JPH10227719A - 光線路監視システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 異なる複数波長の光について観測、試験が可
能な光線路監視システムにおいて、コンパクト化や低コ
スト化が求められていた。 【解決手段】 光パルス試験器５０と接続されて試験光
線路５２を複数の光線路５９、６０に分岐する光合分波
器５８と、該光合分波器５８によって分離された光線路
５９、６０を光スイッチ５５に対して選択的かつ切替可
能に接続する選択装置５３とを試験光線路５２の途中に
介在し、光合分波器５８と選択装置５３とを接続する光
線路のいずれかに光パルス試験器５０方向への通信波長
の光の伝送を遮断しかつ試験光波長の光を通過させる光
フィルタ６１を介在してなる光線路監視システムを提供
し、目的波長の光のみを光パルス試験器５０で受光して
観測できるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光線路監視システ
ムに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光線路の断線等を検出する周知の光パル
ス試験では、通信光線路の途中に光パルス試験器（ＯＴ
ＤＲ：Optical Time Domain Reflectometer）を接続
して光線路監視システムを構成し、光パルス試験器から
通信光へ入射した試験光の反射光や後方散乱光を光パル
ス試験器で観測することが一般的である。この光線路監
視システムでは、通信光と異なる波長の試験光を使用す
ることで、通信光（現用光）が存在する通信光線路の活
線監視を実施することができる。ところで、光パルス試
験器にて試験光の反射光や後方散乱光のみならず通信光
をも受光してしまうと、通信波長の受光データが反射光
や後方散乱光の観測精度に影響を与えるため、通信波長
と試験波長とを区別して受光することで試験光の反射光
や後方散乱光の観測精度を向上することができる光線路
監視システムの開発が要求されていた。

【０００３】図４は、前記要求に鑑みて構成された光線
路監視システムを示す。図４中符号１は光パルス試験器
（ＯＴＤＲ）、２１は選択装置、２は心線選択部、６は
光スイッチ（心線選択装置）、７は光部品収納ケース、
８は試験光線路、９は通信光線路である。光線路監視シ
ステムは、光パルス試験器１と、選択装置２１と、心線
選択部２とを備えて構成される。光パルス試験器１と心
線選択部２との間は、選択装置２１にて光パルス試験器
１と接続された試験光配線８によって光接続される。な
お、試験光線路８や通信光線路９は、光ファイバ等から
構成された光配線である。

【０００４】心線選択部２は光スイッチ６と光部品収納
ケース７とを備えている。光スイッチ６は、１あるいは
複数の光部品収納ケース７に対応し、例えば２０００本
の単心の光ファイバ１１に対して、試験光配線８、８を
選択的に接続する。具体的には、光スイッチ６はメカニ
カル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、２本
の試験光配線８、８のそれぞれの端末に設けた単心光フ
ァイバを可動ヘッド１２に搭載し、該可動ヘッド１２を
図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に位
置決めすることで、固定側の目的の光ファイバ１１、１
１とそれぞれ接続する。なお、可動ヘッド１２、１２の
制御は光スイッチ６内蔵のＣＰＵによりなされる。光部
品収納ケース７は、光スイッチ６から引き出された単心
あるいは多心の光ファイバ１１ａと、この光ファイバ１
１ａの途中に介在させた光合分波器１０（光カプラ）と
を収納し、光ファイバ１１ａと通信光線路９とを光合分
波器１０を介して接続する。また、光部品収納ケース７
は、図示していない伝送装置側の光線路が接続されるコ
ネクタ接続用ポート１４と、通信光線路９を接続するコ
ネクタ接続用ポート１３とを有し、これらのコネクタ接
続用ポート１３、１４を介して通信光線路９や光ファイ
バ１１ａを伝送装置側の光線路と接続する。また、光フ
ァイバ１１ａはコネクタ接続用ポート６ａを介して光ス
イッチ６と接続される。

【０００５】光パルス試験器１は、現用光確認や光線路
監視システム自体の配線確認等に使用する受光部２２
（ＰＤ：フォトダイオード）と、波長１．５５μｍ試験
光用の光源２３（１．５５ＬＤ：波長１．５５μｍの試
験光を出射する半導体レーザ。以下「１．５５光源」）
と、波長１．３１μｍ試験光用の光源２４（１．３１Ｌ
Ｄ：波長１．３１μｍの試験光を出射する半導体レー
ザ。以下「１．３１光源」）と、受光部２５（ＡＰＤ：
アバランシェ フォト ダイオード）と、モニタ用受光
部２６（ＰＤ：フォトダイオード）とを備えている。
１．５５光源２３と１．３１光源２４にはこれらから入
射される試験光を伝送する試験光線路２７、２８を接続
している。これら試験光線路２７、２８は、ＷＤＭ光カ
プラ３１、３４を介して選択装置２１に導入され、この
選択装置２１にてそれぞれ心線選択部２の目的の試験光
配線８と選択的に接続される。

【０００６】試験光線路２７に介在した光カプラ３１は
該試験光線路２７から波長１．５５μｍ光を分波出射す
る出射ポートを複数有し、これら出射ポートには受光線
路２９やモニタ用受光線路３２を接続している。受光線
路２９は受光部２５と接続し、モニタ用受光線路３０は
モニタ用受光部２６に接続している。試験光線路２８に
介在した光カプラ３４は該試験光線路２８から波長１．
３１μｍ光を分波出射する出射ポートを複数有し、これ
ら出射ポートには受光線路３５やモニタ用受光線路３０
を接続している。受光線路２９は受光部２５と接続さ
れ、試験光線路２７から分離された波長１．５５μｍ光
を受光部２５に伝送する。また、この受光線路２９の途
中には光カプラ３６を介して受光線路３５が接続され、
該受光線路３５から伝送された１．３１μｍ光が受光部
２５に入射されるようになっている。モニタ用受光線路
３２は、モニタ用受光線路３０に介在させたＷＤＭ光カ
プラ３３と接続され、試験光線路２７から分離した１．
５５μｍ光をこの光カプラ３３を介してモニタ用受光線
路３０に伝送することで、該モニタ用受光線路３０に接
続したモニタ用受光部２６へ入射する。モニタ用受光線
路３０は、この光カプラ３４によって試験光線路２８か
ら分波された波長１．３１μｍ光をモニタ用受光部２６
に伝送する。

【０００７】この光線路監視システムでは、光スイッチ
６にて目的の光ファイバ８、１１同士を接続し、さらに
選択装置２１にて目的の試験光線路８を光パルス試験器
１側の試験光線路２７あるいは２８のいずれかと接続す
ることで、目的の通信光線路９と光パルス試験器１とが
接続される。そして、光パルス試験器１から試験光配線
８に入射した試験光を、光スイッチ６、光部品収納ケー
ス７を介して通信光線路９へ入射し、この逆順で光パル
ス試験器１に帰還した反射光または後方散乱光を受光部
２５で受光して観測することで、周知の光パルス試験を
行う。試験波長としては、通信波長である１．３１μ
ｍ、あるいは通信光とは異なる波長としては例えば１．
５５μｍや１．６５μｍを用いることが一般的である。

【０００８】１．３１μｍ試験光で試験を実施する場合
には、受光部２２を試験目的の通信光線路９と接続して
現用光が無いことを確認してから試験光を入射する。こ
れにより、この光学系では、１．３１μｍの試験を実施
しても、受光部２５に現用光の影響を与える心配は無
い。１．３１光源２４からの光パルスは光カプラ３４を
介して出力され、その反射光は、光カプラ３４から受光
線路３５および光カプラ３６を介して受光部２５にのみ
伝送される。なお、受光部２２は、光スイッチ６に設置
した試験ポート１５、１６およびループバック用光ファ
イバ１７によって構成されるループバック線路や、光部
品収納ケース７内で光合分波器１０を介して接続された
２本の光ファイバ１１ａ、１１ａによって構成されるル
ープバック線路を利用して、ループバックした試験光を
受光することで光線路監視システム自体の配線確認や損
失試験等にも利用される。

【０００９】ところで、前記光線路監視システムでは、
通信光線路９で例えば１．３１μｍの通信を行っている
最中に、通信光と異なる例えば波長１．５５μｍの試験
光を用いた活線監視等の試験を実施する場合がある。こ
の試験では、試験光線路２７を心線選択部２および選択
装置２１によって目的の通信光線路９と接続し、一方、
試験光線路２８と通信光線路９との接続は解除してお
き、この状態で１．５５光源から試験光を出力する。
１．５５光源２３からの光パルスは光カプラ３１を介し
て出力され、その反射光は、光カプラ３１から受光線路
２９を介して受光部２５にのみ伝送される。この時、Ｗ
ＤＭ光カプラ３１が波長１．５５μｍ光のみを受光線路
２９に伝送し、１．５５μｍ以外の波長の光の伝送を遮
断するので、受光部２５は１．５５μｍ光のみを受光す
る。したがって、この光学系では、現用光の存在する状
況下で１．５５μｍ波長を用いた試験を実施しても、受
光部２５に現用光の影響を与える心配は無い。

【００１０】また、この光線路監視システムでは、１．
５５光源２３から出力した試験光を光カプラ３１からモ
ニタ用受光線路３２、光カプラ３３を介してモニタ用受
光部２６で受光することで、１．５５光源２３の発光状
態を試験することができる。同様に、１．３１光源２４
についても、出力した試験光を光カプラ３４からモニタ
用受光線路３０を介してモニタ用受光部２６で受光する
ことで、１．３１光源２４の発光状態を試験することが
できる。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
な光線路監視システムの場合、１．３１μｍ光と１．５
５μｍ光の入出力ポートが別であり、使用する光部品が
多数であり、光パルス試験器１内の光線路も複雑になる
ので、光パルス試験器１が大型になって組み立てに手間
がかかるとともに、コストが上昇するといった問題があ
った。

【００１２】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
のであって、以下の効果が得られる光線路監視システム
を提供することを目的とする。 （１）簡便な構成により、光パルス試験器にて目的波長
の光を選択に受光して観測することができ、光線路の試
験精度が向上する。 （２）構成が単純であり、光回路を作成するコストを減
らすことができ、しかもコンパクト化、低コスト化でき
る。

【００１３】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、光線路に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で
反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パ
ルス試験器と、複数の光線路に対して前記光パルス試験
器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチとを備え
た光線路監視システムであって、前記光パルス試験器に
接続される試験光線路を複数の光線路に分岐する光合分
波器と、該光合分波器によって分岐した光線路をそれぞ
れ光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選
択装置とを試験光線路の途中に介在し、選択装置と光合
分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に光パ
ルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試
験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなること
を特徴とする光線路監視システムを前記課題の解決手段
とした。

【００１４】この構成によれば、選択装置と光合分波器
との間を接続する光線路の内、光フィルタを介在した光
線路が試験波長光のみを伝送する試験波長光線路として
機能し、その以外が試験波長光および通信波長光を伝送
する光線路（以下、「通信波長光線路」）として機能す
る。光スイッチとしては、例えば試験光線路側光ファイ
バと通信光線路側光ファイバとを、１対ｎあるいは２対
ｎで選択的かつ切替可能に接続する心選択装置等を採用
する。選択装置としては、光パルス試験器側の試験光線
路を構成する光ファイバに対して、試験波長光線路や通
信波長光線路を構成する光ファイバを、例えば２対ｎで
選択的かつ切替可能に接続する装置や、１対２スイッチ
等の採用が可能である。この選択装置の制御は自動、手
動のいずれであっても良いが、ＣＰＵを搭載した制御装
置による自動制御で、試験光線路に接続する試験波長光
線路や通信波長光線路を切り替える構成であることが好
ましい。また、目的の試験光線路に対して試験波長光線
路と通信波長光線路のいずれか一方を選択的に接続する
構成であるので、試験波長光線路と試験光線路とを接続
した際に通信波長光線路と試験光線路とを接続しない。
これにより、試験波長光の受光時には、通信波長光線路
から光パルス試験器への通信光の入射が防止される。ま
た、試験光線路に対して試験波長光線路や通信波長光線
路を１対２で接続する１対２スイッチを採用した場合に
は、選択装置の構成が単純になり低コスト化できるとと
もに、試験光線路に試験波長光線路を接続した時、通信
波長光線路と試験光線路との接続が自動的に解除され、
光パルス試験器への通信光の入射が防止される。

【００１５】光パルス試験器は、通信光と異なる波長の
試験光の他に、通信光と波長の同じ試験光（例えば波長
１．３１μｍ）をも試験光線路に入射可能な構成であっ
てもよい。通信波長の試験光は通信光線路の損失測定試
験等に使用される。通信波長の試験光を用いた試験は、
通信光線路に通信光が存在しないことを確認した後、選
択装置で試験光線路に通信波長光線路を接続して実施す
る。なお、通信光線路での通信光の有無を確認するに
は、選択装置で試験光線路に通信波長光線路を接続して
光パルス試験器で受光した光を観測する。光パルス試験
器が試験光線路に入射する試験光は、通信光線路を試験
する周知の光パルス試験や光線路監視システム自体の試
験等に使用されるものであり、通信光と異なる波長とし
ては１．５５μｍや１．６５μｍ等が採用される。光合
分波器は、通信波長の光と試験波長の光とを合波あるい
は分波する光デバイスである。この光合分波器としては
各種構成の採用が可能であるが、ＷＤＭ形光カプラ等の
小型かつ安価に形成することができる光構成を採用する
ことが好ましい。

【００１６】請求項２記載の発明では、光線路に光パル
スを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測
定して光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数
の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替
可能に接続する光スイッチとを備えた光線路監視システ
ムであって、前記光パルス試験器に接続した試験光線路
を複数の光線路に対して選択的かつ切替可能に接続する
選択装置と、該選択装置において試験光線路に対して接
続される複数の光線路が一方の端部に接続され、他方の
端部が前記光スイッチと接続される光合分波器とを備
え、選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のい
ずれかの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の
伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ
を介在してなることを特徴とする光線路監視システムを
前記課題の解決手段とした。

【００１７】この構成によれば、選択装置と光合分波器
との間を接続する光線路の内、光フィルタを介在した光
線路が試験波長光のみを伝送する試験波長光線路として
機能し、その以外が試験波長光および通信波長光を伝送
する光線路（以下、「通信波長光線路」）として機能す
る。光スイッチや光合分波器、選択装置としては、請求
項１記載の発明と同様に、各種構成の採用が可能であ
る。

【００１８】請求項３記載の発明では、光線路に光パル
スを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測
定して光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数
の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替
可能に接続する光スイッチとを備えた光線路監視システ
ムであって、光パルス試験器は通信波長の光を受光して
観測する通信波長受光部と、試験波長の光を受光して観
測する試験波長受光部とを備え、試験光線路は光合分波
器を介して通信波長の光を伝送する通信波長光線路と試
験波長の光を伝送する試験波長光線路とを備え、通信波
長受光部に通信波長光線路を接続し、試験波長受光部に
試験波長光線路を接続したことを特徴とする光線路監視
システムを前記課題の解決手段とした。光スイッチや光
合分波器としては、請求項１記載の発明と同様に、各種
構成の採用が可能である。また、試験波長光線路には試
験波長の光のみを透過する光フィルタを介在させること
がより好ましく、これにより、試験精度を向上させるこ
とができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下本発明の第１実施形態の光線
路監視システムを図１を参照して説明する。図１中符号
５０は光パルス試験器（ＯＴＤＲ）であり、図示しない
光源を内蔵している。この光パルス試験器５０には試験
光線路５２を接続している。この光パルス試験器５０
は、試験光線路５２に１．３１μｍあるいは波長１．５
５μｍの２種類の試験光を入射することができる。

【００２０】試験光線路５２の途中には通信波長の光と
試験波長の光とを合波／分波する光合分波器５８（ＷＤ
Ｍ光カプラ）を介在している。この光合分波器５８は、
通信波長の光を伝送する通信波長光線路５９と試験波長
の光を伝送する試験波長光線路６０とに試験光線路５２
を分離する。通信波長光線路５９と試験波長光線路６０
とは、選択装置５３において、光スイッチ５５に接続さ
れた試験光線路５６に対して選択的かつ切替可能に接続
される。なお、試験波長光線路６０には、試験波長であ
る１．５５μｍ光を透過し、通信波長である１．３１μ
ｍ光を遮断する光フィルタ（図１中ＬＷＰ：Long Wave
Pass）を介在させている。

【００２１】選択装置５３は通信波長光線路５９と試験
波長光線路６０を、心線選択部５４側の試験光線路５６
に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置５３を
有する。この心線選択装置５３としては、各種タイプの
光路切替装置を採用することができる。通信に用いられ
る１．３１μｍ光は、光合分波器５８により合分波され
て、通信波長光線路５９と試験光線路５２とを伝搬し、
１．５５μｍ光は、同様に、試験波長光線路６０と試験
光線路５２とを伝搬する。

【００２２】心線選択部５４は、前記光スイッチ５５
と、光合分波器６２ａ等の光部品を収納した光部品収納
ケース６２とを備え、光スイッチ５５にて、光パルス試
験器５０側である試験光線路５６と加入者側である光フ
ァイバ６６とを切替可能に接続する。ここで用いられる
光スイッチのタイプとしては、例えば、移動自在な少な
くとも一本の可動側光ファイバと、複数本の固定側光フ
ァイバとを切替可能に接続するファイバ移動型のメカニ
カル方式の光スイッチである。図１では、例えば、光ス
イッチ５５として１対１０００スイッチを用いる。ここ
で、１対１０００スイッチとは、一本の可動側光ファイ
バを１０００本の固定側光ファイバへ切り替え接続する
スイッチを意味する。固定側光ファイバ６６は、Ｖ溝が
多数本設けられたＶ溝台（図示しない）に配列されてお
り、これに対して移動自在な可動ヘッド５５ａが位置決
め移動し、位置決め完了後において、Ｖ溝内において両
光ファイバが精密に位置決め接続される。

【００２３】光部品収納ケース６２は、図示しない伝送
装置と加入者線路との間に配置される。光合分波器６２
ａは通信光線路６５の途中に挿入され、光スイッチ５５
への光ファイバ６６を分岐する。なお、光部品収納ケー
ス６２や光スイッチ５５と、これらの周辺の光ファイバ
との接続は、光コネクタを介してなされる。

【００２４】以下、この光線路監視システムの作用およ
び効果を説明する。この光線路監視システムによれば、
通信光（現用光：例えば波長１．３１μｍ）確認と、波
長１．３１μｍの試験光を用いての損失測定等の試験
と、波長１．５５μｍの試験光を用いての活線監視等の
試験を実施することができる。通信光線路６５における
現用光確認は、光スイッチ５５にて目的の通信光線路６
５から分岐した光ファイバ６６と試験光線路５６とを接
続し、選択装置５３にて光ファイバ６６と接続した試験
光線路５６に通信波長光線路５９を接続し、光パルス試
験器５０にて受光した光を観測して現用光の有無を確認
する。波長１．３１μｍの試験光を用いた試験は、前記
現用光確認で現用光（１．３１μｍ光）が存在ししない
ことを確認してから、光線路の接続状態を維持したまま
光パルス試験器５０から波長１．３１μｍの試験光を試
験光線路５２、通信波長光線路５９を介して通信光線路
６５に入射し、その反射光（後方散乱光等）を光パルス
試験器５０で観測する。この時、通信光線路６５からの
反射光は、通信波長光線路５９を介して試験光線路５２
から光パルス試験器５０へ伝送される。

【００２５】波長１．５５μｍの試験光を用いた試験
は、光スイッチ５５にて試験対象の通信光線路６５に係
る光ファイバ６６と試験光線路５６を接続し、光ファイ
バ６６と接続した試験光線路５６に選択装置５３にて試
験波長光線路６０を接続した後、光パルス試験器５０か
ら試験光線路５２、試験波長光線路６０を介して波長
１．５５μｍの試験光を通信光線路６５へ入射し、その
反射光（後方散乱光等）を光パルス試験器５０で観測す
る。一方、通信波長光線路５９は試験光線路５６と接続
しない。入射した波長１．５５μｍ試験光の反射光は、
入射の場合と逆順で、試験波長光線路６０、光合分波器
５８、試験光線路５２の順に伝送されて光パルス試験器
５０に帰還する。この時、試験波長光線路６０では、波
長１．３１μｍ光の伝送を遮断しているので、光パルス
試験器５０へ現用光が伝送されることは無い。この試験
は現用光の有無にかかわらず実施することが可能である
が、試験波長光線路６０を通って帰還した反射光を光パ
ルス試験器５０で受光するため、光フィルタ６１によっ
て波長１．３１μｍ光が光パルス試験器５０に入射する
ことが防止され、これにより、光パルス試験器５０への
現用光の入射が防止され、光パルス試験器５０での反射
光の観測に現用光が影響を与える心配が無い。しかも、
光フィルタ６１によってノイズもカットされるので、試
験精度を向上することができる。また、光パルス試験器
５０に設置する試験ポートが一つで済み、反射光受光用
の受光部も一つで良いので、光パルス試験器５０の構成
が簡略化して、図４記載の光線路監視システムと比較し
て小型化、低コスト化できるといった優れた効果を奏す
る。

【００２６】以下、本発明の第２実施形態を図２を参照
して説明する。なお、図２中、図１と同一の構成部分に
は同一の符号を付し、その説明を簡略化する。図２中符
号７０は心線選択部であり、選択装置７１と、光スイッ
チ７２と、光部品収納ケース６２とを備えている。この
心線選択部７０は、例えば、選択装置７１、光スイッチ
７２、光部品収納ケース６２を同一の架体フレームに搭
載して構成される。選択装置７１には、光パルス試験器
５０と接続した試験光線路７３と、光スイッチ７２と接
続した試験光線路７４とを引き込んでいる。試験光線路
７４には光合分波器７５（光カプラ）を接続し、さら
に、この光合分波器７５を介して通信波長光線路７６と
試験波長光線路７７とを接続している。通信波長光線路
７６は、光合分波器７５において試験光線路７４に対し
て合波／分波される波長１．３１μｍの光を伝送する。
試験波長光線路７７は、光合分波器７５において試験光
線路７４に対して合波／分波される波長１．５５μｍの
光を伝送する。通信波長光線路７６および試験波長光線
路７７は、試験光線路７３と接続された選択装置７８
（１対２スイッチ）にて、試験光線路７３に対して選択
的かつ切替可能に接続される。試験波長光線路７７に
は、波長１．３１μｍ光の光パルス試験器５０方向への
入射を防止する光フィルタ７７ａ（ＬＷＰ：Long Wave
Pass）を介在させている。

【００２７】光スイッチ７２は、光パルス試験器５０と
接続された試験光線路７３、試験波長光線路７７を、光
部品収納ケース６２側の光ファイバ８０に対して選択的
かつ切替可能に接続する装置である。なお、光スイッチ
７２の構成は、図１記載の光スイッチ５５と同様である
ので、説明を省略する。

【００２８】以下、この光線路監視システムの作用およ
び効果を説明する。この光線路監視システムにて、現用
光確認や波長１．３１μｍの試験光による試験を実施す
るには、選択装置７８にて試験光線路７３と通信波長光
線路７６とを接続し、さらに光スイッチ７２にて試験光
線路７４を試験対象の通信光線路６５に係る光ファイバ
８０と接続する。そして、光パルス試験器５０にて受光
した光を観測することで、目的の通信光線路６５の現用
光の有無を確認する。目的の通信光線路６５に現用光が
無いことが確認できたら、１．３１μｍ試験光を光パル
ス試験器５０から出射し、その反射光を観測する。１．
３１μｍ試験光は、試験光線路７３から通信波長光線路
７６および光合分波器７５を経由して通信光線路６５に
入射され、その反射光は、入射時と逆の順で光パルス試
験器５０に帰還する。

【００２９】波長１．５５μｍの試験光による試験を実
施するには、選択装置７８にて試験光線路７３と試験波
長光線路７７とを接続するとともに、光スイッチ７２に
て試験光線路７４を試験対象の通信光線路６５に係る光
ファイバ８０と接続した後、１．５５μｍ試験光を光パ
ルス試験器５０から通信光線路６５へ入射し、光パルス
試験器５０にて反射光（後方散乱光等）を観測する。波
長１．５５μｍの反射光は光合分波器７５から試験波長
光線路７７を介して光パルス試験器５０に帰還する。こ
の時、試験波長光線路７７では、光フィルタ７７ａによ
り波長１．３１μｍ光がカットされるので、光パルス試
験器５０に１．３１μｍ光が入射することは無い。ま
た、選択装置７８では試験光線路７３が試験波長光線路
７７または通信波長光線路７６のいずれかに選択的に接
続されるため、試験波長光線路７７と接続されている時
には通信波長光線路７６との接続が解除されているの
で、１．５５μｍ試験光およびその反射光は試験波長光
線路７７に伝送され、しかも光フィルタ７７ａにより波
長１．３１μｍ光がカットされるので、これにより光パ
ルス試験器５０に１．３１μｍ光が入射することは無
く、光パルス試験器５０には波長１．５５μｍ光のみが
入射する。したがって、光パルス試験器５０における
１．５５μｍ反射光の観測に１．３１μｍ光が影響を与
える心配が無くなり、試験精度が向上する。また、本実
施形態においては光フィルタ７７ａは１．５５μｍ光を
透過し、１．３１μｍ光を遮断する特性を有する、例え
ば、誘電多層膜フィルタである。

【００３０】また、選択装置７８として１対２スイッチ
を採用したことにより、光線路監視システムのさらに一
層のコンパクト化や低コスト化を可能にする。また、光
パルス試験器５０に設置する試験ポートが一つで済み、
反射光受光用の受光部も一つで良いので、光パルス試験
器５０の構成が簡略化して、図４記載の光線路監視シス
テムと比較して小型化、低コスト化できるといった優れ
た効果を奏する。

【００３１】以下、本発明の第３実施形態の光線路監視
システムを、図３を参照して説明する。なお、図３中、
図２と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明
を簡略化する。図３中符号９０は光パルス試験器（ＯＴ
ＤＲ）である。この光パルス試験器９０は、波長１．３
１μｍの光を受光する通信波長受光部９１（ＡＰＤ：ア
バランシェ フォト ダイオード）と、波長１．５５μ
ｍの光を受光する試験波長受光部９２（ＡＰＤ：アバラ
ンシェ フォト ダイオード）と、図示しない光源とを
内蔵している。通信波長受光部９１や試験波長受光部９
２における受光観測データは、図示しないモニタにてそ
れぞれ個別に表示される。図中９４は、光パルス試験器
９０から試験光が入射される試験光線路であり、共に、
心線選択部９５に搭載した光スイッチ７２に引き込ま
れ、この光スイッチ７２にて光ファイバ８０と選択的か
つ切替可能に接続されることで目的の通信光線路６５と
接続される。

【００３２】試験光線路９４の光パルス試験器９０内に
引き込んだ部分には、光合分波器９６（ＷＤＭ光カプ
ラ）を介して試験光入射線路９７と受光線路９８とを接
続している。試験光入射線路１００は、図示しない光源
から入射された試験光を光合分波器９６を介して試験光
線路９４へ伝送する。前記光源は、１．３１μｍと１．
５５μｍの異なる２波長の試験光を出射可能である。受
光線路１０１には、試験光線路９４から光パルス試験器
９０への入射光が光合分波器９６を介して伝送される。
受光線路９８には、該受光線路９８の伝送光を１．３１
μｍと１．５５μｍの２種類の波長の光に分波する光合
分波器９９（光カプラ）を接続している。この光合分波
器９９には、試験光線路９４から分波した波長１．３１
μｍの光を伝送する通信波長光線路１００と、同じく分
波した波長１．５５μｍの光を伝送する試験波長光線路
１０１とを接続している。通信波長光線路１００は通信
波長受光部９１と接続し、試験波長光線路１０１は試験
波長受光部９２と接続しているので、試験光線路９４か
ら光パルス試験器９０へ入射される光は光合分波器９９
にて波長別に通信波長光線路１００と試験波長光線路１
０１とに振り分けられた後、通信波長受光部９１と試験
波長受光部９２とでそれぞれ受光される。心線選択部９
５は、光スイッチ７２と、光部品収納ケース６２とを備
えて構成される。

【００３３】この光線路監視システムでは、光スイッチ
７２にて試験対象の通信光線路６５に係る光ファイバ８
０に試験光線路９４を接続し、通信波長受光部９１で受
光した光を観測することで、現用光確認や波長１．３１
μｍの試験光を使用した試験を実施する。波長１．５５
μｍの試験光を用いた試験は、光スイッチ７２にて目的
の通信光線路６５に係る光ファイバ８０に試験光線路９
４を接続した後、光パルス試験器９０から試験光線路９
４を介して通信光線路６５へ試験光を入射し、入射した
試験光の反射光を試験波長受光部９２で受光して観測す
る。この時、波長１．３１μｍの光は光合分波器９９か
ら通信波長光線路１００を介して通信波長受光部９１へ
入射され、波長１．５５μｍの反射光は光合分波器９９
から試験波長光線路１０１を介して試験波長受光部９２
に入射されるので、通信光線路６５に現用光が存在する
時（活線状態）に試験を実施しても試験波長受光部９２
で波長１．３１μｍの光を受光する心配が無く、試験波
長受光部９２で受光した波長１．５５μｍの観測精度が
向上し、試験自体の精度を向上することができる。ま
た、図１や図２に示した光線路監視システムと比べて選
択装置等が不要であり、部品点数が減少するので、コン
パクト化や組み立て性の向上が可能である。

【００３４】

【発明の効果】請求項１記載の光線路監視システムによ
れば、光パルス試験器と接続されて試験光線路を通信波
長の光を伝送する通信波長光線路と試験波長の光を伝送
する試験波長光線路とに分離する光合分波器と、通信波
長光線路と試験波長光線路とを光スイッチに対して選択
的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途
中に介在し、試験波長光線路の途中に光パルス試験器方
向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を
通過させる光フィルタを介在してなる構成であり、通信
光と異なる波長の試験光を通信光線路に入射する試験で
は選択装置にて試験波長光線路を選択することで光スイ
ッチを介して試験対象の通信光線路と接続し、この試験
波長光線路を介して通信光線路に入射した試験光の反射
光を前記試験波長光線路の途中に介在した光フィルタを
通過させた後に光パルス試験器で受光して観測するの
で、（イ）光フィルタによって光パルス試験器への通信
波長の光を遮断しつつ試験波長の光を光パルス試験器で
受光するので、通信光線路に通信光が存在する時に試験
を実施しても通信光の影響が作用すること無く反射光の
観測を行うことができ、試験の精度を向上することがで
きる、（ロ）選択装置にて光スイッチに対する通信波長
光線路と試験波長光線路の接続を切り替えることによ
り、光パルス試験器での受光波長を選択することがで
き、これにより、光パルス試験器に設置する試験ポート
や受光部が一つで済むので、光パルス試験器の構成を簡
略化することができ、コンパクト化や低コスト化が可能
であるといった優れた効果を奏する。

【００３５】請求項２記載の光線路監視システムによれ
ば、光スイッチと接続されて試験光線路を通信波長の光
を伝送する通信波長光線路と試験波長の光を伝送する試
験波長光線路とに分離する光合分波器と、通信波長光線
路と試験波長光線路とを光パルス試験器に対して選択的
かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中
に介在してなる構成であり、通信光と異なる波長の試験
光を通信光線路に入射する試験では、選択装置にて試験
波長光線路を選択して光パルス試験器と接続することで
この試験波長光線路を介して試験対象の通信光線路と光
パルス試験器とを接続し、通信光線路に入射した試験光
の反射光を光合分波器から試験波長光線路を介して光パ
ルス試験器で受光して観測するので、（ハ）光合分波器
によって試験波長の光のみが光パルス試験器に入射され
ることになり、これにより、反射光の観測に通信光が与
える影響を防止でき、試験の精度を向上することができ
る、（ニ）選択装置にて光スイッチに対する通信波長光
線路と試験波長光線路の接続を切り替えることにより、
光パルス試験器での受光波長を選択することができ、こ
れにより、光パルス試験器に設置する試験ポートや受光
部が一つで済むので、光パルス試験器の構成を簡略化す
ることができ、コンパクト化や低コスト化が可能である
といった優れた効果を奏する。

【００３６】請求項３記載の光線路監視システムによれ
ば、光合分波器を介して試験光線路から通信波長の光が
伝送される通信波長光線路の伝送光を受光する通信波長
受光部と、前記光合分波器を介して試験光線路から試験
波長の光が伝送される試験波長光線路の伝送光を受光す
る試験波長受光部とを光パルス試験器に備えた構成であ
り、通信光と異なる波長の試験光を通信光線路に入射す
る試験では、通信光線路に入射した試験光の反射光を光
合分波器を介して通信波長光線路と試験波長光線路とに
振り分け、通信波長受光部と試験波長受光部とで波長別
に受光するので、（ヘ）試験波長受光部での反射光の観
測に通信光が影響を与えることが防止され、試験精度を
向上することができる、（ト）選択装置を設置すること
無く、試験光の反射光を通信波長受光部と試験波長受光
部とで波長別に受光することができるので、光線路監視
システムのコンパクト化や低コスト化が可能であるとい
った優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１実施形態の光線路監視システム
を示す平面図である。

【図２】 本発明の第２実施形態の光線路監視システム
を示す平面図である。

【図３】 本発明の第３実施形態の光線路監視システム
を示す平面図である。

【図４】 従来例の光線路監視システムを示す平面図で
ある。

【符号の説明】

５０…光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、５２…試験光線
路、５３…選択装置、５５…光スイッチ（心線選択装
置）、５８…光合分波器（光カプラ）、５９…通信波長
光線路、６０…試験波長光線路、６１…光フィルタ、６
５…通信光線路、７２…光スイッチ（心線選択装置）、
７３…試験光線路、７４…試験光線路、７５…光合分波
器（光カプラ）、７６…通信波長光線路、７７…試験波
長光線路、７８…選択装置（１対２スイッチ）、９０…
光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、９１…通信波長受光部
（ＡＰＤ）、９２…試験波長受光部（ＡＰＤ）、９４…
試験光線路、９９…光合分波器（光カプラ）、１００…
通信波長光線路、１０１…試験波長光線路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野村 義和 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光線路（６５）に光パルスを入射し、該
   光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の
   異常を検出する光パルス試験器（５０）と、複数の光線
   路（６５）に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切
   替可能に接続する光スイッチ（５５）とを備えた光線路
   監視システムであって、 前記光パルス試験器に接続される試験光線路（５２）を
   複数の光線路（５９、６０）に分岐する光合分波器（５
   ８）と、 該光合分波器によって分岐した光線路をそれぞれ光スイ
   ッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置
   （５３）とを試験光線路の途中に介在し、 選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のいずれ
   かの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送
   を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ（６
   １）を介在してなることを特徴とする光線路監視システ
   ム。
2. 【請求項２】 光線路（６５）に光パルスを入射し、該
   光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の
   異常を検出する光パルス試験器（５０）と、複数の光線
   路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に
   接続する光スイッチ（７２）とを備えた光線路監視シス
   テムであって、 前記光パルス試験器に接続した試験光線路（７３）を複
   数の光線路（７６、７７）に対して選択的かつ切替可能
   に接続する選択装置（７８）と、 該選択装置において試験光線路に対して接続される複数
   の光線路が一方の端部に接続され、他方の端部が前記光
   スイッチと接続される光合分波器（７５）とを備え、 選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のいずれ
   かの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送
   を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ（７
   ７ａ）を介在してなることを特徴とする光線路監視シス
   テム。
3. 【請求項３】 光線路（６５）に光パルスを入射し、該
   光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の
   異常を検出する光パルス試験器（９０）と、複数の光線
   路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に
   接続する光スイッチ（７２）とを備えた光線路監視シス
   テムであって、 光パルス試験器は通信波長の光を受光して観測する通信
   波長受光部（９１）と、試験波長の光を受光して観測す
   る試験波長受光部（９２）とを備え、 試験光線路は光合分波器（９９）を介して通信波長の光
   を伝送する通信波長光線路（１００）と試験波長の光を
   伝送する試験波長光線路（１０１）とを備え、 通信波長受光部（９１）に通信波長光線路（１００）を
   接続し、試験波長受光部（９２）に試験波長光線路（１
   ０１）を接続したことを特徴とする光線路監視システ
   ム。