JP2001066221A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 同時に複数の波長の光パルスを使用して被測
定光ファイバから戻ってくる反射光の光強度などの時系
列的変化を測定することができる光パルス試験器を実現
する。 【解決手段】 光源１１−１、１１−２は異なる波長の
光パルスを発生させる。この異なる波長の光パルスは光
合波器１２によって合波され、光カプラ１３を介して被
測定光ファイバ１４に入射される。被測定光ファイバ１
４から戻ってくる後方散乱光等の反射光は光カプラ１３
によって分岐される。この分岐された反射光は、光分波
器１５によって光源１１−１、１１−２が発生する光パ
ルスの波長毎に分波され、さらに、短波長域通過形フィ
ルタ１６や長波長域通過形フィルタ１７によって不要な
反射光が減衰される。そして、光検出器１８−１、１８
−２によって反射光毎の光強度などの時系列的変化が同
時に検出される。
定光ファイバから戻ってくる反射光の光強度などの時系
列的変化を測定することができる光パルス試験器を実現
する。 【解決手段】 光源１１−１、１１−２は異なる波長の
光パルスを発生させる。この異なる波長の光パルスは光
合波器１２によって合波され、光カプラ１３を介して被
測定光ファイバ１４に入射される。被測定光ファイバ１
４から戻ってくる後方散乱光等の反射光は光カプラ１３
によって分岐される。この分岐された反射光は、光分波
器１５によって光源１１−１、１１−２が発生する光パ
ルスの波長毎に分波され、さらに、短波長域通過形フィ
ルタ１６や長波長域通過形フィルタ１７によって不要な
反射光が減衰される。そして、光検出器１８−１、１８
−２によって反射光毎の光強度などの時系列的変化が同
時に検出される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信等に用いら
れる光ファイバに光パルスを入射し、光ファイバから戻
ってくる後方散乱光等の反射光の時系列的変化を測定す
るＯＴＤＲ（Ｏptical Ｔime Ｄomain Ｒeflectmete
r；光時間領域後方散乱測定器）と呼ばれる光パルス試
験器に関する。
れる光ファイバに光パルスを入射し、光ファイバから戻
ってくる後方散乱光等の反射光の時系列的変化を測定す
るＯＴＤＲ（Ｏptical Ｔime Ｄomain Ｒeflectmete
r；光時間領域後方散乱測定器）と呼ばれる光パルス試
験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光パルス試験器は、具備している
２波長以上の光源の中で、唯一つの波長の光源を発光す
ることによって発生させる光パルスを被測定光ファイバ
に入射する。そして、被測定光ファイバから戻ってくる
後方散乱光等の反射光の光強度などの時系列的変化を測
定する。
２波長以上の光源の中で、唯一つの波長の光源を発光す
ることによって発生させる光パルスを被測定光ファイバ
に入射する。そして、被測定光ファイバから戻ってくる
後方散乱光等の反射光の光強度などの時系列的変化を測
定する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の光パルス試験器では、被測定光ファイバから戻って
くる後方散乱光等の反射光の光強度などの時系列的変化
を測定する際に、同時に複数の波長の光パルスを使用し
て測定することができないという問題点があった。本発
明は、このような事情を考慮してなされたもので、同時
に複数の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバか
ら戻ってくる後方散乱光等の反射光の光強度などの時系
列的変化を測定することができる光パルス試験器を提供
することにある。
来の光パルス試験器では、被測定光ファイバから戻って
くる後方散乱光等の反射光の光強度などの時系列的変化
を測定する際に、同時に複数の波長の光パルスを使用し
て測定することができないという問題点があった。本発
明は、このような事情を考慮してなされたもので、同時
に複数の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバか
ら戻ってくる後方散乱光等の反射光の光強度などの時系
列的変化を測定することができる光パルス試験器を提供
することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明は、複数の波長の光パルスを発生する光パ
ルス発生手段と、前記光パルス発生手段によって発生さ
れる複数の波長の光パルスを合波する光合波手段と、前
記光合波手段によって合波された光パルスを第一の被測
定光線路に入射すると共に、前記第一の被測定光線路か
ら戻る反射光を分岐する光分岐手段と、前記反射光を異
なる波長毎に分波する光分波手段と、前記光分波手段に
よって異なる波長毎に分波される複数の反射光の時系列
的変化を同時に検出する光検出手段とを具備してなるも
のである。請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の
光パルス試験器において、前記光分波手段で分波される
前記反射光に含まれる不要な波長の反射光を減衰する光
減衰手段を有することを特徴とする。
めに、本発明は、複数の波長の光パルスを発生する光パ
ルス発生手段と、前記光パルス発生手段によって発生さ
れる複数の波長の光パルスを合波する光合波手段と、前
記光合波手段によって合波された光パルスを第一の被測
定光線路に入射すると共に、前記第一の被測定光線路か
ら戻る反射光を分岐する光分岐手段と、前記反射光を異
なる波長毎に分波する光分波手段と、前記光分波手段に
よって異なる波長毎に分波される複数の反射光の時系列
的変化を同時に検出する光検出手段とを具備してなるも
のである。請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の
光パルス試験器において、前記光分波手段で分波される
前記反射光に含まれる不要な波長の反射光を減衰する光
減衰手段を有することを特徴とする。
【０００５】請求項３に記載の発明は、請求項１または
請求項２に記載の光パルス試験器において、前記光検出
手段が検出する複数の反射光の時系列的変化を、同時に
波形として表示する表示手段を有することを特徴とす
る。請求項４に記載の発明は、請求項１乃至請求項３の
いずれかの項に記載の光パルス試験器において、前記第
一の被測定光線路から出射される光パルスを異なる波長
毎の複数の光パルスに分波し、分波された前記光パルス
毎に異なる第二の被測定光線路に入射し、また、異なる
前記第二の被測定光線路から戻る反射光を合波して前記
第一の被測定光線路に入射する光分波合波手段を有する
ことを特徴とする。
請求項２に記載の光パルス試験器において、前記光検出
手段が検出する複数の反射光の時系列的変化を、同時に
波形として表示する表示手段を有することを特徴とす
る。請求項４に記載の発明は、請求項１乃至請求項３の
いずれかの項に記載の光パルス試験器において、前記第
一の被測定光線路から出射される光パルスを異なる波長
毎の複数の光パルスに分波し、分波された前記光パルス
毎に異なる第二の被測定光線路に入射し、また、異なる
前記第二の被測定光線路から戻る反射光を合波して前記
第一の被測定光線路に入射する光分波合波手段を有する
ことを特徴とする。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の一
実施形態について説明する。図１は同実施形態による光
パルス試験器の構成を示すブロック図である。この図に
おいて、光源１１−１、１１−２は光パルスを発生する
光源であって、半導体レーザ等で構成される。光源１１
−１は１．３１μｍの波長の光パルスを、また、光源１
１−２は１．５５μｍの波長の光パルスをそれぞれ発生
して光合波器１２へ出射する。そして、光合波器１２
は、光源１１−１と光源１１−２から入射される光パル
スを、ＷＤＭ（Ｗave length Ｄivision Ｍultiplex
ing；波長分割多重）により合波される光パルスとして
光カプラ１３へ出射する。この光カプラ１３は、光合波
器１２から入射される光パルスを被測定光ファイバ１４
へ出射する。
実施形態について説明する。図１は同実施形態による光
パルス試験器の構成を示すブロック図である。この図に
おいて、光源１１−１、１１−２は光パルスを発生する
光源であって、半導体レーザ等で構成される。光源１１
−１は１．３１μｍの波長の光パルスを、また、光源１
１−２は１．５５μｍの波長の光パルスをそれぞれ発生
して光合波器１２へ出射する。そして、光合波器１２
は、光源１１−１と光源１１−２から入射される光パル
スを、ＷＤＭ（Ｗave length Ｄivision Ｍultiplex
ing；波長分割多重）により合波される光パルスとして
光カプラ１３へ出射する。この光カプラ１３は、光合波
器１２から入射される光パルスを被測定光ファイバ１４
へ出射する。
【０００７】被測定光ファイバ１４に光パルスが入射さ
れ伝搬されると、この光パルスの散乱光の一部が後方散
乱光として入射端に戻ってくる。また、被測定光ファイ
バ１４の破断点や終端点においては、大きな反射光が生
じて入射端に戻ってくる。この後方散乱光等の反射光
は、反射点までの距離に比例した時間を経過した後に、
順次、被測定光ファイバ１４から光カプラ１３に入射さ
れて、反射光のみ分岐されて光分波器１５に入射され
る。この光分波器１５は、入力される反射光をＷＤＭに
より１．３１μｍの波長の反射光と１．５５μｍの波長
の反射光とに分波し、１．３１μｍの波長の反射光を短
波長域通過形フィルタ１６へ、１．５５μｍの波長の反
射光を長波長域通過形フィルタ１７へそれぞれ出射す
る。そして、短波長域通過形フィルタ１６は、１．３１
μｍの波長の光強度の検出精度を高めるために、この入
射された反射光にまだ含まれている１．５５μｍの波長
の反射光をさらに減衰させる。そして、この減衰された
反射光を１．３１μｍの波長の反射光として光検出器１
８−１へ出射する。この光検出器１８−１は、入射され
た１．３１μｍの波長の反射光から光強度を検出する。
一方、長波長域通過形フィルタ１７は、１．５５μｍの
波長の光強度の検出精度を高めるために、光分波器１５
から入射された反射光にまだ含まれている１．３１μｍ
の波長の反射光をさらに減衰させる。そして、この減衰
された反射光を、１．５５μｍの波長の反射光として光
検出器１８−２へ出射する。この光検出器１８−２は、
入射された１．５５μｍの波長の反射光から光強度を検
出する。光検出器１８−１、１８−２は、ＡＰＤ（Ａva
lache Ｐhoto Ｄiode）等により構成される。
れ伝搬されると、この光パルスの散乱光の一部が後方散
乱光として入射端に戻ってくる。また、被測定光ファイ
バ１４の破断点や終端点においては、大きな反射光が生
じて入射端に戻ってくる。この後方散乱光等の反射光
は、反射点までの距離に比例した時間を経過した後に、
順次、被測定光ファイバ１４から光カプラ１３に入射さ
れて、反射光のみ分岐されて光分波器１５に入射され
る。この光分波器１５は、入力される反射光をＷＤＭに
より１．３１μｍの波長の反射光と１．５５μｍの波長
の反射光とに分波し、１．３１μｍの波長の反射光を短
波長域通過形フィルタ１６へ、１．５５μｍの波長の反
射光を長波長域通過形フィルタ１７へそれぞれ出射す
る。そして、短波長域通過形フィルタ１６は、１．３１
μｍの波長の光強度の検出精度を高めるために、この入
射された反射光にまだ含まれている１．５５μｍの波長
の反射光をさらに減衰させる。そして、この減衰された
反射光を１．３１μｍの波長の反射光として光検出器１
８−１へ出射する。この光検出器１８−１は、入射され
た１．３１μｍの波長の反射光から光強度を検出する。
一方、長波長域通過形フィルタ１７は、１．５５μｍの
波長の光強度の検出精度を高めるために、光分波器１５
から入射された反射光にまだ含まれている１．３１μｍ
の波長の反射光をさらに減衰させる。そして、この減衰
された反射光を、１．５５μｍの波長の反射光として光
検出器１８−２へ出射する。この光検出器１８−２は、
入射された１．５５μｍの波長の反射光から光強度を検
出する。光検出器１８−１、１８−２は、ＡＰＤ（Ａva
lache Ｐhoto Ｄiode）等により構成される。
【０００８】このように、図１の実施形態は、光源１１
−１、１１−２からの異なる波長の光パルスを光合波器
１２によって合波し、光カプラ１３を介して被測定光フ
ァイバ１４へ出射する。そして、被測定光ファイバ１４
から戻る反射光を光カプラ１３にて分岐し光分波器１５
によって異なる波長毎に分波する。この分波された異な
る波長毎の反射光の光強度を光検出器１８−１、１８−
２によって同時に検出するようにしたので、同時に複数
の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光の光強度を測定することができる。なお、
上記実施形態においては、短波長域通過形フィルタ１６
や長波長域通過形フィルタ１７を設けたが、この理由
は、光分波器１５から出射される反射光に含まれる不要
な波長の反射光の光強度が無視できないレベルにあるた
め、不要な波長の反射光を減衰させて光検出器１８−
１、１８−２における波長毎の光強度の検出精度を高め
たいからである。したがって、光分波器１５から出射さ
れる反射光に含まれる不要な波長の反射光の光強度が無
視できる場合には、これらのフィルタ１６、１７を設け
る必要は無い。
−１、１１−２からの異なる波長の光パルスを光合波器
１２によって合波し、光カプラ１３を介して被測定光フ
ァイバ１４へ出射する。そして、被測定光ファイバ１４
から戻る反射光を光カプラ１３にて分岐し光分波器１５
によって異なる波長毎に分波する。この分波された異な
る波長毎の反射光の光強度を光検出器１８−１、１８−
２によって同時に検出するようにしたので、同時に複数
の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光の光強度を測定することができる。なお、
上記実施形態においては、短波長域通過形フィルタ１６
や長波長域通過形フィルタ１７を設けたが、この理由
は、光分波器１５から出射される反射光に含まれる不要
な波長の反射光の光強度が無視できないレベルにあるた
め、不要な波長の反射光を減衰させて光検出器１８−
１、１８−２における波長毎の光強度の検出精度を高め
たいからである。したがって、光分波器１５から出射さ
れる反射光に含まれる不要な波長の反射光の光強度が無
視できる場合には、これらのフィルタ１６、１７を設け
る必要は無い。
【０００９】図２は、上述した光パルス試験器の表示波
形例である。そして、図３はこの表示波形例に表示され
ている波形が測定された光ファイバ線路の構成例であっ
て、光パルス試験器３１は光分波合波器３２と被測定光
ファイバ３３によって接続される。そして、被測定光フ
ァイバ３４と被測定光ファイバ３５は、ともに光分波合
波器３２に接続されている。光パルス試験器３１によっ
て１．３１μｍと１．５５μｍの波長の光パルスが合波
された光パルスは、被測定光ファイバ３３に入射され
る。この被測定光ファイバ３３から光分波合波器３２に
入射された光パルスは、光分波合波器３２によってＷＤ
Ｍ等により１．３１μｍの波長の光パルスと１．５５μ
ｍの波長の光パルスとに分波される。そして、１．３１
μｍの光パルスは被測定光ファイバ３４に入射され、
１．５５μｍの波長の光パルスは被測定光ファイバ３５
に入射される。そして、被測定光ファイバ３４、３５か
ら後方散乱光等の反射光がそれぞれ光分波合波器３２に
入射されて、ＷＤＭ等により合波される。この光分波合
波器３２によって合波された光パルスは、被測定光ファ
イバ３３を介して光パルス試験器３１に入射される。
形例である。そして、図３はこの表示波形例に表示され
ている波形が測定された光ファイバ線路の構成例であっ
て、光パルス試験器３１は光分波合波器３２と被測定光
ファイバ３３によって接続される。そして、被測定光フ
ァイバ３４と被測定光ファイバ３５は、ともに光分波合
波器３２に接続されている。光パルス試験器３１によっ
て１．３１μｍと１．５５μｍの波長の光パルスが合波
された光パルスは、被測定光ファイバ３３に入射され
る。この被測定光ファイバ３３から光分波合波器３２に
入射された光パルスは、光分波合波器３２によってＷＤ
Ｍ等により１．３１μｍの波長の光パルスと１．５５μ
ｍの波長の光パルスとに分波される。そして、１．３１
μｍの光パルスは被測定光ファイバ３４に入射され、
１．５５μｍの波長の光パルスは被測定光ファイバ３５
に入射される。そして、被測定光ファイバ３４、３５か
ら後方散乱光等の反射光がそれぞれ光分波合波器３２に
入射されて、ＷＤＭ等により合波される。この光分波合
波器３２によって合波された光パルスは、被測定光ファ
イバ３３を介して光パルス試験器３１に入射される。
【００１０】この光パルス試験器３１に入射される光パ
ルスは、１．３１μｍと１．５５μｍの異なる波長の光
パルスを含んでおり、上述した光パルス試験器３１によ
って同時にそれぞれの波長の光強度が測定される。次に
図２において、横軸は上述した光検出器１８−１、１８
−２によって検出された反射光の伝搬時間が距離に換算
される表示であって、光パルス試験器３１から各観測点
までの往復の距離を示しており、図中、左端にゆくほど
光パルス試験器３１に近く、右端にゆくほど光パルス試
験器３１から遠くなっている。縦軸は光検出器１８−
１、１８−２によって検出された被測定光ファイバ３
３、３４、３５からの反射光の光強度を示している。こ
こで、図３の光ファイバ線路において、光パルス試験器
３１の各波長の光パルス出力の差は無く、被測定光ファ
イバの接続点における光強度の損失及び光の反射率には
各波長での差は無く、光パルス試験器３１に具備される
上述した光検出器１８−１、１８−２の受光感度には各
波長での差は無い条件である。同図の波形Ｗ１は１．３
１μｍの波長の反射光の光強度を示す波形であって、観
測点ＥＤ１から観測点ＥＤ２までの区間の波形は光パル
ス試験器３１から光分波合波器３２までの被測定光ファ
イバ３３から戻る反射光の光強度を示している。ここ
で、観測点ＥＤ１と観測点ＥＤ２間の波形の傾きが被測
定光ファイバ３３の線路損失である。そして、観測点Ｅ
Ｄ２から右の区間の波形は光分波合波器３２から先の被
測定光ファイバ３４から戻る反射光の光強度を示してお
り、同様に波形の傾きが被測定光ファイバ３４の線路損
失である。
ルスは、１．３１μｍと１．５５μｍの異なる波長の光
パルスを含んでおり、上述した光パルス試験器３１によ
って同時にそれぞれの波長の光強度が測定される。次に
図２において、横軸は上述した光検出器１８−１、１８
−２によって検出された反射光の伝搬時間が距離に換算
される表示であって、光パルス試験器３１から各観測点
までの往復の距離を示しており、図中、左端にゆくほど
光パルス試験器３１に近く、右端にゆくほど光パルス試
験器３１から遠くなっている。縦軸は光検出器１８−
１、１８−２によって検出された被測定光ファイバ３
３、３４、３５からの反射光の光強度を示している。こ
こで、図３の光ファイバ線路において、光パルス試験器
３１の各波長の光パルス出力の差は無く、被測定光ファ
イバの接続点における光強度の損失及び光の反射率には
各波長での差は無く、光パルス試験器３１に具備される
上述した光検出器１８−１、１８−２の受光感度には各
波長での差は無い条件である。同図の波形Ｗ１は１．３
１μｍの波長の反射光の光強度を示す波形であって、観
測点ＥＤ１から観測点ＥＤ２までの区間の波形は光パル
ス試験器３１から光分波合波器３２までの被測定光ファ
イバ３３から戻る反射光の光強度を示している。ここ
で、観測点ＥＤ１と観測点ＥＤ２間の波形の傾きが被測
定光ファイバ３３の線路損失である。そして、観測点Ｅ
Ｄ２から右の区間の波形は光分波合波器３２から先の被
測定光ファイバ３４から戻る反射光の光強度を示してお
り、同様に波形の傾きが被測定光ファイバ３４の線路損
失である。
【００１１】一方、波形Ｗ２は１．５５μｍの波長の反
射光における波形であって、観測点ＥＤ１から観測点Ｅ
Ｄ３までの区間の波形は光パルス試験器３１から光分波
合波器３２までの被測定光ファイバ３３から戻る反射光
の光強度を示している。ここで、観測点ＥＤ１と観測点
ＥＤ３間の波形の傾きが被測定光ファイバ３３の線路損
失である。そして、観測点ＥＤ３から右の区間の波形は
光分波合波器３２から先の被測定光ファイバ３５から戻
る反射光の光強度を示しており、同様に波形の傾きが被
測定光ファイバ３５の線路損失である。このように、上
述した実施形態による光パルス試験器は、１本の光ファ
イバを光分波合波器３２によって異なる波長の光パルス
毎の光ファイバに分岐させる光ファイバ線路において、
各波長の反射光の光強度を同時に測定することができる
ので分岐された各光ファイバの反射光の光強度が分か
り、すなわち、各光ファイバ線路の損失、断線及び接続
異常などを測定することができる。
射光における波形であって、観測点ＥＤ１から観測点Ｅ
Ｄ３までの区間の波形は光パルス試験器３１から光分波
合波器３２までの被測定光ファイバ３３から戻る反射光
の光強度を示している。ここで、観測点ＥＤ１と観測点
ＥＤ３間の波形の傾きが被測定光ファイバ３３の線路損
失である。そして、観測点ＥＤ３から右の区間の波形は
光分波合波器３２から先の被測定光ファイバ３５から戻
る反射光の光強度を示しており、同様に波形の傾きが被
測定光ファイバ３５の線路損失である。このように、上
述した実施形態による光パルス試験器は、１本の光ファ
イバを光分波合波器３２によって異なる波長の光パルス
毎の光ファイバに分岐させる光ファイバ線路において、
各波長の反射光の光強度を同時に測定することができる
ので分岐された各光ファイバの反射光の光強度が分か
り、すなわち、各光ファイバ線路の損失、断線及び接続
異常などを測定することができる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によれば、異なる波長の光パルスを発生させて、この
異なる波長の光パルスを合波し被測定光線路に入射させ
ると共に、被測定光線路から戻ってくる後方散乱光等の
反射光を分岐し、この分岐された反射光を発生させた光
パルスの波長毎に分波して反射光毎の光強度などの時系
列的変化を同時に検出するようにしたので、同時に複数
の波長の光パルスを使用して被測定光線路から戻ってく
る反射光の時系列的変化を測定することができる効果が
得られる。
明によれば、異なる波長の光パルスを発生させて、この
異なる波長の光パルスを合波し被測定光線路に入射させ
ると共に、被測定光線路から戻ってくる後方散乱光等の
反射光を分岐し、この分岐された反射光を発生させた光
パルスの波長毎に分波して反射光毎の光強度などの時系
列的変化を同時に検出するようにしたので、同時に複数
の波長の光パルスを使用して被測定光線路から戻ってく
る反射光の時系列的変化を測定することができる効果が
得られる。
【００１３】請求項２記載の発明によれば、時系列的変
化が検出される反射光に含まれる不要な波長の反射光が
減衰されるようにしたので、被測定光線路から戻ってく
る反射光の時系列的変化をさらに精度良く測定すること
ができる効果が得られる。請求項３記載の発明によれ
ば、測定された複数の波長の反射光の時系列的変化を同
時に波形として表示するようにしたので、各波長毎の被
測定光線路の損失を同時に測定することができる効果が
得られる。請求項４記載の発明によれば、１本の光ファ
イバを異なる波長の光パルス毎の光ファイバに分岐させ
て各被測定光線路から戻ってくる反射光の時系列的変化
を測定するようにしたので、異なる波長毎に分岐された
被測定光線路の損失、断線及び接続異常などを測定する
ことができる効果が得られる。
化が検出される反射光に含まれる不要な波長の反射光が
減衰されるようにしたので、被測定光線路から戻ってく
る反射光の時系列的変化をさらに精度良く測定すること
ができる効果が得られる。請求項３記載の発明によれ
ば、測定された複数の波長の反射光の時系列的変化を同
時に波形として表示するようにしたので、各波長毎の被
測定光線路の損失を同時に測定することができる効果が
得られる。請求項４記載の発明によれば、１本の光ファ
イバを異なる波長の光パルス毎の光ファイバに分岐させ
て各被測定光線路から戻ってくる反射光の時系列的変化
を測定するようにしたので、異なる波長毎に分岐された
被測定光線路の損失、断線及び接続異常などを測定する
ことができる効果が得られる。
【図１】 この発明の一実施形態による光パルス試験器
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】 この発明の光パルス試験器の表示波形例であ
る。
る。
【図３】 図２の表示波形が測定される光ファイバ線路
の構成例である。
の構成例である。
１１−１、１１−２ 光源 １２ 光合波器 １３ 光カプラ １４ 被測定光ファイバ １５ 光分波器 １６ 短波長域通過形フィルタ １７ 長波長域通過形フィルタ １８−１、１８−２ 光検出器
Claims (4)
- 【請求項１】 複数の波長の光パルスを発生する光パル
ス発生手段と、 前記光パルス発生手段によって発生される複数の波長の
光パルスを合波する光合波手段と、 前記光合波手段によって合波された光パルスを第一の被
測定光線路に入射すると共に、前記第一の被測定光線路
から戻る反射光を分岐する光分岐手段と、 前記反射光を異なる波長毎に分波する光分波手段と、 前記光分波手段によって異なる波長毎に分波される複数
の反射光の時系列的変化を同時に検出する光検出手段
と、 を具備してなる光パルス試験器。 - 【請求項２】 前記光分波手段で分波される前記反射光
に含まれる不要な波長の反射光を減衰する光減衰手段を
有することを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験
器。 - 【請求項３】 前記光検出手段が検出する複数の反射光
の時系列的変化を、同時に波形として表示する表示手段
を有することを特徴とする請求項１または請求項２に記
載の光パルス試験器。 - 【請求項４】 前記第一の被測定光線路から出射される
光パルスを異なる波長毎の複数の光パルスに分波し、分
波された前記光パルス毎に異なる第二の被測定光線路に
入射し、また、異なる前記第二の被測定光線路から戻る
反射光を合波して前記第一の被測定光線路に入射する光
分波合波手段を有することを特徴とする請求項１乃至請
求項３のいずれかの項に記載の光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24412999A JP2001066221A (ja) | 1999-08-30 | 1999-08-30 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24412999A JP2001066221A (ja) | 1999-08-30 | 1999-08-30 | 光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001066221A true JP2001066221A (ja) | 2001-03-16 |
Family
ID=17114206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24412999A Withdrawn JP2001066221A (ja) | 1999-08-30 | 1999-08-30 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001066221A (ja) |
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- 1999-08-30 JP JP24412999A patent/JP2001066221A/ja not_active Withdrawn
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