JP2003121603A - 反射防止フィルム - Google Patents
反射防止フィルムInfo
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Abstract
供する。 【解決手段】 透明基材10上に第1,2,…,n−
1,n層21,22,…,23,24がこの順に形成さ
れている反射防止フィルム30において、第n層と第n
−1層との界面の光学アドミッタンスをx+iyとした
場合、x、yは次の関係を有する。0.9×{(n2−
n0 2)/2n0}2<{x−(n2+n0 2)/2n
0}2+y2<1.1×{(n2−n0 2)/2n0}
2ただし、n 0は外側領域(空気、接着剤など)の屈折
率、nは最外層(第n層24)の屈折率である。
Description
DP画面等のディスプレイ分野に用いられる反射防止フ
ィルムに関するものである。
ートの上に低屈折率層と高屈折率層とを交互に複数層積
層したものである。この反射防止フィルムは、粘着剤に
よってCRT(陰極線管)やPDP(プラズマディスプ
レイパネル)に、透明な接着剤(粘着材をも包含す
る。)によって貼着されることが多い。この場合、該合
成樹脂シートが外面(CRTやPDPから遠い側。すな
わち、大気露出面側)となるように反射防止フィルムが
貼着される。
射率や透過率についての簡便な計算方法は、ベクトル
法、Smith図表、Kard図表として知られている
ところである。
する方法は、各層について、複素屈折率と光学膜厚より
定まる特性マトリックスM1、M2、M3、…、Mkを
求め、この積M1・M2・M3・…・Mkより多層膜の
特性マトリックスMを求めるものである。反射防止フィ
ルムの設計にあたっては、所定の波長範囲において目標
とする反射率が得られるように各層の屈折率、膜厚を設
定する。
特性マトリックスの演算はきわめて煩雑であると共に、
場合によっては最適値が算出されないこともある。
光学特性を有する反射防止フィルムを提供し得るように
することを目的とする。
ムは、透明基材上に複数の薄層を形成してなり、該透明
基材から最も離隔した最外層の可視域の吸収が無視でき
る反射防止フィルムにおいて、該最外層よりも1層だけ
透明基材側の層の光学アドミッタンスを(x+iy)と
した場合に、x、yが次の不等式を満たすものであるこ
とを特徴とするものである。 0.9×{(n2−n0 2)/2n0}2 <{x−(n2+n0 2)/2n0}2+y2< 1.1×{(n2−n0 2)/2n0}2 ただし、 n0:最外層の外側の領域の屈折率 n :最外層の屈折率
層と該最外層よりも1層だけ透明基材側の層との界面の
光学アドミッタンスが所定の範囲に納まっているため、
透明な最外層の屈折率と厚さを選択することにより、目
標の反射防止特性を有した反射防止フィルムとすること
ができる。
数kが可視域で実質的に0であることが望ましい。
さが30〜300μm程度のポリエステルフィルムであ
ることが望ましい。
層は、消衰係数kがk>0.001とりわけ0.01<
k<10であることが望ましい。
金属酸化物又は金属窒化物微粒子を含む複合材料、例え
ば、金属、金属酸化物又は金属窒化物微粒子と透明合成
樹脂との複合層や、金属、金属酸化物又は金属窒化物薄
膜が好適である。この薄膜としては、PVD(物理的気
相成長法)とくに真空蒸着又はスパッタリングにより成
膜された薄膜が好適である。このPVDによる隣接層の
厚さは30nm以下特に1〜10nm程度が好適であ
る。
Ti,Zn,Cu,Al,Cr,Co,Ni,C,S
i,B,Ge,Zr,Nb,Mo,Pd,Cd,In,
Snが好適であり、酸化物、窒化物としてはAg,T
i,Zn,Cu,Al,Cr,Co,Ni,C,Si,
B,Ge,Zr,Nb,Mo,Pd,Cd,In,Sn
の酸化物、窒化物が好適である。
機能(比抵抗5×1012Ω/□以下)を有しているこ
とが望ましい。特に、最小反射率が0.5%以下、視感
度反射率は1%以下、比抵抗が107Ω/□以下、透過
率が60%以上であることが望ましい。最外層よりも1
層だけ透明基材側の層に金属、導電性の金属酸化物又は
金属窒化物微粒子を用いることにより、反射防止フィル
ムの比抵抗を下げて帯電防止機能を向上させることがで
きる。
がら実施の形態について詳細に説明する。
Eと磁場成分Hとの比(Y=H/E)で定義されるもの
であり、光波が屈折率nsの単一層内を進行する進行波
である場合、該層の屈折率nsと該層の光学アドミッタ
ンスYとの間には、以下の関係がある。
る。なお、慣習的に真空中の光速及び透磁率を1とする
単位系を用いるため、以下の通り光学アドミッタンスY
は媒質の屈折率nsと一致する。 Y=ns (2)
が進行する場合について説明したが、基板上に屈折率の
異なる複数層の薄膜を積層させたフィルムの膜厚方向に
光波が進行する場合は、進行波の一部が各層同士の界面
で反射した後に進行波と逆方向に戻ってくるため(以
下、進行方向と逆方向に戻る波を後退波と称す場合があ
る。)、各層内の光波は、進行波と、複数の界面におけ
る反射によって戻ってきた後退波との合成波となる。従
って各層内の光波(合成波)の電場成分E及び磁場成分
Hは進行波単独のものとは異なるものとなる。その結
果、電場と磁場の比である光学アドミッタンスYも変化
し、各層内における屈折率と光学アドミッタンスYとは
一致しなくなる。
す。反射防止フィルム30は、透明基材10と、該透明
基材10上に積層された薄膜層20とからなる。該薄膜
層20は、透明基材10に接する第1層21と、その上
の第2層22と、…、その上の第n−1層23と、最も
外側の第n層24のn層から構成されており、これらの
層はこの順番に透明基材10上に積層されている。
側から光を入射した場合、透明基材10と第1層21と
の界面における光の電場成分及び磁場成分をそれぞれE
s、Hsとし、該界面から第1層内に距離d1離れた位
置での光の電場成分及び磁場成分をそれぞれEd、Hd
とすると、これらの間には、以下の関係がある。
Ydは、式(3)より以下のように表わされる。
(Ys=Hs/Es)。
1層内の光学アドミッタンスYdは、該界面からの距離
d1によって変化する。光学アドミッタンスが連続であ
ることに注意して同様の操作を次々と行うことにより、
第n層(nは自然数)の任意の点での光学アドミッタン
スを算出することが可能である。
面の光学アドミッタンスY及び最外層終点(最外層と該
最外層の外側の領域との界面)の光学アドミッタンスY
eをそれぞれ Y=x+iy (6) Ye=xe+iye (7) とする。ここで、最外層は透明とみなせる場合、すなわ
ち最外層の屈折率が実数nのみで表わせる場合、最外層
と該最外層より1層手前の層との界面の光学アドミッタ
ンスYは以下の通り表わされる。
0(外側領域の屈折率n0と一致する。)及び最外層終
点(最外層と該最外層の外側の領域との界面)の光学ア
ドミッタンスYeを用いて、反射率Rは以下のように表
わすことができる。
δを消去して整理すると、以下の関係式が成り立つ。
アドミッタンスY=x+iyが実部をx軸、虚部yをy
軸とする複素平面上を描く軌跡を示す。図2に示す通
り、式(12)の軌跡は、((n0 2+n2)/2
n0,0)を中心とする半径(n2−n0 2)/2n0
の円軌道であり、最外層の膜厚の増加に伴い時計回りに
動く。この式の意味するところは、最外層と該最外層よ
り1層手前の層との界面の光学アドミッタンスYが、複
素平面上の式(12)の円上の点になれば、最外層の膜
厚dを適当に選ぶことにより、波長λ0における反射率
を0にすることができるということである。
は、最外層終点の光学アドミッタンスYeを最適化する
ように設計していたため、未定パラメータが多くなり、
計算が極めて煩雑であった。本発明によれば、最外層よ
り1層だけ基板側の層(以下アドミッタンス調整層と称
す場合がある。)の屈折率及び膜厚を調整して式(1
2)の円上に持ってくることにより、反射防止特性に優
れた反射防止フィルムを容易に設計することが可能とな
る。
との界面の光学アドミッタンスYが円周上の点と一致し
ない場合であっても、該光学アドミッタンスYが以下の
不等式の範囲内に存在すれば、反射率がほぼ0である低
反射な反射防止フィルムを得ることができる。 0.9×{(n2−n0 2)/2n0}2 <{x−(n2+n0 2)/2n0}2+y2< 1.1×{(n2−n0 2)/2n0}2 (13)
を図3に示す。図3に示す通り、最外層と該最外層より
1層手前の層との界面の光学アドミッタンスYを図中の
ドーナツ状の広い領域内に入る範囲となるように設計す
れば良いため、最外層終点の光学アドミッタンスYeを
最適化する従来の方法と比べて、容易にフィルムの設計
を行うことが可能である。
mのPETフィルムを採用した。この透明基材の上に、
日本合成ゴム株式会社製ハードコート材Z7501を塗
布して乾燥膜厚5μmの第1層を形成した。この第1層
の消衰係数は0であり、屈折率は約1.5である。
し、3.6nm厚のAgよりなる第2層を形成した。こ
の第2層(Ag層)と最外層との界面の光学アドミッタ
ンスYは、 Y=x+iy=1.49−0.62i であった。
リカとの混合物をグラビア塗工し、乾燥、紫外線硬化す
ることにより、厚さ50nmの透明膜を第3層(最外
層)として形成した。
あり、屈折率n0は1.0であるので、 A={(n2−n0 2)/2n0}2 ={(1.512−1.02)/(2×1.0)}2 =0.410 である。これに0.9及び1.1を乗じた値は0.36
9,0.451である。
手前の層(Ag層)との界面の光学アドミッタンスY
は、 Y=x+iy =1.49−0.62i より、 B={x−(n2+n0 2)/2n0}2+y2 ={1.49−(1.512+1.02)/2×1.
0}2+0.62 2 =0.407 である。これは、上記0.9及び1.1を乗じた値の間
の値である。
光の反射率は0.0%であった。なお、この結果を表1
にまとめて示す。
厚さ5.9nmの金スパッタ膜とし、第3層(最外層)
の膜厚を54nmとしたこと以外は同様にして反射防止
フィルムを製造した。最外層と該最外層より1層手前の
層(Au層)との界面の光学アドミッタンスYは、 Y=x+iy=1.57−0.64i であった。
光の反射率は表1にも示す通り0.0%であった。な
お、表1には実施例1と同様の計算値を併せて示す。
厚さ16.5nmの銀スパッタ膜とし、第3層(最外
層)の膜厚を61nmとしたこと以外は同様にして反射
防止フィルムを製造した。最外層と該最外層より1層手
前の層(Ag層)との界面の光学アドミッタンスYは、 Y=x+iy=0.98−2.37i であった。
光の反射率は表1にも示す通り22.5%であった。な
お、表1には実施例1と同様の計算値を併せて示す。
り、本発明によると反射率のきわめて低い反射防止フィ
ルムが提供される。
ける、該反射防止フィルムの最外層と該最外層より1層
手前の層との界面の光学アドミッタンスY(Y=x+i
y)が複素平面上を描く軌跡を示す図である。
外層より1層手前の層との界面の光学アドミッタンスY
(Y=x+iy)が複素平面上を描く領域を示す図であ
る。
Claims (8)
- 【請求項1】 透明基材上に複数の薄層を形成してな
り、該透明基材から最も離隔した最外層は透明である反
射防止フィルムにおいて、 該最外層と該最外層よりも1層だけ透明基材側の層との
界面の光学アドミッタンスを(x+iy)とした場合
に、x、yが次の不等式を満たすものであることを特徴
とする反射防止フィルム。 0.9×{(n2−n0 2)/2n0}2 <{x−(n2+n0 2)/2n0}2+y2< 1.1×{(n2−n0 2)/2n0}2 ただし、 n0:最外層の外側の領域の屈折率 n :最外層の屈折率 - 【請求項2】 請求項1において、前記最外層の消衰係
数が0であることを特徴とする反射防止フィルム。 - 【請求項3】 請求項1又は2において、前記最外層よ
りも1層だけ透明基材側の層の波長550nmにおける
消衰係数kがk>0.001であることを特徴とする反
射防止フィルム。 - 【請求項4】 請求項1又は2において、前記最外層よ
りも1層だけ透明基材側の層の波長550nmにおける
消衰係数kが0.01<k<10であることを特徴とす
る反射防止フィルム。 - 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれか1項におい
て、前記透明基材が合成樹脂シートであることを特徴と
する反射防止フィルム。 - 【請求項6】 請求項1ないし5のいずれか1項におい
て、前記最外層よりも1層だけ透明基材側の層が金属、
金属酸化物又は金属窒化物微粒子を含む複合材料よりな
ることを特徴とする反射防止フィルム。 - 【請求項7】 請求項1ないし5のいずれか1項におい
て、前記最外層よりも1層だけ透明基材側の層が金属、
金属酸化物又は金属窒化物薄膜よりなることを特徴とす
る反射防止フィルム。 - 【請求項8】 請求項7において、前記最外層よりも1
層だけ透明基材側の層の厚さが30nm以下であること
を特徴とする反射防止フィルム。
Priority Applications (3)
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003121603A true JP2003121603A (ja) | 2003-04-23 |
Family
ID=19133749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001315612A Pending JP2003121603A (ja) | 2001-10-12 | 2001-10-12 | 反射防止フィルム |
Country Status (2)
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008216644A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Asahi Glass Co Ltd | 複屈折板および光ヘッド装置 |
JPWO2014148512A1 (ja) * | 2013-03-19 | 2017-02-16 | コニカミノルタ株式会社 | 透明導電体、及び、電子デバイス |
JP2019070687A (ja) * | 2017-10-06 | 2019-05-09 | キヤノン株式会社 | 光学素子、光学素子の製造方法、光学系、および、光学機器 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008201633A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Asahi Glass Co Ltd | 反射防止膜付きガラス板および窓用合わせガラス |
JP6808355B2 (ja) * | 2015-08-19 | 2021-01-06 | キヤノン株式会社 | 光学フィルタおよびそれを有する光学系、撮像装置 |
-
2001
- 2001-10-12 JP JP2001315612A patent/JP2003121603A/ja active Pending
-
2002
- 2002-10-10 US US10/267,747 patent/US20030104187A1/en not_active Abandoned
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008216644A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Asahi Glass Co Ltd | 複屈折板および光ヘッド装置 |
JPWO2014148512A1 (ja) * | 2013-03-19 | 2017-02-16 | コニカミノルタ株式会社 | 透明導電体、及び、電子デバイス |
US9899624B2 (en) | 2013-03-19 | 2018-02-20 | Konica Minolta, Inc. | Transparent conductor and electronic device |
JP2019070687A (ja) * | 2017-10-06 | 2019-05-09 | キヤノン株式会社 | 光学素子、光学素子の製造方法、光学系、および、光学機器 |
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