JP2003282304A - チップ抵抗器およびその製造方法 - Google Patents

チップ抵抗器およびその製造方法

Info

Publication number
JP2003282304A
JP2003282304A JP2002082562A JP2002082562A JP2003282304A JP 2003282304 A JP2003282304 A JP 2003282304A JP 2002082562 A JP2002082562 A JP 2002082562A JP 2002082562 A JP2002082562 A JP 2002082562A JP 2003282304 A JP2003282304 A JP 2003282304A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
chip resistor
insulating substrate
external electrode
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002082562A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyoshi Hara
伸圭 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koa Corp
Original Assignee
Koa Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koa Corp filed Critical Koa Corp
Priority to JP2002082562A priority Critical patent/JP2003282304A/ja
Publication of JP2003282304A publication Critical patent/JP2003282304A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 バルク実装に適したチップ抵抗器を提供す
る。 【解決手段】 絶縁基板1の上面に一対の上面電極2が
形成され、これに重なるように、抵抗体層3が形成され
ている。抵抗体層の表面には、第1保護層4,第2保護
層5が形成されている。外部電極層6は、両端部におい
て、上面電極2の一部、絶縁基板1の端面、絶縁基板1
の下面を覆うように形成され、その材料には、導電性接
着剤が用いられている。外部電極層の上に、ニッケルメ
ッキ層7、ハンダメッキ層8の順でメッキが施されてい
る。外部電極層が導電性接着剤であることにより、両端
部の嵩上げが容易となり、ハンダメッキ層の表面を第2
保護層の表面より高くできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板に実装す
るチップ抵抗器、特に、バルクカセットから回路基板に
実装される、いわゆるバルク実装に適したチップ抵抗器
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来のチップ抵抗器の一例を製
造方法とともに説明するための断面図である。図中、2
1は絶縁基板、22は上面電極、23は下面電極、24
は抵抗体層、25は第1保護層、26は第2保護層、2
7は側面電極、28はニッケルメッキ層、29はハンダ
メッキ層である。
【0003】アルミナ等を用いた絶縁基板21の上面の
左右両端部に一対の上面電極22が形成され、絶縁基板
21の下面の左右両端部に一対の下面電極23が形成さ
れている。一対の上面電極22の一部に重なるように、
抵抗体層24が形成されている。絶縁基板21は、多数
個のチップ抵抗器が 作製できるように、多数個取りの
絶縁基板を用いるのが普通である。多数個取りの絶縁基
板は、分割用の溝によって個別の抵抗器領域に区画され
ており、分割用の溝は、抵抗体層24の長手方向に直交
する方向の1次分割用溝(縦溝ともいわれる。)と、抵
抗体層24の長手方向に平行する2次分割用溝(横溝と
もいわれる。)とよりなっている。
【0004】上面電極22は、AgまたはAg−Pdの
厚膜グレーズペーストによって絶縁基板21の表面にス
クリーン印刷され、焼成されて形成される。下面電極2
3も同様にして形成される。その後、RuO2 系等の抵
抗ペーストをスクリーン印刷し、焼成して、抵抗体層2
4が形成される。抵抗体層24の表面に、ホウ珪酸鉛ガ
ラス系等のガラスペーストを用いてスクリーン印刷し、
焼成して、第1保護層25が形成される。ここで、抵抗
値を修正するためにレーザ光を用いたトリミングが行な
われる。ついで、上面電極22の一部と第1保護層25
とに重合するように、ホウ珪酸鉛ガラス系等のガラスペ
ーストを用いてスクリーン印刷し、焼成して、第2保護
層26が形成される。
【0005】1次分割用溝に沿って分割された後、Ag
等を含む導電ペーストを、上面電極22の一部と短冊状
に1次分割された絶縁基板21の端面、および、下面電
極23とを覆うように塗布し、焼成して、側面電極27
が形成される。ついで、2次分割用溝に沿って2次分割
して、各個片とした後、ニッケルメッキ層28、ハンダ
メッキ層29の順でメッキを施して、チップ抵抗器が製
造される。
【0006】このようにして製造されたチップ抵抗器
は、その上面は、両端部に比較して、第2保護層の表面
部分が突出している。回路への実装に際して、図7
(A)に示すように、バルクカセットから供給されたチ
ップ抵抗器30(輪郭のみを図示した。)が、その上面
側が上になるように基板31上のランド部32に実装さ
れた場合には、電気的な接続に関しての問題はない。し
かし、図7(B)に示すように、チップ抵抗器30の上
面側が下になるように基板31上のランド部32に実装
された場合には、電極の浮き上がりが発生することがあ
り、電気的な接続が達成できないという問題を生じる。
【0007】メッキ層を厚くして、メッキ層の表面の高
さを第2保護層の表面の高さよりも高くすることが考え
られるが、メッキ層を厚くするとメッキ工程に要する時
間が長くなる。例えば、ニッケルメッキ1μm厚に要す
る時間が1時間程度であるとすれば、20μm厚のメッ
キには20時間を要することになる。したがって、電極
部を第2保護層の厚さよりも高くする電極部の嵩上げ方
法の採用も効率的な生産の面からは適当でない。側面電
極27を厚くすることも考えられるが、十分な厚さを得
ることが困難であるばかりでなく、厚膜グレーズペース
トは、乾燥,燒結工程での体積収縮率が大きいという問
題がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、上面側、下面側のいずれが
上になるように実装されても、接続不良が生じることの
ないチップ抵抗器、および、その製造方法を提供するこ
とを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、チップ抵抗器
であって、絶縁基板の両端部側の上下面および端面を覆
うように導電性接着剤よりなる外部電極層が形成され、
該外部電極層の上にメッキ層が形成されており、前記絶
縁基板の上面側の両端部と中央部とがほぼ同じ高さ、ま
たは、両端部が中央部よりも高い高さであることを特徴
とするものである。
【0010】また、本発明は、チップ抵抗器であって、
絶縁基板の上面側の両端部側に上面電極と、該上面電極
間に抵抗体層が形成されたチップ抵抗器において、その
両端部側には、前記上面電極の一部、下面および端面を
覆うように導電性接着剤よりなる外部電極層が形成さ
れ、該外部電極層の上にメッキ層が形成されており、前
記絶縁基板の上面側は、両端部と中央部とがほぼ同じ高
さ、または、両端部が中央部よりも高い高さであること
を特徴とするものである。
【0011】また、本発明は、絶縁基板の上面側の両端
部側に上面電極と、該上面電極間に抵抗体層が形成され
たチップ抵抗器の製造方法であって、前記上面電極間に
形成される抵抗体層が前記上面電極間を結ぶ方向を横方
向とし、該横方向と直交する方向を縦方向として、絶縁
基板の表面に、上面電極および抵抗体層が形成された個
片を縦方向および横方向に多数個形成した後、絶縁基板
を分割してチップ抵抗器を製造する多数個取りのチップ
抵抗器の製造方法において、前記絶縁基板を縦方向に長
い短冊状の基板となるように縦方向に分割した後、短冊
状の基板の横方向の両端部側において、前記上面電極の
一部、下面および端面を覆うように導電性接着剤よりな
る外部電極層を形成し、ついで、個々の個片となるよう
に横方向に分割した後、前記外部電極層の上にメッキ層
を形成するとともに、前記導電性接着剤および前記メッ
キ層の厚さは、前記絶縁基板の上面側において、両端部
と中央部とがほぼ同じ高さ、または、両端部が中央部よ
りも高い高さとなるような厚さにすることを特徴とする
ものである。
【0012】
【発明の実施の形態】図1,図2は、本発明のチップ抵
抗器の実施の形態の一例を説明するためのもので、図1
はチップ抵抗器の断面図、図2は実装状態の説明図であ
る。図中、1は絶縁基板、2は上面電極、3は抵抗体
層、4は第1保護層、5は第2保護層、6は外部電極
層、7はニッケルメッキ層、8はハンダメッキ層であ
る。
【0013】アルミナ等を用いた絶縁基板1の上面の左
右両端部に一対の上面電極2が形成されている。一対の
上面電極2の一部に重なるように、抵抗体層3が形成さ
れている。抵抗体層3の表面には、第1保護層4として
ガラス保護膜が形成され、その上に第2保護層5が形成
されている。第2保護層5は、エポキシ樹脂等の樹脂膜
やガラス保護膜を用いることができる。外部電極層6
は、両端部において、両側面を除いて、上面電極2の一
部、絶縁基板1の端面、絶縁基板1の下面の3つの面を
覆うように形成されている。外部電極層6の材料は、導
電性接着剤が用いられる。導電性接着剤は、厚さを確保
するのが容易であり、体積収縮率も小さい。後述するよ
うに、浸漬(ディップ),塗布や転写などの形成方法に
よって形成される。外部電極層6の上には、ニッケルメ
ッキ層7、ハンダメッキ層8の順でメッキが施されてい
る。ハンダメッキ層8としては、Sn−Pbのハンダ材
料に限られるものではなく、Sn−AgメッキやSnメ
ッキを用いることができ、本明細書では、これらを含め
て、ハンダとの接着性を良好にする層をハンダメッキ層
と呼んでいる。
【0014】具体例における各層の厚さの一例を述べ
る。上面電極2の厚さは10μm、抵抗体層3の厚さは
10μmである。第1保護層4の厚さは5μmであり、
第2保護層5の厚さは10μmである。したがって、第
2保護層5の表面の絶縁基板1の表面からの最大高さは
35μm程度となる。これに対して、外部電極層6の厚
さは20〜40μmであり、ニッケルメッキ層7の厚さ
は3μm、ハンダメッキ層8の厚さは3μmである。し
たがって、ハンダメッキ層8の表面の絶縁基板1の表面
からの高さは36〜56μmとなり、ハンダメッキ層3
の表面の高さは第2保護層5の表面の高さに比べて、1
〜21μm高くなる。
【0015】なお、ハンダメッキ層3の表面の高さと第
2保護層5の表面の高さとの関係、すなわち、絶縁基板
1の上面側における両端部の高さと中央部の高さは、上
述した例では、両端部が中央部よりも1〜11μm高い
ことになる。このように、両端部を中央部よりも高くす
ることにより、図7(B)で説明したような浮き上がり
が発生することを回避できる。
【0016】しかしながら、絶縁基板1の上面側におい
て、両端部を中央部よりも高くすることに限られるもの
ではない。両端部と中央部を同じ高さにしてもよく、多
少であれば、例えば、1〜2μm程度であれば、両端部
が中央部よりも低くても、浮き上がりや、チップ立ちが
発生することはない。本明細書では、両端部と中央部と
が同じ高さから、両端部が中央部よりもやや低くても、
浮き上がりや、チップ立ちが発生しない高さまでを、両
端部と中央部とがほぼ同じ高さと定義している。したが
って、本発明では、絶縁基板1の上面側における、両端
部と中央部との高さは、両端部と中央部とがほぼ同じ高
さ、または、両端部が中央部よりも高くなるような高さ
とすることが要件である。
【0017】なお、上述した具体例の数値は一例であっ
て、上記要件を満たす限りにおいて、上記の寸法に限ら
れるものでないことは明らかであろう。
【0018】このチップ抵抗器は、上面側の中央部が、
端部側に比して大きく突出する形状でないから、図2
(A)に示すように、バルクカセットから供給されたチ
ップ抵抗器9が、その上面側が下になるように基板31
上のランド部32に実装された場合でも、端部での浮き
上がりが発生することはなく、電気的な接続に関しての
問題は生じない。もちろん、図2(B)に示すように、
チップ抵抗器9(輪郭のみを図示した。)の上面側が上
になるように基板31上のランド部32に実装された場
合に、電気的な接続に関しての問題は生じない。さら
に、側面側にも電極が形成されているから、側面側を基
板31上のランド部32に実装することも可能である。
【0019】図3は、図1で説明したチップ抵抗器の製
造方法の実施の形態の一例を説明するための工程順の断
面図、図4は多数個取りの基板の一部を示す斜視図であ
る。図中、図1と同様の部分には同じ符号を付して説明
を省略する。Tはトリミング痕、11は縦溝、12は横
溝である。なお、図3においては、1個のチップ抵抗器
だけについての断面図を示したが、適宜の工程における
多数個取りの絶縁基板については、図4で図示した。
【0020】図3(A)は、絶縁基板を示す。絶縁基板
1は、アルミナ等よりなる絶縁体で構成され、従来技術
に用いられているものと格別の相違はない。大量生産を
容易にするために、多数個取りの絶縁基板が用いられる
のが普通である。多数個取りの絶縁基板1は、図4
(A)に示すように、分割用の縦溝11と横溝12によ
って個別の抵抗器領域に区画されている。縦溝と呼ぶ溝
は、抵抗体層の長手方向に直交する方向の溝とし、横溝
と呼ぶ溝は、抵抗体層の長手方向に平行する溝とした。
すなわち、横溝12は、上面電極間に跨って形成される
抵抗体層が上面電極間を結ぶ方向に形成された溝であ
り、縦溝11は、横方向と直交する方向に形成された溝
である。
【0021】図3(B)は、上面電極形成工程である。
絶縁基板1の表面に、AgまたはAg−Pd等の導電粒
子を含む厚膜グレーズペーストをスクリーン印刷し、焼
成されて上面電極2が形成される。多数個取りの基板で
は、図4(B)に示すように、縦溝11に跨り、かつ、
縦方向に隣り合う抵抗器領域では、電気的に分離されて
形成される。上面電極2の上には、後述するように外部
電極が形成されるから、上面電極2は、内部電極に相当
する。
【0022】図3(C),図4(C)は、抵抗膜形成工
程である。RuO2 系等の抵抗ペーストをスクリーン印
刷し、焼成して、抵抗体層3が形成される。
【0023】図3(D)は、第1保護層形成工程であ
る。抵抗体層3の表面に、ホウ珪酸鉛ガラス系等のガラ
スペーストを用いてスクリーン印刷し、焼成して、第1
保護層4が形成される。第1保護層4は、次工程で用い
られるレーザ光に対する保護膜として用いられるもので
あるが、省略してもよい。
【0024】図3(E)は、抵抗値修正工程である。抵
抗値を修正して、所望の値とするために、抵抗値を測定
しながら、レーザ光を用いてトリミングが行なわれる。
部分的にトリミング痕Tが形成される。
【0025】図3(F)は、第2保護層形成工程であ
る。上面電極2の一部と第1保護層4(第1保護層4を
省略した場合は、抵抗体層3)とに重合するように、合
成樹脂を塗布やスクリーン印刷して、固化させたり、あ
るいは、ホウ珪酸鉛ガラス系等のガラスペーストを用い
てスクリーン印刷し、焼成するなどにより、第2保護層
5が形成される。合成樹脂による保護層は、ガラスに比
べて、熱履歴を与えない点で有利である。第2保護層5
は、抵抗体層3を覆うように形成されるが、横方向は、
抵抗体層3をはみ出して上面電極の2の一部まで覆うよ
うに形成するのがよい。また、第2保護層5の縦方向の
パターンは、横溝を越えて隣り合う個片の抵抗体層3ま
で、縦方向に連続して、いわゆる、べた形状となるよう
に形成されてもよく、あるいは、横溝に達しないように
それぞれの抵抗体層ごとに独立するように形成されても
よい。
【0026】図4(D)は、一次分割工程である。縦溝
に沿って、クラッキングされて、個片が縦方向に短冊状
に並んだ基板となる。
【0027】図3(G),図4(E)は、外部電極層形
成工程である。短冊状に分割された基板の両端部側に、
外部電極層6が形成される。なお、図4(E)では、一
端側に外部電極層6が形成された状態を図示している。
ついで、他端側にも外部電極層が形成される。外部電極
層6の材料には、導電性接着剤が用いられ、両端部にお
いて、上面電極2の一部、絶縁基板1の端面、絶縁基板
1の下面に跨って形成される。浸漬(ディップ)、塗布
や転写によって形成されるが、ディップによって、形成
するのが好適である。導電性接着剤の成分、粘度や温度
により厚さを調整できる。複数回のディップを行なうよ
うにしてもよい。導電性接着剤としては、例えば、エポ
キシ樹脂に銀粒子を混入させたものを用いることができ
る。導電性接着剤の硬化のために、加熱処理が行なわれ
る。一例では、150〜200℃で3〜5分間の加熱処
理が行なわれる。なお、導電性接着剤の樹脂としては、
エポキシ樹脂のほか、フェノール樹脂,キシレン樹脂,
ウレタン樹脂など、適宜の樹脂を用いることができ、こ
れらの樹脂において、熱可塑性のもの、あるいは、熱硬
化性のものを用いることができる。樹脂に混入される導
電性粒子としは、金,銀,銅,ニッケルなどの金属粒子
や、合成樹脂粒子に金,銀,銅,ニッケルなどの金属被
膜を施した粒子を用いることができる。
【0028】外部電極層6が形成された絶縁基板は、横
溝に沿って分割する二次分割工程において、個々の個片
に分割される。なお、一次分割工程および二次分割工程
は、クラッキングによることに限られるものではない。
ダイシングブレードを用いて分割する方法が採用されて
もよく、この方法の場合には、必ずしも縦溝,横溝がな
くてもよい。
【0029】図3(H)は、ニッケルメッキ工程であ
る。上面電極2の一部、絶縁基板1の端面、絶縁基板1
の下面に跨って形成された外部電極層6の表面に電解メ
ッキによりニッケルメッキが施されてニッケルメッキ層
7が形成される。
【0030】図3(I)は、ハンダメッキ工程である。
ニッケルメッキ層8の上に電解メッキによってハンダメ
ッキ層8が形成される。ハンダメッキ層8は、Sn−P
bメッキ、Sn−Agメッキ、Snメッキ等のハンダに
対して密着性の良好な材料により形成される。
【0031】なお、上述した工程において、上面電極形
成工程と抵抗体層形成工程とは、その順序が逆であって
もよい。すなわち、上面電極が形成された後に抵抗体層
が形成されてもよく、先に抵抗体層が形成され、その後
に上面電極が形成されてもよい。換言すれば、上面電極
の上に抵抗体層が重ねられてもよく、抵抗体層の上に上
面電極が重ねられてもよい。したがって、本発明は、チ
ップ抵抗器の製造方法の発明においては、上面電極が形
成された後に抵抗体層が形成されること、および、先に
抵抗体層が形成され、その後に上面電極が形成されるこ
との両者を包含するものであり、チップ抵抗器の発明に
おいては、上面電極の上層に抵抗体層がある構造、およ
び、抵抗体層の上層に上面電極がある構造の両者を包含
するものである。
【0032】また、上述した実施の形態のチップ抵抗器
では、絶縁基板の下面側に、外部電極層が直接形成され
たものであるが、図9で説明したように、絶縁基板の下
面側に厚膜グレーズペーストをスクリーン印刷し、焼成
するなどの方法により、下面電極を形成した後に、外部
電極層を形成してもよい。その際、図7に示すように、
下面電極10の長さaが、外部電極層6の長さbよりも
小さくして、外部電極層6が下面電極10を乗り越える
ようにして、下面電極10が外部電極層6中に埋没する
ように構成すれば、電極の剥がれに対して有利である。
もちろん、下面電極10の長さaを、外部電極層6の長
さbよりも大きくしてもよい。
【0033】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、導電性接着剤により電極部の嵩上げができる
ので、バルク実装が可能となり、製造工程における時間
短縮の面からも有効である。また、従来のチップ抵抗器
では、端面電極の焼成時に600℃以上の高温の加熱が
行なわれているが、本発明では、外部電極層の硬化のた
めの加熱温度も低くできるので、トリミング後の抵抗値
にドリフトが生じることを低減できるという効果があ
る。さらに、第2電極を合成樹脂により形成した場合に
は、第2保護層の形成工程においても、高温に曝される
ことがないという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のチップ抵抗器の実施の形態の一例を説
明するためのチップ抵抗器の断面図である。
【図2】図1のチップ抵抗器の実装状態の説明図であ
る。
【図3】図1で説明したチップ抵抗器の製造方法の実施
の形態の一例を説明するための工程順の断面図である。
【図4】図3における多数個取りの基板の一部を示す斜
視図である
【図5】本発明のチップ抵抗器の他の実施の形態の一例
を説明するためのチップ抵抗器の断面図である。
【図6】従来のチップ抵抗器の一例を製造方法とともに
説明するための断面図である。
【図7】図6のチップ抵抗器の実装状態の説明図であ
る。
【符号の説明】
1…絶縁基板、2…上面電極、3…抵抗体層、4…第1
保護層、5…第2保護層、6…外部電極層、7…ニッケ
ルメッキ層、8…ハンダメッキ層、9…チップ抵抗器、
10…下面電極、11…縦溝、12…横溝。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板の両端部側の上下面および端面
    を覆うように導電性接着剤よりなる外部電極層が形成さ
    れ、該外部電極層の上にメッキ層が形成されており、前
    記絶縁基板の上面側の両端部と中央部とがほぼ同じ高
    さ、または、両端部が中央部よりも高い高さであること
    を特徴とするチップ抵抗器。
  2. 【請求項2】 絶縁基板の上面側の両端部側に上面電極
    と、該上面電極間に抵抗体層が形成されたチップ抵抗器
    において、その両端部側には、前記上面電極の一部、下
    面および端面を覆うように導電性接着剤よりなる外部電
    極層が形成され、該外部電極層の上にメッキ層が形成さ
    れており、前記絶縁基板の上面側は、両端部と中央部と
    がほぼ同じ高さ、または、両端部が中央部よりも高い高
    さであることを特徴とするチップ抵抗器。
  3. 【請求項3】 前記絶縁基板の下面の両端部側に下面電
    極が形成され、該下面電極は、前記外部電極層に埋没し
    ていることを特徴とする請求項1または2に記載のチッ
    プ抵抗器。
  4. 【請求項4】 絶縁基板の上面側の両端部側に上面電極
    と、該上面電極間に抵抗体層が形成されたチップ抵抗器
    の製造方法であって、前記上面電極間に形成される抵抗
    体層が前記上面電極間を結ぶ方向を横方向とし、該横方
    向と直交する方向を縦方向として、絶縁基板の表面に、
    上面電極および抵抗体層が形成された個片を縦方向およ
    び横方向に多数個形成した後、絶縁基板を分割してチッ
    プ抵抗器を製造する多数個取りのチップ抵抗器の製造方
    法において、前記絶縁基板を縦方向に長い短冊状の基板
    となるように縦方向に分割した後、短冊状の基板の横方
    向の両端部側において、前記上面電極の一部、下面およ
    び端面を覆うように導電性接着剤よりなる外部電極層を
    形成し、ついで、個々の個片となるように横方向に分割
    した後、前記外部電極層の上にメッキ層を形成するとと
    もに、前記導電性接着剤および前記メッキ層の厚さは、
    前記絶縁基板の上面側において、両端部と中央部とがほ
    ぼ同じ高さ、または、両端部が中央部よりも高い高さと
    なるような厚さにすることを特徴とするチップ抵抗器の
    製造方法。
  5. 【請求項5】 前記絶縁基板を縦方向に長い短冊状の基
    板となるように縦方向に分割する前に、前記絶縁基板の
    下面の両端部側に下面電極を形成することを特徴とする
    請求項4に記載のチップ抵抗器の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記外部電極層を浸漬によって形成する
    ことを特徴とする請求項4または5に記載のチップ抵抗
    器の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記外部電極層を塗布によって形成する
    ことを特徴とする請求項4または5に記載のチップ抵抗
    器の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記外部電極層を転写によって形成する
    ことを特徴とする請求項7または5に記載のチップ抵抗
    器の製造方法。
JP2002082562A 2002-03-25 2002-03-25 チップ抵抗器およびその製造方法 Pending JP2003282304A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002082562A JP2003282304A (ja) 2002-03-25 2002-03-25 チップ抵抗器およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002082562A JP2003282304A (ja) 2002-03-25 2002-03-25 チップ抵抗器およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003282304A true JP2003282304A (ja) 2003-10-03

Family

ID=29230697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002082562A Pending JP2003282304A (ja) 2002-03-25 2002-03-25 チップ抵抗器およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003282304A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006030705A1 (ja) * 2004-09-15 2006-03-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. チップ形電子部品
WO2009152781A1 (zh) * 2008-06-20 2009-12-23 Yang Jinbo 片式电阻器及其制造方法
JP2017069441A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 Koa株式会社 チップ抵抗器
US9818512B2 (en) 2014-12-08 2017-11-14 Vishay Dale Electronics, Llc Thermally sprayed thin film resistor and method of making

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006030705A1 (ja) * 2004-09-15 2006-03-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. チップ形電子部品
JPWO2006030705A1 (ja) * 2004-09-15 2008-05-15 松下電器産業株式会社 チップ形電子部品
US7772961B2 (en) 2004-09-15 2010-08-10 Panasonic Corporation Chip-shaped electronic part
WO2009152781A1 (zh) * 2008-06-20 2009-12-23 Yang Jinbo 片式电阻器及其制造方法
US9818512B2 (en) 2014-12-08 2017-11-14 Vishay Dale Electronics, Llc Thermally sprayed thin film resistor and method of making
JP2017069441A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 Koa株式会社 チップ抵抗器
WO2017057248A1 (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 Koa株式会社 チップ抵抗器
US10276285B2 (en) 2015-09-30 2019-04-30 Koa Corporation Chip resistor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10192659B2 (en) Chip resistor
JPH01302803A (ja) チップ抵抗およびその製造方法
JP2018032670A (ja) チップ部品、チップ部品の実装構造、チップ抵抗器の製造方法
JP2003282305A (ja) チップ抵抗器およびその製造方法
JP2003282304A (ja) チップ抵抗器およびその製造方法
US10276285B2 (en) Chip resistor
JP2003124004A (ja) チップ抵抗器およびその製造方法
JP6688025B2 (ja) チップ抵抗器およびチップ抵抗器の製造方法
JP2780408B2 (ja) 角板型チップ抵抗器
JPH04372101A (ja) 角形チップ抵抗器及びその製造方法
US20240049399A1 (en) Chip component
US11657932B2 (en) Chip component
JP2022159807A (ja) チップ抵抗器
WO2021075222A1 (ja) チップ部品およびチップ部品の製造方法
US20240096926A1 (en) Mounting structure for chip component
JP3953325B2 (ja) チップ抵抗器およびその製造方法
JP4059967B2 (ja) チップ型複合機能部品
US20230335317A1 (en) Chip resistor and method of producing thereof
JP3159440B2 (ja) 角形チップ抵抗器
JP6688035B2 (ja) チップ抵抗器
JP2000340413A5 (ja)
JP3435419B2 (ja) チップ抵抗器
JPS62254407A (ja) チツプ型皮膜抵抗器の製造方法
JP2866808B2 (ja) チップ抵抗器の製造方法
JP2019062226A (ja) チップ抵抗器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050118

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070628

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070704

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071031