JP2003222573A - 光ファイバ損失測定方法及び測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光パルス試験器を用いた光ファイバの正確な
光損失測定。 【解決手段】 光ファイバ５の片端に１×２光スイッチ
２のＣポート、もう片端に光反射器６、光ファイバ３の
片端にＡポート、もう片端に光パルス試験器１、Ｂポー
トに光反射器４を接続し、Ａ−Ｂポート接続で光反射器
４のフレネル反射レベルRA(dB)を、Ａ−Ｃポート接続で
光反射器６のフレネル反射レベルRB(dB)を測定し、光反
射器４、６の反射減衰量がRLossA(dB)、RLossB(dB) 、Ａ
−Ｂ間、Ａ−Ｃ間損失がSLossAB(dB) 、SLossAC(dB) で
あるとき、FLoss=(RLossA+RA/2+SLossAB)-(RLossB+RB/2
+SLossAC) で、光ファイバ５の光損失FLoss を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光パルス試験器（Ｏ
ＴＤＲ）を用いて光ファイバ線路の光損失を測定する方
法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１４〜図１９を参照して、従来の光フ
ァイバ損失測定技術及びその問題点を説明する。

【０００３】［第１従来例］図１４に、光パルス試験器
１を用いて測定対象の光ファイバ５の光損失を測定する
測定系の第１従来例を示す。図１４において、光パルス
試験器１を光ファイバ５の片端に接続し、光ファイバ５
に光パルス（試験光）を入射する。光パルス試験器１は
光ファイバ５から入射光パルスに対する応答光を受光
し、受光した応答光波形から光ファイバ５の特性を測定
する。光ファイバ５が複数本の光ファイバが接続された
ものである場合は、途中に融着接続点７やコネクタ接続
点８がある。１１は光ファイバ５の遠端ｅに備えたコネ
クタを表す。

【０００４】図１５に、図１４の測定系にて光パルス試
験器１で測定した応答光波形の例を示す。図１５におい
て、縦軸は後方散乱光レベル、横軸は距離（近端から遠
端方向への距離）である。この応答光波形より、光ファ
イバ５の近端ｓの後方散乱光レベルがＸ０（ｄＢ）、遠
端ｅの後方散乱光レベルがＸ１（ｄＢ）である場合、光
ファイバ５の近端ｓから遠端ｅまでの光損失ＦLoss（ｄ
Ｂ）は、次の式（１）で求められる。 ＦLoss＝Ｘ０−Ｘ１ ・・・式（１） なお、光損失ＦLossには、途中の融着接続点７及びコネ
クタ接続点８による損失も含まれる。

【０００５】［第２従来例］次に、第２従来例として、
図１６に、伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイバ
５について、インサービス時にも通信に影響を与えるこ
となく、光損失を測定する測定系を示す。図１６におい
て、試験光を遮断し、通信光を透過する特性を具備する
試験光遮断フィルタ２３及び試験光遮断フィルタ３３
を、それぞれ伝送装置２０及び伝送装置２１の前に挿入
する。また、通信光を遮断し、試験光を透過する特性を
具備する通信光遮断フィルタ２５を、光パルス試験器１
の前に挿入する。また、光ファイバ５の片端に光合分岐
器２２を挿入する。光パルス試験器１は、それの通信光
遮断フィルタ２５と光ファイバ３４と光合分岐器２２を
介して、光ファイバ５に接続される。伝送装置２０は、
それの試験光遮断フィルタ２３と光ファイバ２４と光合
分岐器２２を介して、光ファイバ５に接続される。伝送
装置２１は、それの試験光遮断フィルタ３３を介して光
ファイバ５に接続される。図１６中、７は融着接続点、
８はコネクタ接続点、１１は光ファイバ５の遠端ｅのコ
ネクタを表す。

【０００６】図１６の測定系では、光パルス試験器１の
試験光として、伝送装置２０、２１間に使われている通
信波長（例えば１３１０ｎｍ）とは異なる試験波長（例
えば１６５０ｎｍ）の光を使うことで、通信に対して影
響を与えることなく、光ファイバ５の光損失測定を実現
することが可能である。

【０００７】［第３従来例］次に、第３従来例として、
図１７に、１×Ｎ光スイッチ２８を使用して、１台の光
パルス試験器１で複数の光ファイバの光損失を測定する
構成例を示す。図１７の測定系は、図１６の光ファイバ
３４の途中に１×Ｎ光スイッチ２８を挿入したものであ
り、１×Ｎ光スイッチ２８の１心側を光パルス試験器１
に接続し、Ｎ心側を光合分岐器２２に接続する。図１７
中、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、２０及び２
１は伝送装置、２３及び３３は試験光遮断フィルタ、２
４は光ファイバ、２５は通信光遮断フィルタ、２９は１
×Ｎ光スイッチのヘッド（１心）を表す。

【０００８】図１７の測定系では、１×Ｎ光スイッチ２
８により光パルス試験器１を所望の光合分岐器２２に接
続することにより、１台の光パルス試験器１で複数の光
ファイバの光損失を測定することが可能である。また、
測定毎に、人手で光合分岐器２２と光パルス試験器１、
通信光遮断フィルタ２５を取り付ける必要もない。

【０００９】図１７の測定系は、例えば「なーるほど光
アクセス網とπシステム（電気通信協会、１９９９年発
行）」のp.111 からp.114 までに、「光試験システム」
の名称で紹介されている。

【００１０】［第４従来例］しかし、実際の測定系で
は、図１８に示すように、光パルス試験器１と測定対象
の光ファイバ５とは、コネクタ９を介して接続されてい
る。また、光ファイバ５においては、途中のコネクタ１
０の接続点と、遠端のコネクタ１１の接続点が近接して
いる場合がある。図１８に示す測定系は、近端のコネク
タ９と遠端に接近したコネクタ１０が図１４の測定系に
加わったものである。

【００１１】図１９に、図１８の測定系にて光パルス試
験器１で測定した応答光波形の例を示す。図１９中、縦
軸が後方散乱光レベル、横軸が距離である。この応答光
波形から分かるように、近端のコネクタ９により発生す
るフレネル反射３５によって、近端での後方散乱光レベ
ルを正確に求めることができない。また、遠端に接近し
たコネクタ１０により発生するフレネル反射３６によっ
て、遠端での後方散乱光レベルを正確に求めることがで
きない。

【００１２】従って、光ファイバ５の光損失を正確に測
定することができない。これは、図１６や図１７に示し
た測定系においても同様に発生する問題である。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した事情
に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、光パル
ス試験器を用いて正確に光ファイバの光損失を測定する
手段を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】第１発明は光ファイバ損
失測定方法であり、光線路の片端から光パルスを入射す
るとともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレ
ネル反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波
形から前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用
いた光ファイバ損失測定方法において、Ａポート、Ｂポ
ート、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、光経路
をＡポートからＢポートへ、もしくはＡポートからＣポ
ートへのいずれかに切り換えることが可能な１×２光ス
イッチを用い、前記１×２光スイッチのＣポートに測定
対象の光ファイバの片端を接続し、前記１×２光スイッ
チのＡポートに前記測定対象の光ファイバとは別の光フ
ァイバの片端を接続し、前記別の光ファイバのもう片端
に前記光パルス試験器を接続し、前記１×２光スイッチ
のＢポートに第１光反射器を接続し、前記測定対象の光
ファイバのもう片端に第２光反射器を接続し、前記１×
２光スイッチをＡポートからＢポートに接続して、前記
第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ（dB) を
測定し、前記１×２光スイッチをＡポートからＣポート
に接続して、前記第２光反射器からのフレネル反射のレ
ベルＲＢ（dB) を測定し、前記第１光反射器の反射減衰
量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量が
ＲLossＢ（dB) 、前記１×２光スイッチのＡポートとＢ
ポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、前記１×２光スイ
ッチのＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB)
であるとき、前記測定対象の光ファイバの近端から遠端
までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＳLossＡＢ）−（ＲLo
ssＢ＋ＲＢ／２＋ＳLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする。

【００１５】第２発明は別の光ファイバ損失測定方法で
あり、光線路の片端から光パルスを入射光線路の片端か
ら光パルスを入射するとともに、前記光線路で発生する
後方散乱光及びフレネル反射光からなる応答光を受光
し、受光した応答光波形から前記光線路の特性を測定す
る光パルス試験器を用いた光ファイバ損失測定方法にお
いて、Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力
ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、また、Ａポー
トからＣポートへのいずれかにも光が合分岐することが
可能な光合分岐器を用い、前記光合分岐器のＣポートに
測定対象の光ファイバの片端を接続し、前記光合分岐器
のＡポートに前記測定対象の光ファイバとは別の光ファ
イバの片端を接続し、前記別の光ファイバのもう片端に
前記光パルス試験器を接続し、前記光合分岐器のＢポー
トに第１光反射器を接続し、前記測定対象の光ファイバ
のもう片端に第２光反射器を接続し、前記光合分岐器を
通して前記第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲ
Ａ（dB) と、前記第２光反射器からのフレネル反射のレ
ベルＲＢ（dB) を測定し、前記第１光反射器の反射減衰
量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量が
ＲLossＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポートとＢポート
間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポー
トとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB)であるとき、
前記測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損失
ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ）−（ＲLo
ssＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする。

【００１６】第３発明は、第２発明の光ファイバ損失測
定方法において、前記３つの光入出力ポートを備える光
合分岐器に代えて、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄ
ポートと４つの光入出力ポートを備え、ＡポートからＢ
ポートへ、また、ＡポートからＣポートへいずれかにも
光が合分岐し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、
ＤポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐するこ
とが可能な光合分岐器を用いること、前記４つの光入出
力ポートを備える光合分岐器のＡポートに前記別の光フ
ァイバの片端を接続し、前記４つの光入出力ポートを備
える光合分岐器のＢポートに前記第１光反射器を接続
し、前記４つの光入出力ポートを備える光合分岐器のＣ
ポートに測定対象の光ファイバの片端を接続し、前記４
つの光入出力ポートを備える光合分岐器のＤポートに前
記測定対象の光ファイバとは別の第２光ファイバを接続
することを特徴とする。

【００１７】第４発明は、更に別の光ファイバ損失測定
方法であり、光線路の片端から光パルスを入射するとと
もに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反
射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から
前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光
ファイバ損失測定方法において、Ａポート、Ｂポート、
Ｃポート、Ｄポートと４つの光入出力ポートを備え、Ａ
ポートからＢポートへ、また、ＡポートからＣポートへ
いずれかにも光が合分岐し、かつ、ＤポートからＢポー
トへ、また、ＤポートからＣポートへいずれかにも光が
合分岐することが可能であり、Ｃポートに測定対象の光
ファイバが接続される光合分岐器と、２×Ｎ光スイッチ
を用い、前記光合分岐器のＣポートに測定対象の光ファ
イバの片側を接続し、前記２×Ｎ光スイッチのＮ心側に
前記光合分岐器のＡポートとＢポートを接続し、前記２
×Ｎ光スイッチの２心側に前記測定対象の光ファイバと
は別の第１光ファイバの片端を接続し、前記第１光ファ
イバのもう片端を前記光パルス試験器に接続し、前記２
×Ｎ光スイッチの２心側に第１光反射器を接続し、前記
測定対象の光ファイバのもう片端に第２光反射器を接続
し、前記光合分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファ
イバとは別の第２光ファイバを接続し、前記光合分岐器
及び前記２×Ｎ光スイッチを通して前記第１光反射器か
らのフレネル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記第２光反
射器からのフレネル反射のレベルＲＢ（dB) を測定し、
前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記
第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記光合
分岐器のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（d
B) 、前記光合分岐器のＡポートとＣポート間の損失が
ＣLossＡＣ（dB)、前記光合分岐器と前記第１光反射器
間の前記２×Ｎ光スイッチの接続損失がＷLoss（dB) で
あるとき、前記測定対象の光ファイバの近端から遠端ま
での光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）
−（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする。

【００１８】第５発明は、第１〜第４発明の光ファイバ
損失測定方法において、前記第２光反射器として、前記
測定対象の光ファイバの遠端のコネクタに内蔵した、通
信光を透過し、試験光を反射する特性を持る光反射器を
用いることを特徴とする。

【００１９】第６発明は光ファイバ損失測定装置であ
り、光線路の片端から光パルスを入射するとともに、前
記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反射光から
なる応答光を受光し、受光した応答光波形から前記光線
路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光ファイバ
損失測定装置において、前記光パルス試験器と、Ａポー
ト、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備
え、光経路をＡポートからＢポートへ、もしくはＡポー
トからＣポートへのいずれかに切り換えることが可能で
あり、Ｃポートに測定対象の光ファイバの片端が接続さ
れる１×２光スイッチと、前記光パルス試験器と前記１
×２光スイッチのＡポートを接続する、前記測定対象の
光ファイバとは別の光ファイバと、前記１×２光スイッ
チのＢポートに接続される第１光反射器と、前記測定対
象の光ファイバのもう片端に接続される第２光反射器と
を備え、前記光パルス試験器は、前記第１光反射器の反
射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減
衰量がＲLossＢ（dB) 、前記１×２光スイッチのＡポー
トとＢポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、前記１×２
光スイッチのＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ
（dB) であるとき、前記１×２光スイッチがＡポートか
らＢポートに接続されたときに測定した前記第１光反射
器からのフレネル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記１×
２光スイッチをＡポートからＣポートに接続されたとき
に測定した前記第２光反射器からのフレネル反射のレベ
ルＲＢ（dB) とから、前記測定対象の光ファイバの近端
から遠端までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＳLossＡＢ）−（ＲLo
ssＢ＋ＲＢ／２＋ＳLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする。

【００２０】第７発明は別の光ファイバ損失測定装置で
あり、光線路の片端から光パルスを入射するとともに、
前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反射光か
らなる応答光を受光し、受光した応答光波形から前記光
線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光ファイ
バ損失測定装置において、前記光パルス試験器と、Ａポ
ート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備
え、ＡポートからＢポートへ、また、ＡポートからＣポ
ートへいずれかにも光が合分岐することが可能であり、
Ｃポートに測定対象の光ファイバの片端が接続される光
合分岐器と、前記光パルス試験器と前記光合分岐器のＡ
ポートを接続する、前記測定対象の光ファイバとは別の
光ファイバと、前記光合分岐器のＢポートに接続される
第１光反射器と、前記測定対象の光ファイバのもう片端
に接続される第２光反射器とを備え、前記光パルス試験
器は、前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB)
、前記第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、
前記光合分岐器のＡポートとＢポート間の損失がＣLoss
ＡＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポートとＣポート間の
損失がＣLossＡＣ（dB) であるとき、前記光合分岐器を
通して測定した前記第１光反射器からのフレネル反射の
レベルＲＡ（dB) と、前記光合分岐器を通して測定した
前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ（d
B) とから、前記測定対象の光ファイバの近端から遠端
までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ）−（ＲLo
ssＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする。

【００２１】第８発明は、第７発明の光ファイバ損失測
定装置において、前記３つの光入出力ポートを備える光
合分岐器に代えて、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄ
ポートと４つの光入出力ポートを備え、ＡポートからＢ
ポートへ、また、ＡポートからＣポートへいずれかにも
光が合分岐し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、
ＤポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐するこ
とが可能な光合分岐器を備えること、前記４つの光入出
力ポートを備える光合分岐器のＡポートに前記別の光フ
ァイバの片端が接続され、前記４つの光入出力ポートを
備える光合分岐器のＢポートに前記第１光反射器が接続
され、前記４つの光入出力ポートを備える光合分岐器の
Ｃポートに前記測定対象の光ファイバの片端が接続さ
れ、前記４つの光入出力ポートを備える光合分岐器のＤ
ポートに前記測定対象の光ファイバとは別の第２光ファ
イバが接続されることを特徴とする。

【００２２】第９発明は、更に別の光ファイバ損失測定
装置であり、光線路の片端から光パルスを入射するとと
もに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反
射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から
前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光
ファイバ損失測定装置において、前記光パルス試験器
と、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの
光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、ま
た、ＡポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐
し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、Ｄポートか
らＣポートへいずれかにも光が合分岐することが可能で
あり、Ｃポートに測定対象の光ファイバが接続される光
合分岐器と、Ｎ心側に、前記光合分岐器のＡポートとＢ
ポートが接続される２×Ｎ光スイッチと、前記光パルス
試験器と前記２×Ｎ光スイッチの２心側を接続する、前
記測定対象の光ファイバとは別の光ファイバと、前記２
×Ｎ光スイッチの２心側に接続される第１光反射器と、
前記測定対象の光ファイバのもう片端に接続される第２
光反射器とを備え、前記光パルス試験器は、前記第１光
反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射
器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡ
ポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、前記光
合分岐器のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ
（dB) 、前記光合分岐器と前記第１光反射器間の前記２
×Ｎ光スイッチの接続損失がＷLoss（dB) であるとき、
前記光合分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファイバ
とは別の第２光ファイバが接続された状態で、前記光合
分岐器を通して測定した前記第１光反射器からのフレネ
ル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記光合分岐器を通して
測定した前記第２光反射器からのフレネル反射のレベル
ＲＢ（dB) とから、前記測定対象の光ファイバの近端か
ら遠端までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）
−（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする。

【００２３】第１０発明は、第６〜第９発明の光ファイ
バ損失測定装置において、前記第２光反射器が通信光を
透過し、試験光を反射する特性を持ち、前記測定対象の
光ファイバの遠端のコネクタに内蔵されていることを特
徴とする。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を説明する。

【００２５】［第１実施例：１×２光スイッチを使用し
た例］本発明の第１実施例を図１、図２を用いて説明す
る。

【００２６】まず、本第１実施例の測定系を説明する。
図１中、１は光パルス試験器、２は１×２光スイッチ
（１×２構成の光スイッチ）、３は光ファイバ、４は光
反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対
象）、６は光反射器（第２光反射器）を表す。また、７
は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端ｓのコネ
クタ、１０は遠端ｅに接近したコネクタ、１１は遠端ｅ
のコネクタを表す。

【００２７】光パルス試験器１は、光線路の片端から光
パルスを入射するとともに、光線路で発生する後方散乱
光及びフレネル反射光からなる応答光を受光し、受光し
た応答光波形から光線路の特性を測定する装置である。

【００２８】１×２光スイッチ２は、Ａポート、Ｂポー
ト、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、光経路を
ＡポートからＢポートへ、もしくはＡポートからＣポー
トへのいずれかに切り換えることが可能な光スイッチで
ある。

【００２９】このような１×２光スイッチ２のＡポート
に光ファイバ３の片端が接続され、光ファイバ３のもう
片端に光パルス試験器１が接続される。また、１×２光
スイッチ２のＢポートには光反射器４が接続され、１×
２光スイッチ２のＣポートには測定対象である光ファイ
バ５が接続される。更に、光ファイバ５の反対側に、光
反射器６が着脱可能に接続される。

【００３０】１×２光スイッチ２のＣポートと光ファイ
バ５とはコネクタ９を介して接続するようにしている。

【００３１】これにより、１×２光スイッチ２は光パル
ス試験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に
挿入する機能と、光反射器４からの反射光を測定する機
能を備える。なお、本第１実施例では、光反射器６は、
測定毎に、人手でコネクタ１１に取り付け、測定後に取
り外すようにしている。

【００３２】次に、本第１実施例での測定方法を説明す
る。

【００３３】(1) まず、１×２光スイッチ２をＡポート
からＢポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイ
バ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、
光反射器４からのフレネル反射光のレベルを光パルス試
験器１で測定する。

【００３４】(2) 次に、１×２光スイッチ２をＡポート
からＣポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイ
バ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、
光反射器６からのフレネル反射光のレベルを光パルス試
験器１で測定する。

【００３５】但し、光反射器４からのフレネル反射光の
レベルと、光反射器６からのフレネル反射光のレベルの
上記測定順序は１例であり、これに限定されず、逆の順
序で測定しても良い。

【００３６】図２に、上記方法で測定した応答光波形例
を示す。図２において、縦軸が後方散乱光レベル、横軸
が距離である。本来であれば、光反射器４からのフレネ
ル反射１２と光反射器６からのフレネル反射１３は一度
では測定できないため、光パルス試験器１の同一画面上
には現れないが、ここでは、説明を簡単にするため、同
一画面上で説明する。

【００３７】そして、光反射器４の反射減衰量がＲLoss
Ａ（dB) 、光反射器６の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、
１×２光スイッチ２のＡポートとＢポート間の損失がＳ
LossＡＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＣポ
ート間の損失がＳLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で
測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パル
ス試験器１で測定した反射器６の反射レベルがＲＢ（d
B) である場合、光ファイバ５の近端ｓから遠端ｅまで
の光損失をＦLossとすると、次の式（２）にて光損失Ｆ
Lossを求めることで測定を行う。 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＳLossＡＢ） −（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＳLossＡＣ） ・・・式（２）

【００３８】光損失ＦLossには、途中の融着接続点７、
コネクタ接続点８、コネクタ９の接続点、コネクタ１０
の接続点及びコネクタ１１の接続点による各損失も含ま
れる。

【００３９】本第１実施例によれば、フレネル反射によ
る光ファイバ５の両端における後方散乱光レベルへの影
響による光損失ＦLossの測定精度の低下を回避すること
が可能となる。つまり、光損失ＦLossを精度良く測定す
ることができる。

【００４０】光反射器４の反射減衰量ＲLossＡ、光反射
器６の反射減衰量ＲLossＢ、１×２光スイッチ２の各ポ
ートの損失ＳLossＡＢ、ＳLossＡＣは、予め測定してお
く。つまり、これらを既知の損失として、式（２）の演
算が行われる。

【００４１】ここで、光反射器４及び光反射器６の反射
は、他のコネクタ、例えば光ファイバ５の近端ｓにある
コネクタ９や光ファイバ５の遠端ｅにあるコネクタ１１
で発生するフレネル反射量よりも十分大きい必要があ
る。従って、光反射器４の反射減衰量及び光反射器６の
反射減衰量は、０〜１ｄＢ等と完全反射に近い方が精度
良く光損失ＦLossを測定することができる。

【００４２】式（２）により光損失ＦLossを求める演算
は、光パルス試験器１で行っている。この演算を光パル
ス試験器１とは別の演算手段で行っても良いが、光パル
ス試験器１による演算と等価である。

【００４３】［第２実施例：光合分岐器を使用した例］
次に、本発明の第２実施例を図３、図４を用いて説明す
る。本第２実施例は第１実施例で用いられている１×２
光スイッチ２を光合分岐器１４に置き換えたものであ
り、他の構成は同様なので、第１実施例と同じ部材には
同じ符号を付し、また、説明の重複を省く。

【００４４】まず、本第２実施例の測定系を説明する。
図２中、１は光パルス試験器、１４は３つの光入出力ポ
ートを備えた光合分岐器、３は光ファイバ、４は光反射
器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、６
は光反射器（第２光反射器）を表す。また、７は融着接
続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０
は遠端に近接したコネクタ、１１は遠端のコネクタを表
す。

【００４５】光合分岐器１４は、Ａポート、Ｂポート、
Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、Ａポートから
Ｂポートへ、もしくはＡポートからＣポートへのいずれ
かにも光が合分岐する光合分波器である。

【００４６】従って、光合分岐器１４では、Ａポートか
ら入射した光はＢポートとＣポートの両方に出射され
る。逆に、Ｂポートから入射した光も、Ｃポートから入
射した光も、Ａポートに出射される。

【００４７】このような光合分岐器１４のＡポートに光
ファイバ３の片端が接続され、光ファイバ３のもう片端
に光パルス試験器１が接続される。また、光合分岐器１
４のＢポートには光反射器４が接続され、Ｃポートには
測定対象である光ファイバ５が接続される。更に、光フ
ァイバ５の反対側に、光反射器６が着脱可能に接続され
る。

【００４８】光合分岐器１４のＣポートと光ファイバ５
とは、第１実施例と同様、コネクタ９を介して接続する
ようにしている。

【００４９】これにより、光合分岐器１４は光パルス試
験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入
する機能と、光反射器４からの反射光を測定する機能を
備える。なお、光反射器６は、測定毎に、人手で遠端の
コネクタ１１に取り付け、測定後に取り外すようにして
いる。

【００５０】次に、本第２実施例での測定方法を説明す
る。

【００５１】本第２実施例では、光パルス試験器１から
光ファイバ３を介して光合分岐器１４に光パルスを出射
し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、光反
射器６からのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器
１で測定する。

【００５２】図４に、上記方法で測定した応答光波形例
を示す。図４において、縦軸が後方散乱光レベル、横軸
が距離であり、１２は光反射器４からのフレネル反射、
１３は光反射器６からのフレネル反射である。

【００５３】そして、光反射器４の反射減衰量がＲLoss
Ａ（dB) 、光反射器６の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、
光合分岐器１４のＡポートとＢポート間の損失がＣLoss
ＡＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＣポート間の
損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した
光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器
１で測定した反射器６の反射レベルがＲＢ（dB) である
場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失ＦLoss
を、次の式（３）にて求めることで測定を行う。 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ） −（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） ・・・式（３）

【００５４】本第２実施例によれば、第１実施例と同
様、フレネル反射による光ファイバ５の両端における後
方散乱光レベルへの影響による光損失ＦLossの測定精度
の低下を回避することが可能となる。つまり、光損失Ｆ
Lossを精度良く測定することができる。また、光合分岐
器１４を光ファイバ５に接続した場合は、１度の測定
で、光ファイバ５の光損失を測定することができる。

【００５５】第１実施例と同様、光反射器４の反射減衰
量ＲLossＡ、光反射器６の反射減衰量ＲLossＢ、光合分
岐器１４の各ポートの損失ＣLossＡＢ、ＣLossＡＣは、
予め測定しておく。

【００５６】また、第１実施例と同様、光反射器４の反
射及び光反射器６の反射は、他のコネクタ、例えば光フ
ァイバ５の近端にあるコネクタ９や遠端にあるコネクタ
１１で発生するフレネル反射量より十分大きい必要があ
る。従って、光反射器４及び光反射器６の反射減衰量
は、０〜１ｄＢ等と完全反射に近い方が精度良く光損失
ＦLossを測定することができる。

【００５７】更に、式（３）により光損失ＦLossを求め
る演算は、光パルス試験器１が行っている。この演算を
光パルス試験器１とは別の演算手段で行っても良いが、
光パルス試験器１による演算と等価である。

【００５８】［第３実施例］次に、本発明の第３実施例
を図５〜図１１を用いて説明する。

【００５９】［第３実施例その１：反射器付きコネク
タ］本第３実施例では、第２光反射器として、図５に示
すように、光通信に影響を与えないように、通信光１５
は透過し、試験光１６は反射する特性を持つ光反射器６
ａを用いる。この光反射器６ａは遠端のコネクタに内蔵
される。以下、光反射器６ａを内蔵する遠端のコネクタ
を反射器付きコネクタ１１ａと呼ぶ。

【００６０】図６及び図７に、反射器付きコネクタ１１
ａの具体的な構成例を示す。図６に示す反射器付きコネ
クタ１１ａは、ＳＣコネクタフェルール１７内に、誘電
体多層膜フィルタ１８を埋め込んだものである。図７に
示す反射器付きコネクタ１１ａは、ＳＣコネクタフェル
ール１７内に、ファイバグレーティングフィルタ１９を
埋め込んだものである。

【００６１】前述した第１実施例及び第２実施例では、
光反射器６を測定毎に遠端のコネクタ１１に取り付ける
必要があったが、本第３実施例では、反射器付きコネク
タ１１ａが光反射器６ａを予め内蔵したものであるか
ら、この反射器付きコネクタ１１ａを遠端のコネクタと
して光ファイバ５の端末に予め取り付けておくことで、
測定毎に人手で光反射器６をコネクタ１１に取り付ける
といった作業が必要なくなる。

【００６２】なお、前述した第１実施例及び第２実施例
において、コネクタ１１に内蔵されない光反射器６自体
が、通信光は透過し試験光は反射する特性を持つ光通信
に影響を与えない光反射器であっても良い。

【００６３】［第３実施例その２：１×２光スイッチと
反射器付きコネクタを使用した例］次に、図８により、
第１実施例（図１）の構成で、反射器付きコネクタ１１
ａを使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の
通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を
測定するシステム構成を説明する。従って、第１実施例
と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省略く。

【００６４】図８中、１は光パルス試験器、２は１×２
光スイッチ、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は
光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対
象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端
のコネクタ、１０は遠端に近接したコネクタ、１１ａは
遠端の反射器付きコネクタ（光反射器６ａ内蔵）、２０
は伝送装置、２１は伝送装置、２２は光合分岐器、２３
は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファ
イバ）、２５は通信光遮断フィルタ、２６はコネクタ、
２７は光ファイバを表す。

【００６５】反射器付きコネクタ１１ａは、図５〜図７
（第３実施例その１）で説明したように、通信光は透過
し、試験光は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを
内蔵したコネクタであり、予め、光ファイバ５の端末に
取り付けられている。

【００６６】光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装
置２０との接続用光ファイバ２４と、１×２光スイッチ
２との接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐接続する
ための光合分岐器であり、光ファイバ５とはコネクタ９
により接続される。

【００６７】試験光遮断フィルタ２３は、試験光を遮断
し、通信光を透過する特性を具備するフィルタである。
通信光遮断フィルタ２５は、通信光を遮断し、試験光を
透過する特性を具備するフィルタである。

【００６８】伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイ
バ５の光損失を測定する前に、光合分岐器２２が光ファ
イバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光
遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコ
ネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入され
る。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１
の前に挿入される。

【００６９】これら光合分岐器２２、試験光遮断フィル
タ２３、反射器付きコネクタ１１ａ及び通信光遮断フィ
ルタ２５の挿入は、通常、常時挿入しておくと良い。

【００７０】１×２光スイッチ２のＡポートには、第１
実施例に準じて、光ファイバ３の片端が接続されてい
る。また、この光ファイバ３のもう片端には、通信光遮
断フィルタ２５を介して、光パルス試験器１が接続され
ている。また、１×２光スイッチ２のＢポートには、光
反射器４が接続されている。

【００７１】１×２光スイッチ２のＣポートには、コネ
クタ２６で光ファイバ２７を介して光合分岐器２２を接
続することで、測定対象の光ファイバ５が接続される。

【００７２】これにより、光合分岐器２２は光パルス試
験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入
する機能を持つ。また、１×２光スイッチ２は光反射器
４からの反射光を測定する機能と、光パルス試験器１か
らの光パルス（試験光）を光合分岐器２２を介して光フ
ァイバ５に挿入する機能を備える。

【００７３】本例での測定方法は第１実施例と同様であ
り、例えば、 (1) １×２光スイッチ２をＡポートからＢポートに接続
し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して１×２
光スイッチ２に光パルスを出射し、光反射器４からのフ
レネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。 (2) 次に、１×２光スイッチ２をＡポートからＣポート
に接続し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して
１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、反射器付きコ
ネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレ
ベルを光パルス試験器１で測定する。

【００７４】そして、第１実施例と同様、光反射器４の
反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰
量がＲLossＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートと
Ｂポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、１×２光スイッ
チ２のＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB)
、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベ
ルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６
ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５
の近端から遠端までの光損失ＦLossを、前記式（２）に
て求めることで測定を行う。

【００７５】従って、光パルス試験器１からの試験光波
長と、伝送装置２０、２１間に使われている通信光波長
とを異ならせることで、伝送装置２０、２１間の通信中
にも、通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光
損失ＦLossを精度良く測定することができる。つまり、
光反射器６ａを光ファイバ５の遠端のコネクタ１１ａに
予め内蔵したことにより、現用の光ファイバ５の光通信
時の通信に影響を与えることがない。

【００７６】ここで、光反射器４の反射及び光反射器６
ａの反射は、他のコネクタ、例えば光ファイバ５の近端
にあるコネクタ９や遠端にあるコネクタ１１ａで発生す
るフレネル反射量より十分大きい必要がある。従って、
光反射器４の反射減衰量及びコネクタ１１ａ内蔵の光反
射器６ａの反射減衰量は、０〜１ｄＢ等と完全反射に近
い方が精度良く光損失ＦLossを測定することができる。

【００７７】なお、本例では、光合分岐器２２にコネク
タ２６を用いて１×２光スイッチ２を接続することで、
光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３、
１×２光スイッチ２及び光反射器４を光ファイバ５に取
り付けるようにしている。しかし、常時、光合分岐器２
２に１×２光スイッチ２を接続しておいても良い。

【００７８】［第３実施例その３：１×２光スイッチと
反射器付きコネクタと１×Ｎ光スイッチを使用した例］
次に、図９により、第１実施例（図１）の構成で、反射
器付きコネクタ１１ａと１×Ｎ光スイッチ２８を使用し
て、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響
を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシ
ステム構成を説明する。本例は、図８の例（第３実施例
その２）と比較すると、１×２光スイッチ２と光合分岐
器２２との間に、１×Ｎ光スイッチ２８を挿入した点が
異なり、他の構成は同様なので、図８の例と同じ部材に
は同じ符号を付し、説明の重複を省く。

【００７９】図９中、１は光パルス試験器、２は１×２
光スイッチ、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は
光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対
象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端
のコネクタ、１０は遠端に接近したコネクタ、１１ａは
遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝
送装置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィル
タ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信
光遮断フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバ、
２８は１×Ｎ光スイッチ（１×Ｎ構成の光スイッチ）、
２９は１心のヘッドを表す。

【００８０】光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装
置２０との接続用光ファイバ２４と１×２光スイッチ２
との接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐接続するた
めの光合分岐器であり、光ファイバ５とは近端のコネク
タ９で接続される。

【００８１】図９では光ファイバ５と光合分岐器２２を
１組だけ示しているが、伝送装置２０、２１とその間の
光ファイバ５からなる通信系が複数存在する場合は、光
ファイバ５毎に図９と同様に光合分波器２２が接続され
る。

【００８２】１×Ｎ光スイッチ２８のＮ心側には、予
め、複数の光合分岐器２２がそれぞれ光ファイバ２７を
介して接続されている。１×Ｎ光スイッチ２８の１心側
には、予め、１×２光スイッチ２のＣポートのコネクタ
２６が接続されている。

【００８３】従って、１×２光スイッチ２のＣポートに
は、１×Ｎ光スイッチ２８のヘッド２９の動作に応じ
て、所望の光合分岐器２２が選択されて接続され、その
結果、所望の光ファイバ５が測定対象として接続され
る。

【００８４】１×２光スイッチ２のＡポートには、図８
の例と同様、光ファイバ３の片端が接続されている。こ
の光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２
５を介して、光パルス試験器１が接続されている。１×
２光スイッチ２のＢポートには、光反射器４が接続され
ている。

【００８５】次に、本例での測定方法を説明する。

【００８６】(1) 例えば、１×２光スイッチ２をＡポー
トからＢポートに接続し、光パルス試験器１から光ファ
イバ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射
し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルを光パル
ス試験器１で測定する。

【００８７】(2) 次に、１×２光スイッチ２をＡポート
からＣポートに接続し、また、１×Ｎ光スイッチ２８で
所望の光合分岐器２２を選択し、光パルス試験器１から
光ファイバ３、１×２光スイッチ２、１×Ｎ光スイッチ
２８及び光合分岐器２２を介して所望の光ファイバ５に
光パルスを出射し、反射器付きコネクタ１１ａの光反射
器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器
１で測定する。但し、試験光波長は通信光波長と異なら
せる。

【００８８】そして、図８の例と同様、光反射器４の反
射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量
がＲLossＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＢ
ポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、１×２光スイッチ
２のＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB) 、
光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルが
ＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの
反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近
端から遠端までの光損失をＦLossとすると、前記式
（２）にて光損失ＦLossを求めることで測定を行う。

【００８９】本例では、１×Ｎ光スイッチ２８を備えて
いることから、この１×Ｎ光スイッチ２８、１×２光ス
イッチ２及び光パルス試験器１を遠隔自動で制御するこ
とにより、図８の例とは異なり光損失の測定毎に、光パ
ルス試験器１、光ファイバ３、１×２光スイッチ２及び
光反射器４を光ファイバ５に取り付ける必要がなくな
る。

【００９０】また、本例では、１×Ｎ光スイッチ２８を
用いることで、１つの光反射器４を複数の光ファイバ５
の光損失測定に共用することができ、経済的かつ高密度
に光損失を測定するシステムを構築することができる。

【００９１】［第３実施例その４：光合分岐器と反射器
付きコネクタを使用した測定］次に、図１０により、第
２実施例（図３）の構成で、反射器付きコネクタ１１ａ
を使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通
信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測
定するシステム構成を説明する。言い換えれば、本例
は、図８の例（第３実施例その２）と比べると、１×２
光スイッチ２に代えて光合分岐器１４を用いた点が異な
り、他の構成は同様なので、図８の例あるいは第２実施
例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。

【００９２】図１０中、１は光パルス試験器、１４は光
合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光
反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対
象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端
のコネクタ、１０は遠端近くのコネクタ、１１ａは遠端
の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装
置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィルタ、２
４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断
フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバを表す。

【００９３】反射器付きコネクタ１１ａは、図５で説明
したように、通信光は透過し、試験光は反射する光反射
器（第２光反射器）６ａを内蔵したコネクタであり、光
ファイバ５の端末に取り付けられる。

【００９４】光合分岐器１４は、Ａポート、Ｂポート、
Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、光経路をＡポ
ートからＢポートへ、もしくはＡポートからＣポートへ
のいずれかにも光が合分岐する光合分岐器である。

【００９５】光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装
置２０側の接続用光ファイバ２４と光合分岐器１４側の
接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐接続するための
光合分岐器であり、光ファイバ５とはコネクタ９により
接続される。光ファイバ２７は光合分岐器１４のＣポー
トに、コネクタ２６により接続される。

【００９６】伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイ
バ５の光損失を測定する前に、光合分岐器２２が光ファ
イバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光
遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコ
ネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入され
る。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１
の前に挿入される。

【００９７】光合分岐器１４のＡポートには、第２実施
例に準じて、光ファイバ３の片端が接続されている。こ
の光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２
５を介して、光パルス試験器１が接続されている。ま
た、光合分岐器１４のＢポートには、光反射器４が接続
されている。

【００９８】光合分岐器１４のＣポートは、コネクタ２
６及び光ファイバ２７を介して、光合分岐器２２に接続
される。これにより、光合分岐器１４のＣポートに測定
対象の光ファイバ５が接続されることになる。

【００９９】これにより、光合分岐器２２は光パルス試
験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入
する機能を持つ。また、光合分岐器１４は光反射器４か
らの反射光を測定する機能と、光パルス試験器１からの
光パルス（試験光）を光合分岐器２２を介して光ファイ
バ５に挿入する機能を備える。

【０１００】本例での測定方法は、第２実施例と同様で
あり、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合
分岐器１４に光パルスを出射し、光反射器４からのフレ
ネル反射光のレベルと、反射器付きコネクタ１１ａの光
反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試
験器１で測定する。

【０１０１】そして、光反射器４の反射減衰量がＲLoss
Ａ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB)
、光合分岐器１４のＡポートとＢポート間の損失がＣL
ossＡＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＣポート
間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定
した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試
験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB)
である場合、光ファイバ５の近端ｓから遠端ｅまでの光
損失をＦLossとすると、前記式（３）にて光損失ＦLoss
を求めることで測定を行う。

【０１０２】従って、光パルス試験器１からの試験光波
長と、伝送装置２０、２１間に使われている通信波長と
を異ならせることで、伝送装置２０、２１間の通信中に
も、通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損
失ＦLossを精度良く測定することができる。

【０１０３】なお、本例では、光合分岐器２２にコネク
タ２６を用いて光合分岐器１４を接続することで、光損
失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３、光合
分岐器１４及び光反射器４を光ファイバ５に取り付ける
ようにしている。しかし、常時、光合分岐器２２に光合
分岐器１４を接続しておいても良い。

【０１０４】［第３実施例その５：光合分岐器と反射器
付きコネクタと１×Ｎ光スイッチを使用した測定］次
に、図１１により、第２実施例（図３）の構成で、反射
器付きコネクタ１１ａと１×Ｎ光スイッチ２８を使用し
て、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響
を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシ
ステム構成を説明する。言い換えれば、本例は、図１０
の例（第３実施例その４）と比べると、光合分岐器１４
と光合分岐器２２の間に、１×Ｎ光スイッチ２８が挿入
されている点が異なり、他の構成は同様なので、図１０
の例あるいは第２実施例と同じ部材には同じ符号を付
し、説明の重複を省く。

【０１０５】図１１中、１は光パルス試験器、１４は光
合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光
反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対
象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端
のコネクタ、１０は遠端近くのコネクタ、１１ａは遠端
の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装
置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィルタ、２
４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断
フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバ、２８は
１×Ｎ光スイッチ、２９は１心のヘッドを表す。

【０１０６】光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装
置２０側の接続用光ファイバ２４と光合分岐器１４側の
接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐するための光合
分岐器であり、光ファイバ５とは近端のコネクタ９で接
続される。

【０１０７】図１１では光ファイバ５と光合分岐器２２
の１組を示しているが、伝送装置２０、２１とその間の
光ファイバ５からなる伝送系が複数存在する場合は、光
ファイバ５毎に図９と同様に光合分波器２２が接続され
る。

【０１０８】１×Ｎ光スイッチ２８のＮ心側には、予
め、複数の光合分岐器２２がそれぞれ光ファイバ２７を
介して接続されている。１×Ｎ光スイッチ２８の１心側
には、予め、光合分岐器１４のＣポートのコネクタ２６
が接続されている。

【０１０９】従って、光合分岐器１４のＣポートには、
１×Ｎ光スイッチ２８のヘッド２９の動作に応じて、所
望の光合分岐器２２が選択されて接続され、その結果、
所望の光ファイバ５が測定対象として接続される。

【０１１０】光合分岐器１４のＡポートには、図１０の
例と同様、光ファイバ３の片端が接続されている。この
光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２５
を介して、光パルス試験器１が接続されている。光合分
岐器１４のＢポートには、光反射器４が接続されてい
る。

【０１１１】次に、本例での測定方法を説明する。本例
では、１×Ｎ光スイッチ２８で所望の光合分岐器２２を
選択した後、図１０の例と同様、光パルス試験器１から
光ファイバ３を介して光合分岐器１４に光パルスを出射
し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、反射
器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反
射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。試験光波
長は通信光波長と異なる。

【０１１２】そして、図１０の例と同様、光反射器４の
反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰
量がＲLossＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＢポ
ート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡ
ポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パル
ス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ
（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射
レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端か
ら遠端までの光損失をＦLossとすると、前記式（３）に
て光損失ＦLossを求めることで測定を行う。

【０１１３】本例では、１×Ｎ光スイッチ２８を備える
ことから、１×Ｎ光スイッチ２８及び光パルス試験器１
を遠隔自動で制御することにより、図１０の例とは異な
り光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ
３、光合分岐器１４及び光反射器４を光ファイバ５に取
り付ける必要がなくなる。

【０１１４】［第４実施例：２つの光合分岐器を１つに
統合した光合分岐器と反射器付きコネクタを使用した測
定］次に、図１２により、図１０の例（第３実施例その
４）中の２つの光合分岐器１４と光合分岐器２２を１つ
に統合して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通
信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測
定するシステム構成を説明する。言い換えれば、本第４
実施例は、図１０の例と比べると、２つの光合分岐器１
４と光合分岐器２２に代えて、１つの光合分岐器３０を
用いた点が異なり、他の構成は同様なので、図１０の例
と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。

【０１１５】図１２中、１は光パルス試験器、３０は４
つの光入出力ポートを備える光合分岐器、３は光ファイ
バ（別の光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射
器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、
８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端
近くのコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、
２０は伝送装置、２１は伝送装置、２３は試験光遮断フ
ィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は
通信光遮断フィルタを表す。

【０１１６】光合分岐器３０は、Ａポート、Ｂポート、
Ｃポート、Ｄポートと４つの光入出力ポートを備え、Ａ
ポートから入射した光はＢポートとＣポートの両方に、
Ｄポートから入射した光もＢポートとＣポートの両方に
出射する光部品である。逆に、Ｂポートから入射した光
はＡポートとＤポートの両方に、Ｃポートから入射した
光もＡポートとＤポートの両方に出射する。

【０１１７】反射器付きコネクタ１１ａは光ファイバ５
の端末に取り付けられており、通信光は透過し、試験光
は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを内蔵する。

【０１１８】伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイ
バ５の光損失を測定する前に、光合分岐器３０が光ファ
イバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光
遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコ
ネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入され
る。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１
の前に挿入される。

【０１１９】光合分岐器３０のＡポートには、光ファイ
バ３の片端が接続されている。この光ファイバ３のもう
片端には、通信光遮断フィルタ２５を介して、光パルス
試験器１が接続されている。また、光合分岐器１４のＢ
ポートには、光反射器４が接続されている。

【０１２０】更に、光合分岐器３０のＣポートには、コ
ネクタ９を介して測定対象の光ファイバ５が接続され
る。また、光合分岐器３０のＤポートには、伝送装置２
０に接続されている光ファイバ２４が接続される。

【０１２１】これにより、光合分岐器３０は光パルス試
験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入
する機能と、光反射器４からの反射光を測定する機能を
統合して備える。

【０１２２】本第４実施例での測定方法は、図１０の例
（第３実施例その４）と同様であり、光パルス試験器１
から光ファイバ３を介して光合分岐器３０のＡポートに
光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光の
レベルと、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａか
らのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定
する。

【０１２３】そして、光反射器４の反射減衰量がＲLoss
Ａ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB)
、光合分岐器３０のＡポートとＢポート間の損失がＣL
ossＡＢ（dB) 、光合分岐器３０のＡポートとＣポート
間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定
した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試
験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB)
である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失
をＦLossとすると、前記式（３）にて光損失ＦLossを求
めることで測定を行う。

【０１２４】従って、図１０の例（第３実施例その４）
中の２つの光合分岐器１４と光合分岐器２２に代えて、
これらを統合した１つの光合分岐器３０を用いることに
より、光パルス試験器１からの試験光波長と、伝送装置
２０、２１間に使われている通信波長とを異ならせるこ
とで、伝送装置２０、２１間の通信中にも、通信に影響
を与えることなく、光ファイバ５の光損失ＦLossを精度
良く測定することができる。

【０１２５】ここで、伝送装置２０、２１間の通信方式
が伝送路の反射への影響が弱い方式を採用している場
合、光反射器４は、試験光波長（例えば１６５０ｎｍ）
に対しては反射するが、通信光波長（例えば１３１０ｎ
ｍ）に対しては反射を押さえるように工夫した光反射器
を使用する。

【０１２６】［第５実施例：２つの光合分岐器を１つに
統合した光合分岐器と、反射器付きコネクタと、２×Ｎ
光スイッチを使用した測定］次に、図１３により、第４
実施例（図１２）の構成で、２×Ｎ光スイッチ３１を使
用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に
影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定す
るシステム構成を説明する。即ち、本第５実施例は、第
４実施例と比べると、光合分岐器３０のＡポートと光フ
ァイバ３との間、並びに、Ｂポートと光反射器４との間
に、２×Ｎ光スイッチ３１が挿入されている点が異な
り、他の構成は同様なので、第４実施例と同じ部材には
同じ符号を付し、説明の重複を省く。

【０１２７】図１３中、１は光パルス試験器、３０は光
合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバまたは第１
光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光
ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ
接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端近くのコネク
タ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装
置、２１は伝送装置、２３は試験光遮断フィルタ、２４
は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フ
ィルタ、３１は２×Ｎ光スイッチ（２×Ｎ構成の光スイ
ッチ）、３２は２心のヘッドを表す。

【０１２８】図１３では光ファイバ５と光合分岐器３０
の１組を示しているが、伝送装置２０、２１とその間の
光ファイバ５からなる通信系が複数存在する場合は、光
ファイバ５毎に図１３と同様に光合分波器３０が接続さ
れる。

【０１２９】２×Ｎ光スイッチ３０のＮ心側には、予
め、複数の光合分岐器３０のＡポートとＢポートがそれ
ぞれ対になって光ファイバを介して接続されている。２
×Ｎ光スイッチ３１の２心側には、予め、光ファイバ３
及び光反射器４がそれぞれ接続されている。光ファイバ
３は光合分岐器３０のＡポートに対応し、光反射器４は
Ｂポートに対応している。

【０１３０】従って、２×Ｎ光スイッチ３１のヘッド３
２の動作に応じて、所望の光合分岐器３０が選択され
る。そして、選択された光合分岐器３０のＡポートには
２×Ｎ光スイッチ３１と光ファイバ３を介して光パルス
試験器１が接続され、Ｂポートに２×Ｎ光スイッチ３１
を介して光反射器４が接続される。選択された光合分岐
器３０のＣポートにコネクタ９を介して接続されている
光ファイバ５が測定対象となる。

【０１３１】反射器付きコネクタ１１ａは光ファイバ５
の端末に取り付けられており、通信光は透過し、試験光
は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを内蔵する。

【０１３２】伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイ
バ５の光損失を測定する前に、光合分岐器３０が光ファ
イバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光
遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコ
ネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入され
る。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１
の前に挿入される。

【０１３３】次に、本第５実施例での測定方法を説明す
る。

【０１３４】本第５実施例では、２×Ｎ光スイッチ３０
で所望の光合分岐器３０を選択した後、第４実施例と同
様、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合分
岐器３０のＡポートに光パルスを出射し、光反射器４か
らのフレネル反射光のレベルと、反射器付きコネクタ１
１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光
パルス試験器１で測定する。試験光波長は通信光波長と
異なる。

【０１３５】本第５実施例では、光合分岐器３０と光反
射器４との間の２×Ｎ光スイッチ３０の接続損失ＷLoss
を考慮して、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失
ＦLossを求める。

【０１３６】つまり、光反射器４の反射減衰量がＲLoss
Ａ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB)
、光合分岐器３０のＡポートとＢポート間の損失がＣL
ossＡＢ（dB) 、光合分岐器３０のＡポートとＣポート
間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光合分岐器３０と光反射
器４との間の２×Ｎ光スイッチ３０の接続損失がＷLoss
（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射
レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射
器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイ
バ５の近端から遠端までの光損失ＦLossを、次の式
（４）にて求めることで測定する。 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss） −（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） ・・・式（４）

【０１３７】式（４）中の損失ＷLossは、ＲLossＡ、Ｒ
LossＢ、ＣLossＡＢ及びＣLossＡＣと同様、予め測定し
ておく。

【０１３８】本第５実施例では、２×Ｎ光スイッチ２８
を備えることから、１つの光反射器４を複数の光ファイ
バ５の光損失測定に共用することができ、より経済的か
つ高密度に光損失を測定するシステムを構築することが
できる。

【０１３９】また、本第５実施例では、２×Ｎ光スイッ
チ２８を備えることから、２×Ｎ光スイッチ２８及び光
パルス試験器１を遠隔自動で制御することにより、図１
２の例とは異なり光損失の測定毎に、光パルス試験器
１、光ファイバ３及び光反射器４を光ファイバ５に取り
付ける必要がなくなる。

【０１４０】

【発明の効果】以上の説明から判るように、本発明によ
れば、光パルス試験器を用いて光ファイバ線路の光損失
を測定する場合、測定対象の光ファイバに１×２光スイ
ッチまたは光合分岐器を接続した上で、測定対象の光フ
ァイバ線路の両端における反射レベル、第１及び第２光
反射器の反射減衰量、並びに、１×２光スイッチまたは
光合分岐器のポート間の損失値に基づいて光損失値を算
出する。従って、フレネル反射による測定対象の光ファ
イバの両端における後方散乱光レベルへの影響による光
損失の測定精度の低下を回避することが可能となる。つ
まり、測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損
失を精度良く測定することができる。

【０１４１】特に、光合分岐器を用いた場合は、１度の
測定で、測定対象の光ファイバの光損失を測定すること
ができる。

【０１４２】また、第２光反射器を測定対象の光ファイ
バの遠端のコネクタに予め内蔵する場合は、測定毎に現
地で、測定対象の光ファイバに人手で第２光反射器を接
続する必要がなくなる。

【０１４３】また、第２光反射器を測定対象の光ファイ
バの遠端のコネクタに予め内蔵した場合は、現用の光フ
ァイバ回線の光通信時の通信に影響を与えることなく、
光損失を精度良く測定することが可能となる。

【０１４４】更に、１つの光合分岐器で、試験光を測定
対象の光ファイバに挿入する機能と、第１光反射器から
の反射光を測定する機能とを統合するは、経済的かつ高
密度に光損失を測定するシステムを構築することができ
る。この場合、２×Ｎ光スイッチを用いることで、１つ
の第１光反射器を複数の測定対象の光ファイバに共用す
ることができ、更に経済的かつ高密度に光損失を測定す
るシステムを構築することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例の測定系を示す図。

【図２】第１実施例における応答光波形例を示す図。

【図３】本発明の第２実施例の測定系を示す図。

【図４】第２実施例における応答波光形例を示す図。

【図５】本発明の第３実施例その１（反射器付きコネク
タ）を示す図。

【図６】反射器付きコネクタの具体的構成例を示す図。

【図７】反射器付きコネクタの別の具体的構成例を示す
図。

【図８】本発明の第３実施例その２の測定系を示す図。

【図９】本発明の第３実施例その３の測定系を示す図。

【図１０】本発明の第３実施例その４の測定系を示す
図。

【図１１】本発明の第３実施例その５の測定系を示す
図。

【図１２】本発明の第４実施例の測定系を示す図。

【図１３】本発明の第５実施例の測定系を示す図。

【図１４】第１従来例の測定系を示す図。

【図１５】第１従来例における応答波光形例を示す図。

【図１６】第２従来例の測定系を示す図。

【図１７】第３従来例の測定系を示す図。

【図１８】第４従来例の測定系を示す図。

【図１９】第４従来例における応答波光形例を示す図。

【符号の説明】

Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ 光入出力ポート ｅ 遠端 ｓ 近端 １ 光パルス試験器 ２ １×２光スイッチ ３ 光ファイバ（別の光ファイバまたは第１光ファイ
バ） ４ 光反射器（第１光反射器） ５ 光ファイバ（測定対象） ６ 光反射器（第２光反射器） ６ａ 通信光を透過し、試験光を反射する光反射器（第
２光反射器） ７ 融着接続点 ８ コネクタ接続点 ９ 近端のコネクタ １０ 遠端に接近したコネクタ １１ 遠端のコネクタ １１ａ 反射器付きコネクタ（光反射器６ａを内蔵した
遠端のコネクタ） １２ 第１反射器からのフレネル反射 １３ 第２反射器からのフレネル反射 １４ ３つの光入出力ポートを備えた光合分岐器 １５ 通信光 １６ 試験光 １７ コネクタフェルール １８ 誘電体多層膜フィルタ １９ ファイバグレーティングフィルタ ２０、２１ 伝送装置 ２２ 光合分岐器 ２３ 試験光遮断フィルタ ２４ 光ファイバ（第２光ファイバ） ２５ 通信光遮断フィルタ ２６ コネクタ ２７ 光ファイバ ２８ １×Ｎ光スイッチ ２９ ヘッド（１心） ３０ ４つの光入出力ポートを備えた光合分岐器 ３１ ２×Ｎ光スイッチ ３２ ヘッド（２心） ３３ 試験光遮断フィルタ ３４ 光ファイバ ３５、３６ フレネル反射

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光線路の片端から光パルスを入射すると
   ともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル
   反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形か
   ら前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた
   光ファイバ損失測定方法において、 Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポート
   を備え、光経路をＡポートからＢポートへ、もしくはＡ
   ポートからＣポートへのいずれかに切り換えることが可
   能な１×２光スイッチを用い、 前記１×２光スイッチのＣポートに測定対象の光ファイ
   バの片端を接続し、 前記１×２光スイッチのＡポートに前記測定対象の光フ
   ァイバとは別の光ファイバの片端を接続し、 前記別の光ファイバのもう片端に前記光パルス試験器を
   接続し、 前記１×２光スイッチのＢポートに第１光反射器を接続
   し、 前記測定対象の光ファイバのもう片端に第２光反射器を
   接続し、 前記１×２光スイッチをＡポートからＢポートに接続し
   て、前記第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ
   （dB) を測定し、 前記１×２光スイッチをＡポートからＣポートに接続し
   て、前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ
   （dB) を測定し、 前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記
   第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記１×
   ２光スイッチのＡポートとＢポート間の損失がＳLossＡ
   Ｂ（dB) 、前記１×２光スイッチのＡポートとＣポート
   間の損失がＳLossＡＣ（dB) であるとき、前記測定対象
   の光ファイバの近端から遠端までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＳLossＡＢ）−（ＲLo
   ssＢ＋ＲＢ／２＋ＳLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする光ファイバ損失測定方
   法。
2. 【請求項２】 光線路の片端から光パルスを入射すると
   ともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル
   反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形か
   ら前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた
   光ファイバ損失測定方法において、 Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポート
   を備え、ＡポートからＢポートへ、また、Ａポートから
   Ｃポートへのいずれかにも光が合分岐することが可能な
   光合分岐器を用い、 前記光合分岐器のＣポートに測定対象の光ファイバの片
   端を接続し、 前記光合分岐器のＡポートに前記測定対象の光ファイバ
   とは別の光ファイバの片端を接続し、 前記別の光ファイバのもう片端に前記光パルス試験器を
   接続し、 前記光合分岐器のＢポートに第１光反射器を接続し、 前記測定対象の光ファイバのもう片端に第２光反射器を
   接続し、 前記光合分岐器を通して前記第１光反射器からのフレネ
   ル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記第２光反射器からの
   フレネル反射のレベルＲＢ（dB) を測定し、 前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記
   第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記光合
   分岐器のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（d
   B) 、前記光合分岐器のＡポートとＣポート間の損失が
   ＣLossＡＣ（dB)であるとき、前記測定対象の光ファイ
   バの近端から遠端までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ）−（ＲLo
   ssＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする光ファイバ損失測定方
   法。
3. 【請求項３】 請求項２記載の光ファイバ損失測定方法
   において、 前記３つの光入出力ポートを備える光合分岐器に代え
   て、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの
   光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、ま
   た、ＡポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐
   し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、Ｄポートか
   らＣポートへいずれかにも光が合分岐することが可能な
   光合分岐器を用いること、 前記４つの光入出力ポートを備える光合分岐器のＡポー
   トに前記別の光ファイバの片端を接続し、前記４つの光
   入出力ポートを備える光合分岐器のＢポートに前記第１
   光反射器を接続し、前記４つの光入出力ポートを備える
   光合分岐器のＣポートに測定対象の光ファイバの片端を
   接続し、前記４つの光入出力ポートを備える光合分岐器
   のＤポートに前記測定対象の光ファイバとは別の第２光
   ファイバを接続することを特徴とする光ファイバ損失測
   定方法。
4. 【請求項４】 光線路の片端から光パルスを入射すると
   ともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル
   反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形か
   ら前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた
   光ファイバ損失測定方法において、 Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの光入
   出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、また、Ａ
   ポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐し、か
   つ、ＤポートからＢポートへ、また、ＤポートからＣポ
   ートへいずれかにも光が合分岐することが可能であり、
   Ｃポートに測定対象の光ファイバが接続される光合分岐
   器と、２×Ｎ光スイッチを用い、 前記光合分岐器のＣポートに測定対象の光ファイバの片
   側を接続し、 前記２×Ｎ光スイッチのＮ心側に前記光合分岐器のＡポ
   ートとＢポートを接続し、 前記２×Ｎ光スイッチの２心側に前記測定対象の光ファ
   イバとは別の第１光ファイバの片端を接続し、 前記第１光ファイバのもう片端を前記光パルス試験器に
   接続し、 前記２×Ｎ光スイッチの２心側に第１光反射器を接続
   し、 前記測定対象の光ファイバのもう片端に第２光反射器を
   接続し、 前記光合分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファイバ
   とは別の第２光ファイバを接続し、 前記光合分岐器及び前記２×Ｎ光スイッチを通して前記
   第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ（dB)
   と、前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ
   （dB) を測定し、 前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記
   第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記光合
   分岐器のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（d
   B) 、前記光合分岐器のＡポートとＣポート間の損失が
   ＣLossＡＣ（dB)、前記光合分岐器と前記第１光反射器
   間の前記２×Ｎ光スイッチの接続損失がＷLoss（dB) で
   あるとき、前記測定対象の光ファイバの近端から遠端ま
   での光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）
   −（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする光ファイバ損失測定方
   法。
5. 【請求項５】 請求項１から４いずれかに記載の光ファ
   イバ損失測定方法において、 前記第２光反射器として、前記測定対象の光ファイバの
   遠端のコネクタに内蔵した、通信光を透過し、試験光を
   反射する特性を持つ光反射器を用いることを特徴とする
   光ファイバ損失測定方法。
6. 【請求項６】 光線路の片端から光パルスを入射すると
   ともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル
   反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形か
   ら前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた
   光ファイバ損失測定装置において、 前記光パルス試験器と、 Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポート
   を備え、光経路をＡポートからＢポートへ、もしくはＡ
   ポートからＣポートへのいずれかに切り換えることが可
   能であり、Ｃポートに測定対象の光ファイバの片端が接
   続される１×２光スイッチと、 前記光パルス試験器と前記１×２光スイッチのＡポート
   を接続する、前記測定対象の光ファイバとは別の光ファ
   イバと、 前記１×２光スイッチのＢポートに接続される第１光反
   射器と、 前記測定対象の光ファイバのもう片端に接続される第２
   光反射器とを備え、 前記光パルス試験器は、前記第１光反射器の反射減衰量
   がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量がＲ
   LossＢ（dB) 、前記１×２光スイッチのＡポートとＢポ
   ート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、前記１×２光スイッ
   チのＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB) で
   あるとき、前記１×２光スイッチがＡポートからＢポー
   トに接続されたときに測定した前記第１光反射器からの
   フレネル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記１×２光スイ
   ッチをＡポートからＣポートに接続されたときに測定し
   た前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ
   （dB) とから、前記測定対象の光ファイバの近端から遠
   端までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＳLossＡＢ）−（ＲLo
   ssＢ＋ＲＢ／２＋ＳLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする光ファイバ損失測定装
   置。
7. 【請求項７】 光線路の片端から光パルスを入射すると
   ともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル
   反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形か
   ら前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた
   光ファイバ損失測定装置において、 前記光パルス試験器と、 Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポート
   を備え、ＡポートからＢポートへ、また、Ａポートから
   Ｃポートへいずれかにも光が合分岐することが可能であ
   り、Ｃポートに測定対象の光ファイバの片端が接続され
   る光合分岐器と、 前記光パルス試験器と前記光合分岐器のＡポートを接続
   する、前記測定対象の光ファイバとは別の光ファイバ
   と、 前記光合分岐器のＢポートに接続される第１光反射器
   と、 前記測定対象の光ファイバのもう片端に接続される第２
   光反射器とを備え、 前記光パルス試験器は、前記第１光反射器の反射減衰量
   がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量がＲ
   LossＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポートとＢポート間
   の損失がＣLossＡＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポート
   とＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) であるとき、前
   記光合分岐器を通して測定した前記第１光反射器からの
   フレネル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記光合分岐器を
   通して測定した前記第２光反射器からのフレネル反射の
   レベルＲＢ（dB) とから、前記測定対象の光ファイバの
   近端から遠端までの光損失ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ）−（ＲLo
   ssＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする光ファイバ損失測定装
   置。
8. 【請求項８】 請求項７記載の光ファイバ損失測定装置
   において、 前記３つの光入出力ポートを備える光合分岐器に代え
   て、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの
   光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、ま
   た、ＡポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐
   し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、Ｄポートか
   らＣポートへいずれかにも光が合分岐することが可能な
   光合分岐器を備えること、 前記４つの光入出力ポートを備える光合分岐器のＡポー
   トに前記別の光ファイバの片端が接続され、前記４つの
   光入出力ポートを備える光合分岐器のＢポートに前記第
   １光反射器が接続され、前記４つの光入出力ポートを備
   える光合分岐器のＣポートに前記測定対象の光ファイバ
   の片端が接続され、前記４つの光入出力ポートを備える
   光合分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファイバとは
   別の第２光ファイバが接続されることを特徴とする光フ
   ァイバ損失測定装置。
9. 【請求項９】 光線路の片端から光パルスを入射すると
   ともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル
   反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形か
   ら前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた
   光ファイバ損失測定装置において、 前記光パルス試験器と、 Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの光入
   出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、また、Ａ
   ポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐し、か
   つ、ＤポートからＢポートへ、また、ＤポートからＣポ
   ートへいずれかにも光が合分岐することが可能であり、
   Ｃポートに測定対象の光ファイバが接続される光合分岐
   器と、 Ｎ心側に、前記光合分岐器のＡポートとＢポートが接続
   される２×Ｎ光スイッチと、 前記光パルス試験器と前記２×Ｎ光スイッチの２心側を
   接続する、前記測定対象の光ファイバとは別の光ファイ
   バと、 前記２×Ｎ光スイッチの２心側に接続される第１光反射
   器と、 前記測定対象の光ファイバのもう片端に接続される第２
   光反射器とを備え、 前記光パルス試験器は、前記第１光反射器の反射減衰量
   がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量がＲ
   LossＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポートとＢポート間
   の損失がＣLossＡＢ（dB) 、前記光合分岐器のＡポート
   とＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、前記光合分岐
   器と前記第１光反射器間の前記２×Ｎ光スイッチの接続
   損失がＷLoss（dB) であるとき、前記光合分岐器のＤポ
   ートに前記測定対象の光ファイバとは別の第２光ファイ
   バが接続された状態で、前記光合分岐器を通して測定し
   た前記第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ
   （dB) と、前記光合分岐器を通して測定した前記第２光
   反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ（dB) とから、
   前記測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損失
   ＦLossを、 ＦLoss＝（ＲLossＡ＋ＲＡ／２＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）
   −（ＲLossＢ＋ＲＢ／２＋ＣLossＡＣ） の式から求めることを特徴とする光ファイバ損失測定装
   置。
10. 【請求項１０】 請求項６から９いずれかに記載の光フ
    ァイバ損失測定装置において、 前記第２光反射器が通信光を透過し、試験光を反射する
    特性を持ち、前記測定対象の光ファイバの遠端のコネク
    タに内蔵されていることを特徴とする光ファイバ損失測
    定装置。