JP2003173029A - 露光装置および露光方法 - Google Patents
露光装置および露光方法Info
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
る必要のない露光装置及び露光方法を提供する。 【解決手段】 複数の発光部の中で予め定められている
基準発光量で発光できない不良発光部を検出し、複数の
発光部から照射された光を感光性基板上で走査させた場
合に、感光性基板を一様な光量で露光できるように、不
良発光検出段階で検出された不良発光部と異なる発光部
の発光量を調整してから、光量調整段階で発光量を調整
された複数の発光部から照射された光を感光性基板上で
走査させる。
Description
たパターンを感光性基板に露光するための露光装置に関
する。
短い紫外域の光を発光できる超高圧水銀灯を光源として
用いていた。超高圧水銀等から射出された光は、例え
ば、蠅の目レンズなどを用いて照度分布を一様にし、さ
らに、コリメートレンズにより平行光に変換された後
に、感光性基板の全面に一度に照射されていた。ところ
で、超高圧水銀灯は、一般に寿命が1000時間程度と
短い。このために、生産ライン等で連日、長時間使用さ
れている露光装置では、超高圧水銀灯を頻繁に交換しな
ければならなかった。
を停止させて行うので、当然ながら、光源の交換中に
は、その露光装置が備えられている生産ラインも止めら
れ、製品の生産ができなくなる。しかも、光源の交換を
した場合には、所定の露光条件で再び露光が行えるよう
照明の調整をも再度行わなければならないので、光源の
交換、つまり露光装置を停止させている時間は比較的長
時間に及ぶ。生産ラインの稼働時間帯における露光装置
の長時間の停止は、製品の生産効率の低下につながるの
で好ましくない。そこで、本発明は、稼働中に光源の性
能が低下しても直ちに光源を交換する必要のない露光装
置を提供することを目的とする。
は、複数の発光部、走査手段、不良発光部検出手段、及
び光量調整手段を備える。走査手段は、感光性基板が露
光されるように、複数の発光部から照射された光を感光
性基板上で走査させる。また、不良発光部検出手段は、
複数の発光部の中で予め定められている基準発光量で発
光できない不良発光部を検出する。そして、光量調整手
段は、不良発光部検出手段が検出した不良発光部と異な
る発光部の発光量を調整することで、感光性基板が一様
な光量で露光されるようにする。つまり、本発明に係る
露光装置は、ある発光部の性能が低下し、十分な光量で
発光できなくなっても、他の発光部の発光量を調整する
ことで、その発光部の性能低下を補い、感光性基板の露
光を継続して行えるようにする。
図面を参照しながら説明する。なお、以下の説明では、
露光しようとする感光性基板の露光面に平行な面をxy
平面と呼び、xy平面内で互いに直交する2つの方向を
それぞれx方向およびy方向と呼ぶこととする。
装置の構成を模式的に示す図である。露光装置100
は、露光台102上に配置され、感光性基板10をx、
y2方向に移動可能に保持する基板ステージ104と、
基板ステージ104の動作を制御する基板ステージ制御
部106と、感光性基板10の露光面に平行にフォトマ
スク20を保持するマスクステージ108とを備えてい
る。本実施形態において、マスクステージ108は、感
光性基板10とフォトマスク20との間に数ミクロンか
ら数十ミクロンの間隔があくようにフォトマスク20を
保持する。あるいは、マスクステージ108は、感光性
基板10の露光面にフォトマスク20が密着するように
フォトマスク20を保持する。したがって、本実施形態
では、フォトマスク20に描かれているパターンがほぼ
1:1の縮尺比で感光性基板10に露光される。
0に向けて光を照射する光源110と、光源110を予
め定められた走査方向(本実施形態の場合にはx方向)
に前後駆動する光源走査機構112と、光源走査機構1
12の動作を制御することにより、光源110をx方向
に移動させ、光源110からの光を感光性基板10上に
走査させる走査制御部114とを備えている。
に見た光源110の斜視図である。光源110は、光源
110の走査方向(x方向)に並べられた複数(n個)
の光源ユニットU1〜Unを有する。各光源ユニットU
1〜Unは、筐体110aによって一体に保持されてい
る。
あり、感光性基板10の露光面に垂直であり、かつ、y
方向に平行な面に沿った光源ユニットU1の断面の一部
を示している。光源ユニットU1内には、プリント基板
120が配置されており、そのプリント基板120に複
数のLED(発光ダイオード)122が取り付けられて
いる。LED122は、感光性基板10に向けて露光光
を照射する発光部又は発光素子の一例である。
122を用いるのは、一般的に露光装置の光源として用
いられている高圧水銀灯などと比較して耐久性や省電力
の面で優れているからである。なお、本実施形態では、
特に紫外域の光を発光するLEDを採用し、紫外線に反
応するタイプのフォトレジストが塗布されている感光性
基板10を露光する。
は、レンズパネル124が備えられている。レンズパネ
ル124は、ガラス又は光透過性のある樹脂からなり、
各LED122から照射された光の通過位置にコリメー
タレンズ126が形成されている。従って、各LED1
22から射出された光は、コリメータレンズ126によ
って平行光に変換され、その後、感光性基板10又はフ
ォトマスク20に照射される。なお、上記では、光源ユ
ニットU1について説明したが、本実施形態の場合、他
の光源ユニットU2〜Unも光源ユニットU1と同一の
構造を有する。
るLEDの配列を説明するための図である。図4におい
て、黒点pはLED122の位置を表しており、破線に
よる円形部qは各LED122からコリメータレンズ1
26を介して照射された光が、感光性基板10又はフォ
トマスク20に形成するビームスポットを表している。
でy方向に配置されたLED122の列が、x方向、つ
まり走査方向へ等間隔bで複数列配置されている。LE
D122の各列は、光源ユニットがx方向に走査された
ときに、1つの光源ユニット内の2つのLED122に
よりそれぞれ形成されるビームスポットqが走査方向に
おいて完全に重なることがないように、y方向に互いに
一定距離cだけずらされて配置されている。
ットU内のLED122の列数をmとすると、LED1
22は、次式が成立するように配列される; (d×m)≧a ・・・(1) (c×m)=a ・・・(2) 式(1)、(2)が満たされている場合には、光源ユニ
ットをx方向に走査させたときに、図4において斜線部
rおよびsで示すように、相前後する列のLED122
のビームスポットがそれぞれ感光性基板10上を通過す
る領域が一部において重複する。このために、光源ユニ
ットがx方向に走査されたときに、各光源ユニットから
感光性基板10の全面に光が照射され、光が照射され
ず、露光されない領域が残るという事態は生じない。
に沿ったLED122の並びをLED122の列と、y
方向に交差する方向に沿ったLED122の並びを行と
それぞれ呼ぶこととする。また、各光源ユニットの個々
のLED122は、そのLED122が属する光源ユニ
ットの番号、行位置、及び列位置からなるLED位置情
報によって表されることとする。例えば、図4において
斜線を付されているLED122は、第1番目の光源ユ
ニットU1の1行目、1列目に位置するので、そのLE
D位置情報は、(1、1、1)となる。
UnにおいてLED122の数及び配列方法は同一であ
る。また、各光源ユニットUは、y方向に関して実質的
に同一の位置に配置される。したがって、光源110が
x方向に走査された場合には、各光源ユニットにおいて
同じ列、及び同じ行にあるLED122のビームスポッ
トが感光性基板10上の同じ位置を通過する(図中の破
線A参照)。したがって、本実施形態では、ある光源ユ
ニットのLED122(例えば光源ユニットU1の第1
行、第1列目にあるLED122)の性能が低下し、そ
の発光量がδLだけ低下しても、そのLED122と同
一行、同一列に位置する他の光源ユニットのLED12
2(光源ユニットU2からUnの第1行、第1列目にあ
るLED122)の総発光量をδLだけ増大させれば、
感光性基板10を予め定められた露光量で露光すること
ができる。
に、光源110から照射される光の光量を検出するため
の受光部130を有する。本実施形態の場合、受光部1
30は、露光台102の端部のうち、光源110が走査
される方向の端部に設けられている。受光部130は、
光源110が光源走査機構112により受光部130に
対向する位置まで移動されたときに、光源110から照
射された光の光量を検出できる。
た。受光部130は、フォトダイオード等の受光素子1
32を複数備えている。これら受光素子132には、そ
れらの受光面が好ましくは感光性基板10の露光面とほ
ぼ同一平面内に位置するように配置される。本実施形態
の場合、受光部130は、単一の光源ユニットが備えて
いるLED122と同数の受光素子132を有する。受
光素子132は、図4で説明したLED122の配列と
同じに配列されている。したがって、光源ユニットのい
ずれかが受光部130と対向する位置に位置決めされる
と、受光素子132の各々がそれぞれ異なるLED12
2から照射された光を受光する。これにより、本実施形
態では、受光部130を用いて一つの光源ユニットが備
える全てのLED122の発光量を一度に検出すること
ができる。
に、点灯制御部140と、駆動電流記憶部142とを備
えている。点灯制御部140は、光源110の点灯、消
灯を制御する。すなわち、点灯制御部140は、LED
122に供給する電流をLED122毎に制御すること
で各LED122の点灯消灯、及び発光量を制御する。
一方、駆動電流記憶部142は、各LEDについて、露
光時に点灯制御部140が供給すべき電流の値を記憶し
ている。
る情報の内容を示している。図6に示すように駆動電流
記憶部142には、LED位置情報、駆動電流Ie、測
定発光量Lm、及び最大発光量Lmaxが互いに対応づけら
れて記憶される。駆動電流Ieは、露光時にLEDに共
有すべき電流値である。測定発光量Lmは、LED12
2に予め定められている規定電流Isを供給した場合の
LEDの発光量である。そして、最大発光量Lmaxは、
測定発光量Lmに基づいて推定されるLED122が発
光できる最大の光量である。なお、駆動電流Ie、測定
発光量Lm、及び最大発光量Lmaxについては、さらに後
述する。
に、光量調整タイミング設定部144を備えている。光
量調整タイミング設定部144には、受光部130を用
いて光源110が備える各LED122の光量を測定
し、その測定結果に基づいて各LED122の発光量を
調整すべきタイミングの基準が設定される。本実施形態
の場合、光量調整タイミング設定部144は、温度設定
部146、回数設定部148、及び時間設定部150を
有している。
光量が実質的に変化することがない、LED122の周
囲温度の範囲が設定される。回数設定部148には、L
EDの発光量の再度の調整を行うまでに許容される露光
回数が設定される。また、時間設定部150には、LE
D122の発光量の再度の調整を行うまでに許容される
時間間隔、例えば、最後に発光量の調整を行った時から
次の調整を行うまでの時間周期、又は次の調整を行うべ
き日付、時刻等が設定される。
は、リセットスイッチ152も備えられている。本実施
形態では、リセットスイッチ152がONとなると、温
度設定部146等の設定内容にかかわらず光量調整のた
めの処理が実行される。
は光源110の近傍に配置され、光源110の周囲温度
を測定する温度測定部154と、露光装置100が実行
した露光処理の回数を記録する露光回数記憶部156と
を備える。また、露光装置100は、時間経過を計時
し、その結果を出力するタイマー158とを備える。な
お、時間設定部150に次に発光量の調整を行うべき日
付、時刻等が設定される場合には、タイマー158の代
わりに、現在の日付、時刻等を出力する報時部が備えら
れる。
と、主制御部とを備えている。報知部160は、露光装
置100において異常があった場合にその旨の情報を出
力する。例えば、警報を出力できるランプ、スピーカ
ー、モニター画面、又は、警報を他の機器へ向けて有線
若しくは無線を介して出力する通信機器である。主制御
部162は、円滑な露光処理が行われるように、点灯制
御部140、走査制御部114及び基板ステージ制御部
106等を統括制御する。また、主制御部162は、光
量調整タイミング設定部144に設定されている情報
と、温度測定部154、露光回数記憶部156、又はタ
イマー158の出力する情報とを比較して、LED12
2の光量調整を行うべきタイミングを判断する。光量調
整を行うべきと判断したときには、主制御部162は、
点灯制御部140、走査制御部114、及び受光部13
0を制御して光量調整のための処理を行う。また、主制
御部162は、LEDの光量調整に異常があったとき
は、報知部160を介してその旨を知らせる。
装置の動作を示すフローチャートである。本実施形態で
は、はじめに主制御部162がタイミング判定処理を行
う(S102)。タイミング判定処理では、露光装置1
00が、光量調整タイミング設定部144に設定されて
いる情報と、温度測定部154、露光回数記憶部15
6、又はタイマー158の出力する情報とを比較して、
LEDの光量調整を行うべきタイミングを判断する。
理における処理内容を示した。タイミング判定処理で
は、はじめに主制御部162が、温度設定部146に設
定されている温度範囲と、温度測定部154が測定した
温度の値を比較する(S152)。一般に発光ダイオー
ドの発光量は、その発光ダイオードの周囲温度に影響を
受けて増減する。したがって、発光ダイオードの周囲温
度が大幅に変化した場合には、その発光ダイオードは適
正な光量で発光していない可能性があり、この場合には
その発光ダイオードの発光量を再調整すべきである。そ
こで、本実施形態では、温度測定部154が測定した温
度が温度設定部146に設定されている温度範囲外にあ
る場合には、主制御部162が、例えば実行しているプ
ログラム中の所定のフラグを立てることによりLED1
22の光量調整を行う旨を決定する(S152:ye
s、S162)。
温度設定部146に設定されている温度範囲内にある場
合(S152:no)、主制御部162は、露光回数記
憶部156に記録されている露光回数を回数設定部14
8に設定されている回数と比較する(S154)。露光
回数が設定回数を越えている場合、主制御部162は、
LED122の光量調整を行う旨の決定を行う(S15
4:yes、S162)。
場合(S154:no)、次に主制御部162は、タイ
マー158が計時した時間を時間設定部150に設定さ
れている時間間隔とを比較する(S156)。その結
果、タイマー158が計時した時間が設定されている時
間間隔を超過している場合、主制御部162は、LED
122の光量調整を行う旨の決定を行う(S156:y
es、S162)。
した時間が設定されている時間間隔を超過していない場
合(S156:no)、主制御部162は、次にリセッ
トスイッチ152の出力を確認する(S158)。この
結果、リセットスイッチ152の出力がONでなかった
場合には、光量調整タイミング設定部144において設
定されている光量調整を行うための条件がいずれも満た
されていなかったことになる。そこで、主制御部162
は、光量調整を行わない旨の決定を行い(S158:n
o、S160)、タイミング判定処理を終了する。
Nであった場合には、主制御部162は、光量調整を行
う旨の決定を行う(S158:yes、S162)。S
162の決定の後、主制御部162は、温度設定部14
6、露光回数記憶部156、及びタイマー158を再設
定する(S164)。すなわち、温度設定部146に
は、そのときに温度測定部154で測定されている温度
を中心とした予め定められた幅の新しい温度範囲が設定
される。また、露光回数記憶部156に記憶されていた
露光回数、及びタイマー158で計時されていた時間は
初期値0に設定される。タイマー等の再設定の後、主制
御部162は、タイミング判定処理を終了する。
02)が行われた結果、光量調整を行わない旨の決定が
なされた場合(S104:no)、主制御部162は、
後述するS112の処理へ進む。一方、光量調整を行う
旨の決定がなされている場合(S104:yes)、主
制御部162は、次にLED122の光量調整のための
処理を実行する。
には、光量補正処理(S106)と、光量補償処理(S
108)とが含まれる。光量補正処理では、各LED1
22を予め定められている基準発光量Ldで発光させる
ために、各LED122に供給すべき電流値Icが求め
られる。一方、光量補償処理では、光量補正処理が行わ
れたのにもかかわらず、基準発光量Ldで発光できない
不良なLED122が特定される。そして、光量補償処
理では、そのような不良なLED122があっても、感
光性基板を一様な光量で露光できるように、不良なLE
D122を除く他のLED122の発光量が調整され
る。
における処理内容を示すフローチャートである。また、
図10は、LED122に供給される電流Iと、LED
122の発光量Lとの関係を示す図である。光量補正処
理では、はじめに、一つの光源ユニットが受光部130
に対向し、その光源ユニットが備える各LED122が
対応するする受光素子132に向けて光を照射できる位
置まで光源110が光源走査機構112により移動され
る(S202)。次に、点灯制御部140から各LED
122に予め定められている規定電流Isが供給され、
これにより点灯した各LED122の発光量が対応する
各受光素子132により測定される(S204)。
光素子132が測定した測定発光量Lmに基づいて、各
LED122が予め定められている基準発光量Ldで発
光するために、各LED122にそれぞれ供給すべき電
流値Ic(以下、基準駆動電流Icという)を求める(S
206)。図10に実線で示すように、発光ダイオード
における供給電流Iと発光量Lの関係は、ほぼ原点を通
る直線により近似できる。したがって、図から明らかな
ように、規定電流Is及び測定発光量Lmが既知であれ
ば、基準駆動電流Icは、簡単な比例関係から容易に求
めることができる。なお、基準発光量Ldは、好ましく
は、LED122の定格最大発光量のほぼ2/3倍に設
定される。
測定発光量Lmより、LED122毎に、最大定格電流
Imaxを供給した時のそのLED122の発光量である
最大発光量Lmaxを求める(S208)。求められた各
LED122の最大発光量Lmax及びS204で得られ
た各LED122の測定発光量Lmは、後に光量補償処
理で利用できるように駆動電流記憶部142に記録され
る(S210)。
ついて基準駆動電流Icと定格最大電流Imaxを比較する
(S212)。比較の結果、基準駆動電流Icが定格最
大電流Imaxより大きい場合、そのLED122は、基
準駆動電流Icを供給して基準発光量Ldで発光させる
ことはできない不良なLED122である。そこで主制
御部162は、この場合、報知部160に不良なLED
122が検出された旨を示す不良発光情報を出力させる
(S212:no、S214)。この結果、報知部16
0は、それが例えばランプであればそのランプを点灯さ
せ、スピーカーであれば、ブザー音又は予め定められて
いる音声を出力して、露光装置の使用者に対して警告す
る。また、報知部160がモニター画面であれば、例え
ば、不良なLED122が存在する旨のメッセージ、不
良なLED122の配列位置を示す記号、数値、又は配
置図等、不良なLED122を特定できる情報を画面に
表示する。
62は、その不良なLED122の駆動電流Ieとして
定格最大電流Imaxを駆動電流記憶部142に記録する
(S216)。
cが定格最大電流Imax以下であった場合(S212:y
es)、該当するLED122に基準駆動電流Icを供
給することでそのLED122を基準発光量Ldで発光
させることができるので、基準駆動電流Icがそのまま
駆動電流Ieとして駆動電流記憶部142に記録される
(S218)。
図7の光量補償処理(S108)の処理内容について説
明する。なお、以下では、簡単のため、光源110が備
えるLED122の中で不良なLED122は一つのみ
であるとして光量補償処理を説明する。
2が駆動電流記憶部142にアクセスし、駆動電流Ie
が定格最大電流Imaxに等しいLED122、つまり不
良なLED122と、その不良なLED122において
不足している発光量を補償できる他のLED122の駆
動電流Ie及び最大発光量Lmaxを駆動電流記憶部142
から取得する(S252)。図4で既に説明したよう
に、本実施形態の場合、各光源ユニットにおいて同一
行、同一列に位置するLED122は、光源110がx
方向に走査されたときに感光性基板10上の同じ領域を
露光する。したがって、主制御装置162は、S252
において、駆動電流記憶部142に記録されているLE
D位置情報を参照しながら、不良なLED122と同一
行、同一列に位置しているLED122(以下、このよ
うなLEDを補償用LEDと呼ぶ)の駆動電流Ieと最
大発光量Lmaxを取得する。
量Lmaxの総和と、基準発光量Ldと光源ユニットの個
数nの積とを比較する(S254)。前者は、不良なL
ED122とその補償用LED122が発光できる総光
量の最大値(以下、発光可能総光量という)である。後
者は、感光性基板10を一様に露光するために、不良な
LED122とその補償用LED122が発光しなけれ
ばならない総光量(以下、必要総光量という)である。
発光可能総光量が必要総光量より小さい場合(S25
4:no)、不良なLED122において不足している
光量を補償用LED122で補うことはできない。した
がって、この場合には、主制御部162は、感光性基板
を一様な光量で露光できるようにLED122の発光量
を調整できない旨の調整不可情報を報知部160に出力
させる(S256)。また、主制御部162は、例えば
実行しているプログラム中の所定のフラグを立てること
により、感光性基板10の露光を禁止する旨の決定を行
う(S258)。
が必要総光量以上であった場合(S254:yes)、
主制御部162は、不良なLED122において不足し
ている発光量を補償するように、補償用LED122の
駆動電流Ieを調整する(S260)。本実施形態で
は、例えば、不足している光量を補償用LED122の
各々が等分に分担するように、各補償用LED122の
駆動電流を一定量ずつ増大させる。そして、主制御部1
62は、各補償用LED122の変更後の駆動電流Ie
を駆動電流記憶部142に保存する(S262)。さら
に、主制御部162は、感光性基板10の露光が許可さ
れる旨の決定を行い(S264)、光量補償処理を終了
する。
性基板10の露光を禁止する旨の決定がなされた場合、
主制御部162は、感光性基板10を露光するための処
理を行わずに露光装置100の動作を終了させる(S1
10:yes)。これにより、本実施形態では、露光装
置100が感光性基板10を不均一な光量で露光するこ
とを防止する。
る旨の決定がなされた場合(S110:no)、主制御
部162は、感光性基板10を露光するための処理を実
行する(S112)。すなわち、感光性基板10は、駆
動電流記憶部142から各LED122の駆動電流Ie
の値を取得し、それを点灯制御部140に送信する。点
灯制御部140では、送信された各駆動電流Ieを対応
する各LED122に供給することで光源110を点灯
する。これにより、光源110が備える各LED122
は、光量補正処理(S106)および光量補償処理(S
108)で調整された光量で発光する。光源110が点
灯された後に、主制御部162は、走査制御部114に
光源110の走査を命令し、走査制御部114は、光源
走査機構112を制御して、光源110から照射された
光が感光性基板10の全体を走査するように、光源11
0を一定速度でx方向に移動させる。この結果、光源1
10から照射された光が感光性基板10上を一定速度で
走査し、感光性基板10が露光される。
数記憶部156に記録されている露光回数を更新し(S
114)、その後、露光装置100の動作を終了させ
る。
置について説明する。本発明の第2実施形態に係る露光
装置は、光量補償処理の内容と、光量補償処理が行われ
た後の露光装置の動作が第1実施形態に係る露光装置と
異なる。他の点において、第2実施形態に係る露光装置
の構成および動作は、第1実施形態の露光装置と同一で
ある。そこで、以下では、第2実施形態に係る露光装置
が第1実施形態に係る露光装置と異なる点についてのみ
説明する。なお、以下の説明において、第1実施形態に
おいて既に説明した構成要素及び処理内容については、
第1実施形態で付したのと同じ符号を付し、その構成要
素又は処理内容についての説明を省略する。
係る露光装置100では、光量補償処理において、不良
なLED122で不足している光量を補償用LED12
2で補償できなかった場合に、感光性基板10の露光を
禁止していた。これに対して本発明の第2実施形態に係
る露光装置では、光量補償が達成できなかった場合に、
露光を禁止せず、光源110から感光性基板10上に照
射される光の走査速度を調整することにより、感光性基
板10の一様な露光を達成する。
光装置の動作を示すフローチャートである。第1実施形
態の露光装置は、光量補償処理(S108)の内容によ
り、その後の露光処理が許可されたり、禁止されたりし
ていたが、本実施形態では、光量補償処理(S108)
が行われた後、常に露光処理(S112)が行われる。
ただし、本実施形態では、露光処理(S112)におい
て光源110が走査される速度が光量補償処理において
決定される。つまり、光源110の走査速度は常に一定
ではなく、光源110が備えるLED122の発光量に
より変化する。
ける光量補償処理の処理内容を示すフローチャートであ
る。本実施形態の光量補償処理は、S256及びS26
2の後に光源110の走査速度を決定する処理を行う点
で第1実施形態の光量補償処理と異なる。他の点では、
本実施形態の光量補償処理は、第1実施形態の光量補償
処理と同一である。
は、S254において、不良なLED122での不足光
量を他のLED122の光量で補償できると判断された
場合には(S254:yes)、第1実施形態と同様
に、補償用LED122の駆動電流Ieを調整し(S2
60)、変更後の駆動電流Ieを保存した後(S26
2)、主制御部162が光源110の走査速度を標準速
度に設定する(S264)。ここで標準速度とは、光源
110が備える全てのLED122が基準光量Ldで発
光する場合に、感光性基板10を必要な露光量で露光す
ることができる光源110の走査速度である。この結
果、図12に示した光量補償処理後の露光処理(S11
2)では、光源110が標準速度で走査されることとな
る。
22での不足光量を他のLED122の光量で補償する
ことができないと判断された場合には(S254:n
o)、主制御部162が、光源110の走査速度を下げ
るための処理を行う。具体的には、S256において調
整不可情報を出力する処理を行った後に、主制御部16
2が、光源110の走査速度を不良なLED122と補
償用LED122の発光可能総光量ΣLmaxに基づいて
定める(S302)。本実施形態の場合には、走査速度
が Vstd・(ΣLmax/Ld×n)以下となるように定め
られる。ここでVstdは、前述した標準速度である。
142に記録されている各LED122の駆動電流Ie
のうち、不良なLED122と補償用LED122とを
除く他のLED122の駆動電流IeをS302で定め
られた走査速度に基づいて変更する。これは、走査速度
を下げたために、感光性基板10が過露光されることを
防止するためである。本実施形態の場合、駆動電流Ie
は、Ie=Ie・(Vmod/Vstd)に変更される(S30
4)。ここで、Vmodは、S302で定められた走査速
度である。
光量補償処理は終了し、露光処理(図12、S112)
が行われる。この場合の露光処理では、光源110が、
S302で定められた標準速度より遅い走査速度で走査
される。これにより、本実施形態では、補償用LED1
22で補償できない程に発光量が低下しているLED1
22があるにもかかわらず、感光性基板10を一様に露
光できる。
する。本発明の第3実施形態に係る露光装置は、光量補
償処理の内容と、光量補償処理が行われた後の露光装置
の動作が第1実施形態に係る露光装置と異なる。他の点
において、第3実施形態に係る露光装置の構成および動
作は、第1実施形態の露光装置と同一である。そこで、
以下では、第3実施形態に係る露光装置が第1実施形態
に係る露光装置と異なる点に付いてのみ説明する。
で感光性基板10を一様な光量で露光するようにLED
122の発光量を調整できない場合に、LED122の
発光量が未調整なままで1回目の露光(以下、通常露光
という)を行う。この結果、感光性基板10の一部は十
分な露光量で露光されるが、他の一部は露光量が不十分
となる。つまり、感光性基板10には、いわゆる露光ム
ラが生じる。そこで本実施形態では、通常露光で生じた
露光ムラを解消し、感光性基板10の全体が適性かつ一
様な露光量で露光されるように、光源110が備えるL
ED122の発光量を調整した上で、さらに追加の露光
を行う。これにより、本実施形態では、他のLED12
2で補償できない程に発光量が低下している不良なLE
D122があるにもかかわらず、感光性基板10を一様
に露光することを可能としている。
光装置の動作を示すフローチャートである。また、図1
5は、本発明の第3実施形態に係る露光装置における光
量補償処理の処理内容を示すフローチャートである。
おける光量補償処理の処理内容について説明する。本実
施形態における光量補償処理は、調整不可情報の出力処
理(S256)が実行された後に追加露光用の駆動電流
Ieを定める処理(S370)が実行される点で第1実
施形態の光量補償処理と異なっている。また、本実施形
態の光量補償処理は、露光許可の決定(S264)、露
光禁止の決定(S258)を行わない点で第1実施形態
における光量補償処理と異なっている。他の点では、本
実施形態の光量補償処理は、第1実施形態の光量補償処
理と同一である。
不良なLED122及び補償用LED122の中から少
なくとも一つのLED122を選択する。また、主制御
部162は、不良なLED122において不足している
発光量δL(=(基準発光量Ld)−(不良なLED1
22のLmax))を求める。そして、主制御部162
は、選択した少なくとも一つのLED122の発光量の
総和が不足している発光量δLと等しくなるように、そ
れら選択したLED122に供給すべき駆動電流Iadd
を定める。定められた駆動電流Iaddは、追加露光時に
選択されたLED122に供給すべき電流である。S3
70が実行された後、光量補償処理は終了される。
係る露光装置では、図14に示されているように、まず
通常露光が行われる(S352)。通常露光では、各L
ED122が駆動電流記憶部142に設定されている駆
動電流Ieで点灯される。したがって、図15に示した
光量補償処理において、S260及びS262における
不良なLED122の不足光量を補償するための処理が
行われている場合には、この通常露光を行うだけで、感
光性基板10が必要な露光量で一様に露光される。一
方、光量補償処理において、不良なLED122の不足
光量を補償用LED122で補償できないと判断され
(S254:no)、その結果、S260及びS262
が行われなかった場合には、通常露光を行うだけでは不
良なLED122が露光した感光性基板10の領域が露
光不足となる。
追加露光用の駆動電流Iaddが定められているか否かを
判断する(S354)。定められていない場合には(S
354:no)、光量補償処理において、感光性基板1
0を一様に露光できるように各LEDの発光量の調整が
なされていることになるので、主制御部162は、追加
露光を行わず、露光回数更新(S114)のみを行って
露光装置100の動作を終了させる。
動電流Iaddが設定されていた場合、主制御部162
は、点灯制御部140及び走査制御部114に追加露光
のための処理を実行させる(S354:yes、S35
6)。このとき、点灯制御部140は、S370で選択
された追加露光用のLED122にのみ、各々のLED
122について定められている追加露光用の駆動電流I
addを供給する。この結果、追加露光では、不良なLE
D122があったために、S352の通常露光では露光
不足となった感光性基板10の領域にのみ、その露光不
足を解消する光量で露光がなされる。
て説明したが、本発明に係る露光装置は、上記実施形態
に限定されず、本発明の技術的思想の範囲内において上
記実施形態に種々の変形を加えることが可能である。
部の形態を種々に変形することができる。図16は、本
発明に係る露光装置が備える受光部の第1の変形例を示
す平面図である。図示のように、本変形例に係る受光部
400は、y方向に沿って一列に配列された複数の受光
素子132を有する。各々の受光素子132の間隔は、
光源ユニットU1〜UnにおけるLED122のy方向
間隔aと等しい。受光部400は、受光部400をy方
向に沿って移動、位置決めできる送り機構402に取り
付けられている。
露光装置では、光量補正処理時に、LED122の各列
が、順に、受光素子400上で止まるように光源110
が走査方向に段階的に移動させられる。また、光源11
0の段階的移動に同期して、送り機構402が、受光部
400をy方向に段階的に送り、それにより各受光素子
132を、常に移動してきたLED122の発光量を適
性に受光できる位置に配置する。これにより、受光部4
00を用いて、LED122の発光量をLED122の
列毎に順に測定することが可能になる。
受光部の第2の変形例を示す平面図である。第2の変形
例に係る受光部410では、受光素子132がy方向、
すなわち、LED122の列方向に平行ではなく、行方
向に平行に配列されている。受光素子132が配列され
ている間隔は、光源ユニットにおけるLED122と同
一である。このような受光部400を露光装置が備える
場合には、光量補正処理時に、一つの光源ユニットがそ
のx方向幅全体に渡り受光部410上に位置するように
光源110が移動される。次に、光源ユニットの各LE
D122から照射される光を受光部410がLED12
2の行毎に受光できるように、送り機構402が受光部
410を一定量ずつ段階的に送る。これにより、受光部
410を用いて、LED122の発光量をLED122
の行毎に順に測定することが可能になる。
受光部の第3の変形例を模式的に示す斜視図である図で
ある。第3変形例に係る受光部420は、光源110の
走査方向に交わる方向、本実施形態の場合にはy方向に
平行に配置されたCCDラインセンサ424と、そのラ
インセンサ424の受光側に配置された波長変換部42
2とを備えている。波長変換部422は、LED122
が照射する光の波長をラインセンサ424が検知できる
波長の光に変換する。例えば、LED122が紫外光を
発光している場合には、波長変換部422としては、そ
の紫外光を吸収して可視光を放出する蛍光体が封入され
た透明容器を波長変換部422として使用することがで
きる。
る場合には、光量補正時に、光源110が各LED12
2を点灯させたまま受光部420を通過するように走査
される。この結果、ラインセンサ424では、例えば図
19に示すようなデータが得られる。図19において、
Xは光源110のx方向移動量、yはラインセンサ42
4が光を検出したy方向位置、Lは検出された光の光量
を示す。図19に現れている光量の各凸部は、LED1
22からの光が受光部420に照射されたことを示して
いる。各凸部が現れるy方向座標と光源110のx方向
移動量がその凸部がいずれのLED122に対応するか
を求めることができ、また、各凸部の体積から、対応す
るLED122の光量を求めることができる。
装置は、複数の発光部の中で予め定められている基準発
光量で発光できない不良発光部を検出し、感光性基板が
一様な光量で露光されるように検出された不良発光部と
異なる発光部の発光量を調整するので、感光性基板を露
光するための光源の性能が低下しても、直ちに光源を交
換する必要のない露光装置を提供することができる。
模式的に示す図である。
視図である。
である。
図である。
示すフローチャートである。
ローチャートである。
ャートである。
量Lとの関係を示す図である。
チャートである。
を示すフローチャートである。
の処理内容を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
る光量補償処理の処理内容を示すフローチャートであ
る。
の変形例を示す平面図である。
の変形例を示す平面図である。
の変形例を模式的に示す斜視図である図である。
データの一例を示す図である。
Claims (19)
- 【請求項1】 複数の発光部と、 感光性基板を露光するために前記複数の発光部から照射
された光を前記感光性基板上で走査させる走査手段と、 前記複数の発光部の中で予め定められている基準発光量
で発光できない不良発光部を検出する不良発光部検出手
段と、 前記感光性基板を一様な光量で露光できるように、前記
複数の発光部のうち、前記不良発光部と異なる発光部の
発光量を調整する光量調整手段とを備えることを特徴と
する露光装置。 - 【請求項2】 前記光量調整手段は、前記不良発光部が
露光する領域とほぼ同じ領域を露光する前記発光部の発
光量を調整することを特徴とする請求項1に記載の露光
装置。 - 【請求項3】 前記複数の発光部が2次元配列されてい
る光源ユニットを複数備え、 前記光量調整手段は、前記不良発光部が属している前記
光源ユニットと異なる光源ユニットにある前記発光部の
発光量を調整することを特徴とする請求項2に記載の露
光装置。 - 【請求項4】 前記不良発光部検出手段が不良発光部を
検出した場合に、前記不良発光部が検出された旨を示す
不良発光情報を出力する不良発光情報出力手段をさらに
備えることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項5】 前記不良発光情報は、前記複数の発光部
の中から前記不良発光部を特定するための情報を含むこ
とを特徴とする請求項4に記載の露光装置。 - 【請求項6】 前記光量調整手段が前記発光量の調整を
行えなかった場合に、発光量の調整ができない旨を示す
調整不可情報を出力する調整不可情報出力手段をさらに
備えることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項7】 前記光量調整手段が前記発光量の調整を
行えなかった場合に、前記感光性基板の露光を禁止する
露光禁止手段をさらに備えることを特徴とする請求項1
に記載の露光装置。 - 【請求項8】 前記光量調整手段が前記発光量の調整を
行えなかった場合に、前記感光性基板が一様な光量で露
光されるように、前記走査手段が前記複数の発光部から
照射された光を走査する走査速度を変更する走査速度変
更手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載
の露光装置。 - 【請求項9】 前記走査速度変更手段は、前記不良発光
部が露光する領域とほぼ同じ領域を露光する前記発光部
の総発光量に基づいて前記走査速度を定めることを特徴
とする請求項8に記載の露光装置。 - 【請求項10】 前記走査速度変更手段が前記走査速度
を変更した場合に、前記変更後の走査速度に基づいて、
前記不良発光部が露光する領域と異なる領域を露光する
前記発光部の発光量を変更する光量変更手段をさらに備
えることを特徴とする請求項9に記載の露光装置。 - 【請求項11】 前記光量調整手段が前記光量の調整を
行えなかった場合に、前記発光量が未調整なままで前記
走査手段に前記光を走査させることで1回目の露光を行
い、さらに、前記1回目の露光による露光ムラを解消で
きる発光量で前記発光部の各々を発光させながら前記走
査手段に前記光を走査させることで追加の露光を行う露
光実行手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に
記載の露光装置。 - 【請求項12】 前記発光部は、発光ダイオードである
ことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項13】 前記不良発光部検出手段は、予め定め
られた規定電流を前記発光ダイオードに供給したときの
当該発光ダイオードの発光量に基づいて当該発光ダイオ
ードが前記基準発光量で発光できるか否かを判定するこ
とを特徴とする請求項12に記載の露光装置。 - 【請求項14】 前記発光ダイオードの各々について、
供給すべき電流の設定値を記憶する駆動電流記憶手段
と、 露光時に、前記駆動電流記憶手段に記憶されている設定
値に対応した電流を各々の前記発光ダイオードに供給す
ることで前記発光ダイオードを点灯する点灯制御手段
と、 予め定められた規定電流を前記発光ダイオードに供給し
たときの当該発光ダイオードの発光量に基づいて、当該
発光ダイオードを前記基準発光量で発光させるために当
該発光ダイオードに供給すべき電流値を算出し、算出さ
れた電流値を前記設定値として前記駆動電流記憶手段に
記憶させる設定値演算手段とをさらに備えることを特徴
とする請求項12に記載の露光装置。 - 【請求項15】 前記基準発光量は、前記発光ダイオー
ドの定格最大発光量のほぼ2/3であることを特徴とす
る請求項12に記載の露光装置。 - 【請求項16】 所定の温度範囲が設定される温度設定
手段と、 周囲の温度を測定する温度測定手段と、 前記温度設定手段における設定内容と、前記温度測定手
段の測定結果とに基づいて、前記周囲の温度が前記所定
の温度範囲を超えたか否かを判定する温度判定手段とを
備え前記光量調整手段は、前記周囲の温度の変化が前記
温度範囲を超えたと前記温度判定手段が判定した場合に
前記調整を行うことを特徴とする請求項1に記載の露光
装置。 - 【請求項17】 前記発光部の発光量の調整を行うべき
時間間隔が設定される時間間隔設定手段と、 時間情報を出力する時間情報出力手段と、 前記時間情報に基づいて、前記時間間隔が経過したか否
かを判定する経過時間判定手段とを備え、 前記光量調整手段は、前記経過時間判定手段が、前記時
間間隔が経過したと判定した場合に前記調整を行うこと
を特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項18】 前記発光部の発光量の調整を行うべき
露光回数が設定される露光回数設定手段と、 露光が行われた回数を記録する露光回数記録手段と、 前記露光回数記録手段に記録されている回数が前記露光
回数設定手段に達したか否かを判定する露光回数判定手
段とを備え、 前記光量調整手段は、前記露光回数判定手段が、前記露
光回数記録手段に記録されている回数が前記露光回数設
定手段に達したと判定した場合に前記調整を行うことを
特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項19】 複数の発光部の中で予め定められてい
る基準発光量で発光できない不良発光部を検出する不良
発光検出段階と、 前記複数の発光部から照射された光を感光性基板上で走
査させた場合に、前記感光性基板を一様な光量で露光で
きるように、前記不良発光検出段階で検出された前記不
良発光部と異なる前記発光部の発光量を調整する光量調
整段階と、 前記光量調整段階で発光量が調整された前記複数の発光
部から照射された光を前記感光性基板上で走査させる走
査段階とを含むことを特徴とする露光方法。
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JP (1) | JP2003173029A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005251841A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Opcell Co Ltd | 光描画装置 |
JP2006091655A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Tohoku Univ | パターン描画装置および方法 |
JP2007194433A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Canon Machinery Inc | ピックアップ装置及びピックアップ方法 |
JP2008116646A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
FR2919397A1 (fr) * | 2007-10-11 | 2009-01-30 | Automa Tech Sa | Source lineaire de lumiere collimatee homogene et mobile |
CN102063041A (zh) * | 2009-11-16 | 2011-05-18 | 夏普株式会社 | 激光定影装置及具有该激光定影装置的图像形成装置 |
JP2011237596A (ja) * | 2010-05-10 | 2011-11-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
KR101087787B1 (ko) * | 2010-11-05 | 2011-11-30 | 주식회사 나래나노텍 | 노광 장치용 라인 광원 및 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 패턴 형성용 노광 장치 및 노광 시스템 |
JP2012186399A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-27 | Lintec Corp | 光照射装置及び光照射方法 |
JP2013520814A (ja) * | 2010-02-25 | 2013-06-06 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
WO2013140499A1 (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-26 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 露光ヘッド及び露光装置 |
JP7141167B1 (ja) * | 2021-04-16 | 2022-09-22 | フェニックス電機株式会社 | 光照射装置、露光装置、および露光方法 |
WO2022220229A1 (ja) * | 2021-04-16 | 2022-10-20 | フェニックス電機株式会社 | 露光用光源、光照射装置、露光装置、および露光方法 |
-
2001
- 2001-12-06 JP JP2001372335A patent/JP2003173029A/ja active Pending
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005251841A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Opcell Co Ltd | 光描画装置 |
JP2006091655A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Tohoku Univ | パターン描画装置および方法 |
JP2007194433A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Canon Machinery Inc | ピックアップ装置及びピックアップ方法 |
JP4624931B2 (ja) * | 2006-01-19 | 2011-02-02 | キヤノンマシナリー株式会社 | ピックアップ装置及びピックアップ方法 |
JP2008116646A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
FR2919397A1 (fr) * | 2007-10-11 | 2009-01-30 | Automa Tech Sa | Source lineaire de lumiere collimatee homogene et mobile |
US8433231B2 (en) | 2009-11-16 | 2013-04-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Laser fixing device and image forming apparatus including the laser fixing device |
CN102063041A (zh) * | 2009-11-16 | 2011-05-18 | 夏普株式会社 | 激光定影装置及具有该激光定影装置的图像形成装置 |
JP2011107306A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Sharp Corp | レーザ定着装置及びこのレーザ定着装置を備えた画像形成装置 |
JP2013520814A (ja) * | 2010-02-25 | 2013-06-06 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2011237596A (ja) * | 2010-05-10 | 2011-11-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
KR101087787B1 (ko) * | 2010-11-05 | 2011-11-30 | 주식회사 나래나노텍 | 노광 장치용 라인 광원 및 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 패턴 형성용 노광 장치 및 노광 시스템 |
JP2012186399A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-27 | Lintec Corp | 光照射装置及び光照射方法 |
WO2013140499A1 (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-26 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 露光ヘッド及び露光装置 |
US9513563B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-12-06 | V Technology Co., Ltd. | Exposure head and exposure device |
TWI588617B (zh) * | 2012-03-19 | 2017-06-21 | V科技股份有限公司 | 曝光頭及曝光裝置 |
JP7141167B1 (ja) * | 2021-04-16 | 2022-09-22 | フェニックス電機株式会社 | 光照射装置、露光装置、および露光方法 |
WO2022220229A1 (ja) * | 2021-04-16 | 2022-10-20 | フェニックス電機株式会社 | 露光用光源、光照射装置、露光装置、および露光方法 |
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