JPH0419534A - 光線路試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明：よ光儂路試験方法に関し、光ファイバを用いた
１対Ｎ光分配形線路の試験監視技術として有用なもので
ある。

〈従来の技術〉 従来技術に係る１対Ｎ光分配形線路の構成を第７図に示
す。同図中、１は信号光送信部、２は信号光受信部、３
はバス部光ファイバ、４はスタ一部光ファイバ、５は１
対ｎ（ｎ＞１）光分配部品、６は１対Ｎ（Ｎ２Ｈ）光分
配部である。この構成において、信号光送信部１からの
信号光（波長λ１）は、バス部光ファイバ３を透過後、
１対ｎ光分配部品５により作られた１対Ｎ光分配部６で
Ｎ分配され、それぞれＮ本のスタ一部光ファイバ４を経
て信号光受信部２に伝搬する。このような１対Ｎ光分配
形線路；よ、ＣＡＴＶといった映像分配サービスに適し
たｓ！＠構成であり、広く検討が進められている。

ところで、■この１対Ｎ光分配形線路に故障が発生した
場合、この発生箇所や故障程度を把掴するための試験、
■通常の１対Ｎ光分配形線路の監視を行なうための試験
は次の様な方法により行なわれている。

即ち、第８図に示すように、前述の如き試験・監視の際
、光パルス試験器１２からの試験監視光（波長λ２）は
光カプラ１１によりバス部光ファイバ３に入射される。

バス光ファイバ３、及びスタ一部光ファイバ４からの後
方散乱光は、光カプラ１１を経て光パルス試験器１２で
受光される。この場合、スタ一部光ファイバ４の後方散
乱光は、Ｎ本の合計として光パルス試験器１２に受光さ
れ、後方散乱波形として表示される。

このような従来の試験監視方法において、Ｎ本の内１本
のスタ一部光ファイバ４にａ（ｄＢ）故障が発生した場
合を考える。故障発生前と後の後方散乱光をそれぞれＰ
ｏとＰとすると、故障による後方散乱光の変化１よ次式
で書ける。

この故障発生ｎ後に、光パルス試験器１２で観測される
後方散乱波形上の段差β（ｄＢ）は次のようになる。

β＝−ｉｏｘ１・・　２ この式から分配数Ｎに対するβの関係を、αをパラメー
タとして計算した結果を第９図に示す。同図は、スタ一
部光ファイバ４にα（ｄＢ）故障が発生しても後方散乱
波形上にはβ（ｄＢ）　ｌ、か変化が認められない乙と
を示している。

〈発明が解決しようとする課題〉 上述の如き従来技術に係る試験・監視方法では、例えば
、１対１００分配の場合は断線（Ｑ＝ω）でも、βはた
かだか０．０４　（ｄＢ）ｌ。

か現れない。この程度の後方散乱波形の段差は、光パル
ス試験器１２の雑音による波形広がりと同程度となる可
能性があり、故障の識別は困難となる。即ち、従来技術
では仮にＮ本の内１本のスタ一部光ファイバ４が断線し
ても、後方散乱波形に明確な段差が現われるとは限らず
、試験監視が困難となる欠点を有していた。

本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、１対Ｎ光分配
部を構成する１対ｎ光分配部品の信号伝送に使用してい
ないポートを試験監視の入射・出射に用いることにより
、スター部光ファイバを個別に、もしくは少心毎に試験
監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的なスタ一部光
ファイバの試験監視技術である光線路試験方法を提供す
ることを目的とする。

、イ１声ユ＝ く課題を解決≠キ＃ｔするための手段＞　　　１．ｙ上
記目的を達成する本発明の構成は、入組−側信号用ボー
トに入射した信号光をｎ（ｎ＞ｒ）分配して出射側信号
用ボートに出射する１対ｎ光分配部品とＮ本の光ファイ
バより構成される１対Ｎ（Ｎ≧ｎ）光分配形線路の試験
方法である光線路試験方法において、 １対ｎ光分配部品の入射・出射側信号用ポート以外の少
なくとも一つのポートを試験用ボートとして信号光と波
長の異なる試験監視光を入射する一方、Ｎ本の光ファイ
バの各々から発生する後方散乱光を前記試験用ポートか
ら出射するようにしたことを特徴とする。

〈作　　　用〉 上記構成の本発明によれば従来のように全ての光ファイ
バからの後方散乱光を受光するのではなく、各ｌ対ｎ光
分配部品に接続している光ファイバの後方散乱光を別々
に受光し試験監視することが可能となる。

〈実　施　例〉 以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説明する。な
お、従来技術と同一部分には同一番号を付し重複する説
明は省略する。

第１図は本発明の実施例を適用する１対Ｎ分配形線路の
構成を示す説明図である。同図において、２１は試験用
ボートであり、信号光の伝搬に寄与していない１対ｎ光
分配部品５のボートであり、本発明の主眼である試験監
視光の入射・出射に用いる試験用ポートである。一般に
１対ｎ光分配部品５としては、現在までの実績から光フ
ァイバを用いて作製する溶融形、もしくは密着形光カプ
ラが用いられるが、これらはｎ本の光ファイバを加工し
た後、入射側信号用ボートとして片端の１本のボート、
出射側信号用ボートとして他端のｎ本のボートを用いて
いる。従って、入射側信号用ボート端のｎ−１本のボー
トは使用されずにいる。

本発明では、この通常（資）用されていないボートを試
験用ポート２１として使用する。光パルス試験器１２（
第１図には図示せず）からの試験監視光は、そｎぞれの
１対ｎ光分配部品５の試験用ポート２１に入射し、試験
用ボート２１以降のスタ一部光ファイバ４で発生した後
方散乱光は、試験用ポート２１から出射して光パルス試
験器１２に受光される。

従って、従来のように全てのスタ一部光ファイバ４から
の後方散乱光を受光するのではなく、各１対ｎ光分配部
品５；こ接続しているスタ一部光ファイバ４を別々に受
光し試験監視することが可能となる。

試験監視光は、光パルス試験器１２と１対Ｎ光分配部６
まてバス部光ファイバ３と同じ光ファイバを伝搬しても
、また別々の光ファイバを伝搬してもよい。信号光と同
じように、バス部光ファイバ３を伝搬する場合は、信号
光と試験監視光とを分波・合波するための光合分波部品
をバス部光ファイバ３に挿入すればよい。また、１対ｎ
光分配部品５が複数存在する場合は、各々の１対ｎ光分
配部品５に試験監視光を入射・出射するために、光スイ
ッチや光フィルタを用いればよい。

かかる構成の本発明により、従来不可能であった１対１
００もしくはそれ思上の１対Ｎ光分配形線路を容易に試
験監視することが可能となる。

第２図は本発明の第１の実施例を実現するシステムを示
す説明図である。同図中、７は試験監視用光ファイバ、
３２は試験監視光の分配部である。同図に示すように、
光パルス試験器１２からの試験監視光は、試験監視用光
ファイバ７を伝搬した後、分配部３２により各試験用ポ
ート２１に入射する。各スター部光ファイバ４からの後
方散乱光は逆の経路をたどり、光パルス試験１１１２に
受光される。

本実施例は上述のような構成のため、バス部光ファイバ
３には特別に試験監視光と信号光を合分波するための部
品は必要としない。

バス部光ファイバ３に、信号光と試験監視光を同時に伝
搬させる本発明の第２の実施例を実現するシステム第３
図に示す。同図中、３１は信号光波長と試験監視光の波
長を合分波する光合分波部品であり、２２は光合分波部
品３１の試験用ポートである。光パルス試験器１２から
の試験監視光は、光カプラ１１によりバス部光ファイバ
３に結合する。バス部光ファイバ３の透過の後、光合分
波部品３１で分波された試験監視光は、第１の実施例と
同様に分配部３２により各試験用ポート２１に入射する
。各スタ一部光ファイバ４からの後方散乱光は逆の経路
をたどり、光パルス試験器１２に受光される。

本実施例は上述のような構成のため、試験監視光を１対
Ｎ光分配部６までに運ぶための特別な光ファイバ（第２
図における光ファイバ７）を必要としない上、バス部光
ファイバ３も試験監視し得る利点を有している。

上記第２図及び第３図において、試験監視光の分配部３
２としては、第４図に示す光スイッチの方式の物と、第
５図に示す様な光フィルタ（特定波長のみ透過）４１を
組み合わせた方式が考えられろ。ただし、第５図に示す
分配部３２を用いる場合は、第６図に示すように、光パ
ルス試験器１２と光カプラ１１の間に透過波長制御装置
４２を挿入して、各試験用ポート２１に伝わる試験監視
光の波長を制葺する必要がある。第４図の例は、１対Ｎ
光分配部６に光ヌイ・ソチ３２の駆動用電源を設置する
か、電力を供給する必要があるが、第５図の例はそのよ
うな余計な電源等を必要としないパッシブな構成が実現
できる。

〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明により、従来の比べ分配数
に依存しない効果的な１対Ｎ光分配形線路の試験監視が
可能となるため、本発明を導入することにより故障状態
の把握や、光線路の保守運用の効率化が見込まれ、ひし
）ではサービスの品質を向上することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（よ本発明の実施例を適用する１対Ｎ分配形線路
の構成を示す説明図、第２図は本発明の第１の実施例を
実現するーステムを示す説明図、第３図は本発明の第２
の実施例を実現するレステムを示す説明図、第４図及び
第５図＋、１第２図及び第３図の分配部を抽出してその
構成を更に詳細に示す説明Ｚ１１００は第２図に示す第
２の実施例に必要な光パルス試験器の周辺の構成を示す
説明図、第７図は従来技術に係る１対Ｎ分配形線路の構
成を示す説明図、第８図（よ従来技術に係る試験方法を
示す説明図、第９図は分配数Ｎに対するβの関係をαを
パラメータとして計算した結果を示すグラフである。 図面中、 １・・−信号光送信部、２・・信号光受信部、３・・バ
ス部光ファイバ、４゛　スタ一部光ファイバ、５１対ｎ
光分配部品、６・−・１対Ｎ光分配部、７・試験監視用
光ファイバ、１１・・光カプラ、１２、光パルス試験器
、２１・・信号光の伝搬に寄与していない１対ｎ光分配
部品のポート、２２・光合分波部品３１の試験用ポート
、３１　信号光の波長と試験監視光の波長を合分波する
光合分波部品、３２・試験監視光の分配部、４１−光フ
ンルタ、４２−透過波長制御装置

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）入射側信号用ポートに入射した信号光をｎ（ｎ＞
   １）分配して出射側信号用ポートに出射する１対ｎ光分
   配部品とＮ本の光ファイバより構成される１対Ｎ（Ｎ≧
   ｎ）光分配形線路の試験方法である光線路試験方法にお
   いて、１対ｎ光分配部品の入射・出射側信号用ポ ート以外の少なくとも一つのポートを試験用ポートとし
   て信号光と波長の異なる試験監視光を入射する一方、Ｎ
   本の光ファイバの各々から発生する後方散乱光を前記試
   験用ポートから出射するようにしたことを特徴とする光
   線路試験方法。
2. （２）信号光の伝搬に寄与しない１対ｎ光分配部品のポ
   ートを試験用ポートとして使用することを特徴とする特
   許請求の範囲第１項に記載の光線路試験方法。
3. （３）光スイッチを順次切替えることにより試験用監視
   光を複数の試験用ポートに順次供給することを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項に記載の光線路試験方法。
4. （４）光フィルタを介して試験用監視光を複数の試験用
   ポートに夫々供給することを特徴とする特許請求の範囲
   第１項に記載の光線路試験方法。