KR101104554B1 - 통합 광선로 품질 특성 측정 장치 - Google Patents
통합 광선로 품질 특성 측정 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
또한, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 장치는, 통합 광선로 품질 특성 측정 장치에 있어서, 신호광을 출력하는 광원; 상기 신호광을 복수의 광선로로 순차적으로 전달하는 제 1 스위칭수단; 상기 복수의 광선로로부터 순차적으로 신호광을 전달받는 제 2 스위칭수단; 상기 제 2 스위칭수단을 통해 출력된 신호광에 대한 파장별 출력세기신호를 출력하는 편광모우드변환수단; 상기 파장별 출력세기신호에서 골(depth)의 수를 측정하고, 스펙트럼을 측정하여 상기 신호광에 대한 파장별 손실값을 측정하는 스펙트럼 측정수단; 입력단으로 상기 신호광과 상기 편광모우드변환수단의 출력신호를 각각 수신하고, 출력단에 상기 편광모우드변환수단의 입력단과 상기 스펙트럼측정수단의 입력단이 각각 연결되어, 입력신호에 대한 경로를 설정하는 제 1 경로설정수단; 상기 파장별 손실값과 상기 파장별 출력세기신호의 골의 수를 이용하여 상기 제 1 스위칭수단과 상기 제 2 스위칭수단에 의해 연결된 광선로를 통과한 신호광의 총손실값, 대역별 손실값, 편광모우드분산값을 산출하는 광선로특성분석수단; 및 상기 광선로특성분석수단의 제어에 따라 상기 제 1 스위칭수단을 스위칭제어하는 스위치제어수단을 포함한다.
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- 신호광을 출력하는 광원;상기 신호광을 복수의 광선로로 순차적으로 전달하는 제 1 스위칭수단;상기 복수의 광선로로부터 순차적으로 신호광을 전달받는 제 2 스위칭수단;상기 제 2 스위칭수단으로부터의 신호광에 대한 파장별 출력세기신호를 출력하는 편광모우드변환수단;상기 파장별 출력세기신호에서 골(depth)의 수를 측정하고, 스펙트럼을 측정하여 상기 신호광에 대한 파장별 손실값을 측정하는 스펙트럼 측정수단;입력단으로 상기 신호광을 수신하고, 출력단에 상기 편광모우드변환수단의 입력단과 상기 스펙트럼측정수단의 입력단이 각각 연결되어, 상기 신호광에 대한 경로를 설정하는 제 1 경로설정수단;입력단에 상기 제 1 경로설정수단의 출력단과 상기 편광모우드변환수단의 출력단이 각각 연결되고, 출력단에 상기 스펙트럼 측정수단의 입력단이 연결되어, 입력신호에 대한 경로를 설정하는 제 2 경로설정수단;상기 파장별 손실값과 상기 파장별 출력세기신호의 골의 수를 이용하여 상기 제 1 스위칭수단과 상기 제 2 스위칭수단에 의해 연결된 광선로를 통과한 신호광의 총손실값, 대역별 손실값, 편광모우드분산값을 산출하는 광선로특성분석수단; 및상기 광선로특성분석수단의 제어에 따라 상기 제 1 스위칭수단을 스위칭제어하는 스위치제어수단을 포함하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 1 경로설정수단은 1×N 스위치이고, 상기 제 2 경로설정수단은 N×1 스위치인 것을 특징으로 하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 1 경로설정수단은 1×N 커플러이고, 상기 제 2 경로설정수단은 N×1 스위치인 것을 특징으로 하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 1 경로설정수단은 1×N 스위치이고, 상기 제 2 경로설정수단은 N×1 커플러인 것을 특징으로 하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 신호광을 출력하는 광원;상기 신호광을 복수의 광선로로 순차적으로 전달하는 제 1 스위칭수단;상기 복수의 광선로로부터 순차적으로 신호광을 전달받는 제 2 스위칭수단;상기 제 2 스위칭수단을 통해 출력된 신호광에 대한 파장별 출력세기신호를 출력하는 편광모우드변환수단;상기 파장별 출력세기신호에서 골(depth)의 수를 측정하고, 스펙트럼을 측정하여 상기 신호광에 대한 파장별 손실값을 측정하는 스펙트럼 측정수단;입력단으로 상기 신호광과 상기 편광모우드변환수단의 출력신호를 각각 수신하고, 출력단에 상기 편광모우드변환수단의 입력단과 상기 스펙트럼 측정수단의 입력단이 각각 연결되어, 입력신호에 대한 경로를 설정하는 제 1 경로설정수단;상기 파장별 손실값과 상기 파장별 출력세기신호의 골의 수를 이용하여 상기 제 1 스위칭수단과 상기 제 2 스위칭수단에 의해 연결된 광선로를 통과한 신호광의 총손실값, 대역별 손실값, 편광모우드분산값을 산출하는 광선로특성분석수단; 및상기 광선로특성분석수단의 제어에 따라 상기 제 1 스위칭수단을 스위칭제어하는 스위치제어수단을 포함하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 경로설정수단은,상기 광선로특성분석수단의 제어하에 상기 신호광을 상기 스펙트럼 측정수단으로 전송한 후 상기 편광모우드변환수단으로 전송하고, 상기 편광모우드변환수단의 출력신호를 상기 스펙트럼 측정수단으로 전송하는 것을 특징으로 하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 편광모우드변환수단은,상기 신호광의 여러가지 편광상태를 고정된 편광상태로 변환하는 고정편광기인 것을 특징으로 하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 편광모우드변환수단은,상기 신호광을 임의의 편광상태를 조절하는 가변 편광조절기와, 상기 가변 편광조절기의 출력을 일정한 편광상태를 갖는 광신호로 변환하는 편광기를 포함하는 것을 특징으로 하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
- 제 3 항 또는 제 7 항에 있어서,상기 스위치제어수단은,감시채널용 광신호를 송신하는 감시채널송신수단;상기 감시채널송신수단으로부터 송신된 광신호를 제 2 스위칭수단으로 전송하고, 상기 제 2 스위칭수단으로부터 출력되는 상기 신호광은 상기 제 1 경로설정수단으로 전송하는 제 1 파장결합수단;상기 감시채널용 광신호가 수신되지 않으면, 상기 제 1 스위칭수단을 차순의 출력단으로 절환시키는 감시채널수신수단; 및상기 제 2 스위칭수단을 통해 시험대상인 광선로를 통과하여 제 1 스위칭수단으로 전송된 광신호는 상기 감시채널수신수단으로 전송하고, 상기 광원으로부터 송신된 신호광은 상기 제 1 스위칭수단으로 전송하는 제 2 파장결합수단을 포함하는 통합 광선로 품질 특성 측정 장치.
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JP2003222573A (ja) * | 2002-01-31 | 2003-08-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバ損失測定方法及び測定装置 |
JP2003329545A (ja) * | 2002-05-15 | 2003-11-19 | Anritsu Corp | 光ファイバ測定装置 |
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JP2003329545A (ja) * | 2002-05-15 | 2003-11-19 | Anritsu Corp | 光ファイバ測定装置 |
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