JP2003183480A - 液状エポキシ樹脂組成物及びフリップチップ型半導体装置 - Google Patents

液状エポキシ樹脂組成物及びフリップチップ型半導体装置

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JP2003183480A JP2001391197A JP2001391197A JP2003183480A JP 2003183480 A JP2003183480 A JP 2003183480A JP 2001391197 A JP2001391197 A JP 2001391197A JP 2001391197 A JP2001391197 A JP 2001391197A JP 2003183480 A JP2003183480 A JP 2003183480A
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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 (a)液状エポキシ樹脂(b)硬化剤
(c)硬化促進剤(d)アビエチン酸及びその誘導体か
ら選ばれる1種又は2種以上を必須成分とし、上記
(d)成分を(a),(b)成分の合計100重量部に
対して0.5〜5重量部含有することを特徴とする液状
エポキシ樹脂組成物、及びこの硬化物で半田接続と同時
に封止、熱硬化されたフリップチップ型半導体装置。 【効果】 本発明の液状エポキシ樹脂組成物は、半導体
素子を基板に接続する際に、半田接続と同時に硬化させ
ても、ボイドの発生がなく、シリコンチップの表面との
密着性に優れ、高温多湿の条件下でも劣化せず、熱衝撃
に対して優れており、この封止材を用いた半導体装置は
非常に信頼性の高いものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体封止用とし
て好適で、シリコンチップの素子表面(特に感光性ポリ
イミド、窒化膜)との密着性が非常に良好であり、耐湿
性の高い硬化物を与え、かつ熱衝撃に対して優れた半導
体装置のノンフローアンダーフィル材となり得る液状エ
ポキシ樹脂組成物、及びこのノンフローアンダーフィル
材の硬化物にて封止されたフリップチップ型半導体装置
に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】電子材
料分野において半導体デバイスが高集積化、高性能化、
軽量化していく中で、フリップチップ接続方式を採用し
た半導体装置が広く用いられるようになってきている。
フリップチップ方式による接続方法は、シリコンチップ
の素子面と有機基板の間に共晶半田等を用いて接続した
のち、毛細管現象を利用してアンダーフィル材料をシリ
コンチップと基板の狭部に侵入させて硬化させることで
シリコンチップの固定化と信頼性の確保を行うものであ
る。このためアンダーフィル材料に対する要求も応力特
性、耐湿特性などを中心に要求が高度化している。特に
フリップチップ接続においては、シリコンチップの膨張
係数は3ppm/℃、有機基板などは17ppm/℃と
膨張係数の差が大きいことから、非常に大きな剪断応力
が半田バンプ部に発生する。これはシリコンチップと基
板の間にアンダーフィル材料を注入硬化させることによ
り、半田接合部位における応力を低くすることが可能と
なる。また、耐湿信頼性や機械的な面からもアンダーフ
ィル材料が有効であると期待されている。
【0003】しかしながら、半導体素子の高集積化に伴
い、ダイサイズの一辺が10mm、20mmを超えるも
のもあり、ダイサイズの大型化が進んできている。この
ような大型ダイを用いたフリップチップ型半導体装置で
は、毛細管現象を利用しても十分な薄膜侵入特性が得ら
れず、途中で止まり、未充填などがおきてしまうといっ
た問題がおきている。また、薄膜侵入特性を得るために
充填材料を減少させる処方が取られているが、膨張係数
が小さくなるため、半田リフロー時にダイと封止材にか
かる応力が増大し、封止材とダイ及び基板の界面で剥離
が生じたり、パッケージや封止材にクラックが入るとい
った問題がクローズアップされてきている。
【0004】更に、毛細管現象を利用したアンダーフィ
ル材(以下、フローアンダーフィル材と呼ぶ)は、薄膜
侵入工程に工数がかかり、コストアップの原因ともなっ
ている。そこで、特許第2589239号では、半導体
素子を基板に接続する際に予めフラックスを混合したア
ンダーフィル材を滴下、その後、半田接続と同時にアン
ダーフィル材を硬化させる処方が提案されている。この
アセンブリ方法は、薄膜侵入工程を省き、大幅なコスト
ダウンに有効である。
【0005】しかしながら、このようなフラックスを混
合したアンダーフィル材(以下、ノンフローアンダーフ
ィル材と呼ぶ)は、シリコンチップの表面、特に感光性
ポリイミド樹脂や窒化膜との密着性も不十分かつ半田リ
フロー時にクラックが発生したり、温度サイクルで剥
離、クラックが発生するために、信頼性の向上が強く半
導体業界より要求されている。このような現在のノンフ
ローアンダーフィル材としては、主剤に液状エポキシ樹
脂、硬化剤として無水フタル酸系の酸無水物やアミン硬
化剤が広く用いられている。しかし、無水フタル酸系の
酸無水物は吸湿しやすいため、硬化前では吸湿による粘
度上昇により侵入性がばらついたり途中でとまってしま
う現象が見られ、また、従来の酸無水物の未硬化物は容
易に水を取り込み、硬化後も加水分解が促進され、吸湿
により体積膨張が起こり、フリップチップ型半導体装置
などでは半田バンプとリード界面の抵抗値を増大させて
しまうというような信頼性の問題が生じている。更に添
加しているフラックス材、及びフラックスの主成分で
は、半田接続性は良好にもかかわらず、接続硬化時に多
量のボイドが発生したり、硬化性が劣ったり、基材に対
する密着性が低下するものが殆どであり、信頼性を満足
できる半導体装置を得るには至っていないのが現状であ
る。
【0006】本発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、シリコンチップの表面、特に感光性ポリイミド樹脂
や窒化膜との密着性に優れた硬化物を与え、吸湿半田リ
フロー後においてもクラック、剥離がなく、その処理後
にPCT(120℃/2.1atm)などの高温多湿の
条件下でも劣化せず、−65℃/150℃の温度サイク
ルにおいて数百サイクルを超えても剥離、クラックが起
こらない半導体装置のノンフローアンダーフィル材とな
り得る液状エポキシ樹脂組成物、及びこのノンフローア
ンダーフィル材の硬化物で封止されたフリップチップ型
半導体装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】本
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を重ねた結
果、(a)液状エポキシ樹脂、(b)硬化剤、(c)硬
化促進剤及び(d)アビエチン酸及びその誘導体から選
ばれる1種又は2種以上の添加剤を必須成分とし、上記
(d)成分の添加剤を、(a),(b)成分の合計10
0重量部に対して0.5〜5重量部配合して得られた液
状エポキシ樹脂組成物が、半導体素子を基板に接続する
際に、半田接続と同時にこの組成物を硬化させても、シ
リコンチップの表面、特に感光性ポリイミド樹脂や窒化
膜との密着性に優れ、PCT(120℃/2.1at
m)などの高温多湿の条件下でも劣化せず、熱衝撃に対
して優れており、特に大型ダイサイズの半導体装置の封
止材として有効であることを知見した。
【0008】即ち、アビエチン酸及びその誘導体は、ア
ンダーフィル材の本来潜在する特性を劣化させず、かつ
半田接続と同時に硬化ができ、侵入工程を削減できる。
そして、この組成物の硬化物で封止されたフリップチッ
プ型半導体装置は、耐熱衝撃性に著しく優れ、高温多湿
下でも優れた特性を得ることが可能となり、特に大型ダ
イサイズの半導体装置のアンダーフィル材として有効で
あることを見出し、本発明をなすに至ったものである。
【0009】従って、本発明は、 (a)液状エポキシ樹脂 (b)硬化剤 (c)硬化促進剤 (d)アビエチン酸及びその誘導体から選ばれる1種又
は2種以上 を必須成分とし、上記(d)成分を(a),(b)成分
の合計100重量部に対して0.5〜5重量部含有する
ことを特徴とする液状エポキシ樹脂組成物を提供する。
【0010】以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明の半導体封止材(液状エポキシ樹脂組成物)にお
いて、(a)液状エポキシ樹脂としては、1分子中に2
個以上のエポキシ基があればいかなるものでも使用可能
であるが、特に、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビ
スフェノールF型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エ
ポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ク
レゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エ
ポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型
エポキシ樹脂、シクロペンタジエン型エポキシ樹脂など
が例示される。これらの中でも室温で液状のエポキシ樹
脂が望ましい。これらのエポキシ樹脂には、下記構造で
示されるエポキシ樹脂を浸入性に影響を及ぼさない範囲
で添加しても何ら問題はない。
【0011】
【化2】
【0012】上記液状エポキシ樹脂中の全塩素含有量
は、1500ppm以下、望ましくは1000ppm以
下であることが好ましい。また、100℃で50%エポ
キシ樹脂濃度における20時間での抽出水塩素が10p
pm以下であることが好ましい。全塩素含有量が150
0ppmを超え、又は抽出水塩素が10ppmを超える
と半導体素子の信頼性、特に耐湿性に悪影響を与えるお
それがある。
【0013】本発明に使用する(b)硬化剤は、特に限
定されるものではないが、酸無水物硬化剤が信頼性を向
上させるために有効である。酸無水物硬化剤としては、
例えば、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキ
サヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、無
水メチルハイミック酸、ピロメリット酸二無水物、マレ
イン化アロオシメン、ベンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラビス
ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、(3,4−
ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、ビス(3,
4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、2,2−
ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水
物、3,4−ジメチル−6−(2−メチル−1−プロぺ
ニル)−1,2,3,6−テトラハイドロフタル酸及び
1−イソプロピル−4−メチル−バイサクロ[2.2.
2]オクト−5−エン−2,3−ジカルボン酸の混合物
などが挙げられる。
【0014】本発明においては、特に、3,4−ジメチ
ル−6−(2−メチル−1−プロぺニル)−1,2,
3,6−テトラハイドロフタル酸及び1−イソプロピル
−4−メチル−バイサクロ[2.2.2]オクト−5−
エン−2,3−ジカルボン酸の混合物を使用することが
好ましい。なお、3,4−ジメチル−6−(2−メチル
−1−プロぺニル)−1,2,3,6−テトラハイドロ
フタル酸と、1−イソプロピル−4−メチル−バイサク
ロ[2.2.2]オクト−5−エン−2,3−ジカルボ
ン酸の混合比としては、前者が20〜60重量%、後者
が80〜40重量%(合計で100重量%)であること
が望ましい。このような硬化剤としては、例えば、油化
シェルエポキシ社製のYH306、YH307等が挙げ
られる。
【0015】上記混合物の硬化剤中の配合割合として
は、硬化剤全体の5〜75重量%、特に15〜65重量
%とすることが望ましい。5重量%未満では密着性が低
下し、PCTなどの高温多湿下において劣化する場合が
ある。75重量%を超える量では密着性は向上するが、
熱衝撃試験などの試験においてクラックが発生する場合
がある。
【0016】本発明において、上記以外の硬化剤として
は、特に制限されず、硬化性エポキシ樹脂組成物に用い
られる硬化剤全般を使用することができる。この硬化剤
として具体的には、上述した酸無水物全般、ジシアンジ
アミド、アジピン酸ヒドラジド、イソフタル酸ヒドラジ
ドなどのカルボン酸ヒドラジドなどが挙げられる。これ
らの中では、特にメチルテトラヒドロ無水フタル酸、メ
チルヘキサヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタ
ル酸が好ましく、従って、上記3,4−ジメチル−6−
(2−メチル−1−プロぺニル)−1,2,3,6−テ
トラハイドロフタル酸及び1−イソプロピル−4−メチ
ル−バイサクロ[2.2.2]オクト−5−エン−2,
3−ジカルボン酸の混合物は、メチルテトラヒドロ無水
フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸又はヘキサ
ヒドロ無水フタル酸と併用することが好ましい。
【0017】なお、本発明に用いられる硬化剤の総配合
量は、エポキシ樹脂を硬化させる有効量であり、その種
類によって相違するが、上述した酸無水物を用いる場合
は、エポキシ樹脂中のエポキシ基に対して硬化剤中の酸
無水物基(−CO−O−CO−)から誘導されるカルボ
ン酸基のモル比を0.5〜1.5の範囲にすることが好
適である。0.5未満では硬化性が不十分であり、1.
5を超えると未反応の酸無水物が残存し、ガラス転移温
度の低下となるおそれがある。より好ましくは0.8〜
1.2の範囲にすることが好適である。あるいは、上記
と同様の理由により、エポキシ樹脂中のエポキシ基に対
して酸無水物中の酸無水物基のモル比が好ましくは0.
3〜0.7、より好ましくは0.4〜0.6の範囲とな
るように配合してもよい。
【0018】本発明において、上記エポキシ樹脂の硬化
促進剤(反応促進剤)(c)としては、イミダゾール化
合物や有機リン化合物等、特にイミダゾール化合物又は
有機リン化合物等を含有したマイクロカプセル触媒であ
って、平均粒径が0.5〜10μmであり、かつo−ク
レゾール中におけるマイクロカプセルからの触媒の溶出
量が30℃、15分でマイクロカプセル中に含まれる全
触媒量の70重量%以上であるマイクロカプセル触媒を
用いることが好ましい。
【0019】ここで、イミダゾール化合物としては、下
記一般式(1)で示されるものを使用することができ
る。
【化3】 (R5、R6は−H、−CH3、−C25、−CH2OH又
は−C65であり、R7は−CH3、−C25、−C
65、又はアリル基であり、R8は−H、−CH3、−C
25、及び下記式(2)
【化4】 で表される基から選ばれる基である。)
【0020】イミダゾール化合物として、具体的には、
2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2
−ウンデシルイミダゾール、2,4−ジメチルイミダゾ
ール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチ
ルイミダゾール、1,2−ジエチルイミダゾール、2−
エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダ
ゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1
−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノ
エチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−ベンジル−
2−メチルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6−
[2’−メチルイミダゾリル−(1)’]−エチル−S
−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル
−4’−メチルイミダゾリル−(1)’]−エチル−S
−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデ
シルイミダゾリル]−エチル−S−トリアジン、2,4
−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−
(1)’]−エチル−S−トリアジンイソシアヌール酸
化付加物、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシ
メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロ
キシメチルイミダゾール、2−アリール−4,5−ジフ
ェニルイミダゾールなどが挙げられる。これらの中でも
2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、
1,2−ジメチルイミダゾール、1,2−ジエチルイミ
ダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−
ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾー
ル及び2−フェニルイミダゾールが好ましい。
【0021】有機リン系化合物としては、例えば、トリ
フェニルフォスフィン、トリブチルホスフィン、トリ
(p−メチルフェニル)ホスフィン、トリ(ノニルフェ
ニル)ホスフィン、ジフェニルトリルフォスフィン等の
トリオルガノホスフィンとトリオルガノボランとの塩、
テトラフェニルフォスホニウム・テトラフェニルボレー
ト等のテトラオルガノホスホニウムとテトラオルガノボ
レートとの塩などが挙げられる。これらの中でも下記一
般式(3)、(4)及び(5)で示されるものが好まし
く、特に下記一般式(4)及び(5)で示されるものが
好ましい。
【0022】
【化5】 1234PSCN (4) R1234P:BR1234 (5) (但し、R9は、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル
基であり、R1、R2、R3、R4は、炭素数1〜20の有
機基である。)
【0023】ここで、式中のR9としては、好ましくは
水素原子又はメチル基である。R1、R2、R3、R4の炭
素数1〜20、特に1〜6の有機基としては、メチル
基、エチル基、プロピル基、ブチル基、メトキシ基、エ
トキシエチル基等のアルキル基、ビニル基、アリル基、
イソプロペニル基等のアルケニル基、フェニル基等のア
リール基、アセチル基、プロピオニル基等や、これらの
炭化水素基の水素原子の一部又は全部を塩素、フッ素、
臭素等のハロゲン原子で置換したフロロメチル基、ブロ
モエチル基、トリフルオロプロピル基等のハロゲン置換
一価炭化水素基などが例示される。
【0024】本発明で使用するマイクロカプセルは、
(メタ)アクリル系単量体、例えばアクリル酸エステ
ル、イタコン酸エステル、クロトン酸エステル等の炭素
数1〜8のアルキルエステルやこのアルキルエステルの
アルキル基がアリル基等の置換基を有するもの、また、
スチレン、α−メチルスチレン、アクリロニトリル、メ
タクリロニトリル、酢酸ビニル等の単官能性単量体及び
エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチ
レングリコールジ(メタ)アクリレート、ジビニルベン
ゼン、ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、メチ
レンビス(メタ)アクリルアミド等の多官能単量体のポ
リマー中に硬化触媒が閉じ込められたものである。な
お、上記ポリマーの中では、(メタ)アクリレート系単
量体の重合物が好ましい。
【0025】本発明の上記イミダゾール化合物又は有機
リン化合物等の硬化触媒を含有するマイクロカプセルの
製造方法としては様々な方法が挙げられるが、生産性及
び球状度が高いマイクロカプセルを製造するためには、
通常懸濁重合法及び乳化重合法などの従来から公知の方
法で製造することができる。
【0026】この場合、一般的に使用されている触媒の
分子構造から高濃度マイクロカプセル触媒を得るために
は、硬化触媒10重量部に対して使用する上記単量体の
総量は10〜200重量部程度が好ましく、より好まし
くは10〜100重量部、更に好ましくは20〜50重
量部である。10重量部未満では潜在性を十分に寄与す
ることが困難となることがあり、200重量部を超える
と、触媒の比率が低くなり、十分な硬化性を得るために
は多量に使用しなければならなくなるため、経済的に不
利となる場合がある。
【0027】このような方法で得られるマイクロカプセ
ルとしては、平均粒径が0.5〜10μm、最大粒径が
50μm以下のものを使用することが好ましい。より好
ましくは平均粒径が2〜5μm、かつ最大粒径が20μ
m以下のものが好ましい。硬化促進剤の粒径が小さすぎ
ると、比表面積が大きくなり、混合した時の粘度が高く
なるおそれがある。平均粒径が10μmを超えると、樹
脂への分散が不均一になり、信頼性の低下を引き起こす
おそれがある。
【0028】また、上記マイクロカプセルとしては、下
記性能を有するものを使用することが好ましい。即ち、
硬化触媒を含有するマイクロカプセルを1g秤量し、こ
れをo−クレゾール30gに混合した後、30℃で放置
し、溶出する触媒をガスクロマトグラフィーで定量した
場合、マイクロカプセルから溶出する触媒が30℃、1
5分でマイクロカプセル中に含まれる全触媒量の70重
量%以上であるものを用いる。70重量%未満では、硬
化時間が長くかかるおそれがあり、生産性が低下する場
合がある。望ましくは、溶出量が75重量%以上であ
る。
【0029】上記本発明のマイクロカプセル型硬化促進
剤の配合量は、エポキシ樹脂100重量部に対して0.
5〜10重量部、特に1〜7重量部であることが好まし
い。0.5重量部未満では硬化性が低下するおそれがあ
り、10重量部を超える量では硬化性に優れるが、半田
接続時に半田が溶融接続する前にアンダーフィル材が硬
化し、上手く半田接続がいかなかったり、保存性が低下
するおそれがある。
【0030】また、硬化促進剤として、マイクロカプセ
ル化しない上述の触媒を上記マイクロカプセル触媒と併
用添加してもよい。その場合の配合量は、マイクロカプ
セル触媒としていない触媒の合計がエポキシ樹脂100
重量部に対して0.1〜10重量部、望ましくは0.3
〜7重量部であることが好ましい。0.1重量部未満で
は硬化性が低下するおそれがあり、10重量部を超える
量では硬化性に優れるが半田接続時に半田が溶融接続す
る前にアンダーフィル材が硬化し、上手く半田接続がい
かなかったり、保存性が低下するおそれがある。
【0031】更に、マイクロカプセル化しない上述の触
媒を単独で使用してもよい。その場合の配合量は、エポ
キシ樹脂100重量部に対して0.1〜7重量部、望ま
しくは0.3〜5重量部である。0.1重量部未満では
硬化性が低下するおそれがあり、7重量部を超える量で
は硬化性に優れるが、半田接続時に半田が溶融接続する
前にアンダーフィル材が硬化し、上手く半田接続がいか
なかったり、保存性が低下するおそれがある。
【0032】本発明の特徴的成分である(d)半田接続
用のフラックスは、アビエチン酸及びその誘導体であ
る。アビエチン酸及びその誘導体としては、下記に示す
ものが挙げられる。なお、これらは1種を単独で、又は
2種以上を併用して用いることができる。
【化6】
【0033】上記式(1)で示される添加剤の添加量
は、樹脂成分[(a),(b)成分]の合計100重量
部に対して0.5〜5重量部であり、好ましくは1〜3
重量部である。0.5重量部未満であると、硬化物特性
は問題ないが、半田接続に必要な酸化膜を除去できず、
十分なフラックス効果が得られない。一方、5重量部を
超える量になると半田接続性は問題ないが、硬化物特
性、特に硬化性、密着性が低下する。
【0034】本発明の液状エポキシ樹脂組成物におい
て、上記添加剤の混合方法は、特に限定されるものでは
ないが、エポキシ樹脂、あるいは硬化剤と予め溶融混合
し、均一に分散させることが望ましい。
【0035】一方、膨張係数を下げるため、無機質充填
剤を半田接続の妨げにならない程度用いてもよい。無機
質充填剤としては、従来より知られている各種の無機質
充填剤を添加することができる。具体的に無機質充填剤
としては、溶融シリカ、結晶シリカ、アルミナ、ボロン
ナイトライド、チッカアルミ、チッカ珪素、マグネシ
ア、マグネシウムシリケート、アルミニウムなどが挙げ
られる。中でも真球状の溶融シリカが低粘度化のため望
ましい。上記無機質充填剤の粒径の大きさとしては、フ
リップチップギャップ幅(基板と半導体チップとの隙
間)に対して平均粒径が約1/10以下、最大粒径が1
/2以下のものが好ましい。
【0036】無機質充填剤の配合量としては、エポキシ
樹脂100重量部に対して50〜400重量部で配合す
ることが好ましく、望ましくは100〜250重量部の
範囲で配合することが好ましい。50重量部未満では、
膨張係数が大きく、冷熱試験においてクラックの発生を
誘発させるおそれがある。400重量部を超えると、粘
度が高くなったり、半田接続時に半田と基板の間に入
り、抵抗値の増大による導電性の低下をもたらすおそれ
がある。
【0037】本発明のエポキシ樹脂組成物には、応力を
低下させる目的でシリコーンゴム、シリコーンオイルや
液状のポリブタジエンゴム、メタクリル酸メチル−ブタ
ジエン−スチレンよりなる熱可塑性樹脂などを配合して
もよい。好ましくは、アルケニル基含有エポキシ樹脂又
はフェノール樹脂のアルケニル基と下記平均組成式
(6)で示される1分子中の珪素原子の数が20〜40
0であり、SiH基の数が1〜5であるオルガノポリシ
ロキサンのSiH基との付加反応により得られる共重合
体を配合することが好ましい。 HabSiO(4-a-b)/2 (6) (但し、式中Rは置換又は非置換の一価の炭化水素基、
aは0.01〜0.1、bは1.8〜2.2、1.81
≦a+b≦2.3である。)
【0038】なお、Rの一価炭化水素基としては、炭素
数1〜10、特に1〜8のものが好ましく、メチル基、
エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イ
ソブチル基、tert−ブチル基、ヘキシル基、オクチ
ル基、デシル基等のアルキル基、ビニル基、アリル基、
プロペニル基、ブテニル基、ヘキセニル基等のアルケニ
ル基、フェニル基、キシリル基、トリル基等のアリール
基、ベンジル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル
基等のアラルキル基などや、これらの炭化水素基の水素
原子の一部又は全部を塩素、フッ素、臭素等のハロゲン
原子で置換したフロロメチル基、ブロモエチル基、トリ
フルオロプロピル基等のハロゲン置換一価炭化水素基を
挙げることができる。
【0039】上記共重合体としては、中でも下記構造の
ものが望ましい。
【化7】
【0040】上記式中、Rは上記と同じであり、R10
水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基であり、R11
−CH2CH2CH2−、−OCH2−CH(OH)−CH
2−O−CH2CH2CH2−又は−O−CH2CH2CH2
−である。nは4〜199、好ましくは19〜99の整
数、pは1〜10の整数、qは1〜10の整数である。
【0041】上記共重合体をジオルガノポリシロキサン
単位がエポキシ樹脂100重量部に対して0〜20重量
部、特には2〜15重量部含まれるように配合すること
で応力をより一層低下させることができる。
【0042】本発明のエポキシ樹脂組成物には、更に必
要に応じ、接着向上用炭素官能性シラン、カーボンブラ
ックなどの顔料、染料、酸化防止剤、表面処理剤(γ−
グリシドキシプロピルトリメトキシシランなど)、その
他の添加剤を本発明の目的を損なわない範囲で配合する
ことができる。
【0043】本発明のエポキシ樹脂組成物は、例えば、
(a)エポキシ樹脂、(b)硬化剤、(c)硬化促進
剤、(d)添加剤及びその他の成分を同時に又は別々
に、必要により加熱処理を加えながら撹拌、溶解、混
合、分散させることにより得ることができる。これらの
混合、撹拌、分散等の装置としては、特に限定されるも
のではないが、撹拌、加熱装置を備えたライカイ機、3
本ロール、ボールミル、プラネタリーミキサー等を用い
ることができる。またこれら装置を適宜組み合わせて使
用してもよい。
【0044】なお、本発明において、封止材として用い
る液状エポキシ樹脂組成物の粘度は、25℃において1
0,000ポイズ以下、特に100〜8,000ポイズ
のものが好ましい。また、この組成物の成形方法、成形
条件は、常法とすることができるが、好ましくは、先に
100〜120℃、0.5時間以上、その後150℃、
0.5時間以上の条件で熱オーブンキュアを行う。10
0〜120℃での加熱が0.5時間未満では、硬化後に
ボイドが発生する場合がある。150℃での加熱が0.
5時間未満では、十分な硬化物特性が得られない場合が
ある。
【0045】ここで、本発明に用いるフリップチップ型
半導体装置としては、例えば図1に示したように、通常
有機基板1の配線パターン面に複数個のバンプ2を介し
て半導体チップ3が搭載されているものであり、上記有
機基板1と半導体チップ3との隙間(バンプ2間の隙
間)にアンダーフィル材4が充填され、その側部がフィ
レット材5で封止されたものとすることができる。
【0046】
【実施例】以下、実施例及び比較例を示して本発明を詳
細に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるも
のではない。
【0047】[実施例1〜4、比較例1〜5]表1で示
す成分を3本ロールで均一に混練することにより、9種
の樹脂組成物を得た。これらの樹脂組成物を用いて、以
下に示す試験を行った。その結果を表1に示す。
【0048】[粘度]BH型回転粘度計を用いて4rp
mの回転数で25℃における粘度を測定した。 [ゲル化時間]組成物のゲル化時間を150℃の熱板上
で測定した。 [Tg(ガラス転移温度)、CTE1(膨張係数)、C
TE2(膨張係数)]5mm×5mm×15mmの硬化
物試験片を用いて、TMA(熱機械分析装置)により毎
分5℃の速さで昇温した時のTgを測定した。また、以
下の温度範囲の膨張係数を測定した。CTE1の温度範
囲は50〜80℃、CTE2の温度範囲は200〜23
0℃である。 [導電テスト]直径200μmの半田ボールが数個接続
された10mm×10mmの銅板を、アンダーフィル材
を100μm厚で被膜した銅板上にのせ、最大温度20
0℃に設定したIRリフローで処理した後、銅板と銅板
が導電通しているかを確認した。 [接着力テスト]感光性ポリイミドをコートしたシリコ
ンチップ上に上面の直径2mm、下面の直径5mm、高
さ3mmの円錐台形状の試験片を載せ、150℃で3時
間硬化させた。硬化後、得られた試験片の剪断接着力を
測定し、初期値とした。更に、硬化させた試験片をPC
T(121℃/2.1atm)で168時間吸湿させた
後、接着力を測定した。いずれの場合も試験片の個数は
5個で行い、その平均値を接着力として表記した。 [PCT剥離テスト]フリップチップボンダーを用いて
ポリイミドコートした10mm×10mmのシリコンチ
ップ(半田ボール設置済み)を30mm×30mmのB
T基板上に滴下したノンフローアンダーフィル材の上に
接続し、IRリフロー最高温度240℃で半田ボール接
続とノンフローアンダーフィル材を硬化させ、更に15
0℃で3時間硬化させてテストサンプルを作製した。こ
のテストサンプルをPCT(121℃、2.1atm)
の環境下に置き、168時間後の剥離をC−SAM(S
ONIX社製)で確認した。 [熱衝撃テスト]フリップチップボンダーを用いてポリ
イミドコートした10mm×10mmのシリコンチップ
(半田ボール設置済み)を30mm×30mmのBT基
板上に滴下したノンフローアンダーフィル材の上に接続
し、IRリフロー最高温度240℃で半田ボール接続と
ノンフローアンダーフィル材を硬化させ、更に150℃
で3時間硬化させてテストサンプルを作製した。このテ
ストサンプルを、−65℃/30分、150℃/30分
を1サイクルとし、250,500,750サイクル後
の剥離、クラックを確認した。
【0049】
【表1】
【0050】成分: RE303S−L:ビスフェノールF型エポキシ樹脂
(日本化薬製) MH700:メチルテトラヒドロ無水フタル酸(新日本
理化製) YH307:3,4−ジメチル−6−(2−メチル−1
−プロぺニル)−1,2,3,6−テトラハイドロフタ
ル酸及び1−イソプロピル−4−メチル−バイサクロ
[2.2.2]オクト−5−エン−2,3−ジカルボン
酸の混合物(混合比率=6:4)(油化シェルエポキシ
製) SE8FC:最大粒径24μm以下、平均粒径6μmの
球状シリカ(徳山ソーダ製) キュアゾールC11Z−PW:2−ウンデシルイミダゾー
ル(四国化成製) 2E4MZのマイクロカプセル:2E4MZ(2−エチ
ル−4−メチルイミダゾール、四国化成製)を20重量
%含有したメタクリル酸メチルの重合体,平均粒径が7
μm,o−クレゾール中で30℃、15分間の処理でマ
イクロカプセルから溶出する触媒の量は87重量%
【0051】共重合体:
【化8】
【0052】
【発明の効果】本発明の液状エポキシ樹脂組成物は、半
導体素子を基板に接続する際に、半田接続と同時に硬化
させても、ボイドの発生がなく、シリコンチップの表
面、特に感光性ポリイミド樹脂や窒化膜との密着性に優
れ、PCT(120℃/2.1atm)などの高温多湿
の条件下でも劣化せず、熱衝撃に対して優れており、特
に大型ダイサイズの半導体装置の封止材として有効であ
り、この封止材を用いた半導体装置は非常に信頼性の高
いものである。
【0053】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の封止材を用いたフリップチップ型半導
体装置の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 有機基板 2 バンプ 3 半導体チップ 4 アンダーフィル材 5 フィレット材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桑原 治由 群馬県碓氷郡松井田町大字人見1番地10 信越化学工業株式会社シリコーン電子材料 技術研究所内 (72)発明者 本田 剛 群馬県碓氷郡松井田町大字人見1番地10 信越化学工業株式会社シリコーン電子材料 技術研究所内 (72)発明者 塩原 利夫 群馬県碓氷郡松井田町大字人見1番地10 信越化学工業株式会社シリコーン電子材料 技術研究所内 Fターム(参考) 4J002 CD001 CD021 CD041 CD051 CD061 EF086 GQ05 4J036 AA01 AF06 DA01 DA02 FA10 JA07 4M109 AA01 EA02 EB02 EB04 EC01

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)液状エポキシ樹脂 (b)硬化剤 (c)硬化促進剤 (d)アビエチン酸及びその誘導体から選ばれる1種又
    は2種以上 を必須成分とし、上記(d)成分を(a),(b)成分
    の合計100重量部に対して0.5〜5重量部含有する
    ことを特徴とする液状エポキシ樹脂組成物。
  2. 【請求項2】 (d)成分が、下記式で表される構造体
    から選ばれるものである請求項1記載の液状エポキシ樹
    脂組成物。 【化1】
  3. 【請求項3】 上記硬化剤として、3,4−ジメチル−
    6−(2−メチル−1−プロぺニル)−1,2,3,6
    −テトラハイドロフタル酸及び1−イソプロピル−4−
    メチル−バイサクロ[2.2.2]オクト−5−エン−
    2,3−ジカルボン酸の混合物を硬化剤全体の5〜75
    重量%含有することを特徴とする請求項1又は2記載の
    液状エポキシ樹脂組成物。
  4. 【請求項4】 上記硬化剤が、3,4−ジメチル−6−
    (2−メチル−1−プロぺニル)−1,2,3,6−テ
    トラハイドロフタル酸及び1−イソプロピル−4−メチ
    ル−バイサクロ[2.2.2]オクト−5−エン−2,
    3−ジカルボン酸の混合物と、メチルテトラヒドロ無水
    フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸又はヘキサ
    ヒドロ無水フタル酸とを併用するものである請求項3記
    載の液状エポキシ樹脂組成物。
  5. 【請求項5】 上記硬化促進剤が、イミダゾール化合物
    又は有機リン化合物である請求項1乃至4のいずれか1
    項に記載の液状エポキシ樹脂組成物。
  6. 【請求項6】 上記イミダゾール化合物が、2−メチル
    イミダゾール、2−エチルイミダゾール、1,2−ジメ
    チルイミダゾール、1,2−ジエチルイミダゾール、2
    −エチル−4−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイ
    ミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール又は2−フ
    ェニルイミダゾールである請求項5記載の液状エポキシ
    樹脂組成物。
  7. 【請求項7】 上記有機リン化合物が、下記式(4)又
    は(5) R1234PSCN (4) R1234P:BR1234 (5) (但し、R1、R2、R3、R4は、炭素数1〜20の有機
    基である。)で表されるものである請求項5記載の液状
    エポキシ樹脂組成物。
  8. 【請求項8】 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の
    液状エポキシ樹脂組成物で半田接続と同時に封止、熱硬
    化されたフリップチップ型半導体装置。
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