JP3830601B2 - 光線路監視システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光線路監視システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光線路の断線等を検出する周知の光パルス試験では、通信光線路の途中に光パルス試験器(OTDR:Optical Time Domain Reflectometer)を接続して光線路監視システムを構成し、光パルス試験器から通信光へ入射した試験光の反射光や後方散乱光を光パルス試験器で観測することが一般的である。この光線路監視システムでは、通信光と異なる波長の試験光を使用することで、通信光(現用光)が存在する通信光線路の活線監視を実施することができる。
ところで、光パルス試験器にて試験光の反射光や後方散乱光のみならず通信光をも受光してしまうと、通信波長の受光データが反射光や後方散乱光の観測精度に影響を与えるため、通信波長と試験波長とを区別して受光することで試験光の反射光や後方散乱光の観測精度を向上することができる光線路監視システムの開発が要求されていた。
【0003】
図4は、前記要求に鑑みて構成された光線路監視システムを示す。
図4中符号1は光パルス試験器(OTDR)、21は選択装置、2は心線選択部、6は光スイッチ(心線選択装置)、7は光部品収納ケース、8は試験光線路、9は通信光線路である。
光線路監視システムは、光パルス試験器1と、選択装置21と、心線選択部2とを備えて構成される。光パルス試験器1と心線選択部2との間は、選択装置21にて光パルス試験器1と接続された試験光配線8によって光接続される。
なお、試験光線路8や通信光線路9は、光ファイバ等から構成された光配線である。
【0004】
心線選択部2は光スイッチ6と光部品収納ケース7とを備えている。
光スイッチ6は、1あるいは複数の光部品収納ケース7に対応し、例えば2000本の単心の光ファイバ11に対して、試験光配線8、8を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ6はメカニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、2本の試験光配線8、8のそれぞれの端末に設けた単心光ファイバを可動ヘッド12に搭載し、該可動ヘッド12を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に位置決めすることで、固定側の目的の光ファイバ11、11とそれぞれ接続する。なお、可動ヘッド12、12の制御は光スイッチ6内蔵のCPUによりなされる。
光部品収納ケース7は、光スイッチ6から引き出された単心あるいは多心の光ファイバ11aと、この光ファイバ11aの途中に介在させた光合分波器10(光カプラ)とを収納し、光ファイバ11aと通信光線路9とを光合分波器10を介して接続する。また、光部品収納ケース7は、図示していない伝送装置側の光線路が接続されるコネクタ接続用ポート14と、通信光線路9を接続するコネクタ接続用ポート13とを有し、これらのコネクタ接続用ポート13、14を介して通信光線路9や光ファイバ11aを伝送装置側の光線路と接続する。また、光ファイバ11aはコネクタ接続用ポート6aを介して光スイッチ6と接続される。
【0005】
光パルス試験器1は、現用光確認や光線路監視システム自体の配線確認等に使用する受光部22(PD:フォトダイオード)と、波長1.55μm試験光用の光源23(1.55LD:波長1.55μmの試験光を出射する半導体レーザ。以下「1.55光源」)と、波長1.31μm試験光用の光源24(1.31LD:波長1.31μmの試験光を出射する半導体レーザ。以下「1.31光源」)と、受光部25(APD:アバランシェ フォト ダイオード)と、モニタ用受光部26(PD:フォトダイオード)とを備えている。1.55光源23と1.31光源24にはこれらから入射される試験光を伝送する試験光線路27、28を接続している。これら試験光線路27、28は、WDM光カプラ31、34を介して選択装置21に導入され、この選択装置21にてそれぞれ心線選択部2の目的の試験光配線8と選択的に接続される。
【0006】
試験光線路27に介在した光カプラ31は該試験光線路27から波長1.55μm光を分波出射する出射ポートを複数有し、これら出射ポートには受光線路29やモニタ用受光線路32を接続している。受光線路29は受光部25と接続し、モニタ用受光線路30はモニタ用受光部26に接続している。
試験光線路28に介在した光カプラ34は該試験光線路28から波長1.31μm光を分波出射する出射ポートを複数有し、これら出射ポートには受光線路35やモニタ用受光線路30を接続している。
受光線路29は受光部25と接続され、試験光線路27から分離された波長1.55μm光を受光部25に伝送する。また、この受光線路29の途中には光カプラ36を介して受光線路35が接続され、該受光線路35から伝送された1.31μm光が受光部25に入射されるようになっている。
モニタ用受光線路32は、モニタ用受光線路30に介在させたWDM光カプラ33と接続され、試験光線路27から分離した1.55μm光をこの光カプラ33を介してモニタ用受光線路30に伝送することで、該モニタ用受光線路30に接続したモニタ用受光部26へ入射する。モニタ用受光線路30は、この光カプラ34によって試験光線路28から分波された波長1.31μm光をモニタ用受光部26に伝送する。
【0007】
この光線路監視システムでは、光スイッチ6にて目的の光ファイバ8、11同士を接続し、さらに選択装置21にて目的の試験光線路8を光パルス試験器1側の試験光線路27あるいは28のいずれかと接続することで、目的の通信光線路9と光パルス試験器1とが接続される。そして、光パルス試験器1から試験光配線8に入射した試験光を、光スイッチ6、光部品収納ケース7を介して通信光線路9へ入射し、この逆順で光パルス試験器1に帰還した反射光または後方散乱光を受光部25で受光して観測することで、周知の光パルス試験を行う。試験波長としては、通信波長である1.31μm、あるいは通信光とは異なる波長としては例えば1.55μmや1.65μmを用いることが一般的である。
【0008】
1.31μm試験光で試験を実施する場合には、受光部22を試験目的の通信光線路9と接続して現用光が無いことを確認してから試験光を入射する。これにより、この光学系では、1.31μmの試験を実施しても、受光部25に現用光の影響を与える心配は無い。
1.31光源24からの光パルスは光カプラ34を介して出力され、その反射光は、光カプラ34から受光線路35および光カプラ36を介して受光部25にのみ伝送される。
なお、受光部22は、光スイッチ6に設置した試験ポート15、16およびループバック用光ファイバ17によって構成されるループバック線路や、光部品収納ケース7内で光合分波器10を介して接続された2本の光ファイバ11a、11aによって構成されるループバック線路を利用して、ループバックした試験光を受光することで光線路監視システム自体の配線確認や損失試験等にも利用される。
【0009】
ところで、前記光線路監視システムでは、通信光線路9で例えば1.31μmの通信を行っている最中に、通信光と異なる例えば波長1.55μmの試験光を用いた活線監視等の試験を実施する場合がある。
この試験では、試験光線路27を心線選択部2および選択装置21によって目的の通信光線路9と接続し、一方、試験光線路28と通信光線路9との接続は解除しておき、この状態で1.55光源から試験光を出力する。1.55光源23からの光パルスは光カプラ31を介して出力され、その反射光は、光カプラ31から受光線路29を介して受光部25にのみ伝送される。この時、WDM光カプラ31が波長1.55μm光のみを受光線路29に伝送し、1.55μm以外の波長の光の伝送を遮断するので、受光部25は1.55μm光のみを受光する。
したがって、この光学系では、現用光の存在する状況下で1.55μm波長を用いた試験を実施しても、受光部25に現用光の影響を与える心配は無い。
【0010】
また、この光線路監視システムでは、1.55光源23から出力した試験光を光カプラ31からモニタ用受光線路32、光カプラ33を介してモニタ用受光部26で受光することで、1.55光源23の発光状態を試験することができる。同様に、1.31光源24についても、出力した試験光を光カプラ34からモニタ用受光線路30を介してモニタ用受光部26で受光することで、1.31光源24の発光状態を試験することができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記のような光線路監視システムの場合、1.31μm光と1.55μm光の入出力ポートが別であり、使用する光部品が多数であり、光パルス試験器1内の光線路も複雑になるので、光パルス試験器1が大型になって組み立てに手間がかかるとともに、コストが上昇するといった問題があった。
【0012】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであって、以下の効果が得られる光線路監視システムを提供することを目的とする。
(1)簡便な構成により、光パルス試験器にて目的波長の光を選択に受光して観測することができ、光線路の試験精度が向上する。
(2)構成が単純であり、光回路を作成するコストを減らすことができ、しかもコンパクト化、低コスト化できる。
【0013】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明では、光線路に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチとを備えた光線路監視システムであって、前記光パルス試験器に接続される試験光線路を複数の光線路に分岐する光合分波器と、該光合分波器によって分岐した光線路をそれぞれ前記光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中に介在し、前記選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなり、選択装置にて、光合分波器によって分岐した複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記光スイッチに接続された試験光線路に対する接続を切り替えることにより、前記光パルス試験器での受光波長を選択できることを特徴とする光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
【0014】
この構成によれば、選択装置と光合分波器との間を接続する光線路の内、光フィルタを介在した光線路が試験波長光のみを伝送する試験波長光線路として機能し、その以外が試験波長光および通信波長光を伝送する光線路(以下、「通信波長光線路」)として機能する。光スイッチとしては、例えば試験光線路側光ファイバと通信光線路側光ファイバとを、1対nあるいは2対nで選択的かつ切替可能に接続する心選択装置等を採用する。
選択装置としては、光スイッチ側の試験光線路を構成する光ファイバに対して、試験波長光線路や通信波長光線路を構成する光ファイバを、例えば2対nで選択的かつ切替可能に接続する装置や、1対2スイッチ等の採用が可能である。この選択装置の制御は自動、手動のいずれであっても良いが、CPUを搭載した制御装置による自動制御で、試験光線路に接続する試験波長光線路や通信波長光線路を切り替える構成であることが好ましい。また、目的の試験光線路に対して試験波長光線路と通信波長光線路のいずれか一方を選択的に接続する構成であるので、試験波長光線路と試験光線路とを接続した際に通信波長光線路と試験光線路とを接続しない。これにより、試験波長光の受光時には、通信波長光線路から光パルス試験器への通信光の入射が防止される。また、試験光線路に対して試験波長光線路や通信波長光線路を1対2で接続する1対2スイッチを採用した場合には、選択装置の構成が単純になり低コスト化できるとともに、試験光線路に試験波長光線路を接続した時、通信波長光線路と試験光線路との接続が自動的に解除され、光パルス試験器への通信光の入射が防止される。
【0015】
光パルス試験器は、通信光と異なる波長の試験光の他に、通信光と波長の同じ試験光(例えば波長1.31μm)をも試験光線路に入射可能な構成であってもよい。通信波長の試験光は通信光線路の損失測定試験等に使用される。通信波長の試験光を用いた試験は、通信光線路に通信光が存在しないことを確認した後、選択装置で試験光線路に通信波長光線路を接続して実施する。なお、通信光線路での通信光の有無を確認するには、選択装置で試験光線路に通信波長光線路を接続して光パルス試験器で受光した光を観測する。
光パルス試験器が試験光線路に入射する試験光は、通信光線路を試験する周知の光パルス試験や光線路監視システム自体の試験等に使用されるものであり、通信光と異なる波長としては1.55μmや1.65μm等が採用される。
光合分波器は、通信波長の光と試験波長の光とを合波あるいは分波する光デバイスである。この光合分波器としては各種構成の採用が可能であるが、WDM形光カプラ等の小型かつ安価に形成することができる光構成を採用することが好ましい。
【0016】
請求項2記載の発明では、光線路に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチとを備えた光線路監視システムであって、前記光パルス試験器に接続した試験光線路を複数の光線路に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置と、該選択装置において試験光線路に対して接続される複数の光線路が一方の端部に接続され、他方の端部が前記光スイッチと接続される光合分波器とを備え、前記選択装置と前記光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に前記光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなり、選択装置は、前記光合分波器の一方の端部に接続されている複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記試験光線路に対する接続を切り替えるようになっていることを特徴とする光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
【0017】
この構成によれば、選択装置と光合分波器との間を接続する光線路の内、光フィルタを介在した光線路が試験波長光のみを伝送する試験波長光線路として機能し、その以外が試験波長光および通信波長光を伝送する光線路(以下、「通信波長光線路」)として機能する。
光スイッチや光合分波器、選択装置としては、請求項1記載の発明と同様に、各種構成の採用が可能である。
【0018】
請求項3記載の発明では、前記選択装置が1対2スイッチであることを特徴とする請求項2記載の光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
請求項4記載の発明では、前記光合分波器が、WDM光カプラであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下本発明の第1実施形態の光線路監視システムを図1を参照して説明する。
図1中符号50は光パルス試験器(OTDR)であり、図示しない光源を内蔵している。この光パルス試験器50には試験光線路52を接続している。この光パルス試験器50は、試験光線路52に1.31μmあるいは波長1.55μmの2種類の試験光を入射することができる。
【0020】
試験光線路52の途中には通信波長の光と試験波長の光とを合波/分波する光合分波器58(WDM光カプラ)を介在している。この光合分波器58は、通信波長の光を伝送する通信波長光線路59と試験波長の光を伝送する試験波長光線路60とに試験光線路52を分離する。通信波長光線路59と試験波長光線路60とは、選択装置53において、光スイッチ55に接続された試験光線路56に対して選択的かつ切替可能に接続される。
なお、試験波長光線路60には、試験波長である1.55μm光を透過し、通信波長である1.31μm光を遮断する光フィルタ(図1中LWP:Long Wave
Pass)を介在させている。
【0021】
選択装置53は通信波長光線路59と試験波長光線路60を、心線選択部54側の試験光線路56に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置53を有する。この心線選択装置53としては、各種タイプの光路切替装置を採用することができる。
通信に用いられる1.31μm光は、光合分波器58により合分波されて、通信波長光線路59と試験光線路52とを伝搬し、1.55μm光は、同様に、試験波長光線路60と試験光線路52とを伝搬する。
【0022】
心線選択部54は、前記光スイッチ55と、光合分波器62a等の光部品を収納した光部品収納ケース62とを備え、光スイッチ55にて、光パルス試験器50側である試験光線路56と加入者側である光ファイバ66とを切替可能に接続する。
ここで用いられる光スイッチのタイプとしては、例えば、移動自在な少なくとも一本の可動側光ファイバと、複数本の固定側光ファイバとを切替可能に接続するファイバ移動型のメカニカル方式の光スイッチである。図1では、例えば、光スイッチ55として1対1000スイッチを用いる。ここで、1対1000スイッチとは、一本の可動側光ファイバを1000本の固定側光ファイバへ切り替え接続するスイッチを意味する。
固定側光ファイバ66は、V溝が多数本設けられたV溝台(図示しない)に配列されており、これに対して移動自在な可動ヘッド55aが位置決め移動し、位置決め完了後において、V溝内において両光ファイバが精密に位置決め接続される。
【0023】
光部品収納ケース62は、図示しない伝送装置と加入者線路との間に配置される。光合分波器62aは通信光線路65の途中に挿入され、光スイッチ55への光ファイバ66を分岐する。
なお、光部品収納ケース62や光スイッチ55と、これらの周辺の光ファイバとの接続は、光コネクタを介してなされる。
【0024】
以下、この光線路監視システムの作用および効果を説明する。
この光線路監視システムによれば、通信光(現用光:例えば波長1.31μm)確認と、波長1.31μmの試験光を用いての損失測定等の試験と、波長1.55μmの試験光を用いての活線監視等の試験を実施することができる。
通信光線路65における現用光確認は、光スイッチ55にて目的の通信光線路65から分岐した光ファイバ66と試験光線路56とを接続し、選択装置53にて光ファイバ66と接続した試験光線路56に通信波長光線路59を接続し、光パルス試験器50にて受光した光を観測して現用光の有無を確認する。
波長1.31μmの試験光を用いた試験は、前記現用光確認で現用光(1.31μm光)が存在ししないことを確認してから、光線路の接続状態を維持したまま光パルス試験器50から波長1.31μmの試験光を試験光線路52、通信波長光線路59を介して通信光線路65に入射し、その反射光(後方散乱光等)を光パルス試験器50で観測する。この時、通信光線路65からの反射光は、通信波長光線路59を介して試験光線路52から光パルス試験器50へ伝送される。
【0025】
波長1.55μmの試験光を用いた試験は、光スイッチ55にて試験対象の通信光線路65に係る光ファイバ66と試験光線路56を接続し、光ファイバ66と接続した試験光線路56に選択装置53にて試験波長光線路60を接続した後、光パルス試験器50から試験光線路52、試験波長光線路60を介して波長1.55μmの試験光を通信光線路65へ入射し、その反射光(後方散乱光等)を光パルス試験器50で観測する。一方、通信波長光線路59は試験光線路56と接続しない。
入射した波長1.55μm試験光の反射光は、入射の場合と逆順で、試験波長光線路60、光合分波器58、試験光線路52の順に伝送されて光パルス試験器50に帰還する。この時、試験波長光線路60では、波長1.31μm光の伝送を遮断しているので、光パルス試験器50へ現用光が伝送されることは無い。
この試験は現用光の有無にかかわらず実施することが可能であるが、試験波長光線路60を通って帰還した反射光を光パルス試験器50で受光するため、光フィルタ61によって波長1.31μm光が光パルス試験器50に入射することが防止され、これにより、光パルス試験器50への現用光の入射が防止され、光パルス試験器50での反射光の観測に現用光が影響を与える心配が無い。しかも、光フィルタ61によってノイズもカットされるので、試験精度を向上することができる。
また、光パルス試験器50に設置する試験ポートが一つで済み、反射光受光用の受光部も一つで良いので、光パルス試験器50の構成が簡略化して、図4記載の光線路監視システムと比較して小型化、低コスト化できるといった優れた効果を奏する。
【0026】
以下、本発明の第2実施形態を図2を参照して説明する。
なお、図2中、図1と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化する。
図2中符号70は心線選択部であり、選択装置71と、光スイッチ72と、光部品収納ケース62とを備えている。この心線選択部70は、例えば、選択装置71、光スイッチ72、光部品収納ケース62を同一の架体フレームに搭載して構成される。
選択装置71には、光パルス試験器50と接続した試験光線路73と、光スイッチ72と接続した試験光線路74とを引き込んでいる。試験光線路74には光合分波器75(光カプラ)を接続し、さらに、この光合分波器75を介して通信波長光線路76と試験波長光線路77とを接続している。通信波長光線路76は、光合分波器75において試験光線路74に対して合波/分波される波長1.31μmの光を伝送する。試験波長光線路77は、光合分波器75において試験光線路74に対して合波/分波される波長1.55μmの光を伝送する。通信波長光線路76および試験波長光線路77は、試験光線路73と接続された選択装置78(1対2スイッチ)にて、試験光線路73に対して選択的かつ切替可能に接続される。試験波長光線路77には、波長1.31μm光の光パルス試験器50方向への入射を防止する光フィルタ77a(LWP:Long Wave Pass)を介在させている。
【0027】
光スイッチ72は、光パルス試験器50と接続された試験光線路73、試験波長光線路77を、光部品収納ケース62側の光ファイバ80に対して選択的かつ切替可能に接続する装置である。なお、光スイッチ72の構成は、図1記載の光スイッチ55と同様であるので、説明を省略する。
【0028】
以下、この光線路監視システムの作用および効果を説明する。
この光線路監視システムにて、現用光確認や波長1.31μmの試験光による試験を実施するには、選択装置78にて試験光線路73と通信波長光線路76とを接続し、さらに光スイッチ72にて試験光線路74を試験対象の通信光線路65に係る光ファイバ80と接続する。そして、光パルス試験器50にて受光した光を観測することで、目的の通信光線路65の現用光の有無を確認する。目的の通信光線路65に現用光が無いことが確認できたら、1.31μm試験光を光パルス試験器50から出射し、その反射光を観測する。1.31μm試験光は、試験光線路73から通信波長光線路76および光合分波器75を経由して通信光線路65に入射され、その反射光は、入射時と逆の順で光パルス試験器50に帰還する。
【0029】
波長1.55μmの試験光による試験を実施するには、選択装置78にて試験光線路73と試験波長光線路77とを接続するとともに、光スイッチ72にて試験光線路74を試験対象の通信光線路65に係る光ファイバ80と接続した後、1.55μm試験光を光パルス試験器50から通信光線路65へ入射し、光パルス試験器50にて反射光(後方散乱光等)を観測する。波長1.55μmの反射光は光合分波器75から試験波長光線路77を介して光パルス試験器50に帰還する。この時、試験波長光線路77では、光フィルタ77aにより波長1.31μm光がカットされるので、光パルス試験器50に1.31μm光が入射することは無い。また、選択装置78では試験光線路73が試験波長光線路77または通信波長光線路76のいずれかに選択的に接続されるため、試験波長光線路77と接続されている時には通信波長光線路76との接続が解除されているので、1.55μm試験光およびその反射光は試験波長光線路77に伝送され、しかも光フィルタ77aにより波長1.31μm光がカットされるので、これにより光パルス試験器50に1.31μm光が入射することは無く、光パルス試験器50には波長1.55μm光のみが入射する。したがって、光パルス試験器50における1.55μm反射光の観測に1.31μm光が影響を与える心配が無くなり、試験精度が向上する。また、本実施形態においては光フィルタ77aは1.55μm光を透過し、1.31μm光を遮断する特性を有する、例えば、誘電多層膜フィルタである。
【0030】
また、選択装置78として1対2スイッチを採用したことにより、光線路監視システムのさらに一層のコンパクト化や低コスト化を可能にする。
また、光パルス試験器50に設置する試験ポートが一つで済み、反射光受光用の受光部も一つで良いので、光パルス試験器50の構成が簡略化して、図4記載の光線路監視システムと比較して小型化、低コスト化できるといった優れた効果を奏する。
【0031】
以下、本発明の第3実施形態の光線路監視システムを、図3を参照して説明する。
なお、図3中、図2と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化する。
図3中符号90は光パルス試験器(OTDR)である。この光パルス試験器90は、波長1.31μmの光を受光する通信波長受光部91(APD:アバランシェ フォト ダイオード)と、波長1.55μmの光を受光する試験波長受光部92(APD:アバランシェ フォト ダイオード)と、図示しない光源とを内蔵している。通信波長受光部91や試験波長受光部92における受光観測データは、図示しないモニタにてそれぞれ個別に表示される。
図中94は、光パルス試験器90から試験光が入射される試験光線路であり、共に、心線選択部95に搭載した光スイッチ72に引き込まれ、この光スイッチ72にて光ファイバ80と選択的かつ切替可能に接続されることで目的の通信光線路65と接続される。
【0032】
試験光線路94の光パルス試験器90内に引き込んだ部分には、光合分波器96(WDM光カプラ)を介して試験光入射線路97と受光線路98とを接続している。試験光入射線路100は、図示しない光源から入射された試験光を光合分波器96を介して試験光線路94へ伝送する。前記光源は、1.31μmと1.55μmの異なる2波長の試験光を出射可能である。受光線路101には、試験光線路94から光パルス試験器90への入射光が光合分波器96を介して伝送される。受光線路98には、該受光線路98の伝送光を1.31μmと1.55μmの2種類の波長の光に分波する光合分波器99(光カプラ)を接続している。この光合分波器99には、試験光線路94から分波した波長1.31μmの光を伝送する通信波長光線路100と、同じく分波した波長1.55μmの光を伝送する試験波長光線路101とを接続している。通信波長光線路100は通信波長受光部91と接続し、試験波長光線路101は試験波長受光部92と接続しているので、試験光線路94から光パルス試験器90へ入射される光は光合分波器99にて波長別に通信波長光線路100と試験波長光線路101とに振り分けられた後、通信波長受光部91と試験波長受光部92とでそれぞれ受光される。
心線選択部95は、光スイッチ72と、光部品収納ケース62とを備えて構成される。
【0033】
この光線路監視システムでは、光スイッチ72にて試験対象の通信光線路65に係る光ファイバ80に試験光線路94を接続し、通信波長受光部91で受光した光を観測することで、現用光確認や波長1.31μmの試験光を使用した試験を実施する。
波長1.55μmの試験光を用いた試験は、光スイッチ72にて目的の通信光線路65に係る光ファイバ80に試験光線路94を接続した後、光パルス試験器90から試験光線路94を介して通信光線路65へ試験光を入射し、入射した試験光の反射光を試験波長受光部92で受光して観測する。この時、波長1.31μmの光は光合分波器99から通信波長光線路100を介して通信波長受光部91へ入射され、波長1.55μmの反射光は光合分波器99から試験波長光線路101を介して試験波長受光部92に入射されるので、通信光線路65に現用光が存在する時(活線状態)に試験を実施しても試験波長受光部92で波長1.31μmの光を受光する心配が無く、試験波長受光部92で受光した波長1.55μmの観測精度が向上し、試験自体の精度を向上することができる。
また、図1や図2に示した光線路監視システムと比べて選択装置等が不要であり、部品点数が減少するので、コンパクト化や組み立て性の向上が可能である。
【0034】
【発明の効果】
請求項1記載の光線路監視システムによれば、光パルス試験器と接続されて試験光線路を通信波長の光を伝送する通信波長光線路と試験波長の光を伝送する試験波長光線路とに分離する光合分波器と、通信波長光線路と試験波長光線路とを光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中に介在し、試験波長光線路の途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなる構成であり、通信光と異なる波長の試験光を通信光線路に入射する試験では選択装置にて試験波長光線路を選択することで光スイッチを介して試験対象の通信光線路と接続し、この試験波長光線路を介して通信光線路に入射した試験光の反射光を前記試験波長光線路の途中に介在した光フィルタを通過させた後に光パルス試験器で受光して観測するので、
(イ)光フィルタによって光パルス試験器への通信波長の光を遮断しつつ試験波長の光を光パルス試験器で受光するので、通信光線路に通信光が存在する時に試験を実施しても通信光の影響が作用すること無く反射光の観測を行うことができ、試験の精度を向上することができる、
(ロ)選択装置にて光スイッチに対する通信波長光線路と試験波長光線路の接続を切り替えることにより、光パルス試験器での受光波長を選択することができ、これにより、光パルス試験器に設置する試験ポートや受光部が一つで済むので、光パルス試験器の構成を簡略化することができ、コンパクト化や低コスト化が可能である
といった優れた効果を奏する。
【0035】
請求項2記載の光線路監視システムによれば、光スイッチと接続されて試験光線路を通信波長の光を伝送する通信波長光線路と試験波長の光を伝送する試験波長光線路とに分離する光合分波器と、通信波長光線路と試験波長光線路とを光パルス試験器に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中に介在してなる構成であり、通信光と異なる波長の試験光を通信光線路に入射する試験では、選択装置にて試験波長光線路を選択して光パルス試験器と接続することでこの試験波長光線路を介して試験対象の通信光線路と光パルス試験器とを接続し、通信光線路に入射した試験光の反射光を光合分波器から試験波長光線路を介して光パルス試験器で受光して観測するので、
(ハ)光合分波器によって試験波長の光のみが光パルス試験器に入射されることになり、これにより、反射光の観測に通信光が与える影響を防止でき、試験の精度を向上することができる、
(ニ)選択装置にて光パルス試験器に接続した試験光線路に対する通信波長光線路と試験波長光線路の接続を切り替えることにより、光パルス試験器での受光波長を選択することができ、これにより、光パルス試験器に設置する試験ポートや受光部が一つで済むので、光パルス試験器の構成を簡略化することができ、コンパクト化や低コスト化が可能であるといった優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態の光線路監視システムを示す平面図である。
【図2】 本発明の第2実施形態の光線路監視システムを示す平面図である。
【図3】 本発明の第3実施形態の光線路監視システムを示す平面図である。
【図4】 従来例の光線路監視システムを示す平面図である。
【符号の説明】
50…光パルス試験器(OTDR)、52…試験光線路、53…選択装置、55…光スイッチ(心線選択装置)、58…光合分波器(光カプラ)、59…通信波長光線路、60…試験波長光線路、61…光フィルタ、65…通信光線路、72…光スイッチ(心線選択装置)、73…試験光線路、74…試験光線路、75…光合分波器(光カプラ)、76…通信波長光線路、77…試験波長光線路、78…選択装置(1対2スイッチ)、90…光パルス試験器(OTDR)、91…通信波長受光部(APD)、92…試験波長受光部(APD)、94…試験光線路、99…光合分波器(光カプラ)、100…通信波長光線路、101…試験波長光線路。
Claims (4)
- 光線路(65)に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器(50)と、複数の光線路(65)に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチ(55)とを備えた光線路監視システムであって、
前記光パルス試験器に接続される試験光線路(52)を複数の光線路(59、60)に分岐する光合分波器(58)と、該光合分波器によって分岐した光線路をそれぞれ前記光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置(53)とを試験光線路の途中に介在し、前記選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ(61)を介在してなり、
選択装置にて、光合分波器によって分岐した複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記光スイッチに接続された試験光線路(56)に対する接続を切り替えることにより、前記光パルス試験器での受光波長を選択できることを特徴とする光線路監視システム。 - 光線路(65)に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器(50)と、複数の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチ(72)とを備えた光線路監視システムであって、
前記光パルス試験器に接続した試験光線路(73)を複数の光線路(76、77)に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置(78)と、
該選択装置において試験光線路に対して接続される複数の光線路が一方の端部に接続され、他方の端部が前記光スイッチと接続される光合分波器(75)とを備え、
前記選択装置と前記光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に前記光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ(77a)を介在してなり、
選択装置は、前記光合分波器の一方の端部に接続されている複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記試験光線路に対する接続を切り替えるようになっていることを特徴とする光線路監視システム。 - 前記選択装置が1対2スイッチであることを特徴とする請求項2記載の光線路監視システム。
- 前記光合分波器が、WDM光カプラであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光線路監視システム。
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