JPH05322696A - 光線路のパルス試験装置 - Google Patents
光線路のパルス試験装置Info
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- JPH05322696A JPH05322696A JP12476992A JP12476992A JPH05322696A JP H05322696 A JPH05322696 A JP H05322696A JP 12476992 A JP12476992 A JP 12476992A JP 12476992 A JP12476992 A JP 12476992A JP H05322696 A JPH05322696 A JP H05322696A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 １対ｎ光分配部品５を１又は２以上樹系図的
に組み合わせて構成される１対Ｎ光分配形線路６におい
て、分配数Ｎに依存することなく、スター部光ファイバ
を個別にもしくは少心毎に試験監視を行うことができる
パルス試験装置を提供することにある。 【構成】 １対ｎ光分配部品の信号光伝送に関与してい
ないポートを試験監視のためにに用い、かつ、各試験監
視ポート毎に固有の試験監視波長を割り当てるようにし
たものである。これにより、分配数Ｎに依存することな
く、スター部光ファイバを個別にもしくは少心毎に試験
監視を行うことができる。
に組み合わせて構成される１対Ｎ光分配形線路６におい
て、分配数Ｎに依存することなく、スター部光ファイバ
を個別にもしくは少心毎に試験監視を行うことができる
パルス試験装置を提供することにある。 【構成】 １対ｎ光分配部品の信号光伝送に関与してい
ないポートを試験監視のためにに用い、かつ、各試験監
視ポート毎に固有の試験監視波長を割り当てるようにし
たものである。これにより、分配数Ｎに依存することな
く、スター部光ファイバを個別にもしくは少心毎に試験
監視を行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信分野に利用され
る光ファイバを用いた１対Ｎ光分配形線路のパルス試験
装置に関する。
る光ファイバを用いた１対Ｎ光分配形線路のパルス試験
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】１対Ｎ光分配形線路は、ＣＡＴＶのよう
な映像分配サービスに適した線路構成であり、従来から
広く検討が進められている。従来の１対Ｎ光分配形線路
の一例を図５に示す。同図に示すように、１対Ｎ光分配
形線路６は、１対ｎ光分配部品５を１又は２以上樹系図
的に組み合わせて構成される。
な映像分配サービスに適した線路構成であり、従来から
広く検討が進められている。従来の１対Ｎ光分配形線路
の一例を図５に示す。同図に示すように、１対Ｎ光分配
形線路６は、１対ｎ光分配部品５を１又は２以上樹系図
的に組み合わせて構成される。
【０００３】即ち、図中左方の１対ｎ光分配部品５の２
個の出射側出力ポートには、二つの１対ｎ光分配部品５
の入射側出力ポートが接続し、更にこれら二つの１対ｎ
光分配部品５の２個（計四個）の出射側出力ポートに
は、四つの１対ｎ光分配部品５の入射側出力ポートが接
続している。従って、信号光送信部１からバス部光ファ
イバ３を経由して、波長λ1の信号光を、図６中の左方
の１対ｎ光分配部品５の入射側出力ポートに入射する
と、信号光は、この１対ｎ光分配部品５の２個の出射側
出力ポートに分岐して出力される。そして、分岐して出
力された信号光は、二つの１対ｎ光分配部品５の入射側
出力ポートに入射し、それぞれ２個（計４個）の出力側
出力ポートに分岐して出力される。更に、分岐して出力
された信号光は、四つの１対ｎ光分配部品５の入射側出
力ポートに入射し、それぞれ２個（計８個）の出力側出
力ポートに分岐して出力され、それぞれ８個のスター部
ファイバ４を経て、信号光受信部２へ伝搬する。
個の出射側出力ポートには、二つの１対ｎ光分配部品５
の入射側出力ポートが接続し、更にこれら二つの１対ｎ
光分配部品５の２個（計四個）の出射側出力ポートに
は、四つの１対ｎ光分配部品５の入射側出力ポートが接
続している。従って、信号光送信部１からバス部光ファ
イバ３を経由して、波長λ1の信号光を、図６中の左方
の１対ｎ光分配部品５の入射側出力ポートに入射する
と、信号光は、この１対ｎ光分配部品５の２個の出射側
出力ポートに分岐して出力される。そして、分岐して出
力された信号光は、二つの１対ｎ光分配部品５の入射側
出力ポートに入射し、それぞれ２個（計４個）の出力側
出力ポートに分岐して出力される。更に、分岐して出力
された信号光は、四つの１対ｎ光分配部品５の入射側出
力ポートに入射し、それぞれ２個（計８個）の出力側出
力ポートに分岐して出力され、それぞれ８個のスター部
ファイバ４を経て、信号光受信部２へ伝搬する。
【０００４】このように、図５に示す装置では、信号光
を二つに分配する（即ち、ｎ＝２）１対ｎ光分配部品５
を七つ組み合わせて、信号光を八つに分配する（即ち、
Ｎ＝８）１対Ｎ光分配形線路を構成したものである。
尚、一般に１対ｎ光分配部品５としては、現在までの実
績から光ファイバを用いて作製する溶融形若しくは密着
形光カプラが用いられるが、これらはｎ本の光ファイバ
を加工した後、入射側信号用ポートとして一端側の１本
のポートを用い、出射側信号用ポートとして他端側のｎ
本のポートを用いている。
を二つに分配する（即ち、ｎ＝２）１対ｎ光分配部品５
を七つ組み合わせて、信号光を八つに分配する（即ち、
Ｎ＝８）１対Ｎ光分配形線路を構成したものである。
尚、一般に１対ｎ光分配部品５としては、現在までの実
績から光ファイバを用いて作製する溶融形若しくは密着
形光カプラが用いられるが、これらはｎ本の光ファイバ
を加工した後、入射側信号用ポートとして一端側の１本
のポートを用い、出射側信号用ポートとして他端側のｎ
本のポートを用いている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ここで、１対Ｎ光分配
形線路に故障が発生した場合、その発生箇所を発見し、
故障程度を把握するための試験が必要である。また、通
常の使用状態においても、１対Ｎ光分配形線路の監視を
行わなければならない。そこで、従来では図６に示す試
験監視装置が開発されている。この装置は、信号光送信
部１近傍から光パルスを入射して試験を行うものであ
る。即ち、信号光送信部１から１対ｎ光分配部品５へ信
号光を伝搬するバス部光ファイバ３に光カップラ１１が
介装され、この光カップラ１１に光パルス試験器が接続
されている。その他の構成は、図５と同様である。
形線路に故障が発生した場合、その発生箇所を発見し、
故障程度を把握するための試験が必要である。また、通
常の使用状態においても、１対Ｎ光分配形線路の監視を
行わなければならない。そこで、従来では図６に示す試
験監視装置が開発されている。この装置は、信号光送信
部１近傍から光パルスを入射して試験を行うものであ
る。即ち、信号光送信部１から１対ｎ光分配部品５へ信
号光を伝搬するバス部光ファイバ３に光カップラ１１が
介装され、この光カップラ１１に光パルス試験器が接続
されている。その他の構成は、図５と同様である。
【０００６】従って、光パルス試験器１２から光パルス
である波長λ2の試験監視光を光カプラ１１によりバス
部光ファイバ３に入射すると、試験監視光は、バス部光
ファイバ３、１対ｎ光分配部品５及びスター部光ファイ
バ４へ伝搬し、スター部光ファイバ４からの後方散乱光
となって、光カプラ１１を経て光パルス試験器１２で受
光される。この場合、光パルス試験器１２で受光される
後方散乱光は、Ｎ本のスター部光ファイバ４からの後方
散乱光が合波したものである。
である波長λ2の試験監視光を光カプラ１１によりバス
部光ファイバ３に入射すると、試験監視光は、バス部光
ファイバ３、１対ｎ光分配部品５及びスター部光ファイ
バ４へ伝搬し、スター部光ファイバ４からの後方散乱光
となって、光カプラ１１を経て光パルス試験器１２で受
光される。この場合、光パルス試験器１２で受光される
後方散乱光は、Ｎ本のスター部光ファイバ４からの後方
散乱光が合波したものである。
【０００７】このような従来の試験監視方式において、
Ｎ本のスター部光ファイバ４うちの１本に、損失α（ｄ
Ｂ）の故障が発生した場合には、故障による後方散乱光
の変化は次式で表される。但し、故障発生前、後の後方
散乱光をそれぞれＰ0、Ｐとする。
Ｎ本のスター部光ファイバ４うちの１本に、損失α（ｄ
Ｂ）の故障が発生した場合には、故障による後方散乱光
の変化は次式で表される。但し、故障発生前、後の後方
散乱光をそれぞれＰ0、Ｐとする。
【０００８】
【数１】
【０００９】この故障発生前後に、光パルス試験器１２
で観測される後方散乱波形上に段差として現れる損失β
（ｄＢ）は次式で示される。
で観測される後方散乱波形上に段差として現れる損失β
（ｄＢ）は次式で示される。
【００１０】
【数２】
【００１１】この式から分配数Ｎに対するβの関係を、
αをパラメータとして計算した結果を図７に示す。図７
は、スター部光ファイバ４に損失α（ｄＢ）の故障が発
生ししたときに、後方散乱波形上には損失β（ｄＢ）の
段差が認められることを示している。例えば、１対１０
０光分配形線路では、１００本のスター部光ファイバの
うちの一本が断線（損失α＝∞）した場合でも、損失β
はたかだか0.04（ｄＢ）である。この程度の後方散乱波
形の段差は、光パルス試験器１２の雑音による波形拡が
りと同程度となる可能性があり、故障の識別は困難とな
る。
αをパラメータとして計算した結果を図７に示す。図７
は、スター部光ファイバ４に損失α（ｄＢ）の故障が発
生ししたときに、後方散乱波形上には損失β（ｄＢ）の
段差が認められることを示している。例えば、１対１０
０光分配形線路では、１００本のスター部光ファイバの
うちの一本が断線（損失α＝∞）した場合でも、損失β
はたかだか0.04（ｄＢ）である。この程度の後方散乱波
形の段差は、光パルス試験器１２の雑音による波形拡が
りと同程度となる可能性があり、故障の識別は困難とな
る。
【００１２】このように従来の技術では、Ｎ本のスター
部光ファイバ４のうちの一本が断線しても、後方散乱波
形に明確な段差が現れるとは限らず、試験監視が困難と
なる欠点を有していた。本発明は、上記従来技術を鑑み
てなされたものであり、１対Ｎ光分配部を構成する１対
ｎ光分配部品の信号光伝送に関与していないポートを試
験監視のためにに用い、かつ、各試験監視ポート毎に固
有の試験監視波長を割り当てることにより、スター部光
ファイバを個別にもしくは少心毎に試験監視を行い、分
配数Ｎに依存しない実用的な光線路のパルス試験装置を
提供することにある。
部光ファイバ４のうちの一本が断線しても、後方散乱波
形に明確な段差が現れるとは限らず、試験監視が困難と
なる欠点を有していた。本発明は、上記従来技術を鑑み
てなされたものであり、１対Ｎ光分配部を構成する１対
ｎ光分配部品の信号光伝送に関与していないポートを試
験監視のためにに用い、かつ、各試験監視ポート毎に固
有の試験監視波長を割り当てることにより、スター部光
ファイバを個別にもしくは少心毎に試験監視を行い、分
配数Ｎに依存しない実用的な光線路のパルス試験装置を
提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】斯かる目的を達成する本
発明の構成は１個の入射側信号用ポートより入射した信
号光を、ｎ個（ｎ＞１）の出射側信号用ポートに分配し
て出射する１対ｎ光分配部品を１又は２以上組み合わせ
ることにより、１個の入射信号用ポートより入射した信
号光を、Ｎ（Ｎ≧ｎ）個の出力信号用ポートに分配して
出射する１対Ｎ光分配形線路において、前記１対ｎ光分
配部品の有する複数のポートのうち入射信号用ポート、
出射側信号用ポート以外の少なくとも一つを試験用ポー
トとして光パルス試験器に接続し、該試験用ポートは信
号光と波長の異なる試験監視波長域のみを透過する光フ
ィルタを具備すると共に前記光パルス試験器は試験監視
波長域において波長可変機能を有した平面導波路型リン
グレーザを具備することを特徴とする。
発明の構成は１個の入射側信号用ポートより入射した信
号光を、ｎ個（ｎ＞１）の出射側信号用ポートに分配し
て出射する１対ｎ光分配部品を１又は２以上組み合わせ
ることにより、１個の入射信号用ポートより入射した信
号光を、Ｎ（Ｎ≧ｎ）個の出力信号用ポートに分配して
出射する１対Ｎ光分配形線路において、前記１対ｎ光分
配部品の有する複数のポートのうち入射信号用ポート、
出射側信号用ポート以外の少なくとも一つを試験用ポー
トとして光パルス試験器に接続し、該試験用ポートは信
号光と波長の異なる試験監視波長域のみを透過する光フ
ィルタを具備すると共に前記光パルス試験器は試験監視
波長域において波長可変機能を有した平面導波路型リン
グレーザを具備することを特徴とする。
【００１４】ここで、前記光パルス試験器から前記試験
用ポートへ試験監視光を伝搬する光ファイバと、信号光
送信部から信号光を前記１対Ｎ分配型線路の入射信号用
ポートへ伝搬する光ファイバとが兼用する場合には、該
光ファイバは信号光の波長と試験監視光の波長を合分波
する光合分波部品を具備すれば良い。また、１対ｎ光分
配部品が複数ある場合には、前記光フィルタは、試験監
視波長域において複数の１対ｎ光分配部品の試験用ポー
ト毎に異なる透過波長ピークを有することが望ましい。
用ポートへ試験監視光を伝搬する光ファイバと、信号光
送信部から信号光を前記１対Ｎ分配型線路の入射信号用
ポートへ伝搬する光ファイバとが兼用する場合には、該
光ファイバは信号光の波長と試験監視光の波長を合分波
する光合分波部品を具備すれば良い。また、１対ｎ光分
配部品が複数ある場合には、前記光フィルタは、試験監
視波長域において複数の１対ｎ光分配部品の試験用ポー
ト毎に異なる透過波長ピークを有することが望ましい。
【００１５】
【作用】図１に示すように、本発明では、１対ｎ光分波
部品５の有する複数のポートのうち入射信号用ポート、
出射信号用ポート以外の少なくとも一つを試験用ポート
２１として使用する。つまり、信号光の伝搬に寄与しな
い１対ｎ光分波部品５のポートのうちの一つを試験監視
光の入射、出射に用いる試験用ポート２１として使用す
るのである。従って、光パルス試験器から試験監視光を
分配部３２により分配して試験用ポート２１へ入射させ
ると、試験監視光は１対ｎ光分波部品５、スター部光フ
ァイバ４を経て、後方散乱光となって、分配部３２を経
て光パルス試験器で受光される。
部品５の有する複数のポートのうち入射信号用ポート、
出射信号用ポート以外の少なくとも一つを試験用ポート
２１として使用する。つまり、信号光の伝搬に寄与しな
い１対ｎ光分波部品５のポートのうちの一つを試験監視
光の入射、出射に用いる試験用ポート２１として使用す
るのである。従って、光パルス試験器から試験監視光を
分配部３２により分配して試験用ポート２１へ入射させ
ると、試験監視光は１対ｎ光分波部品５、スター部光フ
ァイバ４を経て、後方散乱光となって、分配部３２を経
て光パルス試験器で受光される。
【００１６】ここで、試験用ポート２１は、信号光と波
長の異なる試験監視波長域のみを透過する光フィルタを
具備するので、試験監視光の後方散乱光のみが光パルス
試験器で受光され、信号光の後方散乱光は光パルス試験
器で受光されない。また、各試験用ポート２１の光フィ
ルタは、試験監視波長域内において試験用ポート毎に異
なる透過波長ピークを有し、各試験用ポート毎に固有の
試験波長を割り当てている。この為、各１対ｎ光分波部
品５には、それぞれ固有の試験波長のみが伝搬する。こ
の為、従来のように全てのスター部光ファイバ４からの
後方散乱光を受光するのではなく、各１対ｎ光分配部品
５に接続しているスター部光ファイバ４からの後方散乱
光を別々に受光し試験監視することが可能となる。
長の異なる試験監視波長域のみを透過する光フィルタを
具備するので、試験監視光の後方散乱光のみが光パルス
試験器で受光され、信号光の後方散乱光は光パルス試験
器で受光されない。また、各試験用ポート２１の光フィ
ルタは、試験監視波長域内において試験用ポート毎に異
なる透過波長ピークを有し、各試験用ポート毎に固有の
試験波長を割り当てている。この為、各１対ｎ光分波部
品５には、それぞれ固有の試験波長のみが伝搬する。こ
の為、従来のように全てのスター部光ファイバ４からの
後方散乱光を受光するのではなく、各１対ｎ光分配部品
５に接続しているスター部光ファイバ４からの後方散乱
光を別々に受光し試験監視することが可能となる。
【００１７】尚、試験監視光は、信号光と同一のバス部
光ファイバ３で伝搬しても良いし、信号光と別の光ファ
イバで伝搬してもよい。試験監視光を、信号光と同一の
バス部光ファイバで伝搬させる場合は、バス部光ファイ
バ３に信号光と試験監視光とを分波、合波するための光
合分波部品を挿入すればよい。また、１対ｎ光分配部品
５が複数ではなく一つの場合は、分配部３２を省略し、
光フィルタの各試験用ポート毎に固有の試験波長を割り
当てる機能を省略することができる。
光ファイバ３で伝搬しても良いし、信号光と別の光ファ
イバで伝搬してもよい。試験監視光を、信号光と同一の
バス部光ファイバで伝搬させる場合は、バス部光ファイ
バ３に信号光と試験監視光とを分波、合波するための光
合分波部品を挿入すればよい。また、１対ｎ光分配部品
５が複数ではなく一つの場合は、分配部３２を省略し、
光フィルタの各試験用ポート毎に固有の試験波長を割り
当てる機能を省略することができる。
【００１８】
【実施例】以下、本発明について、図面に示す実施例を
参照して詳細に説明する。本発明の第１の実施例を図２
に示す。同図に示すように１対Ｎ光分配形線路６は、１
対ｎ光分配部品５を１又は２以上樹系図的に組み合わせ
て構成される。即ち、図中左方の１対ｎ光分配部品５の
２個の出射側出力ポートには、二つの１対ｎ光分配部品
５の入射側出力ポートが接続し、更にこれら二つの１対
ｎ光分配部品５の２個（計四個）の出射側出力ポートに
は、四つの１対ｎ光分配部品５の入射側出力ポートが接
続している。
参照して詳細に説明する。本発明の第１の実施例を図２
に示す。同図に示すように１対Ｎ光分配形線路６は、１
対ｎ光分配部品５を１又は２以上樹系図的に組み合わせ
て構成される。即ち、図中左方の１対ｎ光分配部品５の
２個の出射側出力ポートには、二つの１対ｎ光分配部品
５の入射側出力ポートが接続し、更にこれら二つの１対
ｎ光分配部品５の２個（計四個）の出射側出力ポートに
は、四つの１対ｎ光分配部品５の入射側出力ポートが接
続している。
【００１９】ここで、１対ｎ光分配部品５としては、光
ファイバを用いて作製する溶融形若しくは密着形光カプ
ラが用いられ、これらはｎ本の光ファイバを加工した
後、入射側信号用ポートとして片端の１本のポート、出
射側信号用ポートとして他端のｎ本のポートを用いてい
る。従って、入射側信号用ポート端の（ｎ−１）本のポ
ート２１は信号光の伝搬に寄与していない。本発明は、
このように信号光の伝搬に寄与していないポート２１を
試験用ポートとして活用するものである。
ファイバを用いて作製する溶融形若しくは密着形光カプ
ラが用いられ、これらはｎ本の光ファイバを加工した
後、入射側信号用ポートとして片端の１本のポート、出
射側信号用ポートとして他端のｎ本のポートを用いてい
る。従って、入射側信号用ポート端の（ｎ−１）本のポ
ート２１は信号光の伝搬に寄与していない。本発明は、
このように信号光の伝搬に寄与していないポート２１を
試験用ポートとして活用するものである。
【００２０】即ち、複数の１対ｎ光分配部品５のポート
２１はそれぞれ分配部３２に接続すると共に分配部３２
は試験監視用光ファイバ７を介して光パルス試験器１２
に接続している。光パルス試験器１２は、試験監視光光
源として波長可変機能を有する平面導波路型リングレー
ザを具備している。分配部３２は、図４に示すように、
光パルス試験器１２からの試験監視光を各ポート２１に
分配するものであり、ポート２１には光フィルタ４１が
それぞれ具備されている。光フィルタ４１は、信号光と
波長の異なる試験監視波長域のみを透過させ、且つ、試
験監視波長域内において試験用ポート毎に異なる透過波
長ピークを有する。この為、各試験用ポート毎に固有の
試験波長が割り当てられ、各々に割り当てられた試験監
視波長のみが１対ｎ光分配部品５のポート２１に入射す
る。
２１はそれぞれ分配部３２に接続すると共に分配部３２
は試験監視用光ファイバ７を介して光パルス試験器１２
に接続している。光パルス試験器１２は、試験監視光光
源として波長可変機能を有する平面導波路型リングレー
ザを具備している。分配部３２は、図４に示すように、
光パルス試験器１２からの試験監視光を各ポート２１に
分配するものであり、ポート２１には光フィルタ４１が
それぞれ具備されている。光フィルタ４１は、信号光と
波長の異なる試験監視波長域のみを透過させ、且つ、試
験監視波長域内において試験用ポート毎に異なる透過波
長ピークを有する。この為、各試験用ポート毎に固有の
試験波長が割り当てられ、各々に割り当てられた試験監
視波長のみが１対ｎ光分配部品５のポート２１に入射す
る。
【００２１】従って、光パルス試験器１２からの試験監
視光は、試験監視用光ファイバ７を伝搬した後、分配部
３２により分配されて各試験用ポート２１に入射する。
各試験用ポート２１に具備される光フィルタは、各試験
用ポート毎に固有の試験波長を割り当てる為、各々に割
り当てられた試験監視波長のみが１対ｎ光分配部品５の
ポート２１に入射し、１対ｎ光分配部品５、スター部光
ファイバ４を伝搬し、各スター部光ファイバ４からの後
方散乱光は逆の経路をたどり、光パルス試験器１２に受
光される。
視光は、試験監視用光ファイバ７を伝搬した後、分配部
３２により分配されて各試験用ポート２１に入射する。
各試験用ポート２１に具備される光フィルタは、各試験
用ポート毎に固有の試験波長を割り当てる為、各々に割
り当てられた試験監視波長のみが１対ｎ光分配部品５の
ポート２１に入射し、１対ｎ光分配部品５、スター部光
ファイバ４を伝搬し、各スター部光ファイバ４からの後
方散乱光は逆の経路をたどり、光パルス試験器１２に受
光される。
【００２２】この為、光パルス試験器１２は、従来のよ
うにスター部光ファイバ４から合波した全ての後方散乱
光を受光するのではなく、各１対ｎ光分配部品５に割り
当てられた試験監視光がスター部光ファイバ４を伝搬し
て、後方散乱光となったものを別々に受光し試験監視す
ることが可能となる。具体的には、本実施例では、５nm
毎に試験監視することが可能となり、この結果１対１０
０分岐を１対１０分岐程度まで細かく測定することがで
きた。尚、上記実施例では、試験監視光、信号光を光フ
ァイバ７、バス部光ファイバ３により別々に伝搬させる
ようにしているが、本発明は、これに限るものではな
く、試験監視光と信号光とを同一のバス部光ファイバ３
で伝搬しても良い。その一例に係る本発明の第二の実施
例を図３に示す。
うにスター部光ファイバ４から合波した全ての後方散乱
光を受光するのではなく、各１対ｎ光分配部品５に割り
当てられた試験監視光がスター部光ファイバ４を伝搬し
て、後方散乱光となったものを別々に受光し試験監視す
ることが可能となる。具体的には、本実施例では、５nm
毎に試験監視することが可能となり、この結果１対１０
０分岐を１対１０分岐程度まで細かく測定することがで
きた。尚、上記実施例では、試験監視光、信号光を光フ
ァイバ７、バス部光ファイバ３により別々に伝搬させる
ようにしているが、本発明は、これに限るものではな
く、試験監視光と信号光とを同一のバス部光ファイバ３
で伝搬しても良い。その一例に係る本発明の第二の実施
例を図３に示す。
【００２３】同図に示すように、バス部光ファイバ３に
は、信号光の波長と試験監視光の波長を合分波する光合
分波部品３１と、光パルス試験器１２からの試験監視光
を結合する光カプラ１１が設けられている。光合分波部
品３１は光ファイバ２２を介して分配部３２に接続して
いる。その他の構成は、前述した第一の実施例と同様で
ある。従って、光パルス試験器１２からの試験監視光
は、光カプラ１１によりバス部光ファイバ３に結合し、
バス部光ファイバ３の透過した後、光合分波部品３１で
分波される。その後、光ファイバ２２を経て、分配部３
２により各試験用ポート２１に入射する。各スター部光
ファイバ４からの後方散乱光は逆の経路をたどり、光パ
ルス試験器１２に受光される。
は、信号光の波長と試験監視光の波長を合分波する光合
分波部品３１と、光パルス試験器１２からの試験監視光
を結合する光カプラ１１が設けられている。光合分波部
品３１は光ファイバ２２を介して分配部３２に接続して
いる。その他の構成は、前述した第一の実施例と同様で
ある。従って、光パルス試験器１２からの試験監視光
は、光カプラ１１によりバス部光ファイバ３に結合し、
バス部光ファイバ３の透過した後、光合分波部品３１で
分波される。その後、光ファイバ２２を経て、分配部３
２により各試験用ポート２１に入射する。各スター部光
ファイバ４からの後方散乱光は逆の経路をたどり、光パ
ルス試験器１２に受光される。
【００２４】本実施例では、試験監視光を１対Ｎ光分配
部６までに運ぶための特別な光ファイバを必要としない
利点がある上に、バス部光ファイバ３も試験監視し得る
利点を有している。
部６までに運ぶための特別な光ファイバを必要としない
利点がある上に、バス部光ファイバ３も試験監視し得る
利点を有している。
【００２５】
【発明の効果】以上、実施例に基づいて具体的に説明し
たように、本発明は、従来に比べ、分配数に依存せず１
対Ｎ光分配形線路の試験監視がパッシブな構成で実現が
可能となり、本発明を導入することにより故障状態の把
握や、光線路の保守運用の効率化が見込まれ、ひいては
サービスの品質を向上することができる。
たように、本発明は、従来に比べ、分配数に依存せず１
対Ｎ光分配形線路の試験監視がパッシブな構成で実現が
可能となり、本発明を導入することにより故障状態の把
握や、光線路の保守運用の効率化が見込まれ、ひいては
サービスの品質を向上することができる。
【図１】本発明の基本的な構成を示す説明図である。
【図２】本発明の第１の実施例を示す構成図である。
【図３】本発明の第２の実施例を示す構成図である。
【図４】試験監視光の分配部を示す構成図である。
【図５】１対Ｎ光分配形線路の構成を示す図である。
【図６】従来技術による１対Ｎ光分配形線路の試験監視
装置の構成図である。
装置の構成図である。
【図７】分配数Ｎに対するβの関係を、αをパラメータ
として計算した結果を示すグラフである。
として計算した結果を示すグラフである。
１ 信号光送信部 ２ 信号光受信部 ３ バス部光ファイバ ４ スター部光ファイバ ５ １対ｎ光分配部品 ６ １対Ｎ光分配型線路 ７ 光ファイバ １１ 光カプラ １２ 光パルス試験器 １３ バス部光ファイバ ２１ 試験用ポート ２２ 光ファイバ ３１ 光合分波部品 ３２ 試験監視光の分配部 ４１ 光フィルタ
フロントページの続き (72)発明者 小山田 弥平 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 泉田 史 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 １個の入射側信号用ポートより入射した
信号光を、ｎ個（ｎ＞１）の出射側信号用ポートに分配
して出射する１対ｎ光分配部品を１又は２以上組み合わ
せることにより、１個の入射信号用ポートより入射した
信号光を、Ｎ（Ｎ≧ｎ）個の出力信号用ポートに分配し
て出射する１対Ｎ光分配形線路において、前記１対ｎ光
分配部品の有する複数のポートのうち入射信号用ポー
ト、出射側信号用ポート以外の少なくとも一つを試験用
ポートとして光パルス試験器に接続し、該試験用ポート
は信号光と波長の異なる試験監視波長域のみを透過する
光フィルタを具備すると共に前記光パルス試験器は試験
監視波長域において波長可変機能を有した平面導波路型
リングレーザを具備することを特徴とする光線路のパル
ス試験装置。 - 【請求項２】 前記光パルス試験器から前記試験用ポー
トへ試験監視光を伝搬する光ファイバと、信号光送信部
から信号光を前記１対Ｎ分配型線路の入射信号用ポート
へ伝搬する光ファイバとが兼用されると共に該光ファイ
バは信号光の波長と試験監視光の波長を合分波する光合
分波部品を具備することを特徴とする請求項１記載の光
線路のパルス試験装置。 - 【請求項３】 前記光フィルタは、試験監視波長域にお
いて複数の１対ｎ光分配部品の試験用ポート毎に異なる
透過波長ピークを有することを特徴とする請求項１記載
の光線路のパルス試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12476992A JPH05322696A (ja) | 1992-05-18 | 1992-05-18 | 光線路のパルス試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12476992A JPH05322696A (ja) | 1992-05-18 | 1992-05-18 | 光線路のパルス試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05322696A true JPH05322696A (ja) | 1993-12-07 |
Family
ID=14893665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12476992A Withdrawn JPH05322696A (ja) | 1992-05-18 | 1992-05-18 | 光線路のパルス試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05322696A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007064931A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Fujikura Ltd | 光線路障害監視装置及び方法 |
| US8270828B2 (en) | 2006-02-03 | 2012-09-18 | Fujikura Ltd. | Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method |
| WO2013103110A1 (ja) * | 2012-01-05 | 2013-07-11 | 住友電気工業株式会社 | 光分岐・合成装置 |
-
1992
- 1992-05-18 JP JP12476992A patent/JPH05322696A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007064931A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Fujikura Ltd | 光線路障害監視装置及び方法 |
| US8270828B2 (en) | 2006-02-03 | 2012-09-18 | Fujikura Ltd. | Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method |
| US8290363B2 (en) | 2006-02-03 | 2012-10-16 | Fujikura Ltd. | Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method |
| US8315517B2 (en) | 2006-02-03 | 2012-11-20 | Fujikura, Ltd | Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method |
| WO2013103110A1 (ja) * | 2012-01-05 | 2013-07-11 | 住友電気工業株式会社 | 光分岐・合成装置 |
| US9197950B2 (en) | 2012-01-05 | 2015-11-24 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical branching/synthesizing device |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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