JP2003133352A - 半導体樹脂封止装置 - Google Patents

半導体樹脂封止装置

Info

Publication number
JP2003133352A
JP2003133352A JP2001331867A JP2001331867A JP2003133352A JP 2003133352 A JP2003133352 A JP 2003133352A JP 2001331867 A JP2001331867 A JP 2001331867A JP 2001331867 A JP2001331867 A JP 2001331867A JP 2003133352 A JP2003133352 A JP 2003133352A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
compression
resin
frame
molded product
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001331867A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3896274B2 (ja
Inventor
Yuuki Kuro
勇旗 黒
Masaru Fukuoka
大 福岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SAINEKKUSU KK
Scinex Corp
Original Assignee
SAINEKKUSU KK
Scinex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SAINEKKUSU KK, Scinex Corp filed Critical SAINEKKUSU KK
Priority to JP2001331867A priority Critical patent/JP3896274B2/ja
Publication of JP2003133352A publication Critical patent/JP2003133352A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3896274B2 publication Critical patent/JP3896274B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 圧縮金型を分離するときに樹脂の剥離を防止
するようにしたものである。 【解決手段】 本発明は金型の枠状金型34に、その保
持部として段部35を設け、圧縮成形後の成形品18の
封止樹脂部18aから圧縮金型33を分離するとき、樹
脂封止部18aの周縁部を保持するようにしたものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップを搭
載した配線板(基板、リードフレーム)等を樹脂で封止
する半導体樹脂封止装置に関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】一般
に半導体樹脂封止装置10は、図24ないし図28に示
すように、対向して配置された2つの金型、すなわち、
第1の金型11と昇降可能な第2の金型12とから構成
され、これら2つ金型の間に、配線基板14に搭載され
た半導体チップ13が電気的に接続されてなる被成形品
15を配置するようになっている。
【0003】上記第2の金型12は枠状金型19と圧縮
金型21から構成され、これらと第1の金型11等の内
部には図示しないがヒータを備え、このヒータでタブレ
ット状に成形した熱硬化性エポキシ樹脂のような封止用
樹脂17を加熱溶融する。また、枠状金型19の下部に
は昇降機構16を備えており、この枠状金型19を昇降
させるようになっている。枠状金型19の枠内には上下
に貫通する矩形の貫通孔19aが開けられ、その中に圧
縮金型21が嵌め込まれている。この圧縮金型21の下
部には昇降機構20を備えており、この圧縮金型21を
昇降させるようになっている。これらの両昇降機構1
6,20は図示しない制御器により駆動制御されるよう
なっている。
【0004】次に、この半導体樹脂封止装置10の作用
を説明する。まず、第1の金型11と第2の金型12と
を図24に示すように対向して配置する。封止用樹脂1
7を圧縮金型21の上面に載置し、被成形品15を枠状
金型19の上面に載置して、図示しないヒータにより封
止用樹脂17を加熱し溶融状態にする。
【0005】しかる後、圧縮金型21とともに枠状金型
19を昇降機構20、16により図25に示すように上
昇させ、枠状金型19の上面と第1の金型11の下面と
で被成形品15の配線基板14の周縁部をクランプす
る。
【0006】このクランプ後、昇降機構20により圧縮
金型21をさらに図25に示すように上昇させ、溶融し
た封止用樹脂17を押しつぶすことによって、配線基板
14と枠状金型19と圧縮金型21で形成されるキャビ
ティC内に溶融した封止用樹脂17を充満させることで
樹脂封止がなされ、樹脂封止された成形品18が完成す
る。
【0007】樹脂封止後、まず、昇降機構20にて圧縮
金型21を図26に示すように下降させる。この下降に
より圧縮金型21の上面を成形品18の封止樹脂部18
aの封止樹脂部表面18baから分離する。
【0008】次に、枠状金型19と圧縮金型21とを図
27に示すように昇降機構16、20にて第1の金型1
1から下降させることによって成形品18の配線基板1
4の上面が第1の金型11の下面から分離する。この
後、再度圧縮金型21を図28に示すように上昇させ、
成型品18を第2の金型12からエジェクトし成形品を
取り出す。この後、この樹脂封止した成形品18を図2
9に示すように2点鎖線部で切断し個々のパッケージに
分離し最終の完成品にする。
【0009】なお樹脂封止時、溶融した封止用樹脂17
は圧縮金型21で圧縮されることで被成形品15に密着
するが、同時に圧縮金型21にも密着する。封止後、圧
縮金型21を成形品18から分離するときの離型荷重は
圧縮金型21の上面と図25に示す封止樹脂部表面18
baとの間に掛かると同時に、配線基板14と封止樹脂
部18aとの樹脂界面18bbにも掛かる。ここで通常
は、圧縮金型21の上面と封止樹脂部表面18baとの
密着力より上記樹脂界面18bbでの密着力が強いた
め、圧縮金型21と封止樹脂部18aとは封止樹脂部表
面18baで離型するが、このときの応力は当然、半導
体チップ13や配線基板14に掛かるので、場合によっ
ては樹脂界面18bbで剥離が生ずる。特に、成形品1
8内の半導体チップ13周縁部において配線基板14と
封止樹脂部18aが剥離すると、図29のように分離切
断した後、この剥離部から水分が浸透し製品不良を起こ
すことがある。
【0010】本発明では離型時、圧縮金型21の上面と
封止樹脂部18aとの離型荷重が樹脂界面18bbに掛
からないようにすることで、被成形品15と封止樹脂部
18aとの樹脂界面18bbに剥離を起こさせないよう
にすることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、第1
の金型と、この第1の金型に対向して配置され、貫通孔
を有する枠状金型とこの貫通孔に嵌合して昇降可能な圧
縮金型からなる第2の金型と、前記第1または第2の金
型を昇降させる昇降機構とから構成され、これら第1の
金型と第2の金型の間に被成形品を配置し、前記第1の
金型と枠状金型により被成型品の配線基板の周縁部をク
ランプし、前記昇降機構により前記圧縮金型が前記第1
の金型側へ相対的に移動することで、加熱溶融した封止
用樹脂を被成形品に圧縮成形により樹脂封止する半導体
樹脂封止装置において、前記第2の金型には、樹脂封止
後に前記圧縮金型を成形品から分離するときにこの成形
品の封止樹脂周縁部分全部もしくは一部を保持する保持
部を設け、圧縮金型を成形品から分離するときに被成形
品と圧縮成形した封止樹脂部が剥離しないようにしたも
のである。
【0012】請求項2の発明は、前記圧縮金型を成形品
から分離するときにこの成形品の封止樹脂周縁部分全部
もしくは一部を保持する保持部としての段部を前記枠状
金型または前記圧縮金型に設け、圧縮金型を成形品から
分離するときに被成形品と圧縮成形した封止樹脂部が剥
離しないようにしたものである。
【0013】請求項3の発明は、第1の金型と、この第1
の金型に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型と
この貫通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2
の金型と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降
機構とから構成され、これら第1の金型と第2の金型の
間に被成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型によ
り被成型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降
機構により前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に
移動することで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に
圧縮成形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置におい
て、前記枠状金型の貫通孔に昇降自在に嵌合させて凸字
状の圧縮金型を備え、この圧縮金型の下腕部と前記枠状
金型との間に第1の弾性体を設け、前記枠状金型はこの
第1の弾性体を介して前記圧縮金型の下腕部に支持され
て圧縮金型に連動して1つの昇降機構により昇降すると
ともに、前記貫通孔の内側面には樹脂封止後に前記圧縮
金型を成形品から分離するときにこの成形品の封止樹脂
周縁部分全部もしくは一部を保持する保持部としての段
部を設け、圧縮金型を成形品から分離するときに被成形
品と圧縮成形した封止樹脂部が剥離しないようにすると
ともに、枠状金型と圧縮金型の相対移動を1つの昇降機
構により昇降できるようにしたものである。
【0014】請求項4の発明は、前記第1の金型には、
樹脂封止時に受ける反力より大きい力で圧縮可能な弾性
力を有する第2の弾性体と、この第2の弾性体を介して
第1の金型本体に昇降可能に保持された可動金属板を備
え、成形品のエジェクトを的確に行うようにしたもので
ある。
【0015】請求項5の発明は、第1の金型と、この第1
の金型に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型と
この貫通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2
の金型と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降
機構とから構成され、これら第1の金型と第2の金型の
間に被成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型によ
り被成型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降
機構により前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に
移動することで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に
圧縮成形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置におい
て、圧縮金型の外側面または枠状金型の内側面に切り込
み部を設け、この切り込み部に前記貫通孔と前記切り込
み部に昇降自在に嵌合して昇降する可動ブロックを備
え、この可動ブロックが樹脂封止後に前記圧縮金型を成
形品から分離するときにこの成形品の封止樹脂周縁部分
全部もしくは一部を保持するようにし、圧縮金型を成形
品から分離するときに被成形品と圧縮成形した封止樹脂
部が剥離しないようにするとともに、供給する封止用樹
脂量の計量精度を緩和するようにしたものである。
【0016】請求項6の発明は、第1の金型と、この第1
の金型に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型と
この貫通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2
の金型と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降
機構とから構成され、これら第1の金型と第2の金型の
間に被成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型によ
り被成型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降
機構により前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に
移動することで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に
圧縮成形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置におい
て、圧縮金型または枠状金型内に可動ブロック挿入孔を
設け、この可動ブロック挿入孔に昇降自在に嵌合して昇
降する可動ブロックを備え、この可動ブロックが、樹脂
封止後に前記圧縮金型を成形品から分離するときにこの
成形品の封止樹脂部周縁部の一部を保持するようにし、
圧縮金型を成形品から分離するときに被成形品と圧縮成
形した封止樹脂部が剥離しないようにするとともに、供
給する封止用樹脂量の計量精度を緩和し、また、可動ブ
ロックを圧縮金型もしくは枠状金型内に入れることで圧
縮金型と枠状金型が相対移動する時の影響を可動ブロッ
クが受けないようにしたものである。
【0017】請求項7の発明は、前記可動ブロックは前
記圧縮金型または前記枠状金型に設けられた切り込み部
または可動ブロック挿入孔に樹脂封止圧力で圧縮可能な
支持弾性体を介して圧縮金型または枠状金型に支持さ
れ、この圧縮金型または枠状金型に連動して昇降するよ
うにし、可動ブロックを昇降するための昇降機構を省略
して半導体樹脂封止装置の機構を簡略化したものであ
る。
【0018】
【発明の実施の形態】以下添付の図面を参照して本発明
の種々の好ましい実施の形態について説明する。
【0019】(第1の実施の形態)図1ないし図5を参
照して本発明の第1の実施の形態を説明する。なお、従
来の半導体樹脂封止装置10と同一部分には同一符号付
して説明する。
【0020】この実施の形態の半導体樹脂封止装置30
は、対向して配置された2つの金型、すなわち、第1の
金型11と昇降可能な第2の金型31とから構成され、
これら2つ金型の間に被成形品15を配置するようにな
っている。
【0021】上記第2の金型31は枠状金型34と圧縮
金型33から構成され、これらと第1の金型11等の内
部には図示しないがヒータを備え、このヒータで封止用
樹脂17を加熱溶融するようになっている。これら枠状
金型34と圧縮金型33は図示しない昇降機構により昇
降するようになっている。また、枠状金型34の枠内に
は上下に貫通する矩形の貫通孔32が開けられ、その中
に圧縮金型33が嵌め込まれている。
【0022】枠状金型34の上部の内側面には、その外
周部の寸法がキャビティCの外周部の寸法(L01×L02)
(図29参照)に相当する段部35を設けている。この
段部35の底面35aは、圧縮金型33の上面を封止樹
脂部18aの表面から分離するときに成形品を保持する
保持部となっている。次に、この半導体樹脂封止装置3
0による樹脂封止方法を説明する。まず、第1の金型1
1と第2の金型31とを図1に示すように対向して配置
する。封止用樹脂17を圧縮金型33の上面に載置し、
被成形品15を枠状金型34の上面に載置して、図示し
ないヒータにより封止用樹脂17を加熱し溶融状態にす
る。
【0023】しかる後、圧縮金型33とともに枠状金型
34を図示しない昇降機構により図2に示すように上昇
させ、枠状金型34の上面と第1の金型11の下面とで
被成形品15の配線基板14の周縁部をクランプする。
【0024】このクランプ後、昇降機構により圧縮金型
33をさらに図2に示すように上昇させ、この圧縮金型
33で溶融した封止用樹脂17を押しつぶすことによっ
て、配線基板14と枠状金型34と圧縮金型33で形成
されるキャビティC内に溶融した封止用樹脂17を充満
させることで樹脂封止された成形品18が完成する。
【0025】樹脂封止後、まず、昇降機構にて圧縮金型
33を図3に示すように下降させる。この下降により圧
縮金型33の上面を成形品18の封止樹脂部表面18b
aから分離し離型する。
【0026】次に、枠状金型34と圧縮金型33とを図
4に示すように昇降機構にて第1の金型11から下降さ
せることによって成形品18の配線基板14の上面が第
1の金型11の下面から分離する。この後、再度圧縮金
型33を図5に示すように上昇させ、成型品18を第2
の金型31からエジェクトし成形品を取り出す。
【0027】離型のとき、圧縮金型33と封止樹脂部1
8aの図2に示す封止樹脂部表面18baの密着力によ
り、被成形品15と封止樹脂部18aとの樹脂界面18
bbにも離型荷重が掛かるが、枠状金型34の貫通孔3
2に設けた段部35の底面35aが保持部となって封止
樹脂部18aの周縁部を下から保持するためこの離型荷
重を緩和する。
【0028】このように、成形品18を保持した状態で
離型することで、圧縮金型33の上面と封止樹脂部18
aの下面との離型荷重が配線基板14や半導体チップ1
3にかかるのを最小限に押さえることができるので、離
型の際に樹脂界面18bbにおける封止樹脂部18aと
配線基板14との剥離を防ぐことができ、良質な成形品
を供給することができる。
【0029】(第2の実施の形態)次に、図6ないし図
9を参照して本発明の第2の実施の形態を説明する。こ
こでは第1の実施の形態の半導体樹脂封止装置30と同
一部分は同一符号をもって説明する。
【0030】この実施の形態の半導体樹脂封止装置40
は第1の金型11と第2の金型41が対向して配置さ
れ、この第2の金型41は枠状金型43と圧縮金型42
から構成されている。これら枠状金型43、圧縮金型4
2、第1の金型11等の内部には、封止用樹脂17を加
熱溶融するための図示しないヒータを備えている。ま
た、圧縮金型42は昇降機構45により昇降するように
なっている。
【0031】枠状金型43は枠内に上下に貫通する矩形
の貫通孔32が開けられており、この貫通孔32によっ
て圧縮金型42の外側に嵌め込まれている。圧縮金型4
2はその垂直断面が凸字の形状で下部は突起状もしくは
鍔状の下腕部42aとなっている。この下腕部42aと
枠状金型43との間には、枠状金型43を上げる方向へ
反力を発生させる第1の弾性体44が設けられている。
枠状金型43はこの第1の弾性体44を介して圧縮金型
42の下腕部42aに上方に支持されている。したがっ
て、枠状金型43は昇降機構45により圧縮金型42と
連動して昇降するようになっている。
【0032】枠状金型43の上部の内側面にはその外周
部の寸法がキャビティCの外周部の寸法(L01×L02)に
相当する段部35を設けている。この段部35の底面3
5aは圧縮金型42の上面を封止樹脂部18aの表面か
ら分離するときに成形品を保持する保持部となってい
る。次に、この半導体樹脂封止装置40による樹脂封止
方法を説明する。まず、封止用樹脂17、被成形品15
を図6に示すように圧縮金型42、枠状金型43に載置
し、封止用樹脂17を図示しないヒータにより加熱溶融
する。
【0033】次に、図7に示すように昇降機構45によ
り圧縮金型42を上昇する。この上昇により枠状金型4
3が第1の弾性体44を介して圧縮金型42の下腕部4
2aに押し上げられて上昇し、被成形品15の配線基板
14の上面が第1の金型11の下面に当接する。当接
後、さらに、第1の弾性体44の弾性力に抗して図8に
示すように昇降機構45により圧縮金型42を上昇する
と、第1の弾性体44が圧縮し配線基板14に所定のク
ランプ力を与える。それと同時に圧縮金型42が溶融し
た封止用樹脂17を押しつぶして被成形品15の表面に
均一に圧縮成形し、被成形品15に封止用樹脂17を樹
脂封止して成形品18を完成する。
【0034】樹脂封止後、昇降機構45により圧縮金型
42を図9に示すように下降させて圧縮金型42の上面
を成形品18の封止樹脂部18aの下面から分離して離
型する。このとき、第1の弾性体44は前記離型荷重以
上の弾性力で第1の金型11と枠状金型43の段部35
の底面35aとの間に成形品18を保持している。
【0035】この後さらに、昇降機構45にて圧縮金型
42を下降させ成形品18、枠状金型43を第1の金型
11から分離する。分離が終了したら、たとえば、図示
しない真空吸着装置などで成形品18を吸着し第2の金
型41から半導体樹脂封止装置40外へ搬出する。
【0036】このようにすると、圧縮金型42の上面が
封止樹脂部表面18baから離型するとき、第1の実施
の形態と同様に段部35の底面35aが保持部となって
封止樹脂部18aの周縁部を保持するため、離型荷重を
緩和するので、樹脂界面18bbでの剥離を防止するこ
とができ、良質な成形品を供給できる。さらに、この圧
縮成形時等の圧縮金型42、枠状金型43の昇降を、第
1の弾性体44を介して1つの昇降機構45により操作
できるから昇降機構を簡略化することができる。
【0037】(第3の実施の形態)次に、図10ないし
図14を参照して本発明の第3の実施の形態を説明す
る。この第3の実施の形態の半導体樹脂封止装置50は
第2の実施の形態の半導体樹脂封止装置40の第1の金
型に可動金型板53を設けて改良し成形品のエジェクト
を確実にするようにしたものである。
【0038】この半導体樹脂封止装置50の第1の金型
51はホルダ部52aを有する第1の金型本体52と、
このホルダ部52aに昇降自在に取り付けられた可動金
型板53と、両者の間にあって可動金型板53を下方向
に押し付けている第2の弾性体54とで構成されてい
る。この第2の弾性体54は樹脂封止時の下型からの反
力より強い初圧でセットされている。
【0039】次に、この半導体樹脂封止装置50による
樹脂封止方法を説明する。図10から図13における一
連の動作は第2の実施の形態と同じなのでここでは省略
する。図13で圧縮金型42の上面と成形品18の封止
樹脂部18aの下面を分離した後、再び昇降機構45に
て圧縮金型42を封止樹脂部18aの下面に当接するま
で上昇させる。さらに圧縮金型42を上昇させると、昇
降機構45の押し上げ力が成形品18を介して可動金型
板53に伝わり、第2の弾性体54を撓ませながら第2
の金型41の枠状金型43の上面と第1の金型本体52
のホルダ部52aの下面が当接する。ここから圧縮金型
42を図14の位置まで上昇させ封止樹脂部18aの側
面と枠状金型43の内面を離型する。これら一連の動作
において成形品18はキャビティ面から完全に離型す
る。その後、昇降機構45にて圧縮金型42、枠状金型
43、成形品18を下げ、図示しない真空吸着装置など
で成形品18を取り出す。
【0040】この第3の実施の形態によれば、圧縮金型
42が封止樹脂部18aの下面から離型するときに発生
する樹脂界面18bbでの剥離を第1の実施の形態と同
様に防止することができるとともに、この圧縮成形時等
の圧縮金型42と枠状金型43の昇降を、第1の弾性体
44を介して1つの昇降機構45により昇降できること
から昇降機構を簡略化することができる。また、成形品
18の側面を枠状金型43の内側面から離型しておくた
め、成形品18を図示しない真空吸着装置などで取り出
すときの離型荷重が殆どなく、真空吸着装置を簡素化で
きる他、取り出し時の成形品18へのダメージを防止す
ることができる。
【0041】また、一連の動作において、先に図14の
動作を行った後、図13のごとく圧縮金型42の上面と
封止樹脂部18aの下面の分離を行っても同様の効果が
得られる。
【0042】(第4の実施の形態)次に、図15を参照
して本発明の第4の実施の形態を説明する。これは第3
の実施の形態の変形例で、以下に示す第1の金型61の
構成以外は第3の実施の形態と同様である。この実施の
形態の半導体樹脂封止装置60の第1の金型61は第1の
金型本体62と第1の金型本体62から下方に伸びたス
トッパピン63、このストッパピン63に挿入され昇降
自在に保持された可動金型板64、および両者の間にあ
って可動金型板64を下方向に押し付けている第2の弾
性体65とで構成されている。この第2の弾性体65は
樹脂封止時の下型からの反力より強い初圧でセットされ
ている。ここで、第3の実施の形態との違いは、第1の
金型本体52のホルダ部52aの代わりに、ストッパピ
ン63に設けられた鍔部63aで可動金型板64の下方
向への移動を抑制している点と、成形品18の側面と第
2の金型41の枠状金型43の内面との離型時に枠状金
型43が上昇するのをストッパピン63の下面で抑制し
ている点である。従って、作用、効果は第3の実施の形
態と略同様であるが、本発明では第1の金型をより簡易
に構成することができる。
【0043】(第5の実施の形態)次に、図16ないし
図22を参照して本発明の第5の実施の形態を説明す
る。なお、従来の半導体樹脂封止装置10と同一部分に
は同一符号付して説明する。この実施の形態の半導体樹
脂封止装置70の第2の金型71は圧縮金型73と枠状
金型77と可動ブロック76で構成され、これら圧縮金
型73と枠状金型77は図示しない昇降機構により昇降
するようになっている。また、枠状金型77の枠内には
上下に貫通する矩形の貫通孔72が開けられ、その中に
圧縮金型73が嵌め込まれている。
【0044】圧縮金型73の上部外周には切り込み部7
4を設け、その上部の上部切り込み部74aは浅く切り
込まれ、下部の下部切り込み部74bは上部切り込み部
74aより深く切り込まれている。圧縮金型73と枠状
金型77の間には、可動ブロック76が上部切り込み部
74aと枠状金型77の貫通孔72に嵌合して昇降自在
に配置されている。可動ブロック76は切り込み部74
内に設けられたばね等の弾性体の支持弾性体75を介し
て圧縮金型73の下腕部73aの上面に上方に支持さ
れ、圧縮金型73の昇降に連動して昇降できるようにな
っている。このときの支持弾性体75の弾性力は所定の
封止圧力付近にセットされている。圧縮金型73、枠状
金型77、第1の金型11の内部には図示しないがヒー
タが備えられ、封止用樹脂17を加熱して溶融するよう
になっている。
【0045】次に、この半導体樹脂封止装置70による
樹脂封止方法を説明する。まず、図16に示すように圧
縮金型73の上面に封止用樹脂17を載置し、枠状金型
77の上面には被成形品15を載置して、図示しないヒ
ータにより封止用樹脂17を加熱溶融する。しかる後、
圧縮金型73とともに枠状金型77を図示しない昇降機
構により図17に示すように上昇させ、枠状金型77の
上面と第1の金型11の下面とで被成形品15の配線基
板14の周縁部をクランプする。
【0046】このクランプ後、昇降機構にて圧縮金型7
3を所定の位置まで上昇させ、キャビティC内に溶融し
た封止用樹脂17を充満させることで樹脂封止がなさ
れ、樹脂封止された成形品18が完成する。
【0047】このとき、可動ブロック76は支持弾性体
75を介して下腕部73aに押し上げられて上昇する
が、封止用樹脂17の投入量の増減により、図17から
図19の範囲内で支持弾性体75により所定の樹脂封止
圧力を加えられる位置で停止する。例えば、可動ブロッ
ク76に支持弾性体75のセット圧以上の樹脂封止圧力
が加わることで、図18に示すように支持弾性体75を
撓ませながら可動ブロック76が圧縮金型73に対して
相対的に下方向に移動し、キャビティ内を所定の封止圧
力に維持する。つまり、封止用樹脂17の量が所定量よ
り多い場合には、枠状金型77の上部内側面と圧縮金型
73の上部外周面と可動ブロック76の上面76aが形
成する凹部78がキャビティの容積を増加させて、この
凹部78が多すぎた余分の樹脂を吸収して樹脂封止が完
了する。
【0048】また、樹脂17が所定量より少ない場合
は、所定の封止圧力では図19に示すように可動ブロッ
ク76の上部76bが圧縮金型73の上面より上に突出
した状態になり、キャビティの容積を減少させた状態で
樹脂封止が完了する。
【0049】図17ないし図19の状態で樹脂封止が完
了した後、支持弾性体75の反力により可動ブロック7
6を介して成形品18を第1の金型11に当接しつつ圧
縮金型73を図20に示すように昇降機構により下降さ
せ、圧縮金型73の上面を封止樹脂部18aの下面から
分離し離型する。
【0050】この離型のとき、圧縮金型73の上面と封
止樹脂部18aの下面との密着力により、被成形品15
と封止樹脂部18aとの樹脂界面18bbにも離型荷重
が掛かるが、可動ブロック76の上面76aが保持部と
なって封止樹脂部18aの周縁部を保持するため、樹脂
界面18bbに掛かる離型荷重を緩和する。特に封止樹
脂部18aの周縁部では、この剥離荷重荷重を極小にす
ることができる。
【0051】しかる後、図21に示すように昇降装置に
て枠状金型77、圧縮金型73、可動ブロック76、成
形品18を第1の金型11から下降させる。その後、図
22に示すように圧縮金型73を再度上昇させ、成形品
18を第2の金型71からエジェクトする。
【0052】本実施の形態では、圧縮金型73の上面と
封止樹脂部18aの下面との離型荷重が配線基板14や
半導体チップ13に掛かるのを最小限に押さえることが
できるので、離型の際の樹脂界面18bbでの剥離を防
ぐことができ、良質な成形品を供給することができる。
【0053】また、供給する封止用樹脂量が所定量より
増減した場合でも、可動ブロック76の可動範囲内(図
17から図19の様な位置)であれば所定の封止圧力を
保ちつつ成形することが可能である。言い換えれば、供
給する樹脂量は可動ブロック76の可動範囲でカバーで
きる体積分変動してもよいことになり、供給する封止用
樹脂量の計量精度を緩和することが可能である。
【0054】また、可動ブロック76は支持弾性体75
を介して圧縮金型73とともに昇降するので特別な昇降
機構を必要とせず、装置を簡単にすることができる。
【0055】なお、この可動ブロック76は環状の一体
ものでもよいし、縦に分割された複数のものでもよい。
また、本実施の形態では可動ブロック76は支持弾性体
75を介して圧縮金型73の下腕部73aに支持されて
移動させるようにしたが、圧縮金型とは別の独立した昇
降機構に取り付けて移動させるようにしてもよい。
【0056】また、可動ブロック76、支持弾性体75
は圧縮金型73側の切り込み部74内で昇降するが、枠
状金型内に同様の切り込みを設けて、枠状金型と連動し
て昇降するようにしても同様の効果を得ることができ
る。
【0057】(第6の実施の形態)次に、図23を参照
して本発明の第6の実施の形態を説明する。これは、以
下に示す第2の金型81の構成以外は第5の実施の形態
と同様である。この実施の形態の半導体樹脂封止装置8
0の第2の金型81は、圧縮金型83と枠状金型87と
可動ブロック86で構成され、これら圧縮金型83と枠
状金型87は図示しない昇降機構により昇降するように
なっている。また、枠状金型87の枠内には上下に貫通
する貫通孔82が開けられ、その中に圧縮金型83が嵌
め込まれている。枠状金型87の上部の内側面には、そ
の外周部の寸法がキャビティCの外周の寸法に相当する
段部85を設けている。段部85の底面には上下に貫通
する1つもしくは複数の可動ブロック挿入孔88が開け
られている。この可動ブロック挿入孔88の下部にはね
じ溝が切られ、蓋部87aが下から螺合されている。
【0058】この可動ブロック挿入孔88に嵌合してピ
ン状の可動ブロック86が昇降自在に配置されている。
可動ブロック86は、支持弾性体75を介して枠状金型
87の蓋部87aの上面に上方に支持され、枠状金型8
7の昇降に連動して昇降できるようになっている。この
ときの支持弾性体75の弾性力は所定の封止圧力付近に
セットされている。
【0059】ここで、第5の実施の形態との違いは、枠
状金型87に可動ブロック挿入孔88を設け、可動ブロ
ック86がこの可動ブロック挿入孔88に嵌合して昇降
するようになっている点である。従って、作用、効果は
第5の実施の形態と略同様である。例えば、図23は封
止用樹脂が所定量より多い場合に樹脂封止がなされた状
態を示しているが、可動ブロック挿入孔88の上部の凹
部89が余分の樹脂の体積を吸収するようになってい
る。圧縮金型83を封止樹脂部18aから分離するとき
には、可動ブロック86の上面86aと段部85の底面
が封止樹脂部18aに対する保持部となっている。
【0060】この実施の形態では、枠状金型に可動ブロ
ック挿入孔88を設けたが、圧縮金型に可動ブロック挿
入孔を設け、これに可動ブロックと支持弾性体を配置す
るようにしてもよい。
【0061】上記各実施の形態では第2の金型を可動に
し第1の金型を固定としたが、第1の金型が可動側、第
2の金型が固定側でもよいし、第1の金型を下、第2の
金型を上にし、被成形品を第1の金型の上に載置して、
その上に封止用樹脂を載置してもよい。また、被成形品
の樹脂による封止を片方の表面にしたが、これを上下両
面に封止してもほぼ同様に実施することはできる。さら
に、金型の貫通孔は矩形にしたがこれを丸形、楕円形等
にしても同様に実施することができる。
【0062】さらにまた、第1、第2の弾性体、支持弾
性体は、ばねやゴム等の弾性材料のほか被成形品15に
応じて空圧装置、油圧装置、小形電動機等を用いた伸縮
自在の部材に適宜変更してもほぼ同様に実施することが
できる。その他被成形品も複数の半導体チップを一体に
封止するばかりか1個あるいは2、3個等の少量の単位
で封止するものであってもよい。保持部を形成する段部
の底面と可動ブロックの上面は水平な面であってもよい
し、水平に対して角度を付けた平面や曲面であってもよ
い。
【0063】
【発明の効果】本発明は、第1の金型と、この第1の金型
に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型とこの貫
通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2の金型
と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降機構と
から構成され、これら第1の金型と第2の金型の間に被
成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型により被成
型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降機構に
より前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に移動す
ることで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に圧縮成
形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置において、前
記第2の金型には、樹脂封止後に前記圧縮金型を成形品
から分離するときにこの成形品の封止樹脂周縁部分全部
もしくは一部を保持する保持部を設け、圧縮金型を成形
品から分離するときに被成形品と圧縮成形した封止樹脂
部が剥離しないようにすることができる。
【0064】また、本発明は、前記圧縮金型を成形品か
ら分離するときにこの成形品の封止樹脂周縁部分全部も
しくは一部を保持する保持部としての段部を前記枠状金
型または前記圧縮金型に設け、圧縮金型を成形品から分
離するときに被成形品と圧縮成形した封止樹脂部が剥離
しないようにすることができる。
【0065】さらに、本発明は、第1の金型と、この第1
の金型に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型と
この貫通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2
の金型と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降
機構とから構成され、これら第1の金型と第2の金型の
間に被成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型によ
り被成型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降
機構により前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に
移動することで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に
圧縮成形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置におい
て、前記枠状金型の貫通孔に昇降自在に嵌合させて凸字
状の圧縮金型を備え、この圧縮金型の下腕部と前記枠状
金型との間に第1の弾性体を設け、前記枠状金型はこの
第1の弾性体を介して前記圧縮金型の下腕部に支持され
て圧縮金型に連動して1つの昇降機構により昇降すると
ともに、前記貫通孔の内側面には樹脂封止後に前記圧縮
金型を成形品から分離するときにこの成形品の封止樹脂
周縁部分全部もしくは一部を保持する保持部としての段
部を設け、圧縮金型を成形品から分離するときに被成形
品と圧縮成形した封止樹脂部が剥離しないようにすると
ともに、枠状金型と圧縮金型の相対移動を1つの昇降機
構により昇降できるようにすることができる。
【0066】さらに、本発明は、前記第1の金型には、
樹脂封止時に受ける反力より大きい力で圧縮可能な弾性
力を有する第2の弾性体と、この第2の弾性体を介して
第1の金型本体に昇降可能に保持された可動金属板を備
え、成形品のエジェクトを的確に行うようにすることが
できる。
【0067】さらに、本発明は、第1の金型と、この第1
の金型に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型と
この貫通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2
の金型と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降
機構とから構成され、これら第1の金型と第2の金型の
間に被成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型によ
り被成型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降
機構により前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に
移動することで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に
圧縮成形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置におい
て、圧縮金型の外側面または枠状金型の内側面に切り込
み部を設け、この切り込み部に前記貫通孔と前記切り込
み部に昇降自在に嵌合して昇降する可動ブロックを備
え、この可動ブロックが樹脂封止後に前記圧縮金型を成
形品から分離するときにこの成形品の封止樹脂周縁部分
全部もしくは一部を保持するようにし、圧縮金型を成形
品から分離するときに被成形品と圧縮成形した封止樹脂
部が剥離しないようにするとともに、供給する封止用樹
脂量の計量精度を緩和するようにすることができる。
【0068】さらに、本発明は、第1の金型と、この第1
の金型に対向して配置され、貫通孔を有する枠状金型と
この貫通孔に嵌合して昇降可能な圧縮金型からなる第2
の金型と、前記第1または第2の金型を昇降させる昇降
機構とから構成され、これら第1の金型と第2の金型の
間に被成形品を配置し、前記第1の金型と枠状金型によ
り被成型品の配線基板の周縁部をクランプし、前記昇降
機構により前記圧縮金型が前記第1の金型側へ相対的に
移動することで、加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に
圧縮成形により樹脂封止する半導体樹脂封止装置におい
て、圧縮金型または枠状金型内に可動ブロック挿入孔を
設け、この可動ブロック挿入孔に昇降自在に嵌合して昇
降する可動ブロックを備え、この可動ブロックが、樹脂
封止後に前記圧縮金型を成形品から分離するときにこの
成形品の封止樹脂部の周縁部の一部を保持するように
し、圧縮金型を成形品から分離するときに被成形品と圧
縮成形した封止樹脂部が剥離しないようにするととも
に、供給する封止用樹脂量の計量精度を緩和し、また、
可動ブロックを圧縮金型もしくは枠状金型内に入れるこ
とで圧縮金型と枠状金型が相対移動する時の影響を可動
ブロックが受けないようにすることができる。
【0069】さらに、本発明は、前記可動ブロックは前
記圧縮金型または前記枠状金型に設けられた切り込み部
または可動ブロック挿入孔に樹脂封止圧力で圧縮可能な
支持弾性体を介して圧縮金型または枠状金型に支持さ
れ、この圧縮金型または枠状金型に連動して昇降するよ
うにし、可動ブロックを昇降するための昇降機構を省略
して半導体樹脂封止装置の機構を簡略化することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明半導体樹脂封止装置の第1の実施の形態
の第1工程を示す説明図。
【図2】本発明半導体樹脂封止装置の第1の実施の形態
の第2工程を示す説明図。
【図3】本発明半導体樹脂封止装置の第1の実施の形態
の第3工程を示す説明図。
【図4】本発明半導体樹脂封止装置の第1の実施の形態
の第4工程を示す説明図。
【図5】本発明半導体樹脂封止装置の第1の実施の形態
の第5工程を示す説明図。
【図6】本発明半導体樹脂封止装置の第2の実施の形態
の第1工程を示す説明図。
【図7】本発明半導体樹脂封止装置の第2の実施の形態
の第2工程を示す説明図。
【図8】本発明半導体樹脂封止装置の第2の実施の形態
の第3工程を示す説明図。
【図9】本発明半導体樹脂封止装置の第2の実施の形態
の第4工程を示す説明図。
【図10】本発明半導体樹脂封止装置の第3の実施の形
態の第1工程を示す説明図。
【図11】本発明半導体樹脂封止装置の第3の実施の形
態の第2工程を示す説明図。
【図12】本発明半導体樹脂封止装置の第3の実施の形
態の第3工程を示す説明図。
【図13】本発明半導体樹脂封止装置の第3の実施の形
態の第4工程を示す説明図。
【図14】本発明半導体樹脂封止装置の第3の実施の形
態の第5工程を示す説明図。
【図15】本発明半導体樹脂封止装置の第4の実施の形
態を示す説明図。
【図16】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第1工程を示す説明図。
【図17】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第2工程を示す説明図。
【図18】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第2工程の変形例を示す説明図。
【図19】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第2工程の他の変形例を示す説明図。
【図20】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第3工程を示す説明図。
【図21】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第4工程を示す説明図。
【図22】本発明半導体樹脂封止装置の第5の実施の形
態の第5工程を示す説明図。
【図23】本発明半導体樹脂封止装置の第6の実施の形
態を示す説明図。
【図24】従来の半導体樹脂封止装置の第1工程を示す
説明図。
【図25】従来の半導体樹脂封止装置の第2工程を示す
説明図。
【図26】従来の半導体樹脂封止装置の第3工程を示す
説明図。
【図27】従来の半導体樹脂封止装置の第4工程を示す
説明図。
【図28】従来の半導体樹脂封止装置の第5工程を示す
説明図。
【図29】一般的な成形品の平面図。
【符号の説明】
10、30、40、50、60、70、80 半導体樹
脂封止装置 11、51、61 第1の金型 12、31、41、71、81 第2の金型 13 半導体チップ 14 配線基板 15 被成形品 16、20、45 昇降機構 17 封止用樹脂 18 成形品 18a 封止樹脂部 19、34,43、77、87 枠状金型 19a、32、72、82 貫通孔 21、33、42、73、83 圧縮金型 35 段部 44 第1の弾性体 52、62 第1の金型本体 52a ホルダ部 53、64 可動金型板 54、65 第2の弾性体 63 ストッパピン 74 切り込み部 75 支持弾性体 76、86 可動ブロック 88 可動ブロック挿入孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F202 AA39 AD19 AH33 CA09 CB01 CB12 CK13 CK18 CK52 CK75 4F204 AA39 AD19 AH33 FA01 FB01 FB12 5F061 AA01 BA04 CA21 DA01 DA15

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の金型と、この第1の金型に対向して
    配置され、貫通孔を有する枠状金型とこの貫通孔に嵌合
    して昇降可能な圧縮金型からなる第2の金型と、前記第
    1または第2の金型を昇降させる昇降機構とから構成さ
    れ、これら第1の金型と第2の金型の間に被成形品を配
    置し、前記第1の金型と枠状金型により被成型品の配線
    基板の周縁部をクランプし、前記昇降機構により前記圧
    縮金型が前記第1の金型側へ相対的に移動することで、
    加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に圧縮成形により樹
    脂封止する半導体樹脂封止装置において、 前記第2の金型には、樹脂封止後に前記圧縮金型を成形
    品から分離するときにこの成形品の封止樹脂周縁部分全
    部もしくは一部を保持する保持部を設けたことを特徴と
    する半導体樹脂封止装置。
  2. 【請求項2】 前記圧縮金型を成形品から分離するとき
    にこの成形品の封止樹脂周縁部分全部もしくは一部を保
    持する保持部としての段部を前記枠状金型または前記圧
    縮金型に設けたことを特徴とする請求項1記載の半導体
    樹脂封止装置。
  3. 【請求項3】 第1の金型と、この第1の金型に対向して
    配置され、貫通孔を有する枠状金型とこの貫通孔に嵌合
    して昇降可能な圧縮金型からなる第2の金型と、前記第
    1または第2の金型を昇降させる昇降機構とから構成さ
    れ、これら第1の金型と第2の金型の間に被成形品を配
    置し、前記第1の金型と枠状金型により被成型品の配線
    基板の周縁部をクランプし、前記昇降機構により前記圧
    縮金型が前記第1の金型側へ相対的に移動することで、
    加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に圧縮成形により樹
    脂封止する半導体樹脂封止装置において、 前記枠状金型の貫通孔に昇降自在に嵌合させて凸字状の
    圧縮金型を備え、この圧縮金型の下腕部と前記枠状金型
    との間に第1の弾性体を設け、前記枠状金型はこの第1
    の弾性体を介して前記圧縮金型の下腕部に支持されて圧
    縮金型に連動して昇降するとともに、前記貫通孔の内側
    面には樹脂封止後に前記圧縮金型を成形品から分離する
    ときにこの成形品の封止樹脂周縁部分全部もしくは一部
    を保持する保持部としての段部を設けたことを特徴とす
    る半導体樹脂封止装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の金型には、樹脂封止時に受け
    る反力より大きい力で圧縮可能な弾性力を有する第2の
    弾性体と、この第2の弾性体を介して第1の金型本体に
    昇降可能に保持された可動金属板を備えたことを特徴と
    する請求項1または請求項3記載の半導体樹脂封止装
    置。
  5. 【請求項5】 第1の金型と、この第1の金型に対向して
    配置され、貫通孔を有する枠状金型とこの貫通孔に嵌合
    して昇降可能な圧縮金型からなる第2の金型と、前記第
    1または第2の金型を昇降させる昇降機構とから構成さ
    れ、これら第1の金型と第2の金型の間に被成形品を配
    置し、前記第1の金型と枠状金型により被成型品の配線
    基板の周縁部をクランプし、前記昇降機構により前記圧
    縮金型が前記第1の金型側へ相対的に移動することで、
    加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に圧縮成形により樹
    脂封止する半導体樹脂封止装置において、 圧縮金型の外側面または枠状金型の内側面に切り込み部
    を設け、この切り込み部に昇降自在に嵌合して昇降する
    可動ブロックを備え、この可動ブロックが樹脂封止後に
    前記圧縮金型を成形品から分離するときにこの成形品の
    封止樹脂周縁部分全部もしくは一部を保持する保持部で
    あることを特徴とする半導体樹脂封止装置。
  6. 【請求項6】 第1の金型と、この第1の金型に対向して
    配置され、貫通孔を有する枠状金型とこの貫通孔に嵌合
    して昇降可能な圧縮金型からなる第2の金型と、前記第
    1または第2の金型を昇降させる昇降機構とから構成さ
    れ、これら第1の金型と第2の金型の間に被成形品を配
    置し、前記第1の金型と枠状金型により被成型品の配線
    基板の周縁部をクランプし、前記昇降機構により前記圧
    縮金型が前記第1の金型側へ相対的に移動することで、
    加熱溶融した封止用樹脂を被成形品に圧縮成形により樹
    脂封止する半導体樹脂封止装置において、 圧縮金型または枠状金型内に可動ブロック挿入孔を設
    け、この可動ブロック挿入孔に昇降自在に嵌合して昇降
    する可動ブロックを備え、この可動ブロックが、樹脂封
    止後に前記圧縮金型を成形品から分離するときにこの成
    形品の封止樹脂部周縁部分の一部を保持する保持部であ
    ることを特徴とする半導体樹脂封止装置。
  7. 【請求項7】 前記可動ブロックは前記圧縮金型または
    前記枠状金型に設けられた切り込み部または可動ブロッ
    ク挿入孔に樹脂封止圧力で圧縮可能な支持弾性体を介し
    て圧縮金型または枠状金型に支持され、この圧縮金型ま
    たは枠状金型に連動して昇降することを特徴とする請求
    項5ないし6記載の半導体樹脂封止装置。
JP2001331867A 2001-10-30 2001-10-30 半導体樹脂封止装置 Expired - Lifetime JP3896274B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001331867A JP3896274B2 (ja) 2001-10-30 2001-10-30 半導体樹脂封止装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001331867A JP3896274B2 (ja) 2001-10-30 2001-10-30 半導体樹脂封止装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003133352A true JP2003133352A (ja) 2003-05-09
JP3896274B2 JP3896274B2 (ja) 2007-03-22

Family

ID=19147367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001331867A Expired - Lifetime JP3896274B2 (ja) 2001-10-30 2001-10-30 半導体樹脂封止装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3896274B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005150350A (ja) * 2003-11-14 2005-06-09 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2005305951A (ja) * 2004-04-26 2005-11-04 Sainekkusu:Kk 被成形品の樹脂封止方法
JP2008137334A (ja) * 2006-12-05 2008-06-19 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止装置
JP2010069656A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Towa Corp 半導体チップの圧縮成形方法及び金型
KR101087031B1 (ko) 2010-10-19 2011-11-28 신한다이아몬드공업 주식회사 봉지재 성형장치 및 방법
JP2012064879A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Daiichi Seiko Co Ltd 樹脂封止装置および樹脂封止方法
CN102529002A (zh) * 2010-09-16 2012-07-04 东和株式会社 压缩成形模具及压缩成形方法
JP2012146790A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Apic Yamada Corp 圧縮成形方法及び圧縮成形装置並びに樹脂供給ハンドラ
CN103069556A (zh) * 2010-12-27 2013-04-24 日产自动车株式会社 半导体模块、模制装置及模制成形方法
JP2015112827A (ja) * 2013-12-13 2015-06-22 有限会社郷製作所 プレス成型金型及びこれを用いたプレス成型方法
US9337153B2 (en) 2011-12-16 2016-05-10 Sandisk Information Technology (Shanghai) Co., Ltd. EMI shielding and thermal dissipation for semiconductor device
JP2016196146A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 アピックヤマダ株式会社 樹脂成形金型
JP2018152409A (ja) * 2017-03-10 2018-09-27 Towa株式会社 樹脂成形装置、樹脂成形方法、及び樹脂成形品の製造方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005150350A (ja) * 2003-11-14 2005-06-09 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2005305951A (ja) * 2004-04-26 2005-11-04 Sainekkusu:Kk 被成形品の樹脂封止方法
JP2008137334A (ja) * 2006-12-05 2008-06-19 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止装置
JP2010069656A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Towa Corp 半導体チップの圧縮成形方法及び金型
CN102529002A (zh) * 2010-09-16 2012-07-04 东和株式会社 压缩成形模具及压缩成形方法
JP2012064879A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Daiichi Seiko Co Ltd 樹脂封止装置および樹脂封止方法
KR101087031B1 (ko) 2010-10-19 2011-11-28 신한다이아몬드공업 주식회사 봉지재 성형장치 및 방법
WO2012053757A3 (ko) * 2010-10-19 2012-06-14 신한다이아몬드공업(주) 봉지재 성형장치 및 방법
WO2012053757A2 (ko) * 2010-10-19 2012-04-26 신한다이아몬드공업(주) 봉지재 성형장치 및 방법
TWI466340B (zh) * 2010-10-19 2014-12-21 Shinhan Diamond Ind Co Ltd 封膠材料形成裝置及其方法
CN103069556A (zh) * 2010-12-27 2013-04-24 日产自动车株式会社 半导体模块、模制装置及模制成形方法
JP2012146790A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Apic Yamada Corp 圧縮成形方法及び圧縮成形装置並びに樹脂供給ハンドラ
US9337153B2 (en) 2011-12-16 2016-05-10 Sandisk Information Technology (Shanghai) Co., Ltd. EMI shielding and thermal dissipation for semiconductor device
JP2015112827A (ja) * 2013-12-13 2015-06-22 有限会社郷製作所 プレス成型金型及びこれを用いたプレス成型方法
JP2016196146A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 アピックヤマダ株式会社 樹脂成形金型
JP2018152409A (ja) * 2017-03-10 2018-09-27 Towa株式会社 樹脂成形装置、樹脂成形方法、及び樹脂成形品の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3896274B2 (ja) 2007-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003133352A (ja) 半導体樹脂封止装置
JP5774545B2 (ja) 樹脂封止成形装置
US6444500B1 (en) Split-mold and method for manufacturing semiconductor device by using the same
KR101610981B1 (ko) 압축성형몰드 및 압축성형방법
JP4336499B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置
CN113597365B (zh) 树脂成形品的制造方法
JP2009181970A (ja) 半導体チップの圧縮成形方法及び金型
JP2013123849A (ja) 樹脂封止装置および樹脂封止方法
JP4553944B2 (ja) 樹脂モールド方法および樹脂モールド装置
JP4215593B2 (ja) 樹脂モールド装置
JP5364944B2 (ja) モールド金型
EP3540765A1 (en) Resin-sealing device and resin-sealing method
JP2004200269A (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置
CN108400217A (zh) 一种高效率led芯片倒装封装方法
JP2016152305A (ja) モールド金型、樹脂モールド装置及び樹脂モールド方法
KR20100001690A (ko) 반도체 패키지 제조용 금형 장치
JP2019181872A (ja) モールド金型、樹脂モールド装置及び樹脂モールド方法
JP3612063B2 (ja) 樹脂封止金型、それを用いた樹脂封止方法および樹脂封止装置
CN110271169B (zh) 树脂成形装置以及树脂成形品的制造方法
JP3999909B2 (ja) 樹脂封止装置及び封止方法
JP6404734B2 (ja) 樹脂成形方法、樹脂成形金型、および成形品の製造方法
JP2021531643A (ja) 電子部品封止用の金型、その金型用インサート、インサートの製造方法および電子部品の封止方法
TWI785738B (zh) 樹脂成形裝置及樹脂成形品的製造方法
JP5723800B2 (ja) 半導体チップの圧縮樹脂封止成形方法及び装置
KR20110123035A (ko) 반도체 패키지 제조용 몰딩장치 및 몰딩방법

Legal Events

Date Code Title Description
A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20040513

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060605

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060627

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20060810

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060825

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061107

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20061212

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20061218

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3896274

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091222

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101222

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101222

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111222

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111222

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121222

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121222

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131222

Year of fee payment: 7

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term