JP2003255003A - 昇降プローブ付き検査装置の検査済み特定部品の回収機構 - Google Patents

昇降プローブ付き検査装置の検査済み特定部品の回収機構

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JP2003255003A
JP2003255003A JP2002053111A JP2002053111A JP2003255003A JP 2003255003 A JP2003255003 A JP 2003255003A JP 2002053111 A JP2002053111 A JP 2002053111A JP 2002053111 A JP2002053111 A JP 2002053111A JP 2003255003 A JP2003255003 A JP 2003255003A
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air tube
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air
elevating
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Toshiyuki Kondo
寿幸 近藤
Masaaki Taguchi
公明 田口
Kazuhiko Seki
和彦 関
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Hioki EE Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】被検査部品中から特定部品のみを自動的に回収
できる検査済み特定部品の回収機構の提供。 【解決手段】移動自在なアームの基台部11が備える昇
降プローブ12を定置された個々の微小な被検査部品1
6に接触させて特性を検査する検査装置に適用され、基
台部12には、開蓋自在な密封容器13と、一端部24
側からの空気引きが自在で他端部25を密封容器13内
に連通させた第1エアチューブ23と、密封容器13内
に基端部34を連通させて先端部35からの空気引きを
自在とした第2エアチューブ33とを配設し、該第2エ
アチューブ33は、先端部35をエアシリンダ45が備
える昇降ロッド部46に連結させて昇降制御を自在とす
るとともに、各被検査部品16の検査結果により選定さ
れた特定部品17上に位置させた第2エアチューブ33
の先端部35の降下と空気引きとにより、特定部品17
の密封容器13内への吸引を自在とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブを用いて
基板やチップ部品やパッケージ部品などからなる比較的
微小な被検査部品の良否を電気的に検査し、検査済みの
被検査部品中から選定された例えば不良品のみを特定部
品として自動的に回収できるようにした昇降プローブ付
き検査装置の検査済み特定部品の回収機構に関する技術
である。
【0002】
【従来の技術】図3は、基板やチップ部品やパッケージ
部品などで構成される被検査部品の良否をプローブを用
いて電気的に検査し、不良品を特定できるようにした検
査装置の従来例を示す要部説明図である。
【0003】同図によれば、X−Y軸方向への移動を自
在とした図示しないアームに固定される基台部1には、
Z軸方向への昇降を自在に配設された昇降プローブ2
と、エアシリンダ3が備える昇降ロッド部4の先端側に
取り付けられて所定マークの押捺を自在としたスタンプ
5とが配設されている。
【0004】このため、定置された個々の被検査部品に
対しプローブ2を電気的に接触させて電気的な検査を行
い、その検査結果に応じて不良品と判断された被検査部
品を特定することができるように、例えば基板7の所定
位置にスタンプ5の印面6を接触させて不良品であるこ
とを示す所定マークを押捺できるようになっている。
【0005】したがって、検査を終えた被検査部品は、
次工程において押捺されたマークを手掛かりに、目視に
よる確認やマーク検出装置によるチェックを経ることに
より、被検査部品中から不良品を特定することができる
ことになる。
【0006】このようにして検査後の被検査部品中から
不良品が特定された後は、該当する特定部品としての基
板7やチップ部品やパッケージ部品を人手により個別に
取り除かれることになる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来手法
による場合には、検査後に不良品を取り除く工程が必要
になるほか、目視による確認やマーク検出装置によるチ
ェックを経る際に見落としやマークが不鮮明で判別不能
となるなどの不都合があった。
【0008】さらに、人手を介して行われる不良品の取
除き作業には、大変な労力が必要となるほか、被検査部
品が微小化すればするほどさらに煩雑な作業を強いられ
る不具合があった。
【0009】本発明は、従来技術にみられた上記課題に
鑑み、被検査部品中から選定された特定部品、例えば不
良品のみを人手を介することなく自動的に確実に回収す
ることができる昇降プローブ付き検査装置の検査済み特
定部品の回収機構を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成すべくなされたものであり、X−Y軸方向への移動が
自在なアームに取着された基台部にZ軸方向への昇降が
自在な昇降プローブを付設し、該昇降プローブを定置さ
れた個々の微小な被検査部品に電気的に接触させて逐次
その特性を検査する検査装置に適用され、前記基台部に
は、開蓋自在な密封容器と、一端部側からの空気引きが
自在でその他端部を前記密封容器内に気密状に連通させ
てなる第1エアチューブと、前記密封容器内にその基端
部を気密状に連通させて開放端側に位置する先端部から
の空気引きを自在とした第2エアチューブとを配設し、
該第2エアチューブは、前記先端部を前記基台部に設置
されたエアシリンダが備える昇降ロッド部に連結させて
Z軸方向での昇降制御を自在とするとともに、移動制御
された前記基台部を介して各被検査部品の検査結果によ
り選定された特定部品上に位置させた第2エアチューブ
の前記先端部の降下と空気引きとにより、前記特定部品
の前記密封容器内への吸引を自在としたことに構成上の
特徴がある。
【0011】この場合、前記第2エアチューブには、吸
引された前記特定部品の通過を確認するセンサを配設し
ておくのが好ましい。また、第1エアチューブの前記他
端部は、前記密封容器内に導入された前記特定部品の吸
引を阻止する通気カバーをその開口面に具備させておく
のが望ましい。さらに、前記センサによる前記特定部品
の通過有無の検出信号を第1エアチューブによる空気引
きの要否指令と連動させておくこともできる。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一例につき一部
を切り欠いて示す要部説明図であり、図2は、図1にお
ける密封容器側の状態を示す平面図である。
【0013】本発明は、X−Y軸方向への移動が自在な
図示しないアームに取着された基台部11にZ軸方向へ
の昇降が自在な昇降プローブ12を付設し、該昇降プロ
ーブ12を定置された個々の微小な被検査部品16に電
気的に接触させて逐次その特性を検査する検査装置に適
用して搭載される。
【0014】この場合、基台部11には、開蓋自在な適
宜容量の密封容器13と、一端部24側からの空気引き
が自在でその他端部25を密封容器13内に気密状に連
通させてなる第1エアチューブ23と、密封容器13内
にその基端部34を気密状に連通させて開放端側に位置
する先端部35からの空気引きを自在とした第2エアチ
ューブ33とが配設されている。
【0015】このうち、密封容器13は、個々の被検査
部品16のうちの回収された特定部品17を収納してお
くために基台部11側に連結固定されるものであり、適
宜の封止構造のもとで開蓋自在に形成された上蓋部14
と容器本体部15とで形成されている。
【0016】また、密封容器13は、回収後に容器本体
部15内に収納されている特定部品16を量的に目視確
認できるように、少なくとも上蓋部14が、好ましくは
容器本体部15も透明な合成樹脂等により形成されてい
るものを好適に用いることができる。
【0017】可撓性を有する適宜口径の透明または不透
明なチューブ材からなる第1エアチューブ23は、図示
しない真空ポンプ等の真空源に一端部24が連結されて
空気引き自在となっており、その他端部25がエルボ2
6を介して密封容器13内に気密状に連結させることで
内部空間13aと連通している。
【0018】この場合、第1エアチューブ23の他端部
25は、図2に示されているように上蓋部14に設けら
れた通孔14aを介して内部空間13aへと導入され、
上蓋部14を介してその上下に配設されたナット部材2
7,27相互を緊締することにより気密性を確保した状
態のもとで連結されている。
【0019】また、第1エアチューブ23の他端部25
は、密封容器13内に導入された回収後の特定部品17
をその開口面25aから吸引してしまうのを阻止するた
めに、目の細かい網材や特定部品17よりも小さな通孔
を有するカバー材などからなる通気カバー28により開
口面25aが覆われている。
【0020】しかも、第1エアチューブ23は、その流
路中に図示しない電磁弁が介在配置されており、該電磁
弁により流路の開閉を制御することができるようになっ
ている。
【0021】可撓性を有する適宜口径のチューブ材から
なる第2エアチューブ33は、その基端部34を密封容
器13内に気密状に連結することで内部空間13aと連
通している。この場合、基端部34は、図1に示すよう
に上蓋部14に設けられた通孔14bを介して内部空間
13aへと導入され、上蓋部14を介してその上下に配
設されたナット材36,36相互を緊締することにより
気密性が確保された状態のもとで連結されている。
【0022】この場合、第2エアチューブ33の基端部
34は、上蓋部14と直交するようにして真上から差し
込むために、上蓋部14上に脚片38を介して支台部3
7が立設されており、該支台部37に穿設された通孔3
9を挿通させることにより垂下されている。
【0023】また、支台部37の下面にあって通孔39
を間においた領域には、例えば発光素子42と受光素子
43とからなるフォトセンサ41のような適宜構造のセ
ンサ40が配設されており、これにより第2エアチュー
ブ33の透明な基端部34側を特定部品17が通過した
か否かを検出することができるようになっている。
【0024】さらに、第2エアチューブ33は、基端部
34側から直上させた後にUターンさせることで、真下
方向に向かってその先端部35が垂下されている。
【0025】しかも、硬質樹脂材などで形成された適宜
の直進部材からなる先端部35は、基台部11に連結支
持させて設置されているエアシリンダ45が備える昇降
ロッド部46に連結されている。
【0026】これを図1を参酌してさらに詳しく説明す
れば、第2エアチューブ33における先端部35は、連
結片47を介して昇降ロッド部46と連結されており、
該昇降ロッド部46の昇降に従動して上下方向(Z軸方
向)への昇降が自在となって配設されている。なお、連
結片47は、例えばエアシリンダ45に刻設されたガイ
ド溝48に案内させるなど、適宜のガイド構造が付与さ
れてその昇降移動が自在となって配設されている。
【0027】しかも、基台部11は、X−Y軸方向での
所定位置へと移動できるように移動制御されているの
で、該基台部11が備える昇降プローブ12を用いて個
々の被検査部品16の電気的な特性を検査することがで
き、その検査結果により選定された特定部品17上に第
2エアチューブ33の先端部35を移動させることもで
きる。
【0028】さらに、第2エアチューブ33の先端部3
5から吸引された特定部品17の通過の有無は、センサ
40により検知することができるので、その際に発せら
れる検出信号に対応させて第1エアチューブ23側の図
示しない電磁弁の開閉を制御することにより、第1エア
チューブ23側からの空気引きの要否指令と連動させる
ことができるようになっている。
【0029】次に、本発明の作用・効果を説明すれば、
電気的な特性を検査しようとする微小なチップ部品やパ
ッケージ部品からなる個々の被検査部品16は、例えば
パレット19に設けられている位置決めのための穴部2
0などに定置させることで用意される。
【0030】このようにして用意された被検査部品16
は、検査装置の適宜の位置に位置決めしてパレット19
を設置することにより、検査のための準備を終える。こ
の場合、パレット19の穴部20を空気引きすることに
より被検査部品16をより好ましい状態のもとで定置さ
せてやることができる。
【0031】かくして、個々の被検査部品16に対し昇
降プローブ12を電気的に接触させてそれぞれの電気的
な特性が検査され、その検査結果に基づいて良品と不良
品との判別が行われる。
【0032】次いで、基台部11を移動制御することで
不良品であるとして選定された一つの特定部品17上に
第2エアチューブ33の先端部35をまず位置させる。
【0033】しかる後、エアシリンダ45を作動させて
第2エアチューブ33の先端部35を特定部品17に接
近させ、適宜の位置センサから得られる検出信号等の制
御信号を送って第1エアチューブ23が備える電磁弁を
開制御することにより、第1エアチューブ23→密封容
器13→第2エアチューブ33のルートを経て空気引き
させることにより、特定部品17も先端部35から吸引
されて第2エアチューブ33を経ることにより密封容器
13内に回収されることになる。
【0034】このとき、センサ40が特定部品17の通
過を検出すれば、その検出信号により第1エアチューブ
23が備える電磁弁が閉制御されて空気引き動作が解除
される。なお、センサ40が特定部品17の通過を検出
しない場合には、一定時間の経過を待ってエラーと判断
され、エラーに伴う電磁弁の閉制御等の必要な処理が行
われる。
【0035】しかも、第1エアチューブ23の他端部2
5は、その開口面25aが通気カバー28で覆われてい
るので、密封容器13内に導入された回収後の特定部品
17が第1エアチューブ23の側に吸引されるのを確実
に防止することができる。
【0036】以上に述べた特定部品17のための一連の
回収動作は、パレット19上の特定部品17の数に応じ
て繰り返し行われ、すべての回収を終えた後は、新規の
被検査部品16が定置された新たなパレット19が回収
を終えたパレット19と交換され、再び同じ作業が開始
される。なお、密封容器13内に回収されて貯め込まれ
た特定部品17は、作業従事者により密封容器13を開
蓋して取り出すことにより必要な処分がされることにな
る。
【0037】以上は、本発明の実施形態を図示例に即し
て説明したものであり、その具体的な実施の形態例はこ
れに限定されるものではなく、本発明から逸脱しない範
囲で上記実施形態に対し様々な変形を施すことが可能で
ある。例えば、回収される特定部品17は、不良品では
なく良品とすることができる。また、センサ40は、第
2エアチューブ33における基端部34側ではなく先端
部35側を含む所望位置に設置しておくこともできる。
さらに、必要により第1エアチューブの他端部の開口面
を通気カバーで覆うことなく開放させておくこともでき
る。
【0038】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、検査
を終えた個々の被検査部品の検査結果に基づいて選定さ
れた特定部品は、その上方に位置させた第2エアチュー
ブの先端部を降下させて接近させた上で空気引きさせる
ことにより、第2エアチューブを経て密封容器内に自動
的に回収することができる。
【0039】したがって、検査後の人手を介した特定部
品の除去作業が不要になるばかりでなく、微小な被検査
部品であっても目視による確認やマーク検出装置による
チェックを経ることなく確実に特定部品としてそのすべ
てを円滑に回収することができる。
【0040】しかも、第2エアチューブに吸引された特
定部品の通過を確認するセンサが設置されている場合に
は、その検出信号と第1エアチューブによる空気引きの
要否指令とを連動させることにより、その自動制御をよ
り容易化することができる。
【0041】また、第1エアチューブの他端部の開口面
を通気カバーで覆ってある場合には、回収後の特定部品
が第1エアチューブ側に吸引されるおそれをなくして回
収作業のさらなる円滑化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一例につき一部を切り欠いて示す要部
説明図。
【図2】図1における密封容器側についての平面図。
【図3】従来からある検査装置の要部構造を示す説明
図。
【符号の説明】
1 基台部 2 昇降プローブ 3 エアシリンダ 4 昇降ロッド部 5 スタンプ 6 印面 7 基板 11 基台部 12 昇降プローブ 13 密封容器 13a 内部空間 14 上蓋部 14a,14b 通孔 15 容器本体部 16 被検査部品 17 特定部品 19 パレット 20 穴部 23 第1エアチューブ 24 一端部 25 他端部 26 エルボ 27 ナット材 28 通気カバー 28a 開口面 33 第2エアチューブ 34 基端部 35 先端部 36 ナット材 37 支台部 38 脚片 39 通孔 40 センサ 41 フォトセンサ 42 発光素子 43 受光素子 45 エアシリンダ 46 昇降ロッド部 47 連結片 48 ガイド溝
フロントページの続き (72)発明者 関 和彦 長野県上田市大字小泉字桜町81番地 日置 電機株式会社内 Fターム(参考) 2G003 AA00 AF05 AF06 AF08 AG11 AG14 AH00 2G011 AC00 AC06 AD01 2G036 AA27 BB09 BB12 CA00 CA03

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X−Y軸方向への移動が自在なアームに
    取着された基台部にZ軸方向への昇降が自在な昇降プロ
    ーブを付設し、該昇降プローブを定置された個々の微小
    な被検査部品に電気的に接触させて逐次その特性を検査
    する検査装置に適用され、 前記基台部には、開蓋自在な密封容器と、一端部側から
    の空気引きが自在でその他端部を前記密封容器内に気密
    状に連通させてなる第1エアチューブと、前記密封容器
    内にその基端部を気密状に連通させて開放端側に位置す
    る先端部からの空気引きを自在とした第2エアチューブ
    とを配設し、 該第2エアチューブは、前記先端部を前記基台部に設置
    されたエアシリンダが備える昇降ロッド部に連結させて
    Z軸方向での昇降制御を自在とするとともに、移動制御
    された前記基台部を介して各被検査部品の検査結果によ
    り選定された特定部品上に位置させた第2エアチューブ
    の前記先端部の降下と空気引きとにより、前記特定部品
    の前記密封容器内への吸引を自在としたことを特徴とす
    る昇降プローブ付き検査装置の検査済み特定部品の回収
    機構。
  2. 【請求項2】 前記第2エアチューブには、吸引された
    前記特定部品の通過を確認するセンサを配設した請求項
    1に記載の昇降プローブ付き検査装置の検査済み特定部
    品の回収機構。
  3. 【請求項3】 第1エアチューブの前記他端部は、前記
    密封容器内に導入された前記特定部品の吸引を阻止する
    通気カバーをその開口面に備える請求項1または2に記
    載の昇降プローブ付き検査装置の検査済み特定部品の回
    収機構。
  4. 【請求項4】 前記センサによる前記特定部品の通過有
    無の検出信号を第1エアチューブによる空気引きの要否
    指令に連動させた請求項2または3に記載の昇降プロー
    ブ付き検査装置の検査済み特定部品の回収機構。
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CN107826633A (zh) * 2017-11-24 2018-03-23 苏州富强科技有限公司 一种用于气密性检测设备的抽拉机构

Cited By (2)

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CN107826633B (zh) * 2017-11-24 2023-09-12 苏州富强科技有限公司 一种用于气密性检测设备的抽拉机构

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