JP2001066221A - 光パルス試験器 - Google Patents

光パルス試験器

Info

Publication number
JP2001066221A
JP2001066221A JP24412999A JP24412999A JP2001066221A JP 2001066221 A JP2001066221 A JP 2001066221A JP 24412999 A JP24412999 A JP 24412999A JP 24412999 A JP24412999 A JP 24412999A JP 2001066221 A JP2001066221 A JP 2001066221A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
reflected light
light
measured
optical pulse
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP24412999A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Ikeda
靖 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP24412999A priority Critical patent/JP2001066221A/ja
Publication of JP2001066221A publication Critical patent/JP2001066221A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 同時に複数の波長の光パルスを使用して被測
定光ファイバから戻ってくる反射光の光強度などの時系
列的変化を測定することができる光パルス試験器を実現
する。 【解決手段】 光源11−1、11−2は異なる波長の
光パルスを発生させる。この異なる波長の光パルスは光
合波器12によって合波され、光カプラ13を介して被
測定光ファイバ14に入射される。被測定光ファイバ1
4から戻ってくる後方散乱光等の反射光は光カプラ13
によって分岐される。この分岐された反射光は、光分波
器15によって光源11−1、11−2が発生する光パ
ルスの波長毎に分波され、さらに、短波長域通過形フィ
ルタ16や長波長域通過形フィルタ17によって不要な
反射光が減衰される。そして、光検出器18−1、18
−2によって反射光毎の光強度などの時系列的変化が同
時に検出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信等に用いら
れる光ファイバに光パルスを入射し、光ファイバから戻
ってくる後方散乱光等の反射光の時系列的変化を測定す
るOTDR(Optical Time Domain Reflectmete
r;光時間領域後方散乱測定器)と呼ばれる光パルス試
験器に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光パルス試験器は、具備している
2波長以上の光源の中で、唯一つの波長の光源を発光す
ることによって発生させる光パルスを被測定光ファイバ
に入射する。そして、被測定光ファイバから戻ってくる
後方散乱光等の反射光の光強度などの時系列的変化を測
定する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の光パルス試験器では、被測定光ファイバから戻って
くる後方散乱光等の反射光の光強度などの時系列的変化
を測定する際に、同時に複数の波長の光パルスを使用し
て測定することができないという問題点があった。本発
明は、このような事情を考慮してなされたもので、同時
に複数の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバか
ら戻ってくる後方散乱光等の反射光の光強度などの時系
列的変化を測定することができる光パルス試験器を提供
することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明は、複数の波長の光パルスを発生する光パ
ルス発生手段と、前記光パルス発生手段によって発生さ
れる複数の波長の光パルスを合波する光合波手段と、前
記光合波手段によって合波された光パルスを第一の被測
定光線路に入射すると共に、前記第一の被測定光線路か
ら戻る反射光を分岐する光分岐手段と、前記反射光を異
なる波長毎に分波する光分波手段と、前記光分波手段に
よって異なる波長毎に分波される複数の反射光の時系列
的変化を同時に検出する光検出手段とを具備してなるも
のである。請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の
光パルス試験器において、前記光分波手段で分波される
前記反射光に含まれる不要な波長の反射光を減衰する光
減衰手段を有することを特徴とする。
【0005】請求項3に記載の発明は、請求項1または
請求項2に記載の光パルス試験器において、前記光検出
手段が検出する複数の反射光の時系列的変化を、同時に
波形として表示する表示手段を有することを特徴とす
る。請求項4に記載の発明は、請求項1乃至請求項3の
いずれかの項に記載の光パルス試験器において、前記第
一の被測定光線路から出射される光パルスを異なる波長
毎の複数の光パルスに分波し、分波された前記光パルス
毎に異なる第二の被測定光線路に入射し、また、異なる
前記第二の被測定光線路から戻る反射光を合波して前記
第一の被測定光線路に入射する光分波合波手段を有する
ことを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の一
実施形態について説明する。図1は同実施形態による光
パルス試験器の構成を示すブロック図である。この図に
おいて、光源11−1、11−2は光パルスを発生する
光源であって、半導体レーザ等で構成される。光源11
−1は1.31μmの波長の光パルスを、また、光源1
1−2は1.55μmの波長の光パルスをそれぞれ発生
して光合波器12へ出射する。そして、光合波器12
は、光源11−1と光源11−2から入射される光パル
スを、WDM(Wave length Division Multiplex
ing;波長分割多重)により合波される光パルスとして
光カプラ13へ出射する。この光カプラ13は、光合波
器12から入射される光パルスを被測定光ファイバ14
へ出射する。
【0007】被測定光ファイバ14に光パルスが入射さ
れ伝搬されると、この光パルスの散乱光の一部が後方散
乱光として入射端に戻ってくる。また、被測定光ファイ
バ14の破断点や終端点においては、大きな反射光が生
じて入射端に戻ってくる。この後方散乱光等の反射光
は、反射点までの距離に比例した時間を経過した後に、
順次、被測定光ファイバ14から光カプラ13に入射さ
れて、反射光のみ分岐されて光分波器15に入射され
る。この光分波器15は、入力される反射光をWDMに
より1.31μmの波長の反射光と1.55μmの波長
の反射光とに分波し、1.31μmの波長の反射光を短
波長域通過形フィルタ16へ、1.55μmの波長の反
射光を長波長域通過形フィルタ17へそれぞれ出射す
る。そして、短波長域通過形フィルタ16は、1.31
μmの波長の光強度の検出精度を高めるために、この入
射された反射光にまだ含まれている1.55μmの波長
の反射光をさらに減衰させる。そして、この減衰された
反射光を1.31μmの波長の反射光として光検出器1
8−1へ出射する。この光検出器18−1は、入射され
た1.31μmの波長の反射光から光強度を検出する。
一方、長波長域通過形フィルタ17は、1.55μmの
波長の光強度の検出精度を高めるために、光分波器15
から入射された反射光にまだ含まれている1.31μm
の波長の反射光をさらに減衰させる。そして、この減衰
された反射光を、1.55μmの波長の反射光として光
検出器18−2へ出射する。この光検出器18−2は、
入射された1.55μmの波長の反射光から光強度を検
出する。光検出器18−1、18−2は、APD(Ava
lache Photo Diode)等により構成される。
【0008】このように、図1の実施形態は、光源11
−1、11−2からの異なる波長の光パルスを光合波器
12によって合波し、光カプラ13を介して被測定光フ
ァイバ14へ出射する。そして、被測定光ファイバ14
から戻る反射光を光カプラ13にて分岐し光分波器15
によって異なる波長毎に分波する。この分波された異な
る波長毎の反射光の光強度を光検出器18−1、18−
2によって同時に検出するようにしたので、同時に複数
の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光の光強度を測定することができる。なお、
上記実施形態においては、短波長域通過形フィルタ16
や長波長域通過形フィルタ17を設けたが、この理由
は、光分波器15から出射される反射光に含まれる不要
な波長の反射光の光強度が無視できないレベルにあるた
め、不要な波長の反射光を減衰させて光検出器18−
1、18−2における波長毎の光強度の検出精度を高め
たいからである。したがって、光分波器15から出射さ
れる反射光に含まれる不要な波長の反射光の光強度が無
視できる場合には、これらのフィルタ16、17を設け
る必要は無い。
【0009】図2は、上述した光パルス試験器の表示波
形例である。そして、図3はこの表示波形例に表示され
ている波形が測定された光ファイバ線路の構成例であっ
て、光パルス試験器31は光分波合波器32と被測定光
ファイバ33によって接続される。そして、被測定光フ
ァイバ34と被測定光ファイバ35は、ともに光分波合
波器32に接続されている。光パルス試験器31によっ
て1.31μmと1.55μmの波長の光パルスが合波
された光パルスは、被測定光ファイバ33に入射され
る。この被測定光ファイバ33から光分波合波器32に
入射された光パルスは、光分波合波器32によってWD
M等により1.31μmの波長の光パルスと1.55μ
mの波長の光パルスとに分波される。そして、1.31
μmの光パルスは被測定光ファイバ34に入射され、
1.55μmの波長の光パルスは被測定光ファイバ35
に入射される。そして、被測定光ファイバ34、35か
ら後方散乱光等の反射光がそれぞれ光分波合波器32に
入射されて、WDM等により合波される。この光分波合
波器32によって合波された光パルスは、被測定光ファ
イバ33を介して光パルス試験器31に入射される。
【0010】この光パルス試験器31に入射される光パ
ルスは、1.31μmと1.55μmの異なる波長の光
パルスを含んでおり、上述した光パルス試験器31によ
って同時にそれぞれの波長の光強度が測定される。次に
図2において、横軸は上述した光検出器18−1、18
−2によって検出された反射光の伝搬時間が距離に換算
される表示であって、光パルス試験器31から各観測点
までの往復の距離を示しており、図中、左端にゆくほど
光パルス試験器31に近く、右端にゆくほど光パルス試
験器31から遠くなっている。縦軸は光検出器18−
1、18−2によって検出された被測定光ファイバ3
3、34、35からの反射光の光強度を示している。こ
こで、図3の光ファイバ線路において、光パルス試験器
31の各波長の光パルス出力の差は無く、被測定光ファ
イバの接続点における光強度の損失及び光の反射率には
各波長での差は無く、光パルス試験器31に具備される
上述した光検出器18−1、18−2の受光感度には各
波長での差は無い条件である。同図の波形W1は1.3
1μmの波長の反射光の光強度を示す波形であって、観
測点ED1から観測点ED2までの区間の波形は光パル
ス試験器31から光分波合波器32までの被測定光ファ
イバ33から戻る反射光の光強度を示している。ここ
で、観測点ED1と観測点ED2間の波形の傾きが被測
定光ファイバ33の線路損失である。そして、観測点E
D2から右の区間の波形は光分波合波器32から先の被
測定光ファイバ34から戻る反射光の光強度を示してお
り、同様に波形の傾きが被測定光ファイバ34の線路損
失である。
【0011】一方、波形W2は1.55μmの波長の反
射光における波形であって、観測点ED1から観測点E
D3までの区間の波形は光パルス試験器31から光分波
合波器32までの被測定光ファイバ33から戻る反射光
の光強度を示している。ここで、観測点ED1と観測点
ED3間の波形の傾きが被測定光ファイバ33の線路損
失である。そして、観測点ED3から右の区間の波形は
光分波合波器32から先の被測定光ファイバ35から戻
る反射光の光強度を示しており、同様に波形の傾きが被
測定光ファイバ35の線路損失である。このように、上
述した実施形態による光パルス試験器は、1本の光ファ
イバを光分波合波器32によって異なる波長の光パルス
毎の光ファイバに分岐させる光ファイバ線路において、
各波長の反射光の光強度を同時に測定することができる
ので分岐された各光ファイバの反射光の光強度が分か
り、すなわち、各光ファイバ線路の損失、断線及び接続
異常などを測定することができる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、異なる波長の光パルスを発生させて、この
異なる波長の光パルスを合波し被測定光線路に入射させ
ると共に、被測定光線路から戻ってくる後方散乱光等の
反射光を分岐し、この分岐された反射光を発生させた光
パルスの波長毎に分波して反射光毎の光強度などの時系
列的変化を同時に検出するようにしたので、同時に複数
の波長の光パルスを使用して被測定光線路から戻ってく
る反射光の時系列的変化を測定することができる効果が
得られる。
【0013】請求項2記載の発明によれば、時系列的変
化が検出される反射光に含まれる不要な波長の反射光が
減衰されるようにしたので、被測定光線路から戻ってく
る反射光の時系列的変化をさらに精度良く測定すること
ができる効果が得られる。請求項3記載の発明によれ
ば、測定された複数の波長の反射光の時系列的変化を同
時に波形として表示するようにしたので、各波長毎の被
測定光線路の損失を同時に測定することができる効果が
得られる。請求項4記載の発明によれば、1本の光ファ
イバを異なる波長の光パルス毎の光ファイバに分岐させ
て各被測定光線路から戻ってくる反射光の時系列的変化
を測定するようにしたので、異なる波長毎に分岐された
被測定光線路の損失、断線及び接続異常などを測定する
ことができる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施形態による光パルス試験器
の構成を示すブロック図である。
【図2】 この発明の光パルス試験器の表示波形例であ
る。
【図3】 図2の表示波形が測定される光ファイバ線路
の構成例である。
【符号の説明】
11−1、11−2 光源 12 光合波器 13 光カプラ 14 被測定光ファイバ 15 光分波器 16 短波長域通過形フィルタ 17 長波長域通過形フィルタ 18−1、18−2 光検出器

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の波長の光パルスを発生する光パル
    ス発生手段と、 前記光パルス発生手段によって発生される複数の波長の
    光パルスを合波する光合波手段と、 前記光合波手段によって合波された光パルスを第一の被
    測定光線路に入射すると共に、前記第一の被測定光線路
    から戻る反射光を分岐する光分岐手段と、 前記反射光を異なる波長毎に分波する光分波手段と、 前記光分波手段によって異なる波長毎に分波される複数
    の反射光の時系列的変化を同時に検出する光検出手段
    と、 を具備してなる光パルス試験器。
  2. 【請求項2】 前記光分波手段で分波される前記反射光
    に含まれる不要な波長の反射光を減衰する光減衰手段を
    有することを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験
    器。
  3. 【請求項3】 前記光検出手段が検出する複数の反射光
    の時系列的変化を、同時に波形として表示する表示手段
    を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記
    載の光パルス試験器。
  4. 【請求項4】 前記第一の被測定光線路から出射される
    光パルスを異なる波長毎の複数の光パルスに分波し、分
    波された前記光パルス毎に異なる第二の被測定光線路に
    入射し、また、異なる前記第二の被測定光線路から戻る
    反射光を合波して前記第一の被測定光線路に入射する光
    分波合波手段を有することを特徴とする請求項1乃至請
    求項3のいずれかの項に記載の光パルス試験器。
JP24412999A 1999-08-30 1999-08-30 光パルス試験器 Withdrawn JP2001066221A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24412999A JP2001066221A (ja) 1999-08-30 1999-08-30 光パルス試験器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24412999A JP2001066221A (ja) 1999-08-30 1999-08-30 光パルス試験器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001066221A true JP2001066221A (ja) 2001-03-16

Family

ID=17114206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24412999A Withdrawn JP2001066221A (ja) 1999-08-30 1999-08-30 光パルス試験器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001066221A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009085684A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Yokogawa Electric Corp 光パルス試験器
KR20110093989A (ko) * 2008-10-17 2011-08-19 엑스포 아이엔씨. 2-파장 광통신 계측기와 파장 의존형 반사 소자를 이용하여 광통신망에서 광선로의 파라미터를 추출하는 방법 및 장치
CN106908221A (zh) * 2017-02-14 2017-06-30 重庆市光利医疗科技有限公司 一种多光纤照明组合光光学参量的设定方法
CN114556058A (zh) * 2019-10-17 2022-05-27 日本电信电话株式会社 光脉冲测试方法和光脉冲测试装置
US20220341813A1 (en) * 2021-04-22 2022-10-27 Yokogawa Electric Corporation Optical pulse tester
JP2022167095A (ja) * 2021-04-22 2022-11-04 横河電機株式会社 光パルス試験器

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009085684A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Yokogawa Electric Corp 光パルス試験器
US7880868B2 (en) 2007-09-28 2011-02-01 Yokogawa Electric Corporation Optical time domain reflectometer
KR20110093989A (ko) * 2008-10-17 2011-08-19 엑스포 아이엔씨. 2-파장 광통신 계측기와 파장 의존형 반사 소자를 이용하여 광통신망에서 광선로의 파라미터를 추출하는 방법 및 장치
JP2012506171A (ja) * 2008-10-17 2012-03-08 エクスフォ インコーポレイティッド 2波長otdrを使用する光学ネットワーク内の光路および波長依存性反射要素のパラメータを導出する方法および装置
US8687957B2 (en) 2008-10-17 2014-04-01 Exfo Inc. Method and apparatus for deriving parameters of optical paths in optical networks using two-wavelength OTDR and a wavelength-dependent reflective element
KR101587091B1 (ko) 2008-10-17 2016-01-20 엑스포 아이엔씨. 2-파장 광통신 계측기와 파장 의존형 반사 소자를 이용하여 광통신망에서 광선로의 파라미터를 추출하는 방법 및 장치
CN106908221A (zh) * 2017-02-14 2017-06-30 重庆市光利医疗科技有限公司 一种多光纤照明组合光光学参量的设定方法
CN106908221B (zh) * 2017-02-14 2019-11-22 重庆光遥光电科技有限公司 一种多光纤照明组合光光学参量的设定方法
CN114556058A (zh) * 2019-10-17 2022-05-27 日本电信电话株式会社 光脉冲测试方法和光脉冲测试装置
US20220341813A1 (en) * 2021-04-22 2022-10-27 Yokogawa Electric Corporation Optical pulse tester
JP2022167095A (ja) * 2021-04-22 2022-11-04 横河電機株式会社 光パルス試験器
US12025530B2 (en) * 2021-04-22 2024-07-02 Yokogawa Electric Corporation Optical pulse tester

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2656788T3 (es) Reflectómetro óptico en el dominio del tiempo
RU2009129150A (ru) Отказоустойчивое распределенное оптоволоконное обнаружение проникновения
RU2413188C2 (ru) Волоконно-оптическое устройство для измерения температурного распределения (варианты)
JPS6252426A (ja) 複数の波長の光フアイバ反射率計
US12061131B2 (en) Judgment device and judgment method
JP7320022B2 (ja) 光パルス試験器
RU2552222C1 (ru) Способ измерения температурного распределения и устройство для его осуществления
JP2001066221A (ja) 光パルス試験器
KR101271424B1 (ko) Otdr 기능이 포함된 10g pon 광 송수신 서브어셈블리
JPH1090120A (ja) 光ファイバ歪み測定装置
US9244002B1 (en) Optical method and system for measuring an environmental parameter
Stopiński et al. Optical time domain reflectometer based on application specific photonic integrated circuit
JP5732648B2 (ja) 双方向光モジュールおよび光パルス試験器
JPH01276039A (ja) 光ファイバ特性評価装置
JP2004354077A (ja) 光ファイバの損失測定方法
JP3830601B2 (ja) 光線路監視システム
JP2008209266A (ja) 双方向光モジュールおよび光パルス試験器
US20220341812A1 (en) Optical pulse tester
JP5564027B2 (ja) 光測定装置
CN106815957B (zh) 以极少芯数光缆构成的光纤周界入侵检测系统
JP5438660B2 (ja) 光線路試験装置、及び、光線路試験システム
JP4816020B2 (ja) 光ファイバ測定装置
CA2858332C (en) Optical method and system for measuring an environmental parameter
JP5232879B2 (ja) 光ファイバ温度分布測定装置
TWI506968B (zh) Single - ended Fiber Optic Dispersion Fast Test Device and Method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20061107