JP2006042063A - 分岐光線路監視システムおよび方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 複数の分岐光線路を安価に監視することができるシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】 ＯＴＤＲ装置２０から出力されたパルス状の試験光は、光結合部３１を経て、光分岐部５０に向かって主光線路４０を伝搬していき、光分岐部５０により４分岐され、分岐光線路７０_ｎ上に設けられた波長選択装置６０に入力する。光分岐部５０により分岐されて分岐光線路７０_１に出力された試験光のみが、波長選択装置６０を透過し分岐光線路７０_１を伝搬していって光フィルタ７１_１に到達し、この光フィルタ７１_１により反射される。光結合部３１から光フィルタ７１_１に到るまでの試験光の伝搬の際に後方散乱光が発生すると、その後方散乱光は、光結合部３１に向かって伝搬していき、光結合部３１を経て、ＯＴＤＲ装置２０により検出される。
【選択図】 図１

Description

本発明は、主光線路により伝送される通信光を光分岐部により分岐して更に複数の分岐光線路により伝送させる光通信システムにおいて前記複数の分岐光線路それぞれを監視するシステムおよび方法に関するものである。

光通信システムにおいて通信光を伝送する媒体である光線路は、主に光ファイバにより構成されている。この光線路において、光ファイバが断線していたり、或る光ファイバと他の光ファイバとの接続が不良であったり、光ファイバと他の光部品との光結合が不良であったりすると、通信光は伝送されず、或いは、通信光の損失が大きい。ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）試験は、このような光線路の不具合を検出することができる。

ＯＴＤＲ試験では、ＯＴＤＲ装置を用いて、通信光波長と異なる波長のパルス状の試験光を監視対象の光線路に導入し、その試験光が光線路を伝搬する際に生じる後方散乱光（反射光を含む）を光線路から取り出し、その取り出した後方散乱光の強度の時間的変化を検出する。この検出された後方散乱光の強度の時間的変化は、光線路の長手方向における後方散乱光発生分布（すなわち損失分布）を表している。

ところで、主光線路により伝送される通信光を光分岐部により分岐して更に複数の分岐光線路により伝送させる光通信システムにおいては、主光線路を監視するだけでなく、これら複数の分岐光線路それぞれを監視することが求められる。このような複数の分岐光線路を監視するＯＴＤＲ試験技術として種々のものが知られている。

特許文献１に開示されたＯＴＤＲ試験技術（以下「従来技術１」という。）では、複数の分岐光線路それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用い、光分岐部がＡＷＧ（Arrayed-Waveguide Grating）を含む。そして、各分岐光線路に対応する波長の試験光を主光線路に導入し、ＡＷＧにより試験光を分波して、試験光の波長に対応する分岐光線路へ該試験光を伝搬させる。

特許文献２，３に開示されたＯＴＤＲ試験技術（以下「従来技術２」という。）では、複数の分岐光線路それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用い、光分岐部の直後の各分岐光線路上に、対応する波長の試験光を選択的に透過させる光フィルタを配置する。そして、各分岐光線路に対応する波長の試験光を主光線路に導入し、光分岐部により試験光を分岐して複数の分岐光線路それぞれに出力して、該試験光を選択的に透過させる光フィルタが設けられた分岐光線路のみに該試験光を伝搬させる。

特許文献４に開示されたＯＴＤＲ試験技術（以下「従来技術３」という。）では、複数の分岐光線路それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用い、各分岐光線路の終端側に、対応する波長の試験光を選択的に反射させる光フィルタを配置する。そして、各分岐光線路に対応する波長の試験光を主光線路に導入し、光分岐部により試験光を分岐して複数の分岐光線路それぞれに出力して、各分岐光線路の終端側に設けた光フィルタにより、対応する波長の試験光を反射させる。

これらの従来技術１〜３の何れも、試験光を発生する光源部と後方散乱光を検出する検出部とを有するＯＴＤＲ装置は、主光線路上に設けられた光結合部と光学的に接続されていて、複数の分岐光線路それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用いる。このことから、光分岐部が局から遠方に配置される場合であっても、局内にＯＴＤＲ装置を１台のみ設ければよいので、複数の分岐光線路の監視を局内で容易に行うことができる。
特開平７−９８４１９号公報 特開平６−３５０５３０号公報 特開平８−１１０２８２号公報 特開平６−２３２８１７号公報

しかしながら、上記の従来技術１〜３の何れも、複数の分岐光線路それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用いることから、各波長の試験光を発生する複数の光源部または出力波長が可変の光源部を用意する必要があるので、コストが高い。

本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、複数の分岐光線路を安価に監視することができるシステムおよび方法を提供することを目的とする。

本発明に係る分岐光線路監視システムは、主光線路により伝送される通信光を光分岐部によりＭ分岐（Ｍは２以上の整数）して更にＭ本の分岐光線路により伝送させる光通信システムにおいてＭ本の分岐光線路それぞれを監視するシステムであって、(1) 主光線路上に設けられた光結合部と光学的に接続され、通信光の波長と異なる波長であって光結合部から光分岐部へ向けて伝搬させるべきパルス状の試験光を出力する光源部と、光分岐部から光結合部に到達した後方散乱光のうち光結合部から取り出された後方散乱光の強度の時間的変化を検出する検出部と、を有するＯＴＤＲ装置と、(2) Ｍ本の分岐光線路それぞれについて設けられ試験光を遮断可能な光フィルタ部を有し、各分岐光線路により伝送されてきて到達した光のうち試験光の透過および遮断の何れかを光フィルタ部により選択する波長選択装置と、を備えることを特徴とする。

本発明に係る分岐光線路監視方法は、主光線路により伝送される通信光を光分岐部によりＭ分岐（Ｍは２以上の整数）して更にＭ本の分岐光線路により伝送させる光通信システムにおいてＭ本の分岐光線路それぞれを監視する方法であって、(1) 主光線路上に設けられた光結合部と光学的に接続され、通信光の波長と異なる波長であって光結合部から光分岐部へ向けて伝搬させるべきパルス状の試験光を出力する光源部と、光分岐部から光結合部に到達した後方散乱光のうち光結合部から取り出された後方散乱光の強度の時間的変化を検出する検出部と、を有するＯＴＤＲ装置を用い、(2) Ｍ本の分岐光線路それぞれについて設けられ試験光を遮断可能な光フィルタ部を有する波長選択装置を用いて、各分岐光線路により伝送されてきて到達した光のうち試験光の透過および遮断の何れかを光フィルタ部により選択し、試験光の透過を選択した分岐光線路を監視する、ことを特徴とする。

本発明に係る分岐光線路監視システムまたは分岐光線路監視方法では、ＯＴＤＲ装置の光源部から出力されたパルス状の試験光は、主光線路上に設けられた光結合部を経て主光線路に導入され、光分岐部に向かって主光線路を伝搬していき、光分岐部によりＭ分岐されて、分岐光線路上に設けられた波長選択装置に入力する。波長選択装置では、Ｍ本の分岐光線路それぞれについて設けられ試験光を遮断可能な光フィルタ部が備えられていて、各分岐光線路により伝送されてきて到達した光のうち試験光の透過および遮断の何れかが光フィルタ部により選択される。波長選択装置において試験光の透過が選択された分岐光線路については、試験光が該分岐光線路を伝搬していって、その伝搬の際に後方散乱光が発生すると、その後方散乱光は、主光線路上に設けられた光結合部に向かって伝搬していき、光結合部を経て、ＯＴＤＲ装置の検出部により検出される。この検出部では後方散乱光の強度の時間的変化が検出されて、これにより分岐光線路が監視される。

本発明では、Ｍ本の分岐光線路それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用いる必要はない。ＯＴＤＲ装置の光源部から出力される試験光の波長の数は、分岐光線路の本数Ｍより少なくてよい。特に、光源部から出力される試験光が所定の１波長の光であるのが好適である。このように、本発明では、光源部の個数を少なくすることができ、或いは、出力波長が可変の光源部を用意する必要がない。また、それぞれの分岐光線路に設けられる光フィルタ部も共通の特性を持つものを使用することができる。それ故、安価な装置構成とすることができるので、複数の分岐光線路を安価に監視することができる。

本発明に係る分岐光線路監視システムまたは分岐光線路監視方法では、波長選択装置は、Ｍ本の分岐光線路から選択されたＮ本（Ｎは１以上Ｍ以下の整数）の分岐光線路について、試験光の透過を同時に選択するのが好適である。Ｎが２以上であれば、例えば、加入者宅に接続されていない未使用の複数の分岐光線路を同時に監視することができ、線路監視の効率が優れる。

本発明に係る分岐光線路監視システムは、光分岐部と波長選択装置とが共通の筐体に収納されているのが好適である。ここで、光通信システムがＦＴＴＨ（fiber to the home）である場合には、加入者宅の近くの屋外に設置されるクロージャが筐体に相当する。光分岐部と波長選択装置とが共通の筐体内に収納されていれば、その収納された状態のものを工場で製造して現場に設置すればよいので、作業効率が優れる。

本発明に係る分岐光線路監視システムは、光分岐部と波長選択装置との間の光伝搬経路に沿った距離がＯＴＤＲ装置の距離分解能以下であるのが好適である。このように、光分岐部と波長選択装置とが互いに近くにあることで、光分岐部および波長選択装置それぞれで発生する後方散乱光は検出部により分別不能となり、監視対象の分岐光線路で発生する後方散乱光に、監視対象以外の分岐光線路で発生する後方散乱光が重畳されるのが抑制されるので、監視対象の分岐光線路を高精度に監視することができる。

本発明に係る分岐光線路監視システムまたは分岐光線路監視方法では、波長選択装置は、各分岐光線路により伝送されてきて到達した試験光および通信光それぞれの透過および遮断の何れかを光フィルタ部の移動により選択するのが好適である。この場合には、波長選択装置により何れかの分岐光線路について通信光および試験光の双方が遮断されると、該分岐光線路の下流側に設けられたＯＴＤＲ装置から出力されたパルス状の試験光は、分岐光線路を上流側に向かって伝搬して波長選択装置まで到達する。この試験光の伝搬の際に後方散乱光が発生すると、その後方散乱光は、下流側に向かって伝搬していき、下流側に設けられたＯＴＤＲ装置により検出される。このＯＴＤＲ装置では後方散乱光の強度の時間的変化が検出されて、これにより、分岐光線路が下流側から監視される。

本発明によれば、複数の分岐光線路を安価に監視することができる。

以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。

図１は、本実施形態に係る分岐光線路監視システムおよび光通信システムの構成図である。この図に示される光通信システム１は、送受信部１０、主光線路４０、光分岐部５０、分岐光線路７０_１〜７０_４および加入者宅８０_１〜８０_４を備える。この光通信システム１は、送受信部１０と加入者宅８０_１〜８０_４それぞれとの間で通信光を送受信する。なお、本実施形態では、分岐光線路の本数を４とするが、これに限られるものではない。

主光線路４０は、送受信部１０と光分岐部５０との間に設けられ、これらの間で通信光を伝送するものであり、主に光ファイバからなる。各分岐光線路７０_ｎは、光分岐部５０と加入者宅８０_ｎとの間に設けられ、これらの間で通信光を伝送するものであり、主に光ファイバからなる。ここで、添え字ｎは１〜４の任意の整数である。光分岐部５０は、主光線路４０により伝送されてきた光を４分岐して、その分岐した各々の光を分岐光線路７０_１〜７０_４へ出力する。また、光分岐部５０は、各分岐光線路７０_ｎにより伝送されてきた光を主光線路４０へ出力する。

この光通信システム１では、送受信部１０から出力された通信光は、主光線路４０により伝送されて光分岐部５０に入力し、この光分岐部５０により４分岐され、そして、その分岐された各通信光は、分岐光線路７０_ｎにより伝送されて加入者宅８０_ｎに到達して受信される。また、各加入者宅８０_ｎから出力された通信光は、分岐光線路７０_ｎにより伝送されて光分岐部５０に到達し、この光分岐部５０から主光線路４０を経て送受信部１０に到達して受信される。

本実施形態に係る分岐光線路監視システムは、４本の分岐光線路７０_１〜７０_４それぞれを監視するものであって、ＯＴＤＲ装置２０、光結合部３１、光フィルタ３２、波長選択装置６０および光フィルタ７１_１〜７１_４を備えて構成される。ＯＴＤＲ装置２０、光結合部３１および光フィルタ３２は、送受信部１０とともに局２内に配置されている。また、波長選択装置６０は、光分岐部５０とともに筐体３内に配置されている。

光結合部３１は、送受信部１０と光分岐部５０との間を接続する主光線路４０上に設けられていて、ＯＴＤＲ装置２０と光学的に接続されている。この光結合部３１は、送受信部１０と各加入者宅８０_ｎとの間で伝送される通信光を透過させるとともに、ＯＴＤＲ装置２０から出力されたパルス状の試験光を入力して該試験光を光結合部３１から光分岐部５０へ向けて出力し、また、光分岐部５０から光結合部３１に到達した後方散乱光を入力して該後方散乱光をＯＴＤＲ装置２０へ出力する。

光フィルタ３２は、主光線路４０上であって送受信部１０と光結合部３１との間に設けられていて、送受信部１０と各加入者宅８０_ｎとの間で伝送される通信光を透過させるとともに、試験光波長と同一の波長の光を遮断する。この光フィルタ３２は、主光線路４０を構成する光ファイバに形成された回折格子であってもよいし、主光線路４０の途中に挿入された誘電体多層膜フィルタであってもよい。

ＯＴＤＲ装置２０は、光結合部３１へ出力すべき試験光を発生する光源部と、光結合部３１から取り出された後方散乱光の強度の時間的変化を検出する検出部と、これら光源部および検出部それぞれを制御する制御部と、を含む。

波長選択装置６０は、分岐光線路７０_１〜７０_４それぞれについて設けられ試験光を遮断する可動の光フィルタ部を有していて、各分岐光線路７０_ｎにより伝送されてきて到達した光のうち試験光の透過および遮断の何れかを該光フィルタ部の移動により選択する。

各光フィルタ７１_ｎは、分岐光線路７０_ｎ上であって加入者宅８０_ｎの近くに設けられていて、送受信部１０と加入者宅８０_ｎとの間で伝送される通信光を透過させるとともに、試験光波長と同一の波長の光を反射させる。各光フィルタ７１_ｎは、分岐光線路７０_ｎを構成する光ファイバに形成された回折格子であってもよいし、分岐光線路７０_ｎの途中に挿入された誘電体多層膜フィルタであってもよい。

図２は、ＯＴＤＲ装置２０の構成図である。ＯＴＤＲ装置２０は、光源部２１、検出部２２、制御部２３および光サーキュレータ２４を備える。

光源部２１は、光結合部３１から光分岐部５０へ向けて伝搬させるべきパルス状の試験光を出力する。この試験光の波長は、通信光の波長と異なる。例えば、通信光波長が１.３１μｍ帯または１.５５μｍ帯であるのに対して、試験光波長は１.６５μｍ帯である。この光源部２１は好適には半導体レーザ光源を含む。

光サーキュレータ２４は、光源部２１から出力された試験光を入力して、この試験光を光結合部３１へ出力する。また、光サーキュレータ２４は、光結合部３１から到達した光を入力して、この光を検出部２２へ出力する。

検出部２２は、光サーキュレータ２４から到達した光を入力して、その光の強度の時間的変化を検出する。この検出部２２は好適にはフォトダイオードを含む。

制御部２３は、光源部２１におけるパルス状の試験光の出力タイミングを制御するとともに、検出部２２における光強度の時間的変化の検出タイミングを制御する。また、制御部２３は、検出部２２による検出結果に基づいて、各分岐光線路７０_ｎを監視する。

図３は、波長選択装置６０の概略構成図である。この図には、説明を簡便にするために、波長選択装置６０のうち或る１本の分岐光線路７０_ｎに対応する部分についてのみ示されている。波長選択装置６０は、基板６１上に集積化されたものであって、基板６１に溝部６２_ｎが形成されていて、この溝部６２_ｎに光フィルタ部６３_ｎが配置され、また、基板６１上に溝部６２_ｎを挟んで光導波路６４_ｎおよび光導波路６５_ｎが形成されている。

光導波路６４_ｎ，６５_ｎは、分岐光線路７０_ｎの一部をなしている。また、光導波路６４_ｎおよび光導波路６５_ｎそれぞれの光軸は同一直線上にあり、光導波路６４_ｎおよび光導波路６５_ｎそれぞれの溝部６２_ｎ側の端面は互いに対向しており、両者の間に障害物が無ければ、光導波路６４_ｎおよび光導波路６５_ｎのうち一方の溝部６２_ｎ側の端面から出射された光（通信光、試験光）は、他方の溝部６２_ｎ側の端面に入射し得る。光フィルタ部６３_ｎは、通信光を透過させる一方で試験光を遮断するものであり、光導波路６４_ｎおよび光導波路６５_ｎそれぞれの光軸に垂直な方向に移動が可能である。そして、光導波路６４_ｎおよび光導波路６５_ｎそれぞれの溝部６２_ｎ側の端面の間に光フィルタ部６３_ｎが存在するときには、光導波路６４_ｎと光導波路６５_ｎとの間で通信光は透過するが、試験光は遮断される。

このような波長選択装置６０は、ＭＥＭＳ（micro-electro mechanical system）技術により好適に実現され得る。ＭＥＭＳにより作成される場合には、波長選択装置６０は、小型化が可能であり、複数の可動光フィルタ部６３_ｎおよび駆動機構を基板上に集積化することができ、また、駆動に要する電力が少なくて済む。

次に、本実施形態に係る分岐光線路監視システムの動作について説明するとともに、本実施形態に係る分岐光線路監視方法について説明する。ＯＴＤＲ装置２０の光源部２１から出力されたパルス状の試験光は、光サーキュレータ２４および光結合部３１を経て主光線路４０に導入される。主光線路４０に導入された試験光は、光分岐部５０に向かって主光線路４０を伝搬していき、光分岐部５０により４分岐される。光分岐部５０により分岐された各試験光は、分岐光線路７０_ｎ上に設けられた波長選択装置６０に入力する。

波長選択装置６０では、光フィルタ部６３_１〜６３_４のうち、光フィルタ部６３_１のみが光導波路６４_１と光導波路６５_１との間に存在せず、他の光フィルタ部６３_２〜６３_４が光導波路６４，６５間に存在しているとする。この場合、光分岐部５０により分岐されて分岐光線路７０_１に出力された試験光のみが、波長選択装置６０を透過し分岐光線路７０_１を伝搬していって光フィルタ７１_１に到達し、この光フィルタ７１_１により反射される。一方、光分岐部５０により分岐されて分岐光線路７０_２〜７０_４それぞれに出力された試験光は、波長選択装置６０の光フィルタ部６３_２〜６３_４により遮断される。

光結合部３１から光フィルタ７１_１に到るまでの試験光の伝搬の際に後方散乱光が発生すると、その後方散乱光は、光結合部３１に向かって伝搬していき、光結合部３１および光サーキュレータ２４を経て、検出部２２により検出される。検出部２２では後方散乱光の強度の時間的変化が検出されて、これにより分岐光線路７０_１が監視される。なお、各光フィルタ部６３_ｎは通信光を透過させるので、各光フィルタ部６３_ｎの位置によらず、送受信部１０と各加入者宅８０_ｎとの間の通信光の送受信は常に可能である。

本実施形態では、４本の分岐光線路７０_１〜７０_４それぞれに対して互いに異なる波長の試験光を用いる必要はない。ＯＴＤＲ装置２０の光源部２１から出力される試験光の波長の数は、分岐光線路７０_１〜７０_４の本数４より少なくてよい。試験光が所定の１波長の光であるのが好適である。このように、本実施形態では、光源部２１として安価なものを用いることができるので、複数の分岐光線路を安価に監視することができる。

また、波長選択装置６０は、上記のように４本の分岐光線路７０_１〜７０_４から選択された任意の１本の分岐光線路について試験光の透過を選択してもよいが、任意のＮ本（Ｎは２以上４以下の整数）の分岐光線路について試験光の透過を同時に選択するのも好適である。後者の場合、例えば、加入者宅に接続されていない未使用の複数の分岐光線路を同時に監視することができ、線路監視の効率が優れる。

また、上述したように光分岐部５０と波長選択装置６０とが共通の筐体３内に収納されているのが好適である。ここで、光通信システム１がＦＴＴＨである場合には、加入者宅の近くの屋外に設置されるクロージャが筐体３に相当する。光分岐部５０と波長選択装置６０とが共通の筐体３内に収納されていれば、その収納された状態のものを工場で製造して現場に設置すればよいので、作業効率が優れる。

また、光分岐部５０と波長選択装置６０との間の光伝搬経路に沿った距離がＯＴＤＲ装置の距離分解能以下であるのが好適である。例えば、試験光のパルス間隔が１０ｎｓであるＯＴＤＲ装置を用いた場合、距離分解能は約１ｍである。よって、このＯＴＤＲ装置を使用する場合には、光分岐部５０と波長選択装置６０との間の光伝搬経路に沿った距離を約１ｍ以下とするのがよい。

このように、光分岐部５０と波長選択装置６０とが互いに近くにあることで、光分岐部５０および波長選択装置６０それぞれで発生する後方散乱光は検出部２２により分別不能となり、監視対象の分岐光線路で発生する後方散乱光に、監視対象以外の分岐光線路で発生する後方散乱光が重畳されるのが抑制されるので、監視対象の分岐光線路を高精度に監視することができる。

次に、本発明に係る分岐光線路監視システムの他の実施形態について説明する。図４は、他の実施形態に係る分岐光線路監視システムおよび光通信システムの構成図である。図１に示された構成と比較すると、この図４に示される光通信システム１および分岐光線路監視システムは、分岐光線路７０_４に加入者宅８０_４が接続されていない点、波長選択装置６０に替えて波長選択装置６０Ａを備えている点、分岐光線路７０_４上に光フィルタ７１_４に替えて光結合部７２_４を備えている点、および、この光結合部７２_４に光学的に接続されたＯＴＤＲ装置２０Ａを備えている点、で相違する。

この図４に示される構成は、分岐光線路７０_４に加入者宅８０_４が接続される前に、その分岐光線路７０_４を下流側（加入者宅８０_４が接続される側）から監視するためのものである。ＯＴＤＲ装置２０Ａは、ＯＴＤＲ装置２０と同様の構成を有する。分岐光線路７０_４上の光結合部７２_４は、主光線路４０上の光結合部３１と同様のものである。波長選択装置６０Ａは、各分岐光線路により伝送されてきて到達した試験光および通信光それぞれの透過および遮断の何れかを光フィルタ部の移動により選択するものである。

図５は、波長選択装置６０Ａの概略構成図である。この図にも、説明を簡便にするために、波長選択装置６０Ａのうち或る１本の分岐光線路７０_ｎに対応する部分についてのみ示されている。波長選択装置６０Ａは、基板１６１上に集積化されたものであって、基板１６１に溝部１６２_ｎが形成されていて、この溝部１６２_ｎに光フィルタ部１６３_ｎが配置され、また、基板１６１上に溝部１６２_ｎを挟んで光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎが形成されている。

光導波路１６４_ｎ，１６５_ｎは、分岐光線路７０_ｎの一部をなしている。また、光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎそれぞれの光軸は同一直線上にあり、光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎそれぞれの溝部１６２_ｎ側の端面は互いに対向しており、両者の間に障害物が無ければ、光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎのうち一方の溝部１６２_ｎ側の端面から出射された光（通信光、試験光）は、他方の溝部１６２_ｎ側の端面に入射し得る。

光フィルタ部１６３_ｎは、通信光を透過させるが試験光を遮断する第１光フィルタ部１６３_ｎ,１と、通信光および試験光の双方を遮断する第２光フィルタ部１６３_ｎ,２とが、一体化されたものである。光フィルタ部１６３_ｎは、光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎそれぞれの光軸に垂直な方向に移動が可能である。

そして、光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎそれぞれの溝部１６２_ｎ側の端面の間に第１光フィルタ部１６３_ｎ,１が存在するときには、光導波路１６４_ｎと光導波路１６５_ｎとの間で通信光は透過するが、試験光は遮断される。また、光導波路１６４_ｎおよび光導波路１６５_ｎそれぞれの溝部１６２_ｎ側の端面の間に第２光フィルタ部１６３_ｎ,２が存在するときには、光導波路１６４_ｎと光導波路１６５_ｎとの間で通信光および試験光の双方が遮断される。

図６は、波長選択装置６０Ａの他の概略構成図である。この図にも、説明を簡便にするために、波長選択装置６０Ａのうち或る１本の分岐光線路７０_ｎに対応する部分についてのみ示されている。波長選択装置６０Ａは、基板２６１上に集積化されたものであって、基板２６１に溝部２６２_ｎが形成されていて、この溝部２６２_ｎに光フィルタ部２６３_ｎが配置され、また、基板２６１上に溝部２６２_ｎを挟んで光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎが形成されている。

光導波路２６４_ｎ，２６５_ｎは、分岐光線路７０_ｎの一部をなしている。また、光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎそれぞれの光軸は同一直線上にあり、光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎそれぞれの溝部２６２_ｎ側の端面は互いに対向しており、両者の間に障害物が無ければ、光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎのうち一方の溝部２６２_ｎ側の端面から出射された光（通信光、試験光）は、他方の溝部２６２_ｎ側の端面に入射し得る。

光フィルタ部２６３_ｎは、通信光を透過させるが試験光を遮断する第１光フィルタ部２６３_ｎ,１と、通信光を遮断するが試験光を透過させる第２光フィルタ部２６３_ｎ,２とが、個別に移動可能とされたものである。第１光フィルタ部２６３_ｎ,１および第２光フィルタ部２６３_ｎ,２それぞれ、光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎそれぞれの光軸に垂直な方向に移動が可能である。

そして、光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎそれぞれの溝部２６２_ｎ側の端面の間に第２光フィルタ部２６３_ｎ,１のみが存在するときには、光導波路２６４_ｎと光導波路２６５_ｎとの間で通信光は透過するが、試験光は遮断される。また、光導波路２６４_ｎおよび光導波路２６５_ｎそれぞれの溝部２６２_ｎ側の端面の間に第１光フィルタ部２６３_ｎ,１および第２光フィルタ部２６３_ｎ,２の双方が存在するときには、光導波路２６４_ｎと光導波路２６５_ｎとの間で通信光および試験光の双方が遮断される。

このような波長選択装置６０Ａ（図５，図６）も、ＭＥＭＳ技術により好適に実現され得る。

このような構成の光通信システムおよび分岐光監視システムは、図１〜図４で説明した動作と同様の動作に加えて、以下のような動作をもする。波長選択装置６０Ａにより、分岐光線路７０_ｎについて通信光および試験光の双方が遮断される場合には、ＯＴＤＲ装置２０Ａから出力されたパルス状の試験光は、光結合部７２_４を経て分岐光線路７０_４を伝搬して波長選択装置６０Ａまで到達する。光結合部７２_４から波長選択装置６０Ａに到るまでの試験光の伝搬の際に後方散乱光が発生すると、その後方散乱光は、光結合部７２_４に向かって伝搬していき、光結合部７２_４を経て、ＯＴＤＲ装置２０Ａにより検出される。ＯＴＤＲ装置２０Ａでは後方散乱光の強度の時間的変化が検出されて、これにより、分岐光線路７０_４が下流側から監視される。このとき、他の分岐光線路７０_１〜７０_３が供用中であっても、分岐光線路７０_４の試験は、分岐光線路７０_１〜７０_３による通信光の送受信に影響を与えることは無い。

本実施形態に係る分岐光線路監視システムおよび光通信システムの構成図である。 ＯＴＤＲ装置２０の構成図である。 波長選択装置６０の概略構成図である。 他の実施形態に係る分岐光線路監視システムおよび光通信システムの構成図である。 波長選択装置６０Ａの概略構成図である。 波長選択装置６０Ａの他の概略構成図である。

符号の説明

１…光通信システム、２…局、３…筐体、１０…送受信部、２０，２０Ａ…ＯＴＤＲ装置、２１…光源部、２２…検出部、２３…制御部、２４…光サーキュレータ、３１…光結合部、３２…光フィルタ、４０…主光線路、５０…光分岐部、６０，６０Ａ…波長選択装置、６３…光フィルタ部、７０_１〜７０_４…分岐光線路、７１_１〜７１_４…光フィルタ、７２_４…光結合部、８０_１〜８０_４…加入者宅。

Claims (12)

1. 主光線路により伝送される通信光を光分岐部によりＭ分岐（Ｍは２以上の整数）して更にＭ本の分岐光線路により伝送させる光通信システムにおいて前記Ｍ本の分岐光線路それぞれを監視するシステムであって、
   前記主光線路上に設けられた光結合部と光学的に接続され、前記通信光の波長と異なる波長であって前記光結合部から前記光分岐部へ向けて伝搬させるべきパルス状の試験光を出力する光源部と、前記光分岐部から前記光結合部に到達した後方散乱光のうち前記光結合部から取り出された後方散乱光の強度の時間的変化を検出する検出部と、を有するＯＴＤＲ装置と、
   前記Ｍ本の分岐光線路それぞれについて設けられ前記試験光を遮断可能な光フィルタ部を有し、各分岐光線路により伝送されてきて到達した光のうち前記試験光の透過および遮断の何れかを前記光フィルタ部により選択する波長選択装置と、
   を備えることを特徴とする分岐光線路監視システム。
2. 前記光源部から出力される試験光が所定の１波長の光であることを特徴とする請求項１記載の分岐光線路監視システム。
3. 前記波長選択装置が、前記Ｍ本の分岐光線路から選択されたＮ本（Ｎは１以上Ｍ以下の整数）の分岐光線路について、前記試験光の透過を同時に選択する、ことを特徴とする請求項１記載の分岐光線路監視システム。
4. 前記光分岐部と前記波長選択装置とが共通の筐体に収納されていることを特徴とする請求項１記載の分岐光線路監視システム。
5. 前記光分岐部と前記波長選択装置との間の光伝搬経路に沿った距離が前記ＯＴＤＲ装置の距離分解能以下であることを特徴とする請求項１記載の分岐光線路監視システム。
6. 前記波長選択装置が、各分岐光線路により伝送されてきて到達した前記試験光の透過および遮断の何れかを前記光フィルタ部の移動により選択する、ことを特徴とする請求項１記載の分岐光線路監視システム。
7. 前記波長選択装置が、各分岐光線路により伝送されてきて到達した前記試験光および前記通信光それぞれの透過および遮断の何れかを前記光フィルタ部の移動により選択する、ことを特徴とする請求項６記載の分岐光線路監視システム。
8. 主光線路により伝送される通信光を光分岐部によりＭ分岐（Ｍは２以上の整数）して更にＭ本の分岐光線路により伝送させる光通信システムにおいて前記Ｍ本の分岐光線路それぞれを監視する方法であって、
   前記主光線路上に設けられた光結合部と光学的に接続され、前記通信光の波長と異なる波長であって前記光結合部から前記光分岐部へ向けて伝搬させるべきパルス状の試験光を出力する光源部と、前記光分岐部から前記光結合部に到達した後方散乱光のうち前記光結合部から取り出された後方散乱光の強度の時間的変化を検出する検出部と、を有するＯＴＤＲ装置を用い、
   前記Ｍ本の分岐光線路それぞれについて設けられ前記試験光を遮断可能な光フィルタ部を有する波長選択装置を用いて、各分岐光線路により伝送されてきて到達した光のうち前記試験光の透過および遮断の何れかを前記光フィルタ部により選択し、前記試験光の透過を選択した分岐光線路を監視する、
   ことを特徴とする分岐光線路監視方法。
9. 前記光源部から出力される試験光が所定の１波長の光であることを特徴とする請求項８記載の分岐光線路監視方法。
10. 前記波長選択装置により、前記Ｍ本の分岐光線路から選択されたＮ本（Ｎは１以上Ｍ以下の整数）の分岐光線路について、前記試験光の透過を同時に選択する、ことを特徴とする請求項８記載の分岐光線路監視方法。
11. 前記波長選択装置により、各分岐光線路により伝送されてきて到達した前記試験光の透過および遮断の何れかを前記光フィルタ部の移動により選択する、ことを特徴とする請求項８記載の分岐光線路監視方法。
12. 前記波長選択装置により、各分岐光線路により伝送されてきて到達した前記試験光および前記通信光それぞれの透過および遮断の何れかを前記光フィルタ部の移動により選択する、ことを特徴とする請求項１１記載の分岐光線路監視方法。
    

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