JP2003323990A - 希ガス放電ランプの寿命予測方法、及び、希ガス放電ランプの寿命予測システム - Google Patents
希ガス放電ランプの寿命予測方法、及び、希ガス放電ランプの寿命予測システムInfo
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- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 希ガス放電ランプの寿命予測方法、及び、希
ガス放電ランプの寿命予測システムを提供する。 【解決手段】 発光管内に陰極と陽極が対向配置され、
前記陰極にエミッター物質が含有されている希ガス放電
ランプの寿命を予測する方法であって、希ガス放電ラン
プに定格電流より低い特定の電流を流し、その時の希ガ
ス放電ランプの電圧を検出してその電圧の振れ幅を測定
し、その電圧振れ幅の値を利用して希ガス放電ランプの
寿命を予測することを特徴とする希ガス放電ランプの寿
命予測方法、及びその寿命予測システム。
ガス放電ランプの寿命予測システムを提供する。 【解決手段】 発光管内に陰極と陽極が対向配置され、
前記陰極にエミッター物質が含有されている希ガス放電
ランプの寿命を予測する方法であって、希ガス放電ラン
プに定格電流より低い特定の電流を流し、その時の希ガ
ス放電ランプの電圧を検出してその電圧の振れ幅を測定
し、その電圧振れ幅の値を利用して希ガス放電ランプの
寿命を予測することを特徴とする希ガス放電ランプの寿
命予測方法、及びその寿命予測システム。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、希ガス放電ランプ
の寿命予測方法、及びその寿命予測システムに関するも
のであり、更に詳しくは、光変調素子（マイクロディバ
イスミラー) やフィルム等に光をあてて、その光を利用
して映像を映し出す投影装置や、液晶パネル検査装置等
の光源に用いられるショートアーク型放電ランプである
希ガス放電ランプの寿命を予測する方法、及び、該希ガ
ス放電ランプの寿命を予測するシステムに関するもので
ある。本発明は、例えば、上記投影装置（プロジェク
タ）、液晶パネル検査装置、舞台照明、手術灯、内視
鏡、サーチライト等の技術分野において、それらの光源
として用いられる希ガス放電ランプの新しい寿命予測方
法、及びその寿命予測システムを提供するものとして有
用である。
の寿命予測方法、及びその寿命予測システムに関するも
のであり、更に詳しくは、光変調素子（マイクロディバ
イスミラー) やフィルム等に光をあてて、その光を利用
して映像を映し出す投影装置や、液晶パネル検査装置等
の光源に用いられるショートアーク型放電ランプである
希ガス放電ランプの寿命を予測する方法、及び、該希ガ
ス放電ランプの寿命を予測するシステムに関するもので
ある。本発明は、例えば、上記投影装置（プロジェク
タ）、液晶パネル検査装置、舞台照明、手術灯、内視
鏡、サーチライト等の技術分野において、それらの光源
として用いられる希ガス放電ランプの新しい寿命予測方
法、及びその寿命予測システムを提供するものとして有
用である。
【０００２】
【従来の技術】従来から、投影装置や液晶パネル検査装
置等の光源として、発光管内にキセノンガスを封入した
ショートアーク型放電ランプの希ガス放電ランプが知ら
れている。これらの希ガス放電ランプは、太陽光に近い
スペクトルを発生する機能を有するものであり、上記の
技術分野で好適に利用されている。これらの希ガス放電
ランプは、点灯中に陰極のエミッター物質が枯渇するこ
とや、電極が損耗すること等により、ある一定の点灯期
間を過ぎると急にアークがふらつき出し、その照射面が
ちらつくいわゆるフリッカー現象が発生する。
置等の光源として、発光管内にキセノンガスを封入した
ショートアーク型放電ランプの希ガス放電ランプが知ら
れている。これらの希ガス放電ランプは、太陽光に近い
スペクトルを発生する機能を有するものであり、上記の
技術分野で好適に利用されている。これらの希ガス放電
ランプは、点灯中に陰極のエミッター物質が枯渇するこ
とや、電極が損耗すること等により、ある一定の点灯期
間を過ぎると急にアークがふらつき出し、その照射面が
ちらつくいわゆるフリッカー現象が発生する。
【０００３】このように、これらの希ガス放電ランプ
は、例えば、投影装置の光源に利用されている場合、使
用中にフリッカー現象が発生すると、映像にちらつきが
発生し、映像が見難くなるという問題があった。また、
これらの希ガス放電ランプは、例えば、液晶パネル検査
装置の光源に利用されている場合、使用中にフリッカー
現象が発生すると、液晶を透過して検査スクリーンに投
影された光にちらつきが発生し、どの部分の液晶が故障
しているのか適正に判定できなくなるという問題があっ
た。
は、例えば、投影装置の光源に利用されている場合、使
用中にフリッカー現象が発生すると、映像にちらつきが
発生し、映像が見難くなるという問題があった。また、
これらの希ガス放電ランプは、例えば、液晶パネル検査
装置の光源に利用されている場合、使用中にフリッカー
現象が発生すると、液晶を透過して検査スクリーンに投
影された光にちらつきが発生し、どの部分の液晶が故障
しているのか適正に判定できなくなるという問題があっ
た。
【０００４】一般に、このような希ガス放電ランプにお
けるフリッカー現象は、ランプの電圧の振れ幅として検
出することができる。フリッカー現象の発生によりラン
プとして使用できなくなるレベル（フリッカーレベル）
は、ランプの種類、そのランプが使用されている装置、
及びその用途等によって異なるが、一般に、そのレベル
を電圧の振れ幅で定義することができる。図１は、ラン
プの点灯時間と電圧振れ幅の値（Ｖ）の関係を示すもの
であり、図中、グラフＣでは、定格電流（８０Ａ）でラ
ンプを点灯している場合、９００時間までは電圧振れ幅
の値は０．３５Ｖで一定であり、９００時間を越えると
電圧振れ幅の値が急激に上昇している。
けるフリッカー現象は、ランプの電圧の振れ幅として検
出することができる。フリッカー現象の発生によりラン
プとして使用できなくなるレベル（フリッカーレベル）
は、ランプの種類、そのランプが使用されている装置、
及びその用途等によって異なるが、一般に、そのレベル
を電圧の振れ幅で定義することができる。図１は、ラン
プの点灯時間と電圧振れ幅の値（Ｖ）の関係を示すもの
であり、図中、グラフＣでは、定格電流（８０Ａ）でラ
ンプを点灯している場合、９００時間までは電圧振れ幅
の値は０．３５Ｖで一定であり、９００時間を越えると
電圧振れ幅の値が急激に上昇している。
【０００５】即ち、図１のグラフＣは、９００時間を少
しでも超えると、フリッカーレベルが急に高くなること
を示している。図中、グラフＤでは、同じ型式（定格電
流が同じ) のランプでは、定格電流（８０Ａ）でアンプ
を点灯している場合、８００時間までは電圧振れ幅の値
が０．３５Ｖで一定であり、８００時間を越えると電圧
振れ幅の値が急激に上昇している。即ち、図１のグラフ
Ｄは、８００時間を少しでも超えると、フリッカーレベ
ルが急に高くなることを示している。
しでも超えると、フリッカーレベルが急に高くなること
を示している。図中、グラフＤでは、同じ型式（定格電
流が同じ) のランプでは、定格電流（８０Ａ）でアンプ
を点灯している場合、８００時間までは電圧振れ幅の値
が０．３５Ｖで一定であり、８００時間を越えると電圧
振れ幅の値が急激に上昇している。即ち、図１のグラフ
Ｄは、８００時間を少しでも超えると、フリッカーレベ
ルが急に高くなることを示している。
【０００６】このように、希ガス放電ランプのフリッカ
ー現象は、ランプの電圧の振れ幅として検出することが
できる。しかしながら、定格電流でランプを点灯させ、
定格電流時における電圧の振れ幅を見てフリッカー現象
の発生によりランプとして使用できなくなるレベルを検
査しようとしても、図１に示されるように、所定の時間
を越えると、短時間でフリッカーレベルが急激に上昇す
るので、予めフリッカーレベルが上昇する兆しを見極め
ることはきわめて困難であるという問題があった。
ー現象は、ランプの電圧の振れ幅として検出することが
できる。しかしながら、定格電流でランプを点灯させ、
定格電流時における電圧の振れ幅を見てフリッカー現象
の発生によりランプとして使用できなくなるレベルを検
査しようとしても、図１に示されるように、所定の時間
を越えると、短時間でフリッカーレベルが急激に上昇す
るので、予めフリッカーレベルが上昇する兆しを見極め
ることはきわめて困難であるという問題があった。
【０００７】また、図１に示されるように、同じ型式
（定格電流が同じ）のランプであっても、例えば、電極
の結晶状態のバラツキや、加工精度の問題による電極先
端の形状の違いやバルブの形状の違い等により、電圧の
振れ幅が変化する時刻、即ち、フリッカーレベルが上昇
する時刻は、ランプによって個体差があり、同じではな
く、１つのランプのフリッカーレベルの上昇時刻をもっ
て他の同じ型式のランプのフリッカーレベルの上昇時刻
を予測することは、それらの時間的誤差が大きくなり過
ぎて実用的ではないという問題があった。例えば、フリ
ッカーレベルの上昇時刻までの平均時間が１０００時間
のランプでは、それらの時間的誤差の幅は±２００時間
程度である。
（定格電流が同じ）のランプであっても、例えば、電極
の結晶状態のバラツキや、加工精度の問題による電極先
端の形状の違いやバルブの形状の違い等により、電圧の
振れ幅が変化する時刻、即ち、フリッカーレベルが上昇
する時刻は、ランプによって個体差があり、同じではな
く、１つのランプのフリッカーレベルの上昇時刻をもっ
て他の同じ型式のランプのフリッカーレベルの上昇時刻
を予測することは、それらの時間的誤差が大きくなり過
ぎて実用的ではないという問題があった。例えば、フリ
ッカーレベルの上昇時刻までの平均時間が１０００時間
のランプでは、それらの時間的誤差の幅は±２００時間
程度である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上のよう
な従来技術における諸問題を抜本的に解決して、希ガス
放電ランプの寿命を確実に予測することが可能な新しい
寿命予測方法及びその寿命予測システムを開発すること
を課題としてなされたものである。即ち、本発明は、希
ガス放電ランプの電気特性である電圧を検出してその電
圧振れ幅の値を測定することにより、それぞれの希ガス
放電ランプに固有のフリッカーレベルが一定のレベルに
上昇する時刻及び該フリッカーがランプとして使用でき
なくなるレベルに上昇する時刻を予測することを可能と
する希ガス放電ランプの新しい寿命予測方法を提供する
ことを目的とするものである。また、本発明は、上記方
法の実施に用いられる希ガス放電ランプの新しい寿命予
測システムを提供することを目的とするものである。
な従来技術における諸問題を抜本的に解決して、希ガス
放電ランプの寿命を確実に予測することが可能な新しい
寿命予測方法及びその寿命予測システムを開発すること
を課題としてなされたものである。即ち、本発明は、希
ガス放電ランプの電気特性である電圧を検出してその電
圧振れ幅の値を測定することにより、それぞれの希ガス
放電ランプに固有のフリッカーレベルが一定のレベルに
上昇する時刻及び該フリッカーがランプとして使用でき
なくなるレベルに上昇する時刻を予測することを可能と
する希ガス放電ランプの新しい寿命予測方法を提供する
ことを目的とするものである。また、本発明は、上記方
法の実施に用いられる希ガス放電ランプの新しい寿命予
測システムを提供することを目的とするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明は、以下の技術的手段から構成される。 （１）発光管内に陰極と陽極が対向配置され、前記陰極
にエミッター物質が含有されている希ガス放電ランプの
寿命を予測する方法であって、希ガス放電ランプに定格
電流より低い特定の電流を流し、その時の希ガス放電ラ
ンプの電圧を検出してその電圧の振れ幅を測定し、その
電圧振れ幅の値を利用して希ガス放電ランプの寿命を予
測することを特徴とする希ガス放電ランプの寿命予測方
法。 （２）定格電流で点灯した場合に電圧振れ幅の値が大き
くなり始める時刻と、電流を定格電流より低い値にした
場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻との差を
基準として、ランプの残り寿命を予測する、前記（１）
に記載の希ガス放電ランプの寿命予測方法。 （３）電流を定格電流より低い値にした場合に検出され
る電圧振れ幅の値と、予め電流を定格電流より低い値に
した場合に測定したフリッカーが発生する時刻の電圧振
れ幅の値とを比較することにより、ランプの残り寿命を
予測する、前記（１）に記載の希ガス放電ランプの寿命
予測方法。 （４）定格電流で点灯した場合に検出される電圧振れ幅
の値と、電流を定格電流より低い値にした場合に検出さ
れる電圧振れ幅の値を、予めランプの点灯時間との関係
でグラフ化しておき、寿命を測定したい同一品種のラン
プの任意の時刻で、電流を定格電流より低い値にした場
合に検出される電圧振れ幅の値を、上記グラフに基づい
て、ランプの残り寿命時間に換算する、前記（１）に記
載の希ガス放電ランプの寿命予測方法。 （５）発光管内に陰極と陽極が対向配置され、前記陰極
にエミッター物質が含有されている希ガス放電ランプの
寿命を予測するシステムであって、 希ガス放電ランプ
の電流を制御する電流制御手段、前記希ガス放電ランプ
の電圧を検出する電圧検出手段、前記電圧検出手段によ
って検出された電圧から電圧の振れ幅の値を検出する電
圧振れ幅検出手段、予め希ガス放電ランプを定格電流で
点灯させ、任意の時刻において電流を定格電流より低い
値にした場合に検出される電圧振れ幅の値を記憶する基
礎データ記憶機構、前記電流制御手段によって定格電流
より低い特定の電流を流した時の希ガス放電ランプの電
圧の振れ幅を測定した値と、前記基礎データ記憶機構の
データとを比較する比較手段、及び、前記比較手段によ
って得られる電圧振れ幅の値の差に基づいて、これを希
ガス放電ランプの寿命時間に換算する寿命時間換算手
段、を有することを特徴とする希ガス放電ランプの寿命
予測システム。
の本発明は、以下の技術的手段から構成される。 （１）発光管内に陰極と陽極が対向配置され、前記陰極
にエミッター物質が含有されている希ガス放電ランプの
寿命を予測する方法であって、希ガス放電ランプに定格
電流より低い特定の電流を流し、その時の希ガス放電ラ
ンプの電圧を検出してその電圧の振れ幅を測定し、その
電圧振れ幅の値を利用して希ガス放電ランプの寿命を予
測することを特徴とする希ガス放電ランプの寿命予測方
法。 （２）定格電流で点灯した場合に電圧振れ幅の値が大き
くなり始める時刻と、電流を定格電流より低い値にした
場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻との差を
基準として、ランプの残り寿命を予測する、前記（１）
に記載の希ガス放電ランプの寿命予測方法。 （３）電流を定格電流より低い値にした場合に検出され
る電圧振れ幅の値と、予め電流を定格電流より低い値に
した場合に測定したフリッカーが発生する時刻の電圧振
れ幅の値とを比較することにより、ランプの残り寿命を
予測する、前記（１）に記載の希ガス放電ランプの寿命
予測方法。 （４）定格電流で点灯した場合に検出される電圧振れ幅
の値と、電流を定格電流より低い値にした場合に検出さ
れる電圧振れ幅の値を、予めランプの点灯時間との関係
でグラフ化しておき、寿命を測定したい同一品種のラン
プの任意の時刻で、電流を定格電流より低い値にした場
合に検出される電圧振れ幅の値を、上記グラフに基づい
て、ランプの残り寿命時間に換算する、前記（１）に記
載の希ガス放電ランプの寿命予測方法。 （５）発光管内に陰極と陽極が対向配置され、前記陰極
にエミッター物質が含有されている希ガス放電ランプの
寿命を予測するシステムであって、 希ガス放電ランプ
の電流を制御する電流制御手段、前記希ガス放電ランプ
の電圧を検出する電圧検出手段、前記電圧検出手段によ
って検出された電圧から電圧の振れ幅の値を検出する電
圧振れ幅検出手段、予め希ガス放電ランプを定格電流で
点灯させ、任意の時刻において電流を定格電流より低い
値にした場合に検出される電圧振れ幅の値を記憶する基
礎データ記憶機構、前記電流制御手段によって定格電流
より低い特定の電流を流した時の希ガス放電ランプの電
圧の振れ幅を測定した値と、前記基礎データ記憶機構の
データとを比較する比較手段、及び、前記比較手段によ
って得られる電圧振れ幅の値の差に基づいて、これを希
ガス放電ランプの寿命時間に換算する寿命時間換算手
段、を有することを特徴とする希ガス放電ランプの寿命
予測システム。
【００１０】次に、本発明について更に詳細に説明す
る。本発明の希ガス放電ランプの寿命予測方法は、点灯
中の希ガス放電ランプに定格電流より低い特定の電流を
流し、その時の希ガス放電ランプの電圧を検出してその
電圧の振れ幅を測定し、その電圧振れ幅の値によりフリ
ッカーレベルが一定のレベルに上昇する時刻及びフリッ
カーがランプとして使用できなくなるレベルに上昇する
時刻を予測し、それにより、希ガス放電ランプの寿命を
予測することを特徴とするものである。
る。本発明の希ガス放電ランプの寿命予測方法は、点灯
中の希ガス放電ランプに定格電流より低い特定の電流を
流し、その時の希ガス放電ランプの電圧を検出してその
電圧の振れ幅を測定し、その電圧振れ幅の値によりフリ
ッカーレベルが一定のレベルに上昇する時刻及びフリッ
カーがランプとして使用できなくなるレベルに上昇する
時刻を予測し、それにより、希ガス放電ランプの寿命を
予測することを特徴とするものである。
【００１１】また、本発明の希ガス放電ランプの寿命予
測システムは、希ガス放電ランプの電流を制御する電流
制御手段、希ガス放電ランプの電圧を検出する電圧検出
手段、電圧検出手段によって検出された電圧から電圧振
れ幅の値を検出する電圧振れ幅検出手段、を有し、ま
た、別途、予め希ガス放電ランプを定格電流で点灯さ
せ、任意の時刻において電流を定格電流より低い値にし
た場合に検出される電圧振れ幅の値を記憶する基礎デー
タ記憶機構、前記電流制御手段によって定格電流より低
い特定の電流を流した時の希ガス放電ランプの電圧振れ
幅を電圧振れ幅検出手段で測定した値と、前記基礎デー
タ記憶機構のデータとを比較する比較手段、及び、この
比較手段によって得られる電圧振れ幅の値の差に基づい
て、これを希ガス放電ランプの寿命時間に換算する寿命
時間換算手段、を有することを特徴とするものである。
測システムは、希ガス放電ランプの電流を制御する電流
制御手段、希ガス放電ランプの電圧を検出する電圧検出
手段、電圧検出手段によって検出された電圧から電圧振
れ幅の値を検出する電圧振れ幅検出手段、を有し、ま
た、別途、予め希ガス放電ランプを定格電流で点灯さ
せ、任意の時刻において電流を定格電流より低い値にし
た場合に検出される電圧振れ幅の値を記憶する基礎デー
タ記憶機構、前記電流制御手段によって定格電流より低
い特定の電流を流した時の希ガス放電ランプの電圧振れ
幅を電圧振れ幅検出手段で測定した値と、前記基礎デー
タ記憶機構のデータとを比較する比較手段、及び、この
比較手段によって得られる電圧振れ幅の値の差に基づい
て、これを希ガス放電ランプの寿命時間に換算する寿命
時間換算手段、を有することを特徴とするものである。
【００１２】本発明において、上記寿命予測方法及びそ
の寿命予測システムの具体的な手段は、特に制限される
ものではなく、適宜の手段を使用することができ、上記
機能を有するものであればいずれの手段であってもよ
い。また、フリッカーレベルのどのレベル、即ち、電圧
振れ幅の値のどのレベルでランプの寿命とするかは投影
装置や液晶パネル検査装置等の装置からの要求によって
決めればよい。このようなフリッカー現象が起こるラン
プは、陰極にエミッター物質を含有しているランプであ
り、本発明は、このような陰極にエミッター物質を含有
しているすべての希ガス放電ランプに適用される。ここ
で、ランプのフリッカー現象について説明すると、フリ
ッカーは、ランプの陰極におけるエミッターの供給力で
決まる。ある条件でランプが点灯している場合、エミッ
ターの供給力が、ある閾値を下回ると、フリッカー現象
が発生し、ランプのフリッカーとして認識できるように
なり、例えば、電圧の振れ幅が大きくなる現象として認
識できるようになる。エミッターの供給力は、ランプの
陰極先端部におけるタングステン結晶粒の状態によって
決まる。
の寿命予測システムの具体的な手段は、特に制限される
ものではなく、適宜の手段を使用することができ、上記
機能を有するものであればいずれの手段であってもよ
い。また、フリッカーレベルのどのレベル、即ち、電圧
振れ幅の値のどのレベルでランプの寿命とするかは投影
装置や液晶パネル検査装置等の装置からの要求によって
決めればよい。このようなフリッカー現象が起こるラン
プは、陰極にエミッター物質を含有しているランプであ
り、本発明は、このような陰極にエミッター物質を含有
しているすべての希ガス放電ランプに適用される。ここ
で、ランプのフリッカー現象について説明すると、フリ
ッカーは、ランプの陰極におけるエミッターの供給力で
決まる。ある条件でランプが点灯している場合、エミッ
ターの供給力が、ある閾値を下回ると、フリッカー現象
が発生し、ランプのフリッカーとして認識できるように
なり、例えば、電圧の振れ幅が大きくなる現象として認
識できるようになる。エミッターの供給力は、ランプの
陰極先端部におけるタングステン結晶粒の状態によって
決まる。
【００１３】ここで、エミッターの供給力とフリッカー
の関係をランプの陰極先端部の断面の模式図を用いて説
明する。図２は、陰極先端部におけるタングステン結晶
粒の結合図を示している。結晶粒と結晶粒の境にある黒
色の破線は、粒界を示している。エミッターは、この粒
界を通して陰極の先端に流出し、エミッターとして働
く。エミッターの供給力は、この粒界の数と温度によっ
て決定され、粒界の数が多いほど、また、温度が高いほ
どその能力は高くなる。図２のＡは、点灯初期における
結晶粒の結合図である。この場合、粒界の数が多いた
め、電流の高低（陰極先端温度の高低) に関係なく、エ
ミッターの供給力が高い状態にある。したがって、この
場合は、フリッカー現象は認識できない状態である。
の関係をランプの陰極先端部の断面の模式図を用いて説
明する。図２は、陰極先端部におけるタングステン結晶
粒の結合図を示している。結晶粒と結晶粒の境にある黒
色の破線は、粒界を示している。エミッターは、この粒
界を通して陰極の先端に流出し、エミッターとして働
く。エミッターの供給力は、この粒界の数と温度によっ
て決定され、粒界の数が多いほど、また、温度が高いほ
どその能力は高くなる。図２のＡは、点灯初期における
結晶粒の結合図である。この場合、粒界の数が多いた
め、電流の高低（陰極先端温度の高低) に関係なく、エ
ミッターの供給力が高い状態にある。したがって、この
場合は、フリッカー現象は認識できない状態である。
【００１４】次に、図２のＢは、電流を定格電流より低
い値に下げるとフリッカー現象が認識できる状態の結晶
粒の様子を示している。この場合、結晶粒が統合して巨
大化し、図２のＡに比べて、粒界の数が減少しているこ
とが分かる。この状態では、定格電流では、陰極先端温
度は十分に高いため、エミッターの供給力は閾値以上で
あるが、電流を下げると陰極先端温度が低くなりエミッ
ターの供給力は閾値以下となり、フリッカー現象が認識
される。次に、図２のＣは、上記結晶粒の統合が更に進
んだ状態である。この状態では、定格電流においても、
もはやエミッターの供給力は閾値を超えることができ
ず、フリッカー現象が認識されるようになる。
い値に下げるとフリッカー現象が認識できる状態の結晶
粒の様子を示している。この場合、結晶粒が統合して巨
大化し、図２のＡに比べて、粒界の数が減少しているこ
とが分かる。この状態では、定格電流では、陰極先端温
度は十分に高いため、エミッターの供給力は閾値以上で
あるが、電流を下げると陰極先端温度が低くなりエミッ
ターの供給力は閾値以下となり、フリッカー現象が認識
される。次に、図２のＣは、上記結晶粒の統合が更に進
んだ状態である。この状態では、定格電流においても、
もはやエミッターの供給力は閾値を超えることができ
ず、フリッカー現象が認識されるようになる。
【００１５】希ガス放電ランプは、発光管内に金属の封
入物が封入されておらず、キセノンやアルゴン等の希ガ
スだけが封入されているので、定格電流より低い電流で
ランプを点灯させても、ランプが立ち消えすることがな
く、その電圧を測定することができる。もともと、希ガ
ス放電ランプは、点灯中の電圧が微小に振れる現象を常
に起こしている。図３は、電圧３０Ｖ、電流８０Ａの希
ガス放電ランプの電圧値のデータを示すものであり、横
軸は点灯経過時間、縦軸は電圧値を示す。図３に示され
るように、希ガス放電ランプは、点灯中に電圧が微小に
振れていることが分かる。本発明では、特定時刻ｔの前
後３０秒間の最大電圧値（ＭａｘＶ）と最小電圧値（Ｍ
ｉｎＶ）との電圧幅を、特定時刻ｔの電圧の振れ幅ΔＶ
と定義する。図３では、特定時刻ｔの電圧の振れ幅ΔＶ
は、以下の式のようになる。 ΔＶ＝（ＭａｘＶ−ＭｉｎＶ）
入物が封入されておらず、キセノンやアルゴン等の希ガ
スだけが封入されているので、定格電流より低い電流で
ランプを点灯させても、ランプが立ち消えすることがな
く、その電圧を測定することができる。もともと、希ガ
ス放電ランプは、点灯中の電圧が微小に振れる現象を常
に起こしている。図３は、電圧３０Ｖ、電流８０Ａの希
ガス放電ランプの電圧値のデータを示すものであり、横
軸は点灯経過時間、縦軸は電圧値を示す。図３に示され
るように、希ガス放電ランプは、点灯中に電圧が微小に
振れていることが分かる。本発明では、特定時刻ｔの前
後３０秒間の最大電圧値（ＭａｘＶ）と最小電圧値（Ｍ
ｉｎＶ）との電圧幅を、特定時刻ｔの電圧の振れ幅ΔＶ
と定義する。図３では、特定時刻ｔの電圧の振れ幅ΔＶ
は、以下の式のようになる。 ΔＶ＝（ＭａｘＶ−ＭｉｎＶ）
【００１６】図４は、同じ型式（定格電流が同じ) の２
種類の希ガス放電ランプ（ランプ１、ランプ２）を定格
電流で点灯させた場合の点灯経過時間と電圧振れ幅の値
の関係を表すグラフ（Ａ、Ｂ）と、この２種類の希ガス
放電ランプ（ランプ１、ランプ２）を任意の時刻のみ定
格電流より低い特定の電流で点灯させた場合の点灯経過
時間と電圧振れ幅の値の関係を表すグラフ（ａ、ｂ）を
示す。ここでは、定格電流は８０Ａの電流であり、定格
電流より低い特定電流は４０Ａの電流である。
種類の希ガス放電ランプ（ランプ１、ランプ２）を定格
電流で点灯させた場合の点灯経過時間と電圧振れ幅の値
の関係を表すグラフ（Ａ、Ｂ）と、この２種類の希ガス
放電ランプ（ランプ１、ランプ２）を任意の時刻のみ定
格電流より低い特定の電流で点灯させた場合の点灯経過
時間と電圧振れ幅の値の関係を表すグラフ（ａ、ｂ）を
示す。ここでは、定格電流は８０Ａの電流であり、定格
電流より低い特定電流は４０Ａの電流である。
【００１７】ランプ１とランプ２では、定格電流８０Ａ
で電流を流した場合に、点灯後数百時間の間は電圧振れ
幅の値は０．３５Ｖで一定であり、ランプ１では電圧振
れ幅の値が急激に変化する時刻は１０００時間であり、
ランプ２では電圧振れ幅の値が急激に変化する時刻は８
００時間である。このように、ランプ１とランプ２では
電圧振れ幅の値が急激に変化する時刻が違っているが、
これは、前述したように、ランプの個体差によるもので
ある。次に、図４のグラフａ、グラフｂに示すように、
任意の時刻に電流を定格電流より低い４０Ａの電流を流
した場合には、ランプ１、ランプ２は、ともに早い時間
から電圧振れ幅の値が大きくなることが分かる。
で電流を流した場合に、点灯後数百時間の間は電圧振れ
幅の値は０．３５Ｖで一定であり、ランプ１では電圧振
れ幅の値が急激に変化する時刻は１０００時間であり、
ランプ２では電圧振れ幅の値が急激に変化する時刻は８
００時間である。このように、ランプ１とランプ２では
電圧振れ幅の値が急激に変化する時刻が違っているが、
これは、前述したように、ランプの個体差によるもので
ある。次に、図４のグラフａ、グラフｂに示すように、
任意の時刻に電流を定格電流より低い４０Ａの電流を流
した場合には、ランプ１、ランプ２は、ともに早い時間
から電圧振れ幅の値が大きくなることが分かる。
【００１８】即ち、ランプ１とランプ２では、ランプ個
体は違っていても、同じ品種のランプを同じ電流条件で
点灯する（一般に定格電流) 場合であれば、電流を定格
電流より低い値にすることにより、定格電流で点灯させ
た場合と比べ電圧振れ幅の値が大きくなる時刻が早く現
れる。また、ランプ個体が違っていても、同じ品種のラ
ンプを同じ電流条件で点灯する場合においては、定格電
流で点灯した場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める
時刻と、電流を定格電流より低い値にした場合に電圧振
れ幅の値が大きくなり始める時刻との差が両者で同じに
なる。
体は違っていても、同じ品種のランプを同じ電流条件で
点灯する（一般に定格電流) 場合であれば、電流を定格
電流より低い値にすることにより、定格電流で点灯させ
た場合と比べ電圧振れ幅の値が大きくなる時刻が早く現
れる。また、ランプ個体が違っていても、同じ品種のラ
ンプを同じ電流条件で点灯する場合においては、定格電
流で点灯した場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める
時刻と、電流を定格電流より低い値にした場合に電圧振
れ幅の値が大きくなり始める時刻との差が両者で同じに
なる。
【００１９】即ち、図４では、Ｅ１とＥ２の値が同じに
なる。また、電圧振れ幅の値が大きくなり始めてからの
電圧振れ幅の値のグラフの傾きが両者で同じ傾向とな
る。このように、同じ品種のランプを同じ電流条件で点
灯すると、ランプ個体が違っていても、定格電流で点灯
した場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻と、
電流を定格電流より低い値にした場合に電圧振れ幅の値
が大きくなり始める時刻との差が同じ傾向になり、電圧
振れ幅の値が大きくなり始めてからの電圧振れ幅の値の
グラフの傾きも、ほぼ同じ傾向になる。本発明は、この
ような現象を利用して希ガス放電ランプの寿命を予測す
ることを可能にしたものである。本発明において、電圧
振れ幅の値を、予めランプの点灯時間との関係でグラフ
化しておくとは、これらのグラフを作成すること、ある
いは、これらをデータ化して該データを上記基礎データ
記憶機構に入力しておくこと、を意味する。
なる。また、電圧振れ幅の値が大きくなり始めてからの
電圧振れ幅の値のグラフの傾きが両者で同じ傾向とな
る。このように、同じ品種のランプを同じ電流条件で点
灯すると、ランプ個体が違っていても、定格電流で点灯
した場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻と、
電流を定格電流より低い値にした場合に電圧振れ幅の値
が大きくなり始める時刻との差が同じ傾向になり、電圧
振れ幅の値が大きくなり始めてからの電圧振れ幅の値の
グラフの傾きも、ほぼ同じ傾向になる。本発明は、この
ような現象を利用して希ガス放電ランプの寿命を予測す
ることを可能にしたものである。本発明において、電圧
振れ幅の値を、予めランプの点灯時間との関係でグラフ
化しておくとは、これらのグラフを作成すること、ある
いは、これらをデータ化して該データを上記基礎データ
記憶機構に入力しておくこと、を意味する。
【００２０】
【作用】本発明は、希ガス放電ランプに定格電流より低
い特定の電流を流し、その時の希ガス放電ランプの電圧
を検出してその電圧振れ幅の値を測定し、その電圧振れ
幅の値により希ガス放電ランプの寿命を予測することを
特徴とする希ガス放電ランプの寿命予測方法、及びその
寿命予測システムに係るものである。一般に、希ガス放
電ランプのフリッカー現象は、ランプの電圧振れ幅の値
として検出することができるが、従来、定格電流でラン
プを点灯させ、定格電流時における電圧振れ幅の値を見
てフリッカー現象の発生によりランプが使用できなくな
るレベルを検査しようとしても、短時間でフリッカーレ
ベルが急激に上昇するので、予めフリッカーレベルが上
昇する兆しを見極めることはきわめて困難であった。
い特定の電流を流し、その時の希ガス放電ランプの電圧
を検出してその電圧振れ幅の値を測定し、その電圧振れ
幅の値により希ガス放電ランプの寿命を予測することを
特徴とする希ガス放電ランプの寿命予測方法、及びその
寿命予測システムに係るものである。一般に、希ガス放
電ランプのフリッカー現象は、ランプの電圧振れ幅の値
として検出することができるが、従来、定格電流でラン
プを点灯させ、定格電流時における電圧振れ幅の値を見
てフリッカー現象の発生によりランプが使用できなくな
るレベルを検査しようとしても、短時間でフリッカーレ
ベルが急激に上昇するので、予めフリッカーレベルが上
昇する兆しを見極めることはきわめて困難であった。
【００２１】本発明の希ガス放電ランプの寿命予測方法
は、１）電流を定格電流より低い値にすることにより、
定格電流で点灯させた場合と比べて電圧振れ幅の値が大
きくなる時刻が早く現れる、２）同じ品種のランプを同
じ電流条件で点灯する場合においては、定格電流で点灯
した場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻と、
電流を定格電流より低い値にした場合に電圧振れ幅の値
が大きくなり始める時刻との差が両者で同じになる、
３）電圧振れ幅の値が大きくなり初めてからの電圧振れ
幅の値のグラフの傾きが両者で同じ傾向となる、という
本発明者らが見出した新たな知見に基づいて、寿命を測
定したいランプに、任意の時刻で、定格電流より低い特
定の電流を流し、その時の電圧を検出してその電圧振れ
幅の値を測定し、その電圧振れ幅の値を利用することに
より、任意の時刻で、希ガス放電ランプの寿命を予想す
ることを可能とする。
は、１）電流を定格電流より低い値にすることにより、
定格電流で点灯させた場合と比べて電圧振れ幅の値が大
きくなる時刻が早く現れる、２）同じ品種のランプを同
じ電流条件で点灯する場合においては、定格電流で点灯
した場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻と、
電流を定格電流より低い値にした場合に電圧振れ幅の値
が大きくなり始める時刻との差が両者で同じになる、
３）電圧振れ幅の値が大きくなり初めてからの電圧振れ
幅の値のグラフの傾きが両者で同じ傾向となる、という
本発明者らが見出した新たな知見に基づいて、寿命を測
定したいランプに、任意の時刻で、定格電流より低い特
定の電流を流し、その時の電圧を検出してその電圧振れ
幅の値を測定し、その電圧振れ幅の値を利用することに
より、任意の時刻で、希ガス放電ランプの寿命を予想す
ることを可能とする。
【００２２】また、本発明の希ガス放電ランプの寿命予
測システムは、寿命を測定したいランプの任意の時間に
おいて、電流制御手段１によって電流を定格電流より低
く設定し、その時の電圧振れ幅の値を電圧振れ幅検出手
段３によって検出し、その値と、予めランプを定格電流
で点灯させ、任意の時刻において電流を定格電流より低
い値にした場合に検出される電圧振れ幅の値を記憶する
基礎データ記憶機構４のデータとを、これらの値を比較
する比較手段５で比較し、その電圧振れ幅の値の差を寿
命時間換算手段６に入力し、上記電圧振れ幅の値の測定
値を寿命時間に換算して、ランプの寿命時間を予測する
ことを可能とする。
測システムは、寿命を測定したいランプの任意の時間に
おいて、電流制御手段１によって電流を定格電流より低
く設定し、その時の電圧振れ幅の値を電圧振れ幅検出手
段３によって検出し、その値と、予めランプを定格電流
で点灯させ、任意の時刻において電流を定格電流より低
い値にした場合に検出される電圧振れ幅の値を記憶する
基礎データ記憶機構４のデータとを、これらの値を比較
する比較手段５で比較し、その電圧振れ幅の値の差を寿
命時間換算手段６に入力し、上記電圧振れ幅の値の測定
値を寿命時間に換算して、ランプの寿命時間を予測する
ことを可能とする。
【００２３】
【発明の実施の形態】次に、図４のランプ１、ランプ２
を例として、本発明の寿命予測方法の一実施の態様につ
いて具体的に説明する。これらのランプは、定格電流８
０Ａで点灯されている。定格電流８０Ａで点灯されてい
る時の電圧振れ幅の値は、ランプ１のグラフＡ、ランプ
２のグラフＢに示される。また、４０Ａに電流を下げた
時の電圧振れ幅の値は、ランプ１のグラフａ、ランプ２
のグラフｂに示される。フリッカー現象の発生によるこ
れらのランプの寿命は、定格電流時に電圧振れ幅の値が
０．３５Ｖを超えた時とする。ランプ１においては、フ
リッカーによるランプの寿命の時刻は約１０００時間で
ある。一方、その５０時間前の９５０時間において、定
格電流８０Ａでは、その電圧振れ幅の値は点灯初期とほ
ぼ同じである。しかし、４０Ａに電流を下げた時の電圧
振れ幅の値は０．５Ｖとなっている。この値は、点灯初
期の０．３５Ｖと比べると十分に検出できる電圧の振れ
幅である。
を例として、本発明の寿命予測方法の一実施の態様につ
いて具体的に説明する。これらのランプは、定格電流８
０Ａで点灯されている。定格電流８０Ａで点灯されてい
る時の電圧振れ幅の値は、ランプ１のグラフＡ、ランプ
２のグラフＢに示される。また、４０Ａに電流を下げた
時の電圧振れ幅の値は、ランプ１のグラフａ、ランプ２
のグラフｂに示される。フリッカー現象の発生によるこ
れらのランプの寿命は、定格電流時に電圧振れ幅の値が
０．３５Ｖを超えた時とする。ランプ１においては、フ
リッカーによるランプの寿命の時刻は約１０００時間で
ある。一方、その５０時間前の９５０時間において、定
格電流８０Ａでは、その電圧振れ幅の値は点灯初期とほ
ぼ同じである。しかし、４０Ａに電流を下げた時の電圧
振れ幅の値は０．５Ｖとなっている。この値は、点灯初
期の０．３５Ｖと比べると十分に検出できる電圧の振れ
幅である。
【００２４】ランプ２においては、フリッカーによるラ
ンプの寿命の時刻は約８００時間である。その５０時間
前、４０Ａに電流を下げた時の電圧振れ幅の値は０．５
Ｖとなっている。以上のことから、この品種のランプで
は、フリッカーによるランプの寿命の５０時間前に４０
Ａまで電流を下げた時の電圧振れ幅の値は０．５Ｖであ
ることが期待される。本発明のランプの寿命予測方法で
は、これらの関係を利用することにより、例えば、同じ
型式のランプでは、４０Ａに電流を下げた時の電圧振れ
幅の値が０．５Ｖを検出すると、フリッカーによるラン
プの寿命までの残り時間が５０時間であることを予測す
ることが可能となる。
ンプの寿命の時刻は約８００時間である。その５０時間
前、４０Ａに電流を下げた時の電圧振れ幅の値は０．５
Ｖとなっている。以上のことから、この品種のランプで
は、フリッカーによるランプの寿命の５０時間前に４０
Ａまで電流を下げた時の電圧振れ幅の値は０．５Ｖであ
ることが期待される。本発明のランプの寿命予測方法で
は、これらの関係を利用することにより、例えば、同じ
型式のランプでは、４０Ａに電流を下げた時の電圧振れ
幅の値が０．５Ｖを検出すると、フリッカーによるラン
プの寿命までの残り時間が５０時間であることを予測す
ることが可能となる。
【００２５】次に、本発明の寿命予測方法の他の一実施
の態様を説明すると、図４のランプ１では、定格８０Ａ
で点灯させた場合、１０００時間で電圧振れ幅の値が急
激に上昇し、フリッカーが発生した。この時刻の、１０
００時間をランプの寿命時間とすると、この時刻の１０
００時間で４０Ａで点灯させた場合、電圧振れ幅の値は
０．８Ｖであることが示される。次に、ランプ１を４０
Ａで点灯させた場合の電圧振れ幅の値を、図４のグラフ
ａのように、基礎データ記憶機構に記憶させておく。そ
して、ある任意の時刻に電流を４０Ａに落として、その
時の電圧振れ幅の値と、予め分かっている１０００時間
の時に４０Ａで点灯させた場合の電圧振れ幅の値とを比
較して求められる時間差をもって、残り寿命時間を換算
することができる。即ち、ランプ１のグラフＡとグラフ
ａを予め作成（基礎データ記憶機構に入力）しておけ
ば、電流を４０Ａ落とした時刻の電圧振れ幅の値を見れ
ば、その電圧振れ幅の値に対応する時刻が分かり、ラン
プの残り寿命時間を予測することができる。
の態様を説明すると、図４のランプ１では、定格８０Ａ
で点灯させた場合、１０００時間で電圧振れ幅の値が急
激に上昇し、フリッカーが発生した。この時刻の、１０
００時間をランプの寿命時間とすると、この時刻の１０
００時間で４０Ａで点灯させた場合、電圧振れ幅の値は
０．８Ｖであることが示される。次に、ランプ１を４０
Ａで点灯させた場合の電圧振れ幅の値を、図４のグラフ
ａのように、基礎データ記憶機構に記憶させておく。そ
して、ある任意の時刻に電流を４０Ａに落として、その
時の電圧振れ幅の値と、予め分かっている１０００時間
の時に４０Ａで点灯させた場合の電圧振れ幅の値とを比
較して求められる時間差をもって、残り寿命時間を換算
することができる。即ち、ランプ１のグラフＡとグラフ
ａを予め作成（基礎データ記憶機構に入力）しておけ
ば、電流を４０Ａ落とした時刻の電圧振れ幅の値を見れ
ば、その電圧振れ幅の値に対応する時刻が分かり、ラン
プの残り寿命時間を予測することができる。
【００２６】更に、本発明の寿命予測方法の他の一実施
の態様を説明すると、図４のグラフａとグラフｂの傾き
が同じであることに着目してランプの寿命を予測するこ
とができる。予めランプ２のグラフＢとグラフｂを作成
してなくても、グラフｂとグラフａの傾きが同じである
ので、ランプ２で、ある任意の時刻に電流を４０Ａに落
として、その時の電圧振れ幅の値から、グラフａを利用
して、その値に対応する時間を特定し、グラフａにおけ
る寿命時間である１０００時間からそれを引いた値が、
ランプ２の残り寿命時間となる。即ち、ランプ１のグラ
フＡとグラフａを作成しておけば、上記方法により、同
じ型式（定格電流が同じランプ）のランプの寿命を予測
することが可能となる。
の態様を説明すると、図４のグラフａとグラフｂの傾き
が同じであることに着目してランプの寿命を予測するこ
とができる。予めランプ２のグラフＢとグラフｂを作成
してなくても、グラフｂとグラフａの傾きが同じである
ので、ランプ２で、ある任意の時刻に電流を４０Ａに落
として、その時の電圧振れ幅の値から、グラフａを利用
して、その値に対応する時間を特定し、グラフａにおけ
る寿命時間である１０００時間からそれを引いた値が、
ランプ２の残り寿命時間となる。即ち、ランプ１のグラ
フＡとグラフａを作成しておけば、上記方法により、同
じ型式（定格電流が同じランプ）のランプの寿命を予測
することが可能となる。
【００２７】次に、本発明の希ガス放電ランプの寿命予
測システムについて具体的に説明する。図５に、本発明
の希ガス放電ランプの寿命予測システムの一実施の態様
を示す。この寿命予測システムは、希ガス放電ランプＡ
の電流を制御する電流制御手段１と、希ガス放電ランプ
の電圧を検出する電圧検出手段２と、電圧検出手段２に
よって検出された電圧から電圧振れ幅の値を検出する電
圧振れ幅検出手段３とを有し、また、別途、予め希ガス
放電ランプを定格電流で点灯させ、任意の時刻において
電流を定格電流より低い値にした場合に検出される電圧
振れ幅の値を記憶する基礎データ記憶機構４と、前記電
流制御手段１によって定格電流より低い特定の電流を流
した時の希ガス放電ランプの電圧振れ幅を電圧振れ幅検
出手段３で測定した値と、前記基礎データ記憶機構４の
データとを比較する比較手段５と、この比較手段５によ
って得られる電圧振れ幅の値の差に基づいて、これを希
ガス放電ランプの寿命時間に換算する寿命時間換算手段
６とを有している。
測システムについて具体的に説明する。図５に、本発明
の希ガス放電ランプの寿命予測システムの一実施の態様
を示す。この寿命予測システムは、希ガス放電ランプＡ
の電流を制御する電流制御手段１と、希ガス放電ランプ
の電圧を検出する電圧検出手段２と、電圧検出手段２に
よって検出された電圧から電圧振れ幅の値を検出する電
圧振れ幅検出手段３とを有し、また、別途、予め希ガス
放電ランプを定格電流で点灯させ、任意の時刻において
電流を定格電流より低い値にした場合に検出される電圧
振れ幅の値を記憶する基礎データ記憶機構４と、前記電
流制御手段１によって定格電流より低い特定の電流を流
した時の希ガス放電ランプの電圧振れ幅を電圧振れ幅検
出手段３で測定した値と、前記基礎データ記憶機構４の
データとを比較する比較手段５と、この比較手段５によ
って得られる電圧振れ幅の値の差に基づいて、これを希
ガス放電ランプの寿命時間に換算する寿命時間換算手段
６とを有している。
【００２８】本発明の寿命予測システムでは、寿命を測
定したいランプの任意の時間において、電流制御手段１
によって電流を定格電流より低くし、電圧を電圧検出手
段２によって検出し、その時の電圧振れ幅の値を電圧振
れ幅検出手段３によって検出し、その値と、予めランプ
を定格電流で点灯させ、任意の時刻において電流を定格
電流より低い値にした場合に検出される電圧振れ幅の値
を記憶する基礎データ記憶機構４のデータとを、これら
の値を比較する比較手段５で比較し、その電圧振れ幅の
値の差を寿命時間換算手段６に入力し、該寿命時間換算
手段６によって上記電圧振れ幅の値の測定値を寿命時間
に換算して、ランプの寿命時間を予測する。
定したいランプの任意の時間において、電流制御手段１
によって電流を定格電流より低くし、電圧を電圧検出手
段２によって検出し、その時の電圧振れ幅の値を電圧振
れ幅検出手段３によって検出し、その値と、予めランプ
を定格電流で点灯させ、任意の時刻において電流を定格
電流より低い値にした場合に検出される電圧振れ幅の値
を記憶する基礎データ記憶機構４のデータとを、これら
の値を比較する比較手段５で比較し、その電圧振れ幅の
値の差を寿命時間換算手段６に入力し、該寿命時間換算
手段６によって上記電圧振れ幅の値の測定値を寿命時間
に換算して、ランプの寿命時間を予測する。
【００２９】本発明の寿命予測システムでは、例えば、
図６のグラフを用いて説明すると、以下のような判定方
法が例示される。予め、１つのランプを定格電流８０Ａ
で点灯させた場合の電圧振れ幅の値のグラフＦのデータ
を基礎データ記憶機構４に入力し、記憶させておく。そ
して、グラフＦを作成する際に、任意の時刻で定格電流
より低い４０Ａで点灯させた場合の電圧振れ幅の値のグ
ラフｆのデータを基礎データ記憶機構４に入力し、記憶
させておく。次に、フリッカーが発生した時のグラフｆ
の電圧振れ幅の値と時刻のデータを同様に記憶させてお
く。この場合、電圧振れ幅の値は０．８Ｖであり、時刻
は１０００時間である。これらが、上記基礎データ記憶
機構４のデータとなる。グラフｆより、電圧振れ幅の値
が０．６であれば、寿命が２００時間であることがグラ
フｆによって分かる。また、どのランプもグラフｆと同
じ傾きになる。
図６のグラフを用いて説明すると、以下のような判定方
法が例示される。予め、１つのランプを定格電流８０Ａ
で点灯させた場合の電圧振れ幅の値のグラフＦのデータ
を基礎データ記憶機構４に入力し、記憶させておく。そ
して、グラフＦを作成する際に、任意の時刻で定格電流
より低い４０Ａで点灯させた場合の電圧振れ幅の値のグ
ラフｆのデータを基礎データ記憶機構４に入力し、記憶
させておく。次に、フリッカーが発生した時のグラフｆ
の電圧振れ幅の値と時刻のデータを同様に記憶させてお
く。この場合、電圧振れ幅の値は０．８Ｖであり、時刻
は１０００時間である。これらが、上記基礎データ記憶
機構４のデータとなる。グラフｆより、電圧振れ幅の値
が０．６であれば、寿命が２００時間であることがグラ
フｆによって分かる。また、どのランプもグラフｆと同
じ傾きになる。
【００３０】次に、寿命を測定したいランプの任意の時
刻で、電流値を４０Ａにした時の電圧振れ幅の値を測定
する。この値が、０．６以上であれば、残り寿命が２０
０時間未満であり、０．６以下であれば残り寿命が２０
０時間以上と判定される。また、この値が０．４であれ
ば、グラフｆにその値を重ねてみることで、残り寿命が
４００時間であることが分かる。また、電圧振れ幅の値
が０．６の時、定格電流より低い電流で流した時の残り
寿命かいくらになるかを、予め複数の電流を流して記録
しておくことにより、電圧振れ幅の値が０．６になった
場合の電流値を測り、この値に相当する寿命が予め記録
されている寿命から判定される。
刻で、電流値を４０Ａにした時の電圧振れ幅の値を測定
する。この値が、０．６以上であれば、残り寿命が２０
０時間未満であり、０．６以下であれば残り寿命が２０
０時間以上と判定される。また、この値が０．４であれ
ば、グラフｆにその値を重ねてみることで、残り寿命が
４００時間であることが分かる。また、電圧振れ幅の値
が０．６の時、定格電流より低い電流で流した時の残り
寿命かいくらになるかを、予め複数の電流を流して記録
しておくことにより、電圧振れ幅の値が０．６になった
場合の電流値を測り、この値に相当する寿命が予め記録
されている寿命から判定される。
【００３１】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明は、希ガス
放電ランプの寿命予測方法、及びその予測システムに係
るものであり、本発明により、１）各々の希ガス放電ラ
ンプに固有のフリッカーレベルが上昇するタイミングを
予測することができる、２）それにより、フリッカーが
ランプとして使用できなくなるレベルになる時点を予測
し、希ガス放電ランプの寿命を予測することができる、
３）ランプ点灯期間の任意の時点で該ランプの寿命を予
測することができる、４）これらの方法の実施に使用さ
れる希ガス放電ランプの寿命予測システムを提供するこ
とができる、という格別の効果が奏される。
放電ランプの寿命予測方法、及びその予測システムに係
るものであり、本発明により、１）各々の希ガス放電ラ
ンプに固有のフリッカーレベルが上昇するタイミングを
予測することができる、２）それにより、フリッカーが
ランプとして使用できなくなるレベルになる時点を予測
し、希ガス放電ランプの寿命を予測することができる、
３）ランプ点灯期間の任意の時点で該ランプの寿命を予
測することができる、４）これらの方法の実施に使用さ
れる希ガス放電ランプの寿命予測システムを提供するこ
とができる、という格別の効果が奏される。
【図１】ランプの点灯時間と電圧振れ幅の値との関係を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図２】ランプの陰極先端部の断面の模式図である。
【図３】希ガス放電ランプの電圧値のデータを示す説明
図である。
図である。
【図４】同じ型式の２種類の希ガス放電ランプ（ランプ
１、ランプ２）の点灯経過時間と電圧振れ幅の値の関係
を示す説明図である。
１、ランプ２）の点灯経過時間と電圧振れ幅の値の関係
を示す説明図である。
【図５】本発明の希ガス放電ランプの寿命予測システム
の一例を示す説明図である。
の一例を示す説明図である。
【図６】ランプの点灯時間と電圧振れ幅の値の関係を示
す説明図である。
す説明図である。
【符号の説明】
（図５の符号の説明）
１ 電流制御手段
２ 電圧検出手段
３ 電圧振れ幅検出手段
４ 基礎データ記憶機構
５ 比較手段
６ 寿命時間換算手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 3K073 AA82 AA86 AA87 AA95 BA08
CD09 CF12 CF16 CH04 CH21
CM01 CM02
5C012 AA08 VV10
Claims (5)
- 【請求項１】 発光管内に陰極と陽極が対向配置され、
前記陰極にエミッター物質が含有されている希ガス放電
ランプの寿命を予測する方法であって、希ガス放電ラン
プに定格電流より低い特定の電流を流し、その時の希ガ
ス放電ランプの電圧を検出してその電圧の振れ幅を測定
し、その電圧振れ幅の値を利用して希ガス放電ランプの
寿命を予測することを特徴とする希ガス放電ランプの寿
命予測方法。 - 【請求項２】 定格電流で点灯した場合に電圧振れ幅の
値が大きくなり始める時刻と、電流を定格電流より低い
値にした場合に電圧振れ幅の値が大きくなり始める時刻
との差を基準として、ランプの残り寿命を予測する、請
求項１に記載の希ガス放電ランプの寿命予測方法。 - 【請求項３】 電流を定格電流より低い値にした場合に
検出される電圧振れ幅の値と、予め電流を定格電流より
低い値にした場合に測定したフリッカーが発生する時刻
の電圧振れ幅の値とを比較することにより、ランプの残
り寿命を予測する、請求項１に記載の希ガス放電ランプ
の寿命予測方法。 - 【請求項４】 定格電流で点灯した場合に検出される電
圧振れ幅の値と、電流を定格電流より低い値にした場合
に検出される電圧振れ幅の値を、予めランプの点灯時間
との関係でグラフ化しておき、寿命を測定したい同一品
種のランプの任意の時刻で、電流を定格電流より低い値
にした場合に検出される電圧振れ幅の値を、上記グラフ
に基づいて、ランプの残り寿命時間に換算する、請求項
１に記載の希ガス放電ランプの寿命予測方法。 - 【請求項５】 発光管内に陰極と陽極が対向配置され、
前記陰極にエミッター物質が含有されている希ガス放電
ランプの寿命を予測するシステムであって、 希ガス放電ランプの電流を制御する電流制御手段、 前記希ガス放電ランプの電圧を検出する電圧検出手段、 前記電圧検出手段によって検出された電圧から電圧の振
れ幅の値を検出する電圧振れ幅検出手段、 予め希ガス放電ランプを定格電流で点灯させ、任意の時
刻において電流を定格電流より低い値にした場合に検出
される電圧振れ幅の値を記憶する基礎データ記憶機構、 前記電流制御手段によって定格電流より低い特定の電流
を流した時の希ガス放電ランプの電圧の振れ幅を測定し
た値と、前記基礎データ記憶機構のデータとを比較する
比較手段、及び、 前記比較手段によって得られる電圧振れ幅の値の差に基
づいて、これを希ガス放電ランプの寿命時間に換算する
寿命時間換算手段、を有することを特徴とする希ガス放
電ランプの寿命予測システム。
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| JP2002128391A JP4000897B2 (ja) | 2002-04-30 | 2002-04-30 | 希ガス放電ランプの寿命予測方法、及び、希ガス放電ランプの寿命予測システム |
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|---|---|---|---|
| JP2002128391A JP4000897B2 (ja) | 2002-04-30 | 2002-04-30 | 希ガス放電ランプの寿命予測方法、及び、希ガス放電ランプの寿命予測システム |
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|---|---|
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| US7002301B2 (en) * | 2003-10-15 | 2006-02-21 | Lutron Electronics Co., Inc. | Apparatus and methods for making capacitive measurements of cathode fall in fluorescent lamps |
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| JP2008517438A (ja) * | 2004-10-19 | 2008-05-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ガス放電ランプ監視方法及び配置、プログラム、ビデオプロジェクター |
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| ATE521216T1 (de) * | 2007-01-30 | 2011-09-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Verfahren und einrichtung zum ansteuern einer gasentladungslampe |
| CN101681016A (zh) * | 2007-03-20 | 2010-03-24 | 致茂电子股份有限公司 | 光源 |
| DE102009019625B4 (de) * | 2009-04-30 | 2014-05-15 | Osram Gmbh | Verfahren zum Ermitteln eines Typs einer Gasentladungslampe und elektronisches Vorschaltgerät zum Betreiben von mindestens zwei unterschiedlichen Typen von Gasentladungslampen |
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|---|---|---|---|---|
| US4831564A (en) * | 1987-10-22 | 1989-05-16 | Suga Test Instruments Co., Ltd. | Apparatus for estimating and displaying remainder of lifetime of xenon lamps |
| US5808597A (en) * | 1995-03-08 | 1998-09-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination device for liquid crystal display apparatus |
| DE19540326B4 (de) * | 1995-10-28 | 2006-06-14 | Automotive Lighting Reutlingen Gmbh | Scheinwerfer für Fahrzeuge |
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| FI104035B (fi) * | 1998-02-12 | 1999-10-29 | Teknoware Oy | Menetelmä ja järjestely loisteputken jäljellä olevan käyttöiän määrittämiseksi |
| DE19937422A1 (de) | 1999-08-07 | 2001-02-22 | Philips Corp Intellectual Pty | Verfahren und Anordnung zur Überwachung einer Gasentladungslampe |
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- 2002-04-30 JP JP2002128391A patent/JP4000897B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-04-25 DE DE10318870A patent/DE10318870B4/de not_active Expired - Fee Related
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