JP2003149505A - 光コネクタ測定用ガイドピン - Google Patents
光コネクタ測定用ガイドピンInfo
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- JP2003149505A JP2003149505A JP2001345263A JP2001345263A JP2003149505A JP 2003149505 A JP2003149505 A JP 2003149505A JP 2001345263 A JP2001345263 A JP 2001345263A JP 2001345263 A JP2001345263 A JP 2001345263A JP 2003149505 A JP2003149505 A JP 2003149505A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical connector
- guide pin
- optical
- measuring
- connector plug
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明の課題は、特に光コネクタの光学特性を
測定する際に生じる光コネクタの着脱箇所において作業
性を向上させるための光コネクタ測定用ガイドピンを提
供することにある。 【解決手段】本発明は、光コネクタプラグに設けてある
ガイドピン穴に挿入した光コネクタ用のガイドピンによ
り光ファイバの位置合わせを行う光コネクタに用いる光
コネクタ測定用ガイドピンにおいて、光コネクタ用のガ
イドピンの片方の端にガイドピン穴径より大きな鍔部2
が設けられていることを特徴とする。
測定する際に生じる光コネクタの着脱箇所において作業
性を向上させるための光コネクタ測定用ガイドピンを提
供することにある。 【解決手段】本発明は、光コネクタプラグに設けてある
ガイドピン穴に挿入した光コネクタ用のガイドピンによ
り光ファイバの位置合わせを行う光コネクタに用いる光
コネクタ測定用ガイドピンにおいて、光コネクタ用のガ
イドピンの片方の端にガイドピン穴径より大きな鍔部2
が設けられていることを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光コネクタプラグ
に設けてあるガイドピン穴に挿入した2本のガイドピン
により光ファイバの位置合わせを行う光コネクタプラグ
に用いる光コネクタ測定用ガイドピンで、接続損失量や
反射減衰量といった光コネクタの特性を測定する際、頻
繁に光コネクタの着脱作業の発生するMTコネクタプラ
グ付きFOコード、MTマタコネクタプラグ付きテープ
コードといったMTコネクタプラグ付き光ファイバコー
ドに使用する光コネクタ測定用ガイドピンに関するもの
である。
に設けてあるガイドピン穴に挿入した2本のガイドピン
により光ファイバの位置合わせを行う光コネクタプラグ
に用いる光コネクタ測定用ガイドピンで、接続損失量や
反射減衰量といった光コネクタの特性を測定する際、頻
繁に光コネクタの着脱作業の発生するMTコネクタプラ
グ付きFOコード、MTマタコネクタプラグ付きテープ
コードといったMTコネクタプラグ付き光ファイバコー
ドに使用する光コネクタ測定用ガイドピンに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】現在、一般的に光コネクタの特性評価測
定に使用されるMTコネクタ付きFOコード、MTマス
タコネクタ付きテープコードに用いられる光コネクタ用
ガイドピンには、多心の光ケーブル接続用のMTコネク
タに使用する光コネクタ用ガイドピンが共用で用いられ
ている。
定に使用されるMTコネクタ付きFOコード、MTマス
タコネクタ付きテープコードに用いられる光コネクタ用
ガイドピンには、多心の光ケーブル接続用のMTコネク
タに使用する光コネクタ用ガイドピンが共用で用いられ
ている。
【0003】図4は従来の光コネクタ用ガイドピンを示
す斜視図であり、図5は従来の光コネクタ用ガイドピン
を示す側面図である。すなわち、光コネクタ用ガイドピ
ン5は、ガイドピン穴への挿入を行いやすくするため
に、両端の形状として、テーパ部6が設けられ先端が細
くなっている。
す斜視図であり、図5は従来の光コネクタ用ガイドピン
を示す側面図である。すなわち、光コネクタ用ガイドピ
ン5は、ガイドピン穴への挿入を行いやすくするため
に、両端の形状として、テーパ部6が設けられ先端が細
くなっている。
【0004】図6(a)は従来の接続前の光コネクタを
示す斜視図であり、図6(b)は従来の接続後の光コネ
クタを示す斜視図である。すなわち、光ファイバ8の接
続は、接続する2つの光コネクタプラグ7,7の接続面
9にそれぞれ設けられている2つのガイドピン穴10,
10に前記2本の光コネクタ用ガイドピン5,5を挿入
し、前記光コネクタ用ガイドピン5,5に沿うように前
記光コネクタプラグ7,7を移動させ、それぞれの光コ
ネクタプラグ7,7の接続面9を物理的に接触させ、前
記接続面9にある光ファイバ8の位置をあわせ、クラン
プスプリング11で固定することで行う。光ファイバ8
の接続解除は、前述の接続と逆の作業を行うことで、前
記クランプスプリング11を取り外した後、2つの光コ
ネクタプラグ7,7をガイドピン5,5に沿って物理的
に離す作業のことである。光コネクタの着脱とは、前述
の接続と接続解除とを繰り返す作業のことである。この
前記光コネクタ12の着脱作業は、接続損失や反射減衰
量といった測定において、基準となるマスタコネクタプ
ラグとの接続や、測定器に接続するFOコードに取り付
けられているMTコネクタプラグとの接続において頻繁
に生じる。
示す斜視図であり、図6(b)は従来の接続後の光コネ
クタを示す斜視図である。すなわち、光ファイバ8の接
続は、接続する2つの光コネクタプラグ7,7の接続面
9にそれぞれ設けられている2つのガイドピン穴10,
10に前記2本の光コネクタ用ガイドピン5,5を挿入
し、前記光コネクタ用ガイドピン5,5に沿うように前
記光コネクタプラグ7,7を移動させ、それぞれの光コ
ネクタプラグ7,7の接続面9を物理的に接触させ、前
記接続面9にある光ファイバ8の位置をあわせ、クラン
プスプリング11で固定することで行う。光ファイバ8
の接続解除は、前述の接続と逆の作業を行うことで、前
記クランプスプリング11を取り外した後、2つの光コ
ネクタプラグ7,7をガイドピン5,5に沿って物理的
に離す作業のことである。光コネクタの着脱とは、前述
の接続と接続解除とを繰り返す作業のことである。この
前記光コネクタ12の着脱作業は、接続損失や反射減衰
量といった測定において、基準となるマスタコネクタプ
ラグとの接続や、測定器に接続するFOコードに取り付
けられているMTコネクタプラグとの接続において頻繁
に生じる。
【0005】たとえば100個のMTコネクタの反射減
衰量を測定するケースを例に説明する。現在、一般に行
われているMTコネクタの反射減衰量の測定は、まず、
基準となるマスタコネクタプラグ付きコードを取り付け
た反射減衰量測定器を用意する。次にマスタコネクタプ
ラグに光コネクタ用ガイドピンを挿入し、その接続面を
清掃する。次に前記接続面を清掃した最初に測定する被
測定光コネクタプラグと前記マスタコネクタプラグとを
接続し、反射減衰量を測定した後に、その1番目の被測
定光コネクタプラグとマスタコネクタプラグとの接続を
解除する。これで1つの被測定光コネクタプラグの反射
減衰量の測定作業が完了となる。この例では、この作業
を100番目の被測定光コネクタプラグまで繰り返すた
めマスタコネクタプラグにおいて100回の着脱作業が
発生する。
衰量を測定するケースを例に説明する。現在、一般に行
われているMTコネクタの反射減衰量の測定は、まず、
基準となるマスタコネクタプラグ付きコードを取り付け
た反射減衰量測定器を用意する。次にマスタコネクタプ
ラグに光コネクタ用ガイドピンを挿入し、その接続面を
清掃する。次に前記接続面を清掃した最初に測定する被
測定光コネクタプラグと前記マスタコネクタプラグとを
接続し、反射減衰量を測定した後に、その1番目の被測
定光コネクタプラグとマスタコネクタプラグとの接続を
解除する。これで1つの被測定光コネクタプラグの反射
減衰量の測定作業が完了となる。この例では、この作業
を100番目の被測定光コネクタプラグまで繰り返すた
めマスタコネクタプラグにおいて100回の着脱作業が
発生する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の光
コネクタ用ガイドピンを使用する場合、前述の着脱作業
において被測定光コネクタプラグとマスタコネクタプラ
グとの接続を解除する際、被測定光コネクタプラグのガ
イドピン穴が小さいときには前記光コネクタ用ガイドピ
ンが前記被測定光コネクタプラグに残り、次の被測定光
コネクタプラグの測定を行う時に、測定を終えた被測定
光コネクタプラグのガイドピン穴に残っているガイドピ
ンを抜き、マスタコネクタプラグのガイドピン穴に光コ
ネクタ用ガイドピンを挿入しなおすという作業が必要と
なり、作業工程数が増えて作業効率が悪くなるという問
題があった。図7は光コネクタの接続解除を行った際
に、光コネクタ用ガイドピン5が基準となるマスタコネ
クタプラグ14から被測定光コネクタプラグ13に移動
する場合の半透明図を示す。図7中、13は被測定光コ
ネクタプラグ、14は基準となるマスタコネクタプラ
グ、15はゴムブーツ、16は光ファイバテープであ
る。また図7(a),(b),(c)はそれぞれ測定
前、測定中、測定後の光コネクタの状態を示している。
そこで光コネクタ用ガイドピンが基準となるマスタコネ
クタプラグに残るよう光コネクタ用ガイドピンをガイド
ピン穴に接着固定する方法も考えられるが、このように
光コネクタ用ガイドピンを基準となるマスタコネクタプ
ラグに接着固定してしまうと、マスタコネクタプラグの
接続面の清掃の際、光コネクタ用ガイドピンが邪魔にな
り作業性が落ち、場合によっては清掃が不完全に終わ
り、測定した特性値に悪影響がでるという問題があっ
た。
コネクタ用ガイドピンを使用する場合、前述の着脱作業
において被測定光コネクタプラグとマスタコネクタプラ
グとの接続を解除する際、被測定光コネクタプラグのガ
イドピン穴が小さいときには前記光コネクタ用ガイドピ
ンが前記被測定光コネクタプラグに残り、次の被測定光
コネクタプラグの測定を行う時に、測定を終えた被測定
光コネクタプラグのガイドピン穴に残っているガイドピ
ンを抜き、マスタコネクタプラグのガイドピン穴に光コ
ネクタ用ガイドピンを挿入しなおすという作業が必要と
なり、作業工程数が増えて作業効率が悪くなるという問
題があった。図7は光コネクタの接続解除を行った際
に、光コネクタ用ガイドピン5が基準となるマスタコネ
クタプラグ14から被測定光コネクタプラグ13に移動
する場合の半透明図を示す。図7中、13は被測定光コ
ネクタプラグ、14は基準となるマスタコネクタプラ
グ、15はゴムブーツ、16は光ファイバテープであ
る。また図7(a),(b),(c)はそれぞれ測定
前、測定中、測定後の光コネクタの状態を示している。
そこで光コネクタ用ガイドピンが基準となるマスタコネ
クタプラグに残るよう光コネクタ用ガイドピンをガイド
ピン穴に接着固定する方法も考えられるが、このように
光コネクタ用ガイドピンを基準となるマスタコネクタプ
ラグに接着固定してしまうと、マスタコネクタプラグの
接続面の清掃の際、光コネクタ用ガイドピンが邪魔にな
り作業性が落ち、場合によっては清掃が不完全に終わ
り、測定した特性値に悪影響がでるという問題があっ
た。
【0007】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、特に光コネクタの光学特性を測定する際に生じる光
コネクタの着脱箇所において作業性を向上させるための
光コネクタ測定用ガイドピンを提供することを目的とす
る。
で、特に光コネクタの光学特性を測定する際に生じる光
コネクタの着脱箇所において作業性を向上させるための
光コネクタ測定用ガイドピンを提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1記載の発明は、光コネクタプラグに設けてあ
るガイドピン穴に挿入した光コネクタ用のガイドピンに
より光ファイバの位置合わせを行う光コネクタに用いる
光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、光コネクタ用の
ガイドピンの片方の端にガイドピン穴径より大きな鍔部
が設けられていることを特徴とする光コネクタ測定用ガ
イドピンである。
に請求項1記載の発明は、光コネクタプラグに設けてあ
るガイドピン穴に挿入した光コネクタ用のガイドピンに
より光ファイバの位置合わせを行う光コネクタに用いる
光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、光コネクタ用の
ガイドピンの片方の端にガイドピン穴径より大きな鍔部
が設けられていることを特徴とする光コネクタ測定用ガ
イドピンである。
【0009】また請求項2記載の発明は、請求項1記載
の光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、クランプスプ
リングで光コネクタプラグを固定する際に、クランプス
プリングと接触する鍔部の形状として、厚さ0.1〜
0.3mm程度の薄い盤状またはリング状とすること
で、クランプスプリングで光コネクタプラグを安定的に
固定できることを特徴とするものである。
の光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、クランプスプ
リングで光コネクタプラグを固定する際に、クランプス
プリングと接触する鍔部の形状として、厚さ0.1〜
0.3mm程度の薄い盤状またはリング状とすること
で、クランプスプリングで光コネクタプラグを安定的に
固定できることを特徴とするものである。
【0010】また請求項3記載の発明は、請求項1又は
2記載の光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、鍔部の
形成として、片端にテーパを設けず溝を設けた光コネク
タ用のガイドピンに対して、前記溝に、厚さ0.1〜
0.3mm程度の薄いCリングをはめ、前記Cリングを
前記溝に機械的に圧着固定することで鍔部を形成してい
ることを特徴とするものである。
2記載の光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、鍔部の
形成として、片端にテーパを設けず溝を設けた光コネク
タ用のガイドピンに対して、前記溝に、厚さ0.1〜
0.3mm程度の薄いCリングをはめ、前記Cリングを
前記溝に機械的に圧着固定することで鍔部を形成してい
ることを特徴とするものである。
【0011】また請求項4記載の発明は、請求項1又は
2記載の光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、鍔部の
形成として、光コネクタ用のガイドピンの外径とほぼ同
じ内円径をもつ厚さ0.1〜0.3mm程度の薄いリン
グを用意し、前記リングにテーパを設けていない方の光
コネクタ用のガイドピンの端をはめこみ、接合部をエポ
キシ系等の接着剤で固定することで鍔部を形成している
ことを特徴とするものである。
2記載の光コネクタ測定用ガイドピンにおいて、鍔部の
形成として、光コネクタ用のガイドピンの外径とほぼ同
じ内円径をもつ厚さ0.1〜0.3mm程度の薄いリン
グを用意し、前記リングにテーパを設けていない方の光
コネクタ用のガイドピンの端をはめこみ、接合部をエポ
キシ系等の接着剤で固定することで鍔部を形成している
ことを特徴とするものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
形態例を詳細に説明する。
形態例を詳細に説明する。
【0013】図1乃至3および8は、本発明の光コネク
タ測定用ガイドピンの実施形態例を説明するための図で
ある。図1は本発明の請求項1および2に係る光コネク
タ測定用ガイドピンの斜視図、図2および図3はそれぞ
れ本発明の請求項3および4に係る光コネクタ測定用ガ
イドピンの側面半透明図である。図8は本発明の光コネ
クタ測定用ガイドピンを用いた光コネクタの半透視図
で、それぞれコネクタの着脱作業が生じる、(a)測定
前、(b)測定中、(c)測定後における光コネクタプ
ラグと光コネクタ測定用ガイドピンの状態を示してい
る。図中、1は光コネクタ測定用ガイドピン、2は鍔
部、3は溝部、4はリング、13は被測定光コネクタプ
ラグ、14はマスタコネクタプラグである。
タ測定用ガイドピンの実施形態例を説明するための図で
ある。図1は本発明の請求項1および2に係る光コネク
タ測定用ガイドピンの斜視図、図2および図3はそれぞ
れ本発明の請求項3および4に係る光コネクタ測定用ガ
イドピンの側面半透明図である。図8は本発明の光コネ
クタ測定用ガイドピンを用いた光コネクタの半透視図
で、それぞれコネクタの着脱作業が生じる、(a)測定
前、(b)測定中、(c)測定後における光コネクタプ
ラグと光コネクタ測定用ガイドピンの状態を示してい
る。図中、1は光コネクタ測定用ガイドピン、2は鍔
部、3は溝部、4はリング、13は被測定光コネクタプ
ラグ、14はマスタコネクタプラグである。
【0014】本発明の光コネクタ測定用ガイドピンは、
着脱作業が頻繁に生じるマスタコネクタプラグなどの基
準となる光コネクタプラグに対して利用させるものであ
る。
着脱作業が頻繁に生じるマスタコネクタプラグなどの基
準となる光コネクタプラグに対して利用させるものであ
る。
【0015】図1に示すように、光コネクタプラグに設
けてあるガイドピン穴に挿入した2本の光コネクタ用の
ガイドピンにより光ファイバの位置合わせを行う光コネ
クタに用いる光コネクタ測定用ガイドピン1において、
光コネクタ測定用ガイドピン1の片方の先端は、ガイド
ピン穴への挿入がしやすいように先細のテーパ部6が設
けられており、もう片方の端は、ガイドピン1がガイド
ピン穴を貫通できないように、ガイドピン穴径より大き
な鍔部2が設けられている。鍔部2の形状は、厚さ0.
1〜0.3mm程度の薄いリング状である。尚、鍔部2
の形状は、厚さ0.1〜0.3mm程度の薄い盤状であ
ってもよい。
けてあるガイドピン穴に挿入した2本の光コネクタ用の
ガイドピンにより光ファイバの位置合わせを行う光コネ
クタに用いる光コネクタ測定用ガイドピン1において、
光コネクタ測定用ガイドピン1の片方の先端は、ガイド
ピン穴への挿入がしやすいように先細のテーパ部6が設
けられており、もう片方の端は、ガイドピン1がガイド
ピン穴を貫通できないように、ガイドピン穴径より大き
な鍔部2が設けられている。鍔部2の形状は、厚さ0.
1〜0.3mm程度の薄いリング状である。尚、鍔部2
の形状は、厚さ0.1〜0.3mm程度の薄い盤状であ
ってもよい。
【0016】前記鍔部2の形成として以下の2つがあ
る。1つは、図2に示すように、光コネクタ測定用ガイ
ドピン1のテーパ部6を設けない片方の端に0.1mm
程度の溝部3を設け、その溝部3に厚さが0.1〜0.
3mm程度の薄いCリングなどのリング4をはめ込み、
前記リング4を前記溝部3に機械的に圧着固定して鍔部
を形成する場合である。2つ目は、図3に示すように、
光コネクタ測定用ガイドピン1のテーパ部6を設けない
片方の端を、光コネクタ測定用ガイドピン1の外径とほ
ぼ同じ程度の内円径をもつ厚さが0.1〜0.3mm程
度の薄いリング4にはめ込み、接合部をエポキシ系等の
接着剤で固定して形成する場合である。
る。1つは、図2に示すように、光コネクタ測定用ガイ
ドピン1のテーパ部6を設けない片方の端に0.1mm
程度の溝部3を設け、その溝部3に厚さが0.1〜0.
3mm程度の薄いCリングなどのリング4をはめ込み、
前記リング4を前記溝部3に機械的に圧着固定して鍔部
を形成する場合である。2つ目は、図3に示すように、
光コネクタ測定用ガイドピン1のテーパ部6を設けない
片方の端を、光コネクタ測定用ガイドピン1の外径とほ
ぼ同じ程度の内円径をもつ厚さが0.1〜0.3mm程
度の薄いリング4にはめ込み、接合部をエポキシ系等の
接着剤で固定して形成する場合である。
【0017】次に本発明の光コネクタ測定用ガイドピン
を用いた光コネクタの測定の実施形態例について述べ
る。図8(a)に示すように、まず2本の光コネクタ用
ガイドピン1を基準となるマスタコネクタプラグ14の
後ろ側(ゴムブーツ15および光ファイバテープ16
側)のガイドピン穴10から挿入する。次に図8(b)
に示すように、マスタコネクタプラグ14と被測定光コ
ネクタプラグ13の接続面9を清掃後、光コネクタ用ガ
イドピン1を被測定光コネクタプラグ13のガイドピン
穴10に挿入するようにしてマスタコネクタプラグ14
と被測定光コネクタプラグ13を接続し、測定する。最
後に図8(c)に示すように,光コネクタ用ガイドピン
1を被測定光コネクタプラグ13のガイドピン穴10か
ら引き抜くようにしてマスタコネクタプラグ14と被測
定光コネクタプラグ13の接続を解除する。この接続解
除時に、被測定光コネクタプラグ13側に挿入されてい
る光コネクタ測定用ガイドピン1とガイドピン穴10の
摩擦力により、マスタコネクタプラグ14に挿入してあ
る光コネクタ測定用ガイドピン1にはマスタコネクタプ
ラグ14から抜けるような力が働くが、本発明の光コネ
クタ測定用ガイドピン1の片方の端に設けられた鍔部2
がマスタコネクタプラグ14に引っ掛かることで、本発
明の光コネクタ測定用ガイドピン1はマスタコネクタプ
ラグ14から抜けずに残るようになっている。
を用いた光コネクタの測定の実施形態例について述べ
る。図8(a)に示すように、まず2本の光コネクタ用
ガイドピン1を基準となるマスタコネクタプラグ14の
後ろ側(ゴムブーツ15および光ファイバテープ16
側)のガイドピン穴10から挿入する。次に図8(b)
に示すように、マスタコネクタプラグ14と被測定光コ
ネクタプラグ13の接続面9を清掃後、光コネクタ用ガ
イドピン1を被測定光コネクタプラグ13のガイドピン
穴10に挿入するようにしてマスタコネクタプラグ14
と被測定光コネクタプラグ13を接続し、測定する。最
後に図8(c)に示すように,光コネクタ用ガイドピン
1を被測定光コネクタプラグ13のガイドピン穴10か
ら引き抜くようにしてマスタコネクタプラグ14と被測
定光コネクタプラグ13の接続を解除する。この接続解
除時に、被測定光コネクタプラグ13側に挿入されてい
る光コネクタ測定用ガイドピン1とガイドピン穴10の
摩擦力により、マスタコネクタプラグ14に挿入してあ
る光コネクタ測定用ガイドピン1にはマスタコネクタプ
ラグ14から抜けるような力が働くが、本発明の光コネ
クタ測定用ガイドピン1の片方の端に設けられた鍔部2
がマスタコネクタプラグ14に引っ掛かることで、本発
明の光コネクタ測定用ガイドピン1はマスタコネクタプ
ラグ14から抜けずに残るようになっている。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
コネクタ着脱作業時に基準となる光コネクタプラグにガ
イドピンが残り、測定のたびにガイドピンを抜き差しす
る作業をなくし、クランプスプリングの使用を可能に
し、光コネクタの特性評価の作業性を向上することが可
能となる。
コネクタ着脱作業時に基準となる光コネクタプラグにガ
イドピンが残り、測定のたびにガイドピンを抜き差しす
る作業をなくし、クランプスプリングの使用を可能に
し、光コネクタの特性評価の作業性を向上することが可
能となる。
【図1】本発明の光コネクタ測定用ガイドピンの一例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図2】本発明の光コネクタ測定用ガイドピンの他の例
を示す側面半透明図である。
を示す側面半透明図である。
【図3】本発明の光コネクタ測定用ガイドピンの他の異
なる例を示す側面半透明図である。
なる例を示す側面半透明図である。
【図4】従来の光コネクタ用ガイドピンを示す斜視図で
ある。
ある。
【図5】従来の光コネクタ用ガイドピンを示す側面図で
ある。
ある。
【図6】従来の光コネクタを示す斜視図である。
【図7】従来の光コネクタ用ガイドピンと光コネクタプ
ラグの状態を示す半透明図である。
ラグの状態を示す半透明図である。
【図8】本発明の光コネクタ測定用ガイドピンと光コネ
クタプラグの状態を示す半透明図である。
クタプラグの状態を示す半透明図である。
1 光コネクタ測定用ガイドピン
2 鍔部
3 溝部
4 リング
5 光コネクタ用ガイドピン
6 テーパ部
7 光コネクタプラグ
8 光ファイバ
9 接続面
10 ガイドピン穴
11 クランプスプリング
12 光コネクタ
13 被測定光コネクタプラグ
14 マスタコネクタプラグ
15 ゴムブーツ
16 光ファイバテープ
フロントページの続き
(72)発明者 高谷 雅昭
東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日
本電信電話株式会社内
Fターム(参考) 2H036 QA49
Claims (4)
- 【請求項1】 光コネクタプラグに設けてあるガイドピ
ン穴に挿入した光コネクタ用のガイドピンにより光ファ
イバの位置合わせを行う光コネクタに用いる光コネクタ
測定用ガイドピンにおいて、光コネクタ用のガイドピン
の片方の端にガイドピン穴径より大きな鍔部が設けられ
ることを特徴とする光コネクタ測定用ガイドピン。 - 【請求項2】 鍔部の形状として、厚さ0.1〜0.3
mm程度の薄い盤状またはリング状であることを特徴と
する請求項1記載の光コネクタ測定用ガイドピン。 - 【請求項3】 片端にテーパを設けず溝を設けた光コネ
クタ用のガイドピンに対して、前記溝に、厚さ0.1〜
0.3mm程度の薄いCリングをはめ、前記Cリングを
前記溝に機械的に圧着固定することで鍔部を形成するこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の光コネクタ測定用
ガイドピン。 - 【請求項4】 光コネクタ用のガイドピンの外径とほぼ
同じ内円径をもつ厚さ0.1〜0.3mm程度の薄いリ
ングを用意し、前記リングにテーパを設けていない方の
光コネクタ用のガイドピンの端をはめこみ、接合部をエ
ポキシ系等の接着剤で固定して鍔部を形成することを特
徴とする請求項1又は2記載の光コネクタ測定用ガイド
ピン。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001345263A JP2003149505A (ja) | 2001-11-09 | 2001-11-09 | 光コネクタ測定用ガイドピン |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001345263A JP2003149505A (ja) | 2001-11-09 | 2001-11-09 | 光コネクタ測定用ガイドピン |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003149505A true JP2003149505A (ja) | 2003-05-21 |
Family
ID=19158630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001345263A Pending JP2003149505A (ja) | 2001-11-09 | 2001-11-09 | 光コネクタ測定用ガイドピン |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003149505A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010266600A (ja) * | 2009-05-13 | 2010-11-25 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバ用接続構造、メカニカルスプライス、光コネクタおよび光ファイバ用接続方法 |
-
2001
- 2001-11-09 JP JP2001345263A patent/JP2003149505A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010266600A (ja) * | 2009-05-13 | 2010-11-25 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバ用接続構造、メカニカルスプライス、光コネクタおよび光ファイバ用接続方法 |
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