JP2003282298A - ドーピング装置 - Google Patents

ドーピング装置

Info

Publication number
JP2003282298A
JP2003282298A JP2002087233A JP2002087233A JP2003282298A JP 2003282298 A JP2003282298 A JP 2003282298A JP 2002087233 A JP2002087233 A JP 2002087233A JP 2002087233 A JP2002087233 A JP 2002087233A JP 2003282298 A JP2003282298 A JP 2003282298A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
cathode electrode
carbon nanotubes
material gas
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002087233A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3842159B2 (ja
Inventor
Osamu Nakamura
理 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2002087233A priority Critical patent/JP3842159B2/ja
Priority to US10/390,882 priority patent/US7026764B2/en
Publication of JP2003282298A publication Critical patent/JP2003282298A/ja
Priority to US11/362,259 priority patent/US7382098B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3842159B2 publication Critical patent/JP3842159B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32532Electrodes
    • H01J37/3255Material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、安定したプラズマを生成するため
の装置を提供することを課題とする。また、スループッ
トを高めるためにはプラズマ密度を高める必要がある。
そのため、電界放出特性に優れ、また寿命の長い陰極電
極を備えた装置を提供することを課題とする。 【解決手段】本発明のプラズマ生成装置に関する構成
は、壁面に囲まれ、材料ガスをプラズマ化するためのプ
ラズマ室を有するプラズマ生成装置であって、前記プラ
ズマ室は、陰極電極と、陽極電極と、前記材料ガスの導
入手段と、排気手段と、を有し、前記陰極電極の一方の
表面にカーボンナノチューブが形成されており、前記陰
極電極の前記表面側に前記陽極電極が設置されているこ
とを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する分野】本発明は高密度のプラズマの生成
を行うための装置に関する。また、それを利用した装置
に関する。例えば、ドーピング装置、エッチング装置、
スパッタ装置、成膜装置において適用される。
【0002】
【従来の技術】近年、薄膜を用いて薄膜トランジスタ
(TFT)を作製する研究が広く行われている。TFT
を作製するにあたって、成膜、エッチング、イオンの導
入工程等は欠く事のできないプロセスであり、これらの
工程はプラズマを利用して行われることが多い。即ち、
反応性の高いイオンやラジカルをエッチングや成膜に利
用し、運動エネルギーが大きい粒子をスパッタに利用
し、プラズマ中の電荷粒子をエッチングやイオン注入に
利用している。これらスパッタ法。プラズマCVD法、
エッチング法、イオンドーピング法等を利用する工程を
経てTFTは作製される。
【0003】プラズマを生成するための方法として、平
行に設置された2枚の平板電極(51は陰極電極、52
は陽極電極である。)の間に一様な電場を掛ける方法
(図4(A))、タングステンなどの融点の高い金属を
2500℃程度に加熱して、熱電子を放出させる直熱形
熱陰極電極53を用いる方法(図4(B))、陰極電極
面に仕事関数の小さい物質を用いて間接的に背面から加
熱する方法(図4(C))、片端が閉じて他端が開いた
円筒のホロー形の電極を陰極電極として用い、高密度の
プラズマを生成する方法(ホロー陰極放電54)(図4
(D))などがある。また、プラズマ室の壁面に沿って
多数の永久磁石を並べることにより(図4(E))、壁
表面に局在する磁場(表面磁場または多極磁場)を利用
してプラズマを形成する方法、マグネトロン放電と呼ば
れる平板状陰極電極の面に平行に磁場を掛けて放電させ
る方法(図4(F))もある。これらは直流放電の例で
あるが、交流放電によって生成することもできる。
【0004】その主な例は、容量結合プラズマと呼ばれ
る高周波やマイクロ波を平行平板電極に掛ける方法(図
5(A))、誘導結合プラズマと呼ばれるヘリカル状の
コイルやスパイラル状のコイルに高周波電流を流す方法
(図5(B)、(C))、表面波プラズマと呼ばれる電
磁波を高密度プラズマに照射して励起される表面波を強
いマイクロ波に当てる方法(図5(D))、ECR(El
ectron Cyclotron Resonance)プラズマと呼ばれる磁場
中の電子サイクロトロン共鳴を利用する方法(図5
(E))、ヘリコン波プラズマと呼ばれる電子サイクロ
トロン周波数より十分低い周波数の高周波電流をアンテ
ナに流す方法(図5(F))などが挙げられる。
【0005】また、イオンドーピング装置は主に大型ガ
ラス基板上の薄膜トランジスタ(TFT)の作製に利用さ
れ、ソース領域やドレイン領域を形成するためのドーピ
ングでは1015ions/cm2台のドーズ量を必要とし、チャネ
ルドープやLDD(Light DopedDrain)領域を形成するた
めのドーピングでは1×1012〜1×1014ions/cm2のドー
ズを必要とする。このように、領域によって必要とされ
るドーズ量が3桁も異なる為、イオンドーピング装置に
は高電流密度から低電流密度まで制御できる性能が求め
られている。例えば、フィラメントを用いたDCイオン源
イオンドーピング装置は使用できる電流密度の範囲が広
いため、一般によく用いられている。
【0006】
【本発明が解決しようとする課題】例えば、フィラメン
トを用いたDCイオン源イオンドーピング装置において、
フィラメント寿命が短いことが問題となっている。フィ
ラメント交換によって装置の稼働率が低下し、スループ
ットが低下する。またイオンドーピング装置で使用され
る材料ガスはフォスフィンやジボラン等の有毒ガスであ
る場合が多く、クリーンルームの汚染、人体への悪影響
の観点から、フィラメント交換の頻度はできるだけ少な
くすることが望まれる。しかし、ソース領域やドレイン
領域を形成するための高ドーズ処理ではスループットを
上げる為にイオン電量密度を増加させるため、フィラメ
ントの寿命は一層短くなる。その他の問題として、フィ
ラメント使用時間が増加するに従い、フィラメントの劣
化、フィラメント表面への膜の付着等がある。これらの
フィラメントの変化によってフィラメント表面からの電
界放出特性が経時変化し、プラズマ中のイオン種割合が
変わってしまい、安定したドーズ制御ができなくなる。
イオンドーピング装置に限らず、プラズマを扱う装置で
は、プラズマの安定化が最重要課題である。
【0007】本発明は、安定したプラズマを生成するた
めの装置を提供することを課題とする。また、スループ
ットを高めるためにはプラズマ密度を高める必要があ
る。そのため、電界放出特性に優れ、また寿命の長い陰
極電極を備えた装置を提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、ドーピング装
置、エッチング装置、成膜装置などに代表されるプラズ
マ生成装置において、陰極電極にカーボン、特にカーボ
ンナノチューブ(CNT)を用いることを特徴としてい
る。カーボンナノチューブは直径1nm前後から数十n
mのチューブ状のグラファイト構造をもつ炭素系材料で
ある。カーボンナノチューブには単層カーボンナノチュ
ーブ(SWNT:Single Wall Carbon NanoTube)、多層カ
ーボンナノチューブ(MWNT:Multi Wall Carbon Nano T
ube)、VGCF(Vapor Growth Carbon Fiber)、ナノホー
ン、ナノグラスファイバーなどの様々な構造体が知られ
ている。以降、これらを総称してカーボンナノチューブ
と表記する。
【0009】カーボンナノチューブの形状は細く、長い
ことが特徴である。直径がわずか数nmであるにも関わ
らず長さが数千nmに及ぶ場合もある。また炭素同士が
非常に強く結合しているため、カーボンナノチューブは
化学的に非常に安定している。またナノチューブは導電
性があり、炭素同士の結合が強いため大量の電流を流す
ことができ、さらに、耐熱性にも優れている。
【0010】また、カーボンナノチューブの一端を帯電
させておくと、カーボンナノチューブの先端から電子が
驚異的な頻度で放出される。これはカーボンナノチュー
ブの細長い形状、すなわちアスペクト比が高いことに起
因していると考えられている。従ってこの電界放出は通
常の金属と比べて、低い電圧で起こり、また損傷もほと
んどなく寿命が長い。
【0011】このようにカーボンナノチューブは優れた
特性を有するものである。本発明は、カーボンナノチュ
ーブの電界放出特性を、プラズマを利用した装置のプラ
ズマ生成源に利用することを特徴とする。カーボンナノ
チューブをイオン源に設置する陰極電極として利用する
ことによって、アーク室に効率よく電子を供給できる。
多数のカーボンナノチューブの先端から電子が放出され
ることから、イオン源中のプラズマ密度を高めることが
できる。またカーボンナノチューブは耐熱性、電流輸送
特性に優れるため、安定したプラズマを形成することが
できる。
【0012】本発明のプラズマ生成装置に関する構成
は、壁面に囲まれ、材料ガスをプラズマ化するためのプ
ラズマ室を有するプラズマ生成装置であって、前記プラ
ズマ室は、陰極電極と、陽極電極と、前記材料ガスの導
入手段と、排気手段と、を有し、前記陰極電極の一方の
表面にカーボンナノチューブが形成されており、前記陰
極電極の前記表面側に前記陽極電極が設置されているこ
とを特徴としている。
【0013】上記構成において、前記カーボンナノチュ
ーブは、単層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノ
チューブ、VGCF、ナノホーンまたはナノグラスファイバ
ーであることを特徴としている。
【0014】また、上記構成において、前記カーボンナ
ノチューブは、アーク法もしくはレーザ照射法によって
作製され、伝導性ペーストによって金属部材に接着され
ていることを特徴としている。もしくは、前記カーボン
ナノチューブは、メタン、エタン、エチレン、アセチレ
ン、またはその混合である炭化水素系ガスと水素ガスを
導入ガスとして、気相法、好ましくはプラズマCVD法に
よって金属部材に堆積されてことを特徴としている。
【0015】このように、本発明は、カーボンナノチュ
ーブが形成されている陰極電極を用いてプラズマを生成
することで、効率良く高密度のプラズマを得ることが可
能である。また、カーボンナノチューブは耐熱性、電流
輸送特性に優れるため、安定したプラズマを形成するこ
とが可能となる。そして、このような陰極電極を有する
イオンドーピング装置や、エッチング装置、スパッタ装
置、成膜装置を用いて半導体膜に対して様々な処理を行
うことが可能となり、半導体膜に非常に安定した処理を
行うことが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】[実施の形態1]本実施形態にお
いて、図1を用いて陰極電極と陽極電極を有するプラズ
マ生成装置の説明を行う。
【0017】図1に本発明のプラズマ生成装置の例を示
す。図1において、チャンバーには、プラズマ室10
1、処理室102、ロードロック室103、真空排気手
段106、ガス供給系111、プラズマを形成するため
の陰極電極116、陽極電極117が備えられている。
図1の構成は、容量結合型高周波放電の形式を示してい
るが、その他、フィラメント型の電極を用いても良い。
【0018】陰極電極116には金属部材には電子放出
源であるカーボンナノチューブ118を形成させる。カ
ーボンナノチューブ118はアーク放電法やグラファイ
トへのレーザ照射法により作製し、精製したものを導電
性のペーストで金属部材に接着する。特に、アーク法に
よるカーボンナノチューブは結晶性がよく、欠陥が少な
い。
【0019】またカーボンナノチューブを気相法によっ
て、金属部材に直接堆積してもよい。プラズマCVD法、
好ましくは電界印加型プラズマCVD法により、メタン、
エタン、エチレン、アセチレンまたはその混合である炭
化水素系ガスと水素ガスを導入ガスとして、カーボンナ
ノチューブを金属部材に直接成長させる。カーボンナノ
チューブを堆積する際の助剤として、例えばNi、Fe、Co
又はこれらの金属の複数からなる合金を利用することが
望ましい。これらの助剤の塗布方法はスパッタ、メッ
キ、有機金属化合物の塗布後焼成などで行う。
【0020】これらの気相法を用いると、カーボンナノ
チューブの成長方向を金属部材に対して垂直に揃えるこ
とが可能であり、カーボンナノチューブの先端部分が上
を向いているため電界放出特性が向上する。さらに、こ
のように揃えることにより、カーボンナノチューブの面
積当たりの密度が増加し、高密度のプラズマを得ること
ができる。
【0021】陽極電極117はグリッド電極とし、陰極
電極116との距離を短くすることによって、効果的に
電圧を印加することができる。カーボンナノチューブ1
18から放出された電子は陽極電極117のグリッド孔
を通過し、チャンバー内で材料ガスと衝突し、材料ガス
をイオン化させる。またグリッド孔の径を小さくするこ
とによって、チャンバー内のイオンや中性分子の陰極電
極116への到達を抑制することができる。また、材料
ガスの導入時のチャンバー内の圧力は1×10 -1Pa〜1
×10-3Paであることが望ましい。
【0022】このような陰極電極116および陽極電極
117を有するプラズマ発生装置で生成されるプラズマ
は、高密度であって、安定したものとなる。
【0023】[実施の形態2]本実施形態では、実施の
形態1とは異なる陰極電極の構成を図2を用いて説明す
る。なお、図2(A)は鳥瞰図であり、図2(B)は陰
極電極と平行方向に形成される磁場に対して垂直な断面
から見た図である。
【0024】陰極電極31は金属部材とその表面に形成
したカーボンナノチューブからなる。カーボンナノチュ
ーブは実施の形態1と同様、アーク放電法やレーザ照射
法によって作製し、精製したカーボンナノチューブを伝
導性ペーストで金属部材に接着する。あるいはプラズマ
CVD法によって直接金属部材にカーボンナノチューブを
気相成長させる。
【0025】陰極電極31の両サイドには板状もしくは
棒状の磁石32を、N極とS極が向かい合うように設置
し、磁石32の間には複数の遮蔽板33を設置する。遮
蔽板33は金属材料または絶縁材料によって形成され、
陰極電極とプラズマの間に形成されるシース電界に対し
て傾斜させる。傾斜角は陰極電極31と陽極電極間の電
圧、磁石32の磁力、磁石32の設置間隔、さらにカー
ボンナノチューブの電界放出特性によって決定する。
【0026】陰極電極31と陽極電極間に電圧を印加す
ることによって、カーボンナノチューブから電子が放出
されるが、磁石32による磁場によって電子の軌道は曲
げられることとなる。遮蔽板33は電子の軌道が曲げら
れても遮蔽板33に衝突しない角度に傾斜させる。この
とき、遮蔽板33は曲率を有する形状であることが望ま
しいが、平板であっても良い。
【0027】一方、プラズマ中の正イオンは、陰極電極
31とプラズマの間に形成されるシース電界によって加速
されるが、ラーモア半径の大きい正イオンは磁場によっ
て軌道がまげられることなく遮蔽板33と衝突する。こ
のためカーボンナノチューブに正イオンがカーボンナノ
チューブと高エネルギーで衝突することを防止できる。
さらに正イオンと遮蔽板33の衝突箇所を2次電子を放
出しやすいBaOやLaB6等とすることによって、プラズマ
中に電子を更に効果的に補給することができる。
【0028】このような陰極電極31および陽極電極3
2を有するプラズマ発生装置で生成されるプラズマは、
高密度であって、安定したものとなる。
【0029】なお、本実施形態は、実施形態1と組み合
わせることが可能である。
【0030】
【実施例】[実施例1]本実施例では、ドーピング装置
を例に挙げて、図1に基づいて説明する。
【0031】図1のドーピング装置の主な構成はイオン
源101、処理室102、ロードロック室103、真空
排気手段106から成っている。処理室102は基板を
保持しイオンを注入する場所であり、基板ステージ10
4、クランパー105が備えられている。基板を基板ス
テージ上で上下させるピン108は、ロードロック室1
03から搬送手段109により基板を基板ステージ10
4に乗せる際に用いる。この基板の搬出入に伴って、ク
ランパー105はアーム107により上下する機構が備
えられている。
【0032】アーム107によりクランパー105を基
板ステージから持ち上げた状態で搬送手段109により
基板を搬入する。この時、ピン108は基板ステージ1
04から突き出た状態となり、その上に基板100が乗
せられる。その後、ピン108が下がり、続いて、アー
ム107が下がることによりクランパー105が基板1
00を基板ステージ上で固定する。
【0033】排気手段106は、ドライポンプ、メカニ
カルブースターポンプ、ターボ分子ポンプなどを適宜組
み合わせて用いる。
【0034】イオン源101は、材料ガスを供給するガ
ス供給系111、プラズマを形成するための陰極電極1
16、陽極電極117が備えられている。図1の構成
は、容量結合型高周波放電の形式を示しているが、その
他の電極を用いても良い。
【0035】陰極電極116には金属部材には電子放出
源であるカーボンナノチューブ118を形成させる。カ
ーボンナノチューブ118はアーク放電法やグラファイ
トへのレーザ照射法により作製し、精製したものを導電
性のペーストで金属部材に接着する。特に、アーク法に
よるカーボンナノチューブは結晶性がよく、欠陥が少な
い。
【0036】陰極電極116と陽極電極117に電圧を
印加することにより、陰極電極の表面に形成されている
カーボンナノチューブ118から電子が放出され、ガス
供給系111から供給される材料ガスの分子とが衝突す
ることにより、プラズマが形成される。
【0037】このような陰極電極116および陽極電極
117を有するプラズマ発生装置で生成されるプラズマ
は、高密度であって、安定したものとなる。
【0038】さらに、引き出し電極系として、引き出し
電極112、加速電極113、抑制電極114、接地電
極115が備えられ、これらの電極には多数の開口が設
けられその開口をイオンが通過する。イオンの加速は引
き出し電圧Vexが印加される引き出し電極112と、加
速電圧Vacが印加される加速電極113により行い、抑
制電極114では発散するイオンを捕集してイオン流の
方向性を高めている。引き出し電圧Vexに10kVを印加
して、加速電圧Vacを変化させることにより50〜10
0keVのエネルギーでイオンを加速することができる。
【0039】材料ガスはPH3、B26などであり、水
素や不活性ガスで0.1〜30%程度に希釈したものを
用いる。PH3の場合、PHx +、P2x +、Hx +などがイ
オン種として生成され、質量分離をしない場合はこれら
のイオンが引き出し電極系により加速され基板が設置さ
れた処理室に引き出される。イオンは、図1の中で矢印
で示すとように4枚の電極によりほぼ直線的に引き出さ
れ基板に照射される。
【0040】本実施例では、生成されたプラズマが安定
しているため、基板100に対して均一にイオンを導入
することができる。また、陰極電極116にはCNTが
形成されているため、陰極116の寿命を長くすること
が可能である。
【0041】[実施例2]本実施例では、イオン源を例
に挙げて、図3に基づいて説明する。
【0042】イオン源は、壁面11と壁面11によって
形成されるアーク室(プラズマ室)12を有し、ホスフ
ィンやジボランなどの半導体材料ガスを入口13から導
入する。アーク室12内には陰極電極14と陽極電極1
5を設置し、陰極電極14には単層カーボンナノチュー
ブ(SWNT:Single Wall Carbon Nano Tube)、多層カー
ボンナノチューブ(MWNT:Multi Wall Carbon Nano Tub
e)、VGCF(Vapor Growth Carbon Fiber)、ナノホー
ン、ナノグラスファイバーなどの炭素ナノ構造体を用い
る。
【0043】陰極電極14と陽極電極15の間に、外部
に設置された電源によって電圧を印加することによっ
て、高エネルギーの電子を陰極電極14から放出させ、
入口13から導入された材料ガスの分子と電子が衝突
し、高密度のプラズマが生成する。イオンドーピング装
置においては引出電極によって、このプラズマ中のイオ
ンを引き出し、更に加速電極によってイオンを任意のエ
ネルギーに加速し、所定の半導体基板にイオンを注入す
る。
【0044】また壁面11の外側に棒磁石のN極とS極
を交互に並べ、いわゆるラインカプスとよばれる磁場を
形成することによって、アーク室12中心部のプラズマ
密度を上昇させ、プラズマ密度分布を均一化することが
できる。また大型基板に対応した大容積イオン源の場
合、アーク室12には複数個の陰極電極14を設置する
ことが望ましい。
【0045】このように、カーボンナノチューブが形成
されている陰極電極14を用いてプラズマを生成する
と、効率良く高密度のプラズマを得ることが可能であ
る。また、カーボンナノチューブは耐熱性、電流輸送特
性に優れるため、イオン源中に安定したプラズマを形成
することが可能となる。そして、このような陰極電極を
有するイオンドーピング装置を用いて不純物元素の導入
が行われた半導体膜は、安定した処理が行われるため、
半導体装置の歩留まりを向上させることが可能となる。
【0046】なお、本実施例は、実施例1と組み合わせ
ることが可能である。
【0047】
【発明の効果】本発明の構成を採用することにより、陰
極電極の寿命を伸ばすことが可能となる。そのため、陰
極電極を交換する回数を著しく減らすことができ、クリ
ーンルームの汚染のみならず、人体への悪影響を低減す
る上、コストの低減をも実現し得る。
【0048】また、安定した高密度のプラズマを生成す
ることが可能となる。すなわち、プラズマを用いて行わ
れる成膜、エッチング、イオンの導入と言った工程の安
定化を図ることができる。延いては、このような工程を
経て作製される半導体装置の歩留まりを向上することが
可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一例を示す図。
【図2】 本発明の一例を示す図。
【図3】 本発明を用いたイオン源の例を示す図。
【図4】 直流放電の例を示す図。
【図5】 交流放電の例を示す図。
【符号の説明】
11 壁面 12、13 プラズマ室 14、31、118 陰極電極 15、117 陽極電極 32 磁石 33 遮蔽板 119 CNT
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成15年3月27日(2003.3.2
7)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 ドーピング装置
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 壁面に囲まれ、材料ガスをプラズマ化す
    るためのプラズマ室を有するプラズマ生成装置であっ
    て、前記プラズマ室は、陰極電極と、陽極電極と、前記
    材料ガスの導入手段と、排気手段と、を有し、前記陰極
    電極の一方の表面にカーボンナノチューブが形成されて
    おり、前記陰極電極の前記表面側に前記陽極電極が設置
    されていることを特徴とするプラズマ生成装置。
  2. 【請求項2】 壁面に囲まれ、材料ガスをプラズマ化す
    るためのプラズマ室を有するプラズマ生成装置であっ
    て、前記プラズマ室は、陰極電極と、前記陰極電極の一
    方の表面に形成されたカーボンナノチューブを保護する
    手段と、前記カーボンナノチューブから放出される電子
    の進行方向を制御するための磁場を形成する手段と、前
    記陰極電極の前記表面側に設置された陽極電極と、前記
    材料ガスの導入手段と、排気手段と、を有することを特
    徴とするプラズマ生成装置。
  3. 【請求項3】 壁面に囲まれ、材料ガスをプラズマ化す
    るためのプラズマ室を有するプラズマ生成装置であっ
    て、前記プラズマ室は、陰極電極と、陽極電極と、前記
    材料ガスの導入手段と、排気手段と、を有し、前記陰極
    電極の一方の表面にカーボンナノチューブと伝導性ペー
    ストを有し、前記陰極電極の前記表面側に前記陽極電極
    が設置されていることを特徴とするプラズマ生成装置。
  4. 【請求項4】 壁面に囲まれ、材料ガスをプラズマ化す
    るためのプラズマ室を有するプラズマ生成装置であっ
    て、前記プラズマ室は、陰極電極と、前記陰極電極の一
    方の表面に伝導性ペーストを用いて接着されたカーボン
    ナノチューブを保護する手段と、前記カーボンナノチュ
    ーブから放出される電子の進行方向を制御するための磁
    場を形成する手段と、前記陰極電極の前記表面側に設置
    された陽極電極と、前記材料ガスの導入手段と、排気手
    段と、を有することを特徴とするプラズマ生成装置。
  5. 【請求項5】 請求項3または請求項4において、前記
    カーボンナノチューブを保護する手段は、前記陰極電極
    とプラズマ化された前記材料ガスの間に形成されるシー
    スからの正イオンを遮蔽することを特徴とするプラズマ
    生成装置。
  6. 【請求項6】 請求項3乃至5のいずれか一項におい
    て、前記カーボンナノチューブを保護する手段は、前記
    陰極電極に対して傾斜して設置されていることを特徴と
    するプラズマ生成装置。
  7. 【請求項7】 請求項3乃至6のいずれか一項におい
    て、前記カーボンナノチューブを保護する手段の材料
    は、導電材料または絶縁材料であることを特徴とするプ
    ラズマ生成装置。
JP2002087233A 2002-03-26 2002-03-26 ドーピング装置 Expired - Fee Related JP3842159B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002087233A JP3842159B2 (ja) 2002-03-26 2002-03-26 ドーピング装置
US10/390,882 US7026764B2 (en) 2002-03-26 2003-03-19 Plasma producing apparatus and doping apparatus
US11/362,259 US7382098B2 (en) 2002-03-26 2006-02-27 Plasma producing apparatus and doping apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002087233A JP3842159B2 (ja) 2002-03-26 2002-03-26 ドーピング装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003087725A Division JP4076890B2 (ja) 2003-03-27 2003-03-27 プラズマ生成装置、エッチング装置、スパッタ装置及び成膜装置。

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003282298A true JP2003282298A (ja) 2003-10-03
JP3842159B2 JP3842159B2 (ja) 2006-11-08

Family

ID=28449363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002087233A Expired - Fee Related JP3842159B2 (ja) 2002-03-26 2002-03-26 ドーピング装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US7026764B2 (ja)
JP (1) JP3842159B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007043107A (ja) * 2005-06-30 2007-02-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法
KR100698618B1 (ko) * 2005-07-12 2007-03-22 삼성전자주식회사 플라즈마 가속장치 및 그것을 구비하는 플라즈마 처리시스템
JP2007095536A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Univ Nagoya ラジカル発生装置

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3842159B2 (ja) * 2002-03-26 2006-11-08 株式会社半導体エネルギー研究所 ドーピング装置
US7013834B2 (en) * 2002-04-19 2006-03-21 Nordson Corporation Plasma treatment system
AU2003294588A1 (en) * 2002-12-09 2004-06-30 Rensselaer Polytechnic Institute Embedded nanotube array sensor and method of making a nanotube polymer composite
US6975073B2 (en) * 2003-05-19 2005-12-13 George Wakalopulos Ion plasma beam generating device
US7201627B2 (en) * 2003-07-31 2007-04-10 Semiconductor Energy Laboratory, Co., Ltd. Method for manufacturing ultrafine carbon fiber and field emission element
US7879701B2 (en) * 2005-06-30 2011-02-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of semiconductor device
US20070158187A1 (en) * 2006-01-12 2007-07-12 Wagner Andrew V Cathode for a vacuum sputtering system
TW200849344A (en) * 2007-03-23 2008-12-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Apparatus and method for plasma doping
US9001956B2 (en) * 2007-11-28 2015-04-07 Schlumberger Technology Corporation Neutron generator
CN101582449B (zh) * 2008-05-14 2011-12-14 清华大学 薄膜晶体管
JP5393667B2 (ja) * 2008-06-02 2014-01-22 シャープ株式会社 プラズマ処理装置、それを用いた成膜方法およびエッチング方法
EP2324687B1 (en) * 2008-08-20 2016-01-27 Vision Dynamics Holding B.V. Device for generating a plasma discharge for patterning the surface of a substrate
JP5380263B2 (ja) * 2009-12-15 2014-01-08 キヤノンアネルバ株式会社 イオンビーム発生器
CN104701123A (zh) * 2015-03-24 2015-06-10 中国计量学院 一种碳纳米管冷阴极考夫曼离子源装置
KR20210094694A (ko) * 2020-01-21 2021-07-30 삼성전자주식회사 기판 처리 장치, 물질막 증착 장치, 및 상압 화학 기상 증착 장치

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5003178A (en) * 1988-11-14 1991-03-26 Electron Vision Corporation Large-area uniform electron source
JPH0447647A (ja) 1990-06-11 1992-02-17 Nissin Electric Co Ltd イオン源装置
JP3254819B2 (ja) 1993-06-10 2002-02-12 石川島播磨重工業株式会社 イオン源装置
JPH07105893A (ja) 1993-10-01 1995-04-21 Hitachi Ltd イオンビーム処理装置および加工法
CN100367461C (zh) * 1993-11-05 2008-02-06 株式会社半导体能源研究所 一种制造薄膜晶体管和电子器件的方法
US5980999A (en) * 1995-08-24 1999-11-09 Nagoya University Method of manufacturing thin film and method for performing precise working by radical control and apparatus for carrying out such methods
JP4562818B2 (ja) * 1997-02-14 2010-10-13 パナソニック株式会社 人工格子多層膜の着膜装置
JPH10275695A (ja) 1997-03-28 1998-10-13 Nissin Electric Co Ltd プラズマ装置へのガス供給方法及びプラズマ処理装置並びにイオンビーム装置
JP3260103B2 (ja) 1997-06-13 2002-02-25 川崎重工業株式会社 電子ビーム励起プラズマ発生装置
JP3017161B2 (ja) * 1998-03-16 2000-03-06 双葉電子工業株式会社 単層カーボンナノチューブの製造方法
JPH11302839A (ja) * 1998-04-17 1999-11-02 Toshiba Corp スパッタリング装置
JP4008123B2 (ja) 1998-06-04 2007-11-14 株式会社アルバック 炭素系超微細冷陰極及びその作製方法
US6204508B1 (en) 1998-08-07 2001-03-20 Axcelis Technologies, Inc. Toroidal filament for plasma generation
JP2000203819A (ja) 1999-01-14 2000-07-25 Osaka Gas Co Ltd 直線状カ―ボンナノチュ―ブの製造方法
CN1222975C (zh) * 1999-01-19 2005-10-12 佳能株式会社 制造图像形成装置的方法
JP2000277003A (ja) 1999-03-23 2000-10-06 Futaba Corp 電子放出源の製造方法及び電子放出源
JP2001035351A (ja) 1999-07-19 2001-02-09 Sharp Corp 円筒型電子源を用いた冷陰極及びその製造方法
JP2001048512A (ja) 1999-08-04 2001-02-20 Ulvac Japan Ltd 垂直配向カーボンナノチューブの作製方法
US6756729B1 (en) * 1999-08-23 2004-06-29 Samsung Sdi Co., Ltd. Flat panel display and method of fabricating same
JP3471263B2 (ja) 1999-09-22 2003-12-02 株式会社東芝 冷陰極電子放出素子及びその製造方法
JP2001126609A (ja) 1999-10-26 2001-05-11 Futaba Corp 電子放出素子及び蛍光発光型表示器
JP2001143894A (ja) 1999-11-10 2001-05-25 Jeol Ltd プラズマ発生装置及び薄膜形成装置
JP3451048B2 (ja) 1999-11-24 2003-09-29 シャープ株式会社 冷陰極及びその製造方法
JP3558948B2 (ja) 2000-02-25 2004-08-25 シャープ株式会社 電子源アレイ及びその製造方法
JP3502804B2 (ja) * 2000-03-17 2004-03-02 株式会社 ケイアンドティ カーボンナノチューブの成長方法並びにそれを用いた電子銃及びプローブの製造方法
JP2002025425A (ja) * 2000-07-07 2002-01-25 Hitachi Ltd 電子エミッターとその製造法および電子線装置
JP2002022899A (ja) 2000-07-10 2002-01-23 Iwasaki Electric Co Ltd 電子線照射装置
JP3463091B2 (ja) 2000-08-29 2003-11-05 独立行政法人産業技術総合研究所 カーボンナノチューブの製造方法
JP3825336B2 (ja) * 2001-03-12 2006-09-27 双葉電子工業株式会社 ナノカーボンの製造方法及びナノカーボンの製造装置
JP2002331236A (ja) 2001-05-10 2002-11-19 Sharp Corp 電子ビーム照射装置およびそれを用いたガス処理装置
JP3606232B2 (ja) * 2001-06-01 2005-01-05 富士ゼロックス株式会社 炭素構造体の製造装置および製造方法
TW502282B (en) * 2001-06-01 2002-09-11 Delta Optoelectronics Inc Manufacture method of emitter of field emission display
JP3842159B2 (ja) * 2002-03-26 2006-11-08 株式会社半導体エネルギー研究所 ドーピング装置
US7323399B2 (en) * 2002-05-08 2008-01-29 Applied Materials, Inc. Clean process for an electron beam source

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007043107A (ja) * 2005-06-30 2007-02-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法
KR100698618B1 (ko) * 2005-07-12 2007-03-22 삼성전자주식회사 플라즈마 가속장치 및 그것을 구비하는 플라즈마 처리시스템
US7602111B2 (en) 2005-07-12 2009-10-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Plasma accelerating apparatus and plasma processing system including secondary electron amplification coating layer formed at inner wall of channel
JP2007095536A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Univ Nagoya ラジカル発生装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3842159B2 (ja) 2006-11-08
US7026764B2 (en) 2006-04-11
US7382098B2 (en) 2008-06-03
US20030184235A1 (en) 2003-10-02
US20060144517A1 (en) 2006-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7382098B2 (en) Plasma producing apparatus and doping apparatus
JP4814986B2 (ja) カーボンナノチューブ成長方法
US7578980B2 (en) Producing apparatus and producing method for manufacturing carbon structure
US6780075B2 (en) Method of fabricating nano-tube, method of manufacturing field-emission type cold cathode, and method of manufacturing display device
US7262555B2 (en) Method and system for discretely controllable plasma processing
US8263944B2 (en) Directional gas injection for an ion source cathode assembly
JP2008056546A (ja) 炭素構造体の製造装置及び製造方法
US20140252953A1 (en) Plasma generator
JP2008112580A (ja) イオンフロー制御型プラズマ源、及び、誘導フラーレンの製造方法
JP2004256375A (ja) カーボンナノチューブの製造装置
JP4076890B2 (ja) プラズマ生成装置、エッチング装置、スパッタ装置及び成膜装置。
US20080226835A1 (en) Production Method of Material Film and Production Apparatus of Material Film
US20090166555A1 (en) RF electron source for ionizing gas clusters
JP2010277871A (ja) 電子サイクロトロン共鳴イオン源装置
JP2005255492A (ja) カーボンナノ構造の製造装置およびその製造方法
KR101424333B1 (ko) 반도체 이온 주입을 위한 이온빔원의 시스템 및 방법
CN1209947C (zh) 等离子体发生装置
RU2796652C1 (ru) Устройство для формирования пучка кластерных или атомарных ионов газа
KR102494599B1 (ko) 엑스레이 튜브용 에미터 및 이의 제조방법
KR20040012264A (ko) 고효율 마그네트론 스퍼터링 장치
Han et al. High field-emission current of carbon nanotubes grown on TiN-coated Ta substrate for electron emitters in a microwave power amplifier
JP2002539580A (ja) 電界放出素子および利用方法
JP2009146751A (ja) 電子放出素子、電子源、および、画像表示装置
Oohara et al. Alkali-halogen plasma generation using alkali salt
Kwon Effects on field emission characteristics of Ar ion bombardment for screen-printed carbon nanotube emitters

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050401

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060808

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060809

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090818

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090818

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100818

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100818

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110818

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110818

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120818

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120818

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130818

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees