JP2918290B2 - 光線路試験方法 - Google Patents
光線路試験方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は光線路試験方法に関し、光ファイバを用いた
一対Ｎ光分配形線路の試験監視技術として有用なもので
ある。
一対Ｎ光分配形線路の試験監視技術として有用なもので
ある。
〈従来の技術〉 従来技術も係る１対Ｎ光分配形線路の構成を第７図に
示す。同図中、１は信号光送信部、２は信号光受信部、
３はバス部光ファイバ、４はスター部光ファイバ、５は
一対ｎ（ｎ＞１）光分配部品、６は１対Ｎ（Ｎ≧ｎ）光
分配部である。この構成において、信号光送信部１から
の信号光（波長λ1）は、バス部光ファイバ３を透過
後、１対ｎ光分配部品５により作られた１対Ｎ光分配部
６でＮ分配され、それぞれＮ本のスター部光ファイバ４
を経て信号光受信部２に伝搬する。このような１対Ｎ光
分配形線路は、CATVといった映像分配サービスに適した
線路構成であり、広く検討が進められている。
示す。同図中、１は信号光送信部、２は信号光受信部、
３はバス部光ファイバ、４はスター部光ファイバ、５は
一対ｎ（ｎ＞１）光分配部品、６は１対Ｎ（Ｎ≧ｎ）光
分配部である。この構成において、信号光送信部１から
の信号光（波長λ1）は、バス部光ファイバ３を透過
後、１対ｎ光分配部品５により作られた１対Ｎ光分配部
６でＮ分配され、それぞれＮ本のスター部光ファイバ４
を経て信号光受信部２に伝搬する。このような１対Ｎ光
分配形線路は、CATVといった映像分配サービスに適した
線路構成であり、広く検討が進められている。
ところで、この１対Ｎ光分配形線路に故障が発生し
た場合、この発生箇所や故障程度を把握するための試
験、通常の１対Ｎ光分配形線路の監視を行なうための
試験は次の様な方法により行なわれている。
た場合、この発生箇所や故障程度を把握するための試
験、通常の１対Ｎ光分配形線路の監視を行なうための
試験は次の様な方法により行なわれている。
即ち、第８図に示すように、前述の如き試験・監視の
際、光パルス試験器12からの試験監視光（波長λ2）は
光カプラ11によりバス部光ファイバ３に入射される。バ
ス光ファイバ３、及びスター部光ファイバ４からの後方
散乱光は、光カプラ11を経て光パルス試験器12で受光さ
れる。この場合、スター部光ファイバ４の後方散乱光
は、Ｎ本の合計として光パルス試験器12に受光され、後
方散乱波形として表示される。
際、光パルス試験器12からの試験監視光（波長λ2）は
光カプラ11によりバス部光ファイバ３に入射される。バ
ス光ファイバ３、及びスター部光ファイバ４からの後方
散乱光は、光カプラ11を経て光パルス試験器12で受光さ
れる。この場合、スター部光ファイバ４の後方散乱光
は、Ｎ本の合計として光パルス試験器12に受光され、後
方散乱波形として表示される。
このような従来の試験監視方法において、Ｎ本の内１
本のスター部光ファイバ４にα（dB）故障が発生した場
合を考える。故障発生前と後の後方散乱光をそれぞれP0
とＰとすると、故障による後方散乱光の変化は次式で書
ける。
本のスター部光ファイバ４にα（dB）故障が発生した場
合を考える。故障発生前と後の後方散乱光をそれぞれP0
とＰとすると、故障による後方散乱光の変化は次式で書
ける。
この故障発生前後に、光パルス試験器12で観測される
後方散乱波形上の段差β（dB）は次のようになる。
後方散乱波形上の段差β（dB）は次のようになる。
この式から分配数Ｎに対するβの関係を、αをパラメ
ータとして計算した結果を第９図に示す。同図は、スタ
ー部光ファイバ４にα（dB）故障が発生しても後方散乱
波形上にはβ（dB）しか変化が認められないことを示し
ている。
ータとして計算した結果を第９図に示す。同図は、スタ
ー部光ファイバ４にα（dB）故障が発生しても後方散乱
波形上にはβ（dB）しか変化が認められないことを示し
ている。
〈発明が解決しようとする課題〉 上述の如き従来技術に係る試験・監視方法では、例え
ば、１対100分配の場合は断線（α＝∞）でも、βはた
かだか0.04（dB）しか現れない。この程度の後方散乱波
形の段差は、光パルス試験器12の雑音による波形広がり
と同程度となる可能性があり、故障の識別は困難とな
る。即ち、従来技術では仮にＮ本の内１本のスター部光
ファイバ４が断線しても、後方散乱波形に明確な段差が
現われるとは限らず、試験監視が困難となる欠点を有し
ていた。
ば、１対100分配の場合は断線（α＝∞）でも、βはた
かだか0.04（dB）しか現れない。この程度の後方散乱波
形の段差は、光パルス試験器12の雑音による波形広がり
と同程度となる可能性があり、故障の識別は困難とな
る。即ち、従来技術では仮にＮ本の内１本のスター部光
ファイバ４が断線しても、後方散乱波形に明確な段差が
現われるとは限らず、試験監視が困難となる欠点を有し
ていた。
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、１対Ｎ光分
配部を構成する１対ｎ光分配部品の信号伝送に使用して
いないポートを試験監視の入射・出射に用いることによ
り、スター部品ファイバを個別に、もしくは少心毎に試
験監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的なスター部
光ファイバの試験監視技術である光線路試験方法を提供
することを目的とする。
配部を構成する１対ｎ光分配部品の信号伝送に使用して
いないポートを試験監視の入射・出射に用いることによ
り、スター部品ファイバを個別に、もしくは少心毎に試
験監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的なスター部
光ファイバの試験監視技術である光線路試験方法を提供
することを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉 上記目的を達成する本発明の構成は、入射側信号用ポ
ートに入射した信号をＮ（Ｎ＞２）分配してＮ個の出射
側信号用ポートに出射する１対Ｎ光分配部と、Ｎ個の当
該ポートと接続されるＮ本の光ファイバから構成される
１対Ｎ光分配形線路の、Ｎ本の当該光ファイバ部分を試
験する光線路試験方法において、 １対Ｎ光分配部は、信号光のみをｎ分岐（ｎ＜２）す
る１対ｎ光分配部品と、信号光と試験監視光とを合せた
後にｎ分岐する２対ｎ光分配部品を直列に接続して最終
的にｎより大きいＮ個のポートに信号光が出射される構
成であり、 試験監視の際には、信号光と波長の異なる試験監視光
を２対ｎ光分配部品の試験ポートから入射する一方、当
該２対ｎ光分配部品とつながる２本以上の光ファイバか
ら後方散乱して戻る光を合成して前記２対ｎ光分配部品
の試験監視ポートから取り出し、その光の強さを測定す
ることを特徴とする。
ートに入射した信号をＮ（Ｎ＞２）分配してＮ個の出射
側信号用ポートに出射する１対Ｎ光分配部と、Ｎ個の当
該ポートと接続されるＮ本の光ファイバから構成される
１対Ｎ光分配形線路の、Ｎ本の当該光ファイバ部分を試
験する光線路試験方法において、 １対Ｎ光分配部は、信号光のみをｎ分岐（ｎ＜２）す
る１対ｎ光分配部品と、信号光と試験監視光とを合せた
後にｎ分岐する２対ｎ光分配部品を直列に接続して最終
的にｎより大きいＮ個のポートに信号光が出射される構
成であり、 試験監視の際には、信号光と波長の異なる試験監視光
を２対ｎ光分配部品の試験ポートから入射する一方、当
該２対ｎ光分配部品とつながる２本以上の光ファイバか
ら後方散乱して戻る光を合成して前記２対ｎ光分配部品
の試験監視ポートから取り出し、その光の強さを測定す
ることを特徴とする。
〈作用〉 上記構成の本発明によれば従来のように全ての光ファ
イバからの後方散乱を受光するのではなく、各１対ｎ光
分配部品に接続している光ファイバの後方散乱光を別々
に受光し試験監視することが可能となる。
イバからの後方散乱を受光するのではなく、各１対ｎ光
分配部品に接続している光ファイバの後方散乱光を別々
に受光し試験監視することが可能となる。
〈実施例〉 以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説明する。
なお、従来技術と同一部分には同一番号を付し重複する
説明は省略する。
なお、従来技術と同一部分には同一番号を付し重複する
説明は省略する。
第１図は本発明の実施例を適用する１対Ｎ分配形線路
の構成を示す説明図である。同図において、21は試験用
ポートであり、信号光の伝搬に寄与していない１対ｎ光
分配部品５のポートであり、本発明の主眼である試験監
視光の入射・出射に用いる試験用ポートである。一般に
１対ｎ光分配部品５としては、現在までの実績から光フ
ァイバを用いて作製する溶融形、もしくは密着形光カプ
ラが用いられるが、これらはｎ本の光ファイバを加工し
た後、入射側信号用ポートとして片端の１本のポート、
出射側信号用ポートとして他端のｎ本のポートを用いて
いる。従って、入射側信号用ポート端のｎ−１本のポー
トは使用されずにいる。
の構成を示す説明図である。同図において、21は試験用
ポートであり、信号光の伝搬に寄与していない１対ｎ光
分配部品５のポートであり、本発明の主眼である試験監
視光の入射・出射に用いる試験用ポートである。一般に
１対ｎ光分配部品５としては、現在までの実績から光フ
ァイバを用いて作製する溶融形、もしくは密着形光カプ
ラが用いられるが、これらはｎ本の光ファイバを加工し
た後、入射側信号用ポートとして片端の１本のポート、
出射側信号用ポートとして他端のｎ本のポートを用いて
いる。従って、入射側信号用ポート端のｎ−１本のポー
トは使用されずにいる。
本発明では、この通常使用されていないポートを試験
用ポート21として使用する。光パルス試験器12（第１図
には図示せず）からの試験監視光は、それぞれの１対ｎ
光分配部品５の試験用ポート21に入射し、試験用ポート
21以降のスター部光ファイバ４で発生した後方散乱光
は、試験用ポート21から出射して光パルス試験器12に受
光される。従って、従来のように全てのスター部光ファ
イバ４からの後方散乱光を受光するのではなく、各１対
ｎ光分配部品５に接続しているスター部光ファイバ４を
別々に受光し試験監視することが可能となる。
用ポート21として使用する。光パルス試験器12（第１図
には図示せず）からの試験監視光は、それぞれの１対ｎ
光分配部品５の試験用ポート21に入射し、試験用ポート
21以降のスター部光ファイバ４で発生した後方散乱光
は、試験用ポート21から出射して光パルス試験器12に受
光される。従って、従来のように全てのスター部光ファ
イバ４からの後方散乱光を受光するのではなく、各１対
ｎ光分配部品５に接続しているスター部光ファイバ４を
別々に受光し試験監視することが可能となる。
試験監視光は、光パルス試験器12と１対Ｎ光分配部６
までバス部光ファイバ３と同じ光ファイバを伝搬して
も、また別々の光ファイバを伝搬してもよい。信号光と
同じように、バス部光ファイバ３を伝搬する場合は、信
号光と試験監視光とを分波・合波するための光合分波部
品をバス部光ファイバ３に挿入すればよい。また、１対
ｎ光分配部品５が複数存在する場合は、各々の１対ｎ光
分配部品５に試験監視光を入射・出射するために、光ス
イッチや光フィルタを用いればよい。
までバス部光ファイバ３と同じ光ファイバを伝搬して
も、また別々の光ファイバを伝搬してもよい。信号光と
同じように、バス部光ファイバ３を伝搬する場合は、信
号光と試験監視光とを分波・合波するための光合分波部
品をバス部光ファイバ３に挿入すればよい。また、１対
ｎ光分配部品５が複数存在する場合は、各々の１対ｎ光
分配部品５に試験監視光を入射・出射するために、光ス
イッチや光フィルタを用いればよい。
かかる構成の本発明により、従来不可能であった１対
100もしくはそれ以上の１対Ｎ光分配形線路を容易に試
験監視することが可能となる。
100もしくはそれ以上の１対Ｎ光分配形線路を容易に試
験監視することが可能となる。
第２図は本発明の第１の実施例を実現するシステムを
示す説明図である。同図中、７は試験監視用光ファイ
バ、32は試験監視光の分配部である。同図に示すよう
に、光パルス試験器12からの試験監視光は、試験監視用
光ファイバ７を伝搬した後、分配部32により各試験用ポ
ート21に入射する。各スター部光ファイバ４からの後方
散乱光は逆の経路をたどり、光パルス試験器12に受光さ
れる。
示す説明図である。同図中、７は試験監視用光ファイ
バ、32は試験監視光の分配部である。同図に示すよう
に、光パルス試験器12からの試験監視光は、試験監視用
光ファイバ７を伝搬した後、分配部32により各試験用ポ
ート21に入射する。各スター部光ファイバ４からの後方
散乱光は逆の経路をたどり、光パルス試験器12に受光さ
れる。
本実施例は上述のような構成のため、バス部光ファイ
バ３には特別に試験監視光と信号光を合分波するための
部品は必要としない。
バ３には特別に試験監視光と信号光を合分波するための
部品は必要としない。
バス部光ファイバ３に、信号光と試験監視光を同時に
伝搬させる本発明の第２の実施例を実現するシステム第
３図に示す。同図中、31は信号光波長と試験監視光の波
長を合分波する光合分波部品であり、22は光合分波部品
31の試験用ポートである。光パルス試験器12からの試験
監視光は、光カプラ11によりバス部光ファイバ３に結合
する。バス部光ファイバ３の透過の後、光合分波部品31
で分波された試験監視光は、第１の実施例と同様に分配
部32により各試験用ポート21に入射する。各スター部光
ファイバ４からの後方散乱光は逆の経路をたどり、光パ
ルス試験器12に受光される。
伝搬させる本発明の第２の実施例を実現するシステム第
３図に示す。同図中、31は信号光波長と試験監視光の波
長を合分波する光合分波部品であり、22は光合分波部品
31の試験用ポートである。光パルス試験器12からの試験
監視光は、光カプラ11によりバス部光ファイバ３に結合
する。バス部光ファイバ３の透過の後、光合分波部品31
で分波された試験監視光は、第１の実施例と同様に分配
部32により各試験用ポート21に入射する。各スター部光
ファイバ４からの後方散乱光は逆の経路をたどり、光パ
ルス試験器12に受光される。
本実施例は上述のような構成のため、試験監視光を１
対Ｎ光分配部６までに運ぶための特別な光ファイバ（第
２図における光ファイバ７）を必要としない上、バス部
光ファイバ３も試験監視し得る利点を有している。
対Ｎ光分配部６までに運ぶための特別な光ファイバ（第
２図における光ファイバ７）を必要としない上、バス部
光ファイバ３も試験監視し得る利点を有している。
上記第２図及び第３図において、試験監視光の分配部
32としては、第４図に示す光スイッチの方式の物と、第
５図に示す様な光フィルタ（特定波長のみ透過）41を組
み合わせた方式が考えられる。ただし、第５図に示す分
配部32を用いる場合は、第６図に示すように、光パルス
試験器12と光カプラ11の間に透過波長制御装置42を挿入
して、各試験用ポート21に伝わる試験監視光の波長を制
御する必要がある。第４図の例は、１対Ｎ光分配部６に
光スイッチ32の駆動用電源を設置するか、電力を供給す
る必要があるが、第５図の例はそのような余計な電源等
を必要としないパッシブな構成が実現できる。
32としては、第４図に示す光スイッチの方式の物と、第
５図に示す様な光フィルタ（特定波長のみ透過）41を組
み合わせた方式が考えられる。ただし、第５図に示す分
配部32を用いる場合は、第６図に示すように、光パルス
試験器12と光カプラ11の間に透過波長制御装置42を挿入
して、各試験用ポート21に伝わる試験監視光の波長を制
御する必要がある。第４図の例は、１対Ｎ光分配部６に
光スイッチ32の駆動用電源を設置するか、電力を供給す
る必要があるが、第５図の例はそのような余計な電源等
を必要としないパッシブな構成が実現できる。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明により、従来の比べ分配
数に依存しない効果的な１対Ｎ光分配形線路の試験監視
が可能となるため、本発明を導入することにより故障状
態の把握や、光線路の保守運用の効率化が見込まれ、ひ
いてはサービスの品質を向上することができる。
数に依存しない効果的な１対Ｎ光分配形線路の試験監視
が可能となるため、本発明を導入することにより故障状
態の把握や、光線路の保守運用の効率化が見込まれ、ひ
いてはサービスの品質を向上することができる。
第１図は本発明の実施例を適用する１対Ｎ分配形線路の
構成を示す説明図、第２図は本発明の第１の実施例を実
現するシステムを示す説明図、第３図は本発明の第２の
実施例を実現するシステムを示す説明図、第４図及び第
５図は第２図及び第３図の分配部を抽出してその構成を
更に詳細に示す説明図、第６図は第２図に示す第２の実
施例に必要な光パルス試験器の周辺の構成を示す説明
図、第７図は従来技術に係る１対Ｎ分配形線路の構成を
示す説明図、第８図は従来技術に係る試験方法を示す説
明図、第９図は分配数Ｎに対するβの関係をαをパラメ
ータとして計算した結果を示すグラフである。 図面中、 １……信号光送信部、２……信号光受信部、３……バス
部光ファイバ、４……スター部光ファイバ、５……１対
ｎ光分配部品、６……１対Ｎ光分配部、７……試験監視
用光ファイバ、11……光カプラ、12……光パルス試験
器、21……信号光の伝搬に寄与していない１対ｎ光分配
部品のポート、22……光合分波部品31の試験用ポート、
31……信号光の波長と試験監視光の波長を合分波する光
合分波部品、32……試験監視光の分配部、41……光フィ
ルタ、42……透過波長制御装置
構成を示す説明図、第２図は本発明の第１の実施例を実
現するシステムを示す説明図、第３図は本発明の第２の
実施例を実現するシステムを示す説明図、第４図及び第
５図は第２図及び第３図の分配部を抽出してその構成を
更に詳細に示す説明図、第６図は第２図に示す第２の実
施例に必要な光パルス試験器の周辺の構成を示す説明
図、第７図は従来技術に係る１対Ｎ分配形線路の構成を
示す説明図、第８図は従来技術に係る試験方法を示す説
明図、第９図は分配数Ｎに対するβの関係をαをパラメ
ータとして計算した結果を示すグラフである。 図面中、 １……信号光送信部、２……信号光受信部、３……バス
部光ファイバ、４……スター部光ファイバ、５……１対
ｎ光分配部品、６……１対Ｎ光分配部、７……試験監視
用光ファイバ、11……光カプラ、12……光パルス試験
器、21……信号光の伝搬に寄与していない１対ｎ光分配
部品のポート、22……光合分波部品31の試験用ポート、
31……信号光の波長と試験監視光の波長を合分波する光
合分波部品、32……試験監視光の分配部、41……光フィ
ルタ、42……透過波長制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−276039（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−121829（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−132299（ＪＰ，Ａ) 特公 昭61−42458（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01M 11/00
Claims (3)
- 【請求項１】入射側信号用ポートに入射した信号をＮ
（Ｎ＞２）分配してＮ個の出射側信号用ポートに出射す
る１対Ｎ光分配部と、Ｎ個の当該ポートと接続されるＮ
本の光ファイバから構成される１対Ｎ光分配形線路の、
Ｎ本の当該光ファイバ部分を試験する光線路試験方法に
おいて、 １対Ｎ光分配部は、信号光のみをｎ分岐（ｎ＜２）する
１対ｎ光分配部品と、信号光と試験監視光とを合せた後
にｎ分岐する２対ｎ光分配部品を直列に接続して最終的
にｎより大きいＮ個のポートに信号光が出射される構成
であり、 試験監視の際には、信号光と波長の異なる試験監視光を
２対ｎ光分配部品の試験ポートから入射する一方、当該
２対ｎ光分配部品とつながる２本以上の光ファイバから
後方散乱して戻る光を合成して前記２対ｎ光分配部品の
試験監視ポートから取り出し、その光の強さを測定する
ことを特徴とする光線路試験方法。 - 【請求項２】光スイッチを順次切替えることにより試験
用監視光を複数の試験用ポートに順次供給することを特
徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光線路試験方
法。 - 【請求項３】光フィルタを介して試験用監視光を複数の
試験用ポートに夫々供給することを特徴とする特許請求
の範囲第１項に記載の光線路試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12300490A JP2918290B2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 光線路試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12300490A JP2918290B2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 光線路試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0419534A JPH0419534A (ja) | 1992-01-23 |
| JP2918290B2 true JP2918290B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=14849878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12300490A Expired - Fee Related JP2918290B2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 光線路試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2918290B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007108330A1 (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-27 | National University Corporation Tokyo University Of Agriculture And Technology | 距離測定システム |
| JP2010185762A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光線路監視システム |
-
1990
- 1990-05-15 JP JP12300490A patent/JP2918290B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0419534A (ja) | 1992-01-23 |
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