JP2003040675A - 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 - Google Patents
窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板Info
- Publication number
- JP2003040675A JP2003040675A JP2001231337A JP2001231337A JP2003040675A JP 2003040675 A JP2003040675 A JP 2003040675A JP 2001231337 A JP2001231337 A JP 2001231337A JP 2001231337 A JP2001231337 A JP 2001231337A JP 2003040675 A JP2003040675 A JP 2003040675A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aluminum nitride
- sintered compact
- nitride sintered
- calcium aluminate
- amorphous calcium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
好適な窒化アルミニウム焼結体とその製造方法、それを
用いた回路基板を提供する。 【解決手段】粒界相に、非晶質カルシウムアルミネート
を含んでいることを特徴とする窒化アルミニウム焼結
体。窒化アルミニウム粉末100質量部と非晶質カルシ
ウムアルミネート粉末0.1〜15質量部を含む混合粉
末を成形後、非酸化性雰囲気下、温度1400℃以上で
焼結した後、温度1200℃までを20℃/分以上の冷
却速度で急冷することを特徴とする窒化アルミニウム焼
結体の製造方法。上記窒化アルミニウム焼結体を窒化ア
ルミニウム基板として用いた回路基板。
Description
く、高放熱性基板等として好適な窒化アルミニウム焼結
体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板に関
する。
に銅等の金属回路、反対面には銅等の金属放熱板を形成
させ、その金属回路面に半導体素子を半田付けされてな
るモジュールが使用されている。このようなモジュール
においては、半導体素子から発生した熱をいかに効率良
く除去するかが重要な課題あり、その解決法の1つに窒
化アルミニウム基板の熱伝導率をその理論値(約320
W/mK)に近づけることの努力が行われている。
には、その焼結体を緻密化することが必要であり、従来
よりアルカリ土類金属化合物やランタノイド元素化合物
等、多くの焼結助剤が検討されている。CaO等のアル
カリ土類金属化合物を使用する技術としては、特開昭5
0−23411号公報、特開昭60−71575号公
報、特開昭61−10071号公報、特開平05−17
8671号公報等があり、3CaO・Al2O3を使用す
るものとしては、特開平04−154670号公報があ
り、12CaO・7Al2O3を使用するものとしては、
特開平05−9075号公報がある。
の焼結助剤を使用した場合、焼成温度は1600〜18
00℃と高く、絶縁破壊電圧は10kV/mm程度と小
さいものであった。絶縁破壊電圧が小さくなる原因は次
のように考えられる。すなわち、CaOを含有する焼結
助剤は粒界相に12CaO・7Al2O3 結晶を生成し
やすく、この12CaO・7Al2O3 結晶は実際には
1モルの結晶水が結合した12CaO・7Al2O3・H
2O結晶として存在する。従って、結晶水を含有した粒
界相であるため、絶縁破壊電圧は小さくなる。このよう
な窒化アルミニウム焼結体を回路基板の構成部材とする
と、絶縁不良を起こすという問題がある。
700℃と低く、熱伝導率100W/mK以上にして、
絶縁破壊電圧が15kV/mm以上であり、回路基板と
して好適な窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及び
その焼結体を用いた回路基板を提供することである。
粒界相に非晶質カルシウムアルミネートを含んでいるこ
とを特徴とする窒化アルミニウム焼結体である。非晶質
カルシウムアルミネートの化学組成が、CaO40〜6
0質量%、Al2O360〜40質量%であることが好ま
しい。また、本発明は、窒化アルミニウム粉末100質
量部と非晶質カルシウムアルミネート粉末0.1〜15
質量部を含む混合粉末を成形後、非酸化性雰囲気下、温
度1400℃以上で焼結した後、温度1200℃までを
20℃/分以上の冷却速度で急冷することを特徴とする
窒化アルミニウム焼結体の製造方法である。さらに、本
発明は、上記窒化アルミニウム焼結体をセラミックス基
板として用い、その表面に金属回路を形成させてなるこ
とを特徴とする回路基板である。
説明する。
アルミニウム粒子とその粒子間を埋める粒界相からなる
ものであって、窒化アルミニウム粒子の大きさは0.5
〜40μmであることが好ましい。窒化アルミニウム焼
結体における粒界相の構成割合は1〜20質量%である
ことが好ましい。粒界相の構成割合は、アルカリ溶解法
(分析化学,Vol.37,No.12,pp.113
3−1137(1996)に準ずる)によって窒化アル
ミニウム粒子を溶解し、105℃で2時間乾燥後の質量
から求めることができる。また、粒界相の化学組成は、
EPMAによって測定することができる。
相に非晶質カルシウムアルミネートを含有していること
が特徴である。粒界相中の非晶質カルシウムアルミネー
トの構成比率は70%(質量%、以下同じ)以上、特に
85%以上であることが好ましく、これよりも少ないと
絶縁破壊電圧が十分に高まらない。
は、CaO40〜60%、Al2O360〜40%である
ことが好ましく、特にCaO45〜55%、Al2O3が
55〜45%であることが好ましい。これ以外の組成で
あると、粒界相のカルシウムアルミネートの非晶質化が
困難となり、絶縁破壊電圧が十分に高まらなかったり、
熱伝導率が低下する恐れもある。
質」とは、粉末X線回折分析によって測定された非晶化
率が80%以上であることを意味し、特に90%以上で
あることが好ましい。
の製造方法について説明する。本発明は、上記した絶縁
破壊電圧に優れた本発明の窒化アルミニウム焼結体の製
造に適用できるものである。
以下同じ)と非晶質カルシウムアルミネート0.1〜1
5部を含む混合原料を調合する。0.1部未満であると
緻密化が阻害される恐れがあり、また15部を超える
と、相対的に窒化アルミニウム粉末の割合が少なくなる
ので、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率を100W/
mK以上、特に150W/mK以上にすることが困難と
なる。好ましくは1〜5部である。窒化アルミニウム粉
末と非晶質カルシウムアルミネート粉末の混合には、ボ
ールミル、ロッドミル等が使用される。
Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、T
b、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu等の3A属元
素の酸化物や硝酸塩等、具体的には酸化イットリウム、
酸化サマリウム、硝酸イッテルビウム等の一般的な焼結
助剤を併用することもできる。
としては、直接窒化法、アルミナ還元法等公知の方法で
製造された粉末で十分であるが、酸素含有量が2%以
下、炭素量1000ppm以下であることが好ましい。
酸素含有量が2%超であるか、炭素量1000ppm超
であると、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率を100
W/mK以上、特に150W/mK以上にすることが困
難となる。また、窒化アルミニウム粉末の粒度は、平均
粒子径で10μm以下、特に1μm以下がましい。平均
粒子径が10μmを超えると、焼結密度が低下し、熱伝
導率および強度に悪影響を及ぼす恐れがある。
ミネート粉末は、CaO、CaCO 3、Ca(OH)2等
のカルシウム原料と、Al2O3、Al(OH)3、アル
ミナゲル等のアルミニウム原料を、CaOが43〜57
%、Al2O357〜43%になるように混合し、140
0℃以上で加熱溶融し、100℃/分以上の冷却速度で
急冷することによって製造することができる。非晶質カ
ルシウムアルミネートの非晶化率は80%以上であり、
好ましくは90%以上である。非晶質カルシウムアルミ
ネートの非晶化率が80%未満であると、窒化アルミニ
ウム焼結体の粒界相に12CaO・7Al2O3・H2O
結晶等が生成し、絶縁破壊電圧が高まらない。カルシウ
ムアルミネート高温溶融物の急冷方法としては、圧縮空
気で吹き飛ばしたり、水中に投入することによって行わ
れる。非晶質カルシウムアルミネートの粒度は、平均粒
子径で10μm以下、特に1μm以下がましい。平均粒
子径が10μmを超えると、焼結密度が低下し、熱伝導
率および強度に悪影響を及ぼす。
の場合は、ポリビニルブチラール、ポリアクリレート、
ポリメチルメタクリレート、メチルセルロース、ポリエ
チレン、ワックス等のバインダーが加えられ、金型、静
水圧プレスあるいはシート成形により成形をされる。そ
の後、成形体を酸素ガスや空気等の気流中、350〜7
00℃で1〜5時間加熱してバインダーを除去した後、
窒化硼素製、黒鉛製又は窒化アルミニウム製等の容器に
セットし、窒素ガス、アルゴンガス等の非酸化性雰囲気
中、1450〜1700℃で常圧焼結される。一方、ホ
ットプレス焼結の場合は、上記混合原料を1400〜1
650℃でホットプレスする。その後、1200℃ま
で、より好ましくは1000℃まで、20℃/分以上の
冷却速度で急冷する。冷却速度が20℃/分未満である
と、粒界相の非晶質カルシウムアルミネート類が結晶化
する恐れがあり、絶縁破壊電圧が向上しなくなる。急冷
する方法としては、窒素ガス、アルゴンガス等の流量
や、炉体を冷却する冷却水の水量を高めることによって
行うことができる。
ると、本発明の回路基板は、従来の回路基板構造におい
て、セラミックス基板を本発明の窒化アルミニウム焼結
体からなるセラミックス基板としたものである。すなわ
ち、本発明の回路基板は、窒化アルミニウム基板の一方
の面に半導体素子搭載用の金属回路が、またその反対面
には金属放熱板が形成されてなるものである。窒化アル
ミニウム基板の厚みとしては、放熱特性を重視する場合
は0.5〜1mm程度、高電圧下での絶縁耐圧を著しく
高めたいときには1〜3mm程度とする。
u又はAl−Cu合金であることが好ましい。これら
は、単体ないしはこれを一層として含むクラッド等の積
層体の形態で用いられる。Alは、Cuよりも降伏応力
が小さく、塑性変形に富み、ヒートサイクルなどの熱応
力負荷時において、セラミックス基板にかかる熱応力を
大幅に低減できるので、Cuよりも窒化アルミニウム基
板に発生するクラックを抑制することが可能となり、高
信頼性回路基板となる。
からAl回路の場合は0.4〜0.5mm、Cu回路は
0.3〜0.5mmであることが好ましい。一方、金属
放熱板の厚みは、半田付け時の反りを生じさせないよう
に決定される。具体的には、Al放熱板の場合は0.1
〜0.4mm、Cu放熱板は0.15〜0.4mmであ
ることが好ましい。
熱板を形成させるには、金属板と窒化アルミニウム基板
とを接合した後エッチングする方法、金属板から打ち抜
かれた回路及び放熱板のパターンを窒化アルミニウム基
板に接合する方法等によって行うことができる。窒化ア
ルミニウム基板と金属回路等との接合は、Ag、Cu又
はAg−Cu合金と、Ti、Zr、Hf等の活性金属成
分とを含むろう材を用いる活性金属ろう付け法等によっ
て行うことができる。
明を説明する。
石灰粉末とアルミナ粉末(いずれも試薬)を混合し、そ
れを1500℃で1時間加熱溶融し、200℃/分の冷
却速度で急冷後粉砕して非晶質カルシウムアルミネート
粉末(平均粒子径0.5μm、非晶化率100%)を製
造した。
μm、酸素含有量0.8%、炭素含有量280ppm)
100部に対し、上記非晶質カルシウムアルミネート粉
末を表1に示す割合で配合し、ボールミルで混合し混合
原料を調製した。ついで、バインダー(ポリアクリレー
ト系)を加え、混練、造粒、整粒を行い、シート状に成
形してから、空気中、500℃、2時間保持して脱脂し
た後、窒素ガス雰囲気中、1550℃、2時間の常圧焼
結を行った。その後、温度1200℃までの冷却速度を
25℃/分として急冷し、さらに室温まで徐冷して窒化
アルミニウム焼結体を製造した。
アルキメデス法により、熱伝導率をレ−ザ−フラッシュ
法で測定した。また、絶縁破壊電圧をJIS C 21
10に準じ、絶縁油中で測定した。さらに、アルカリ溶
解法により窒化アルミニウム粒子を溶解し、粒界層の非
晶化率、CaO量、Al2O3量を測定した。なお、非晶
化率は粉末X線回折法により、CaO量、Al2O3量は
EPMAにより測定した。それらの結果を表1に示す。
粉末を使用することによって、熱伝導率と絶縁破壊電圧
が向上し、実験番号3では熱伝導率174W/mk、絶
縁破壊電圧30kV/mmになった。また、全ての実験
番号において、粒界相は非晶質カルシウムアルミネート
で構成されていた。
面研削して窒化アルミニウム基板(寸法:0.635×
50×50mm)とした。この窒化アルミニウム基板の
表裏面に接合材(Al−9.5%Si−1%Mg合金
箔)を介してAl回路形成用とAl放熱板形成用のAl
板(厚み0.5mm、Al純度99.9%)を重ね、黒
鉛板に挟み、窒化アルミニウム基板の垂直方向から加圧
しながら、真空中、580℃で加熱した。得られた接合
体を軟X線を用い3倍に拡大して接合不良を検査したが
それは認められなかった(検出下限は直径0.3mmで
ある)。
mmを塩化第2鉄水溶液でエッチングし、無電解Ni−
Pメッキを3μm施してモジュールとした。その一方の
Al面を回路面として12.5mm角のシリコンチップ
を中央に共晶半田で半田付けし、その反対面を放熱板面
としてAl製ヒートシンクに半田付けした。この状態
で、−40℃、30分→室温、10分→125℃、30
分→室温、10分を1サイクルとして3000サイクル
の熱履歴試験を実施し、膨れ、剥がれ等の外観チェック
と、断面観察による半田クラックの発生の有無を調べた
が、異常は認められなかった。
し、窒化アルミニウム粉末100部に対し3部配合した
こと以外は、実施例1と同様な試験を行った。それらの
結果を表2に示す。なお、実験番号11〜14ではカル
シウムアルミネート溶融物の冷却速度を変えて、非晶化
率を60〜95%の非晶質カルシウムアルミネート粉末
とした。
れも比較例)とそれ以外の実験番号(いずれも実施例)
との対比から明らかなように、非晶質カルシウムアルミ
ネートを焼結助剤とすることによって、熱伝導率と絶縁
破壊電圧が高まることがわかる。
高放熱性基板等として好適な窒化アルミニウム焼結体と
その製造方法が提供される。また、本発明によれば、高
電圧用パワーモジュール用回路基板が提供される。
Claims (4)
- 【請求項1】 粒界相に、非晶質カルシウムアルミネー
トを含んでいることを特徴とする窒化アルミニウム焼結
体。 - 【請求項2】 非晶質カルシウムアルミネートの化学組
成が、CaO40〜60質量%、Al2O360〜40質
量%であることを特徴とする請求項1記載の窒化アルミ
ニウム焼結体。 - 【請求項3】 窒化アルミニウム粉末100質量部と非
晶質カルシウムアルミネート粉末0.1〜15質量部を
含む混合粉末を成形後、非酸化性雰囲気下、温度140
0℃以上で焼結した後、温度1200℃までを20℃/
分以上の冷却速度で急冷することを特徴とする窒化アル
ミニウム焼結体の製造方法。 - 【請求項4】 請求項1又は2記載の窒化アルミニウム
焼結体をセラミックス基板として用い、その表面に金属
回路を形成させてなることを特徴とする回路基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001231337A JP4763929B2 (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001231337A JP4763929B2 (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003040675A true JP2003040675A (ja) | 2003-02-13 |
JP4763929B2 JP4763929B2 (ja) | 2011-08-31 |
Family
ID=19063408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001231337A Expired - Fee Related JP4763929B2 (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4763929B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003073169A (ja) * | 2001-09-04 | 2003-03-12 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 |
WO2005123627A1 (ja) * | 2004-06-21 | 2005-12-29 | Tokuyama Corporation | 窒化物焼結体、及びその製造方法 |
EP2581357B1 (en) * | 2010-06-08 | 2018-02-21 | Denka Company Limited | Circuit board comprising an aluminium nitride substrate and production method thereof |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02107571A (ja) * | 1988-10-13 | 1990-04-19 | Kureha Chem Ind Co Ltd | 耐酸化性に優れた窒化アルミニウム焼結体とその製造方法 |
-
2001
- 2001-07-31 JP JP2001231337A patent/JP4763929B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02107571A (ja) * | 1988-10-13 | 1990-04-19 | Kureha Chem Ind Co Ltd | 耐酸化性に優れた窒化アルミニウム焼結体とその製造方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003073169A (ja) * | 2001-09-04 | 2003-03-12 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 |
WO2005123627A1 (ja) * | 2004-06-21 | 2005-12-29 | Tokuyama Corporation | 窒化物焼結体、及びその製造方法 |
EP1777204A1 (en) * | 2004-06-21 | 2007-04-25 | Tokuyama Corporation | Nitride sintered compact and method for production thereof |
EP1777204A4 (en) * | 2004-06-21 | 2010-12-01 | Tokuyama Corp | NITRIDE INTERCODES AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR |
US7876053B2 (en) | 2004-06-21 | 2011-01-25 | Tokuyama Corporation | Nitride sintered body and method for manufacturing thereof |
US7973481B2 (en) | 2004-06-21 | 2011-07-05 | Tokuyama Corporation | Nitride sintered body and method for manufacturing thereof |
EP2581357B1 (en) * | 2010-06-08 | 2018-02-21 | Denka Company Limited | Circuit board comprising an aluminium nitride substrate and production method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4763929B2 (ja) | 2011-08-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5245405B2 (ja) | 窒化珪素基板、その製造方法、それを用いた窒化珪素配線基板及び半導体モジュール | |
JP5850031B2 (ja) | 窒化珪素質焼結体、窒化珪素回路基板及び半導体モジュール | |
JP5673106B2 (ja) | 窒化珪素基板の製造方法、窒化珪素基板、窒化珪素回路基板および半導体モジュール | |
JP4997431B2 (ja) | 高熱伝導窒化ケイ素基板の製造方法 | |
US10308560B2 (en) | High thermal conductive silicon nitride sintered body, and silicon nitride substrate and silicon nitride circuit board and semiconductor apparatus using the same | |
WO1996029736A1 (en) | Silicon nitride circuit substrate | |
JP3629783B2 (ja) | 回路基板 | |
JP6124103B2 (ja) | 窒化珪素回路基板およびその製造方法 | |
JP3408298B2 (ja) | 高熱伝導性窒化けい素メタライズ基板,その製造方法および窒化けい素モジュール | |
US9190189B2 (en) | Aluminum nitride substrate for circuit board and production method thereof | |
JP4556162B2 (ja) | 窒化珪素質焼結体及びその製造方法、並びにそれを用いた回路基板 | |
JP3450570B2 (ja) | 高熱伝導性窒化けい素回路基板 | |
JP2003040675A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 | |
JP3973407B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体の製造方法 | |
JP2010215465A (ja) | 窒化アルミニウム基板およびその製造方法並びに回路基板、半導体装置 | |
JP2002176119A (ja) | 窒化珪素基板およびそれを用いた窒化珪素回路基板並びにその製造方法 | |
JP2962466B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体 | |
JP2003073169A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及びその焼結体を用いた回路基板 | |
JPH11100274A (ja) | 窒化珪素質焼結体、その製造方法及びそれを用いた回路基板 | |
JP5043260B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体及びその製造方法、用途 | |
JP5073135B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及び用途 | |
JP4142556B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体及びその製造方法、用途 | |
JP3450400B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体および窒化アルミニウム多層回路基板 | |
JPH11100273A (ja) | 窒化珪素質焼結体、その製造方法及びそれを用いた回路基板 | |
JP2002356376A (ja) | 配線基板及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080723 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101221 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110215 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110531 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110610 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140617 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |