JP2003322799A - レーザ顕微鏡システム - Google Patents

レーザ顕微鏡システム

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JP2003322799A JP2002128938A JP2002128938A JP2003322799A JP 2003322799 A JP2003322799 A JP 2003322799A JP 2002128938 A JP2002128938 A JP 2002128938A JP 2002128938 A JP2002128938 A JP 2002128938A JP 2003322799 A JP2003322799 A JP 2003322799A
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mirror
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザ光の出射波長の変更に対してもレーザ
顕微鏡の光軸調整を精度よく行うことができる顕微鏡シ
ステムを提供する。 【解決手段】 レーザ光の出射波長を変更可能にしたレ
ーザ発生手段1より出射されたレーザ光を反射する反射
ミラー3を配置するとともに、この反射ミラー3を載置
して光軸2に沿った方向に平行移動可能にした平行移動
機構4を設け、反射ミラー3で反射され、レーザ顕微鏡
に入射されるレーザ光のスポット位置をラインセンサ9
で検出し、このラインセンサ9で検出されたレーザ光の
スポット位置に基づいて、ラインセンサ9上でのスポッ
ト位置が所定位置となるように平行移動機構4により反
射ミラー3を移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、標本に対してレー
ザ光を照射し、標本からの蛍光を観察するレーザ顕微鏡
システムに係り、特に、出射レーザ光の波長を変更可能
な波長可変レーザを使用したレーザ頭微鏡システムに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、標本に対してレーザ光を照射し、
標本からの蛍光を観察するレーザ顕微鏡システムには、
レーザ顕微鏡が用いられるが、このようなレーザ顕微鏡
では、標本を染色している蛍光色素に適した波長のレー
ザ光を照射する必要がある。
【0003】ところで、近年、様々な蛍光色素が開発さ
れ、目的に合わせてこれらの蛍光色素が使い分けられて
おり、そのため、励起レーザも多くの波長のものが必要
となっている。
【0004】このため、最近では、レーザ発生手段とし
て、ブロードバンド発振のレーザ光から必要とする出射
波長にチューニングできる波長可変のものが有用になっ
ている。ところが、ブロードバンド発振されるレーザ光
から特定の波長のレーザ光を取り出す場合、波長を変更
しながら効率よくレーザ光を取り出すには、レーザ発生
手段内部の光学系を操作する必要があり、この波長変更
にともなってレーザ光の出力光軸が動いてしまうことが
ある。
【0005】一方、レーザ顕微鏡は、レーザ光の入射光
軸の調整がその性能に大きく影響することが知られてお
り、このため波長を可変可能にしたレーザ光を使用する
場合は、波長可変チューニングを行うたびにレーザ顕微
鏡への入射光軸を修正する必要がある。
【0006】そこで、従来のレーザ発生手段では、レー
ザ光源からレーザ顕微鏡までの間の光路に光軸調整機構
を設けておき、レーザ光をチューニングして出力波長を
変えるたびに、レーザ光を目視で確認しながら、光軸調
整機構を操作してレーザ顕微鏡への入射光軸を調整する
ようにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、レーザ
顕微鏡へ入射されるレーザ光を目視しながら光軸調整す
るのでは、操作が煩雑で手間がかかり、光軸調整を最適
に行い最良な画像を取得するのは極めて困難である。特
に、多光子レーザ顕微鏡のように近赤外の波長のレーザ
光が使用されるものでは、目視では、レーザ光が見えな
いため、光軸調整にIRスコープなどを用いて作業を行
わなければならないため、さらに手間がかかってしま
う。
【0008】そこで、波長の異なる複数のレーザ光源を
用意し、これらレーザ光源からの光軸調整されたレーザ
光を合成して使用することで、面倒な光軸調整作業を不
要にすることも考えられるが、複数のレーザ光源を用意
することは、価格的に高価になるとともに、大きな設置
スペースも必要になる。
【0009】特に、近年、多光子励起現象を利用した多
光子レーザ顕微鏡が実用化されるようになっており、こ
の種の多光子レーザ顕微鏡の多光子励起現象は、通常の
1光子励起蛍光のn倍(2光子ではn=2、3光子では
n=3、…)の波長の励起レーザが使用され、一般に近
赤外の波長のものが使用されているが、このような多光
子励起用のレーザ光源は非常に高価なため、これらレー
ザ光源を複数台用意することは、あまり現実的でない。
【0010】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、レーザ光の出射波長の変更に対してもレーザ顕微鏡
の光軸調整を簡単に精度よく行うことができる顕微鏡シ
ステムを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
レーザ光の出射波長を変更可能にしたレーザ発生手段
と、前記レーザ発生手段より出射されたレーザ光を偏向
させる光学部材と、前記光学部材を移動させる移動手段
と、前記光学部材で偏向されるレーザ光が入射されるレ
ーザ顕微鏡と、前記レーザ顕微鏡に入射されるレーザ光
の位置を検出する位置センサと、前記位置センサで検出
されたレーザ光の位置に基づいて前記位置センサ上の前
記レーザ光の位置が所定位置となるように前記移動手段
による前記光学部材の移動を制御する制御手段とを具備
したことを特徴としている。
【0012】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記光学部材は、反射ミラーで、前記移動
手段は、前記反射ミラーの反射光路を平行にシフトさせ
るように移動させることを特徴としている。
【0013】請求項3記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記光学部材は、反射ミラーで、前記移動
手段は、前記反射ミラーの反射光路を回動させるように
移動させることを特徴としている。
【0014】請求項4記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記光学部材は、反射ミラーで、前記移動
手段は、前記反射ミラーの反射光路を平行にシフトさせ
るとともに、回動させるように移動させることを特徴と
している。
【0015】請求項5記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記光学部材は、透過光学部材で、前記移
動手段は、前記透過光学部材を回動させるように移動さ
せることを特徴としている。
【0016】請求項6記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記光学部材は、前記レーザ発生手段より
出射されたレーザ光の第1の光軸上に配置される第1の
反射ミラーと、該第1の反射ミラーの反射光路に配置さ
れ、第2の光軸の反射光路を形成する第2の反射ミラー
を有し、前記移動手段は、前記第1の反射ミラーを移動
させる第1の平行移動機構および前記第2の反射ミラー
を移動させる第2の平行移動機構を有し、前記位置セン
サは、前記第2の反射ミラーで反射される前記第2の光
軸のレーザ光の位置を検出する2次元センサであること
を特徴としている。
【0017】請求項7記載の発明は、請求項1乃至6の
いずれかに記載の発明において、レーザ発生手段は、制
御部手段からの指示により自動チューニングされる波長
可変レーザであり、該波長変更のチューニング完了によ
り前記制御手段ヘその旨の信号を発し、前記移動手段に
よる前記光学部材の移動制御を開始させることを特徴と
している。
【0018】この結果、本発明によれば、レーザ光の出
射波長を変更したことにより、レーザ光の出射位置や出
射角度などの位置変化を生じても、これらの位置変化に
対し、レーザ光の光路を適切に移動させて補正すること
ができるので、レーザ顕微鏡へのレーザ光の入射光軸を
常に一定状態に保つことができ、レーザ顕微鏡において
常に良好な観察画像を取得することができる。
【0019】また、本発明によれば、レーザ光の出射波
長を変更したことによりレーザ光の位置変化が2次元的
であっても、これらの変化に対し、レーザ光の光路を2
次元的に移動させて補正することができるので、レーザ
顕微鏡へのレーザ光の入射光軸を常に一定状態に保つこ
とができ、レーザ顕微鏡において常に良好な観察画像を
取得することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。
【0021】(第1の実施の形態)図1は、本発明が適
用されるレーザ顕微鏡システムの概略構成を示してい
る。図において、1はレーザ発生手段で、このレーザ発
生手段1は、ブロードバンド発振されるレーザ光からい
ろいろな出射波長にチューニングできる波長可変のもの
が用いられている。また、このレーザ発生手段1には、
チューニングによりレーザ光の出力波長の変更を行う
と、レーザ光の出射位置が光軸2に対して平行にずれる
光軸ずれタイプのものが用いられている。
【0022】レーザ発生手段1からのレーザ光の光軸2
上には、レーザ光を偏向する光学部材としての反射ミラ
ー3が配置されている。この反射ミラー3は、移動手段
としての平行移動機構4に載置されている。
【0023】平行移動機構4は、例えば、マイクロメー
タからなるもので、モータ6により反射ミラー3を光軸
2に沿った方向に平行移動可能とし、反射ミラー3の反
射光路を平行にシフトできるようにしている。
【0024】反射ミラー3の反射光路には、ビームスプ
リッタなどの一部透過ミラー7が配置されている。この
一部透過ミラー7は、反射ミラー3で反射されるレーザ
光をさらに反射するとともに、その一部を透過するもの
である。
【0025】一部透過ミラー7の反射光路には、レーザ
顕微鏡8のレーザ光走査装置8aが配置され、また、透
過光路には、位置センサとして、ラインセンサ9が配置
されている。
【0026】ここで、レーザ顕微鏡8は、図示しない標
本に対してレーザ光走査装置8aから導入されたレーザ
光を照射し、標本からの蛍光を観察するようにしたもの
である。また、ラインセンサ9は、図2に示すように一
部透過ミラー7を透過したレーザ光がレーザスポット1
0として照射されるもので、レーザスポット10の照射
位置に対応した出力を発生するものである。
【0027】ラインセンサ9には、制御部5が接続され
ている。制御部5は、レーザ顕微鏡8に対するレーザ光
の光軸調整が最適になされているときのラインセンサ9
上のレーザスポット10の照射位置(図2に示すライン
センサ9の中央位置)をレーザ光のアライメントが最適
に取られている初期状態のレーザスポット位置として記
憶しており、レーザ発生手段1でのチューニングによる
レーザ光の出力波長の変更によりレーザ光の出射位置が
光軸2に対して平行にずれ、りラインセンサ9上のレー
ザスポット10の照射位置が移動すると、このときの移
動量と移動方向を検出し、これらの情報に基づいてモー
タ6を介して平行移動機構4を駆動し、レーザスポット
10の照射位置をラインセンサ9の中央位置に戻すよう
に制御するようになっている。
【0028】このような構成において、いま、図3に示
すようにレーザ発生手段1からのレーザ光の出射位置が
図示破線位置にあってレーザ顕微鏡8に対するレーザ光
の光軸調整が最適になされている場合は、レーザ発生手
段1からのレーザ光は、反射ミラー3で反射し、図示破
線光路aを通って一部透過ミラー7に入射し、ここでさ
らに反射して、レーザ顕微鏡8のレーザ光走査装置8a
に入射され、また、一部透過したレーザ光は、ラインセ
ンサ9に照射される。
【0029】この場合、ラインセンサ9上のレーザスポ
ット10の照射位置は、図2に示すようにラインセンサ
9の中央部(初期状態)に位置することから、制御部5
による平行移動機構4の制御は行われない。
【0030】次に、レーザ発生手段1において、チュー
ニングによりレーザ光の出力波長の変更を行い、レーザ
発生手段1からのレーザ光の出射位置が図示実線位置に
ずれると、反射ミラー3で反射するレーザ光は、図示実
線光路bを通り、一部透過ミラー7を透過してラインセ
ンサ9上に照射され、このときのレーザスポット10の
位置は、例えば図4に示すようにラインセンサ9の中央
部からずれる方向に移動する。すると、制御部5は、こ
の時のラインセンサ9上のレーザスポット10の移動量
と移動方向を検出し、これらの情報に基づいてモータ6
を駆動し、平行移動機構4により反射ミラー3を移動さ
せる。
【0031】この場合、図4に示すようにラインセンサ
9上のレーザスポット10の照射位置は、ラインセンサ
9の中央部から右方向にずれているので、制御部5は、
平行移動機構4により反射ミラー3を光軸2に沿って図
示左方向に平行移動させる。すると、反射ミラー3の移
動により、その反射光路は平行にシフトするので、一部
透過ミラー7を透過してラインセンサ9上に照射される
レーザスポット10の位置はラインセンサ9の中央部に
戻る方向に移動する。そして、レーザスポット10の照
射位置が図2に示すラインセンサ9上の中央部まで戻る
と、制御部5は、モータ6による平行移動機構4の駆動
を停止する。これにより、反射ミラー3で反射されたレ
ーザ光は、元の図示破線光路aを通って一部透過ミラー
7に入射されるようになり、レーザ光の出射位置のずれ
は補正され、レーザ顕微鏡8に対するレーザ光の光軸調
整が最適になされた状態に戻される。
【0032】従って、このようにすれば、レーザ発生手
段1において、レーザ光の出射波長を変更したことによ
り、レーザ光の出射位置に変化を生じても、このときの
位置変化に対し反射ミラー3の反射光路が平行にシフト
させ、補正することができるので、レーザ顕微鏡8への
レーザ光の入射光軸を常に一定状態、つまりレーザ光の
光軸調整が最適な状態に保つことができ、これによりレ
ーザ顕微鏡8側において常に良好な観察画像を取得する
ことができる。
【0033】(第2の実施の形態)図5は、第2の実施
の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には同
符号を付している。
【0034】この場合、レーザ発生手段1には、チュー
ニングによりレーザ光の出力波長の変更を行うと、レー
ザ発生手段1からのレーザ光の出射角度がずれる角度ず
れタイプのものが用いられている。また、レーザ発生手
段1からのレーザ光の光軸2上に配置される反射ミラー
3は、回転機構21上に載置されている。この回転機構
21は、モータ6により反射ミラー3を回動可能とし、
反射ミラー3の反射光路を回動できるようにしている。
なお、この場合の反射ミラー3の反射面は、レーザ発生
手段1のレーザ光出射位置に近いことが望ましい。
【0035】このような構成において、いま、レーザ発
生手段1からのレーザ光の出射角度が図示破線位置にあ
ってレーザ顕微鏡8に対するレーザ光の光軸調整が最適
になされている場合は、上述したと同様にして制御部5
による回転機構21の制御は行われない。
【0036】次に、レーザ発生手段1において、チュー
ニングによりレーザ光の出力波長の変更を行い、レーザ
発生手段1からのレーザ光の出射角度が図示実線位置に
ずれると、反射ミラー3で反射されるレーザ光は、図示
実線光路bを通り、一部透過ミラー7を透過してライン
センサ9上に照射され、このときのレーザスポット10
の位置は、例えば図6に示すようにラインセンサ9の中
央部からずれる方向に移動する。
【0037】これにより、制御部5は、この時のライン
センサ9上のレーザスポット10の移動量と移動方向を
検出し、これらの情報に基づいてモータ6を駆動し、反
射ミラー3を載置した回転機構21を回動させる。
【0038】すると、反射ミラー3の回動にともない、
その反射光路が回動するので、一部透過ミラー7を透過
してラインセンサ9上に照射されるレーザスポット10
の位置はラインセンサ9の中央部に戻る方向に移動す
る。そして、上述した図2に示すラインセンサ9上の中
央部までレーザスポット10の照射位置が戻ると、制御
部5は、モータ6による回転機構21の駆動を停止す
る。これにより、反射ミラー3で反射されたレーザ光
は、図示破線光路aを通って一部透過ミラー7に入射さ
れるようになり、レーザ光の出射角度のずれは補正さ
れ、レーザ顕微鏡8に対するレーザ光の光軸調整が最適
になされた状態に戻される。
【0039】従って、このようにしても第1の実施の形
態と同様な効果を期待できる。
【0040】(第3の実施の形態)図7は、第3の実施
の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には同
符号を付している。
【0041】この場合、レーザ発生手段1には、チュー
ニングによりレーザ光の出力波長の変更を行うと、レー
ザ発生手段1からのレーザ光の出射位置が光軸2に対し
て平行にずれる(光軸ずれ)と同時に、レーザ光の出射
角度がずれる(角度ずれ)タイプのものが用いられてい
る。
【0042】レーザ発生手段1からのレーザ光の光軸2
上に配置される反射ミラー3は、平行移動・回転機構2
2上に載置されている。平行移動・回転機構22は、モ
ータ6により反射ミラー3全体を光軸2に沿った方向に
平行移動可能とし、反射光路を平行にシフトできるよう
にするとともに、反射ミラー3を回動可能とし、反射光
路を回動できるようにしている。また、反射ミラー3の
反射光路上には、所定の間隔をおいて2個の一部透過ミ
ラー23a、23bが配置され、これら一部透過ミラー
23a、23bの透過光路には、レーザ顕微鏡8のレー
ザ光走査装置8aが配置され、また、それぞれの反射光
路には、位置センサとして、ラインセンサ24a、24
bが配置されている。
【0043】このような構成において、いま、レーザ発
生手段1からのレーザ光の出射位置および角度が図示破
線位置にあってレーザ顕微鏡8に対するレーザ光の光軸
調整が最適になされている場合は、上述したと同様にし
て制御部5による平行移動・回転機構22の制御は行わ
れない。
【0044】次に、レーザ発生手段1において、チュー
ニングによりレーザ光の出力波長の変更を行い、レーザ
発生手段1からのレーザ光の出射位置および角度が図示
実線位置にずれると、反射ミラー3で反射されるレーザ
光は、図示実線光路bを通って一部透過ミラー23a、
23bでさらに反射してラインセンサ24a、24b上
に照射される。このときのラインセンサ24a、24b
上でのレーザスポット10の位置は、図8(a)(b)
に示すようにラインセンサ24a、24bの中央部から
ずれる方向に移動している。
【0045】これにより、制御部5は、このときのライ
ンセンサ24a、24b上のレーザスポット10の移動
量と移動方向を検出し、これらの情報に基づいてモータ
6を駆動する。この場合、のラインセンサ24a、24
bのレーザスポット10の位置ずれ量の差分がレーザ光
の角度ずれに相当するため、まず、このレーザスポット
10の位置ずれ量の差分を求めて、これを無くすように
反射ミラー3を回動させる。両センサのレーザスポット
10の位置ずれ量が等しくなれば、レーザ光の角度ずれ
が補正された状態になっている。
【0046】残っているラインセンサ24a、24b上
の等しい位置ずれは、レーザ光の出射位置ずれであるた
め、その後、反射ミラー3をレーザスポット10の位置
がセンサの中央に戻る方向に平行移動させる。
【0047】そして、それぞれのラインセンサ24a、
24b上のレーザスポット10の照射位置が、図9
(a)(b)に示すように中央部まで戻ると、制御部5
は、モータ6による平行移動・回転機構22の駆動を停
止する。これにより、反射ミラー3で反射されたレーザ
光は、図示破線光路aを通って一部透過ミラー7に入射
されるようになり、レーザ光の出射位置および角度のず
れは補正され、レーザ顕微鏡8に対するレーザ光の光軸
調整が最適になされた状態に戻される。
【0048】従って、このようにすれば、レーザ発生手
段1からのレーザ光が光軸ずれと角度ずれを同時に生じ
ても、反射ミラー3の反射光路上に配置された一部透過
ミラー23a、23bを介してラインセンサ24a、2
4bにより光路のずれを2個所で検出してレーザ光の光
軸ずれと角度ずれを補正するようにしたので、レーザ顕
微鏡8に対するレーザ光の光軸調整を高精度に行うこと
ができる。
【0049】(第4の実施の形態)図10は、第4の実
施の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には
同符号を付している。
【0050】この場合、レーザ発生手段1には、チュー
ニングによりレーザ光の出力波長の変更を行うと、レー
ザ発生手段1からのレーザ光の出射位置が光軸2に対し
て平行にずれる光軸ずれタイプのものが用いられてい
る。
【0051】また、レーザ発生手段1のからのレーザ光
の光軸2上には、透過光学部材としての平行平面ガラス
25が配置されている。この平行平面ガラス25は、回
転機構26上に載置されている。この回転機構26は、
モータ6により光軸2に対する平行平面ガラス25を回
動可能にしている。ここで、平行平面ガラス25は、レ
ーザ発生手段1のからのレーザ光の光軸2に対する傾き
に応じて光軸2を平行にずらすようにしたもので、例え
ば、図11(a)に示すようにレーザ光の光軸2に対す
る所定の傾きにより光軸ズレ量がd1であるものが、傾
きを変えることで、同図(b)に示すように光軸ズレ量
がd2に変化するようにしている。
【0052】このようにしても、レーザ顕微鏡8に対す
るレーザ光の光軸調整が最適になされている状態から、
レーザ発生手段1において、チューニングによりレーザ
光の出力波長の変更を行い、レーザ光の出射位置がずれ
ると、平行平面ガラス25および一部透過ミラー7を透
過してラインセンサ9上に照射されるレーザスポット位
置は、ラインセンサ9の中央部からずれる方向に移動す
る。これにより、制御部5は、この時のラインセンサ9
上のレーザスポット10の移動量と移動方向を検出し、
これらの情報に基づいてモータ6を駆動し、平行平面ガ
ラス25を載置した回転機構26を回動させる。
【0053】すると、平行平面ガラス25の回動によ
り、図11(a)(b)に示すようにレーザ光の光軸2
に対する傾きが変化することにより、光軸2が平行移動
され、ラインセンサ9上に照射されるレーザスポット位
置も中央部に戻る方向に移動する。そして、レーザスポ
ット位置がラインセンサ9上の中央部まで戻ると、制御
部5は、モータ6による回転機構21の駆動を停止す
る。これにより、レーザ光の出射位置のずれは補正さ
れ、レーザ顕微鏡8に対するレーザ光の光軸調整が最適
になされた状態に戻される。
【0054】従って、このようにしても第1の実施の形
態と同様な効果を期待できる。
【0055】(第5の実施の形態)図12は、第5の実
施の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には
同符号を付している。
【0056】この場合、レーザ発生手段1からのレーザ
光の第1の光軸2上には、第1の反射ミラー27aが配
置され、また、第1の反射ミラー27aの反射光路に
は、第1の光軸2と直交する第2の光軸2’の反射光路
を形成する第2の反射ミラー27bが配置されている。
【0057】第1の反射ミラー27aは、第1の平行移
動機構28aに載置され、光軸2に沿った方向に平行移
動可能となっており、また、第2の反射ミラー27b
は、第2の平行移動機構28bに載置され、光軸2’に
沿った方向に平行移動可能となっている。
【0058】これら第1および第2の平行移動機構28
a、28bは、制御部5の指示にしたがって、モータ2
9a、29bにより駆動されるものである。
【0059】第2の反射ミラー27bの反射光路、つま
り光軸2’には、一部透過ミラー7が配置され、この一
部透過ミラー7の反射光路には、レーザ顕微鏡8のレー
ザ光走査装置8aが、また、透過光路には、2次元セン
サ30が配置されている。
【0060】2次元センサ30は、図13に示すように
4分割された受光面を有するもので、レーザ光のアライ
メントが最適に取られている初期状態において、レーザ
スポット10の照射位置が受光面中央(図示状態)にな
るように設定されている。
【0061】このようにしても、レーザ顕微鏡8に対す
るレーザ光の光軸調整が最適になされている状態から、
レーザ発生手段1において、チューニングによりレーザ
光の出力波長の変更を行い、レーザ光の出射位置が2次
元的にずれると、第1および第2の反射ミラー27a、
27bを反射し、一部透過ミラー7を透過して2次元セ
ンサ30に照射されるレーザスポット10の位置は、2
次元センサ30の中央部からずれる方向に移動する。こ
れにより、制御部5は、この時の2次元センサ30上の
レーザスポット10の移動量と移動方向を検出し、これ
らの情報に基づいてモータ29a、29bを駆動し、反
射ミラー27a、27bを載置した第1および第2の平
行移動機構28a、28bをそれぞれ光軸2、2’に沿
って駆動させる。
【0062】すると、これら反射ミラー27a、27b
の平行移動により、反射光路は2次元的にシフトし、2
次元センサ30上のレーザスポット10の位置も中央部
に戻る方向に移動する。そして、レーザスポット10の
照射位置が2次元センサ30の受光面の中央部まで戻る
と、制御部5は、モータ29a、29bによる平行移動
機構28a、28bの駆動を停止する。これにより、レ
ーザ光の出射位置のずれは補正され、レーザ顕微鏡8に
対するレーザ光の光軸調整が最適になされた状態に戻さ
れる。
【0063】従って、このようにすれば、レーザ光の出
射波長を変更したことによりレーザ光の位置変化が2次
元的であっても、これらの変化に対し反射ミラー27
a、27bの平行移動により、反射光路を2次元的にシ
フトさせて補正することができるので、レーザ顕微鏡8
へのレーザ光の入射光軸を常に一定状態に保つことがで
き、レーザ顕微鏡において常に良好な観察画像を取得す
ることができる。
【0064】本発明は、上記実施の形態に限定されるも
のでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で
種々変形することが可能である。
【0065】例えば、レーザ発生手段1は、制御部5か
らの指示により電動で自動チューニングされる波長可変
レーザとし、波長変更のチューニングが完了すると制御
部5ヘトリガー信号を発し、ラインセンサ9上のレーザ
スポット10の照射位置を検出して光軸アライメントを
開始するようにしてもよい。このようにすれば、レーザ
の波長変更の入力によって光軸アライメントまで自動的
に行われ、簡便に良好な画像を常に取得することが可能
となる。
【0066】さらに、上記実施の形態には、種々の段階
の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件
における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄
で述べられている効果が得られる場合には、この構成要
件が削除された構成が発明として抽出できる。
【0067】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、レー
ザ光の出射波長の変更に対してもレーザ顕微鏡の光軸調
整を精度よく行うことができる顕微鏡システムを提供で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図2】第1の実施の形態のラインセンサとレーザスポ
ットの関係を説明する図。
【図3】第1の実施の形態の動作を説明する概略構成を
示す図。
【図4】第1の実施の形態のラインセンサとレーザスポ
ットの関係を説明する図。
【図5】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図6】第2の実施の形態のラインセンサとレーザスポ
ットの関係を説明する図。
【図7】本発明の第3の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図8】第3の実施の形態のラインセンサとレーザスポ
ットの関係を説明する図。
【図9】第3の実施の形態のラインセンサとレーザスポ
ットの関係を説明する図。
【図10】本発明の第4の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図11】第4の実施の形態に用いられる平行平面ガラ
スを説明する図。
【図12】本発明の第5の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図13】第1の実施の形態の2次元センサとレーザス
ポットの関係を説明する図。
【符号の説明】
1…レーザ発生手段 2、2’…光軸 3…反射ミラー 4…平行移動機構 5…制御部 6…モータ 7…一部透過ミラー 8…レーザ顕微鏡 8a…レーザ光走査装置 9…ラインセンサ 10…レーザスポット 21…回転機構 22…平行移動・回転機構 23a.23b…一部透過ミラー 24a.24b…ラインセンサ 25…平行平面ガラス 26…回転機構 27a…第1の反射ミラー 27b…第2の反射ミラー 28a…第1の平行移動機構 28b…第2の平行移動機構 29a.29b…モータ 30…2次元センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA01 AA19 AA20 BB01 BB30 DD06 FF04 FF23 FF41 GG04 GG25 HH04 JJ02 JJ03 JJ25 JJ26 LL12 NN20 PP24 QQ28 TT08 2H052 AA07 AA08 AA09 AC27 AC34 5F072 JJ08 KK05 KK30 MM13 SS10 YY11

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光の出射波長を変更可能にしたレ
    ーザ発生手段と、 前記レーザ発生手段より出射されたレーザ光を偏向させ
    る光学部材と、 前記光学部材を移動させる移動手段と、 前記光学部材で偏向されるレーザ光が入射されるレーザ
    顕微鏡と、 前記レーザ顕微鏡に入射されるレーザ光の位置を検出す
    る位置センサと、 前記位置センサで検出されたレーザ光の位置に基づいて
    前記位置センサ上の前記レーザ光の位置が所定位置とな
    るように前記移動手段による前記光学部材の移動を制御
    する制御手段とを具備したことを特徴とするレーザ顕微
    鏡システム。
  2. 【請求項2】 前記光学部材は、反射ミラーで、前記移
    動手段は、前記反射ミラーの反射光路を平行にシフトさ
    せるように移動させることを特徴とする請求項1記載の
    レーザ顕微鏡システム。
  3. 【請求項3】 前記光学部材は、反射ミラーで、前記移
    動手段は、前記反射ミラーの反射光路を回動させるよう
    に移動させることを特徴とする請求項1記載のレーザ顕
    微鏡システム。
  4. 【請求項4】 前記光学部材は、反射ミラーで、前記移
    動手段は、前記反射ミラーの反射光路を平行にシフトさ
    せるとともに、回動させるように移動させることを特徴
    とする請求項1記載のレーザ顕微鏡システム。
  5. 【請求項5】 前記光学部材は、透過光学部材で、前記
    移動手段は、前記透過光学部材を回動させるように移動
    させることを特徴とする請求項1記載のレーザ顕微鏡シ
    ステム。
  6. 【請求項6】 前記光学部材は、前記レーザ発生手段よ
    り出射されたレーザ光の第1の光軸上に配置される第1
    の反射ミラーと、該第1の反射ミラーの反射光路に配置
    され、第2の光軸の反射光路を形成する第2の反射ミラ
    ーを有し、 前記移動手段は、前記第1の反射ミラー第1の平行移動
    機構および前記第2の反射ミラーを移動させる第2の平
    行移動機構を有し、 前記位置センサは、前記第2の反射ミラーで反射される
    前記第2の光軸のレーザ光の位置を検出する2次元セン
    サであることを特徴とする請求項1記載のレーザ顕微鏡
    システム。
  7. 【請求項7】 レーザ発生手段は、制御部手段からの指
    示により自動チューニングされる波長可変レーザであ
    り、該波長変更のチューニング完了により前記制御手段
    ヘその旨の信号を発し、前記移動手段による前記光学部
    材の移動制御を開始させることを特徴とする請求項1乃
    至6のいずれかに記載のレーザ顕微鏡システム。
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