JP2003286086A - 接合体の製造方法 - Google Patents

接合体の製造方法

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JP2003286086A
JP2003286086A JP2002091017A JP2002091017A JP2003286086A JP 2003286086 A JP2003286086 A JP 2003286086A JP 2002091017 A JP2002091017 A JP 2002091017A JP 2002091017 A JP2002091017 A JP 2002091017A JP 2003286086 A JP2003286086 A JP 2003286086A
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Yoshihiko Tsujimura
好彦 辻村
Takeshi Iwamoto
豪 岩元
Nobuyuki Yoshino
信行 吉野
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Denka Co Ltd
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Denki Kagaku Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】セラミックス基板と金属箔からなる接合体の生
産性を高めること。 【解決手段】窒化アルミニウム製又は窒化ケイ素製のセ
ラミックス基板の表面又は表裏面に、AlとCuを主成
分とするろう材合金箔を挟んでAl製又はAl合金製の
金属箔を配置して積層体となし、それを非酸化性雰囲気
の高温下に保持された接合炉に搬入し、該接合炉内で、
ろう材合金箔の溶融温度以上に加熱されたロールで加圧
しながら接合することを特徴とする、セラミックス基板
と金属箔からなる接合体の製造方法。この場合におい
て、ロールによる加圧を、接合炉の雰囲気温度620〜
650℃の領域で行い、その圧力を2MPa以上、搬送
速度を0.1〜10mm/secとすることが好まし
い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板の製造に
用いられる接合体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、パワーモジュール等に利用される
半導体装置においては、アルミナ、ベリリア、窒化ケイ
素、窒化アルミニウム等のセラミックス基板の表裏面
に、Cu、Al、それらの金属を成分とする合金等の回
路と放熱板とがそれぞれ形成されてなる回路基板が開発
され(例えば米国特許第5,354,415号明細
書)、実用化されている。近年、自動車用途等の高信頼
性用途に対しては、金属回路材料としてAlが使用され
る場合が多くなってきた。Al回路基板は、Cu回路基
板よりも信頼性に優れているが、広く普及しない理由
は、その製造方法の困難さによってコスト低減が十分で
ないことである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】セラミックス基板にA
l回路を形成するには、(1)溶融アルミニウムをセラミ
ックス基板に接触・冷却して両者の接合体を製造した
後、機械研削してAl板の厚みを整え、その後エッチン
グする溶湯法(例えば特開平7−193358号公報、
特開平7−27262号公報)、(2)Al箔又はAl合
金箔をろう付けしてからエッチングする方法(例えば特
開2001−085808号公報)があるが、両者とも
にCu回路を形成する場合と比較して2〜5倍程度のコ
ストが必要となる。
【0004】生産効率の悪い溶湯法は別としても、ろう
付け法のAl回路がCu回路よりもコストアップする原
因は、セラミックス基板とAl箔又はAl合金箔の積層
体に一部始終圧力を加えながら接合しなければならない
からである。加圧方法としては、黒鉛製治具に積層体を
収納し、両端面からねじ込むなどの機械的手段によって
行われているが、このような方法では、生産性が十分に
高まらない。
【0005】本発明の目的は、上記に鑑み、生産性の極
めて高いセラミックス基板と金属箔からなる接合体の製
造方法を提供することである。本発明の目的は、非酸化
性雰囲気の高温下に保持された接合炉に積層体を搬入
し、該接合炉内で、ろう材溶融温度以上に加熱されたロ
ールで金属箔上面から加圧接合することによって達成す
ることができる。
【0006】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、窒
化アルミニウム製又は窒化ケイ素製のセラミックス基板
の表面又は表裏面に、AlとCuを主成分とするろう材
合金箔を挟んでAl製又はAl合金製の金属箔を配置し
て積層体となし、それを非酸化性雰囲気の高温下に保持
された接合炉に搬入し、該接合炉内で、ろう材合金箔の
溶融温度以上に加熱されたロールで加圧しながら接合す
ることを特徴とする、セラミックス基板と金属箔からな
る接合体の製造方法である。この場合において、ロール
による加圧を、接合炉の雰囲気温度620〜650℃の
領域で行い、その圧力を2MPa以上、搬送速度を0.
1〜10mm/secとすることが好ましい。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、更に詳しく本発明について
説明する。
【0008】本発明で用いられる金属箔は、厚み0.3
〜0.5mm、特に0.4〜0.6mmのAl箔又はA
l合金箔であることが好ましい。金属箔は、セラミック
ス基板とほぼ同寸法(同寸法も含む)に加工して使用す
ることが好ましいが、フープ材(帯状物)のまま用いる
こともできる。これには、1000系の純Alは勿論の
こと、接合が容易な4000系のAl−Si系合金や、
6000系のAl−Mg−Si系合金等が例示できる。
中でも、圧延率10%以上の高純度Al箔(純度99.
85%(質量%、以下同じ))が好ましく、これには1
085、1N85材の市販品がある。また、99.9%
(3N)品、99.99%(4N)品もそれ程高価では
ないので使用可能である。金属箔は、単体でもよく、二
種又は三種以上のクラッド等の積層体であってもよい。
積層体の例をあげれば、Al−Ni、Al−Ni−C
u、Al−Mo、Al−W、Al−Cu等である。
【0009】セラミックス基板の表裏面に金属箔を接合
した回路基板にあっては、熱応力による反りやうねりを
なくし、半田クラック等による損傷、ボンディングワイ
ヤやメッキの剥離防止を高度にするため、裏面(Al放
熱板)に対する表面(Al回路)の体積比(回路体積/
放熱板体積)を1に近づけることが望ましく、0.80
〜1.2、特に0.85〜1.15、更には0.9〜
1.1とすることが好ましい。そこで、接合体の製造に
際しては、これを考慮して表裏面に接合する金属箔の形
状を選定しておくことが好ましい。なお、Al放熱板の
厚みは、Al回路の厚みと同等以下とするのが好まし
い。Al回路の体積は、(回路面積×回路厚み)によっ
て、またAl放熱板の体積は(放熱板面積×放熱板厚み)
によって算出することができる。
【0010】本発明で用いられるろう材合金箔は、Al
とCuを主成分とするものである。具体的には、Cu1
〜6%、特に1.5〜5%のAl−Cu合金箔、4%C
uと0.5%Mgとを含む2018合金箔、0.5%の
Mnを含む2017合金箔、更にはJIS合金の200
1、2003、2005、2007、2011、201
4、2024、2025、2030、2034、203
6、2048、2090、2117、2124、221
8、2224、2324、7050等の合金箔である。
Al、Cuの二成分系合金箔、更には例えばMg、Z
n、In、Mn、Cr、Ti、Bi等の第三成分を合計
で5%まで含ませた合金箔である。
【0011】Al−Cu合金箔又はこれに第三成分の付
加された合金箔において、Cuが1%未満では、接合温
度を高めなけらばならなくなるので量産化には不利とな
り、また6%超では、接合後のろう材の拡散部が特に硬
くなってAl回路の信頼性が低下する恐れがある。特に
好ましいろう材合金箔は、Al86%以上、Cu1〜6
%、Mg3%以下(0を含まず)、特に0.2〜2.0
%である。
【0012】ろう材合金箔の厚みは、上記金属箔の厚み
に対し1/10〜1/50の厚みであることが好まし
い。1/50未満の厚みでは、十分な接合が難しくな
り、また1/10超ではAl回路が硬くなる。特に好ま
しくは、100μm以下の厚みであって、しかも金属箔
の厚みに対して1/12〜1/40の厚みである。これ
は、金属箔の厚みが0.4〜0.6mmである場合、1
0〜50μm厚、特に15〜30μm厚が好適となるこ
とを意味している。
【0013】本発明で使用されるセラミックス基板は、
窒化アルミニウム製又は窒化ケイ素製である。炭化珪
素、酸化ベリリウム等のセラミックス基板では、絶縁性
と安全性の点で劣る。
【0014】セラミックス基板の熱伝導率は、高信頼性
が求められるパワーモジュールに使用されることを考え
れば、少なくとも70W/mK以上、特に130W/m
K以上でありることが好ましい。なかでも、表面のCu
−Kα線によるX線回折ピーク強度比が、2≦Y23
Al23×100/AlN≦17、かつ2Y23・Al
23×100/AlN≦2を有する窒化アルミニウム基
板が好適である。
【0015】このような窒化アルミニウム基板は、レー
ザー回折散乱法で測定された100μm以上の粗大粒子
を1〜10%と1μm以下の微粒子を10〜50%を含
んでなる窒化アルミニウム粉末原料を用い、窒化アルミ
ニウム粉末原料中のAl23分とY23分組成比等を適
正化することによって製造することができる。たとえ
ば、2Y23・Al23が多い場合には、Al23分を
増やせば良いので、酸素量の多い窒化アルミニウム粉末
原料を用いるか、又はAl23を添加して、Y23分を
減らして焼結する。一方、Y23・Al23が多い場合
には、Y23の添加量を減らすか、焼成温度を下げる。
脱バインダーを空気中で行えばAl23分を増加させる
ことができる。
【0016】焼結助剤としては、イットリア、アルミ
ナ、マグネシア、希土類元素酸化物等の粉末を窒化アル
ミニウム粉末原料に0.5〜10%内割配合される。成
形は、ブチラールやメチルセルロース等の有機バインダ
ーを用いて行われ、焼結は、脱バインダー後、窒素、ア
ルゴン等の非酸化性雰囲気中、温度1700〜1900
℃で1〜12時間程度保持して行われる。
【0017】セラミックス基板の厚みは、通常0.63
5mmであるが、要求特性によって変えることができ
る。たとえば、高電圧での絶縁性があまり重要でなく熱
抵抗が重要である場合は、0.5〜0.3mmの薄い基
板を用いることができ、逆に高電圧での絶縁耐圧や部分
放電特性が重要である場合には、1〜3mmの厚いもの
が用いられる。
【0018】本発明の製造方法は、積層体を製造し、そ
れを接合炉に搬入し、接合炉から搬出する間にロール加
圧を受けて接合体となる工程を経ることを構成要件して
いる。
【0019】積層体は、セラミックス基板の表面又は表
裏面に、ろう材合金箔を挟んで金属箔を配置することに
よって製造される。ろう材合金箔の配置パターンは、全
面配置、回路パターン状配置、回路パターン以外の部分
配置のいずれであってもよい。
【0020】この積層体を、非酸化性雰囲気の高温下に
保持された接合炉に搬入する。接合炉は、断熱材及び金
属板で周囲を囲われた筒状の構造を有するものが望まし
く、搬送手段としては、プッシャー、ベルト、ローラー
等が採用される。接合炉は、窒素、アルゴン、水素、炭
酸ガス等の酸素濃度50ppm以下の非酸化性雰囲気で
あることが好ましく、また雰囲気温度は、ろう材合金箔
の溶融温度以下であることが好ましい。ロールによる積
層体の加圧は、上下ロール間もしくはロールと下面のク
リアランスを積層体の厚みよりもわずかに狭くした隙間
を通す方法、ロールに重り等を設置し、ロールの圧力が
一定に加わるように設置されたロールの下を通す方法等
によって行われる。ロールの材質は、金属でもセラミッ
クでもよいが、加熱しやすい金属、特にAlと反応せ
ず、熱を放散しづらいSUS430等の材料が好まし
い。
【0021】本発明で特に重要なことは、ロール温度を
ろう材合金箔の溶融温度以上にすることである。これ以
外のロール温度であると、ろう材が十分に溶融せず、セ
ラミックス基板とろう材の反応が不十分となる。また、
ロール加圧される非酸化性雰囲気の温度域は、620〜
650℃で、その加圧力を2MPa以上することが好ま
しい。620〜650℃以外の非酸化性雰囲気の加圧で
あっては、セラミックス基板とろう材の反応が不十分と
なるか、又はろう材が流れ出してしまい、接合が不十分
となる。また、2MPa未満の加圧であってはセラミッ
クス基板とろう材が十分に密着せず接合が不十分とな
る。好ましい加圧力は3〜7MPaである。さらには、
加圧時間は、搬送速度0.1〜10mm/secで通過
させる時間であることが好ましい。0.1mm/sec
よりも遅いと、ろう材合金箔の金属箔への拡散が進みす
ぎ、Al回路の信頼性を損なう恐れがある。また、10
mm/secよりも速いと、接合反応が不十分となる。
【0022】接合体となった後は、接合炉から搬出され
冷却される。冷却は、接合炉の中にある段階から行うこ
ともできる。
【0023】本発明によって製造された接合体から回路
基板を製造するには、常法に従い、接合体の不要な金属
箔と接合層をエッチングによって除去した後、必要に応
じてメッキが施される。レジストインクとしては、UV
硬化型、アルカリ剥離型が用いられ、不要な金属箔と接
合層の除去には、過酸化水素水及びフッ素化合物の混合
水溶液が用いられる。
【0024】
【実施例】以下、実施例、比較例、参考例をあげて更に
具体的に本発明を説明する。
【0025】実施例1、2 セラミックス基板として、表面研削や反り直し等の後加
工のない焼成されたままの窒化アルミニウム基板を準備
した。厚みは0.635mm、大きさは2インチ角、熱
伝導率は170W/mK、曲げ強さは400MPaであ
る。また、金属箔として、JIS1090(厚み0.5
mm、Al純度99.9%)を用意した。
【0026】窒化アルミニウム基板の表裏面に、表1に
示されるろう材合金箔を挟んで金属箔を配置し積層体を
製造した。これを接合炉に搬入してロール加圧接合を行
い、接合体を製造した。
【0027】接合炉は、開口部幅300mm、高さ50
mm、長さ8mであり、アルミナ繊維で断熱されたステ
ンレス製筒状構造である。雰囲気は、酸素濃度20pp
mの窒素雰囲気であり、雰囲気温度、ツインロールの加
圧力、ロール材質、ツインロールの通過回数、搬送速度
は表1に示すとおりに行った。
【0028】実施例3 表面の金属箔として、金属箔(JIS1090材、厚み
0.5mm、Al純度99.9%)と、ろう材合金箔
(Al−2017材、厚み0.02mm)とからなるク
ラッド材を回路パターン状に打ち抜かれたリードフレー
ム状としたものを用いたこと以外は、実施例2と同様に
して接合体を製造した。
【0029】実施例4 窒化アルミニウム基板の代わりに窒化ケイ素基板(厚み
0.635mm、大きさは2インチ角、熱伝導率70W
/mK、曲げ強さ800MPa)を用いたこと以外は、
実施例2と同様にして接合体を製造した。
【0030】比較例1 加熱されていないツインロールを用いたこと以外は、実
施例1と同様にして積層体を製造した。
【0031】参考例1 この例は、窒化アルミニウム基板にAl回路とAl放熱
板を従来法によって形成させたものである。すなわち、
実施例1において、帯状積層物の代わりに単位積層体
(窒化アルミニウム基板の表裏面にろう材合金箔を挟ん
で金属箔を積層したもの)用い、それの20個をC−C
コンポジット板を挟んで積み上げ、温度630℃、3M
Pa、1時間のホットプレスをして接合体を製造した。
なお、3MPaの加圧は接合炉にある間行われ、接合工
程の所要時間は3時間であった。
【0032】上記で製造された接合体に、UV硬化型レ
ジストインク(互応化学社製商品名「PLAS FIN
E」)をスクリーン印刷で塗布した後、UVランプを照
射してレジスト膜を硬化させた。ついで、塩化第二鉄溶
液でエッチング処理を行ってアルミニウム板不要部分を
溶解除去し、更にレジストを5%苛性ソーダ溶液で剥離
し、無電解Ni−Pメッキ(厚み3μm)を行って回路
基板を製造した。
【0033】得られた回路基板について、軟X線試験装
置(検出下限は直径0.3mm)を用い、接合不良やろ
う接欠陥を検査した。検査は3倍に拡大して行った。そ
の後、−40℃、30分→室温、10分→125℃、3
0分→室温、10分を1サイクルとする熱履歴試験を行
い、膨れ、剥がれ等の有無や、3枚の断面観察による半
田クラックの発生の有無による外観検査と、インクテス
ト法(レッドチェック)による7枚の回路基板のクラック
の発生の有無とを検査した。それらの結果を表2に示
す。
【0034】
【表1】
【0035】
【表2】
【0036】表2から、本発明の実施例によれば、従来
品(参考例)とほぼ同等の特性を有する回路基板を、生
産性を高めて製造できたことがわかる。
【0037】
【発明の効果】本発明の製造方法によれば、セラミック
ス基板と金属箔からなる接合体を生産性の極めて製造す
ることができる。本発明によって製造された接合体は、
回路基板の製造に使用できる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/00 H05K 3/00 R // B23K 101:42 B23K 101:42 Fターム(参考) 4G026 BA16 BA17 BB27 BF17 BF20 BF42 BG03 BG06 BG25 BH07

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 窒化アルミニウム製又は窒化ケイ素製の
    セラミックス基板の表面又は表裏面に、AlとCuを主
    成分とするろう材合金箔を挟んでAl製又はAl合金製
    の金属箔を配置して積層体となし、それを非酸化性雰囲
    気の高温下に保持された接合炉に搬入し、ろう材合金箔
    の溶融温度以上に加熱されたロールで加圧しながら接合
    することを特徴とする、セラミックス基板と金属箔から
    なる接合体の製造方法。
  2. 【請求項2】 ロールによる加圧を、接合炉の雰囲気温
    度620〜650℃の領域で行い、その圧力を2MPa
    以上、搬送速度を0.1〜10mm/secとすること
    を特徴とする請求項1記載の接合体の製造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010177414A (ja) * 2009-01-29 2010-08-12 Sumitomo Light Metal Ind Ltd 発熱部品冷却装置用アルミニウム・クラッド材
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