JP2003126982A - レーザ加工方法及び装置 - Google Patents

レーザ加工方法及び装置

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JP2003126982A
JP2003126982A JP2001326028A JP2001326028A JP2003126982A JP 2003126982 A JP2003126982 A JP 2003126982A JP 2001326028 A JP2001326028 A JP 2001326028A JP 2001326028 A JP2001326028 A JP 2001326028A JP 2003126982 A JP2003126982 A JP 2003126982A
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JP
Japan
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laser
beam splitter
processing
polarization beam
polarization
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JP2001326028A
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Kazumasa Shudo
和正 首藤
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Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 非加工側の加工ヘッドに漏れるレーザ光を減
少させて加工品質を向上するレーザ加工方法及び装置を
提供する。 【解決手段】 1台のレーザ発振器10から出力され、
EOM12により偏光方向毎に時分割されたレーザ光
を、ポラライザ14で偏光方向に応じて分岐して、複数
の加工ヘッド18、20に供給する際に、前記分岐され
たレーザ光を、更に他のポラライザ30、32で分岐し
て、非加工側の加工ヘッドに漏れるレーザ光を減少させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ加工方法及
び装置に係り、特に、プリント基板を加工するレーザ孔
開け機に用いるのに好適な、1台のレーザ発振器から出
力され、偏光方向毎に時分割されたレーザ光を、偏光ビ
ームスプリッタで偏光方向に応じて分岐して、複数の加
工ヘッドに供給するようにしたレーザ加工方法及び装置
の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】最近のプリント配線基板の小型化や高機
能化に伴って小型化した、直径0.1mm以下のスルー
ホールやビアホールを精度良く形成するために、パルス
発振型のレーザビームを用いて、小径の孔を形成するレ
ーザ孔開け機が実用化されている。
【0003】このレーザ孔開け機においては、一般に、
作業能率を高めるため、複数の加工ヘッドで同時にプリ
ント配線基板に孔を開けることが行われており、その
際、レーザ発振器を共通化して、装置の小型化及びコス
トダウンを図るようにされている。
【0004】更に、エネルギ分割による分割後のエネル
ギ減少(二分割の場合は半減)を防ぐと共に、分割後の
エネルギの制御を正確に行うため、図1に示す如く、レ
ーザ発振器10から直線偏光(例えばP波)で得られる
レーザ光を、例えば電気光学素子(EOM)によりスイ
ッチングして、直線偏光の向きを時間毎に変えてP波と
S波が交互に出るようにし、前記EOM12の出側に設
置した偏光ビームスプリッタ(ポラライザと称する)1
4により、P波とS波に二分岐することが考えられてい
る。
【0005】前記ポラライザ14により分岐されたレー
ザ光15、17は、直接又はミラー16で方向を変え
て、それぞれ、第1軸(Z1軸と称する)加工用のガル
バノスキャナ(以下Z1ガルバノと称する)18を含む
第1の加工ヘッドと、第2軸(Z2軸と称する)加工用
のガルバノスキャナ(以下Z2ガルバノと称する)20
を含む第2の加工ヘッドに供給され、該ガルバノ18、
20にそれぞれ含まれる例えば2枚のガルバノミラー2
6、28(図2参照)により、加工対象物(ワークと称
する)8上の加工位置に対応して、例えば紙面に垂直な
X軸方向及び紙面と平行なY軸方向に走査され、fθレ
ンズ22、24を介して、ワーク8の表面に当てられ
て、該ワーク8を加工する。
【0006】前記ガルバノ18、20には、それぞれ、
図2に詳細に示す如く、ポラライザ14により分岐され
たレーザ光15、17を紙面に垂直なX軸方向に走査す
るための第1ガルバノミラー26と、該第1ガルバノミ
ラー26によりX軸方向に走査されたビームを、X軸方
向と直交する、紙面に平行なY軸方向に走査して、fθ
レンズ22、24に入射するための第2ガルバノミラー
28が備えられている。図において、27、29は、そ
れぞれガルバノミラー26、28を回転するためのモー
タである。
【0007】このような時分割による加工に際しては、
図3に示す如く、レーザ発振器10で発振されたレーザ
光が、EOM12によりS波とP波に時分割され、例え
ばS波はZ1ガルバノ18に供給されて、その下にある
ワーク8を加工し、P波はZ2ガルバノ20に供給され
て、その下にあるワーク8を加工する。
【0008】ここで、Z1軸加工中にZ2ガルバノ20
を移動し、逆に、Z2軸加工中にZ1ガルバノ18を移
動することによって、高効率な加工が可能となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来は、
ポラライザ14の性能や、EOM12とポラライザ14
間の光学系の影響により、加工軸側と非加工軸側に完全
にレーザ光を分岐することができず、図4(A)(P波
入射によるZ2軸加工状態)及び図4(B)(S波入射
によるZ1軸加工状態)に示す如く、非加工軸側に5〜
10%程度の漏れ光が存在するため、非加工軸側のガル
バノ移動中に漏れ光が非加工側のワーク8に到達してし
まい、加工孔と加工孔の間に、漏れ光による打痕(例え
ば変色)が残り、加工品質を悪化させることがあるとい
う問題点を有していた。
【0010】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くなされたもので、非加工側の加工ヘッドに漏れるレー
ザ光を減少させて、加工品質を向上することを課題とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、1台のレーザ
発振器から出力され、偏光方向毎に時分割されたレーザ
光を、偏光ビームスプリッタで偏光方向に応じて分岐し
て、複数の加工ヘッドに供給するようにしたレーザ加工
方法において、前記分岐されたレーザ光を、更に他の偏
光ビームスプリッタで分岐し、非加工側の加工ヘッドに
漏れるレーザ光を減少させるようにして、前記課題を解
決したものである。
【0012】本発明は、又、レーザ加工装置において、
1台のレーザ発振器から出力され、偏光方向毎に時分割
されたレーザ光を、偏光方向に応じて分岐するための第
1の偏光ビームスプリッタと、該第1の偏光ビームスプ
リッタにより分岐されたレーザ光を更に分割するため
の、複数の第2の偏光ビームスプリッタとを備え、該第
2の偏光ビームスプリッタにより分岐されたレーザ光の
一方を加工ヘッドに供給し、他方を吸収させるようにし
て、前記課題を解決したものである。
【0013】又、前記第2の偏光ビームスプリッタをキ
ューブタイプとして、光軸合わせを容易にしたものであ
る。
【0014】或いは、前記第2の偏光ビームスプリッタ
をシンタイプとして、小型、軽量化を可能としたもので
ある。
【0015】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施形態を詳細に説明する。
【0016】本発明の第1実施形態は、図1に示した比
較例と同様のレーザ加工装置において、図5に示す如
く、EOM12により偏光方向毎に時分割されたレーザ
光を、偏光方向に応じて分岐するための、従来と同様の
キューブタイプの第1のポラライザ14の出側に、更
に、該第1のポラライザ14により分岐されたレーザ光
を更に分岐するための、キューブタイプの二つの第2の
ポラライザ30、32と、該第2のポラライザ30、3
2により分岐されたレーザ光の一方を吸収するためのダ
ンパ34、36とを設けたものである。
【0017】前記レーザ発振器10としては、例えばQ
スイッチ発振によりパルス幅500ns以下、周波数2
kHz以上のパルスを発振する、基本波長1053mm
の高調波固体レーザの第2高調波以上(波長527mm
以下)を用いることができる。
【0018】他の点については、比較例と同様であるの
で、説明は省略する。
【0019】本実施形態において、例えばポラライザ1
4、30、32の漏れ光の割合がいずれも5%であると
すると、EOM12から第1のポラライザ14にP波が
入射する場合には、図6(A)に示す如く、その下方の
非加工軸(Z1軸)側に第2のポラライザ30で分岐さ
れる漏れ光の強度は、EOM12からの入射光の0.0
5の二乗で約0.3%となる。なお、第2のポラライザ
30によって非加工軸と異なる方向に分岐された、約
4.8%(=0.95×0.05)の漏れ光は、ダンパ
34で吸収される。又、加工軸(Z2軸)側に設けたポ
ラライザ32における約4.8%(=0.95×0.0
5)の漏れ光もダンパ36で吸収される。なお、加工軸
であるZ2軸側にポラライザ32から出射されるP波
は、0.95の二乗で約90%になるが、十分許容でき
る範囲である。
【0020】同様に、ポラライザ14にS波を入射して
Z1軸を加工している状態を図6(B)に示す。
【0021】本実施形態においては、ポラライザ30、
32として、第1のポラライザ14と同様のキューブタ
イプのポラライザを使用しているので、光軸合わせが容
易である。
【0022】なお第2のポラライザ30、32の種類
は、これに限定されず、図7に示す第2実施形態のよう
に、薄型のシン(thin)タイプポラライザ40、42を
用いることも可能である。このシンタイプのポラライザ
40、42を用いた場合には、光軸合わせが面倒である
が、小型、軽量化が可能である。
【0023】又、前記実施形態においては、いずれも、
ダンパ34、36により不要な漏れ光を吸収していた
が、ダンパの代わりにパワーメータやフォトダイオード
で分岐状態をモニタしたり、或いは、ボディーに直接当
てて吸収することも可能である。更に、レーザ光を偏光
方向に応じて時分割する手段もEOMに限定されない。
【0024】なお前記実施形態においては、本発明がレ
ーザ孔開け機に適用されていたが、本発明の適用対象は
これに限定されず、レーザ加工機一般に同様に適用でき
ることは明らかである。
【0025】
【発明の効果】本発明によれば、非加工側の加工ヘッド
に漏れるレーザ光を減少して、漏れ光による打痕を軽減
することができ、加工品質を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】時分割によるレーザ加工装置の比較例の構成を
示す光路図
【図2】前記比較例で用いられるガルバノスキャナの具
体的構成例を示す正面図
【図3】前記比較例における各部信号波形の例を示すタ
イムチャート
【図4】前記比較例の問題点を説明するための光路図
【図5】本発明に係るレーザ加工装置の第一実施形態の
全体構成を示す光路図
【図6】第一実施形態の作用を説明するための光路図
【図7】本発明に係るレーザ加工装置の第二実施形態の
要部構成を示す光路図
【符号の説明】 8…加工対象物(ワーク) 10…レーザ発振器 11、15、17…レーザ光 12…電気光学素子( EOM) 14、30、32、40、42…偏光ビームスプリッタ
(ポラライザ) 18…Z1軸加工用ガルバノスキャナ(加工ヘッド) 20…Z2軸加工用ガルバノスキャナ(加工ヘッド) 34、36…ダンパ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】1台のレーザ発振器から出力され、偏光方
    向に時分割されたレーザ光を、偏光ビームスプリッタで
    偏光方向に応じて分岐して、複数の加工ヘッドに供給す
    るようにしたレーザ加工方法において、 前記分岐されたレーザ光を、更に他の偏光ビームスプリ
    ッタで分岐して、非加工側の加工ヘッドに漏れるレーザ
    光を減少させることを特徴とするレーザ加工方法。
  2. 【請求項2】1台のレーザ発振器から出力され、偏光方
    向毎に時分割されたレーザ光を、偏光方向に応じて分岐
    するための第1の偏光ビームスプリッタと、 該第1の偏光ビームスプリッタにより分岐されたレーザ
    光を更に分岐するための、複数の第2の偏光ビームスプ
    リッタとを備え、 該第2の偏光ビームスプリッタにより分岐されたレーザ
    光の一方を加工ヘッドに供給し、他方を吸収させること
    を特徴とするレーザ加工装置。
  3. 【請求項3】前記第2の偏光ビームスプリッタがキュー
    ブタイプであることを特徴とする請求項2に記載のレー
    ザ加工装置。
  4. 【請求項4】前記第2の偏光ビームスプリッタがシンタ
    イプであることを特徴とする請求項2に記載のレーザ加
    工装置。
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