JPS5858630B2 - フラツシユランプの寿命判定方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、特にレーザポンピング用キセノンフラッシュ
ランプの寿命を判定するフラッシュランプの寿命判定方
法に関する。

従来のフラッシュランプの寿命判定方法は、実装条件に
おいてフラッシュランプをパルス点灯し、経験的にフラ
ッシュランプの寿命あるいは点灯可能回数を判定する方
法であった。

しかしフラッシュランプの寿命あるいは点灯可能回数は
、個々のフラッシュランプにおけるバラツキが非常に大
きく通常１０倍以上の違いがある。

従って実用上、新品のフラッシュランプの使用に際して
は、そのフラッシュランプの寿命あるいは点灯可能回数
を推測することが極めて困難である。

この為、例えば同一ロットによるフラッシュランプの内
から任意のフラッシュランプを抽出し、例えば第１図に
示す測定回路ｌこおいて実装条件とほぼ同一にして測定
していた。

即ち、トリガ発生器４からフランシュランプ５のトリガ
電極Ｉこ例えば２０に■の高電圧トリガを印加すること
により電源１から抵抗器２を介して充電されるコンデン
サ３の充電電荷を放電させフラッシュランプ５を閃光放
電する。

このフラッシュランプ５の閃光放電をフラッシュランプ
５が点灯不能（こなる迄繰返し行うことにより、フラッ
シュランプ５の寿命あるいは点灯可能回数を測定し、他
の同一ロットのフラッシュランプの寿命あるいは点灯可
能回数を推測していた。

従って測定に供しられたフラッシュランプ５は破損シ再
度使用することができないという不都合があった。

一方策１図に示す測定回路において、フラッシュランプ
を数回閃光放電させ、光量の変化からフラッシュランプ
の寿命を推測する方法もある。

しかしこのフラッシュランプ５の閃光放電においても、
フラッシュランプ５の放電電流は通常、数１００Ａ〜数
１００ＯＡである為、この放電電流によってフラッシュ
ランプ５の性能の劣化を招くという欠点があった。

更に他のフラッシュランプの試験方法として、高周波無
電極放電によりフラッシュランプを微弱に高周波放電さ
せ、この高周波放電ｔこよるフラッシュランプの発光色
より、フラッシュランプ内部の状態を推測する方法があ
る。

この試験方法は、フラッシュランプ内のガス成分の状態
を不完全ではあるが判定できる。

しかし、フラッシュランプの寿命あるいは点灯可能回数
の判定にははなはだ不十分なものである。

本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、測定に
供されるフラッシュランプの寿命するいは性能に影響を
及ぼすことなく、その寿命を容易に且つ適確に判定する
ことのできるフラッシュランプの寿命判定方法を提供す
ることを目的とする。

以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。

第２図は本発明の測定回路の一実施例を示す図である。

フラッシュランプ１１に微少放電電流を供給する直流放
電電源１２には、放電電流安定化用の抵抗器１３を介し
てフラッシュランプ１１が接続され、フラッシュランプ
１１の放電回路が構成される。

又、フラッシュランプ１１のトリガ電極Ｏこは、フラッ
シュランプ１１の放電を行わせる為のトリガを与えるト
リガ発生器１４が接続される。

このような構成でトリガ発生器１４よりトリガを与えら
れたフラッシュランプ１１は、直流放電電源１２から抵
抗器１３を介して流れる微少放電電流により放電する。

この放電における各部の電圧、電流を測定する為に、フ
ラッシュランプ１１の両端に直流電圧検出計１５及び、
前記放電回路に直流電流検出計１６が挿入されている。

このような回路構成において、同一形状のフラッシュラ
ンプ、ここでは直径７間、長さ７５關のキセノンフラッ
シュランプについて多数測定したところ放電電流を横軸
に、フラッシュランプの放電Ｇこよる電圧降下を縦軸と
した第３図に示すように、電圧降下がほぼ一定化した斜
線領域Ａの集団と電圧降下が大きく、その電圧降下が不
安定な斜線領域Ｂの集団とが得られた。

更にこのように分かれたフラッシュランプの集団Ａ、Ｂ
を第１図に示す従来のフラッシュランプの試験方法にて
、フラッシュランプの点灯を繰返し、その点灯時間に対
するフラッシュランプの発光光量の変化を求めると、第
４図に示す分布となる。

この第４図に示す斜線領域ａは前記集団Ａのフラッシュ
ランプであり、フラッシュランプの点灯時間（こ対する
光量の変化はあまりない。

又斜線領域すは前記集団Ｂのフラッシュランプであり、
フラッシュランプの点灯時間に対して、その光量は急激
に劣化する。

即ち、これらの多数のフラッシュランプの実験から、上
記方法ｌこよるフラッシュランプの測定と、フラッシュ
ランプの劣化の度合とｆこは、明確な対応関係が存在し
ていることがわかる。

なお上記試験方法によるフラッシュランプの放電電流は
数１０ｍＡであり、通常のフラッシュランプの閃光放電
における放電電流数ｉｏｏ〜数１００ＯＡに比して十分
小さく、フラッシュランプの性能あるいは寿命の劣化を
招くことはない。

又、上記における測定の第３図、第４図の測定データは
特定の大きさのフラッシュランプについて行われたもの
であるが、例えばフラッシュランプの管長が長くなれば
、そのフラッシュランプにおける電圧降下が大きくなる
のみであり、この測定において分類されるフラッシュラ
ンプと、そのフラッシュランプの寿命との対応関係は保
たれる。

又、フラッシュランプの光量の劣化の度合は、フラッシ
ュランプの入力エネルギー条件（こより変化するが、こ
の劣化の度合も相対的に保たれる。

これは、別の大きさのフラッシュランプを多数測定する
ことにより確認できた。

なお、本装置の測定において、第３図に示す斜線領域Ａ
に属するフラッシュランプでは、直流放電路が両電極間
を安定ｌこ走行し、斜線領域Ｂに属するフラッシュラン
プでは、直流放電路が両電極表面で絶えず変化すること
を観察することができる。

従って、上記実施例における直流電圧検出計１５を除去
し、直流放電路を観察することによってもフラッシュラ
ンプの寿命をある程度判定することができる。

更にこの直流放電路の変化は、従来の高周波無電極放電
による方法では見ることができなかった現象である。

従って、この直流放電路の観察のみをこより、フラッシ
ュランプの寿命を簡単に推測することも可能である。

以上説明したように、本発明はフラッシュランプを微少
直流電流で放電させ、その放電時のフラッシュランプの
電圧降下あるいはフラッシュランプ内の直流放電路の状
態からフラッシュランプの寿命の判定を行うようにした
ものであるから、フラッシュランプの放電電流が微少電
流であるが為に測定に供されたフラッシュランプの寿命
あるいは性能に影響を及ぼすことがなく、しかもフラッ
シュランプの寿命を適確に判定することのできるフラッ
シュランプの寿命判定方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のフラッシュランプの寿命判定の測定回路
の一例を示す図、第２図は本発明の測定回路の一実施例
を示す図、第３図は本発明の方法により測定されたフラ
ッシュランプの分布を示す図、第４図は本発明の方法に
より測定されたフラッシュランプの点灯時間に対する光
量の変化を示す図である。 １・・・・・・電源、２，１３・・・・・・抵抗器、３
・・・・・・コンデンサ、４，１４・・・・・・トリガ
発生器、５，１１・・・・・・フラッシュランプ、１２
・・・・・・直流放電電源、１５・・・・・・直流電圧
検出計、１６・・・・・・直流電流検出計。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 微少直流電流でフラッシュランプを放電させ、この
   時のフラッシュランプにおける電圧降下を測定し、少く
   ともこの測定値から前記フラッシュランプの寿命を判定
   することを特徴とするフラッシュランプの寿命判定方法
   。