JP2003172746A - プリント配線基板の検査端ユニット - Google Patents

プリント配線基板の検査端ユニット

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JP2003172746A
JP2003172746A JP2001370808A JP2001370808A JP2003172746A JP 2003172746 A JP2003172746 A JP 2003172746A JP 2001370808 A JP2001370808 A JP 2001370808A JP 2001370808 A JP2001370808 A JP 2001370808A JP 2003172746 A JP2003172746 A JP 2003172746A
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needle
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Yorio Hidehira
頼夫 秀平
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MicroCraft KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 近接した複数の検査端を同時にプリント配
線基板の表面に当接させてプリント配線基板の検査を行
う際、該複数の検査端同士が短絡することを防止又は減
少させることができる検査端ユニットを提供する。 【解決手段】プリント配線基板の検査装置に取り付けら
れプリント配線基板の表面に対して進退される検査端ユ
ニットであって、プリント配線基板の表面に当接させ該
プリント配線基板の配線状態を電気的に検査する2以上
の検査端と、該2以上の検査端を支持する一体の検査端
支持手段と、該検査装置に取り付けられる取付手段と、
該取付手段と該検査端支持手段との間に配設され該検査
端支持手段を該取付手段に対して該進退の方向に関し弾
性的に支持する弾性支持手段と、を備えてなる、検査端
ユニット。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線基板
(プリント基板とも呼ばれる。)の検査端ユニットに関
し、より詳細には、プリント配線基板の検査装置に取り
付けられプリント配線基板の表面に対して進退される検
査端ユニットに関する。なお、検査端ユニットに含まれ
る検査端はプリント配線基板に当接され、該検査端が接
続されたプリント基板の検査装置によって該プリント配
線基板の配線状態を電気的に検査する。
【0002】
【従来の技術】トランジスタ、抵抗、コンデンサ、CP
U等のようないわゆる電子部品が配設され所定の電気回
路を形成するプリント配線基板は、パーソナルコンピュ
ータや携帯電話等といった電子機器にますます多く用い
られる傾向にある。かかるプリント配線基板の配線がう
まく形成されているか否かは、そのプリント配線基板が
用いられる機器の動作の良否に直接関係するものである
ため、プリント配線基板の配線がうまく形成されている
か否かを検査することが行われている。
【0003】プリント配線基板の配線状態の良否を検査
する方法は、様々な方法が知られているが、その中でも
最も多用されているものとして、プリント配線基板の配
線が形成されている表面に検査端(導電性)を当接させ
該検査端を経由して電気的に配線状態を検査(例えば、
導通が保たれているかの検査、絶縁が保たれているかの
検査等)するものである。
【0004】図5は、検査端として検査針(プローブ)
を用いた従来から用いられてきたプリント配線基板の検
査端ユニットを模式的に示す図である。図5を参照し
て、従来のプリント配線基板の検査端ユニットについて
説明する。従来のプリント配線基板の検査端ユニット1
01は、検査針103と、検査針103の基端を固定す
る検査針ホルダー105と、検査針ホルダー105をプ
リント配線基板107の主表面に対して略垂直方向(図
5中、矢印Z方向)に移動自在に担持する移動ブロック
109と、該略垂直方向にのびるように配設され一端が
検査針ホルダー105に取りつけられると共に他端が移
動ブロック109に取りつけられるコイルばね111
と、を備えて構成されている。また、支持部117は、
移動ブロック109を該略垂直方向に移動自在に担持し
図示しないXY方向駆動部によって該略垂直方向(図5
中、矢印Z方向)に対して垂直な平面内において互いに
直交するX軸とY軸とに関して自由に移動される。そし
て、Z方向駆動部(図示せず)は、支持部117に対し
て移動ブロック109を該略垂直方向(図5中、矢印Z
方向)に自由に移動させる。
【0005】かかる検査端ユニット101は、プリント
配線基板107の表面に存する検査点に検査針103の
先端103aを当接させ検査針103を経由してプリン
ト配線基板107の配線状態を電気的に検査するため次
のように駆動される。即ち、プリント配線基板107の
表面に存する検査点の位置に応じて(検査針103の先
端103aが、該検査点と該X軸と該Y軸に関して同じ
位置になるように)支持部117が該XY方向駆動部
(図示せず)によって該X軸と該Y軸とに関して移動さ
れる。その後、移動ブロック109が該Z方向駆動部
(図示せず)によって支持部117に対して該略垂直方
向(図5中、矢印Z方向)であってプリント配線基板1
07に近づく方向に移動(以下、「接近移動」とい
う。)される。この接近移動によって、検査針103の
先端103aがプリント配線基板107の表面に存する
該検査点に当接する。そして、検査針103の先端10
3aがプリント配線基板107の表面に存する該検査点
に当接したことを検出したり、先端103aが該検査点
に確実に当接するよう先端103aを該検査点に付勢す
る等の目的で、先端103aが該検査点に接触した後
も、移動ブロック109はある程度接近移動される。こ
のように検査針103の先端103aがプリント配線基
板107の表面に存する該検査点に当接した状態で、検
査針103を経由してプリント配線基板107の配線状
態を電気的に検査(例えば、導通が保たれているかの検
査、絶縁が保たれているかの検査、静電容量、インピー
ダンス測定等)する。なお、検査針103は、プリント
配線基板107の配線状態を電気的に検査する検査装置
(図示せず)に電気的に接続されている。
【0006】そして最近では、プリント配線基板の小型
化や高集積化といったニーズに伴い、狭い2点間に検査
端を当接させ検査する必要が生じてきた。これはプリン
ト配線基板上に存する異なる導電部分それぞれに異なる
検査端を当接させる場合(例えば、該異なる導電部分互
いの間に絶縁や導通が保たれているか否か等を検査す
る。)や、いわゆる4端子抵抗測定(例えば、工業調査
会発行、雑誌名「電子材料」、2001年10月号第2
47〜248頁)を行う際等に同一の導電部分に異なる
検査端を当接させる場合等が挙げられる。とりわけ後者
では、同一の導電部分に異なる検査端を当接させる必要
があるので、該異なる検査端間はいきおい小さなものと
なる。
【0007】このように狭い2点間に検査端を当接させ
検査する必要性から様々な検査端ユニットが開発されて
きた。図6は、かかる必要性から開発された検査端ユニ
ットの一例を示す概念図である。図6を参照して、狭い
2点間に検査端を当接させ検査するための従来の検査端
ユニット201について説明する。検査端ユニット20
1は、互いに同様の構造を有する一対の第一ユニット2
01aと第二ユニット201bとを有してなる。第一ユ
ニット201aと第二ユニット201bとは同様の構造
を有しているので、主として第一ユニット201aにつ
いて説明し、第二ユニット201bの説明は省略する。
なお、第一ユニット201aと第二ユニット201bと
の両者において同じ数字が付されている要素(即ち、数
字の後のaとbとが異なるのみのもの)は同じ要素を示
している。
【0008】第一ユニット201aは、検査端たる検査
針203aと、検査針203aを固定する検査針ホルダ
ー205aと、検査針ホルダー205aが取り付けられ
た板ばね機構209aと、を備えてなる。検査針203
aは、先端側204aがZ軸方向(図6中、矢印Zにて
示す。)でプリント配線基板107に近づく方向に折れ
曲がっている。板ばね機構209aは、X軸Y軸Z軸
(前述の通り、X軸とY軸とは、Z軸に対して垂直な平
面内において互いに直交する軸である。)それぞれに対
して自由に駆動される図示しない部分(例えば、前述の
図5においては移動ブロック109)に一端側215a
が取り付けられ(2のボルト嵌入孔217aに嵌入され
るボルトを介して取り付けられる。)他端側211aが
検査針ホルダー205aに取り付けられる2枚の略平行
な板ばね213a、219aにより構成されている。こ
のような第一ユニット201aと第二ユニット201b
とを用い、検査針203aの先端側204aと、検査針
203bの先端側204bと、を接近させてプリント配
線基板107に当接させることで、図7に示すようにプ
リント配線基板107上の狭い2点間に検査針203
a、203bを当接させ検査することができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前述した
ように検査針203a、203bの先端がプリント配線
基板107の表面に当接したことを検出したり、該先端
が該表面に確実に当接するようにする等の目的で、検査
針203a、203bの先端がプリント配線基板107
の表面に当接し、さらに前記自由に駆動される図示しな
い部分がZ軸方向(図7中、矢印Zにて示す。)でプリ
ント配線基板107に近づく方向に移動すると、図7に
示すように板ばね機構209a、209bが変形する。
ここで2枚の略平行な板ばね213a、219a、21
3b、219bの力学的特性を完全に一致させてやれ
ば、理論的には検査針203a、203bは所望の位置
関係を保った状態でZ軸方向に移動することができる。
しかし、実際には、別個の2の板ばね機構209a、2
09bを用いた場合、それらを構成する板ばね213
a、219a、213b、219bの力学的特性(弾性
率等)にはばらつきが生じること等から、板ばね機構2
09a、209bの変形によって検査針203a、20
3bを移動させると両検査針203a、203bは所望
の位置関係を保てないことがある。このことは検査針2
03a、203bの先端の、所定の位置からのずれを生
ずることがあり、このずれによって、近接するように配
設された検査針203a、203bの先端が互いに接触
し、プリント配線基板107の検査を行うことができな
い場合があった。
【0010】そこで、本発明では、近接した複数の検査
端を同時にプリント配線基板の表面に当接させてプリン
ト配線基板の検査を行う際、該複数の検査端同士が短絡
することを防止又は減少させることができる検査端ユニ
ットを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のプリント配線基
板の検査端ユニット(以下、「本ユニット」という。)
は、プリント配線基板の検査装置に取り付けられプリン
ト配線基板の表面に対して進退される検査端ユニットで
あって、プリント配線基板の表面に当接させ該プリント
配線基板の配線状態を電気的に検査する2以上の検査端
と、該2以上の検査端を支持する一体の検査端支持手段
と、該検査装置に取り付けられる取付手段と、該取付手
段と該検査端支持手段との間に配設され該検査端支持手
段を該取付手段に対して該進退の方向に関し弾性的に支
持する弾性支持手段と、を備えてなる、検査端ユニット
である。
【0012】このような本ユニットであれば、プリント
配線基板の検査装置に取付手段が取り付けられることで
本ユニットが該検査装置に取り付けられ、弾性支持手段
によって該検査端支持手段が該取付手段に対して該進退
の方向(本ユニットがプリント配線基板の表面に対して
進退される方向をいい、前述のZ軸方向がこれに該当す
る。)に関し弾性的に支持される。このとき該2以上の
検査端を支持する該検査端支持手段は一体に形成されて
いるので、検査端がプリント配線基板の表面に当接しさ
らに取付手段が該進退の方向でプリント配線基板に近づ
く方向に駆動されることで検査端支持手段が取付手段に
対して相対的に該進退の方向で取付手段に近づくように
移動しても(該検査端支持手段は弾性支持手段によって
該取付手段に対し該進退の方向に関し弾性的に支持され
る。)、該検査端支持手段によって支持された該2以上
の検査端の部分の相対的な位置関係が変化しないので
(該位置関係が保持されるので)、近接した複数の検査
端(該2以上の検査端)を同時にプリント配線基板の表
面に当接させてプリント配線基板の検査を行う際でも該
複数の検査端同士が短絡することを防止又は減少させる
ことができる。なお、ここにいう「一体の検査端支持手
段」とは、検査端支持手段が移動したときに検査端支持
手段のうち2以上の検査端を支持しているそれぞれの部
分が相対的な位置関係を保った状態で移動すれば足り、
必ずしも検査端支持手段全体が物理的に一体のものであ
ることを要さず、例えば、複数の部材が接着、ネジ止
め、嵌合、係合等によって組み立てられて1の検査端支
持手段を構成してもよい。
【0013】前記弾性支持手段が、2枚以上の略平行な
板ばねにより構成され、該各板ばねの一端側が前記取付
手段に取り付けられ該各板ばねの他端側が前記検査端支
持手段に取り付けられるものであってもよい。なお、こ
こにいう「2枚以上の略平行な板ばね」とは、前記進退
の方向に対し所定角度をなすようにのびる互いに略平行
な2枚以上(2、3、4・・・)の板ばねを意味してお
り、この各板ばねの一端側が前記取付手段に取り付けら
れこの各板ばねの他端側が前記検査端支持手段に取り付
けられれば、弾性支持手段が、前記検査装置に取り付け
られた取付手段に対して検査端支持手段の方向が略一定
方向に向いたまま検査端支持手段を前記進退の方向に関
し弾性的に支持することができる(取付手段に対する検
査端支持手段の方向が、検査端支持手段が前記進退の方
向に関して移動してもほぼ変化しない。)。従って、検
査端支持手段が前記進退の方向に関して移動しても、検
査端支持手段に支持される前記2以上の検査端の方向が
ほぼ変化せず、前記2以上の検査端をプリント配線基板
の表面に安定して当接させ該プリント配線基板の配線状
態をうまく検査することができる。また、互いに略平行
な2枚以上の板ばねがのびる方向と前記進退の方向とが
なす該所定角度(その両方向のいずれか一方を他方と同
一平面内に属するように平行移動させた際、該同一平面
内において該一方と該他方とがなす角度のうち0度以上
90度以下のものをいう。)は、検査端支持手段に支持
される前記2以上の検査端がプリント配線基板の表面に
当接していない状態において0度より大きければ良い
が、検査端がプリント配線基板の表面に当接しさらに取
付手段が前記進退の方向でプリント配線基板に近づく方
向に駆動される際に検査端が該表面に当接した位置の移
動量(X軸Y軸方向)が小さくなることや、検査端支持
手段が取付手段に対し前記進退の方向に関し円滑に移動
すること等からは大きい方がよく、具体的には、好まし
くは30度以上であり、より好ましくは45度以上であ
り、最も好ましくは60度以上である。
【0014】前記検査端が、先端がプリント配線基板の
表面に当接される検査針であって、前記進退の方向に対
して傾斜を有する傾斜部分を有するものであってもよ
い。こうすることで、検査端たる検査針の先端がプリン
ト配線基板の表面に当接しさらに取付手段が前記進退の
方向でプリント配線基板に近づく方向に駆動される際、
検査端たる検査針の傾斜部分がたわむことによってもか
かる取付手段の変位(前記進退の方向でプリント配線基
板に近づく方向への駆動による。)を吸収することがで
き、前述のように検査端支持手段が弾性支持手段によっ
て取付手段に対し前記進退の方向に関し弾性的に支持さ
れることと相俟って、取付手段の変位をうまく吸収する
ことができる。とりわけ前記検査端たる2以上の検査針
それぞれの先端が当接すべきプリント配線基板の表面に
高低差(Z軸方向)が存する場合(通常のプリント配線
基板は該高低差を有する。)に該高低差をうまく吸収し
検査針それぞれの先端を該表面にうまく当接させること
からは検査針それぞれがある程度の高低差を吸収する必
要があり、たわむことにより高低差を吸収することがで
きる傾斜部分を検査針が有するようにすることは好まし
い。なお、傾斜部分の、前記進退の方向に対する傾斜
(前記進退の方向と傾斜部分がのびる方向との両方向の
いずれか一方を他方と同一平面内に属するように平行移
動させた際、該同一平面内において該一方と該他方とが
なす角度のうち0度以上90度以下のものをいう。)
は、検査針の先端がプリント配線基板の表面に当接して
いない状態において0度より大きければ良いが、傾斜部
分がたわむことによってかかる取付手段の変位をうまく
吸収することができることからは大きい方がよく、具体
的には、好ましくは30度以上であり、より好ましくは
45度以上であり、最も好ましくは60度以上である。
【0015】前記検査端が、先端がプリント配線基板の
表面に当接される検査針であって、前記進退の方向に対
して傾斜を有する傾斜部分を有するものである場合、前
記検査針の先端が凹凸のないプリント配線基板の表面に
当接されさらに前記検査針ユニットが前記進退の方向に
沿って該表面方向に進められる際、前記検査針の先端と
前記検査端支持手段により支持された前記検査針の部分
との間の前記進退の方向に沿った第一の変位に対する、
前記弾性支持手段の前記進退の方向に沿った第二の変位
の割合が8以上20以下であってもよい。なお、ここで
「前記検査針の先端が凹凸のないプリント配線基板の表
面に当接され」とは、全ての検査針の先端が凹凸のない
プリント配線基板の表面に当接された状態をいう。そし
て、第一の変位に対する第二の変位の割合とは、第二の
変位を第一の変位により除したもの(第二の変位/第一
の変位)をいう。こうすることで検査針の先端がプリン
ト配線基板の表面に当接されさらに本ユニットが前記進
退の方向に沿って該表面方向に進められる際、取付手段
が前記進退の方向でプリント配線基板に近づく方向に駆
動されることによる変位を、検査針のたわみ(検査針の
先端と検査端支持手段により支持された検査針の部分と
の間の前記進退の方向に沿った第一の変位)と、弾性支
持手段の前記進退の方向に沿った第二の変位と、の両方
によってうまく分担しつつ吸収することができる。即
ち、取付手段が駆動されることによる変位のうち大部分
を弾性支持手段の変位(第二の変位)によって吸収さ
せ、取付手段が駆動されることによる変位のうち弾性支
持手段の変位(第二の変位)によって吸収しきれない残
部(通常、2以上の検査針それぞれの先端が当接すべき
プリント配線基板の表面存する凹凸分(高低差分))を
検査針のたわみ(第一の変位)によって吸収させるに
は、通常、前記割合(第二の変位/第一の変位)は、好
ましくは8以上であり、より好ましくは8.5以上であ
り、最も好ましくは9以上であり、一方、好ましくは2
0以下であり、より好ましくは15以下であり、最も好
ましくは13以下である。
【0016】本ユニットは、プリント配線基板の配線状
態を検査するプリント配線基板の検査装置に取り付けら
れ、プリント配線基板の表面に対して進退され、前記2
以上の検査端をプリント配線基板の表面に当接させプリ
ント配線基板の配線状態を電気的に検査するために用い
られる(即ち、前述の図6や図7に示した従来の検査針
ユニットに代えて用いることができる。)。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。しかしながら、これらによって本
発明は何ら制限されるものではない。
【0018】図1は、本発明のプリント配線基板の検査
針ユニット(本ユニット)を示す斜視図(一部破断)で
あり、図2は、後述の第一検査針21と第二検査針25
とこれら両検査針21、25を支持する一体の検査針支
持ブロック31とを拡大した部分拡大斜視図である。図
1及び図2を参照して、本ユニット11について説明す
る。本ユニット11は、図6及び7に示した従来の検査
針ユニット201と同様に用いられるものであり、具体
的には例えば、図6及び7において説明したX軸Y軸Z
軸(前述の通り、X軸とY軸とは、Z軸に対して垂直な
平面内において互いに直交する軸である。)それぞれに
対して自由に駆動される図示しない部分(プリント配線
基板の検査装置のうち検査針ユニットを取り付ける部
分)に後述の取付部51を取り付けることで、本ユニッ
ト11をプリント配線基板の主表面に対して略垂直方向
たるZ軸方向とX軸Y軸(Z軸に対して垂直な平面内に
おける直交軸)方向とに関して自由に移動させ、後述の
第一検査針21と第二検査針25とをプリント配線基板
の表面(検査点)に当接させこれら第一検査針21と第
二検査針25とを経由してプリント配線基板の配線状態
を電気的に検査する。
【0019】本ユニット11は、大まかには、本発明に
いう2以上の検査端に該当する2本の検査針たる第一検
査針21及び第二検査針25と、第一検査針21及び第
二検査針25を支持する検査針支持ブロック31と、検
査針支持ブロック31を後述の平行板ばね機構41(平
行板ばね機構41の前記他端)に取り付ける連結ブロッ
ク35と(検査針支持ブロック31と連結ブロック35
とによって検査端支持手段が構成されている。)、2枚
以上(ここでは具体的には2枚)の略平行な板ばね4
3、45により構成される平行板ばね機構41(弾性支
持手段)と、平行板ばね機構41(平行板ばね機構41
の前記一端)が取り付けられる取付部51と、を備えて
なる。なお、検査針21、25の先端がプリント配線基
板の表面に当接したことを検出するための検出スイッチ
(図示せず)が本ユニット11には内蔵されており、そ
の検出信号をプリント配線基板の検査装置に受け渡すた
めのコード61及びコネクタ63が取り付けられてい
る。また、第一検査針21と第二検査針25とをそれぞ
れプリント配線基板の検査装置に電気的に接続するため
に接続コード67、69が配設されている。
【0020】第一検査針21と第二検査針25とはいず
れも同材質及び同形状に形成されており、具体的には材
質は炭化タングステン(WC)をここでは用いているが
導電性を有するものであれば特に制限なく用いることが
できこれに限定されるものではない。炭化タングステン
(WC)以外の材質としては、例えば、タングステン、
ベリリウム、ステンレス鋼等を例示的に挙げることがで
きる。なお、前述のように、第一検査針21及び第二検
査針25の基端には、プリント配線基板の検査装置と両
検査針21、25とを電気的に接続するための接続コー
ド67、69が取り付けられており、これによって該検
査装置は両検査針21、25を経由してプリント配線基
板を電気的に検査することができる。
【0021】一方、第一検査針21と第二検査針25と
の形状(両検査針とも同形状)は、先端近傍が略80度
(図2中、角度A)に屈曲した形状を有しており、その
先端がプリント配線基板の表面に当接される。また、第
一検査針21と第二検査針25とは、所定の位置関係に
なるようにいずれも検査針支持ブロック31(電気的絶
縁材料である樹脂製)に埋設(貫通)されることによっ
て検査針支持ブロック31に対して確実に固定されてい
る。
【0022】そして、本ユニット11においてはこの先
端近傍の屈曲部分がZ軸と略平行になるように両検査針
21、25は配設されるようになっている(特に、図2
参照)。従って、第一検査針21と第二検査針25とは
いずれも、先端近傍の屈曲部分を除いた部分21a、2
5aを有し、先端近傍の屈曲部分を除いた部分21a、
25aは、本ユニット11がプリント配線基板の表面に
対して進退される方向(Z軸方向、前記進退の方向)に
対して傾斜(ここでは略80度)を有する傾斜部分とし
て機能する。即ち、第一検査針21と第二検査針25と
はいずれも、その先端がプリント配線基板の表面に当接
された後にさらにZ軸方向のうち該表面に近づくように
駆動されると、傾斜部分たる先端近傍の屈曲部分を除い
た部分21a、25aがたわみ、その後、Z軸方向のう
ち該表面から遠ざかるように移動されると先端近傍の屈
曲部分を除いた部分21a、25aのたわみが除かれ
る。即ち、先端近傍の屈曲部分を除いた部分21a、2
5aは、このようにそれぞれの検査針の先端に力が加わ
ると所定範囲内(通常のプリント配線基板の検査はこの
所定範囲に含まれる。)で弾性変形をする。
【0023】図3は、第一検査針21(第二検査針25
は第一検査針21と重なって見えない)と検査針支持ブ
ロック31と連結ブロック35と平行板ばね機構41と
を拡大した図(図1中、上方、即ち矢印B方向から見た
ところを示している。)である。図1乃至図3を参照し
て、主として連結ブロック35及び平行板ばね機構41
について説明する。連結ブロック35は、検査針支持ブ
ロック31と平行板ばね機構41(平行板ばね機構41
の前記他端)とを連結させるために配設された絶縁体た
る樹脂材料により形成されたものであり、具体的には、
連結ブロック35と検査針支持ブロック31との間は互
いに嵌合及び接着によって固定され、連結ブロック35
と平行板ばね機構41(平行板ばね機構41の前記他
端)との間は嵌合及びネジ止め(図1中、ネジ37によ
る)によって固定されることで、検査針支持ブロック3
1と平行板ばね機構41(平行板ばね機構41の前記他
端)とを連結している。
【0024】弾性支持手段たる平行板ばね機構41は、
2枚の略平行な板ばね43、45と、板ばね43、45
の一端側を連結する一端連結部47と、板ばね43、4
5の他端側を連結する他端連結部49と、を有している
(特に、図3参照)。板ばね43、45は、Z軸方向
(前記進退の方向)に対し所定角度(ここでは略90
度)をなすようにのびる互いに略平行な2枚の板ばねで
ある。そして、一端連結部47には、取付部51に平行
板ばね機構41を取り付けるためのボルト孔48a、4
8bが形成されている。また、他端連結部49には、前
述のように、連結ブロック35がネジ37等によって取
り付けられている。なお、この平行板ばね機構41は、
全体が樹脂材料(具体的には、ポリプラスチックス社
製、登録商標「ジュラコン」)によって形成されてい
る。また、板ばね43、45の一端側と他端側とには、
薄肉部43a、45aが形成されているが(図3参
照)、これは他端連結部49に加わる力(Z軸方向)が
小さくても一端連結部47に対して他端連結部49がう
まく変位し得るようにするためである。
【0025】取付手段たる取付部51は、平行板ばね機
構41の一端連結部47が取り付けられると共に(具体
的には、前述のボルト孔48a、48bに図示しないボ
ルトを嵌入し取り付けられる。)、取付部51の一部で
ある舌部53が、X軸Y軸Z軸それぞれに対して自由に
駆動される図示しないプリント配線基板検査装置の部分
(プリント配線基板の検査装置のうち検査針ユニットを
取り付ける部分)に取り付けられる(具体的には、舌部
53に形成された取付ボルト孔53hに図示しないボル
トを嵌入し取り付けられる。)。これによって、図示し
ないプリント配線基板検査装置の部分(プリント配線基
板の検査装置のうち検査針ユニットを取り付ける部分)
に対して本ユニット11が取り付けられ、平行板ばね機
構41の他端連結部49に取り付けられた連結ブロック
35及び検査針支持ブロック31は、一端連結部47が
取付部51に取り付けられた平行板ばね機構41により
取付部51に対してZ軸方向(前記進退の方向)に関し
弾性的に支持される。なお、取付部51の舌部53が、
該自由に駆動される図示しないプリント配線基板検査装
置の部分(プリント配線基板の検査装置のうち検査針ユ
ニットを取り付ける部分)に取り付けられる際、プリン
ト配線基板の検査装置と両検査針21、25とを電気的
に接続するための接続コード67、69と、検査針2
1、25の先端がプリント配線基板の表面に当接したこ
とを検出するための検出信号を受け渡すためのコネクタ
63と、が該検査装置に接続される。
【0026】最後に、本ユニット11の使用状態につい
て簡単に説明しておく。図4(a)は、図示しないプリ
ント配線基板の検査装置に取り付けられた本ユニット1
1がZ軸方向(前記進退の方向)のうちプリント配線基
板107の表面に近づく方向に駆動され、第一検査針2
1の先端が凹凸のないプリント配線基板107の表面に
丁度当接しかつ第一検査針21の先端には該表面から何
らの力も加わっていない状態(第二検査針25は、図4
中、第一検査針21と重なって見えないが、第一検査針
21と同様に、第二検査針25の先端も凹凸のないプリ
ント配線基板107の表面に丁度当接しかつその先端に
は該表面から何らの力も加わっていない状態である。即
ち、図4(a)の状態は、全ての検査針21、25の先
端が凹凸のないプリント配線基板107の表面に丁度当
接されており、全ての検査針21、25の先端にプリン
ト配線基板107の表面から何らの力も加わっていない
状態である。)を示す図(図3と同じ位置から見たとこ
ろを示しており、プリント配線基板107が存する以外
は図3と同じ状態である。)であり、図4(b)は、図
4(a)に示された状態からさらに本ユニット11がZ
軸方向(前記進退の方向)に沿って該表面方向に進めら
れた状態を示す図(後述のように、検査針21がたわむ
と共に、平行板ばね機構41が変形している。)であ
る。図4(a)及び(b)を参照して、本ユニット11
の使用状態を説明する。
【0027】上記したように、図4(a)から図4
(b)への変化過程(全ての検査針の先端が凹凸のない
プリント配線基板の表面に当接されさらに本ユニットが
前記進退の方向に沿って該表面方向に進められる過程)
において本ユニット11がZ軸方向(前記進退の方向)
に沿って前記表面方向に進められた変位は、(E1−E
2)である。さらに、該変化過程において、検査針2
1、25の先端と検査端支持手段(検査針支持ブロック
31と連結ブロック35とにより構成される)により支
持された検査針21、25の部分との間のZ軸方向(前
記進退の方向)に沿った変位(第一の変位)は、(F1
−F2)である。そして、弾性支持手段たる平行板ばね
機構41のZ軸方向(前記進退の方向)に沿った変位
(第二の変位)は、Gである(図4(a)の状態におい
ては、一端連結部47と他端連結部49との上面は、Z
軸に関して同じ位置に存する。)。従って、本ユニット
11においては、検査針21、25の先端と前記検査端
支持手段により支持された検査針21、25の部分との
間の前記進退の方向に沿った第一の変位(F1−F2)
に対する、前記弾性支持手段の前記進退の方向に沿った
第二の変位Gの割合(G/(F1−F2))は、10に
ほぼなるようにされており、両検査針21、25それぞ
れの先端が当接すべきプリント配線基板107の表面に
Z軸方向の高低差が存しても検査針21、25のたわみ
によってうまく吸収することができる。
【0028】以上説明したように、本ユニット11は、
プリント配線基板の検査装置に取り付けられプリント配
線基板107の表面に対して進退される検査端ユニット
である。そして、本ユニット11は、プリント配線基板
107の表面に当接させプリント配線基板107の配線
状態を電気的に検査する2以上の検査端たる2の検査針
21、25(第一検査針21、第二検査針25)と、該
2以上の検査端たる2の検査針21、25(第一検査針
21、第二検査針25)を支持する一体の検査端支持手
段(ここでは検査針支持ブロック31と連結ブロック3
5とにより構成される。)と、該検査装置に取り付けら
れる取付手段たる取付部51と、取付手段たる取付部5
1と検査端支持手段(検査針支持ブロック31と連結ブ
ロック35とにより構成される。)との間に配設され検
査端支持手段(検査針支持ブロック31と連結ブロック
35とにより構成される。)を取付手段たる取付部51
に対して該進退の方向(Z軸方向)に関し弾性的に支持
する弾性支持手段たる平行板ばね機構41と、を備えて
なる、検査端ユニットである。
【0029】弾性支持手段たる平行板ばね機構41は、
2枚以上(ここでは2枚)の略平行な板ばね43、45
により構成され、該各板ばねの一端側が取付手段たる取
付部51に取り付けられ該各板ばねの他端側が検査端支
持手段(検査針支持ブロック31と連結ブロック35と
により構成される。)に取り付けられている。また、検
査端は、先端がプリント配線基板107の表面に当接さ
れる検査針21、25(第一検査針21、第二検査針2
5)であって、前記進退の方向(Z軸方向)に対して傾
斜を有する傾斜部分(先端近傍の屈曲部分を除いた部分
21a、25a)を有するものである。
【0030】さらに、検査針21、25(第一検査針2
1、第二検査針25)の先端が凹凸のないプリント配線
基板107の表面に当接されさらに本ユニット11が前
記進退の方向(Z軸方向)に沿って該表面方向に進めら
れる際、検査針21、25(第一検査針21、第二検査
針25)の先端と検査端支持手段(検査針支持ブロック
31と連結ブロック35とにより構成される。)により
支持された検査針21、25(第一検査針21、第二検
査針25)の部分との間の前記進退の方向(Z軸方向)
に沿った第一の変位(図4では、(F1−F2))に対
する、弾性支持手段たる平行板ばね機構41の前記進退
の方向(Z軸方向)に沿った第二の変位(図4では、
G)の割合(G/(F1−F2))は10であり、8以
上20以下とされている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプリント配線基板の検査針ユニット
(本ユニット)を示す斜視図(一部破断)である。
【図2】第一検査針と第二検査針とこれら両検査針を支
持する一体の検査針支持ブロックとを拡大した部分拡大
斜視図である。
【図3】第一検査針と検査針支持ブロックと連結ブロッ
クと平行板ばね機構とを拡大した図である。
【図4】本ユニットの使用状態について説明する図であ
る。
【図5】検査端として検査針(プローブ)を用いた従来
から用いられてきたプリント配線基板の検査端ユニット
を模式的に示す図である。
【図6】狭い2点間に検査端を当接させ検査するための
検査端ユニットの一例を示す概念図である。
【図7】図6に示した検査端ユニットの板ばね機構が変
形した状態を示す図である。
【符号の説明】
11 本ユニット 21 第一検査針 25 第二検査針 21a、25a 先端近傍の屈曲部分を除いた部分 31 検査針支持ブロック 35 連結ブロック 37 ネジ 41 平行板ばね機構 43、45 板ばね 43a、45a 薄肉部 47 一端連結部 48a、48b ボルト孔 49 他端連結部 51 取付部 53 舌部 53h 取付ボルト孔 61 コード 63 コネクタ 67、69 接続コード 101 従来のプリント配線基板の検査端
ユニット 103 検査針 103a 先端 105 検査針ホルダー 107 プリント配線基板 109 移動ブロック 111 コイルばね 117 支持部 201 従来の検査針ユニット 201a 第一ユニット 201b 第二ユニット 203a、203b 検査針 204a、204b 先端側 205a、205b 検査針ホルダー 209a、209b 板ばね機構 211a、211b 他端側 213a、219a、213b、219b 板ばね 215a、215b 一端側 217a、217b ボルト嵌入孔

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プリント配線基板の検査装置に取り付けら
    れプリント配線基板の表面に対して進退される検査端ユ
    ニットであって、 プリント配線基板の表面に当接させ該プリント配線基板
    の配線状態を電気的に検査する2以上の検査端と、 該2以上の検査端を支持する一体の検査端支持手段と、 該検査装置に取り付けられる取付手段と、 該取付手段と該検査端支持手段との間に配設され該検査
    端支持手段を該取付手段に対して該進退の方向に関し弾
    性的に支持する弾性支持手段と、を備えてなる、検査端
    ユニット。
  2. 【請求項2】前記弾性支持手段が、2枚以上の略平行な
    板ばねにより構成され、該各板ばねの一端側が前記取付
    手段に取り付けられ該各板ばねの他端側が前記検査端支
    持手段に取り付けられるものである、請求項1に記載の
    検査端ユニット。
  3. 【請求項3】前記検査端が、先端がプリント配線基板の
    表面に当接される検査針であって、前記進退の方向に対
    して傾斜を有する傾斜部分を有するものである、請求項
    1又は2に記載の検査端ユニット。
  4. 【請求項4】前記検査針の先端が凹凸のないプリント配
    線基板の表面に当接されさらに前記検査針ユニットが前
    記進退の方向に沿って該表面方向に進められる際、前記
    検査針の先端と前記検査端支持手段により支持された前
    記検査針の部分との間の前記進退の方向に沿った第一の
    変位に対する、前記弾性支持手段の前記進退の方向に沿
    った第二の変位の割合が8以上20以下である、請求項
    3に記載の検査端ユニット。
  5. 【請求項5】請求項1乃至4のいずれかに記載の検査端
    ユニットを有するものである、プリント配線基板の配線
    状態を検査するプリント配線基板の検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007155688A (ja) * 2005-12-09 2007-06-21 Nidec-Read Corp プローブ装置及び基板検査装置
CN102193061A (zh) * 2010-03-08 2011-09-21 雅马哈精密科技株式会社 电路基板的检查方法及检查装置

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