JP2003307550A - 閾値測定モジュール及びそれを用いた試験装置 - Google Patents
閾値測定モジュール及びそれを用いた試験装置Info
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- JP2003307550A JP2003307550A JP2002113801A JP2002113801A JP2003307550A JP 2003307550 A JP2003307550 A JP 2003307550A JP 2002113801 A JP2002113801 A JP 2002113801A JP 2002113801 A JP2002113801 A JP 2002113801A JP 2003307550 A JP2003307550 A JP 2003307550A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、定電流電源の供給により傾斜波を
発生して被試験回路の閾値を保持する閾値測定モジュー
ルと、それを用いて複数の被試験回路の閾値測定を同時
に行って試験時間を大幅に短縮できる試験装置を提供す
ることを目的とする。 【解決手段】 外部から供給される定電流電源で充電さ
れ傾斜波形電圧を生成し被試験回路５０に供給する第１
コンデンサＣ１と、被試験回路５０の出力信号を基準電
圧と比較し出力信号の変化を検出する比較手段３４と、
比較手段３４の検出信号に基づいて出力信号の変化時点
で傾斜波形電圧を保持し出力する保持手段３６，Ｃ２を
有することにより、１つの閾値測定モジュールで被試験
回路の閾値を測定することができる。
発生して被試験回路の閾値を保持する閾値測定モジュー
ルと、それを用いて複数の被試験回路の閾値測定を同時
に行って試験時間を大幅に短縮できる試験装置を提供す
ることを目的とする。 【解決手段】 外部から供給される定電流電源で充電さ
れ傾斜波形電圧を生成し被試験回路５０に供給する第１
コンデンサＣ１と、被試験回路５０の出力信号を基準電
圧と比較し出力信号の変化を検出する比較手段３４と、
比較手段３４の検出信号に基づいて出力信号の変化時点
で傾斜波形電圧を保持し出力する保持手段３６，Ｃ２を
有することにより、１つの閾値測定モジュールで被試験
回路の閾値を測定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は閾値測定モジュール
及びそれを用いた試験装置に関し、特に、閾値測定用の
傾斜波形を発生する閾値測定モジュール及びそれを用い
た試験装置に関する。
及びそれを用いた試験装置に関し、特に、閾値測定用の
傾斜波形を発生する閾値測定モジュール及びそれを用い
た試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、電源投入時に電源電圧が閾値まで
上昇したときリセット信号を発生するリセット信号発生
集積回路の閾値を測定する場合等、図５に示すように、
試験装置１０にリセット信号発生集積回路等の被試験回
路１２を接続し、試験装置１０の端子１０ａから被試験
回路１２に、図６（Ａ）に示すような傾斜波を供給し、
被試験回路１２の出力する図６（Ｂ）に示すようなリセ
ット信号を試験装置１０の端子１０ｂに供給し、被試験
回路１２ではリセット信号が０から１に反転するタイミ
ングにおける傾斜波の電圧をリセット信号発生集積回路
の閾値として検出している。
上昇したときリセット信号を発生するリセット信号発生
集積回路の閾値を測定する場合等、図５に示すように、
試験装置１０にリセット信号発生集積回路等の被試験回
路１２を接続し、試験装置１０の端子１０ａから被試験
回路１２に、図６（Ａ）に示すような傾斜波を供給し、
被試験回路１２の出力する図６（Ｂ）に示すようなリセ
ット信号を試験装置１０の端子１０ｂに供給し、被試験
回路１２ではリセット信号が０から１に反転するタイミ
ングにおける傾斜波の電圧をリセット信号発生集積回路
の閾値として検出している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】集積回路の閾値測定で
は傾斜波を供給するために、入力信号をハイレベルまた
はローレベルとする他の試験に比べて試験時間がかか
り、集積回路によっては閾値測定を複数回行わなければ
ならない場合もある。また、従来の試験装置は、１系統
の傾斜波しか出力することができないために、集積回路
の試験に多大の時間がかかるという問題があった。
は傾斜波を供給するために、入力信号をハイレベルまた
はローレベルとする他の試験に比べて試験時間がかか
り、集積回路によっては閾値測定を複数回行わなければ
ならない場合もある。また、従来の試験装置は、１系統
の傾斜波しか出力することができないために、集積回路
の試験に多大の時間がかかるという問題があった。
【０００４】本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、定電流電源の供給により傾斜波を発生して被試験回
路の閾値を保持する閾値測定モジュールと、それを用い
て複数の被試験回路の閾値測定を同時に行って試験時間
を大幅に短縮できる試験装置を提供することを目的とす
る。
で、定電流電源の供給により傾斜波を発生して被試験回
路の閾値を保持する閾値測定モジュールと、それを用い
て複数の被試験回路の閾値測定を同時に行って試験時間
を大幅に短縮できる試験装置を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、傾斜波形を発生して被試験回路（５０）に供給し前
記被試験回路（５０）の閾値を測定する閾値測定モジュ
ールであって、外部から供給される定電流電源で充電さ
れ傾斜波形電圧を生成し前記被試験回路（５０）に供給
する第１コンデンサ（Ｃ１）と、前記被試験回路（５
０）の出力信号を基準電圧と比較し前記出力信号の変化
を検出する比較手段（３４）と、前記比較手段（３４）
の検出信号に基づいて前記出力信号の変化時点で前記傾
斜波形電圧を保持し出力する保持手段（３６，Ｃ２）を
有することにより、１つの閾値測定モジュールで被試験
回路の閾値を測定することができる。
は、傾斜波形を発生して被試験回路（５０）に供給し前
記被試験回路（５０）の閾値を測定する閾値測定モジュ
ールであって、外部から供給される定電流電源で充電さ
れ傾斜波形電圧を生成し前記被試験回路（５０）に供給
する第１コンデンサ（Ｃ１）と、前記被試験回路（５
０）の出力信号を基準電圧と比較し前記出力信号の変化
を検出する比較手段（３４）と、前記比較手段（３４）
の検出信号に基づいて前記出力信号の変化時点で前記傾
斜波形電圧を保持し出力する保持手段（３６，Ｃ２）を
有することにより、１つの閾値測定モジュールで被試験
回路の閾値を測定することができる。
【０００６】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
閾値測定モジュール（２０ａ〜２０ｈ）を複数有し、前
記複数の閾値測定モジュール（２０ａ〜２０ｈ）に対し
同時に定電流電源を供給し、前記複数の閾値測定モジュ
ール（２０ａ〜２０ｈ）が保持し出力する傾斜波形電圧
を順次読み取り、複数の被試験回路（５０）の閾値を測
定することにより、複数の被試験回路（５０）の閾値測
定を同時に行って試験時間を大幅に短縮できる。
閾値測定モジュール（２０ａ〜２０ｈ）を複数有し、前
記複数の閾値測定モジュール（２０ａ〜２０ｈ）に対し
同時に定電流電源を供給し、前記複数の閾値測定モジュ
ール（２０ａ〜２０ｈ）が保持し出力する傾斜波形電圧
を順次読み取り、複数の被試験回路（５０）の閾値を測
定することにより、複数の被試験回路（５０）の閾値測
定を同時に行って試験時間を大幅に短縮できる。
【０００７】なお、上記括弧内の参照符号は、理解を容
易にするために付したものであり、一例にすぎず、図示
の態様に限定されるものではない。
易にするために付したものであり、一例にすぎず、図示
の態様に限定されるものではない。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の閾値測定モジュ
ールの一実施例の回路図を示す。同図中、閾値測定モジ
ュール２０の端子２２は試験装置本体に接続されてお
り、ある時点から電源（Ｓ／Ｈ．ＩＮＰＵＴ）が供給さ
れる。なお、この電源は定電流である。また、端子２４
はリセット信号発生集積回路等の被試験回路５０の出力
端子に接続される。端子２６には基準電圧源２７から基
準電圧（ＬＯＧＩＣ．ＲＥＦ）が供給される。
ールの一実施例の回路図を示す。同図中、閾値測定モジ
ュール２０の端子２２は試験装置本体に接続されてお
り、ある時点から電源（Ｓ／Ｈ．ＩＮＰＵＴ）が供給さ
れる。なお、この電源は定電流である。また、端子２４
はリセット信号発生集積回路等の被試験回路５０の出力
端子に接続される。端子２６には基準電圧源２７から基
準電圧（ＬＯＧＩＣ．ＲＥＦ）が供給される。
【０００９】閾値測定モジュール２０内で、端子２２は
コンデンサＣ１を介して接地されると共に、バッファア
ンプ２８，３０に接続されている。バッファアンプ２８
の出力端子は端子３２に接続され、端子３２には被試験
回路５０の入力端子が接続されている。バッファアンプ
３０の出力端子はスイッチ３６の一端に供給され、スイ
ッチ３６の他端はコンデンサＣ２を介して接地されると
共に、バッファアンプ３８の入力端子に接続されてい
る。バッファアンプ３８の出力端子は端子４０に接続さ
れている。端子４０の出力信号（Ｓ／Ｈ．ＯＵＴＰＵ
Ｔ）は試験装置本体に供給される。
コンデンサＣ１を介して接地されると共に、バッファア
ンプ２８，３０に接続されている。バッファアンプ２８
の出力端子は端子３２に接続され、端子３２には被試験
回路５０の入力端子が接続されている。バッファアンプ
３０の出力端子はスイッチ３６の一端に供給され、スイ
ッチ３６の他端はコンデンサＣ２を介して接地されると
共に、バッファアンプ３８の入力端子に接続されてい
る。バッファアンプ３８の出力端子は端子４０に接続さ
れている。端子４０の出力信号（Ｓ／Ｈ．ＯＵＴＰＵ
Ｔ）は試験装置本体に供給される。
【００１０】また、端子２４，２６はコンパレータ３４
の非反転入力端子と反転入力端子に接続されており、コ
ンパレータ３４はバッファアンプ２８の出力信号が基準
電圧を超えたときに出力信号をハイレベルとする。この
出力信号は切り替え制御信号としてスイッチ３６に供給
される。スイッチ３６は切り替え制御信号がローレベル
のとき閉成し、ハイレベルのとき開成する。
の非反転入力端子と反転入力端子に接続されており、コ
ンパレータ３４はバッファアンプ２８の出力信号が基準
電圧を超えたときに出力信号をハイレベルとする。この
出力信号は切り替え制御信号としてスイッチ３６に供給
される。スイッチ３６は切り替え制御信号がローレベル
のとき閉成し、ハイレベルのとき開成する。
【００１１】ここで、図２（Ａ）に示すように、時刻ｔ
０に端子２２から定電流の電源が供給されるとコンデン
サＣ１の充電が行われ、バッファアンプ２８の出力電圧
は図２（Ｂ）に示すように略リニアに上昇する。コンデ
ンサＣ１の静電容量が決まっており、試験装置本体から
供給される定電流も決まっているために、バッファアン
プ２８の出力電圧の立ち上がりの傾斜角は予め決定され
た値となる。
０に端子２２から定電流の電源が供給されるとコンデン
サＣ１の充電が行われ、バッファアンプ２８の出力電圧
は図２（Ｂ）に示すように略リニアに上昇する。コンデ
ンサＣ１の静電容量が決まっており、試験装置本体から
供給される定電流も決まっているために、バッファアン
プ２８の出力電圧の立ち上がりの傾斜角は予め決定され
た値となる。
【００１２】また、この時点では被試験回路５０の出力
がローレベルであるために、コンパレータ３４の出力は
ローレベルでありスイッチ３６は閉成しており、コンデ
ンサＣ２はコンデンサＣ１と同一電圧まで充電される。
がローレベルであるために、コンパレータ３４の出力は
ローレベルでありスイッチ３６は閉成しており、コンデ
ンサＣ２はコンデンサＣ１と同一電圧まで充電される。
【００１３】上記バッファアンプ２８の出力電圧は被試
験回路５０に供給され、図２（Ｃ）に示すように、時刻
ｔ１に被試験回路５０の出力がハイレベルになると、コ
ンパレータ３４の出力はハイレベルとなり、スイッチ３
６は開成する。この時点でコンデンサＣ２の充電電圧、
即ち被試験回路５０の閾値が図２（Ｄ）に示すように保
持され、バッファアンプ３８から試験装置本体に供給さ
れる。
験回路５０に供給され、図２（Ｃ）に示すように、時刻
ｔ１に被試験回路５０の出力がハイレベルになると、コ
ンパレータ３４の出力はハイレベルとなり、スイッチ３
６は開成する。この時点でコンデンサＣ２の充電電圧、
即ち被試験回路５０の閾値が図２（Ｄ）に示すように保
持され、バッファアンプ３８から試験装置本体に供給さ
れる。
【００１４】図３は、本発明の閾値測定モジュールを適
用した試験装置本体の一実施例のブロック図を示す。同
図中、試験装置本体６０とテストボックス７０との間は
８系統のケーブル６１ａ〜６１ｈで接続されている。テ
ストボックス７０にはケーブル６１ａ〜６１ｈに接続さ
れた８個の閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈが配設さ
れている。閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈそれぞれ
は図１に示す閾値測定モジュール２０と同一構成であ
り、各閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈの端子２４，
３２に図１と同様に各１個の被試験回路５０が接続され
る。
用した試験装置本体の一実施例のブロック図を示す。同
図中、試験装置本体６０とテストボックス７０との間は
８系統のケーブル６１ａ〜６１ｈで接続されている。テ
ストボックス７０にはケーブル６１ａ〜６１ｈに接続さ
れた８個の閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈが配設さ
れている。閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈそれぞれ
は図１に示す閾値測定モジュール２０と同一構成であ
り、各閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈの端子２４，
３２に図１と同様に各１個の被試験回路５０が接続され
る。
【００１５】ケーブル６１ａ〜６１ｈは試験装置本体６
０から閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈに電源（Ｓ／
Ｈ．ＩＮＰＵＴ）を供給すると共に、閾値測定モジュー
ル２０ａ〜２０ｈから試験装置本体６０に出力信号（Ｓ
／Ｈ．ＯＵＴＰＵＴ）を供給する。
０から閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈに電源（Ｓ／
Ｈ．ＩＮＰＵＴ）を供給すると共に、閾値測定モジュー
ル２０ａ〜２０ｈから試験装置本体６０に出力信号（Ｓ
／Ｈ．ＯＵＴＰＵＴ）を供給する。
【００１６】試験装置本体６０は閾値測定モジュール２
０ａ〜２０ｈに対し同時に電源（Ｓ／Ｈ．ＩＮＰＵＴ）
の供給を開始し、これにより、閾値測定モジュール２０
ａ〜２０ｈそれぞれは８個の被試験回路５０それぞれの
閾値を別々に測定して保持し、試験装置本体６０に供給
する。そして、試験装置本体６０は８個の被試験回路５
０それぞれの閾値を順次読み取る。
０ａ〜２０ｈに対し同時に電源（Ｓ／Ｈ．ＩＮＰＵＴ）
の供給を開始し、これにより、閾値測定モジュール２０
ａ〜２０ｈそれぞれは８個の被試験回路５０それぞれの
閾値を別々に測定して保持し、試験装置本体６０に供給
する。そして、試験装置本体６０は８個の被試験回路５
０それぞれの閾値を順次読み取る。
【００１７】従来は、図４（Ａ）に示すように１回目の
閾値測定後、２回目の閾値測定を行うために試験時間が
長くなっていたのに対し、試験装置本体６０は図４
（Ｂ）に示すように１回目の閾値測定と２回目の閾値測
定を同時に行うことができ、このように、同時並列に複
数の被試験回路の閾値を測定することで、試験時間を大
幅に短縮することができる。
閾値測定後、２回目の閾値測定を行うために試験時間が
長くなっていたのに対し、試験装置本体６０は図４
（Ｂ）に示すように１回目の閾値測定と２回目の閾値測
定を同時に行うことができ、このように、同時並列に複
数の被試験回路の閾値を測定することで、試験時間を大
幅に短縮することができる。
【００１８】なお、上記実施例では試験装置本体６０に
８個の閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈを設けている
が、閾値測定モジュールの個数はこれに限定されるもの
ではない。
８個の閾値測定モジュール２０ａ〜２０ｈを設けている
が、閾値測定モジュールの個数はこれに限定されるもの
ではない。
【００１９】
【発明の効果】上述の如く、請求項１に記載の発明は、
外部から供給される定電流電源で充電され傾斜波形電圧
を生成し被試験回路に供給する第１コンデンサと、被試
験回路の出力信号を基準電圧と比較し出力信号の変化を
検出する比較手段と、比較手段の検出信号に基づいて出
力信号の変化時点で傾斜波形電圧を保持し出力する保持
手段を有することにより、１つの閾値測定モジュールで
被試験回路の閾値を測定することができる。
外部から供給される定電流電源で充電され傾斜波形電圧
を生成し被試験回路に供給する第１コンデンサと、被試
験回路の出力信号を基準電圧と比較し出力信号の変化を
検出する比較手段と、比較手段の検出信号に基づいて出
力信号の変化時点で傾斜波形電圧を保持し出力する保持
手段を有することにより、１つの閾値測定モジュールで
被試験回路の閾値を測定することができる。
【００２０】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
閾値測定モジュールを複数有し、複数の閾値測定モジュ
ールに対し同時に定電流電源を供給し、複数の閾値測定
モジュールが保持し出力する傾斜波形電圧を順次読み取
り、複数の被試験回路の閾値を測定することにより、複
数の被試験回路の閾値測定を同時に行って試験時間を大
幅に短縮できる。
閾値測定モジュールを複数有し、複数の閾値測定モジュ
ールに対し同時に定電流電源を供給し、複数の閾値測定
モジュールが保持し出力する傾斜波形電圧を順次読み取
り、複数の被試験回路の閾値を測定することにより、複
数の被試験回路の閾値測定を同時に行って試験時間を大
幅に短縮できる。
【図１】本発明の閾値測定モジュールの一実施例の回路
図である。
図である。
【図２】図１に示す本発明の閾値測定モジュール各部の
信号波形図である。
信号波形図である。
【図３】本発明の閾値測定モジュールを適用した試験装
置本体の一実施例のブロック図である。
置本体の一実施例のブロック図である。
【図４】従来の本発明の閾値測定の違いを説明するため
の図である。
の図である。
【図５】従来の閾値測定装置の一例のブロック図であ
る。
る。
【図６】図５に示す装置各部の信号波形図である。
２０，２０ａ〜２０ｈ 閾値測定モジュール
２７ 基準電圧源
２８，３０，３８ バッファアンプ
３４ コンパレータ
３６ スイッチ
５０ 被試験回路
６０ 試験装置本体
６１ａ〜６１ｈ ケーブル
７０ テストボックス
Ｃ１，Ｃ２ コンデンサ
Claims (2)
- 【請求項１】 傾斜波形を発生して被試験回路に供給し
前記被試験回路の閾値を測定する閾値測定モジュールで
あって、 外部から供給される定電流電源で充電され傾斜波形電圧
を生成し前記被試験回路に供給する第１コンデンサと、 前記被試験回路の出力信号を基準電圧と比較し前記出力
信号の変化を検出する比較手段と、 前記比較手段の検出信号に基づいて前記出力信号の変化
時点で前記傾斜波形電圧を保持し出力する保持手段を有
することを特徴とする閾値測定モジュール。 - 【請求項２】 請求項１記載の閾値測定モジュールを複
数有し、 前記複数の閾値測定モジュールに対し同時に定電流電源
を供給し、前記複数の閾値測定モジュールが保持し出力
する傾斜波形電圧を順次読み取り、複数の被試験回路の
閾値を測定することを特徴とする試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002113801A JP2003307550A (ja) | 2002-04-16 | 2002-04-16 | 閾値測定モジュール及びそれを用いた試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002113801A JP2003307550A (ja) | 2002-04-16 | 2002-04-16 | 閾値測定モジュール及びそれを用いた試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003307550A true JP2003307550A (ja) | 2003-10-31 |
Family
ID=29395880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002113801A Pending JP2003307550A (ja) | 2002-04-16 | 2002-04-16 | 閾値測定モジュール及びそれを用いた試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003307550A (ja) |
-
2002
- 2002-04-16 JP JP2002113801A patent/JP2003307550A/ja active Pending
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