徴とする請求項１３に記載の液体噴射
    ヘッドの固有振動周期測定方法。
15. 【請求項１５】 前記固有振動周期決定工程では、前記
    固有振動周期を、液体量比と固有振動周期の相関関係と
    に基づいて決定することを特徴とする請求項１から１４
    の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方
    法。
16. 【請求項１６】 前記液体量比と固有振動周期の相関関
    係を、液体量比を変数とする一次式によって定めたこと
    を特徴とする請求項１５に記載の液体噴射ヘッドの固有
    振動周期測定方法。
17. 【請求項１７】 前記一次式は、複数設定された液体量
    比の範囲毎に傾き及び切片が与えられることを特徴とす
    る請求項１６に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測
    定方法。
18. 【請求項１８】 前記液体量比の範囲は、標準固有振動
    周期に対応する標準液体量比よりも小さい側の第１範囲
    と、標準液体比以上の第２範囲とからなることを特徴と
    する請求項１７に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期
    測定方法。
19. 【請求項１９】 前記液体量比の範囲は、標準固有振動
    周期に対応する標準液体量比を含む第３範囲と、第３範
    囲よりも小さい側の第４範囲と、第３範囲よりも大きい
    側の第５範囲とからなることを特徴とする請求項１７に
    記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
20. 【請求項２０】 前記液体量測定工程は、圧力発生素子
    に対して１０ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価パルス及
    び第２評価パルスを供給することを特徴とする請求項１
    から１９の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周
    期測定方法。
21. 【請求項２１】 前記液体量測定工程は、圧力発生素子
    に対して５ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価パルス及び
    第２評価パルスを供給することを特徴とする請求項１か
    ら１９の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期
    測定方法。
22. 【請求項２２】 測定環境の温度を測定する環境温度測
    定工程と、測定された環境温度に基づいて固有振動周期
    を補正する固有振動周期補正工程とを行うことを特徴と
    する請求項１から２１の何れかに記載の液体噴射ヘッド
    の固有振動周期測定方法。
23. 【請求項２３】 液体供給口、圧力室及びノズル開口の
    うちの少なくともいずれかの寸法情報を取得する寸法情
    報取得工程と、取得された寸法情報に基づいて固有振動
    周期を補正する固有周期補正工程とを行うことを特徴と
    する請求項１から２２の何れかに記載の液体噴射ヘッド
    の固有振動周期測定方法。
24. 【請求項２４】 前記液体が描画用の色材を含有するイ
    ンクであることを特徴とする請求項１から２３の何れか
    に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
25. 【請求項２５】 ノズル開口に連通すると共に液体を収
    容可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給する液体供給
    口と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生じさせる圧力
    発生素子とを備え、圧力室内に生じた圧力変動を利用し
    てノズル開口から液滴を吐出可能な液体噴射ヘッドの前
    記圧力室内に収容された液体の固有振動周期を測定する
    固有振動周期測定装置において、 圧力室内の液体に圧力振動を励起させる励振要素、及
    び、該励振要素よりも後に発生されてノズル開口から液
    滴を吐出させる吐出要素とを含み、励振要素から吐出要
    素までの時間間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パ
    ルスと前記時間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間
    間隔に設定した第２評価パルスとを発生し、圧力発生素
    子に供給可能な駆動手段と、 前記第１評価パルスに対応する第１液体量と第２評価パ
    ルスに対応する第２液体量とを測定する液体量測定手段
    と、 液体量測定手段によって測定された第１液体量と第２液
    体量から液体量比を取得する液体量比取得手段と、 該液体量比取得手段が取得した液体量比に基づき、圧力
    室内の液体についての固有振動周期を決定する固有振動
    周期決定手段とを備えていることを特徴とする液体噴射
    ヘッドの固有振動周期測定装置。
26. 【請求項２６】 請求項１から２４の何れかに記載の固
    有振動周期測定方法で固有振動周期が測定された液体噴
    射ヘッドであって、 前記決定された固有振動周期を固有情報として付与した
    ことを特徴とする液体噴射ヘッド。
27. 【請求項２７】 請求項１から２４の何れかに記載の固
    有振動周期測定方法で固有振動周期が測定された液体噴
    射ヘッドであって、 前記取得された液体量比を固有情報として付与したこと
    を特徴とする液体噴射ヘッド。
28. 【請求項２８】 前記固有情報を記憶する固有情報記憶
    手段を備えたことを特徴とする請求項２６又は２７に記
    載の液体噴射ヘッド。
29. 【請求項２９】 前記固有情報を光学的に読み取り可能
    な態様で表記部材に表記し、該表記部材をケース表面に
    貼設したことを特徴とする請求項２６又は２７に記載の
    液体噴射ヘッド。
30. 【請求項３０】 圧力発生素子の作動によって圧力室内
    の液体に圧力変動を生じさせることでノズル開口から液
    滴を吐出可能であって、圧力室内の液体についての固有
    振動周期を示す固有情報が付与された液体噴射ヘッド
    と、 圧力発生素子に供給するための駆動信号を発生する駆動
    信号発生手段と、 前記固有情報に基づき駆動信号の波形形状を適正化する
    波形設定手段とを備えた液体噴射装置において、 前記固有情報は、請求項１から２４の何れかに記載の固
    有振動周期測定方法によって測定された固有振動周期を
    示す情報であることを特徴とする液体噴射装置装置。
31. 【請求項３１】 前記固有情報は、圧力室内の液体につ
    いての固有振動周期の数値を示す数値情報であることを
    特徴とする請求項３０に記載の液体噴射装置。
32. 【請求項３２】 前記固有情報は、前記液体量比を示す
    液体量比情報であることを特徴とする請求項３０に記載
    の液体噴射装置。
33. 【請求項３３】 前記固有情報を記憶可能な固有情報記
    憶手段を設け、 前記波形設定手段は、前記固有情報記憶手段に記憶され
    た固有情報に基づいて波形形状を適正化することを特徴
    とする請求項３０から３２の何れかに記載の液体噴射装
    置。
34. 【請求項３４】 前記駆動信号は圧力発生素子に供給さ
    れる駆動パルスを有し、該駆動パルスを液滴を吐出させ
    るための吐出要素を含む複数の波形要素によって構成
    し、 前記波形設定手段は、前記固有情報に基づき、調整対象
    となる波形要素の制御因子を定めることを特徴とする請
    求項３０から３３の何れかに記載の液体噴射装置。
35. 【請求項３５】 前記制御因子が波形要素の発生時間で
    あり、 前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて変動する第
    １補正時間を、調整対象となる波形要素の基準発生時間
    に加算することで、当該波形要素の発生時間を定めるこ
    とを特徴とする請求項３４に記載の液体噴射装置。
36. 【請求項３６】 前記波形設定手段は、装置が使用され
    る環境温度に応じて変動する第２補正時間を前記基準発
    生時間に加算することで、調整対象となる波形要素の発
    生時間を定めることを特徴とする請求項３５に記載の液
    体噴射装置。
37. 【請求項３７】 前記調整対象となる波形要素は、液滴
    吐出後におけるメニスカスの振動抑制に係わる振動抑制
    要素であることを特徴とする請求項３４から３６の何れ
    かに記載の液体噴射装置。
38. 【請求項３８】 前記駆動パルスは、圧力室を膨張させ
    ることで液滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動
    を緩和する膨張制振要素と、前記吐出要素と膨張制振要
    素との間に発生される一定電位の制振ホールド要素とを
    備え、 前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて制振ホール
    ド要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５
    から３７の何れかに記載の液体噴射装置。
39. 【請求項３９】 前記駆動パルスは、圧力室を収縮させ
    ることで液滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動
    を吸収する収縮制振要素を備え、 前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて収縮制振要
    素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５から
    ３７の何れかに記載の液体噴射装置。
40. 【請求項４０】 前記駆動パルスは、圧力室を膨張させ
    ることでメニスカスを圧力室側に引き込む膨張要素と、
    前記吐出要素と膨張要素との間に発生される一定電位の
    膨張ホールド要素とを備え、 前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて膨張ホール
    ド要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５
    から３７の何れかに記載の液体噴射装置。
41. 【請求項４１】 前記駆動信号は圧力発生素子に供給さ
    れる駆動パルスを有し、該駆動パルスの始終端電位を駆
    動信号における中間電位に設定し、 前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて駆動信号の
    中間電位を定めることを特徴とする請求項３４に記載の
    液体噴射装置。