JP2003264348A - 高周波モジュール - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ベース基板部上に高精度かつ安定した高周波
特性の高周波回路部を形成する。 【解決手段】 ベース基板部2の平坦化されたビルドア
ップ形成面16上に、各層が誘電絶縁層上に配線パター
ンや成膜素子を形成してなる多層の配線層を有しかつ最
上層の配線層17に配線パターンや成膜素子19ととも
に多数個のランド22とグランドパターン20とが形成
された高周波回路部3と、この高周波回路部3の配線層
17上に実装される半導体チップ4を備える。配線層1
7に形成されて成膜素子19と所定のランド22との間
を接続する伝送線路24が、グランドパターン20に形
成した抜きパターン領域20a内を導かれることによ
り、コプレーナ型伝送線路として構成される。
特性の高周波回路部を形成する。 【解決手段】 ベース基板部2の平坦化されたビルドア
ップ形成面16上に、各層が誘電絶縁層上に配線パター
ンや成膜素子を形成してなる多層の配線層を有しかつ最
上層の配線層17に配線パターンや成膜素子19ととも
に多数個のランド22とグランドパターン20とが形成
された高周波回路部3と、この高周波回路部3の配線層
17上に実装される半導体チップ4を備える。配線層1
7に形成されて成膜素子19と所定のランド22との間
を接続する伝送線路24が、グランドパターン20に形
成した抜きパターン領域20a内を導かれることによ
り、コプレーナ型伝送線路として構成される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、無線通信機能やス
トレージ機能等を有する無線通信モジュール等に好適に
用いられる高周波モジュールに関する。
トレージ機能等を有する無線通信モジュール等に好適に
用いられる高周波モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】各種情報の通信システムは、近年、各種
の通信端末機器やデータ処理システムの開発、ISDN
(Integrated Service Digital Network)やデジタル放
送等のサービス網の整備等によって、むしろ設置型機器
よりも携帯型機器によって情報の授受が行われるように
なっている。通信機器には、無線通信機能やストレージ
機能等を有する無線通信モジュールが搭載される。無線
通信モジュールは、例えば、アンテナや切替スイッチを
有し情報信号を受信或いは送信するアンテナ部、送信機
能と受信機能との切替を行う送受信切替部、周波数変換
回路や復調回路等を有する受信回路部、パワーアンプや
ドライブアンプ或いは変調回路等を有する送信回路部、
受信回路部や送信回路部に基準周波数を供給する基準周
波数生成回路部等を備えている。
の通信端末機器やデータ処理システムの開発、ISDN
(Integrated Service Digital Network)やデジタル放
送等のサービス網の整備等によって、むしろ設置型機器
よりも携帯型機器によって情報の授受が行われるように
なっている。通信機器には、無線通信機能やストレージ
機能等を有する無線通信モジュールが搭載される。無線
通信モジュールは、例えば、アンテナや切替スイッチを
有し情報信号を受信或いは送信するアンテナ部、送信機
能と受信機能との切替を行う送受信切替部、周波数変換
回路や復調回路等を有する受信回路部、パワーアンプや
ドライブアンプ或いは変調回路等を有する送信回路部、
受信回路部や送信回路部に基準周波数を供給する基準周
波数生成回路部等を備えている。
【0003】無線通信モジュールは、高機能化或いは多
機能化が図られてデータ情報や画像情報等の各種情報の
高速通信を可能とするとともに、携帯型通信機器に搭載
されるために小型軽量であるとともに低消費電力特性が
要求されている。無線通信モジュールは、従来、各種フ
ィルタや結合器等を基板上にコンデンサやコイル等のチ
ップ部品を搭載して集中定数設計による回路で構成して
いた。しかしながら、無線通信モジュールにおいては、
かかる集中定数設計回路による構成では上述した要求仕
様を満足することが困難となるために、一般に配線基板
にインダクタやキャパシタ等の受動素子を成膜形成する
とともに各受動素子や実装部品等をマイクロストリップ
ラインやストリップライン等の伝送線路を介して接続す
る分布定数設計による回路で構成している。
機能化が図られてデータ情報や画像情報等の各種情報の
高速通信を可能とするとともに、携帯型通信機器に搭載
されるために小型軽量であるとともに低消費電力特性が
要求されている。無線通信モジュールは、従来、各種フ
ィルタや結合器等を基板上にコンデンサやコイル等のチ
ップ部品を搭載して集中定数設計による回路で構成して
いた。しかしながら、無線通信モジュールにおいては、
かかる集中定数設計回路による構成では上述した要求仕
様を満足することが困難となるために、一般に配線基板
にインダクタやキャパシタ等の受動素子を成膜形成する
とともに各受動素子や実装部品等をマイクロストリップ
ラインやストリップライン等の伝送線路を介して接続す
る分布定数設計による回路で構成している。
【0004】図4に示した高周波モジュール基板100
は、2層構成の高周波回路部101が一般的な多層プリ
ント配線技術によって形成された4層構成のベース基板
部102上にビルドアップ形成されてなる。高周波モジ
ュール基板100は、高周波回路部101がそれぞれ誘
電絶縁層上に第1配線層103と第2配線層104とを
パターン形成してなり、これら配線層103、104内
に詳細を省略するが薄膜技術や厚膜技術によってインダ
クタやキャパシタ等の受動素子が成膜形成されてなる。
第1配線層103には、各受動素子やランド等の間を接
続する分布定数設計の伝送線路105がパターン形成さ
れている。
は、2層構成の高周波回路部101が一般的な多層プリ
ント配線技術によって形成された4層構成のベース基板
部102上にビルドアップ形成されてなる。高周波モジ
ュール基板100は、高周波回路部101がそれぞれ誘
電絶縁層上に第1配線層103と第2配線層104とを
パターン形成してなり、これら配線層103、104内
に詳細を省略するが薄膜技術や厚膜技術によってインダ
クタやキャパシタ等の受動素子が成膜形成されてなる。
第1配線層103には、各受動素子やランド等の間を接
続する分布定数設計の伝送線路105がパターン形成さ
れている。
【0005】高周波モジュール基板100は、詳細を省
略するがベース基板部102の各配線層106乃至10
9内に電源回路や制御系回路が形成されており、第3配
線層106をいわゆる全面ベタのグランド層と構成して
なる。高周波モジュール基板100は、このグランド層
106を介して高周波回路部101とベース基板部10
2とを電気的に分離することにより、相互の電気的干渉
を抑制して特性向上を図っている。また、高周波モジュ
ール基板100は、グランド層106をグランド面とし
て定義することにより、伝送線路105をマイクロスト
リップラインとして機能させてなる。
略するがベース基板部102の各配線層106乃至10
9内に電源回路や制御系回路が形成されており、第3配
線層106をいわゆる全面ベタのグランド層と構成して
なる。高周波モジュール基板100は、このグランド層
106を介して高周波回路部101とベース基板部10
2とを電気的に分離することにより、相互の電気的干渉
を抑制して特性向上を図っている。また、高周波モジュ
ール基板100は、グランド層106をグランド面とし
て定義することにより、伝送線路105をマイクロスト
リップラインとして機能させてなる。
【0006】図5に示した高周波モジュール基板110
も、2層構成の高周波回路部111が一般的な多層プリ
ント配線技術によって形成された4層構成のベース基板
部112上にビルドアップ形成されてなり、高周波回路
部111やベース基板部112の基本的な構成を上述し
た高周波モジュール基板110と同様とする。高周波モ
ジュール基板110は、高周波回路部111の第1配線
層113に分布定数設計の伝送線路115がパターン形
成されるとともに、この伝送線路115とそれぞれ絶縁
を保持してグランドパターン116a、116bが形成
されてなる。
も、2層構成の高周波回路部111が一般的な多層プリ
ント配線技術によって形成された4層構成のベース基板
部112上にビルドアップ形成されてなり、高周波回路
部111やベース基板部112の基本的な構成を上述し
た高周波モジュール基板110と同様とする。高周波モ
ジュール基板110は、高周波回路部111の第1配線
層113に分布定数設計の伝送線路115がパターン形
成されるとともに、この伝送線路115とそれぞれ絶縁
を保持してグランドパターン116a、116bが形成
されてなる。
【0007】高周波モジュール基板110は、ベース基
板部112の各配線層117乃至120のそれぞれ伝送
線路115と対向する部位に抜きパターン117a乃至
120aを形成することにより、この伝送線路115に
対するグランド面が定義されない構成となっている。高
周波モジュール基板110は、高周波モジュール基板1
10は、かかる構成を採用することにより、伝送線路1
15をコプレナーラインとして機能させてなる。なお、
高周波モジュール基板110は、ベース基板部112の
全ての各配線層117乃至120に抜きパターン117
a乃至120aを形成したが、伝送線路115のコプレ
ナーライン機能を損なわない構成として例えば第5配線
層119が全面ベタのグランド層として構成してもよ
い。
板部112の各配線層117乃至120のそれぞれ伝送
線路115と対向する部位に抜きパターン117a乃至
120aを形成することにより、この伝送線路115に
対するグランド面が定義されない構成となっている。高
周波モジュール基板110は、高周波モジュール基板1
10は、かかる構成を採用することにより、伝送線路1
15をコプレナーラインとして機能させてなる。なお、
高周波モジュール基板110は、ベース基板部112の
全ての各配線層117乃至120に抜きパターン117
a乃至120aを形成したが、伝送線路115のコプレ
ナーライン機能を損なわない構成として例えば第5配線
層119が全面ベタのグランド層として構成してもよ
い。
【0008】図6に示した高周波モジュール基板130
も、2層の配線層133、134を有する高周波回路部
131が、一般的な多層プリント配線技術によって形成
された4層の配線層137乃至140を有するベース基
板部132上にビルドアップ形成されてなり、高周波回
路部131やベース基板部132の基本的な構成を上述
した高周波モジュール基板110と同様とする。高周波
モジュール基板130は、高周波回路部131の第1配
線層133に分布定数設計の伝送線路135がパターン
形成されるとともに、この伝送線路135とそれぞれ絶
縁を保持してグランドパターン136a、136bが形
成されてなる。
も、2層の配線層133、134を有する高周波回路部
131が、一般的な多層プリント配線技術によって形成
された4層の配線層137乃至140を有するベース基
板部132上にビルドアップ形成されてなり、高周波回
路部131やベース基板部132の基本的な構成を上述
した高周波モジュール基板110と同様とする。高周波
モジュール基板130は、高周波回路部131の第1配
線層133に分布定数設計の伝送線路135がパターン
形成されるとともに、この伝送線路135とそれぞれ絶
縁を保持してグランドパターン136a、136bが形
成されてなる。
【0009】高周波モジュール基板130は、ベース基
板部132の第3配線層137をいわゆる全面ベタのグ
ランド層と構成してなる。高周波モジュール基板130
は、このグランド層137を介して高周波回路部131
とベース基板部132とを電気的に分離することによっ
て、相互の電気的干渉を抑制して特性向上を図ってい
る。また、高周波モジュール基板130は、グランド層
137をグランド面として定義することにより、伝送線
路135をグランドコプレナーラインとして機能させて
なる。
板部132の第3配線層137をいわゆる全面ベタのグ
ランド層と構成してなる。高周波モジュール基板130
は、このグランド層137を介して高周波回路部131
とベース基板部132とを電気的に分離することによっ
て、相互の電気的干渉を抑制して特性向上を図ってい
る。また、高周波モジュール基板130は、グランド層
137をグランド面として定義することにより、伝送線
路135をグランドコプレナーラインとして機能させて
なる。
【0010】図7に示した高周波モジュール基板150
も、2層の配線層153、154を有する高周波回路部
151が、一般的な多層プリント配線技術によって形成
された4層の配線層157乃至160を有するベース基
板部152上にビルドアップ形成されてなり、高周波回
路部151やベース基板部152の基本的な構成を上述
した高周波モジュール基板110と同様とする。高周波
モジュール基板150は、高周波回路部151の第1配
線層153に分布定数設計の伝送線路155がパターン
形成されるとともに、この伝送線路155とそれぞれ絶
縁を保持してグランドパターン156a、156bが形
成されてなる。
も、2層の配線層153、154を有する高周波回路部
151が、一般的な多層プリント配線技術によって形成
された4層の配線層157乃至160を有するベース基
板部152上にビルドアップ形成されてなり、高周波回
路部151やベース基板部152の基本的な構成を上述
した高周波モジュール基板110と同様とする。高周波
モジュール基板150は、高周波回路部151の第1配
線層153に分布定数設計の伝送線路155がパターン
形成されるとともに、この伝送線路155とそれぞれ絶
縁を保持してグランドパターン156a、156bが形
成されてなる。
【0011】高周波モジュール基板150は、ベース基
板部152の第3配線層157をいわゆる全面ベタのグ
ランド層と構成してなる。高周波モジュール基板150
は、このグランド層157を介して高周波回路部151
とベース基板部152とを電気的に分離することによっ
て、相互の電気的干渉を抑制して特性向上を図ってい
る。また、高周波モジュール基板150は、グランド層
157をグランド面として定義することにより、伝送線
路155をグランドコプレナーラインとして機能させて
なる。
板部152の第3配線層157をいわゆる全面ベタのグ
ランド層と構成してなる。高周波モジュール基板150
は、このグランド層157を介して高周波回路部151
とベース基板部152とを電気的に分離することによっ
て、相互の電気的干渉を抑制して特性向上を図ってい
る。また、高周波モジュール基板150は、グランド層
157をグランド面として定義することにより、伝送線
路155をグランドコプレナーラインとして機能させて
なる。
【0012】高周波モジュール基板150は、ベース基
板部152の第4配線層158に分布定数設計の伝送線
路161がパターン形成されるとともに、この伝送線路
161を挟んでグランド層157と対向する第5配線層
159もいわゆる全面ベタのグランド層と構成してな
る。高周波モジュール基板150は、かかる構成により
ストリップラインとして機能する伝送線路161がベー
ス基板部152の内層に形成され、高周波回路部151
のグランドコプレナーラインとして機能する伝送線路1
55とを混載してなる。
板部152の第4配線層158に分布定数設計の伝送線
路161がパターン形成されるとともに、この伝送線路
161を挟んでグランド層157と対向する第5配線層
159もいわゆる全面ベタのグランド層と構成してな
る。高周波モジュール基板150は、かかる構成により
ストリップラインとして機能する伝送線路161がベー
ス基板部152の内層に形成され、高周波回路部151
のグランドコプレナーラインとして機能する伝送線路1
55とを混載してなる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の高周
波モジュールにおいては、高周波回路ブロックの特に高
周波信号処理部のみに多層配線基板のある層に設けたグ
ランドパターンをグランド面として定義してマイクロス
トリップ型伝送線路を形成することによって、コストメ
リットの向上を図るとともに基板面積の有効活用化を図
っている。高周波モジュールにおいては、表面に半導体
チップや各種の電子部品を実装することから、例えば図
8に示すような高周波モジュール基板200が備えられ
る。
波モジュールにおいては、高周波回路ブロックの特に高
周波信号処理部のみに多層配線基板のある層に設けたグ
ランドパターンをグランド面として定義してマイクロス
トリップ型伝送線路を形成することによって、コストメ
リットの向上を図るとともに基板面積の有効活用化を図
っている。高周波モジュールにおいては、表面に半導体
チップや各種の電子部品を実装することから、例えば図
8に示すような高周波モジュール基板200が備えられ
る。
【0014】高周波モジュール基板200も、詳細を省
略するが多層プリント配線技術により形成されたベース
基板部上に高周波回路部がビルドアップ形成されてな
る。高周波モジュール基板200には、図8に示す高周
波回路部の表面層201に、スパイラル型インダクタ素
子202が成膜形成されるとともにこのインダクタ素子
202を囲んでグランドパターン203が形成されてい
る。インダクタ素子202は、一端側を伝送線路204
と接続されるとともに詳細を省略するが他端側をビアを
介して高周波回路部の内層回路と接続されている。
略するが多層プリント配線技術により形成されたベース
基板部上に高周波回路部がビルドアップ形成されてな
る。高周波モジュール基板200には、図8に示す高周
波回路部の表面層201に、スパイラル型インダクタ素
子202が成膜形成されるとともにこのインダクタ素子
202を囲んでグランドパターン203が形成されてい
る。インダクタ素子202は、一端側を伝送線路204
と接続されるとともに詳細を省略するが他端側をビアを
介して高周波回路部の内層回路と接続されている。
【0015】高周波モジュール基板200には、表面層
201上に図示しない半導体チップをフリップチップ実
装する多数個のランド205乃至208が形成されてい
る。第1のランド205と第4のランド208は、それ
ぞれグランドパターン209a、209bが一体に形成
されており、詳細を省略するがベース基板部側のビルド
アップ面に形成されたグランドパターンとそれぞれビア
を介して接続されるグランド用ランドである。第2のラ
ンド206は、DC信号用のランドである。第3のラン
ド207は、インダクタ素子202と接続された伝送線
路204の一端側が接続されるRF信号用のランドであ
る。伝送線路204は、ベース基板部側に形成されたグ
ランドパターンをグランド面として定義したマイクロス
トリップ型伝送線路である。
201上に図示しない半導体チップをフリップチップ実
装する多数個のランド205乃至208が形成されてい
る。第1のランド205と第4のランド208は、それ
ぞれグランドパターン209a、209bが一体に形成
されており、詳細を省略するがベース基板部側のビルド
アップ面に形成されたグランドパターンとそれぞれビア
を介して接続されるグランド用ランドである。第2のラ
ンド206は、DC信号用のランドである。第3のラン
ド207は、インダクタ素子202と接続された伝送線
路204の一端側が接続されるRF信号用のランドであ
る。伝送線路204は、ベース基板部側に形成されたグ
ランドパターンをグランド面として定義したマイクロス
トリップ型伝送線路である。
【0016】なお、高周波モジュール基板200には、
表面層201上にさらに多数個のランドや適宜の伝送線
路或いはキャパシタ素子やレジスタ素子等の受動素子も
適宜形成されている。また、高周波モジュール基板20
0には、アンテナ素子や結合器パターン等も成膜形成さ
れる。高周波モジュール基板200には、グランド接続
を不要とする適宜の表面実装型分子部品も搭載される。
表面層201上にさらに多数個のランドや適宜の伝送線
路或いはキャパシタ素子やレジスタ素子等の受動素子も
適宜形成されている。また、高周波モジュール基板20
0には、アンテナ素子や結合器パターン等も成膜形成さ
れる。高周波モジュール基板200には、グランド接続
を不要とする適宜の表面実装型分子部品も搭載される。
【0017】以上のように構成された高周波モジュール
基板200は、ベース基板部側のビルドアップ面にグラ
ンドパターンを形成したことにより、内層にデジタル信
号の伝送線路等を形成することが可能となり高密度実装
化が図られる。一方、高周波モジュール基板200は、
DC信号用伝送線路210が表面層201上において第
2のランド206から最短で引き回し形成される。した
がって、高周波モジュール基板200においては、ラン
ド205、208のグランドパターン209a、209
bが、インダクタ素子202のグランドパターン203
と分離されて連続性が保持されない構造となってしま
う。
基板200は、ベース基板部側のビルドアップ面にグラ
ンドパターンを形成したことにより、内層にデジタル信
号の伝送線路等を形成することが可能となり高密度実装
化が図られる。一方、高周波モジュール基板200は、
DC信号用伝送線路210が表面層201上において第
2のランド206から最短で引き回し形成される。した
がって、高周波モジュール基板200においては、ラン
ド205、208のグランドパターン209a、209
bが、インダクタ素子202のグランドパターン203
と分離されて連続性が保持されない構造となってしま
う。
【0018】高周波モジュール基板200においては、
グランドパターン209a、209bが、上述したよう
にビアを介してベース基板部側のグランドパターンと接
続されるために、ビアの抵抗成分やインダクタンス成分
が高周波特性に影響を及ぼすといった問題がある。さら
に、高周波モジュール基板200においては、各受動素
子がベース基板部側のグランドパターンとの間にキャパ
シタ成分を生じることにより、自己共振周波数やクオリ
ティファクタのQ値の低下等を生じて特性が劣化すると
いった問題があった。
グランドパターン209a、209bが、上述したよう
にビアを介してベース基板部側のグランドパターンと接
続されるために、ビアの抵抗成分やインダクタンス成分
が高周波特性に影響を及ぼすといった問題がある。さら
に、高周波モジュール基板200においては、各受動素
子がベース基板部側のグランドパターンとの間にキャパ
シタ成分を生じることにより、自己共振周波数やクオリ
ティファクタのQ値の低下等を生じて特性が劣化すると
いった問題があった。
【0019】また、高周波モジュール基板200は、上
述したようにベース基板部側にグランド面を定義するグ
ランドパターンを形成して伝送線路204をマイクロス
トリップ型伝送線路として構成することから、ベース基
板部側の各層に厚みバラツキが発生する。したがって、
高周波モジュール基板200は、ベース基板部上にビル
ドアップ形成される高周波回路部を高精度に形成するこ
とが困難となり、高周波特性が劣化するといった問題が
ある。
述したようにベース基板部側にグランド面を定義するグ
ランドパターンを形成して伝送線路204をマイクロス
トリップ型伝送線路として構成することから、ベース基
板部側の各層に厚みバラツキが発生する。したがって、
高周波モジュール基板200は、ベース基板部上にビル
ドアップ形成される高周波回路部を高精度に形成するこ
とが困難となり、高周波特性が劣化するといった問題が
ある。
【0020】したがって、本発明は、最上層配線部にベ
ース基板部側にグランド面の定義を不要とするコプレナ
ー型伝送線路を形成することにより、各絶縁層の高精度
の厚み管理を不要として高周波特性の向上を図った高周
波モジュールを提供することを目的に提案されたもので
ある。
ース基板部側にグランド面の定義を不要とするコプレナ
ー型伝送線路を形成することにより、各絶縁層の高精度
の厚み管理を不要として高周波特性の向上を図った高周
波モジュールを提供することを目的に提案されたもので
ある。
【0021】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
本発明にかかる高周波モジュールは、最上層に平坦化処
理が施されてビルドアップ形成面を形成してなる多層プ
リント配線板からなるベース基板部と、このベース基板
部のビルドアップ形成面上に積層形成され各層が誘電絶
縁層上に配線パターンや成膜素子を形成してなる高周波
回路部と、この高周波回路部の最上層の配線層上に実装
された半導体チップや電子部品等の実装部品とを備えて
なる。高周波回路部には、最上層の配線層に配線パター
ンや成膜素子とともに多数個のランドとグランドパター
ンとが形成され、この最上層の配線層上に相対する各ラ
ンドに端子が接合されかつグランドパターンにグランド
端子が接合されることによって実装部品が実装される。
高周波モジュールは、高周波回路部の最上層の配線層に
形成されて成膜素子と所定のランドとを接続する伝送線
路を、グランドパターンに形成した抜きパターン領域内
を絶縁を保持して導くことにより、共通平面において周
囲を囲まれるとともに下層の配線層内にグランド面の定
義を不要とするコプレーナ型伝送線路として構成してな
る。
本発明にかかる高周波モジュールは、最上層に平坦化処
理が施されてビルドアップ形成面を形成してなる多層プ
リント配線板からなるベース基板部と、このベース基板
部のビルドアップ形成面上に積層形成され各層が誘電絶
縁層上に配線パターンや成膜素子を形成してなる高周波
回路部と、この高周波回路部の最上層の配線層上に実装
された半導体チップや電子部品等の実装部品とを備えて
なる。高周波回路部には、最上層の配線層に配線パター
ンや成膜素子とともに多数個のランドとグランドパター
ンとが形成され、この最上層の配線層上に相対する各ラ
ンドに端子が接合されかつグランドパターンにグランド
端子が接合されることによって実装部品が実装される。
高周波モジュールは、高周波回路部の最上層の配線層に
形成されて成膜素子と所定のランドとを接続する伝送線
路を、グランドパターンに形成した抜きパターン領域内
を絶縁を保持して導くことにより、共通平面において周
囲を囲まれるとともに下層の配線層内にグランド面の定
義を不要とするコプレーナ型伝送線路として構成してな
る。
【0022】以上のように構成された本発明にかかる高
周波モジュールによれば、高周波回路部が比較的廉価な
多層プリント配線基板からなるベース基板部の平坦化さ
れたビルドアップ形成面上に積層形成されることによ
り、コスト低減を図って高周波回路部の配線部内に高精
度の成膜素子や配線パターンを形成することが可能とな
る。高周波モジュールによれば、高周波回路部の最上層
の配線層にコプレーナ型伝送線路を形成することによっ
てベース基板部側にグランド面の定義を不要とすること
から、各配線層の絶縁層の厚みバラツキを低減するとと
もに最上層の配線層に形成されるグランドパターンの分
断を回避して各成膜素子や端子部間の高周波的接続性や
連続性が保持されて高周波特性の向上が図られる。
周波モジュールによれば、高周波回路部が比較的廉価な
多層プリント配線基板からなるベース基板部の平坦化さ
れたビルドアップ形成面上に積層形成されることによ
り、コスト低減を図って高周波回路部の配線部内に高精
度の成膜素子や配線パターンを形成することが可能とな
る。高周波モジュールによれば、高周波回路部の最上層
の配線層にコプレーナ型伝送線路を形成することによっ
てベース基板部側にグランド面の定義を不要とすること
から、各配線層の絶縁層の厚みバラツキを低減するとと
もに最上層の配線層に形成されるグランドパターンの分
断を回避して各成膜素子や端子部間の高周波的接続性や
連続性が保持されて高周波特性の向上が図られる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して詳細に説明する。実施の形態として
図に示した高周波モジュール1は、情報通信機能やスト
レージ機能等を有しており、例えば搬送周波数帯が5G
Hzの小規模無線通信システム仕様のパーソナルコンピ
ュータ、携帯電話機や携帯情報端末機或いは携帯オーデ
ィオ機器等の各種電子機器に搭載され或いはオプション
として挿脱される超小型通信機能モジュール体等に用い
られる。高周波モジュール1は、図1に示すようにベー
ス基板部2と、このベース基板部2上に積層形成された
高周波回路部3とから構成され、高周波回路部3の表面
に例えば高周波送受信回路部の周辺回路機能を有する半
導体チップ4や複数個の表面実装型電子部品5a乃至5
c等が実装されてなる。
て、図面を参照して詳細に説明する。実施の形態として
図に示した高周波モジュール1は、情報通信機能やスト
レージ機能等を有しており、例えば搬送周波数帯が5G
Hzの小規模無線通信システム仕様のパーソナルコンピ
ュータ、携帯電話機や携帯情報端末機或いは携帯オーデ
ィオ機器等の各種電子機器に搭載され或いはオプション
として挿脱される超小型通信機能モジュール体等に用い
られる。高周波モジュール1は、図1に示すようにベー
ス基板部2と、このベース基板部2上に積層形成された
高周波回路部3とから構成され、高周波回路部3の表面
に例えば高周波送受信回路部の周辺回路機能を有する半
導体チップ4や複数個の表面実装型電子部品5a乃至5
c等が実装されてなる。
【0024】高周波モジュール1は、ベース基板部2と
高周波回路部3とが電気的に分離された構造となってお
り、高周波回路部3に対する電気的干渉が抑制されて特
性の向上が図られている。高周波モジュール1は、詳細
を省略するがベース基板部2に電源回路や制御系の回路
或いはデジタル信号処理回路が形成されるとともに、こ
のベース基板部2が図示しないインターポーザ或いはマ
ザー基板等への実装部を構成する。高周波モジュール1
においては、ベース基板部2に充分な面積を有する電源
回路やグランドパターンが形成されることによって、高
周波回路部3に対してレギュレーションの高い電源供給
が行われる。
高周波回路部3とが電気的に分離された構造となってお
り、高周波回路部3に対する電気的干渉が抑制されて特
性の向上が図られている。高周波モジュール1は、詳細
を省略するがベース基板部2に電源回路や制御系の回路
或いはデジタル信号処理回路が形成されるとともに、こ
のベース基板部2が図示しないインターポーザ或いはマ
ザー基板等への実装部を構成する。高周波モジュール1
においては、ベース基板部2に充分な面積を有する電源
回路やグランドパターンが形成されることによって、高
周波回路部3に対してレギュレーションの高い電源供給
が行われる。
【0025】ベース基板部2は、一般的なプリントサー
キットボード技術等によって形成された4層構成の多層
プリント配線板からなる。ベース基板部2は、例えば一
対の両面銅貼り有機基板6、7がプリプレグ8を介して
一体に接合されてなる。第1の有機基板6及び第2の有
機基板7には、銅箔にフォトリソグラフ処理やエッチン
グ処理等が施されてそれぞれの表裏主面に第3配線層9
と第4配線層10及び第5配線層11と第6配線層12
とが形成される。ベース基板部2は、第3配線層9乃至
第6配線層12が適宜に形成されたビアを介して層間接
続されてなる。
キットボード技術等によって形成された4層構成の多層
プリント配線板からなる。ベース基板部2は、例えば一
対の両面銅貼り有機基板6、7がプリプレグ8を介して
一体に接合されてなる。第1の有機基板6及び第2の有
機基板7には、銅箔にフォトリソグラフ処理やエッチン
グ処理等が施されてそれぞれの表裏主面に第3配線層9
と第4配線層10及び第5配線層11と第6配線層12
とが形成される。ベース基板部2は、第3配線層9乃至
第6配線層12が適宜に形成されたビアを介して層間接
続されてなる。
【0026】なお、ベース基板部2は、その他のプリン
トサーキットボード技術、例えば一対の有機基板の表裏
主面にそれぞれメッキレジストによるパターニングを行
い、アディティブ法等によってメッキ導体を形成して第
3配線層9乃至第6配線層12を形成するようにしても
よい。
トサーキットボード技術、例えば一対の有機基板の表裏
主面にそれぞれメッキレジストによるパターニングを行
い、アディティブ法等によってメッキ導体を形成して第
3配線層9乃至第6配線層12を形成するようにしても
よい。
【0027】ベース基板部2は、第6配線層12をソル
ダレジスト等からなる保護層により被覆するとともに、
この保護層の所定箇所にフォトリソグラフ処理等を施こ
すことにより開口部を形成する。ベース基板部2は、各
開口部に露出された第6配線層12の適宜の配線パター
ンに例えば無電解Ni−Auめっきを施して多数の端子
13が形成される。ベース基板部2は、これら端子13
が、高周波モジュール1を図示しないインターポーザ等
に実装する際の接続端子を構成する。
ダレジスト等からなる保護層により被覆するとともに、
この保護層の所定箇所にフォトリソグラフ処理等を施こ
すことにより開口部を形成する。ベース基板部2は、各
開口部に露出された第6配線層12の適宜の配線パター
ンに例えば無電解Ni−Auめっきを施して多数の端子
13が形成される。ベース基板部2は、これら端子13
が、高周波モジュール1を図示しないインターポーザ等
に実装する際の接続端子を構成する。
【0028】ベース基板部2は、第3配線層9の一部に
グランドパターン14が形成されるとともに、第5配線
層11が全面に亘って銅箔層を残していわゆるベタパタ
ーンからなるグランド層を構成している。ベース基板部
2には、第3配線層9のグランドパターン14と第5配
線層11のベタパターンとに挟まれた第4配線層10内
に分布定数設計による伝送線路15a、15bが形成さ
れている。これら伝送線路15a、15bは、上下の配
線層に形成された各グランドパターンをグランド面とし
て定義することによってストリップラインとして機能
し、例えばフィルタパターンや結合器パターンとして作
用する。
グランドパターン14が形成されるとともに、第5配線
層11が全面に亘って銅箔層を残していわゆるベタパタ
ーンからなるグランド層を構成している。ベース基板部
2には、第3配線層9のグランドパターン14と第5配
線層11のベタパターンとに挟まれた第4配線層10内
に分布定数設計による伝送線路15a、15bが形成さ
れている。これら伝送線路15a、15bは、上下の配
線層に形成された各グランドパターンをグランド面とし
て定義することによってストリップラインとして機能
し、例えばフィルタパターンや結合器パターンとして作
用する。
【0029】ベース基板部2は、上述した構成によって
第4配線層10が電気的にもシールドされることで、こ
の第4配線層10にデジタル信号の処理回路等を形成す
ることが可能となり高周波モジュール1の高密度化が図
られるようになる。ベース基板部2は、内部に部分的な
グランドパターン14を有しているが、詳細を後述する
ように高周波回路部3に形成される所定の伝送線路に対
してグランド面として定義されるグランドパターンを有
しない構造である。したがって、ベース基板部2は、第
3配線層9乃至第6配線層12の各絶縁層の高精度の厚
み管理を不要として、換言すれば各絶縁層が所定の厚み
に保持されて後述する高周波回路部3の高周波特性への
影響を低減するようになる。
第4配線層10が電気的にもシールドされることで、こ
の第4配線層10にデジタル信号の処理回路等を形成す
ることが可能となり高周波モジュール1の高密度化が図
られるようになる。ベース基板部2は、内部に部分的な
グランドパターン14を有しているが、詳細を後述する
ように高周波回路部3に形成される所定の伝送線路に対
してグランド面として定義されるグランドパターンを有
しない構造である。したがって、ベース基板部2は、第
3配線層9乃至第6配線層12の各絶縁層の高精度の厚
み管理を不要として、換言すれば各絶縁層が所定の厚み
に保持されて後述する高周波回路部3の高周波特性への
影響を低減するようになる。
【0030】ベース基板部2は、第1の有機基板6と第
2の有機基板7とが低比誘電率特性と低Tanδ特性、
すなわち高周波特性に優れるとともに機械的剛性と耐熱
性及び耐薬品性を有する有機基材を有している。第1の
有機基板6及び第2の有機基板7は、かかる特性を有す
る有機基材がガラス繊維を網目模様に織ったガラス織布
をコア材として一体化されるとともに、上述したように
その表裏主面にそれぞれ銅箔が貼り付けられてなる。有
機基材としては、液晶ポリマ(LCP)、ベンゾシクロ
ブテン(BCB)、ポリイミド、ポリノルボルネン(P
NB)、ポリフェニレンエーテル(PPE)、ポリテト
ラフルオロエチレン(テフロン:登録商標名)、ビスマ
レイドトリアジン(BT−resin)、又はこれら樹
脂にセラミック粉等の無機基材を分散してなる基材等か
ら選択された有機基材が用いられる。
2の有機基板7とが低比誘電率特性と低Tanδ特性、
すなわち高周波特性に優れるとともに機械的剛性と耐熱
性及び耐薬品性を有する有機基材を有している。第1の
有機基板6及び第2の有機基板7は、かかる特性を有す
る有機基材がガラス繊維を網目模様に織ったガラス織布
をコア材として一体化されるとともに、上述したように
その表裏主面にそれぞれ銅箔が貼り付けられてなる。有
機基材としては、液晶ポリマ(LCP)、ベンゾシクロ
ブテン(BCB)、ポリイミド、ポリノルボルネン(P
NB)、ポリフェニレンエーテル(PPE)、ポリテト
ラフルオロエチレン(テフロン:登録商標名)、ビスマ
レイドトリアジン(BT−resin)、又はこれら樹
脂にセラミック粉等の無機基材を分散してなる基材等か
ら選択された有機基材が用いられる。
【0031】ベース基板部2は、詳細を省略するが第3
配線層9上に絶縁樹脂層を形成するとともに、配線パタ
ーンの表面を含んでこの絶縁樹脂層に平坦化処理を施し
て高周波回路部3を積層形成するビルドアップ形成面1
6を形成してなる。平坦化処理は、例えばアルミナとシ
リカの混合液からなる研磨剤を用いて、絶縁樹脂層を第
3配線層9の配線パターンを露出させる研磨処理によっ
て行われる。ベース基板部2は、平坦化されたビルドア
ップ形成面16の形成方法として、上述した研磨処理ば
かりでなく、例えば方向性化学エッチング法(RIE:
Reactive Ion Etching)やプラズマエッチング法(P
E:Plasma Etching)等を施して平坦化するようにして
もよい。
配線層9上に絶縁樹脂層を形成するとともに、配線パタ
ーンの表面を含んでこの絶縁樹脂層に平坦化処理を施し
て高周波回路部3を積層形成するビルドアップ形成面1
6を形成してなる。平坦化処理は、例えばアルミナとシ
リカの混合液からなる研磨剤を用いて、絶縁樹脂層を第
3配線層9の配線パターンを露出させる研磨処理によっ
て行われる。ベース基板部2は、平坦化されたビルドア
ップ形成面16の形成方法として、上述した研磨処理ば
かりでなく、例えば方向性化学エッチング法(RIE:
Reactive Ion Etching)やプラズマエッチング法(P
E:Plasma Etching)等を施して平坦化するようにして
もよい。
【0032】ベース基板部2は、上述した第3配線層9
乃至第6配線層12の4層構造に限定されず、さらに多
層に構成してもよいことは勿論である。高周波モジュー
ル1は、上述したように比較的廉価な有機基板6、7を
用いて一般的なプリントサーキッドボード技術等により
第3配線層9乃至第6配線層12を形成することで、比
較的精度が高く量産性もよくかつ低コスト化が図られて
製作される。
乃至第6配線層12の4層構造に限定されず、さらに多
層に構成してもよいことは勿論である。高周波モジュー
ル1は、上述したように比較的廉価な有機基板6、7を
用いて一般的なプリントサーキッドボード技術等により
第3配線層9乃至第6配線層12を形成することで、比
較的精度が高く量産性もよくかつ低コスト化が図られて
製作される。
【0033】以上のように構成されたベース基板部2に
は、平坦化されたビルドアップ形成面16上に薄膜技術
や厚膜技術によって精密な高周波回路部3がビルドアッ
プ形成される。高周波回路部3は、ビルドアップ形成面
16上に形成された第2配線層18と、この第2配線層
18上に形成された第1配線層17との2層構成からな
る。第1配線層17と第2配線層18とは、適宜に形成
された図示しないビアを介して層間接続が図られるとと
もにベース基板部2との電気的接続が図られている。
は、平坦化されたビルドアップ形成面16上に薄膜技術
や厚膜技術によって精密な高周波回路部3がビルドアッ
プ形成される。高周波回路部3は、ビルドアップ形成面
16上に形成された第2配線層18と、この第2配線層
18上に形成された第1配線層17との2層構成からな
る。第1配線層17と第2配線層18とは、適宜に形成
された図示しないビアを介して層間接続が図られるとと
もにベース基板部2との電気的接続が図られている。
【0034】第2配線層18は、例えばビルドアップ形
成面16上に上述した有機基材6、7と同様の誘電絶縁
材をスピンコート法やロールコート法等によって所定の
厚みを以って塗布してなる誘電絶縁層と、この誘電絶縁
層に形成される配線パターンとからなる。誘電絶縁層に
は、例えばスパッタ法等によりAl、Pt或いはAu等
の金属薄膜層が全面に亘って形成され、この金属薄膜層
にフォトリソグラフ処理によるパターン形成、エッチン
グ処理による不要金属薄膜層の除去等の工程を施して導
体パターンが形成される。第2配線層18には、詳細を
省略するがキャパシタ素子やレジスタ素子等の受動素子
或いはフィルタ素子等が形成される。
成面16上に上述した有機基材6、7と同様の誘電絶縁
材をスピンコート法やロールコート法等によって所定の
厚みを以って塗布してなる誘電絶縁層と、この誘電絶縁
層に形成される配線パターンとからなる。誘電絶縁層に
は、例えばスパッタ法等によりAl、Pt或いはAu等
の金属薄膜層が全面に亘って形成され、この金属薄膜層
にフォトリソグラフ処理によるパターン形成、エッチン
グ処理による不要金属薄膜層の除去等の工程を施して導
体パターンが形成される。第2配線層18には、詳細を
省略するがキャパシタ素子やレジスタ素子等の受動素子
或いはフィルタ素子等が形成される。
【0035】誘電絶縁層には、例えばスパッタ法等によ
って導体パターンを含んで全面に亘って窒化タンタル層
が成膜形成される。窒化タンタル層は、選択的に残され
て第2配線層18においてレジスタ素子を形成するとと
もに、陽極酸化されてキャパシタ素子の誘電体膜として
作用する酸化タンタルのベースとなる。窒化タンタル層
には、キャパシタ素子の下電極やレジスタ素子形成部に
対向する部位に開口部を設けた陽極酸化マスク層が形成
されて陽極酸化処理が施される。窒化タンタル層には、
各開口部に対応する部位が選択的に陽極酸化されること
によって酸化タンタル層が形成されるとともに、不要部
分がエッチング処理等によって除去される。なお、キャ
パシタ素子やレジスタ素子の形成方法は、上述した工程
に限定されるものでは無く、例えば窒化タンタル層の全
面に亘って陽極酸化処理を施して酸化タンタル層を形成
した後にパターニングを行って形成してもよい。
って導体パターンを含んで全面に亘って窒化タンタル層
が成膜形成される。窒化タンタル層は、選択的に残され
て第2配線層18においてレジスタ素子を形成するとと
もに、陽極酸化されてキャパシタ素子の誘電体膜として
作用する酸化タンタルのベースとなる。窒化タンタル層
には、キャパシタ素子の下電極やレジスタ素子形成部に
対向する部位に開口部を設けた陽極酸化マスク層が形成
されて陽極酸化処理が施される。窒化タンタル層には、
各開口部に対応する部位が選択的に陽極酸化されること
によって酸化タンタル層が形成されるとともに、不要部
分がエッチング処理等によって除去される。なお、キャ
パシタ素子やレジスタ素子の形成方法は、上述した工程
に限定されるものでは無く、例えば窒化タンタル層の全
面に亘って陽極酸化処理を施して酸化タンタル層を形成
した後にパターニングを行って形成してもよい。
【0036】第2配線層18は、上述したようにベース
基板部2の平坦化されたビルドアップ形成面16上に形
成されることから、誘電絶縁層がその厚みを充分に管理
されて形成されるとともに各受動素子等も高精度に形成
される。なお、第2配線層18は、上述した工程を経て
形成されるものに限定されず、例えば誘電絶縁層に配線
パターンに対応したパターン溝を形成した後にその全面
にスパッタ法等により金属薄膜層を形成し、さらにこの
金属薄膜層を誘電絶縁層が露出するまで研磨処理を施す
ことによって形成してもよい。第2配線層18は、かか
る工程を経ることによって全体に高精度の厚みを以って
形成されるとともに後述する第1配線層17を形成する
形成面の平坦化が図られるようになる。
基板部2の平坦化されたビルドアップ形成面16上に形
成されることから、誘電絶縁層がその厚みを充分に管理
されて形成されるとともに各受動素子等も高精度に形成
される。なお、第2配線層18は、上述した工程を経て
形成されるものに限定されず、例えば誘電絶縁層に配線
パターンに対応したパターン溝を形成した後にその全面
にスパッタ法等により金属薄膜層を形成し、さらにこの
金属薄膜層を誘電絶縁層が露出するまで研磨処理を施す
ことによって形成してもよい。第2配線層18は、かか
る工程を経ることによって全体に高精度の厚みを以って
形成されるとともに後述する第1配線層17を形成する
形成面の平坦化が図られるようになる。
【0037】第1配線層17は、高周波モジュール1の
最上層を構成し、上述したように半導体チップ4や電子
部品5a乃至5cが実装される。第1配線層17も、上
述した第2配線層18と同様に、誘電絶縁層と、この誘
電絶縁層に適宜形成された配線パターンとからなる。第
1配線層17は、第2配線層18上に形成された誘電絶
縁層上にスパッタ法等によって例えば高周波帯域におい
て損失の小さい特性を有するCu層を成膜形成し、この
Cu層にフォトリソグラフ処理やエッチング処理を施し
て所定の配線パターンが形成される。
最上層を構成し、上述したように半導体チップ4や電子
部品5a乃至5cが実装される。第1配線層17も、上
述した第2配線層18と同様に、誘電絶縁層と、この誘
電絶縁層に適宜形成された配線パターンとからなる。第
1配線層17は、第2配線層18上に形成された誘電絶
縁層上にスパッタ法等によって例えば高周波帯域におい
て損失の小さい特性を有するCu層を成膜形成し、この
Cu層にフォトリソグラフ処理やエッチング処理を施し
て所定の配線パターンが形成される。
【0038】第1配線層17には、図2に示すように誘
電絶縁層上に、第1のスパイラル型インダクタ素子19
a乃至19cと、第1のインダクタ素子19aと第2の
インダクタ素子19bとを囲む第1のグランドパターン
20と、第3のインダクタ素子19cを囲む第2のグラ
ンドパターン21とが形成されている。第1配線層17
には、半導体チップ4の各端子がそれぞれ直接接合され
ることによりフリップチップ実装する多数個の半導体実
装用ランド22と、電子部品5a乃至5cを直接実装す
る電子部品実装用ランド23a乃至23cとが形成され
ている。
電絶縁層上に、第1のスパイラル型インダクタ素子19
a乃至19cと、第1のインダクタ素子19aと第2の
インダクタ素子19bとを囲む第1のグランドパターン
20と、第3のインダクタ素子19cを囲む第2のグラ
ンドパターン21とが形成されている。第1配線層17
には、半導体チップ4の各端子がそれぞれ直接接合され
ることによりフリップチップ実装する多数個の半導体実
装用ランド22と、電子部品5a乃至5cを直接実装す
る電子部品実装用ランド23a乃至23cとが形成され
ている。
【0039】第1配線層17には、第1のインダクタ素
子19a乃至第3のインダクタ素子19cと半導体チッ
プ実装用ランド22とを接続する第1の伝送線路24a
乃至第3の伝送線路24cが形成されている。第1配線
層17には、半導体チップ実装用ランド22と電子部品
実装用ランド23とを接続する第1の伝送線路25a乃
至第3の伝送線路25cが形成されている。第1配線層
17には、高周波信号伝送線路26や、デジタル信号伝
送線路27が形成されている。
子19a乃至第3のインダクタ素子19cと半導体チッ
プ実装用ランド22とを接続する第1の伝送線路24a
乃至第3の伝送線路24cが形成されている。第1配線
層17には、半導体チップ実装用ランド22と電子部品
実装用ランド23とを接続する第1の伝送線路25a乃
至第3の伝送線路25cが形成されている。第1配線層
17には、高周波信号伝送線路26や、デジタル信号伝
送線路27が形成されている。
【0040】なお、第1配線層17には、上述した各イ
ンダクタ素子19ばかりでなく、キャパシタ素子やレジ
スタ素子等の受動素子或いはアンテナ素子やフィルタ素
子等の各種機能素子を成膜形成してもよい。また、第1
配線層17には、グランド接続される半導体チップ4を
搭載するようにしたが、電子部品5と同様にグランド接
続を不要とする半導体チップを実装するようにしてもよ
い。半導体チップ4については、フリップチップ実装法
ばかりでなく他の適宜の表面実装方法によって第1配線
層17上に実装するようにしてもよいことは勿論であ
る。第1配線層17は、詳細を省略するが各ランド2
2、23を除いて、インダクタ素子19や各伝送線路2
4乃至27を例えばソルダレジスト等からなる保護層に
よって被覆するようにしてもよい。
ンダクタ素子19ばかりでなく、キャパシタ素子やレジ
スタ素子等の受動素子或いはアンテナ素子やフィルタ素
子等の各種機能素子を成膜形成してもよい。また、第1
配線層17には、グランド接続される半導体チップ4を
搭載するようにしたが、電子部品5と同様にグランド接
続を不要とする半導体チップを実装するようにしてもよ
い。半導体チップ4については、フリップチップ実装法
ばかりでなく他の適宜の表面実装方法によって第1配線
層17上に実装するようにしてもよいことは勿論であ
る。第1配線層17は、詳細を省略するが各ランド2
2、23を除いて、インダクタ素子19や各伝送線路2
4乃至27を例えばソルダレジスト等からなる保護層に
よって被覆するようにしてもよい。
【0041】第1配線層17には、図2に鎖線で示すよ
うに略中央部の矩形領域が半導体チップ4を実装するチ
ップ実装領域28とされ、このチップ実装領域28の四
辺に沿って上述した多数個の半導体チップ実装用ランド
22が配置されている。半導体チップ実装用ランド22
は、詳細を後述するように高周波信号の入出力用ランド
22a、デジタル信号の入出力用ランド22b或いはグ
ランドランド22c等からなる。半導体チップ実装用ラ
ンド22は、上述したようにその一部が伝送線路24、
25を介して各インダクタ素子19や電子部品5と接続
されるとともに、詳細を省略するが他の一部がビアを介
して第2配線層18の配線パターンと適宜接続されてな
る。
うに略中央部の矩形領域が半導体チップ4を実装するチ
ップ実装領域28とされ、このチップ実装領域28の四
辺に沿って上述した多数個の半導体チップ実装用ランド
22が配置されている。半導体チップ実装用ランド22
は、詳細を後述するように高周波信号の入出力用ランド
22a、デジタル信号の入出力用ランド22b或いはグ
ランドランド22c等からなる。半導体チップ実装用ラ
ンド22は、上述したようにその一部が伝送線路24、
25を介して各インダクタ素子19や電子部品5と接続
されるとともに、詳細を省略するが他の一部がビアを介
して第2配線層18の配線パターンと適宜接続されてな
る。
【0042】各インダクタ素子19は、それぞれ外周側
の端部が伝送線路24に接続され、内周側の端部が詳細
を省略するがビアを介して第2配線層18の配線パター
ン18aと適宜接続されてなる。第1のインダクタ素子
19aと第2のインダクタ素子19bは、上述したよう
に円形の絶縁領域20a、20bを介して第1のグラン
ドパターン20によって周囲を囲まれている。第1のイ
ンダクタ素子19aと第2のインダクタ素子19bは、
詳細を後述するように第1のグランドパターン20に形
成した抜きパターン領域20c、20d内を絶縁を保持
されて導かれた第1の伝送線路24a及び第2の伝送線
路24bを介して半導体チップ実装用ランド22とそれ
ぞれ接続されている。
の端部が伝送線路24に接続され、内周側の端部が詳細
を省略するがビアを介して第2配線層18の配線パター
ン18aと適宜接続されてなる。第1のインダクタ素子
19aと第2のインダクタ素子19bは、上述したよう
に円形の絶縁領域20a、20bを介して第1のグラン
ドパターン20によって周囲を囲まれている。第1のイ
ンダクタ素子19aと第2のインダクタ素子19bは、
詳細を後述するように第1のグランドパターン20に形
成した抜きパターン領域20c、20d内を絶縁を保持
されて導かれた第1の伝送線路24a及び第2の伝送線
路24bを介して半導体チップ実装用ランド22とそれ
ぞれ接続されている。
【0043】第3のインダクタ素子19cは、上述した
ように円形の絶縁領域21aを介して第2のグランドパ
ターン21によって周囲を囲まれている。第3のインダ
クタ素子19cは、第2のグランドパターン21に形成
した切欠き部21bを通して導かれた第3の伝送線路2
4cを介して半導体チップ実装用ランド22と接続され
ている。
ように円形の絶縁領域21aを介して第2のグランドパ
ターン21によって周囲を囲まれている。第3のインダ
クタ素子19cは、第2のグランドパターン21に形成
した切欠き部21bを通して導かれた第3の伝送線路2
4cを介して半導体チップ実装用ランド22と接続され
ている。
【0044】高周波信号伝送線路26は、図3に示すよ
うに、一端側が所定の半導体チップ実装用ランド22の
入出力用ランド22と接続されるとともに他端側がチッ
プ実装領域28の内方へと導かれて図示しないビアを介
して第2配線層18或いはベース基板部2と接続されて
いる。デジタル信号伝送線路27も、一端側が所定の半
導体チップ実装用ランド22と接続されるとともに、他
端側がチップ実装領域28の内方或いは外方へと適宜導
かれて図示しないビアを介して第2配線層18或いはベ
ース基板部2と接続されている。
うに、一端側が所定の半導体チップ実装用ランド22の
入出力用ランド22と接続されるとともに他端側がチッ
プ実装領域28の内方へと導かれて図示しないビアを介
して第2配線層18或いはベース基板部2と接続されて
いる。デジタル信号伝送線路27も、一端側が所定の半
導体チップ実装用ランド22と接続されるとともに、他
端側がチップ実装領域28の内方或いは外方へと適宜導
かれて図示しないビアを介して第2配線層18或いはベ
ース基板部2と接続されている。
【0045】高周波回路部3においては、チップ実装領
域28の一部が、図2において破線で示す上述したベー
ス基板部2側の第3の配線層9に形成されたグランドパ
ターン14と対向されてなる。高周波回路部3において
は、第1配線層17の一方領域(同図において右側領
域)に形成された第3のインダクタ素子19cの伝送線
路24c或いは第2の電子部品5bや第3の電子部品5
cの伝送線路25b、25cが、ベース基板部2側のグ
ランドパターン14と対向するようにして形成されてい
る。各伝送線路24c及び伝送線路25b、25cは、
グランドパターン14をグランド面として定義すること
により、マイクロストリップ型伝送線路を構成する。
域28の一部が、図2において破線で示す上述したベー
ス基板部2側の第3の配線層9に形成されたグランドパ
ターン14と対向されてなる。高周波回路部3において
は、第1配線層17の一方領域(同図において右側領
域)に形成された第3のインダクタ素子19cの伝送線
路24c或いは第2の電子部品5bや第3の電子部品5
cの伝送線路25b、25cが、ベース基板部2側のグ
ランドパターン14と対向するようにして形成されてい
る。各伝送線路24c及び伝送線路25b、25cは、
グランドパターン14をグランド面として定義すること
により、マイクロストリップ型伝送線路を構成する。
【0046】高周波回路部3は、上述したように第1配
線層17の一部の領域にマイクロストリップ型伝送線路
を形成した構造となっている。高周波回路部3において
は、この領域がグランドパターン14の影響を受けるこ
とで、グランドパターン14と対向されない詳細を後述
する他方領域A(図2において左側領域)に対して高周
波特性的に不利な構成となる。したがって、高周波回路
部3においては、この領域にさほど高精度の高周波特性
を要求しない受動素子を含む回路部が形成される。高周
波回路部3は、かかる構成を採用することによって高周
波回路ブロックとデジタル回路ブロックとを高密度に実
装した高周波モジュール1を製作することを可能とす
る。高周波回路部3は、例えば高周波フロントエンド回
路ブロックとベースバンド回路ブロックとを搭載した高
周波モジュール1について、基板面積を有効利用して小
型化を図ることを可能とする。
線層17の一部の領域にマイクロストリップ型伝送線路
を形成した構造となっている。高周波回路部3において
は、この領域がグランドパターン14の影響を受けるこ
とで、グランドパターン14と対向されない詳細を後述
する他方領域A(図2において左側領域)に対して高周
波特性的に不利な構成となる。したがって、高周波回路
部3においては、この領域にさほど高精度の高周波特性
を要求しない受動素子を含む回路部が形成される。高周
波回路部3は、かかる構成を採用することによって高周
波回路ブロックとデジタル回路ブロックとを高密度に実
装した高周波モジュール1を製作することを可能とす
る。高周波回路部3は、例えば高周波フロントエンド回
路ブロックとベースバンド回路ブロックとを搭載した高
周波モジュール1について、基板面積を有効利用して小
型化を図ることを可能とする。
【0047】高周波回路部3は、図1に示すように第1
配線層17の左側領域Aが上述したようにベース基板部
2側のグランドパターン14と対向されない領域として
構成されてなる。高周波回路部3においては、かかる構
成によってこの左側領域Aがベース基板部2側のグラン
ドパターンの影響を受けずに高周波特性的に安定した領
域となり、この領域A内に形成した第1のインダクタ素
子19aや第2のインダクタ素子19bの動作特性の向
上が図られる。なお、高周波回路部3は、この領域Aも
ベース基板部2側の第5配線層11のグランドパターン
と対向するが、充分な対向間隔が保持されていることに
より第1のインダクタ素子19aや第2のインダクタ素
子19bに対する高周波特性的にほとんど影響を生じさ
せることは無い。
配線層17の左側領域Aが上述したようにベース基板部
2側のグランドパターン14と対向されない領域として
構成されてなる。高周波回路部3においては、かかる構
成によってこの左側領域Aがベース基板部2側のグラン
ドパターンの影響を受けずに高周波特性的に安定した領
域となり、この領域A内に形成した第1のインダクタ素
子19aや第2のインダクタ素子19bの動作特性の向
上が図られる。なお、高周波回路部3は、この領域Aも
ベース基板部2側の第5配線層11のグランドパターン
と対向するが、充分な対向間隔が保持されていることに
より第1のインダクタ素子19aや第2のインダクタ素
子19bに対する高周波特性的にほとんど影響を生じさ
せることは無い。
【0048】高周波回路部3には、領域A内に上述した
ように第1のインダクタ素子19a及び第2のインダク
タ素子19bとともに第1の伝送線路24a及び第2の
伝送線路24bが形成されている。第1の伝送線路24
a及び第2の伝送線路24bは、それぞれが図3に詳細
を示すように、一端側を第1のインダクタ素子19a或
いは第2のインダクタ素子19bと接続されている。第
1の伝送線路24a及び第2の伝送線路24bは、それ
ぞれ第1のグランドパターン20に形成した抜きパター
ン20c、20d内を絶縁を保持した状態で導かれ、他
端側を高周波信号入出力ランド22aと接続されてい
る。したがって、第1の伝送線路24a及び第2の伝送
線路24bは、共通平面において周囲をグランドパター
ンにより囲まれた構造であり、対向する他の層にグラン
ド面を定義しない伝送線路であることからコプレナー型
伝送線路を構成している。
ように第1のインダクタ素子19a及び第2のインダク
タ素子19bとともに第1の伝送線路24a及び第2の
伝送線路24bが形成されている。第1の伝送線路24
a及び第2の伝送線路24bは、それぞれが図3に詳細
を示すように、一端側を第1のインダクタ素子19a或
いは第2のインダクタ素子19bと接続されている。第
1の伝送線路24a及び第2の伝送線路24bは、それ
ぞれ第1のグランドパターン20に形成した抜きパター
ン20c、20d内を絶縁を保持した状態で導かれ、他
端側を高周波信号入出力ランド22aと接続されてい
る。したがって、第1の伝送線路24a及び第2の伝送
線路24bは、共通平面において周囲をグランドパター
ンにより囲まれた構造であり、対向する他の層にグラン
ド面を定義しない伝送線路であることからコプレナー型
伝送線路を構成している。
【0049】高周波回路部3においては、図3に詳細を
示すように半導体チップ4のグランド端子が接合される
グランドランド22cが第1のグランドパターン20と
一体化されて形成されている。高周波回路部3において
は、第1のグランドパターン20が半導体チップ4の高
周波特性用グランド機能と第1のインダクタ素子19a
及び第2のインダクタ素子19bのガードグランド機能
として作用する。高周波回路部3においては、第1のグ
ランドパターン20が一体化された構造であるとともに
半導体チップ4のグランド端子を第1のグランドパター
ン20と一体化されたグランドランド22cに直接接合
することから、半導体チップ4と第1のインダクタ素子
19a或いは第2のインダクタ素子19bとの高周波的
接続性や連続性を保持して高精度でかつ安定した高周波
特性を有する高周波モジュール1の製作を可能とする。
示すように半導体チップ4のグランド端子が接合される
グランドランド22cが第1のグランドパターン20と
一体化されて形成されている。高周波回路部3において
は、第1のグランドパターン20が半導体チップ4の高
周波特性用グランド機能と第1のインダクタ素子19a
及び第2のインダクタ素子19bのガードグランド機能
として作用する。高周波回路部3においては、第1のグ
ランドパターン20が一体化された構造であるとともに
半導体チップ4のグランド端子を第1のグランドパター
ン20と一体化されたグランドランド22cに直接接合
することから、半導体チップ4と第1のインダクタ素子
19a或いは第2のインダクタ素子19bとの高周波的
接続性や連続性を保持して高精度でかつ安定した高周波
特性を有する高周波モジュール1の製作を可能とする。
【0050】以上のように構成された高周波モジュール
1は、第1のインダクタ素子19aと第2のインダクタ
素子19b及び電子部品5aや第1のグランドパターン
20或いは高周波信号伝送線路26等によって高周波系
回路部を構成する。高周波モジュール1は、電子部品5
b、5cやデジタル信号伝送路27等によってデジタル
系回路部を構成する。さらに、高周波モジュール1は、
第3のインダクタ素子19cや第2のグランドパターン
21等によってアナログ低周波系回路部を構成する。高
周波モジュール1は、このように第1配線層17上に高
周波系回路部、デジタル系回路部及びアナログ低周波系
回路部が混載されてなる。
1は、第1のインダクタ素子19aと第2のインダクタ
素子19b及び電子部品5aや第1のグランドパターン
20或いは高周波信号伝送線路26等によって高周波系
回路部を構成する。高周波モジュール1は、電子部品5
b、5cやデジタル信号伝送路27等によってデジタル
系回路部を構成する。さらに、高周波モジュール1は、
第3のインダクタ素子19cや第2のグランドパターン
21等によってアナログ低周波系回路部を構成する。高
周波モジュール1は、このように第1配線層17上に高
周波系回路部、デジタル系回路部及びアナログ低周波系
回路部が混載されてなる。
【0051】高周波モジュール1は、ベース基板部2の
平坦化されたビルドアップ形成面16上に、薄膜技術や
厚膜技術によってインダクタ素子19やキャパシタ素子
等の受動素子或いはフィルタ素子や配線パターン等を有
する高周波回路部3が積層形成されてなる。したがっ
て、高周波モジュール1は、高周波回路部3内に高精度
の成膜素子が形成されるとともに配線パターン等の微細
配線化が図られる。
平坦化されたビルドアップ形成面16上に、薄膜技術や
厚膜技術によってインダクタ素子19やキャパシタ素子
等の受動素子或いはフィルタ素子や配線パターン等を有
する高周波回路部3が積層形成されてなる。したがっ
て、高周波モジュール1は、高周波回路部3内に高精度
の成膜素子が形成されるとともに配線パターン等の微細
配線化が図られる。
【0052】高周波モジュール1は、高周波回路部3の
第1配線層17に形成されて半導体チップ4の接続端子
が接合される半導体チップ実装用ランド22とインダク
タ素子19とを接続する第1の伝送線路24a及び第2
の伝送線路24bが形成される。高周波モジュール1
は、高周波回路部3の第1配線層17に形成されてイン
ダクタ素子19のガードグランドとして作用する第1の
グランドパターン20と半導体チップ4のグランド端子
が接合されるグランドランド22cとが一体化されてな
る。高周波モジュール1は、半導体チップ4と第1のイ
ンダクタ素子19とが高周波的接続性や連続性が充分に
保持され高精度でかつ安定した高周波特性を有する。
第1配線層17に形成されて半導体チップ4の接続端子
が接合される半導体チップ実装用ランド22とインダク
タ素子19とを接続する第1の伝送線路24a及び第2
の伝送線路24bが形成される。高周波モジュール1
は、高周波回路部3の第1配線層17に形成されてイン
ダクタ素子19のガードグランドとして作用する第1の
グランドパターン20と半導体チップ4のグランド端子
が接合されるグランドランド22cとが一体化されてな
る。高周波モジュール1は、半導体チップ4と第1のイ
ンダクタ素子19とが高周波的接続性や連続性が充分に
保持され高精度でかつ安定した高周波特性を有する。
【0053】高周波モジュール1は、第1の伝送線路2
4aと第2の伝送線路24bとを第1のグランドパター
ン20形成した抜きパターン20c、20d内に導くこ
とによって共通平面においてグランドが周囲を囲むよう
に構成してなる。高周波モジュール1は、第1の伝送線
路24aと第2の伝送線路24bとが、下層側にグラン
ド面の定義を不要とするコプレナー型伝送線路を構成す
る。高周波モジュール1は、ベース基板部2や高周波回
路部3の内層にグランドパターンが不要となることで、
高周波回路部3の最上層に厚み精度の高い誘電絶縁層を
介して第1配線層17が形成される。高周波モジュール
1は、誘電絶縁層の高精度の厚み管理を不要として高精
度かつ良好な高周波特性を有する。
4aと第2の伝送線路24bとを第1のグランドパター
ン20形成した抜きパターン20c、20d内に導くこ
とによって共通平面においてグランドが周囲を囲むよう
に構成してなる。高周波モジュール1は、第1の伝送線
路24aと第2の伝送線路24bとが、下層側にグラン
ド面の定義を不要とするコプレナー型伝送線路を構成す
る。高周波モジュール1は、ベース基板部2や高周波回
路部3の内層にグランドパターンが不要となることで、
高周波回路部3の最上層に厚み精度の高い誘電絶縁層を
介して第1配線層17が形成される。高周波モジュール
1は、誘電絶縁層の高精度の厚み管理を不要として高精
度かつ良好な高周波特性を有する。
【0054】なお、上述した高周波モジュール1におい
ては、ベース基板部2の一部にグランドパターン14を
形成することによって、高周波回路部3側にコプレナー
型伝送線路とともにマイクロストリップ型伝送線路やグ
ランドコプレナー型伝送線路を形成しかつベース基板部
2側にストリップ型伝送線路を形成したが、かかる構成
に限定されるものでは無い。高周波モジュール1におい
ては、例えば高周波回路部3側にコプレナー型伝送線路
のみを形成するようにしてもよい。
ては、ベース基板部2の一部にグランドパターン14を
形成することによって、高周波回路部3側にコプレナー
型伝送線路とともにマイクロストリップ型伝送線路やグ
ランドコプレナー型伝送線路を形成しかつベース基板部
2側にストリップ型伝送線路を形成したが、かかる構成
に限定されるものでは無い。高周波モジュール1におい
ては、例えば高周波回路部3側にコプレナー型伝送線路
のみを形成するようにしてもよい。
【0055】また、高周波モジュール1は、グランドパ
ターン14がいわゆるベタパターンとして形成されると
ともに高周波回路部3の必要な領域に対向してその一部
に抜きパターンを形成し、第1の伝送線路24aと第2
の伝送線路24bとを抜きパターン領域とパターン形成
領域とに対向して形成してもよい。高周波モジュール1
は、グランドパターン14と対向された第1の伝送線路
24a或いは第2の伝送線路24bがこれをグランド面
と定義することでグランドコプレナー型伝送線路を構成
する。高周波モジュール1は、第1配線層17内に必要
に応じてコプレナー型伝送線路とともに他の伝送線路を
混載して部分的に高精度の高周波特性領域を構成するよ
うにしてもよい。
ターン14がいわゆるベタパターンとして形成されると
ともに高周波回路部3の必要な領域に対向してその一部
に抜きパターンを形成し、第1の伝送線路24aと第2
の伝送線路24bとを抜きパターン領域とパターン形成
領域とに対向して形成してもよい。高周波モジュール1
は、グランドパターン14と対向された第1の伝送線路
24a或いは第2の伝送線路24bがこれをグランド面
と定義することでグランドコプレナー型伝送線路を構成
する。高周波モジュール1は、第1配線層17内に必要
に応じてコプレナー型伝送線路とともに他の伝送線路を
混載して部分的に高精度の高周波特性領域を構成するよ
うにしてもよい。
【0056】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明にかか
る高周波モジュールによれば、高周波回路部がベース基
板部の平坦化されたビルドアップ形成面上に積層形成さ
れることにより、高周波回路部の配線部内に受動素子や
各種機能素子等の成膜素子を高精度に形成することが可
能となる。高周波モジュールによれば、高周波回路部の
最上層の配線層内に下層側の配線層内にグランド面の定
義を不要とするとともにグランドパターンにより周囲を
囲まれて導かれるコプレナー型伝送線路を形成すること
によって、各配線層の絶縁層の厚みバラツキが低減され
るとともにグランドパターンの影響が排除されかつ最上
層の配線層に形成されるグランドパターンの分断を回避
して各成膜素子やランド間の高周波的接続性や連続性が
保持され、高周波特性の向上が図られるようになる。
る高周波モジュールによれば、高周波回路部がベース基
板部の平坦化されたビルドアップ形成面上に積層形成さ
れることにより、高周波回路部の配線部内に受動素子や
各種機能素子等の成膜素子を高精度に形成することが可
能となる。高周波モジュールによれば、高周波回路部の
最上層の配線層内に下層側の配線層内にグランド面の定
義を不要とするとともにグランドパターンにより周囲を
囲まれて導かれるコプレナー型伝送線路を形成すること
によって、各配線層の絶縁層の厚みバラツキが低減され
るとともにグランドパターンの影響が排除されかつ最上
層の配線層に形成されるグランドパターンの分断を回避
して各成膜素子やランド間の高周波的接続性や連続性が
保持され、高周波特性の向上が図られるようになる。
【図1】本発明にかかる高周波モジュールの要部縦断面
図である。
図である。
【図2】同高周波モジュールの要部平面図である。
【図3】高周波回路部の最上層の配線層に形成されるコ
プレナー型伝送線路を説明する要部平面図である。
プレナー型伝送線路を説明する要部平面図である。
【図4】マイクロストリップ型伝送線路を有する高周波
モジュールの要部縦断面図である。
モジュールの要部縦断面図である。
【図5】コプレナー型伝送線路を有する高周波モジュー
ルの要部縦断面図である。
ルの要部縦断面図である。
【図6】グランドコプレナー型伝送線路を有する高周波
モジュールの要部縦断面図である。
モジュールの要部縦断面図である。
【図7】ストリップ型伝送線路を有する高周波モジュー
ルの要部縦断面図である。
ルの要部縦断面図である。
【図8】従来の高周波モジュールの要部平面図である。
1 高周波モジュール、2 ベース基板部、3 高周波
回路部、4 半導体チップ、5 電子部品、6,7 有
機基板、8 プリプレグ、9 第3配線層、10 第4
配線層、11 第5配線層、12 第6配線層、14
グランドパターン、16 ビルドアップ形成面、17
第1配線層、18 第2配線層、19インダクタ素子、
20 第1のグランドパターン、22 半導体チップ実
装用ランド、24 第1の伝送線路、25 第2の伝送
線路、28 チップ実装領域
回路部、4 半導体チップ、5 電子部品、6,7 有
機基板、8 プリプレグ、9 第3配線層、10 第4
配線層、11 第5配線層、12 第6配線層、14
グランドパターン、16 ビルドアップ形成面、17
第1配線層、18 第2配線層、19インダクタ素子、
20 第1のグランドパターン、22 半導体チップ実
装用ランド、24 第1の伝送線路、25 第2の伝送
線路、28 チップ実装領域
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フロントページの続き
Fターム(参考) 5E338 AA03 AA16 CC02 CC06 CD12
CD23 CD24 EE11 EE23
5E346 AA12 AA13 AA15 AA35 BB06
BB11 CC10 CC32 CC53 CC54
DD03 DD23 DD32 DD33 DD44
EE33 GG17 GG18 GG22 HH06
HH25
5J014 CA41 CA56
Claims (2)
- 【請求項1】 多層プリント配線板を有し、最上層に平
坦化処理が施されてビルドアップ形成面を形成してなる
ベース基板部と、 各層が誘電絶縁層上に配線パターンや成膜素子が形成さ
れ上記ベース基板部のビルドアップ形成面上に積層形成
された多層の配線層からなり、最上層の配線層に上記配
線パターンや成膜素子とともに多数個のランドとグラン
ドパターンとが形成された高周波回路部と、 少なくとも上記高周波回路部の各ランド上に接合される
端子と上記グランドパターンと接続されるグランド端子
とを有し、上記高周波回路部の最上層に実装される半導
体チップや電子部品からなる実装部品とを備え、 上記高周波回路部の最上層の配線層に形成されて上記成
膜素子と所定のランドとの間を接続する伝送線路が、上
記グランドパターンに形成した抜きパターン領域内を絶
縁保持されて導かれることにより、下層側にグランド面
を定義しないコプレーナ型伝送線路として構成されるこ
とを特徴とする高周波モジュール。 - 【請求項2】 上記高周波回路部の配線層内に、上記ベ
ース基板部の配線層の一部に形成したグランドパターン
をグランド面として定義することによってマイクロスト
リップ型伝送線路やグランドコプレーナ型伝送線路を構
成する第2の伝送線路が形成されるとともに、 上記ベース基板部の配線層内に、上下層に形成したグラ
ンドパターンに挟まれてストリップ型伝送線路を構成す
る第3の伝送線路が形成されることを特徴とする請求項
1に記載の高周波モジュール。
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US10/475,940 US7239851B2 (en) | 2002-03-07 | 2003-03-05 | High frequency module |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002062550A JP2003264348A (ja) | 2002-03-07 | 2002-03-07 | 高周波モジュール |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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---|---|
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