JP2003215143A - 光学式移動検出装置およびそれを備えた搬送処理システム - Google Patents

光学式移動検出装置およびそれを備えた搬送処理システム

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JP2003215143A
JP2003215143A JP2002008795A JP2002008795A JP2003215143A JP 2003215143 A JP2003215143 A JP 2003215143A JP 2002008795 A JP2002008795 A JP 2002008795A JP 2002008795 A JP2002008795 A JP 2002008795A JP 2003215143 A JP2003215143 A JP 2003215143A
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light
light receiving
optical movement
detection device
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JP2002008795A
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English (en)
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Akishi Yamaguchi
陽史 山口
Hisakazu Sugiyama
尚和 椙山
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Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被測定物の表面の凹凸がなくても、被測定物
の移動を測定でき、部品点数が少なくて、小型で安価な
光学式移動検出装置を提供する。 【解決手段】 この発明の光学式移動検出装置では、所
定の方向に移動する被測定物9に、集光レンズ11を通
して発光部10から光を照射する。これにより、被測定
物9は、所定の部分に上記光が照射され、この部分が熱
スポット12となり、赤外線を発する。一方、熱スポッ
ト12が発する赤外線を、集光素子13,スリット板1
4,受光素子15に順に通して検出し、検出信号を演算
回路21に出力する。この検出信号の出力波形は、熱ス
ポット12の移動にともなって、極大値と極小値を繰り
返す周期的なものとなる。この周期に基いて、被測定物
9の移動速度を求めることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、プリンタ,複写
機等の各種機器の紙送り速度や紙の移動量を検出した
り、その他あらゆる物体の速度を被接触で測定する光学
式移動検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光学式移動検出装置は、図9に示
すように、2つの測距センサ101,102と演算処理
回路部103からなる。
【0003】図10を参照して、この測距センサ10
1,102の動作原理を説明する。測距センサ101,1
02は、発光部104と、この発光部104からの拡散
光を集光するレンズ105と被測定物106での反射光
を受光部107へ集光するレンズ108とからなる。こ
こで、上記発光部104からの光は、被測定物106に
垂直に入射し、この位置からの反射光を受光部107に
集光する。この受光部107としては、PSD(Positi
on Sensitive Device)を使用している。
【0004】PSDは2つの出力端子を有し、受光面上
に集光されたスポット光の位置に応じて、この2つの出
力比が変化する。したがって、PSDを用いた測距セン
サでは、被測定物6と測距センサとの距離により、この
2つの出力比が変化する。
【0005】したがって、図9に示すように、被測定物
106が矢印Xの方向に移動すると、被測定物106の
凸凹の量だけ、測距センサ101,102と被測定物1
06との間の距離が変動する。これにより、2つの測距
センサ101,102から、被測定物106の凸凹に応
じた出力信号A,Bが得られる。
【0006】このとき得られる出力信号A,Bの出力波
形は、図11に示すように、被測定物106の矢印X方
向への移動速度に応じて、測距センサ101よりも測距
センサ102の方が、(Δt)だけ遅れた波形になる。そ
して、この遅れ(Δt)に基いて、演算処理回路部103
は、被測定物106の移動速度および移動量を算出す
る。
【0007】また、他の従来技術としては、レーザドッ
プラー方式の光学式移動検出装置もある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
光学式移動検出装置は、発光部104と受光部107と
2個のレンズ105,108を使用する2組の測距セン
サ101,102を必要とするので、部品点数が多く、
形状的にも大型となって、製造コストが高くなってい
た。
【0009】また、被測定物106の表面に、センサ1
01,102で検出できる凸凹があればよいが、比較的
滑らかな表面を有する被測定物では測定が困難である。
【0010】また、レーザドップラー方式の光学式移動
検出装置では、被測定物の表面での拡散光を利用するの
で、表面が滑らかな場合は測定が困難であり、また装置
も大型で高価である。
【0011】そこで、この発明の目的は、被測定物の表
面の凹凸がなくても、被測定物の移動を測定でき、部品
点数が少なくて、小型で安価な光学式移動検出装置を提
供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の光学式移動検出装置は、所定の方向に移
動する被測定物に、集光レンズを通して発光部から光を
照射することにより、上記被測定物の所定の部分を加熱
する光照射手段と、上記被測定物の上記加熱された部分
から発せられる赤外線を、集光素子,スリット板,受光素
子に順に通して、上記赤外線を検出して、検出信号を出
力する受光手段と、上記赤外線を検出した上記受光手段
が出力する検出信号に基いて、上記被測定物の移動速度
と移動距離を導出する信号処理演算手段とを備えたこと
を特徴としている。
【0013】この発明の光学式移動検出装置では、上記
光照射手段は、所定の方向に移動する被測定物に、集光
レンズを通して発光部から光を照射する。これにより、
上記被測定物は、所定の部分に上記光が照射され、この
部分が赤外線を発する。
【0014】上記受光手段は、上記部分が発する赤外線
を、集光素子,スリット板,受光素子に順に通して検出
し、検出信号を出力する。この検出信号の出力波形は、
上記部分の移動にともなって、極大値と極小値を繰り返
す周期的なものとなる。
【0015】この出力波形の周期Tと上記スリット板の
ピッチPと上記スリット板における上記部分の像の移動
速度vとの関係は、v=P/Tとなるから、上記周期T
とピッチPとから、上記部分の像の移動速度vが求ま
る。そして、この移動速度vから、上記被測定物の移動
速度Vを、次式(3)で求めることができる。
【0016】 V=v(S―F)/F ……(3) この式(3)において、Sは、上記被測定物の所定の部分
と上記集光素子との間の距離であり、Fは、上記集光素
子の焦点距離である。
【0017】したがって、この発明によれば、被測定物
の表面の凹凸がなくても、1つの受光素子で、被測定物
の移動を測定でき、部品点数が少なくて、小型で安価な
光学式移動検出装置となる。
【0018】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記光照射手段は、光を照射する発光部の光源とし
て半導体レーザを有する。
【0019】この実施形態の光学式移動検出装置では、
発光部の光源として半導体レーザを採用したから、集光
性がよく、小型化が可能となる。
【0020】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記スリット板は、ピッチが一定な複数の開口部を
有し、この開口部の幅と遮光部の幅が同一である。
【0021】この実施形態の光学式移動検出装置では、
スリット板は遮光部と開口部の幅が同一でピッチが一定
な複数の開口部を有する。したがって、被測定物の移動
速度を、受光素子の出力信号の周期に逆比例した値とし
て測定できる。
【0022】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記光照射手段によって照射される上記被測定物の
部分のスポット径をDとし、上記受光手段のスリット板
上における、上記被測定物の上記加熱された部分から発
せられる赤外線のスポット径をD'とし、上記スリット
板のピッチをPとし、上記被測定物の移動速度の上限を
Vとし、上記受光素子の応答周波数をfとすると、次の
式(1)および式(2)を満たすように、設定されている。
【0023】 V・D’/D<P・f …… (1) D’<P/2 …… (2) この実施形態の光学式移動検出装置では、上記式(1),
(2)のごとく、V・D’/D<P・f,D’<P/2の関
係になっている。
【0024】ここで、上記受光素子の応答周波数fおよ
びピッチPは既知であるので、被検出物の上限速度Vに
応じたスポット径D’,Dを計算し、被測定物上に与え
ることができる。したがって、被検出物の上限速度Vが
変わっても、ピッチPまたは応答周波数fを調整するこ
とで、与えるスポット径D’,Dを調整することがで
き、受光素子による感度のよい速度検出が可能になる。
【0025】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記受光手段の集光素子はレンズであり、上記被測
定物の上記加熱された部分から発せられる赤外線を上記
レンズで集光し、このレンズの材質が、ゲルマニウム、
シリコン、ポリエチレンのうちの1つである。
【0026】この実施形態の光学式移動検出装置では、
被測定物の加熱された部分から発せられる赤外線を集光
するレンズ材質を、ゲルマニウム、シリコン、ポリエチ
レンのうちの1つとしたので、このレンズ内を赤外線
(波長10μm程度)が効率よく透過し、受光素子に入射
させることができる。
【0027】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記受光手段の集光素子は回折格子であり、上記被
測定物の上記加熱された部分から発せられる赤外線を上
記回折格子で集光する。
【0028】この実施形態の光学式移動検出装置では、
上記被測定物の加熱された部分から発せられる赤外線を
集光する部分が回折格子であることによって、装置の小
型が可能となる。
【0029】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記受光手段の集光素子はフレネルレンズであり、
上記被測定物の上記加熱された部分から発せられる赤外
線を、上記フレネルレンズで集光する。
【0030】この実施形態の光学式移動検出装置では、
被測定物上の加熱された部分から発せられる赤外線を集
光するレンズが、フレネルレンズであることにより、装
置の小型が可能となる。
【0031】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記受光手段は、上記スリット板を上記受光素子上
に形成されたスリット状のパターンとした。
【0032】この実施形態の光学式移動検出装置では、
上記スリット板を上記受光素子上に形成されたスリット
状のパターンとしたので、装置の小型が可能となる。
【0033】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、上記受光手段は、焦電型の受光素子を備える。
【0034】この実施形態の光学式移動検出装置では、
受光素子として焦電型の受光素子を備える。この焦電型
の受光素子は、熱線(赤外光)の波長(10μ程度)に感度
があり、冷却等の特別な温度安定化管理が不要であるの
で、効率よく出力が得られ、応答周波数上、代表的な複
写機の紙送り速度にも適合する小型で安価なものを実現
できる。
【0035】また、一実施形態の光学式移動検出装置
は、被測定物を挟んで搬送するローラに取り付けられ、
上記ローラの回転に応じた加熱スポットを上記被測定物
に形成する加熱手段と、上記被測定物の上記加熱された
部分から発せられる赤外線を、集光素子,スリット板,受
光素子に順に通して、上記赤外線を検出して、検出信号
を出力する受光手段と、上記赤外線を検出した上記受光
手段が出力する信号に基いて、上記被測定物の移動速度
と移動距離を導出する信号処理演算手段とを備えた。
【0036】この実施形態の光学式移動検出装置では、
被測定物に加熱スポットを形成する加熱手段が、被測定
物を挟んで搬送するローラに取り付けられているので、
加熱スポットを形成するためのレーザ光源系を必要とせ
ず、光学式移動検出装置を含むシステムを小型化でき
る。
【0037】また、一実施形態の搬送システムは、上記
光学式移動検出装置を備え、この光学式移動検出装置が
測定した被測定物の移動速度を、この被測定物を搬送す
る搬送系にフィードバックして、上記被測定物の移動速
度を一定に保つ。
【0038】この実施形態の搬送システムでは、上記光
学式移動検出装置を用いて測定した被測定物の移動速度
を搬送系にフィードバックするので、被測定物の速度を
一定に保つ搬送システムが可能になる。
【0039】また、一実施形態の搬送システムは、上記
光学式移動検出装置を備え、搬送系において、被測定物
を搬送して、この被測定物に所定の処理を行う場合に、
上記光学式移動検出装置が測定した上記被測定物の移動
速度と移動距離を、上記搬送系にフィードバックして、
上記被測定物の処理を所定の位置で行なえるように、上
記処理のタイミングを設定する。
【0040】この実施形態の搬送システムでは、上記光
学式移動検出装置を用いて測定した被測定物の移動速度
を上記搬送系にフィードバックすることによって、上記
被測定物の処理を所定の位置で行なえるように、上記処
理のタイミングを設定することができる。
【0041】
【発明の実施の形態】以下、図面によりこの発明の光学
式移動検出装置の実施形態について説明する。
【0042】(第1の実施形態)図1に、この発明の光学
式移動検出装置の第1の実施形態を示す。この第1の実
施の形態は、所定の方向に移動する被測定物9に、集光
レンズ11を通して発光部10から光を照射することに
より、上記被測定物9の所定の部分を加熱して、熱スポ
ット12を形成する。上記発光部10は、半導体レーザ
からなり、駆動回路16によって駆動される。この駆動
回路16,半導体レーザからなる発光部10,集光レンズ
11が光照射手段を構成している。
【0043】また、この第1実施形態は、上記被測定物
9の上記熱スポット12から発せられる赤外線を、集光
素子であるレンズ13,スリット板14,受光素子15に
順に通して、上記赤外線を検出して、検出信号を出力す
る。このレンズ13,スリット板14,受光素子15が、
受光手段を構成している。
【0044】また、この第1実施形態は、上記赤外線を
検出した上記受光素子15が出力する検出信号に基い
て、上記被測定物9の移動速度と移動距離を算出する信
号処理演算回路21を備えている。
【0045】この実施形態では、図1に示すように、所
定の方向に移動する被測定物9に発光部10(駆動回路
16により動作する半導体レーザ)より集光レンズ11
をとおして光を照射することで、被測定物(例えば、
紙、フィルム、金属板等)9を加熱する。そして、その
加熱された部分に熱スポット12を作る。上記発光部1
0は集光性がよく小型化が可能な半導体レーザであるこ
とが望ましいが、被測定物9の所定の部分を加熱して、
その加熱された部分に熱スポット12を形成できれば発
光ダイオードであってもかまわない。
【0046】この実施形態では、上記被測定物9上での
熱スポット12のスポット径をDとし、スリット板14
上でのスポット径D’とし、スリット板14のピッチを
Pとし、被測定物9の速度をVとし、受光素子15の応
答周波数をfとすると、次式(11),(12)を満たして
いる。
【0047】 V・D’/D<P・f …… (11) D’<P/2 …… (12) この意味について、光学系を幾何的に示した図2を参照
して説明する。図2では、被測定物9上の径がDの熱ス
ポット12をHpとし、スリット板14上の径がD’の
熱スポット12の像をHp’とした。また、レンズ13
の焦点距離をFとし、被測定物9上の熱スポット12と
レンズ13との間の距離をSとした。また、スリット板
14上の熱スポット像Hp’とレンズ13との間の距離
をS’とした。また、被測定物9の速度をVとし、受光
素子15としては、赤外線センサの中では特別な冷却を
必要とせず比較的応答の速い焦電型センサを用いその応
答周波数をfとした。
【0048】上記条件においては、受光素子15の応答
周波数fに基づき、スリット板14上のスポット像H
p’の移動速度vは、 v<P・f ……(13) でなくてはならない。
【0049】一方、熱スポットHpの径Dとスポット像
Hp’の径D’とは、結像倍率の関係から、 D’/D=F/(S−F) ……(14) の関係にある。これにより、熱スポットHpの移動速度
Vとスポット像Hp’の移動速度vは、 V=v(S―F)/F ……(15) の関係にある。
【0050】以上の式(13),(14),(15)より、 V・D’/D<P・f ……(16) が得られる。このように、受光素子15において、S/
N比の大きい信号を得るためには、スリット板14上の
スポット径D’は、D’<P/2を満たすことが必要と
なる。言い換えれば、D’<P/2を満たすことによっ
て、受光素子15において、S/N比の大きい信号を得
ることができ、受光素子15による感度のよい速度検出
が可能になる。
【0051】次に、より具体的な一例として、上記実施
形態が複写機の紙送りセンサであり、上記被測定物9が
複写用紙である複写機の紙送りについて説明する。紙送
りスピードセンサを必要とする複写機で、比較的生産台
数の多いものは250mm/s程度のものである。この
場合、受光素子15として使用する焦電型センサの応答
周波数は、約1kHz程度である。また、スリット板1
4のピッチのPを20μmとすると、被測定物9である
紙にスポット径Dが125μmである熱スポット12を
与える。すると、その像Hp’はスリット板14上で径
D’が10μmのスポットとなり、この径D’の像H
p’が、速度v=20mm/sで移動することになる。
この状態を、図3(A)に示す。
【0052】この状態において、受光素子15の出力
は、図3(B)に示すように、極大値と極小値を繰り返す
周期Tの波形となる。この周期Tを、信号処理演算回路
21において、電気回路上の処理をすることで、被測定
物9の移動速度Vおよび移動距離を算出できる。
【0053】すなわち、この出力波形の周期Tと上記ス
リット板14のピッチPと上記スリット板14における
上記熱スポット12の像Hp’の移動速度vとの関係
は、v=P/Tとなるから、上記周期TとピッチPとか
ら、上記熱スポット12の像Hp’の移動速度vが求ま
る。そして、この移動速度vから、上記被測定物9の移
動速度Vを、次式(3)で求めることができる。
【0054】 V=v(S―F)/F ……(3) この式(3)において、Sは、上記被測定物9の熱スポッ
ト12と上記集光レンズ13との間の距離であり、F
は、上記集光レンズ13の焦点距離である。
【0055】したがって、この実施形態によれば、被測
定物9の表面の凹凸がなくても、1つの受光素子15
で、被測定物9の移動を測定でき、部品点数が少なく
て、小型で安価な光学式移動検出装置となる。
【0056】なお、上記実施形態では、熱スポット12
から発せられる赤外線をレンズ13で集光するが、この
赤外線の波長は10μm程度であることから、この波長
に対する光透過率が比較的よい材料のGe,Si,ポリ
エチレンがレンズ材料として適している。また、レンズ
13を用いず、Siを材料とした、回折格子やポリエチ
レンを材料としたフレネルレンズでも同様の機能があ
る。
【0057】また、図4(A),(B)に示すように、スリ
ット板14に替えて、受光素子15の上面にスリット板
14と同ピッチのスリットパターンを有するスリット部
16を一体に形成してもよい。このスリット部16は、
受光素子15のウエハ製造プロセス中に一体になるよう
に形成することができる。このような受光素子15と一
体のスリット部16を設けることで、装置の小型化を実
現できる。
【0058】(第2の実施形態)次に、この発明の光学式
移動検出装置の第2の実施形態について説明する。
【0059】この第2実施形態は、前述の第1実施形態
の集光レンズ11,発光部10,駆動回路16からなる光
照射手段に替えて、図5,図6に示すように、被測定物
9を挟んで搬送するローラ17に加熱部18を備え、こ
の加熱部18からローラ17の回転に応じた加熱スポッ
ト19を被測定物9上に形成するものである。
【0060】なお、上記加熱スポット19から発せられ
る赤外線をレンズ13,スリット板14,受光素子15で
検出する受光手段および信号処理演算回路21は第1実
施形態と同様の構成である。
【0061】この第2実施形態の光学式移動検出装置で
は、被測定物9に加熱スポット19を形成する加熱部1
8が、被測定物9を挟んで搬送するローラ17に取り付
けられているので、加熱スポット19を形成するための
レーザ光源系を必要とせず、光学式移動検出装置を含む
システムを小型化できる。
【0062】また、図7に示すように、この第1実施形
態の光学式移動検出装置72を用いて測定した被測定物
9のスピードを、搬送系をなすローラ制御部71にフィ
ードバックすることによって、このローラ制御部71が
搬送する被測定物9の速度を一定に保つ搬送システムを
構築することもできる。
【0063】さらに、図8に示すように、この第1実施
形態の光学式移動検出装置72を用いて測定した被測定
物9のスピードを、搬送されている被測定物9に所定の
処理を行う処理装置74にフィードバックすることによ
って、その処理タイミングをコントロールし、被測定物
9の処理を所定の位置で行なえるようにした搬送処理シ
ステムも実現できる。
【0064】
【発明の効果】以上より明らかなように、この発明の光
学式移動検出装置では、光照射手段が、所定の方向に移
動する被測定物に、集光レンズを通して発光部から光を
照射する。これにより、上記被測定物は、所定の部分に
上記光が照射され、この部分が赤外線を発する。上記受
光手段は、上記部分が発する赤外線を、集光素子,スリ
ット板,受光素子に順に通して検出し、検出信号を出力
する。この検出信号の出力波形は、上記部分の移動にと
もなって、極大値と極小値を繰り返す周期的なものとな
る。この周期に基いて、上記被測定物の移動速度を求め
ることができる。
【0065】したがって、この発明によれば、被測定物
の表面の凹凸がなくても、1つの受光素子で、被測定物
の移動を測定でき、部品点数が少なくて、小型で安価な
光学式移動検出装置となる。
【0066】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、発光部の光源として半導体レーザを採用したから、
集光性がよく、小型化が可能となる。
【0067】すなわち、この実施形態では、被測定物上
に所定のスポット径の光を照射し易い。また、このスポ
ット径は、光源と被測定物との距離が少々変動しても大
きく変化せず、安定した測定が可能である。
【0068】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、スリット板は遮光部と開口部の幅が同一でピッチが
一定な複数の開口部を有する。したがって、被測定物の
移動速度を、受光素子の出力信号の周期に逆比例した値
として測定できる。
【0069】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、上記式(1),(2)のごとく、V・D’/D<P・f,
D’<P/2の関係になっている。ここで、上記受光素
子の応答周波数fは既知であるので、被検出物の上限速
度Vに応じたスポット径D’,Dを計算し、被測定物上
に与えることができる。したがって、被検出物の上限速
度Vが変わっても、ピッチPを調整することで、与える
スポット径D’,Dを調整することができ、受光素子に
よる感度のよい速度検出が可能になる。
【0070】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、被測定物の加熱された部分から発せられる赤外線を
集光するレンズ材質を、ゲルマニウム、シリコン、ポリ
エチレンのうちの1つとしたので、このレンズ内を赤外
線(波長10μm程度)が効率よく透過し、受光素子に入
射させることができる。
【0071】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、上記被測定物の加熱された部分から発せられる赤外
線を集光する部分が回折格子であることによって、装置
の小型が可能となる。
【0072】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、被測定物上の加熱された部分から発せられる赤外線
を集光するレンズが、フレネルレンズであることによ
り、装置の小型が可能となる。
【0073】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、上記スリット板を上記受光素子上に形成されたスリ
ット状のパターンとしたので、装置の小型が可能とな
る。
【0074】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、受光素子として焦電型の受光素子を備える。この焦
電型の受光素子は、熱線(赤外光)の波長(10μ程度)に
感度があり、冷却等の特別な温度安定化管理が不要であ
るので、効率よく出力が得られ、応答周波数上、代表的
な複写機の紙送り速度にも適合する小型で安価なものを
実現できる。
【0075】また、一実施形態の光学式移動検出装置で
は、被測定物に加熱スポットを形成する加熱手段が、被
測定物を挟んで搬送するローラに取り付けられているの
で、加熱スポットを形成するためのレーザ光源系を必要
とせず、光学式移動検出装置を含むシステムを小型化で
きる。
【0076】また、一実施形態の搬送システムでは、上
記光学式移動検出装置を用いて測定した被測定物の移動
速度を搬送系にフィードバックするので、被測定物の速
度を一定に保つ搬送システムが可能になる。
【0077】また、一実施形態の搬送システムでは、上
記光学式移動検出装置を用いて測定した被測定物の移動
速度を上記搬送系にフィードバックすることによって、
上記被測定物の処理を所定の位置で行なえるように、上
記処理のタイミングを設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施形態の光学式移動検出装置を
示す図である。
【図2】 上記実施形態の光学式移動検出装置の光学系
を幾何的に示す図である。
【図3】 図3(A)は上記実施形態の光学式移動検出装
置のスリット板および受光素子部を示す拡大図であり、
図3(B)は出力波形を示す波形図である。
【図4】 図4(A)はこの発明の光学式移動検出装置の
実施形態の受光素子と一体としたスリット板の平面図で
あり、図4(B)は受光素子と一体としたスリットパター
ンの側面図である。
【図5】 この発明の光学式移動検出装置の搬送するロ
ーラに加熱装置を備えた構成を示す図である。
【図6】 図6は、この発明の光学式移動検出装置の実
施形態において、搬送するローラに加熱装置を備えた構
成を示すローラ斜視図である。
【図7】 この発明の光学式移動検出装置を備え、被測
定物の速度を一定に保つ搬送システムを示す図である。
【図8】 この発明の光学式移動検出装置を備え、被測
定物の処理を所定の位置で行なえる搬送システムを示す
図である。
【図9】 従来の光学式移動検出装置を示す図である。
【図10】 上記従来の光学式移動検出装置に使用され
る測距センサを示す図である。
【図11】 上記従来の光学式移動検出装置の出力波形
を示す図である。
【符号の説明】
9…被測定物、10…発光部、11…レンズ、12…熱
スポット、13…レンズ、14…スリット板、15…受
光素子、16…スリットパターン、17…ローラ、18
…加熱装置、19…加熱スポット、21…信号処理演算
回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA02 AA07 AA09 BB15 BB29 CC02 DD02 FF32 FF34 FF36 GG06 GG12 JJ01 JJ15 LL04 LL10 LL28 MM03 PP22 QQ44 TT07 UU01 UU02 UU05 3F048 AA05 AB01 BA08 BB05 CC12 DC14

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の方向に移動する被測定物に、集光
    レンズを通して発光部から光を照射することにより、上
    記被測定物の所定の部分を加熱する光照射手段と、 上記被測定物の上記加熱された部分から発せられる赤外
    線を、集光素子,スリット板,受光素子に順に通して、上
    記赤外線を検出して、検出信号を出力する受光手段と、 上記赤外線を検出した上記受光手段が出力する検出信号
    に基いて、上記被測定物の移動速度と移動距離を導出す
    る信号処理演算手段とを備えたことを特徴とする光学式
    移動検出装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記光照射手段は、光を照射する発光部の光源として半
    導体レーザを有することを特徴とする光学式移動検出装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記スリット板は、ピッチが一定な複数の開口部を有
    し、この開口部の幅と遮光部の幅が同一であることを特
    徴とする光学式移動検出装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記光照射手段によって照射される上記被測定物の部分
    のスポット径をDとし、上記受光手段のスリット板上に
    おける、上記被測定物の上記加熱された部分から発せら
    れる赤外線のスポット径をD'とし、上記スリット板の
    ピッチをPとし、上記被測定物の移動速度の上限をVと
    し、上記受光素子の応答周波数をfとすると、次の式
    (1)および式(2)を満たすように、設定されていること
    を特徴とする光学式移動検出装置。 V・D’/D<P・f …… (1) D’<P/2 …… (2)
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記受光手段の集光素子はレンズであり、上記被測定物
    の上記加熱された部分から発せられる赤外線を上記レン
    ズで集光し、このレンズの材質が、ゲルマニウム、シリ
    コン、ポリエチレンのうちの1つであることを特徴とす
    る光学式移動検出装置。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記受光手段の集光素子は回折格子またはフレネルレン
    ズであり、 上記被測定物の上記加熱された部分から発せられる赤外
    線を上記回折格子またはフレネルレンズで集光すること
    を特徴とする光学式移動検出装置。
  7. 【請求項7】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記受光手段は、上記スリット板を上記受光素子上に形
    成されたスリットパターンとしたことを特徴とする光学
    式移動検出装置。
  8. 【請求項8】 請求項1に記載の光学式移動検出装置に
    おいて、 上記受光手段は、焦電型の受光素子を備えることを特徴
    とする光学式移動検出装置。
  9. 【請求項9】 被測定物を挟んで搬送するローラに取り
    付けられ、上記ローラの回転に応じた加熱スポットを上
    記被測定物に形成する加熱手段と、 上記被測定物の上記加熱された部分から発せられる赤外
    線を、集光素子,スリット板,受光素子に順に通して、上
    記赤外線を検出して、検出信号を出力する受光手段と、 上記赤外線を検出した上記受光手段が出力する信号に基
    いて、上記被測定物の移動速度と移動距離を導出する信
    号処理演算手段とを備えたことを特徴とする光学式移動
    検出装置。
  10. 【請求項10】 請求項1乃至9のいずれか1つに記載
    の光学式移動検出装置を備え、 この光学式移動検出装置が測定した被測定物の移動速度
    を、この被測定物を搬送する搬送系にフィードバックし
    て、上記被測定物の移動速度を一定に保つことを特徴と
    する搬送システム。
  11. 【請求項11】 請求項1乃至9のいずれか1つに記載
    の光学式移動検出装置を備え、 搬送系において、被測定物を搬送して、この被測定物に
    所定の処理を行う場合に、 上記光学式移動検出装置が測定した上記被測定物の移動
    速度と移動距離を、上記搬送系にフィードバックして、
    上記被測定物の処理を所定の位置で行なえるように、上
    記処理のタイミングを設定することを特徴とする搬送シ
    ステム。
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