JP2003275605A - イオン交換体の再生方法及び再生装置 - Google Patents

イオン交換体の再生方法及び再生装置

Info

Publication number
JP2003275605A
JP2003275605A JP2002080974A JP2002080974A JP2003275605A JP 2003275605 A JP2003275605 A JP 2003275605A JP 2002080974 A JP2002080974 A JP 2002080974A JP 2002080974 A JP2002080974 A JP 2002080974A JP 2003275605 A JP2003275605 A JP 2003275605A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion exchanger
electrode
exchanger
partition wall
regeneration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002080974A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4172945B2 (ja
Inventor
Michihiko Shirakashi
充彦 白樫
Hozumi Yasuda
穂積 安田
Masayuki Kumegawa
正行 粂川
Itsuki Obata
厳貴 小畠
Osamu Nabeya
治 鍋谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2002080974A priority Critical patent/JP4172945B2/ja
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to US10/432,397 priority patent/US7427345B2/en
Priority to PCT/JP2002/012519 priority patent/WO2003046263A1/en
Priority to CNB028276892A priority patent/CN100346008C/zh
Priority to TW091134719A priority patent/TWI267417B/zh
Priority to EP02785985A priority patent/EP1448811A4/en
Priority to KR1020047008256A priority patent/KR100917433B1/ko
Publication of JP2003275605A publication Critical patent/JP2003275605A/ja
Priority to US12/222,733 priority patent/US8133380B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4172945B2 publication Critical patent/JP4172945B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 イオン交換体を容易かつ迅速に再生すること
ができ、しかも再生後のイオン交換体の洗浄の負荷を極
めて小さくできるようにする。 【解決手段】 汚染されたイオン交換体10を再生する
にあたり、再生に付する被処理イオン交換体10を、隔
壁12を挟んで配置した再生電極14と該再生電極14
と対となる対電極16の間の該対電極16と隔壁12と
の間に配置し、隔壁12と再生電極14との間、及び隔
壁14と対電極16との間にそれぞれ液体を供給しつ
つ、再生電極14と対電極16との間に電圧を印加す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、イオン交換体の再
生方法及び再生装置に係り、特に半導体ウェハ等の基板
表面の導電性材料を加工したり、基板表面に付着した不
純物を除去したりする電解加工に使用するイオン交換体
に取り込まれた金属またはその他のイオンを電気的に除
去してイオン交換体を再生するようにしたイオン交換体
の再生方法及びその再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体ウェハ等の基板上に回路を
形成するための配線材料として、アルミニウムまたはア
ルミニウム合金に代えて、電気抵抗率が低くエレクトロ
マイグレーション耐性が高い銅(Cu)を用いる動きが
顕著になっている。この種の銅配線は、基板の表面に設
けた微細凹みの内部に銅を埋込むことによって一般に形
成される。この銅配線を形成する方法としては、CV
D、スパッタリング及びめっきといった手法があるが、
いずれにしても、基板のほぼ全表面に銅を成膜して、化
学機械的研磨(CMP)により不要の銅を除去するよう
にしている。
【0003】図8は、この種の銅配線基板Wの一製造例
を工程順に示すもので、先ず、図8(a)に示すよう
に、半導体素子を形成した半導体基材1上の導電層1a
の上にSiOからなる酸化膜やLow−K材膜等の絶
縁膜2を堆積し、この絶縁膜2の内部に、リソグラフィ
・エッチング技術によりコンタクトホール3と配線用の
溝4を形成し、その上にTaN等からなるバリア膜5、
更にその上に電解めっきの給電層としてシード層7を形
成する。
【0004】そして、図8(b)に示すように、基板W
の表面に銅めっきを施すことで、コンタクトホール3及
び溝4内に銅を充填するとともに、絶縁膜2上に銅膜6
を堆積する。その後、化学機械的研磨(CMP)によ
り、絶縁膜2上の銅膜6及びバリア膜5を除去して、コ
ンタクトホール3及び配線用の溝4に充填させた銅膜6
の表面と絶縁膜2の表面とをほぼ同一平面にする。これ
により、図8(c)に示すように銅膜6からなる配線が
形成される。
【0005】また、最近ではあらゆる機器の構成要素に
おいて微細化かつ高精度化が進み、サブミクロン領域で
の物作りが一般的となるにつれて、加工法自体が材料の
特性に与える影響は益々大きくなっている。このような
状況下においては、従来の機械加工のように、工具が被
加工物を物理的に破壊しながら除去していく加工法で
は、加工によって被加工物に多くの欠陥を生み出してし
まうため、被加工物の特性が劣化する。従って、いかに
材料の特性を損なうことなく加工を行うことができるか
が問題となってくる。
【0006】この問題を解決する手段として開発された
特殊加工法に、化学研磨や電解加工、電解研磨がある。
これらの加工法は、従来の物理的な加工とは対照的に、
化学的溶解反応を起こすことによって、除去加工等を行
うものである。従って、塑性変形による加工変質層や転
位等の欠陥は発生せず、前述の材料の特性を損なわずに
加工を行うといった課題が達成される。
【0007】電解加工として、イオン交換体を使用した
ものが開発されている。これは、被加工物の表面に、加
工電極に取付けたイオン交換体と、給電電極に取付けた
イオン交換体とを接触乃至近接させ、加工電極と給電電
極との間に電源を介して電圧を印加しつつ、加工電極及
び給電電極と被加工物との間に液体供給部から超純水等
の液体を供給して、被加工物の表面層の除去加工を行う
ようにしたものである。
【0008】ここで、例えばイオン交換体としてカチオ
ン交換基(陽イオン交換基)を付与したカチオン交換体
を使用して銅の電解加工を行うと、銅が陽イオン交換基
に捕らえられる。このように銅による陽イオン交換基の
消費が進むと、継続的な加工が不能になる。また、イオ
ン交換体としてアニオン交換基(陰イオン交換基)を付
与したアニオン交換体を使用して銅の電解加工を行う
と、イオン交換体(アニオン交換体)の表面に銅の酸化
物が生成されて付着し、次の処理基板の表面を汚染する
おそれがある。
【0009】そこで、このような場合に、イオン交換体
を再生することで、これらの弊害を除去することが考え
られる。イオン交換体の再生とは、イオン交換体に捕ら
えられたイオンを、例えばカチオン交換体の場合は水素
イオンに、アニオン交換体の場合は水酸化物イオンにそ
れぞれ交換することである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】イオン交換体を使用し
たイオン交換法は、精製、分離、濃縮など様々な目的に
利用されており、イオン交換体の再生は、カチオン交換
体の場合は酸を、アニオン交換体の場合はアルカリを用
い、これらの液体にイオン交換体を浸漬させることで一
般に行われる。ここで、例えば、ナトリウムイオンのよ
うに、水素イオンとイオン選択係数が近いイオンを捕ら
えた陽イオン交換体にあっては、酸に浸漬させることに
よって非常に短時間でイオン交換体を再生することがで
きる。しかし、イオン選択係数の大きいイオンを捕らえ
たイオン交換体を酸やアルカリを使用して再生すると、
この再生速度が非常に遅い。また再生後のイオン交換体
には、薬液が高濃度に残留し、このため、イオン交換体
の洗浄が必要となる。
【0011】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、イオン交換体を容易かつ迅速に再生することがで
き、しかも再生後のイオン交換体の洗浄の負荷を極めて
小さくできるようにしたイオン交換体の再生方法及び再
生装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、汚染されたイオン交換体を再生するにあたり、再生
に付する被処理イオン交換体を、隔壁を挟んで配置した
再生電極と該再生電極と対となる対電極の間の該対電極
と前記隔壁との間に配置し、前記隔壁と前記再生電極と
の間、及び前記隔壁と前記対電極との間にそれぞれ液体
を供給しつつ、前記再生電極と前記対電極との間に電圧
を印加することを特徴とするイオン交換体の再生方法で
ある。
【0013】これにより、イオン交換体を固体電解質と
したイオン交換反応により、イオン交換体内に取り込ん
だイオンを再生電極に向け移動させて隔壁を通過させ、
この隔壁を通過したイオンを隔壁と再生電極との間に供
給される液体の流れで系外に排出してイオン交換体を再
生することができる。
【0014】請求項2に記載の発明は、前記隔壁は、イ
オン交換体であることを特徴とする請求項1記載のイオ
ン交換体の再生方法である。隔壁は、被処理イオン交換
体中の不純物イオンの移動の妨げとなることなく、しか
も隔壁と再生電極との間を流れる液体(液体中のイオン
も含む)の被処理イオン交換体側への透過を阻止できる
ことが望ましい。イオン交換体は、カチオンまたはアニ
オンの一方を選択的に透過することができ、しかも、膜
状のイオン交換体を用いることで、隔壁と再生電極との
間を流れる液体が被処理イオン交換体側に進入すること
を防止することができ、これらの要求を満たすことがで
きる。
【0015】請求項3に記載の発明は、前記被処理イオ
ン交換体が陽イオン交換体であるときは、前記隔壁を陽
イオン交換体とし、前記被処理イオン交換体が陰イオン
交換体であるときは、前記隔壁を陰イオン交換体とする
ことを特徴とする請求項2記載のイオン交換体の再生方
法である。このように、被処理イオン交換体と隔膜(イ
オン交換体)が同じ極性のイオン交換基を有するように
することで、被処理イオン交換体から出たイオンのみを
隔壁を透過させ、隔壁と再生電極との間を流れる液体中
のイオンが隔壁を透過して被処理イオン交換体側に移動
することを防止することができる。
【0016】請求項4に記載の発明は、前記被処理イオ
ン交換体が陽イオン交換体であるときは、前記再生電極
を陰極とし、前記被処理イオン交換体が陰イオン交換体
であるときは、前記再生電極を陽極とすることを特徴と
する請求項1乃至3のいずれかに記載のイオン交換体の
再生方法である。
【0017】カチオン交換体にあっては、カチオン交換
体の内部をカチオン(陽イオン)のみが電気的に移動可
能である。そこで、カチオン交換体を再生する時には、
図1に示すように、再生に付する被処理イオン交換体と
してのカチオン交換体10を、隔壁12を挟んで配置し
た再生電極14と該再生電極14と対となる対電極16
の間の該対電極16と隔壁12との間に配置し、この隔
壁12と再生電極14との間に第1の液体供給部18か
ら液体Aを、隔壁12と対電極16との間に第2の液体
供給部20から液体Bをそれぞれ供給し、同時に、再生
電極14と対電極源16との間に、再生電源22から再
生電極14を陰極、対電極16を陽極とした電圧を印加
する。すると、カチオン交換体(被処理イオン交換体)
10の内部に加工中に取り込まれた被加工物の溶解イオ
ンMが対電極(陽極)16側から再生電極(陰極)1
4側に向かって移動して隔壁12を通過し、この隔壁1
2を通過したイオンMは、隔壁12と再生電極14と
の間に供給される液体Aの流れで系外に排出され、これ
によって、カチオン交換体10が再生される。
【0018】一方、アニオン交換体にあっては、アニオ
ン交換体の内部をアニオン(陰イオン)のみが電気的に
移動可能である。そこで、アニオン交換体を再生する時
には、図2に示すように、再生に付する被処理イオン交
換体としてのアニオン交換体10aを、隔壁12を挟ん
で配置した再生電極14と該再生電極14と対となる対
電極16の間の該対電極16と隔壁12との間に配置
し、この隔壁12と再生電極14との間に第1の液体供
給部18から液体Aを、隔壁12と対電極16との間に
第2の液体供給部20から液体Bをそれぞれ供給し、同
時に、再生電極14と対電極16との間に、再生電源2
2から再生電極14を陽極、対電極16を陰極とした電
圧を印加する。すると、アニオン交換体(被処理イオン
交換体)10aの内部のイオンXは、対電極(陰極)
16側から再生電極(陽極)14側に向かって移動して
隔壁12を通過し、この隔壁12を通過したイオンX
は、隔壁12と再生電極14との間に供給される液体A
の流れで系外に排出され、これによって、アニオン交換
体10aが再生される。
【0019】請求項5に記載の発明は、前記液体のう
ち、前記隔壁と前記対電極との間に供給される液体が、
超純水、純水、または電気伝導度が500μS/cm以
下の液体であることを特徴とする請求項1乃至4のいず
れかに記載のイオン交換体の再生方法である。ここで、
超純水は、例えば電気伝導度(1atm,25℃換算
値、以下同じ)が0.1μS/cm以下の水で、純水
は、例えば電気伝導度が10μS/cm以下の水ある。
このように、液体として、純水、より好ましくは、超純
水を使用してイオン交換体を再生することで、イオン交
換体に不純物を残さない清浄な再生を行うことができ、
これによって、イオン交換体を再生した後の洗浄や廃液
の処理を簡素化することができる。
【0020】請求項6に記載の発明は、前記液体のう
ち、前記隔壁と前記再生電極との間に供給される液体
が、導電率が50μS/cm以上でかつイオン交換体か
ら除去されるイオンとの反応により難溶性もしくは不溶
性の化合物を生成しない液体であることを特徴とする請
求項1乃至5のいずれかに記載のイオン交換体の再生方
法である。
【0021】このように、隔壁と再生電極との間に誘電
率が50μS/cm以上でかつ被処理イオン交換体から
除去されるイオンとの反応により難溶性もしくは不溶性
の化合物を生じない液体を供給することで、この液体の
電気抵抗を下げて再生部の消費電力を少なく抑え、しか
も不純物イオンとの反応で不溶性の化合物(2次生成
物)が生成されて隔壁に付着して再生電極と対電極との
間の電気抵抗が変化し、制御が困難となることを防止す
ることができる。この液体は、排出する不純物イオンの
種類によって選択されるが、例えば、銅の電解研磨に使
用したイオン交換体を再生する時に使用するものとし
て、濃度が1wt%以上の硫酸を挙げることができる。
【0022】請求項7に記載の発明は、イオン交換体を
再生するイオン交換体の再生装置であって、隔壁と、前
記隔壁を挟んで被処理イオン交換体に対峙する位置に配
置された再生電極と、被処理イオン交換体および前記隔
壁を挟んで、前記再生電極と対峙する位置に配置された
対電極と、前記再生電極と前記対電極との間に電圧を印
加する電源と、前記隔壁と前記再生電極との間、及び前
記隔壁と対電極との間にそれぞれ液体を供給する液体供
給部を有することを特徴とするイオン交換体の再生装置
である。
【0023】これにより、再生に付する被処理イオン交
換体を、隔壁を挟んで再生電極と対峙する位置に位置さ
せ、再生電極と電極板との間に電圧を印加しながら、電
極板と隔壁との間、及び排出部にそれぞれ液体を供給す
ることで、被処理イオン交換体を再生することができ
る。
【0024】請求項8に記載の発明は、前記隔壁は、イ
オン交換体であることを特徴とする請求項7記載のイオ
ン交換体の再生装置である。請求項9に記載の発明は、
前記被処理イオン交換体が陽イオン交換体であるとき
は、前記隔壁を陽イオン交換体とし、前記被処理イオン
交換体が陰イオン交換体であるときは、前記隔壁を陰イ
オン交換体とすることを特徴とする請求項8記載のイオ
ン交換体の再生装置である。請求項10に記載の発明
は、前記被処理イオン交換体が陽イオン交換体であると
きは、前記再生電極を陰極とし、前記被処理イオン交換
体が陰イオン交換体であるときは、前再生電極を陽極と
することを特徴とする請求項7乃至9のいずれかに記載
のイオン交換体の再生装置である。
【0025】請求項11に記載の発明は、前記液体のう
ち、前記電極板と前記隔壁との間に供給される液体が、
超純水、純水、または電気伝導度が500μS/cm以
下の液体であることを特徴とする請求項7乃至10のい
ずれかに記載のイオン交換体の再生装置である。請求項
12に記載の発明は、前記液体のうち、前記排出部に供
給される液体が、導電率が50μS/cm以上でかつ前
記被処理イオン交換体から除去されるイオンとの反応に
より難溶性もしくは不溶性の化合物を生成しない液体で
あることを特徴とする請求項7乃至11のいずれかに記
載のイオン交換体の再生装置である。
【0026】請求項13に記載の発明は、前記電極板と
前記再生電極との間に電圧を印加したときの電解電流及
び電解時間、または電気量の少なくとも一方をモニタす
るモニタ部を有することを特徴とする請求項7乃至12
のいずれかに記載のイオン交換体の再生装置である。イ
オン交換体の再生量は、電解電流と電解時間の積、つま
り電気量で決まる。従って、電解電流及び電解時間、ま
たは電気量の少なくとも一方をモニタ部でモニタするこ
とで、再生量をコントロールして、再生の終点を検知す
ることができる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。なお、以下の例では、被加工物と
して基板を使用し、基板の表面に堆積させた銅を除去
(研磨)するようにした電解加工装置(電解研磨装置)
に適用した例を示しているが、基板以外にも適用でき、
更には、他の電解加工にも適用できることは勿論であ
る。
【0028】図3乃至図6は、本発明の実施の形態のイ
オン交換体の再生装置を備えた電解加工装置48を示
す。この電解加工装置48は、水平方向に揺動自在な揺
動アーム50の自由端に垂設されて基板Wを下向き(フ
ェイスダウン)に吸着保持する基板保持部52と、円板
状で絶縁体からなり、例えば扇状の加工電極54と給電
電極56とを該加工電極54と給電電極56の表面(上
面)を露出させて交互に埋設し、これらの加工電極54
と給電電極56の表面を膜状のイオン交換体58で一体
に覆った電極部60と、水平方向に揺動自在な揺動アー
ム62の自由端に垂設されてイオン交換体58の再生を
行う再生部64から主に構成されている。
【0029】ここに、この例では、加工電極54と給電
電極56とを有する電極部60として、基板保持部52
で保持する基板Wの直径よりやや大きな直径を有するも
のを使用し、電極部60を相対運動(ここではスクロー
ル運動)させて、基板Wの表面全域を同時に電解加工す
るようにしている。
【0030】イオン交換体58は、例えば、アニオン交
換能またはカチオン交換能を付与した不織布で構成され
ている。カチオン交換体は、好ましくは強酸性カチオン
交換基(スルホン酸基)を担持したものであるが、弱酸
性カチオン交換基(カルボキシル基)を担持したもので
もよい。また、アニオン交換体は、好ましくは強塩基性
アニオン交換基(4級アンモニウム基)を担持したもの
であるが、弱塩基性アニオン交換基(3級以下のアミノ
基)を担持したものでもよい。
【0031】ここで、例えば強塩基アニオン交換能を付
与した不織布は、繊維径20〜50μmで空隙率が約9
0%のポリオレフィン製の不織布に、γ線を照射した後
グラフト重合を行う所謂放射線グラフト重合法により、
グラフト鎖を導入し、次に導入したグラフト鎖をアミノ
化して4級アンモニウム基を導入して作製される。導入
されるイオン交換基の容量は、導入するグラフト鎖の量
により決定される。グラフト重合を行うためには、例え
ばアクリル酸、スチレン、メタクリル酸グリシジル、更
にはスチレンスルホン酸ナトリウム、クロロメチルスチ
レン等のモノマーを用い、これらのモノマー濃度、反応
温度及び反応時間を制御することで、重合するグラフト
量を制御することができる。従って、グラフト重合前の
素材の重量に対し、グラフト重合後の重量の比をグラフ
ト率と呼ぶが、このグラフト率は、最大で500%が可
能であり、グラフト重合後に導入されるイオン交換基
は、最大で5meq/gが可能である。
【0032】強酸性カチオン交換能を付与した不織布
は、前記強塩基性アニオン交換能を付与する方法と同様
に、繊維径20〜50μmで空隙率が約90%のポリオ
レフィン製の不織布に、γ線を照射した後グラフト重合
を行う所謂放射線グラフト重合法により、グラフト鎖を
導入し、次に導入したグラフト鎖を、例えば加熱した硫
酸で処理してスルホン酸基を導入して作製される。ま
た、加熱したリン酸で処理すればリン酸基が導入でき
る。ここでグラフト率は、最大で500%が可能であ
り、グラフト重合後に導入されるイオン交換基は、最大
で5meq/gが可能である。
【0033】なお、イオン交換体58の素材の材質とし
ては、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィ
ン系高分子、またはその他有機高分子が挙げられる。ま
た素材形態としては、不織布の他に、織布、シート、多
孔質材、短繊維、ネット等が挙げられる。
【0034】ここで、ポリエチレンやポリプロピレン
は、放射線(γ線と電子線)を先に素材に照射する(前
照射)ことで、素材にラジカルを発生させ、次にモノマ
ーと反応させてグラフト重合することができる。これに
より、均一性が高く、不純物が少ないグラフト鎖ができ
る。一方、その他の有機高分子は、モノマーを含浸さ
せ、そこに放射線(γ線、電子線、紫外線)を照射(同
時照射)することで、ラジカル重合することができる。
この場合、均一性に欠けるが、ほとんどの素材に適用で
きる。
【0035】このように、イオン交換体58をアニオン
交換能またはカチオン交換能を付与した不織布で構成す
ることで、通水性があるために、純水または超純水や電
解液等の液体が不織布の内部を自由に移動して、液相中
のイオンとイオン交換体のイオン交換基の間で容易にイ
オン交換反応が行える。
【0036】ここで、イオン交換体58をアニオン交換
能またはカチオン交換能の一方を付与したもので構成す
ると、電解加工できる被加工材料が制限されるばかりで
なく、極性により不純物が生成しやすくなる。そこで、
イオン交換体58を、アニオン交換能を有するアニオン
交換体とカチオン交換能を有するカチオン交換体とを同
心状に配置して一体構成としてもよい。また、アニオン
交換能を有するアニオン交換体とカチオン交換能を有す
るカチオン交換体とを重ね合わせたり、扇状に形成し
て、交互に配置したりしてもよい。更に、イオン交換体
58自体にアニオン交換能とカチオン交換能の双方の交
換基を付与するようにしてもよい。このようなイオン交
換体としては、陰イオン交換基と陽イオン交換基を任意
に分布させて存在させた両性イオン交換体、陽イオン交
換基と陰イオン交換基を層状に存在させたバイポーラー
イオン交換体、更には陽イオン交換基が存在する部分と
陰イオン交換基が存在する部分とを厚さ方向に並列に存
在させたモザイクイオン交換体が挙げられる。なお、ア
ニオン交換能またはカチオン交換能の一方を付与したイ
オン交換体58を、被加工材料に合わせて使い分けても
よいことは勿論である。
【0037】基板保持部52を揺動させる揺動アーム5
0は、上下動用モータ66の駆動に伴ってボールねじ6
8を介して上下動し、揺動用モータ70の駆動に伴って
回転する揺動軸72の上端に連結されている。また、基
板保持部52は、揺動アーム50の自由端に取付けた自
転用モータ74に接続され、この自転用モータ74の駆
動に伴って回転(自転)するようになっている。
【0038】電極部60は、中空モータ76に直結さ
れ、この中空モータ76の駆動に伴って、スクロール運
転(並進回転運動)するようになっている。電極部60
の中央部には、純水、より好ましくは超純水を供給する
純水供給部としての貫通孔60aが設けられている。そ
して、この貫通孔60aは、スクロール運転を行わせる
ために中空モータ76の駆動軸に直結したクランク軸7
8に設けた貫通孔78aを介して、中空モータ76の中
空部の内部を延びる純水供給管80に接続されている。
純水または超純水は、この貫通孔60aを通して供給さ
れた後、吸水性を有するイオン交換体58を通じて加工
面全域に供給される。
【0039】ここで、純水は、例えば電気伝導度が10
μS/cm以下の水であり、超純水は、例えば電気伝導
度が0.1μS/cm以下の水である。なお、純水の代
わりに電気伝導度500μS/cm以下の液体や、任意
の電解液を使用してもよい。加工中に液体を供給するこ
とにより、加工生成物、気体溶解等による加工不安定性
を除去でき、均一な、再現性のよい加工が得られる。
【0040】この例では、電極部60の上面に複数の扇
状の電極板82を円周方向に沿って埋設し、この電極板
82に、コントロールボックス84を介して、電源86
の陰極と陽極とを交互に接続することで、電源86の陰
極と接続した電極板82が加工電極54となり、陽極と
接続した電極板82が給電電極56となるようにしてい
る。これは、例えば銅にあっては、陰極側に電解加工作
用が生じるからであり、被加工材料によっては、陰極側
が給電電極となり、陽極側が加工電極となるようにして
もよい。つまり、被加工材料が、例えば銅、モリブデン
または鉄にあっては、陰極側に電解加工作用が生じるた
め、電源86の陰極と接続した電極板82が加工電極5
4となり、陽極と接続した電極板82が給電電極56と
なるようにする。一方、例えばアルミニウムやシリコン
にあっては、陽極側で電解加工作用が生じるため、電極
の陽極に接続した電極を加工電極となし、陰極側を給電
電極とすることができる。
【0041】このように、加工電極54と給電電極56
とを電極部60の円周方向に沿って分割して交互に設け
ることで、基板の導電体膜(被加工物)等への固定給電
部を不要となして、基板の全面の加工が可能となる。更
に、パルス状もしくは周期的に(交流)に正負を変化さ
せることで、電解生成物を溶解させ、加工の繰返しの多
重性によって平坦度を向上させることができる。
【0042】ここで、加工電極54及び給電電極56
は、電解反応により、電極の酸化または溶出が一般に問
題となる。このため、この給電電極56の素材として、
電極に広く使用されている金属や金属化合物よりも、炭
素、比較的不活性な貴金属、導電性酸化物または導電性
セラミックスを使用することが好ましい。この貴金属を
素材とした電極としては、例えば、下地の電極素材にチ
タンを用い、その表面にめっきやコーティングで白金ま
たはイリジウムを付着させ、高温で焼結して安定化と強
度を保つ処理を行ったものが挙げられる。セラミックス
製品は、一般に無機物質を原料として熱処理によって得
られ、各種の非金属・金属の酸化物・炭化物・窒化物な
どを原料として、様々な特性を持つ製品が作られてい
る。この中に導電性を持つセラミックスもある。電極が
酸化すると電極の電気抵抗値が増加し、印加電圧の上昇
を招くが、このように、白金などの酸化しにくい材料や
酸化イリジウムなどの導電性酸化物で電極表面を保護す
ることで、電極素材の酸化による電極抵抗の増大を防止
することができる。
【0043】ここで、例えばイオン交換体58としてカ
チオン交換基を付与したものを使用して銅の電解加工を
行うと、加工終了後に銅がイオン交換体(カチオン交換
体)58のイオン交換基の多くを占有しており、次の加
工を行う時の加工効率が悪くなる。また、イオン交換体
58としてアニオン交換基を付与したものを使用して銅
の電解加工を行うと、イオン交換体(アニオン交換体)
58の表面に銅の酸化物の微粒子が生成されて付着し、
次の処理基板の表面を汚染するおそれがある。
【0044】再生部64は、このような場合に、イオン
交換体58を再生して、これらの弊害を除去するための
もので、上下動用モータ90の駆動に伴ってボールねじ
92を介して上下動し、揺動用モータ94の駆動に伴っ
て回転する揺動軸96の上端に連結した揺動アーム62
の自由端に垂設されている。なお、この上下動用モータ
90の代わりにシリンダを使用し、シリンダによって揺
動軸96を上下動させるようにしてもよい。
【0045】この再生部64は、円板状の再生電極保持
体98を有し、この再生電極保持体98には、下方に開
口する円形の凹部98aが設けられ、この凹部98aの
下方開口端を隔壁102で閉塞することで、隔壁102
で区画された排出部100が形成され、この凹部98a
の底部には、円板状の再生電極104が取付けられてい
る。更に、再生電極保持体98の直径方向に沿った両端
部には、排出部100の外周部に連通する液体入口98
bと液体出口98cがそれぞれ設けられ、この液体入口
98bと液体出口98cは、液体入口管106aと液体
出口管106bにそれぞれ接続されている。これによ
り、液体入口管106aから排出部100内に液体が供
給され、この排出部100内に供給された液体は、排出
部100の内部を満たして該液体内に再生電極104を
浸漬させながら、排出部100を一方向に流れて液体出
口管106bから順次外部に排出されるようになってい
る。
【0046】この隔壁102は、下記のように、再生に
付する被処理イオン交換体58から除去される不純物イ
オンの移動の妨げとなることなく、しかも排出部100
の内部の隔壁102と再生電極104との間を流れる液
体(液体中のイオンも含む)の被処理イオン交換体58
側への透過を防止できることが望ましい。具体例として
は、イオン交換体は、カチオンまたはアニオンの一方を
選択的に透過することができ、しかも、膜状のイオン交
換体を用いることで、隔壁102と再生電極104との
間を流れる液体が被処理イオン交換体58側に進入する
ことを防止することができ、これらの要求を満たすこと
ができる。
【0047】また、排出部100内に供給する液体は、
例えば、電解液で、導電率が高くかつ被処理イオン交換
体から除去されるイオンとの反応により難溶性もしくは
不溶性の化合物を生成しない液体であることが望まし
い。つまり、この液体は、下記のように、再生に付する
被処理イオン交換体58から移動し隔壁102を通過し
たイオンを該液体の流れで系外に排出するためのもの
で、このように、誘電率が高くかつ被処理イオン交換体
から除去されるイオンとの反応により不溶性の化合物を
生じない液体を供給することで、この液体の電気抵抗を
下げて再生部の消費電力を少なく抑え、しかも、不純物
イオンとの反応で不溶性の化合物(2次生成物)が生成
されて隔壁102に付着することを防止することができ
る。この液体は、排出する不純物イオンの種類によって
選択されるが、例えば、銅の電解研磨に使用したイオン
交換体を再生する時に使用するものとして、濃度が1w
t%以上の硫酸を挙げることができる。
【0048】再生部64は、電極部60がスクロール運
動を行っても電極部60の全域を覆う大きさに設定さ
れ、更に、揺動アーム62の揺動に伴って、電極部60
の全面を覆う位置に移動し、しかもこの電極部60の全
面を覆う位置で隔壁102が電極部60の加工電極54
及び給電電極56を構成する電極板82を覆うイオン交
換体58の表面(上面)に接触乃至近接するようになっ
ている。
【0049】更に、再生電極104は、コントロールボ
ックス84を介して、電源86の一方の電極(例えば陰
極)と配線107によって電気的に接続し、同時に、加
工電極54及び給電電極56を構成する電極板82が電
源86の他方の電極(例えば陽極)と電気的に接続する
ようになっており、これによって、再生電源108が構
成されている。
【0050】ここに、隔壁102として、この例では、
電極部60に装着した、再生に付するイオン交換体(被
処理イオン交換体)58と同じイオン交換基を有してい
るイオン交換体を使用している。つまり、被処理イオン
交換体58として、カチオン交換基を有するカチオン交
換体を使用していれば、隔壁(イオン交換体)102と
してカチオン交換体を使用し、被処理イオン交換体58
として、アニオン交換基を有するアニオン交換体を使用
していれば、隔壁(イオン交換体)102としてアニオ
ン交換体を使用している。
【0051】更に、前述のように、コントロールボック
ス84を介して電源86の一方の電極を配線107によ
って再生電極104に接続し、同時に、加工電極54及
び給電電極56を構成する電極板82を電源86の他方
の電極に接続する時、被処理イオン交換体58として、
カチオン交換体を使用した場合には、再生電極104が
陰極となり、被処理イオン交換体58として、アニオン
交換体を使用した場合には、再生電極104が陽極とな
るように制御するようにしている。
【0052】次に、この基板処理装置による基板処理
(電解加工)及び再生処理について説明する。先ず、図
3及び図4に示すように、電解加工装置48の基板保持
部52で基板Wを吸着保持し、揺動アーム50を揺動さ
せて基板保持部52を電極部60の直上方の加工位置ま
で移動させる。次に、上下動用モータ66を駆動して基
板保持部52を下降させ、この基板保持部52で保持し
た基板Wを電極部60の上面に取付けたイオン交換体5
8の表面に接触させるか、または近接させる。
【0053】この状態で、コントロールボックス84を
介して、加工電極54と給電電極56との間に電源86
から所定の電圧を印加するとともに、基板保持部52を
回転(自転)させ、電極部60をスクロール運動させ
る。つまり、イオン交換体58と電極部60を接触もし
くは近接させ、相対運動を行わせる。また、電極部60
はスクロールでなくても、自転型電極でもよく、更に基
板とイオン交換体のどちらか一方のみを運動させてもよ
い。同時に、貫通孔60aを通じて、電極部60の下側
から該電極部60の上面に純水または超純水を供給し、
加工電極54及び給電電極56と基板Wとの間に純水、
超純水、500μS/cm以下の液体又は電解液を満た
す。これによって、電極反応およびイオン交換体内のイ
オンの移動が起こり、基板Wに設けられた、例えば図8
に示す銅膜6等の電解加工を行う。ここに、純水または
超純水がイオン交換体58の内部を流れるようにするこ
とで、効率のよい電解加工を行うことができる。
【0054】そして、電解加工完了後、コントロールボ
ックス84を介して、電源86と加工電極54及び給電
電極56との電気的接続を切り、基板保持部52の回転
及び電極部60のスクロール運動を停止させる。しかる
後、基板保持部52を上昇させ、揺動アーム50を揺動
させて基板Wを次工程に搬送する。
【0055】なお、この例では、電極部60と基板Wと
の間に純水、好ましくは超純水を供給するようにした例
を示している。このように電解質を含まない純水または
超純水を使用して電解加工を行うことで、基板Wの表面
に電解質等の余分な不純物が付着したり、残留したりす
ることをなくすことができる。更に、電解によって溶解
した銅イオン等が、イオン交換体58にイオン交換反応
で即座に捕捉されるため、溶解した銅イオン等が基板W
の他の部分に再度析出したり、酸化されて微粒子となり
基板Wの表面を汚染したりすることがない。
【0056】超純水は、比抵抗が大きく電流が流れ難い
ため、電極と被加工物との距離を極力短くしたり、電極
と被加工物との間にイオン交換体を挟むことで電気抵抗
を低減したりしているが、さらに若干の電解液を組み合
わせることで、更に電気抵抗を低減して消費電力を削減
することができる。なお、電解液による加工では、被加
工物の加工される部分が加工電極よりやや広い範囲に及
ぶが、超純水とイオン交換体の組合せでは、超純水にほ
とんど電流が流れないため、被加工物の加工電極とイオ
ン交換体が投影された範囲内のみが加工されることにな
る。
【0057】また、純水または超純水の代わりに、純水
または超純水に電解質を添加した電解液を使用してもよ
い。例えば、500μS/cm以下の電解液を使用する
ことで、さらに電気抵抗を低減して消費電力を削減する
ことができる。この電解液としては、例えば、NaCl
やNaSO等の中性塩、HClやHSO等の
酸、更には、アンモニア等のアルカリなどの溶液が使用
でき、被加工物の特性によって適宜選択して使用すれば
よい。電解液を用いる場合は、基板Wとイオン交換体5
8との間に僅かの隙間を設けて非接触とすることが好ま
しい。
【0058】更に、純水または超純水の代わりに、純水
または超純水に界面活性剤等を添加して、電気伝導度が
500μS/cm以下、好ましくは、50μS/cm以
下、更に好ましくは、0.1μS/cm以下(比抵抗で
10MΩ・cm以上)にした液体を使用してもよい。こ
のように、純水または超純水に界面活性剤を添加するこ
とで、基板Wとイオン交換体58の界面にイオンの移動
を防ぐ一様な抑制作用を有する層を形成し、これによっ
て、イオン交換(金属の溶解)の集中を緩和して加工面
の平坦性を向上させることができる。ここで、界面活性
剤濃度は、100ppm以下が望ましい。なお、電気伝
導度の値があまり高いと電流効率が下がり、加工速度が
遅くなるが、500μS/cm以下、好ましくは、50
μS/cm以下、更に好ましくは、0.1μS/cm以
下の電気伝導度を有する液体を使用することで、所望の
加工速度を得ることができる。
【0059】また、加工速度を上げるために電圧を上げ
て電流密度を大きくすると、電極と基板(被加工物)と
の間の抵抗が大きい場合では、放電が生じる場合があ
る。放電が生じると、被加工物表面にピッチングが起こ
り、加工面の均一性や平坦化が困難となる。これに対し
て、イオン交換体58を基板Wに接触させると、電気抵
抗が極めて小さいことから、このような放電が生じるこ
とを防止することができる。
【0060】次に、所定時間経過後、或いは所定の基板
を処理した後等、任意の時期に電解加工に供したイオン
交換体58を再生する。この再生処理について、図5及
び図6を参照して以下説明する。先ず、基板保持部52
を電極部60の上方から待避させ、しかる後、揺動アー
ム62を揺動させて再生部64を電極部60の上方に移
動させ、更に再生部64を下降させて、再生部64の隔
壁102の下面を、電極部60の上面に装着した、再生
に付するイオン交換体(被処理イオン交換体)58の上
面に近接乃至接触させる。
【0061】この状態で、コントロールボックス84を
介して、再生電極104に電源86の一方の電極(例え
ば陰極)を接続し、加工電極54及び給電電極56を構
成する電極板82に他方の電極(例えば陽極)を接続し
て、再生電極104と電極板82との間に電圧を印加す
るとともに、電極部60をスクロール運動させる。な
お、再生時は給電電極は非通電でもよい。同時に、貫通
孔60aを通じて、電極部60の下側から該電極部60
の上面に純水または超純水を供給するとともに、再生電
極保持体98の内部に設けた排出部100内に液体を供
給する。これによって、隔壁102と電極板82との間
に純水または超純水を満たして、再生に付するイオン交
換体(被処理イオン交換体)58を純水または超純水中
に浸漬させ、同時に、排出部100内に液体を満たして
該液体中に再生電極104を浸漬させ、この液体が排出
部100内を一方向に流れて液体出口98cから外部に
流出するようにする。
【0062】この時、前述のように、コントロールボッ
クス84を介して、再生電極104が被処理イオン交換
体58(及び隔壁102)の極性と逆になるように制御
する。つまり、イオン交換体58(及び隔壁102)と
して、カチオン交換体を使用した場合には、再生電極1
04が陰極で電極板82が陽極となり、イオン交換体5
8(及び隔壁102)として、アニオン交換体を使用し
た場合には、再生電極104が陽極で電極板82が陰極
となるようにする。
【0063】これによって、被処理イオン交換体58の
イオンを再生電極104に向けて移動させ、隔壁102
を通過させて排出部100に導き、この排出部100に
移動したイオンをこの排出部100内に供給される液体
の流れで系外に排出して、被処理イオン交換体58の再
生を行う。この時、イオン交換体58として、カチオン
交換体を使用した場合には、被処理イオン交換体58に
取り込まれたカチオンが隔壁102を通過して排出部1
00の内部に移動し、アニオン交換体を使用した場合に
は、被処理イオン交換体58に取り込まれたアニオンが
隔壁102を通過して排出部100の内部に移動して、
イオン交換体58が再生される。
【0064】ここに、前述のように、隔壁102とし
て、再生に付するイオン交換体(被処理イオン交換体)
58と同じイオン交換基を有しているイオン交換体を使
用することで、被処理イオン交換体58中の不純物イオ
ンの隔壁(イオン交換体)102の内部の移動が隔壁
(イオン交換体)102によって妨げられることを防止
して、消費電力が増加することを防止し、しかも隔壁1
02と再生電極104との間を流れる液体(液体中のイ
オンも含む)の被処理イオン交換体58側への透過を阻
止して、再生後のイオン交換体58の再汚染を防止する
ことができる。更に、隔壁102と再生電極104との
間に、導電率が50μS/cm以上でかつ被処理イオン
交換体58から除去されるイオンとの反応により難溶性
もしくは不溶性の化合物を生成しない液体を供給するこ
とで、この液体の電気抵抗を下げて再生部の消費電力を
少なく抑え、しかも不純物イオンとの反応で生成された
不溶性の化合物(2次生成物)が隔壁102に付着して
再生電極104と電極板82との間の電気抵抗が変化
し、制御が困難となることを防止することができる。な
お、この純水または超純水の代わりに、電気伝導度が5
00μS/cm以下の液体や電解液を使用してもよいこ
とは前述と同様である。
【0065】そして、再生完了後、コントロールボック
ス84を介して、電源86と電極板82及び再生電極1
04との電気的接続を切り、再生部64を上昇させた
後、電極部60のスクロール運動を停止させる。しかる
後、揺動アーム62を揺動させて再生部64を元の待避
位置に戻す。
【0066】図7は、前述の電解加工装置48を備えた
基板処理装置の一例を示す。図8に示すように、この基
板処理装置は、例えば、表面に導電体膜(被加工部)と
しての銅膜6(図8参照)を有する基板Wを収納したカ
セットを搬出入する搬出入部としての一対のロード・ア
ンロード部110と、基板Wを反転させる反転機112
及び電解加工装置48が直列に配置され、搬送装置とし
ての搬送ロボット114がこれらの各機器と平行に走行
して基板Wの搬送と受渡しを行うようになっている。更
に、電解加工装置48による電解加工の際に、加工電極
54と給電電極56との間に印加する電圧、またはこの
間を流れる電流、更には、再生処理の際に加工電極54
と給電電極56を構成する電極板82と再生電極104
との間に電圧を印加したときの電解電流及び電解時間、
または電気量の少なくとも一方をモニタするモニタ部1
16が備えられている。
【0067】この基板処理装置によれば、例えば、表面
に導電体膜(被加工部)として銅膜6(図8参照)を形
成した基板Wを収納してロード・アンロード部110に
セットしたカセットから、1枚の基板Wを搬送ロボット
114で取出し、この基板Wを、必要に応じて反転機1
12に搬送して反転させた後、電解加工装置48の基板
保持部52で吸着保持する。この状態で、前述と同様に
して、基板Wの電解加工を行う。
【0068】この時、加工電極54と給電電極56の間
に印加する電圧、またはこの間を流れる電流をモニタ部
116でモニタして、エンドポイント(加工終点)を検
知する。つまり、同じ電圧(電流)を印加した状態で電
解加工を行うと、材料によって流れる電流(印加される
電圧)に違いが生じる。このため、この電流または電圧
の変化をモニタすることでエンドポイントを確実に検知
することができる。
【0069】そして、電解加工が完了し、基板保持部5
2を上昇させ、しかる後、揺動アーム50を揺動させて
基板Wを搬送ロボット114に受渡す。そして、搬送ロ
ボット114は、この基板Wを受取り、必要に応じて反
転機112に搬送して反転させた後、基板Wをロード・
アンロード部110のカセットに戻す。
【0070】また、前述のようにして、イオン交換体5
8の再生を行うときには、加工電極54及び給電電極5
6を構成する電極板82と再生電極104との間に電圧
を印加したときの電解電流及び電解時間、または電気量
の少なくとも一方をモニタ部116でモニタする。イオ
ン交換体の再生量は、電解電流と電解時間の積、つまり
電気量で決まるため、電解電流及び電解時間、または電
気量の少なくとも一方をモニタ部116でモニタするこ
とで、再生量をコントロールして、再生の終点を検知す
ることができる。
【0071】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電気化学的作用によって、イオン交換体の再生を容易か
つ迅速に行うことができ、これによって、例えば電解加
工装置において、イオン交換体を再生することにより、
電解加工処理の停止時間を短縮し、装置の処理効率を向
上させることができる。また、被処理イオン交換体の薬
液による汚染を極力低減して、再生後のイオン交換体の
洗浄への負荷を極力低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のカチオン交換体を再生する時の原理の
説明に付する図である。
【図2】本発明のアニオン交換体を再生する時の原理の
説明に付する図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態のイオン交換体の再
生装置を備えた電解加工装置の加工時における断面図で
ある。
【図4】図3の平面図である。
【図5】本発明の第1の実施の形態のイオン交換体の再
生装置を備えた電解加工装置のイオン交換体の再生時に
おける断面図である。
【図6】図5の平面図である。
【図7】図3乃至図6に示す電解加工装置を備えた基板
処置装置の配置図である。
【図8】銅配線を形成する例を工程順に示す図である。
【符号の説明】
10 カチオン交換体 10a アニオン交換体 12 隔壁 14,14a 再生電極 16,16a 対電極 18,20 液体供給部 22 再生電源 48 電解加工装置 52 基板保持部 54 加工電極 56 給電電極 58 イオン交換体(被処理イオン交換体) 60 電極部 64 再生部 76 中空モータ 80 純水供給管 82 電極板 84 コントロールボックス 86 電源 98 再生電極保持体 100 排出部 102 隔壁 104 再生電極 106a 液体入口管 106b 液体出口管 107 配線 108 再生電源 116 モニタ部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 粂川 正行 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 (72)発明者 小畠 厳貴 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 (72)発明者 鍋谷 治 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 Fターム(参考) 3C059 AA02 EB08

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 汚染されたイオン交換体を再生するにあ
    たり、 再生に付する被処理イオン交換体を、隔壁を挟んで配置
    した再生電極と該再生電極と対となる対電極の間の該対
    電極と前記隔壁との間に配置し、 前記隔壁と前記再生電極との間、及び前記隔壁と前記対
    電極との間にそれぞれ液体を供給しつつ、前記再生電極
    と前記対電極との間に電圧を印加することを特徴とする
    イオン交換体の再生方法。
  2. 【請求項2】 前記隔壁は、イオン交換体であることを
    特徴とする請求項1記載のイオン交換体の再生方法。
  3. 【請求項3】 前記被処理イオン交換体が陽イオン交換
    体であるときは、前記隔壁を陽イオン交換体とし、前記
    被処理イオン交換体が陰イオン交換体であるときは、前
    記隔壁を陰イオン交換体とすることを特徴とする請求項
    2記載のイオン交換体の再生方法。
  4. 【請求項4】 前記被処理イオン交換体が陽イオン交換
    体であるときは、前記再生電極を陰極とし、前記被処理
    イオン交換体が陰イオン交換体であるときは、前記再生
    電極を陽極とすることを特徴とする請求項1乃至3のい
    ずれかに記載のイオン交換体の再生方法。
  5. 【請求項5】 前記液体のうち、前記隔壁と前記対電極
    との間に供給される液体が、超純水、純水、または電気
    伝導度が500μS/cm以下の液体であることを特徴
    とする請求項1乃至4のいずれかに記載のイオン交換体
    の再生方法。
  6. 【請求項6】 前記液体のうち、前記隔壁と前記再生電
    極との間に供給される液体が、導電率が50μS/cm
    以上でかつ前記被処理イオン交換体から除去されるイオ
    ンとの反応により難溶性もしくは不溶性の化合物を生成
    しない液体であることを特徴とする請求項1乃至5のい
    ずれかに記載のイオン交換体の再生方法。
  7. 【請求項7】 イオン交換体を再生するイオン交換体の
    再生装置であって、隔壁と、 前記隔壁を挟んで被処理イオン交換体に対峙する位置に
    配置された再生電極と、 被処理イオン交換体および前記隔壁を挟んで、前記再生
    電極と対峙する位置に配置された対電極と、 前記再生電極と前記対電極との間に電圧を印加する電源
    と、 前記隔壁と前記再生電極との間、及び前記隔壁と対電極
    との間にそれぞれ液体を供給する液体供給部を有するこ
    とを特徴とするイオン交換体の再生装置。
  8. 【請求項8】 前記隔壁は、イオン交換体であることを
    特徴とする請求項7記載のイオン交換体の再生装置。
  9. 【請求項9】 前記被処理イオン交換体が陽イオン交換
    体であるときは、前記隔壁を陽イオン交換体とし、前記
    被処理イオン交換体が陰イオン交換体であるときは、前
    記隔壁を陰イオン交換体とすることを特徴とする請求項
    8記載のイオン交換体の再生装置。
  10. 【請求項10】 前記被処理イオン交換体が陽イオン交
    換体であるときは、前記再生電極を陰極とし、前記被処
    理イオン交換体が陰イオン交換体であるときは、前再生
    電極を陽極とすることを特徴とする請求項7乃至9のい
    ずれかに記載のイオン交換体の再生装置。
  11. 【請求項11】 前記液体のうち、前記電極板と前記隔
    壁との間に供給される液体が、超純水、純水、または電
    気伝導度が500μS/cm以下の液体であることを特
    徴とする請求項7乃至10のいずれかに記載のイオン交
    換体の再生装置。
  12. 【請求項12】 前記液体のうち、前記排出部に供給さ
    れる液体が、導電率が50μS/cm以上でかつ前記被
    処理イオン交換体から除去されるイオンとの反応により
    難溶性もしくは不溶性の化合物を生成しない液体である
    ことを特徴とする請求項7乃至11のいずれかに記載の
    イオン交換体の再生装置。
  13. 【請求項13】 前記電極板と前記再生電極との間に電
    圧を印加したときの電解電流及び電解時間、または電気
    量の少なくとも一方をモニタするモニタ部を有すること
    を特徴とする請求項7乃至12のいずれかに記載のイオ
    ン交換体の再生装置。
JP2002080974A 2001-11-29 2002-03-22 電解加工用イオン交換体の再生方法及び再生装置 Expired - Fee Related JP4172945B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002080974A JP4172945B2 (ja) 2002-03-22 2002-03-22 電解加工用イオン交換体の再生方法及び再生装置
PCT/JP2002/012519 WO2003046263A1 (en) 2001-11-29 2002-11-29 Method and device for regenerating ion exchanger, and electrolytic processing apparatus
CNB028276892A CN100346008C (zh) 2001-11-29 2002-11-29 用于再生离子交换剂的方法与设备以及电解处理装置
TW091134719A TWI267417B (en) 2001-11-29 2002-11-29 Method and device for regenerating ion exchanger, and electrolytic processing apparatus
US10/432,397 US7427345B2 (en) 2001-11-29 2002-11-29 Method and device for regenerating ion exchanger, and electrolytic processing apparatus
EP02785985A EP1448811A4 (en) 2001-11-29 2002-11-29 METHOD AND DEVICE FOR REGENERATING ION EXCHANGERS AND DEVICE FOR ELECTROLYTIC PROCESSING
KR1020047008256A KR100917433B1 (ko) 2001-11-29 2002-11-29 이온 교환기를 재생시키는 방법 및 장치, 그리고 전해질처리장치
US12/222,733 US8133380B2 (en) 2001-11-29 2008-08-14 Method for regenerating ion exchanger

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002080974A JP4172945B2 (ja) 2002-03-22 2002-03-22 電解加工用イオン交換体の再生方法及び再生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003275605A true JP2003275605A (ja) 2003-09-30
JP4172945B2 JP4172945B2 (ja) 2008-10-29

Family

ID=29206516

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002080974A Expired - Fee Related JP4172945B2 (ja) 2001-11-29 2002-03-22 電解加工用イオン交換体の再生方法及び再生装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4172945B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010253451A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Japan Organo Co Ltd 電気式脱イオン水製造装置の洗浄方法
JP2012512024A (ja) * 2008-12-17 2012-05-31 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ イオン交換デバイス及びそのイオン交換物質の再生方法
CN115038668A (zh) * 2020-02-18 2022-09-09 株式会社F.C.C. 离子交换装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012512024A (ja) * 2008-12-17 2012-05-31 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ イオン交換デバイス及びそのイオン交換物質の再生方法
JP2010253451A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Japan Organo Co Ltd 電気式脱イオン水製造装置の洗浄方法
CN115038668A (zh) * 2020-02-18 2022-09-09 株式会社F.C.C. 离子交换装置
CN115038668B (zh) * 2020-02-18 2024-02-02 株式会社F.C.C. 离子交换装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4172945B2 (ja) 2008-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7655118B2 (en) Electrolytic processing apparatus and method
EP1777736A1 (en) Electrolytic processing device and substrate processing apparatus
KR100917433B1 (ko) 이온 교환기를 재생시키는 방법 및 장치, 그리고 전해질처리장치
US20030136668A1 (en) Electrolytic processing device and substrate processing apparatus
US20080217164A1 (en) Electrolytic Processing Apparatus
JP2003205428A (ja) 電解加工装置及び方法
JP4172945B2 (ja) 電解加工用イオン交換体の再生方法及び再生装置
JP4130073B2 (ja) イオン交換体の再生方法及び再生装置
JP3995463B2 (ja) 電解加工方法
JP2003338490A (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP2004015028A (ja) 基板処理方法及び半導体装置
JP4310085B2 (ja) 電解加工方法及び装置
JP4233331B2 (ja) 電解加工方法及び装置
JP3967207B2 (ja) 電解加工装置
JP2003225831A (ja) 電解加工装置
JP4233403B2 (ja) 電解加工装置及び電解加工方法
JP2004002910A (ja) 電解加工方法及び装置
JP2004322292A (ja) 電解加工装置
JP2004255479A (ja) 電解加工方法及び電解加工装置
JP2003266245A (ja) 電解加工装置及び方法
JP4274714B2 (ja) 加工装置及び加工方法
JP4127361B2 (ja) 電解加工装置
JP2004084054A (ja) 電解加工方法及び装置
JP2006013177A (ja) 電解加工装置及び電解加工方法
JP2005199401A (ja) 電解加工装置及び方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071225

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080520

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080715

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080812

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080812

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4172945

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130822

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees