JP2003241216A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
- Publication number
- JP2003241216A JP2003241216A JP2002036953A JP2002036953A JP2003241216A JP 2003241216 A JP2003241216 A JP 2003241216A JP 2002036953 A JP2002036953 A JP 2002036953A JP 2002036953 A JP2002036953 A JP 2002036953A JP 2003241216 A JP2003241216 A JP 2003241216A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- display device
- crystal display
- tape carrier
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】テープキャリア表面より、電気信号の入出力を
測定できる液晶表示装置を提供する。 【解決手段】テープキャリア１１に、あらかじめＩＣ端
子１２の位置に対応するスルーホール２０の穴をあけ、
ＩＣ端子１２を形成した後、ＩＣ１４を実装し、封止樹
脂１５にて固定し、スルーホール２０の部分にメッキ技
術等を用い、金属２１を充填しテープキャリア１１表面
にスルーホール２０を形成する。スルーホール２０に充
填した金属２１はＩＣ端子１２と電気的に導通させるも
のとする。スルーホール２０の部分は、実装後のＴＣＰ
故障解析など特性測定の際、ＩＣ入出力の電気信号を測
定するために用いるもので、スルーホール２０の表面露
出部には、測定用プローブが接触できる分の面積、厚み
を確保する液晶表示装置。
測定できる液晶表示装置を提供する。 【解決手段】テープキャリア１１に、あらかじめＩＣ端
子１２の位置に対応するスルーホール２０の穴をあけ、
ＩＣ端子１２を形成した後、ＩＣ１４を実装し、封止樹
脂１５にて固定し、スルーホール２０の部分にメッキ技
術等を用い、金属２１を充填しテープキャリア１１表面
にスルーホール２０を形成する。スルーホール２０に充
填した金属２１はＩＣ端子１２と電気的に導通させるも
のとする。スルーホール２０の部分は、実装後のＴＣＰ
故障解析など特性測定の際、ＩＣ入出力の電気信号を測
定するために用いるもので、スルーホール２０の表面露
出部には、測定用プローブが接触できる分の面積、厚み
を確保する液晶表示装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に関
し、特に、Tape Carrier Package（以下、ＴＣＰと略記
する）を有する液晶表示装置に関する。
し、特に、Tape Carrier Package（以下、ＴＣＰと略記
する）を有する液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、液晶表示装置は、リードを形成し
たテープ状の絶縁フィルムで、半導体チップを搭載し、
リードと接続したパッケージであるＴＣＰとして、ベー
スフィルム上に銅箔で配線を行い、インナーリード上に
駆動用ＩＣをギャグボンディングで実装した構造を有す
ることが、周知である。
たテープ状の絶縁フィルムで、半導体チップを搭載し、
リードと接続したパッケージであるＴＣＰとして、ベー
スフィルム上に銅箔で配線を行い、インナーリード上に
駆動用ＩＣをギャグボンディングで実装した構造を有す
ることが、周知である。
【０００３】このような従来の液晶表示装置は、例え
ば、特開平９−１２７５４２号公報（引用文献１）に開
示されている。図３は、引用文献１に記載の第１の従来
の液晶表示装置の平面図であり、図４は、引用文献１に
記載の第１の従来の液晶表示装置の断面図である。
ば、特開平９−１２７５４２号公報（引用文献１）に開
示されている。図３は、引用文献１に記載の第１の従来
の液晶表示装置の平面図であり、図４は、引用文献１に
記載の第１の従来の液晶表示装置の断面図である。
【０００４】図３および図４を参照すると、第１の従来
の液晶表示装置は、ベースフィルム５１上ににスリット
５５を設け、入力側電極部７ｂの露出した部分で、駆動
用ＩＣ５８の電気信号を測定する構成である。
の液晶表示装置は、ベースフィルム５１上ににスリット
５５を設け、入力側電極部７ｂの露出した部分で、駆動
用ＩＣ５８の電気信号を測定する構成である。
【０００５】また、図２（ａ）は、第２の従来の液晶表
示装置の断面図であり、図２（ｂ）は、第２の従来の液
晶表示装置の平面図である。
示装置の断面図であり、図２（ｂ）は、第２の従来の液
晶表示装置の平面図である。
【０００６】図２（ａ）および図２（ｂ）を参照する
と、この第２の従来の液晶表示装置は、液晶セル９に駆
動用のドライバーＩＣ４を圧接技術を用いて、電気的接
続をとっている。液晶駆動用のドライバーＩＣ４は、テ
ープキャリアパッケージ（以下ＴＣＰと称す）の形態が
多い。
と、この第２の従来の液晶表示装置は、液晶セル９に駆
動用のドライバーＩＣ４を圧接技術を用いて、電気的接
続をとっている。液晶駆動用のドライバーＩＣ４は、テ
ープキャリアパッケージ（以下ＴＣＰと称す）の形態が
多い。
【０００７】従来のＴＣＰは、テープキャリア１にＩＣ
端子２を形成した後、ＩＣ端子２面側に保護用のレジス
ト３を塗布する。ＩＣ４を実装し、封止樹脂５にて固定
するものであった。完成したＴＣＰ１を、液晶セル９の
液晶セル端子６及び、接続基板７の接続基板端子８に圧
接技術を用いて、電気的接続をとる。
端子２を形成した後、ＩＣ端子２面側に保護用のレジス
ト３を塗布する。ＩＣ４を実装し、封止樹脂５にて固定
するものであった。完成したＴＣＰ１を、液晶セル９の
液晶セル端子６及び、接続基板７の接続基板端子８に圧
接技術を用いて、電気的接続をとる。
【０００８】ＴＣＰの構造としては、テープキャリア１
にＩＣ入出力リードを形成したものに、ＩＣチップ４を
実装、樹脂封止を施したものである。液晶セル９、及び
ＴＣＰへの電気信号入力用回路基板７（以下、接続基板
と称す）への接続は、圧接技術を用いて、テープキャリ
ア１のＩＣ端子面を圧接するものであった。
にＩＣ入出力リードを形成したものに、ＩＣチップ４を
実装、樹脂封止を施したものである。液晶セル９、及び
ＴＣＰへの電気信号入力用回路基板７（以下、接続基板
と称す）への接続は、圧接技術を用いて、テープキャリ
ア１のＩＣ端子面を圧接するものであった。
【０００９】この技術を適用して、ＴＣＰ実装後に発生
するＴＣＰ不良の解析などＴＣＰの特性を測定する。こ
のとき、テープキャリア１表側が表面に見え、ＩＣ端子
２は実装面側にある。直接ＴＣＰの入力、出力の電気信
号が測定できないが、液晶セル９側に露出している液晶
セル端子６又は、接続基板７側に露出している接続基板
端子８を用いて間接的に測定を行う。
するＴＣＰ不良の解析などＴＣＰの特性を測定する。こ
のとき、テープキャリア１表側が表面に見え、ＩＣ端子
２は実装面側にある。直接ＴＣＰの入力、出力の電気信
号が測定できないが、液晶セル９側に露出している液晶
セル端子６又は、接続基板７側に露出している接続基板
端子８を用いて間接的に測定を行う。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の液晶表示装置は、次のような問題点がある。すなわ
ち、第１の従来の液晶表示装置は、スリット５をベース
フィルム１に設けた場合、スリット５部分の機械的強度
が低下し、プリント基板１１へのＴＣＰ実装時に入力側
電極部７ｂの断線に至る可能性がある。又、スリット５
が表面に露出しているため、耐湿性の低下による入力側
電極７Ｂの腐食や、入力側電極７Ｂへの導電性屑付着な
どによるショート不良の多発などの可能性もある。
来の液晶表示装置は、次のような問題点がある。すなわ
ち、第１の従来の液晶表示装置は、スリット５をベース
フィルム１に設けた場合、スリット５部分の機械的強度
が低下し、プリント基板１１へのＴＣＰ実装時に入力側
電極部７ｂの断線に至る可能性がある。又、スリット５
が表面に露出しているため、耐湿性の低下による入力側
電極７Ｂの腐食や、入力側電極７Ｂへの導電性屑付着な
どによるショート不良の多発などの可能性もある。
【００１１】その結果、従来のこの技術では、ＴＣＰの
実装後に発見される不良の故障解析などＴＣＰの特性測
定を行なう際に、テープキャリア面が表面になるため、
ＴＣＰからの直接的な信号の確認が出来ないのが現状で
あった。
実装後に発見される不良の故障解析などＴＣＰの特性測
定を行なう際に、テープキャリア面が表面になるため、
ＴＣＰからの直接的な信号の確認が出来ないのが現状で
あった。
【００１２】また、第２の従来の液晶表示装置の技術だ
と、ＴＣＰ実装後に発生するＴＣＰ不良の解析などＴＣ
Ｐの特性を測定しようとする際にテープキャリア１表側
が表面に見え、ＩＣ端子２は実装面側にあるため、直接
ＴＣＰの入力、出力の電気信号が測定できない。
と、ＴＣＰ実装後に発生するＴＣＰ不良の解析などＴＣ
Ｐの特性を測定しようとする際にテープキャリア１表側
が表面に見え、ＩＣ端子２は実装面側にあるため、直接
ＴＣＰの入力、出力の電気信号が測定できない。
【００１３】そのため、液晶セル９側に露出している液
晶セル端子６又は、接続基板７側に露出している接続基
板端子８を用いて間接的に測定を行なっていたが、測定
器測定プローブによって両端子へのコンタクト不良によ
る測定誤差、測定ミスを生じさせたり、両端子を破壊さ
せるなどの恐れがあった。又、現在液晶セルの狭額縁化
が進む中、液晶セル９側の液晶セル端子６の露出面積が
少なくなりＴＣＰ出力信号が測定できない場合も生じて
きた。
晶セル端子６又は、接続基板７側に露出している接続基
板端子８を用いて間接的に測定を行なっていたが、測定
器測定プローブによって両端子へのコンタクト不良によ
る測定誤差、測定ミスを生じさせたり、両端子を破壊さ
せるなどの恐れがあった。又、現在液晶セルの狭額縁化
が進む中、液晶セル９側の液晶セル端子６の露出面積が
少なくなりＴＣＰ出力信号が測定できない場合も生じて
きた。
【００１４】したがって、本発明の主な目的は、上記問
題を解決した液晶表示装置を提供することにある。
題を解決した液晶表示装置を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、圧接技術にてテープキャリアに接続された液晶駆動
用ドライバーＩＣを具備する液晶表示装置であって、前
記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記テ
ープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーＩＣの
ＩＣ端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、前
記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定す
る構成である。
は、圧接技術にてテープキャリアに接続された液晶駆動
用ドライバーＩＣを具備する液晶表示装置であって、前
記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記テ
ープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーＩＣの
ＩＣ端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、前
記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定す
る構成である。
【００１６】また、本発明の液晶表示装置の前記スルー
ホールの前記テープキャリアの裏面から前記テープキャ
リアの表面に向かう貫通部分が、金属を充填するメッキ
手段で形成される構成である。
ホールの前記テープキャリアの裏面から前記テープキャ
リアの表面に向かう貫通部分が、金属を充填するメッキ
手段で形成される構成である。
【００１７】また、本発明の液晶表示装置の前記スルー
ホールの表面露出部には、前記測定用プローブを接触し
て、電気信号の入出力を測定する構成であり、また、本
発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部に
は、前記測定用プローブが接触できる分の面積を確保し
た構成であり、本発明の液晶表示装置の前記スルーホー
ルの表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の
厚みを確保した構成である。
ホールの表面露出部には、前記測定用プローブを接触し
て、電気信号の入出力を測定する構成であり、また、本
発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部に
は、前記測定用プローブが接触できる分の面積を確保し
た構成であり、本発明の液晶表示装置の前記スルーホー
ルの表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の
厚みを確保した構成である。
【００１８】またさらに、本発明の液晶表示装置の前記
スルーホール上に、前記金属同士のショートや、前記金
属自体の腐食を防止するため、透明度のある絶縁膜を具
備する構成であり、また、本発明の液晶表示装置の前記
絶縁膜は、ＴＣＰの電気信号確認の際、前記スルーホー
ルとの導通をとるため、破壊しやすい膜で構成され、本
発明の液晶表示装置の前記絶縁膜は、シリコン樹脂であ
る構成である。
スルーホール上に、前記金属同士のショートや、前記金
属自体の腐食を防止するため、透明度のある絶縁膜を具
備する構成であり、また、本発明の液晶表示装置の前記
絶縁膜は、ＴＣＰの電気信号確認の際、前記スルーホー
ルとの導通をとるため、破壊しやすい膜で構成され、本
発明の液晶表示装置の前記絶縁膜は、シリコン樹脂であ
る構成である。
【００１９】
【発明の実施の形態】図面を参照しながら、本発明の実
施の形態の液晶表示装置について、詳細に説明する。
施の形態の液晶表示装置について、詳細に説明する。
【００２０】本発明の液晶表示装置は、ＴＣＰのテープ
キャリアにスルーホールを設け、テープキャリア上に形
成されたＩＣ端子とスルーホールを電気的に接続し、Ｔ
ＣＰの実装後でもテープキャリア表面からこのスルーホ
ール部を介しＩＣ端子部の電気信号が読み取れることを
特徴としたものである。
キャリアにスルーホールを設け、テープキャリア上に形
成されたＩＣ端子とスルーホールを電気的に接続し、Ｔ
ＣＰの実装後でもテープキャリア表面からこのスルーホ
ール部を介しＩＣ端子部の電気信号が読み取れることを
特徴としたものである。
【００２１】図１（ａ）に、本発明の実施の形態の液晶
表示装置の断面図を示す。また、図１（ｂ）に本発明の
実施の形態の液晶表示装置の平面図を示す。
表示装置の断面図を示す。また、図１（ｂ）に本発明の
実施の形態の液晶表示装置の平面図を示す。
【００２２】図１（ａ）および図１（ｂ）を参照する
と、本発明の実施の形態の液晶表示装置は、テープキャ
リア１１に、あらかじめＩＣ端子１２の位置に対応する
スルーホール２０の穴をあけておく。このテープキャリ
ア１１に、ＩＣ端子１２を形成した後、ＩＣ端子１２面
側に保護用のレジスト１３を塗布する。
と、本発明の実施の形態の液晶表示装置は、テープキャ
リア１１に、あらかじめＩＣ端子１２の位置に対応する
スルーホール２０の穴をあけておく。このテープキャリ
ア１１に、ＩＣ端子１２を形成した後、ＩＣ端子１２面
側に保護用のレジスト１３を塗布する。
【００２３】さらに、ＩＣ１４を実装し、封止樹脂１５
にて固定する。スルーホール２０の部分にメッキ技術等
を用い、金属２１を充填しテープキャリア１１表面にス
ルーホール２０を形成する。
にて固定する。スルーホール２０の部分にメッキ技術等
を用い、金属２１を充填しテープキャリア１１表面にス
ルーホール２０を形成する。
【００２４】この際、スルーホール２０に充填した金属
２１はＩＣ端子１２と電気的に導通させるものとする。
スルーホール２０の部分は、実装後のＴＣＰ故障解析な
ど特性測定の際、ＩＣ入出力の電気信号を測定するため
に用いるもので、スルーホール２０の表面露出部には、
測定用プローブが接触できる分の面積、厚みを確保す
る。
２１はＩＣ端子１２と電気的に導通させるものとする。
スルーホール２０の部分は、実装後のＴＣＰ故障解析な
ど特性測定の際、ＩＣ入出力の電気信号を測定するため
に用いるもので、スルーホール２０の表面露出部には、
測定用プローブが接触できる分の面積、厚みを確保す
る。
【００２５】スルーホール２０上には金属２１同士のシ
ョートや、金属２１自体の腐食等の不具合を防止するた
めの、透明度のある絶縁膜２２を塗布しておく。絶縁膜
２２は、ＴＣＰの電気信号確認の際、スルーホール２０
との導通をとるため、破壊しやすいように極力薄く、柔
らかい膜（シリコン樹脂など）が望ましい。以上の構造
のＴＣＰを液晶セル端子１６及び接続基板端子１８に圧
接技術を用いて電気的接続をとるものとする。
ョートや、金属２１自体の腐食等の不具合を防止するた
めの、透明度のある絶縁膜２２を塗布しておく。絶縁膜
２２は、ＴＣＰの電気信号確認の際、スルーホール２０
との導通をとるため、破壊しやすいように極力薄く、柔
らかい膜（シリコン樹脂など）が望ましい。以上の構造
のＴＣＰを液晶セル端子１６及び接続基板端子１８に圧
接技術を用いて電気的接続をとるものとする。
【００２６】次に、本発明の実施の形態の液晶表示装置
のＴＣＰの入出力の電気信号を測定する方法を説明す
る。
のＴＣＰの入出力の電気信号を測定する方法を説明す
る。
【００２７】本発明の実施の形態の液晶表示装置の液晶
セル１９に実装してしまったＴＣＰの入出力の電気信号
を測定する際は、絶縁膜２２より透過して見えるスルー
ホール２０を介して、電気信号を測定する。測定の際
は、測定器のプローブにて、薄く、かつ、柔らかい絶縁
膜２２を破壊し、スルーホール２０へ直接接触し、電気
信号を測定するものとする。
セル１９に実装してしまったＴＣＰの入出力の電気信号
を測定する際は、絶縁膜２２より透過して見えるスルー
ホール２０を介して、電気信号を測定する。測定の際
は、測定器のプローブにて、薄く、かつ、柔らかい絶縁
膜２２を破壊し、スルーホール２０へ直接接触し、電気
信号を測定するものとする。
【００２８】次に、本発明の図１（ａ）および図１
（ｂ）の実施の形態の液晶表示装置では、スルーホール
間の寸法については制限していないが、高密度実装技術
が進展していく中、その寸法も問題となってくる。
（ｂ）の実施の形態の液晶表示装置では、スルーホール
間の寸法については制限していないが、高密度実装技術
が進展していく中、その寸法も問題となってくる。
【００２９】したがって、本発明の他の実施の形態の液
晶表示装置は、ＴＣＰのＩＣ端子１２の幅が高密度端子
となった場合には、スルーホールの位置を、「千鳥配
置」または「斜め配列」などのように、その位置をずら
す構成とする。
晶表示装置は、ＴＣＰのＩＣ端子１２の幅が高密度端子
となった場合には、スルーホールの位置を、「千鳥配
置」または「斜め配列」などのように、その位置をずら
す構成とする。
【００３０】このように、スルーホール２０の位置をを
分散させることで、テープキャリア１１の機械的強度の
維持も図ることができ、スルーホール２０より露出した
金属２１を絶縁膜２２で保護することで、液晶表示装置
自体の耐湿性の維持、導電性異物付着によるショート不
良発生の防止も図ることができる。
分散させることで、テープキャリア１１の機械的強度の
維持も図ることができ、スルーホール２０より露出した
金属２１を絶縁膜２２で保護することで、液晶表示装置
自体の耐湿性の維持、導電性異物付着によるショート不
良発生の防止も図ることができる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明した通り、従来は、スルーホー
ルの無いＴＣＰでは、ＴＣＰを液晶セル９に実装してし
まってからのＴＣＰの電気信号の入出力測定の際、ＩＣ
端子２が実装面側にあり直接的に測定できず、液晶セル
端子６や、接続基板端子８に測定用プローブを接触させ
ＴＣＰの入出力信号を間接的に測定していた。この方法
では測定中の測定プローブの接触不良による測定誤差、
測定ミスを発生させたり、液晶セル端子６の部分の破壊
を生じさせていた。
ルの無いＴＣＰでは、ＴＣＰを液晶セル９に実装してし
まってからのＴＣＰの電気信号の入出力測定の際、ＩＣ
端子２が実装面側にあり直接的に測定できず、液晶セル
端子６や、接続基板端子８に測定用プローブを接触させ
ＴＣＰの入出力信号を間接的に測定していた。この方法
では測定中の測定プローブの接触不良による測定誤差、
測定ミスを発生させたり、液晶セル端子６の部分の破壊
を生じさせていた。
【００３２】さらには、液晶セル端子１６露出部の寸法
が液晶表示装置の狭額縁化の流れにより益々狭くなって
おり、液晶セル端子６を利用しての測定には測定用プロ
ーブの接触端子の先端寸法を小さいものを選択する必要
があったがそれにも限界がある。又、液晶セル端子６や
接続基板端子８を用いてのＴＣＰ電気信号の測定では、
液晶セル端子６とＩＣ端子２の間、接続基板端子８とＩ
Ｃ端子２の間のショートやオープンなどの不具合は間接
的測定のため、測定誤差が大きいという問題があった。
が液晶表示装置の狭額縁化の流れにより益々狭くなって
おり、液晶セル端子６を利用しての測定には測定用プロ
ーブの接触端子の先端寸法を小さいものを選択する必要
があったがそれにも限界がある。又、液晶セル端子６や
接続基板端子８を用いてのＴＣＰ電気信号の測定では、
液晶セル端子６とＩＣ端子２の間、接続基板端子８とＩ
Ｃ端子２の間のショートやオープンなどの不具合は間接
的測定のため、測定誤差が大きいという問題があった。
【００３３】本発明では、テープキャリア１１にスルー
ホール２０を設け、ＩＣ端子１２と、スルーホール内に
充填された金属２１を導通させ、テープキャリア１１の
表面に露出させることで、この部分を用いＴＣＰの電気
信号を直接的に測定することが可能となった。
ホール２０を設け、ＩＣ端子１２と、スルーホール内に
充填された金属２１を導通させ、テープキャリア１１の
表面に露出させることで、この部分を用いＴＣＰの電気
信号を直接的に測定することが可能となった。
【００３４】更には、間接的な測定方法で生じる、測定
用プローブの接触不良による測定誤差、測定ミス、液晶
セル端子１６の破壊も無くなり、さらに液晶セル端子１
６が露出していなくても、ＴＣＰの出力信号が測定でき
る効果がある。
用プローブの接触不良による測定誤差、測定ミス、液晶
セル端子１６の破壊も無くなり、さらに液晶セル端子１
６が露出していなくても、ＴＣＰの出力信号が測定でき
る効果がある。
【００３５】又、スルーホール２０の位置を分散させる
ことで、テープキャリア１１の機械的強度の維持も図る
ことができ、スルーホール２０より露出した金属２１を
絶縁膜２２で保護することで、液晶表示装置自体の耐湿
性の維持、導電性異物付着によるショート不良発生の防
止も図ることができる効果もある。
ことで、テープキャリア１１の機械的強度の維持も図る
ことができ、スルーホール２０より露出した金属２１を
絶縁膜２２で保護することで、液晶表示装置自体の耐湿
性の維持、導電性異物付着によるショート不良発生の防
止も図ることができる効果もある。
【図１】本発明の第１の実施の形態の液晶表示装置の平
面図および断面図である。
面図および断面図である。
【図２】第２の従来の液晶表示装置の平面図および断面
図である。
図である。
【図３】第１の従来の液晶表示装置の平面図である。
【図４】第１の従来の液晶表示装置の断面図である。
１ テープキャリア
２ ＩＣ端子
３ レジスト
４ ＩＣ
５ 封止樹脂
６ 液晶セル端子
７ 接続基板
８ 接続基板端子
９ 液晶セル
１１ テープキャリア
１２ ＩＣ端子
１３ レジスト
１４ ＩＣ
１５ 封止樹脂
１６ 液晶セル端子
１７ 接続基板
１８ 接続基板端子
１９ 液晶セル
２０ スルーホール
２１ 金属
２２ 絶縁膜
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 2H088 FA12 HA06
2H092 GA51 JB77 NA30
5C094 AA41 AA43 BA43 DB02 DB05
FA01
5F044 MM26 MM38 MM39
5G435 AA17 AA19 BB12 EE35 EE37
EE40 EE42
Claims (10)
- 【請求項１】 圧接技術にてテープキャリアに接続され
た液晶駆動用ドライバーＩＣを具備する液晶表示装置で
あって、 前記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記
テープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーＩＣ
のＩＣ端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、
前記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定
することを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項２】 前記スルーホールの前記テープキャリア
の裏面から前記テープキャリアの表面に向かう貫通部分
が、金属を充填するメッキ手段で形成される請求項１記
載の液晶表示装置。 - 【請求項３】 前記スルーホールの表面露出部には、前
記測定用プローブを接触して、電気信号の入出力を測定
する請求項２記載の液晶表示装置。 - 【請求項４】 前記スルーホールの表面露出部には、前
記測定用プローブが接触できる分の面積を確保した請求
項３記載の液晶表示装置。 - 【請求項５】 前記スルーホールの表面露出部には、測
定用プローブが接触できる分の厚みを確保した請求項３
または４記載の液晶表示装置。 - 【請求項６】 前記スルーホール上に、前記金属同士の
ショートや、前記金属自体の腐食を防止するため、透明
度のある絶縁膜を具備する請求項２、３、４または５記
載の液晶表示装置。 - 【請求項７】 前記絶縁膜は、ＴＣＰの電気信号確認の
際、前記スルーホールとの導通をとるため、破壊しやす
い膜で構成される請求項６記載の液液晶表示装置。 - 【請求項８】 前記絶縁膜は、シリコン樹脂である請求
項７記載の液液晶表示装置。 - 【請求項９】 前記スルーホールの位置を、千鳥配置と
した請求項２、３、４、５、６、７または８記載の液晶
表示装置。 - 【請求項１０】 前記スルーホールの位置を、斜め配列
とした請求項２、３、４、５、６、７または８記載の液
晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002036953A JP4009468B2 (ja) | 2002-02-14 | 2002-02-14 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002036953A JP4009468B2 (ja) | 2002-02-14 | 2002-02-14 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003241216A true JP2003241216A (ja) | 2003-08-27 |
| JP4009468B2 JP4009468B2 (ja) | 2007-11-14 |
Family
ID=27778688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002036953A Expired - Fee Related JP4009468B2 (ja) | 2002-02-14 | 2002-02-14 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4009468B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6741309B2 (en) * | 2000-07-27 | 2004-05-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal display |
| CN102645586A (zh) * | 2011-06-09 | 2012-08-22 | 北京京东方光电科技有限公司 | 玻璃基板、过孔电阻测量方法和金属线电阻的测量方法 |
-
2002
- 2002-02-14 JP JP2002036953A patent/JP4009468B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6741309B2 (en) * | 2000-07-27 | 2004-05-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal display |
| US7170570B2 (en) | 2000-07-27 | 2007-01-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal display |
| US7477351B2 (en) | 2000-07-27 | 2009-01-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal display |
| CN102645586A (zh) * | 2011-06-09 | 2012-08-22 | 北京京东方光电科技有限公司 | 玻璃基板、过孔电阻测量方法和金属线电阻的测量方法 |
| CN102645586B (zh) * | 2011-06-09 | 2014-07-09 | 北京京东方光电科技有限公司 | 玻璃基板、过孔电阻测量方法和金属线电阻的测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4009468B2 (ja) | 2007-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6087716A (en) | Semiconductor device package having a connection substrate with turned back leads and method thereof | |
| US5726491A (en) | Tape carrier package | |
| EP1788401B1 (en) | Method and apparatus for testing electrical characteristics of object under test | |
| JP2000321591A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP5535707B2 (ja) | 表示装置及び表示装置の接続状況検査方法 | |
| JP4592875B2 (ja) | フレキシブル配線基板及びその製造方法並びに表示装置 | |
| JP2003241216A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP2004259750A (ja) | 配線基板、接続配線基板及びその検査方法、電子装置及びその製造方法、電子モジュール並びに電子機器 | |
| JP3722325B2 (ja) | 表面実装型電子部品、配線基板、実装基板及び実装方法 | |
| JP3853729B2 (ja) | フレキシブルプリント配線板の接続構造及び接続方法 | |
| KR19980048605A (ko) | 액정표시모듈 | |
| JPH11185850A (ja) | 回路基板の接続構造、及びその接続状態判断方法 | |
| JP4186209B2 (ja) | 圧力センサ及びその製造方法 | |
| JP2022118411A (ja) | 半導体装置および検査方法 | |
| JP2001194387A (ja) | コンタクトプローブおよびその製造方法 | |
| JPH09307024A (ja) | チップキャリア | |
| JP2002257893A (ja) | 半導体装置の検査装置および半導体装置の検査方法 | |
| JPH1117057A (ja) | 検査パッド付きｂｇａ型半導体装置 | |
| JPH0982714A (ja) | 半導体集積回路の入出力端子 | |
| JPH1154881A (ja) | 電子部品実装基板およびその接続検査方法 | |
| JP3167681B2 (ja) | 電子回路装置 | |
| JP3604355B2 (ja) | 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法及び検査装置 | |
| JPS58197757A (ja) | リ−ド・フレ−ム | |
| JPH07106375A (ja) | 半導体装置のｔａｂテープ | |
| JPH05297395A (ja) | 表示駆動素子および表示器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050117 |
|
| RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20050310 |
|
| RD01 | Notification of change of attorney |
Effective date: 20070124 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20070419 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20070604 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20070612 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070724 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070814 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070903 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |