JP2003142727A - 半導体発光装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
発光効率を上げる半導体発光素子を提供する。 【解決手段】 InGaAlPを活性層5とする半導体
発光装置1において、活性層5及びその上側層6,8を
貫通して孔部12を形成し、この孔部12内に絶縁膜1
3を介してワイヤボンディング部14を設け、更にこの
ワイヤボンディング部14を、上側層6,8の上面に配
置した線状電極15に接続したことを特徴とする半導体
発光装置1としたものであり、活性層5に孔部12を形
成し、線状電極15を用いるので、活性層5から発光さ
れる光がワイヤボンディング部14により遮光されるこ
とがなくなり、電流を分散することで、発光効率を向上
させることができる。
Description
活性層とする半導体発光装置及びその製造方法に関す
る。
される各種の半導体発光素子の中で、4元化合物半導体
InGaAlPを活性層とする半導体発光素子は、高輝
度のオレンジ色やアンバー色の発光ダイオード及び赤色
レーザーダイオードとして製品化されている。このよう
なInGaAlPを活性層とするものでは、GaAsを
基板とすることで、従来のGaPやGaAs等を用いる
ものに比べると、赤色から緑色の高輝度発光が既に達成
されている。
アンバー色発光の半導体発光素子の構造の一例を図3に
示す。この半導体発光素子50は有機金属気相成長法に
より、n型GaAs基板51の表面に、n型GaAsバ
ッファ層52と、n型のGaAlAsとInAlPの2
0ペアからなる超格子の多層反射層53と、n型InG
aAlPのクラッド層54と、ノンドープInGaAl
Pの活性層55と、p型InGaAlPのクラッド層5
6と、p型GaAlAsの窓層58とを順に積層したダ
ブルヘテロ構造としたものである。
uとGeの合金層とAu層からなるn側電極61を形成
し、p型GaAlAsの窓層58側には、AuとZnの
合金層とAu層からなるp側電極60を形成している。
層55を挟むクラッド層54,56は活性層55よりA
l混晶比を高くすることにより、活性層55に対する電
子及び正孔の閉じ込みが行なわれる。また、窓層58
は、p側電極60から流される電流を十分に広げて活性
層55に注入するためにやや厚く(数μm程度)形成さ
れている。そして、クラッド層54,56及び窓層58
は、ともに活性層55から発光される光に対して透明で
ある。
来の半導体発光素子50は、光取り出し面側に設けられ
たp側電極60が活性層55の上方に配置されているた
め、活性層55から発光される光はp側電極60によっ
て遮られることになる。
電極60の面積分だけ発光効率が下がるという問題があ
る。
れることを防止して発光効率を上げる半導体発光素子を
提供することを目的とする。
においては、活性層及びその上側層を貫通して孔部を形
成し、この孔部内に絶縁膜を介してワイヤボンディング
部を設け、さらにこのワイヤボンディング部を、上側層
の上面に配置した線状電極に接続したものである。
流れることを防止するとともに均一に電流を流して発光
効率を上げる半導体発光素子が得られる。
aAlPを活性層とする半導体発光装置において、前記
活性層及びその上側層を貫通して孔部を形成し、この孔
部内に絶縁膜を介してワイヤボンディング部を設け、更
にこのワイヤボンディング部を、前記上側層の上面に配
置した線状電極に接続したことを特徴とする半導体発光
装置としたものであり、活性層に孔部を形成することに
より、ワイヤボンディング部の下側からの発光がほとん
どなくなり、活性層から発光される光がワイヤボンディ
ング部により遮られず、また、線状電極を用いるので、
電流を分散すると共に遮光を少なくするという作用を有
する。
は、前記ワイヤボンディング部を中心にして放射状に複
数配置されていることを特徴とする請求項1に記載の半
導体発光装置であり、ワイヤボンディング部に供給され
た電流は放射状に分散して均一に流される。
を活性層とする半導体発光装置の製造方法において、G
aAs基板上に、少なくとも多層反射層と、InGaA
lPからなるNクラッド層と、前記活性層と、InGa
AlPからなるPクラッド層と、GaAlAsからなる
窓層とを順次積層して形成する工程と、前記窓層、前記
Pクラッド層及び前記活性層を貫通する孔部をエッチン
グにより形成する工程と、前記孔部に絶縁膜を形成する
工程と、前記絶縁膜の上部にワイヤボンディング部を設
けると共に、前記窓層の表面に前記ワイヤボンディング
部に接続した線状電極を配置することを特徴とする半導
体発光装置の製造方法であり、かかる手順によって、発
光効率のよい半導体発光装置を容易に製造できる。
を用いて説明する。
図、図2は同半導体発光装置の平面図を示す。
により、n型のGaAs基板7の表面に、n型GaAs
からなるバッファ層2と、n型のGaAlAsとInA
lPの20ペアからなる超格子の多層反射層3と、n型
InGaAlPのNクラッド層4と、ノンドープInG
aAlPの活性層5と、p型InGaAlPのPクラッ
ド層6と、p型GaAlAsの窓層8とを順に積層して
ダブルヘテロ構造としている。
uとGeの合金層とAu層からなるn側電極11が形成
されている。
8は、ともに活性層5から発光される光に対して透明で
ある。
層6及び窓層8には、各層を貫通して円形の孔部12が
形成されている。孔部12の底面はNクラッド層4の上
部に形成されている。孔部12の底面及び側面には、こ
れを覆うSiO2からなる絶縁膜13が設けられてい
る。
層とAu層からなる金属製の円形のワイヤボンディング
部14が設けられ、窓層8の上面には、ワイヤボンディ
ング部14を中心にして半導体発光装置1の四隅に向か
って放射状に4本配置された線状電極15が設けられて
いる。線状電極15はワイヤボンディング部14と同じ
材質からなり、その内側端は、ワイヤボンディング部1
4の外周部に接続されている。
され、線状電極15を介して、各層を下側に向かって流
れる。線状電極15によって、広い範囲に電流を分散さ
せて流すことができる。
電流が流れず、また、発光もしないので、他の部分に多
くの電流を流すことができる。活性層5から発せられる
光は窓層8から取り出されるが、直線状の線状電極15
に邪魔される光は少なくなり、多くの光を取り出すこと
ができる。
強くするとともに窓層8表面で遮光される光を減らし
て、全体の発光効率を上げることができる。
て説明する。
方法により、GaAs基板7上に、少なくとも多層反射
層3と、InGaAlPからなるNクラッド層4と、活
性層5と、InGaAlPからなるPクラッド層6と、
GaAlAsからなる窓層8とを順次積層して形成す
る。
層5を貫通する孔部12をエッチングにより形成する。
この工程を詳しく説明すると、まず、ダブルヘテロ構造
が形成されたウエハーの窓層8の表面にフォトリソグラ
フ工程によりレジストでパターンを形成し、中央に形成
した円を除いた表面をレジスト膜で被覆する。次に、レ
ジストが被覆されていない部分をエッチングし、窓層
8、Pクラッド層6及び活性層5を除去し、Nクラッド
層4を表面に露出させ、レジストを除去する。
SiO2からなる絶縁膜13の形成は、まず、温度40
0℃程度でCVD装置を用いSiO2膜を400nm〜
500nmの膜厚で生成し、次いで、フォトリソグラフ
で孔部12より直径で10〜20μm程度大きいレジス
トパターンを被覆し、そして、他の部分のSiO2をエ
ッチングで除去することにより行う。
ンディング部14を設けるとともに、窓層8の表面にワ
イヤボンディング部14に接続した線状電極15を放射
状に配置、固定する。
することができる。
孔部を形成することにより、ワイヤボンディング部の下
側からの発光がほとんどなくなり、活性層から発光され
る光がワイヤボンディング部により遮られず、発光効率
をよくすることができる。また、線状電極を用いるの
で、電流を均一に分散するとともに遮光を少なくして、
さらに発光効率をよくすることができる。
ことにより、ワイヤボンディング部に供給された電流が
放射状に分散して均一に流され、発光強度を均一化する
ことができる。
通する孔部をエッチングにより形成することにより、発
光効率のよい半導体発光装置を容易に製造できる。
Claims (3)
- 【請求項1】 InGaAlPを活性層とする半導体発
光装置において、 前記活性層及びその上側層を貫通して孔部を形成し、こ
の孔部内に絶縁膜を介してワイヤボンディング部を設
け、さらにこのワイヤボンディング部を、前記上側層の
上面に配置した線状電極に接続したことを特徴とする半
導体発光装置。 - 【請求項2】 前記線状電極は、前記ワイヤボンディン
グ部を中心にして放射状に複数配置されていることを特
徴とする請求項1に記載の半導体発光装置。 - 【請求項3】 InGaAlPを活性層とする半導体発
光装置の製造方法において、 GaAs基板上に、少なくとも多層反射層と、InGa
AlPからなるNクラッド層と、前記活性層と、InG
aAlPからなるPクラッド層と、GaAlAsからな
る窓層とを順次積層して形成する工程と、 前記窓層、前記Pクラッド層及び前記活性層を貫通する
孔部をエッチングにより形成する工程と、 前記孔部に絶縁膜を形成する工程と、 前記絶縁膜の上部にワイヤボンディング部を設けるとと
もに、前記窓層の表面に前記ワイヤボンディング部に接
続した線状電極を配置することを特徴とする半導体発光
装置の製造方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008041839A (ja) * | 2006-08-03 | 2008-02-21 | Hitachi Cable Ltd | 半導体発光素子 |
KR101154750B1 (ko) | 2009-09-10 | 2012-06-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 및 그 제조방법 |
KR101172136B1 (ko) * | 2009-12-08 | 2012-08-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자, 발광소자의 제조방법 및 발광소자 패키지 |
JP2012156555A (ja) * | 2007-09-14 | 2012-08-16 | Sharp Corp | 窒化物半導体発光素子 |
WO2014192226A1 (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-04 | 信越半導体株式会社 | 発光素子 |
EP2772951A4 (en) * | 2011-10-25 | 2015-07-15 | Showa Denko Kk | LED, METHOD FOR PRODUCING A LIGHT EMITTING DIODE, LIGHT EMITTING DIODE LAMP AND LIGHTING DEVICE |
JP2015159328A (ja) * | 2009-12-14 | 2015-09-03 | ソウル バイオシス カンパニー リミテッドSeoul Viosys Co.,Ltd. | 電極パッドを有する発光ダイオード |
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Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008041839A (ja) * | 2006-08-03 | 2008-02-21 | Hitachi Cable Ltd | 半導体発光素子 |
JP2012156555A (ja) * | 2007-09-14 | 2012-08-16 | Sharp Corp | 窒化物半導体発光素子 |
KR101154750B1 (ko) | 2009-09-10 | 2012-06-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 및 그 제조방법 |
US8421106B2 (en) | 2009-09-10 | 2013-04-16 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device, system and package |
KR101172136B1 (ko) * | 2009-12-08 | 2012-08-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자, 발광소자의 제조방법 및 발광소자 패키지 |
JP2015159328A (ja) * | 2009-12-14 | 2015-09-03 | ソウル バイオシス カンパニー リミテッドSeoul Viosys Co.,Ltd. | 電極パッドを有する発光ダイオード |
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CN105489728B (zh) * | 2009-12-14 | 2018-11-16 | 首尔伟傲世有限公司 | 具有电极焊盘的发光二极管 |
EP2772951A4 (en) * | 2011-10-25 | 2015-07-15 | Showa Denko Kk | LED, METHOD FOR PRODUCING A LIGHT EMITTING DIODE, LIGHT EMITTING DIODE LAMP AND LIGHTING DEVICE |
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