JP2003121125A - 3次元測定装置における露光制御装置 - Google Patents
3次元測定装置における露光制御装置Info
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Abstract
ることができるようにする。 【解決手段】対象物に光を照射する光照射手段と、上記
光照射手段により光が照射された上記対象物からの反射
光を露光時間だけ受光し、該受光した反射光に応じた受
光波形信号を出力する受光手段と、上記受光手段から出
力された受光波形信号を上記受光手段が上記対象物から
の反射光を受光した位置毎の明るさからなる受光波形デ
ータに変換する変換手段と、上記受光手段が上記対象物
からの反射光を受光した位置毎の明るさからなる所定の
受光波形データを記憶する記憶手段と、上記記憶手段に
記憶された所定の受光波形データの位置毎の明るさの総
和と、上記受光手段が今回の露光時間で上記対象物から
の反射光を受光して出力した上記受光波形信号が、上記
変換手段によって変換された受光波形データの位置毎の
明るさの総和との比率から次回の露光時間を算出する算
出手段とを有する。
Description
おける露光制御装置に関し、さらに詳細には、レーザー
・ビームなどの光を対象物に照射して、当該対象物から
の反射光に基づいて当該対象物との距離を測定する三角
測量法を用いた距離測定により、対象物の変位を測定す
る3次元測定装置における露光制御装置に関する。 【0002】なお、本明細書において「対象物」とは、
3次元の空間的広がりをもつ物体であり、当該物体は所
定の材料より構成されて所定の形状を有し、また、当該
物体の表面には所定の単数または複数の色(色彩)が施
されているものとする。 【0003】 【従来の技術】従来より、測定の対象物としての物体の
移動量や物体の寸法あるいは物体の形状など、即ち、対
象物の変位を測定するための3次元測定装置として、例
えば、三角測量法を応用した光学式の3次元測定装置が
知られている。 【0004】こうした3次元測定装置においては、対象
物にレーザー・ビームを照射するレーザー・ダイオード
と、レーザー・ダイオードからレーザー・ビームを照射
された対象物からの反射光の画像を結像させるイメージ
・センサとが設けられたヘッドを備えている。 【0005】そして、ヘッドをZ軸方向(高さ方向)に
おいて上下に移動させることと3次元形状の対象物をZ
軸方向周りに回転させることとを適宜に繰り返しなが
ら、受光した対象物からの反射光に応じてイメージ・セ
ンサから出力される受光波形に基づいて、対象物とヘッ
ドとの距離が測定される。さらに、測定された対象物と
ヘッドとの距離から、所定の処理により対象物全体の距
離画像を得ることができる。 【0006】上記した3次元測定装置においては、対象
物の材質や、色、あるいは、角度(即ち、形状)の変化
(以下、「対象物の材質の変化、対象物の色の変化、対
象物の角度(即ち、形状)の変化」を単に「対象物の変
化」と適宜に称することとする。)により、イメージ・
センサから出力される受光波形にノイズが含まれてしま
うので、イメージ・センサからの受光波形に基づいた測
定結果が安定せず、不正確なものとなってしまう恐れが
ある。 【0007】このため、対象物の変化に応じて、イメー
ジ・センサが対象物からの反射光をを受光する時間(以
下、「イメージ・センサが対象物からの反射光を受光す
る時間」を「露光時間」と適宜に称することとする。)
の変更を繰り返しながら測定を行うようにして、測定結
果を安定させ正確なものとしている。 【0008】しかしながら、従来の3次元測定装置にお
いては、対象物の変化に対して露光時間の変更の追従が
遅く、測定に長時間を費やしてしまうので、リアルタイ
ムでの測定ができないという問題点があった。 【0009】 【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記したよ
うな従来の技術の有する問題点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、対象物の変化に対して
迅速に露光時間を変更することができるようにした3次
元測定装置における露光制御装置を提供しようとするも
のである。 【0010】また、本発明の目的とするところは、露光
時間の変更の高速処理を可能にして、リアルタイムでの
測定を実現することができるようにした3次元測定装置
における露光制御装置を提供しようとするものである。 【0011】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のうち請求項1に記載の発明は、対象物に光
を照射する光照射手段と、上記光照射手段により光が照
射された上記対象物からの反射光を露光時間だけ受光
し、該受光した反射光に応じた受光波形信号を出力する
受光手段と、上記受光手段から出力された受光波形信号
を上記受光手段が上記対象物からの反射光を受光した位
置毎の明るさからなる受光波形データに変換する変換手
段と、上記受光手段が上記対象物からの反射光を受光し
た位置毎の明るさからなる所定の受光波形データを記憶
する記憶手段と、上記記憶手段に記憶された所定の受光
波形データの位置毎の明るさの総和と、上記受光手段が
今回の露光時間で上記対象物からの反射光を受光して出
力した上記受光波形信号が、上記変換手段によって変換
された受光波形データの位置毎の明るさの総和との比率
から次回の露光時間を算出する算出手段とを有するよう
にしたものである。 【0012】従って、本発明のうち請求項1に記載の発
明によれば、所定の受光波形データの位置毎の明るさの
総和と今回の露光時間での受光波形データの位置毎の明
るさの総和とから次回の露光時間が算出されるので、対
象物の変化に対して露光時間の変更の追従が速く、露光
時間の変更の高速処理が可能になり、リアルタイムでの
測定ができる。 【0013】 【発明の実施の形態】以下、添付の図面に基づいて、本
発明による3次元測定装置における露光制御装置の実施
の形態の一例を詳細に説明するものとする。 【0014】図1には、本発明による3次元測定装置に
おける露光制御装置の実施の形態の一例を備えた3次元
測定装置のブロック構成図が示されている。 【0015】この3次元測定装置10は、中央処理装置
(CPU)12により全体の動作の制御が行われるもの
であり、CPU12を動作するためのプログラムなどが
記憶されたリード・オンリ・メモリ(ROM)14と、
CPU12の制御によって後述する受光波形データを記
憶する受光波形データ記憶部16−1やCPU12の制
御によって3次元測定装置10における距離測定処理が
行われる際のワーキング・エリアとしての領域などが設
定されたランダム・アクセス・メモリ(RAM)16
と、CPU12の制御によって後述する距離データを記
憶する距離データ・メモリ18と、所定のタイミング信
号を出力するタイミング信号発生回路20と、後述する
CCD(charge−coupled devic
e)44から出力されたアナログ信号たる受光波形信号
をデジタル信号たる受光波形データに変換するアナログ
/デジタル(A/D)コンバータ22と、互いに直交す
るX軸とY軸とZ軸とにより定義されるXYZ直交座標
系におけるX−Y平面を形成するとともにZ軸方向周り
における時計周り方向と反時計周り方向とにそれぞれ回
転自在に配置され測定の対象物100を載置するターン
・テーブル24と、Z軸方向周りにおける時計周り方向
と反時計周り方向とにそれぞれ回転自在に配置された回
転支柱(図示せず)に直動ベアリング(図示せず)を介
してZ軸方向に沿って上下方向に移動自在に配設される
とともに、当該回転支柱のZ軸方向周りの回転に伴って
回転するヘッド26と、ヘッド26が配設された回転支
柱(図示せず)を駆動するためのXモーター30と、ヘ
ッド26をZ軸方向に沿って上下方向に駆動するための
Yモーター32と、ターン・テーブル24を駆動するた
めのBモーター34とを有して構成されている。 【0016】そして、ヘッド26は、ターン・テーブル
24上に配置された対象物100に、投光レンズ42を
介して、光としてレーザー・ビームを照射するレーザー
・ダイオード40と、レーザー・ダイオード40からレ
ーザー・ビームを照射された対象物100からの反射光
の画像を結像するイメージ・センサとしてのCCD44
と、レーザー・ダイオード40を駆動するレーザー・ダ
イオード駆動回路46と、CCD44を駆動するCCD
駆動回路48とを備えている。 【0017】なお、3次元測定装置10のCPU12
は、通信回路52を介して外部のコンピューター54と
接続されている。このため、3次元測定装置10の各種
データは、通信回路52を介してコンピューター54に
出力され、コンピュータ54によって処理可能となされ
ている。 【0018】CPU12は、レーザー・ダイオード40
からのレーザー・ビームの出射とCCD44による反射
光の受光とを制御する測定制御信号を、所定のタイミン
グでタイミング信号発生回路20に出力するようになさ
れている。 【0019】また、CPU12は、Xモーター30、Y
モーター32ならびにBモーター34の駆動する駆動信
号を、所定のタイミングでXモーター30、Yモーター
32ならびにBモーター34のそれぞれに出力するよう
になされている。なお、ターン・テーブル24用のBモ
ーター34とヘッド26が配設された回転支柱(図示ぜ
す)用のXモーター30とは、ターン・テーブル24と
回転支柱(図示せず)とがZ軸方向周りに同じ角度ずつ
同じ向きに回転するように、その回転方向と回転角度と
がCPU12により制御されている。 【0020】そして、タイミング信号発生回路20は、
CPU12からの測定制御信号に従った所定のタイミン
グで、タイミング信号をレーザー・ダイオード駆動回路
46とCCD駆動回路48とのそれぞれに出力するもの
である。また、タイミング信号発生回路20によってR
AM16ならびにA/Dコンバータ22が制御されるよ
うになされている。 【0021】ターン・テーブル24は、ターン・テーブ
ル24を回転するためのBモーター34が、CPU12
からの駆動信号によって駆動するのに伴って、Z軸方向
周りに回転するようになされている。従って、ターン・
テーブル24のZ軸方向周りにおける回転方向や回転角
度はCPU12により制御されている。 【0022】一方、ヘッド26は、ヘッド26が配設さ
れた回転支柱用のXモーター30が、CPU12からの
駆動信号によって駆動するのに伴って、回転支柱のZ軸
方向周りの回転に伴って回転するようになされている。
また、ヘッド26を上下するためのYモーター32が、
CPU12からの駆動信号によって駆動するのに伴っ
て、Z軸方向に沿って上下方向に移動自在になされてい
る。従って、ヘッド26のZ軸方向周りの回転方向や回
転角度ならびにZ軸方向に沿った移動方向や移動距離は
CPU12により制御されている。 【0023】ヘッド26のレーザー・ダイオード40
は、タイミング信号発生回路20から出力されたタイミ
ング信号がレーザー・ダイオード駆動回路46に入力さ
れると、レーザー・ダイオード駆動回路46によって駆
動される。この際、レーザー・ダイオード40は、タイ
ミング信号に従った所定のタイミングでレーザー・ビー
ムを所定の時間出射するものである。 【0024】ヘッド26のCCD44は、受光レンズ5
0が受光した反射光の拡散反射成分を受光するとともに
電子シャッターを備えた受光バッファ44aと、蓄積さ
れた電荷をCCD44の外部に転送する転送バッファ4
4bとを備えるものである。 【0025】CCD44の受光バッファ44aが対象物
100からの反射光(反射光の拡散反射成分)を受光す
る時間、即ち、CCD44の露光時間は、タイミング信
号発生回路20から出力される露光時間制御信号により
制御されている。 【0026】より詳細には、後述する距離測定処理ルー
チンにおいて算出される露光時間に応じてタイミング信
号発生回路20から出力される露光時間制御信号は、タ
イミング信号発生回路20から出力されるタイミング信
号とともにCCD駆動回路48に入力される。すると、
CCD44は、CCD駆動回路48によって駆動され、
タイミング信号に従った所定のタイミングで、露光時間
制御信号に従った露光時間だけ、受光バッファ44aの
電子シャッターを開放して、受光レンズ50が受光した
反射光の拡散反射成分を受光するものである。 【0027】そして、CCD44の転送バッファ44b
は、受光バッファ44aが反射光の拡散反射成分を受光
することにより蓄積された電荷を外部に転送するもので
ある。これにより、CCD44は、受光バッファ44a
での受光に基づいてアナログ信号たる受光波形信号をA
/Dコンバータ22に出力する。 【0028】以上の構成において、図2乃至図4を参照
しながら、上記した3次元測定装置10の動作の説明を
行うものとする。 【0029】この3次元測定装置10を用いて対象物1
00とヘッド26との距離を測定する場合には、まず、
作業者が対象物100をターン・テーブル24のX−Y
平面上の中心付近に載置する。 【0030】一方、ヘッド26のレーザー・ダイオード
40から照射されるレーザー・ビームの光軸の初期位置
は、ターン・テーブル24の回転中心を通過するような
位置に設定される。 【0031】そして、ターン・テーブル24上に配置さ
れた対象物100の初期位置Aは、対象物100の表面
上の任意の位置に設定されている。 【0032】ここで、対象物100の測定面を測定ポイ
ントP0、測定ポイントP1、測定ポイントP3、・・
・測定ポイントPm(ただし、「m」は測定ポイントの
総数を示す正の整数である。)毎に測定するものとした
場合に、「角度θ=1°」に設定するならば、測定ポイ
ントP0から測定ポイントPmまでの測定面における角
度を1°づつ変化させた各測定ポイントにおいてそれぞ
れ距離を測定する。実施例では、測定ポイントの微小前
後も測定して参考にしている。 【0033】つまり、ターン・テーブル24とヘッド2
6とを所定の角度θづつ変化させながら行う距離測定
を、ヘッド26のZ軸方向における上下の高さを変化さ
せながら繰り返すことで、ヘッド26と対象物100の
測定面の距離を測定する。 【0034】より詳細には、CPU12の駆動信号に従
ったXモーター30、Yモーター32ならびにBモータ
ー34の駆動により、ターン・テーブル24の回転に伴
うZ軸方向周りの対象物100の回転と同期して、レー
ザー・ダイオード40から照射されるレーザー・ビーム
の光軸が対象物100の回転方向と同一の方向かつ同一
の回転角度を保持するようにして、ヘッド26をZ軸方
向周りに回転させる。 【0035】これによりレーザー・ダイオード40から
レーザー・ビームを照射される対象物100の測定面の
領域をレーザー・ダイオード40により照射されるレー
ザー・ビームの光軸に対して直交させることができ、測
定の精度の向上を図ることができるようになされてい
る。 【0036】次に、図2に示す距離測定処理ルーチンの
フローチャートならびに図3を参照しながら、距離測定
処理についてより詳細に説明することとする。なお、こ
の距離測定処理ルーチンは、3次元測定装置10に電源
が投入された状態でコンピューター54からの指示を受
けると起動されて実行されるものである。 【0037】この距離測定処理ルーチンが起動される
と、まず、ステップS202において、測定準備処理が
行われる。この測定準備処理においては、測定ポイント
P0の直前に位置する直前位置B(直前位置B1,B
2,B3,B4)において、測定ポイントP0から距離
測定を開始するときの露光時間T0が決定される。 【0038】具体的には、まず、タイミング信号発生回
路20から出力されたタイミング信号に従って、ヘッド
26のレーザー・ダイオード40からのレーザー・ビー
ムが、投光レンズ42を介して対象物100の直前位置
B1に照射される。 【0039】そして、レーザー・ダイオード40からレ
ーザー・ビームを照射された対象物100からの反射光
が受光レンズ50に受光される。 【0040】こうして受光レンズ50に受光された反射
光の拡散反射成分が、タイミング信号発生回路20から
出力されたタイミング信号に従ったタイミングで、具体
的には、レーザー・ダイオード40からのレーザー・ビ
ームの照射と同期して、CCD44の受光バッファ44
aに受光される。 【0041】この際、予め設定された露光時間T
dummyに応じた露光時間制御信号に従ってCCD駆
動回路48が駆動され、露光時間TdummyだけCC
D44の電子シャッターが開放されて、反射光の拡散反
射成分がCCD44の受光バッファ44aに受光され
る。 【0042】こうして受光バッファ44aが反射光の拡
散反射成分を受光すると、蓄積された電荷がCCD44
の転送バッファ44bによって外部に転送され、受光波
形信号がA/Dコンバータ22に出力される。 【0043】そして、受光波形信号はA/Dコンバータ
22によって受光波形データに変換されて、直前位置B
1において露光時間Tdummyの場合の受光波形デー
タが受光波形データ記憶部16−1に記憶される。こう
して得られる受光波形データは、CCD44のアドレス
毎の明るさ(受光量)を示すものである。 【0044】一方、図4(a)には、理想受光波形デー
タの示す理想受光波形が示されている。この理想受光波
形データは、3次元測定装置10における距離測定を正
確に行う際に最適な受光波形データとして、予めRAM
16の所定の領域に記憶されているものである。 【0045】より詳細には、理想受光波形データは、C
CD44のアドレス毎の明るさ(受光量)を示すもので
あり、露光不足ではなく、かつ、飽和していないととも
に、明るさの最小値から最大値を経て最小値に到るまで
のCCDアドレスの幅Wが狭く、明るさの最大値と明る
さの最小値との差たるレンジRが長いものである。 【0046】ただし、対象物100の種類や3次元測定
装置10が配設される環境温度、レーザー・ダイオード
40の出力、CCD44の感度、あるいは、装置の組み
付け誤差によって、理想受光波形データは異なるもので
ある。 【0047】そのため、例えば、3次元測定装置10の
工場出荷時に、石膏よりなる対象物100を用いて距離
測定を行い、図4(a)に近似する受光波形データを得
て、当該得られた受光波形データを理想受光波形データ
として記憶しておく。なお、こうして得られた理想受光
波形データは、例えば、 環境温度:28℃ レーザー・ダイオード40の出力:70μW CCD44の感度:13V/lx・s の条件下において、 理想受光波形の最大値:140 理想受光波形の最小値:70 CCDアドレスの幅W:12 レンジR:70 理想受光波形の面積:250 を有するものである。 【0048】そして、直前位置B1において露光時間T
dummyの場合の受光波形データが示す受光波形が、
例えば、図4(b)において実線で示された受光波形で
あった場合に、この直前位置Bにおいて露光時間T
dummyの場合の受光波形データが示す受光波形(図
4(b)における実線参照)と、理想受光波形データの
示す理想受光波形(図4(a)ならびに図4(b)にお
ける破線参照)とから次回の露光時間Ttest2を算
出する。 【0049】具体的には、理想受光波形の面積をS
ideal(図4(a)における斜線領域参照)とし、
直前位置B1において露光時間Tdummyの場合の受
光波形データが示す受光波形、即ち、今回の受光波形の
面積をSn−1(図4(b)における網掛け領域参照)
とする。 【0050】ここで、面積Sidealは、受光波形の
ノイズをカットをするために、理想受光波形データの示
す受光波形(図4(a)参照)のレンジRの1/8を明
るさの最小値に加えた値を閾値とし、閾値と明るさの最
大値との間におけるCCD44のアドレス毎の明るさ
(受光量)の総和としている。同様に、面積S
n−1も、直前位置B1において露光時間Tdummy
の場合の受光波形データの示す受光波形(図4(b)に
おける実線参照)のレンジRの1/8を明るさの最小値
に加えた値を閾値とし、閾値と明るさの最大値との間に
おけるCCD44のアドレス毎の明るさ(受光量)の総
和とする。 【0051】そして、直前位置B1において図4(b)
に示す受光波形を得たときの露光時間Tdummy、即
ち、今回の露光時間をTn−1とすると、次回の露光時
間T nは、 Tn=Sideal/Sn−1×Tn−1 ・・・数式1 により求められる。 【0052】こうして求められた次回の露光時間T
nは、直前位置B2におけるレーザー・ビームの照射の
ときの露光時間Ttest2として用いられる。 【0053】つまり、直前位置B2において露光時間T
dummyの場合の受光波形(図4(b)参照)から露
光時間Ttest2を算出した後に、対象物100とヘ
ッド26とを移動して、ヘッド26のレーザー・ダイオ
ード40からのレーザー・ビームを、投光レンズ42を
介して対象物100の直前位置B2に照射する。 【0054】この際、直前位置B1における照射から算
出された直前位置B2における露光時間Ttest2に
応じた露光時間制御信号に従って、直前位置B2におけ
る露光時間Ttest2だけCCD44の電子シャッタ
ーが開放されて、反射光の拡散反射成分がCCD44の
受光バッファ44aに受光される。 【0055】そして、直前位置B1におけるレーザー・
ビームの照射(即ち、露光時間Td ummyの場合)と
同様にして、この直前位置B2におけるレーザー・ビー
ムの照射(即ち、露光時間Ttest2の場合)によっ
て得られた受光波形データから、数式1を用いて次回の
露光時間Tnを算出する。 【0056】こうして求められた次回の露光時間T
nは、直前位置B3におけるレーザー・ビームの照射の
ときの露光時間Ttest3として用いられる。 【0057】つまり、対象物100とヘッド26とを移
動して、直前位置B3においてレーザー・ビームの照射
が行われ、算出された露光時間Ttest3だけCCD
44の電子シャッターが開放されて、反射光の拡散反射
成分がCCD44の受光バッファ44aに受光される。 【0058】さらに、直前位置B1におけるレーザー・
ビームの照射(即ち、露光時間Td ummyの場合)と
同様にして、この直前位置B3におけるレーザー・ビー
ムの照射(即ち、露光時間Ttest3の場合)によっ
て得られた受光波形データから、数式1を用いて次回の
露光時間Tnを算出し、算出された次回の露光時間T n
を、直前位置B4におけるレーザー・ビームの照射のと
きの露光時間Ttes t4として用いる。 【0059】そして、対象物100とヘッド26とを移
動して、直前位置B4においてレーザー・ビームの照射
が行われ、算出された露光時間Ttest4だけCCD
44の電子シャッターが開放されて、反射光の拡散反射
成分がCCD44の受光バッファ44aに受光される。 【0060】それから、直前位置B1におけるレーザー
・ビームの照射(即ち、露光時間T dummyの場合)
と同様にして、この直前位置B4におけるレーザー・ビ
ームの照射(即ち、露光時間Ttest4の場合)によ
って得られた受光波形データから、数式1を用いて次回
の露光時間Tnを算出する。 【0061】こうして直前位置Bたる直前位置B1,B
2,B3,B4において4回のレーザー・ビームの照射
が繰り返されて、最後に算出された次回の露光時間Tn
が、距離測定の開始時の露光時間T0として用いられ
る。 【0062】そして、ステップS202の処理が終了す
ると、ステップS204に進み、距離測定の開始位置た
る対象物100の測定面の測定ポイントP0に、レーザ
ー・ダイオード40から照射されるレーザー・ビームの
光軸が直交するようにして、対象物100とヘッド26
とを移動する。 【0063】ステップS204の処理に続いて、ステッ
プS206においては、設定された今回の露光時間で受
光波形データが得られる。なお、この距離測定処理ルー
チンが起動されて、最初にステップS206の処理が行
われる場合には、ステップS202において算出された
距離測定の開始時の露光時間T0が用いられる。 【0064】つまり、タイミング信号発生回路20から
出力されたタイミング信号に従って、ヘッド26のレー
ザー・ダイオード40からのレーザー・ビームが、投光
レンズ42を介して対象物100の測定ポイントP0に
照射される。 【0065】そして、レーザー・ダイオード40からの
レーザー・ビームの照射と同期して、受光レンズ50が
受光した対象物100からの反射光の拡散反射成分が、
CCD44の受光バッファ44aに受光される。 【0066】この際、ステップS202において算出さ
れた露光時間T0に応じた露光時間制御信号に従ってC
CD駆動回路48が駆動され、露光時間T0だけCCD
44の電子シャッターが開放されて、反射光の拡散反射
成分がCCD44の受光バッファ44aに受光される。 【0067】そして、測定ポイントP0において露光時
間T0の場合の受光波形データが受光波形データ記憶部
16−1に記憶される。なお、図4(c)には、測定ポ
イントP0において露光時間T0の場合の受光波形デー
タが示す受光波形の一例が示されている(図4(c)に
おける実線参照)。 【0068】ステップS206が終了すると、ステップ
S208に進み、距離データの算出処理が行われる。こ
の距離データの算出処理においては、ステップS206
において受光波形データが受光波形データ記憶部16−
1に記憶された測定ポイントとヘッド26との距離を示
す距離データが、当該測定ポイントにおける受光波形デ
ータから算出されるものである。 【0069】つまり、この距離測定処理ルーチンが起動
されて、最初にステップS208の処理が行われる場合
には、ステップS206において受光波形データが受光
波形データ記憶部16−1に記憶された測定ポイントP
0とヘッド26との距離を示す距離データが、測定ポイ
ントP0において露光時間T0の場合の受光波形データ
(図4(c)における実線参照)から算出されるもので
ある。 【0070】なお、受光波形データからの距離データの
算出は、受光波形データの示す受光波形のピーク位置を
算出し、算出されたピーク位置と所定の距離変換テーブ
ルとを用いて算出するなど、各種公知の方法を用いるこ
とができ、詳細な説明は省略することとする。 【0071】そして、算出された距離データを、距離デ
ータ・メモリ18に記憶すると、ステップS208の処
理を終了して、ステップS210の処理に進む。 【0072】ステップS210の処理においては、次回
の露光時間の算出処理が行われる。具体的には、ステッ
プS206において受光波形データが受光波形データ記
憶部16−1に記憶された測定ポイントにおける受光波
形データから、上記したステップS202における測定
準備処理と同様にして、次の測定ポイントにおける露光
時間が算出されるものである。 【0073】つまり、この距離測定処理ルーチンが起動
されて、最初にステップS210の処理が行われる場合
には、ステップS206において受光波形データ記憶部
16−1に記憶された測定ポイントP0において露光時
間T0の場合の受光波形データ(図4(c)における実
線参照)から、次の測定ポイントP1における露光時間
が算出されるものである。 【0074】つまり、測定ポイントP0において露光時
間T0の場合の受光波形データが示す受光波形(図4
(c)における実線参照)と、理想受光波形データの示
す理想受光波形(図4(a)ならびに図4(c)におけ
る破線参照)とから、次の測定ポイントP1における露
光時間、即ち、次回の露光時間Tnを算出する。 【0075】そして、測定ポイントP0において露光時
間T0の場合の受光波形データの示す受光波形(図4
(c)における実線参照)のレンジRの1/8を明るさ
の最小値に加えた値を閾値とし、閾値と明るさの最大値
との間におけるCCD44のアドレス毎の明るさ(受光
量)の総和を面積Sn−1とする。 【0076】また、測定ポイントP0において図4
(c)に示す受光波形を得たときの露光時間T0を今回
の露光時間Tn−1とすると、次回の露光時間Tnは上
記した数式1により求められる。ここで求められた次回
の露光時間Tnは、測定ポイントP0の次の測定ポイン
トである測定ポイントP1における露光時間T1として
用いられるものであり、ステップS206における今回
の露光時間として設定される。 【0077】ステップS210を終了すると、ステップ
S212の処理に進み、測定ポイントは最後の測定ポイ
ントか否かを判断し、測定ポイントが最後の測定ポイン
ト、即ち、測定ポイントPmであると判断された場合に
は、この距離測定処理ルーチンを終了する。 【0078】一方、測定ポイントが最後の測定ポイン
ト、即ち、測定ポイントPmではないと判断された場合
には、ステップS214の処理に進み、次の測定ポイン
トに、レーザー・ダイオード40から照射されるレーザ
ー・ビームの光軸が直交するようにして、対象物100
とヘッド26とを移動する。 【0079】ステップS214の処理が終了すると、ス
テップS206の処理に戻り、ステップS212の処理
において、測定ポイントが最後の測定ポイントであると
判断されるまで、即ち、対象物100の全ての測定ポイ
ントにおいてステップS206乃至ステップS210の
処理が繰り返される。 【0080】そして、この距離測定処理ルーチンの処理
により、距離データ・メモリ18に記憶された距離デー
タは、CPU12により通信回路52を介してコンピュ
ーター54に出力され、コンピュータ54によって対象
物100全体の距離画像を得る処理がなされる。 【0081】上記したように、本発明による3次元測定
装置における露光制御装置の実施の形態の一例を備えた
3次元測定装置10においては、理想受光波形データの
示す受光波形の面積Sidealを今回の露光時間T
n−1のときの面積Sn−1で除算した商に、今回の露
光時間Tn−1を乗算して次回の露光時間Tnを算出す
るようにしたので、対象物100の変化に対して露光時
間の変更の追従が速く、露光時間の変更の高速処理が可
能になり、リアルタイムでの測定ができる。 【0082】ここで、本発明による3次元測定装置にお
ける露光制御装置とは異なる他の方法の一例として、受
光波形のピーク値から次回の露光時間を算出する方法が
ある。 具体的には、受光波形の明るさの最大値と最小
値とからレンジRの中位Rm idを算出する。そして、
今回の露光時間をTn−1とすると、次回の露光時間T
nは、 Tn=Rmid/R×Tn−1 ・・・数式2 により求められる。 【0083】しかしながら、こうして数式2により受光
波形のピーク値から次回の露光時間を算出する方法は、
本願の数式1により受光波形の面積から次回の露光時間
を算出する方法に比べて、次工程に送るための時間の変
動が大きいものである。 【0084】例えば、受光波形のピーク値から次回の露
光時間を算出する方法においては、レンジRはCCDの
性能から最大でも70までの値しかとることができな
い。このため、レンジRの値が1変化した場合、例え
ば、今回のレンジR=60(数式3参照)で次回のレン
ジR=59(数式4参照)に変化した場合には、今回の
露光時間Tn−1=1000として、 Tn=30/60×1000=500 Tn=30/59×1000=508 となり、数式2より得られる次回の露光時間Tnの差は
「8」になってしまう。 【0085】これに対して、本願の数式1により受光波
形の面積から次回の露光時間を算出する方法は、今回の
受光波形の面積Sn−1の値が1変化した場合、例え
ば、今回のSn−1=500(数式5参照)で次回のS
n−1=499(数式6参照)に変化した場合には、今
回の露光時間Tn−1=1000ならびに理想受光波形
の面積Sideal=250として、 Tn=250/500×1000=500 Tn=250/499×1000=501 となり、数式1より得られる次回の露光時間Tnの差は
「1」である。このようにして、本願の数式1により受
光波形の面積から次回の露光時間を算出する方法によれ
ば、次工程に送るための時間の変動を小さくおさえるこ
とができる。 【0086】なお、上記した実施の形態は、以下の
(1)乃至(5)に説明するように変形してもよい。 【0087】(1)上記した実施の形態においては、光
照射手段としてレーザー・ダイオード40を用いたが、
これに限られるものではないことは勿論であり、例え
ば、マルチ・モード・レーザー発振器などのような各種
のレーザー発振器やランプなどを用いるようにしてもよ
い。 【0088】(2)上記した実施の形態においては、C
CD44において受光バッファ44aが反射光の拡散反
射成分を受光し、その後、転送バッファ44bによって
蓄積された電荷が外部に転送されるようにしたが、これ
に限られるものではないことは勿論であり、受光バッフ
ァ44aが反射光の拡散反射成分を受光するのと同時
に、転送バッファ44bによって蓄積された電荷をCC
D44の外部に転送するようにしてもよい。この際、得
られる受光波形は前回のレーザー・ビームの照射のとき
のものであるが、処理に費やす時間が半分で済むので、
より高速な処理を実現することができる。 【0089】また、上記した実施の形態においては、イ
メージ・センサとしてCCD44を用いたが、これに限
られるものではないことは勿論であり、各種のイメージ
・センサを適宜に用いるようにしてもよい。 【0090】(3)上記した実施の形態においては、受
光波形データや距離データをぞれぞれ受光波形データ記
憶部16−1や距離データ・メモリ18に記憶するよう
にしたが、これに限られるものではないことは勿論であ
り、各種データを記憶する領域、この3次元測定装置の
内部あるいは外部において処理するかなどは適宜変更す
るようにしてもよい。 【0091】(4)上記した実施の形態においては、
「角度θ=1°」の場合について説明したが、これに限
られるものではないことは勿論であり、角度θとして任
意の角度を設定することができる。また、ヘッド26や
ターン・ターブル24の駆動方法や駆動方向は、上記し
た実施の形態に限られるものではないことは勿論であ
り、対象物100の種類などに応じて全ての測定ポイン
トが測定可能なように適宜変更してもよい。 【0092】(5)上記した実施の形態ならびに上記
(1)乃至(4)に示す変形例は、適宜に組み合わせる
ようにしてもよい。 【0093】 【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、対象物の変化に対して迅速に露光時間を変
更することができるという優れた効果を奏する。 【0094】また、本発明は、露光時間の変更の高速処
理を可能にし、リアルタイムでの測定を実現することが
できるという優れた効果を奏する。
装置の実施の形態の一例を備えた3次元測定装置のブロ
ック構成図である。 【図2】本発明による3次元測定装置における露光制御
装置の実施の形態の一例を備えた3次元測定装置の距離
測定処理ルーチンのフローチャートである。 【図3】本発明による3次元測定装置における露光制御
装置の実施の形態の一例を備えた3次元測定装置の距離
測定のときの動作を説明する説明図である。 【図4】受光波形データの示す受光波形を示す波形図で
あり、(a)は理想受光波形データの示す受光波形を示
す波形図であり、(b)は直前位置における受光波形デ
ータの示す受光波形の一例を示す波形図であり、(c)
は測定ポイントにおける受光波形データの示す受光波形
の一例を示す波形図である。 【符号の説明】 10 3次元測定装置 12 中央制御装置(CPU) 14 リード・オンリ・メモリ(ROM) 16 ランダム・アクセス・メモリ(RAM) 16−1 受光波形データ記憶部 18 距離データ・メモリ 20 タイミング信号発生回路20 22 アナログ/デジタル(A/D)コンバー
タ 24 ターン・テーブル 26 ヘッド 30 Xモーター 32 Yモーター 34 Bモーター 40 レーザー・ダイオード 42 投光レンズ 44 CCD 44a 受光バッファ 44b 転送バッファ 46 レーザー・ダイオード駆動回路 48 CCD駆動回路 50 受光レンズ 52 通信回路 54 コンピューター 100 対象物
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 対象物に光を照射する光照射手段と、 前記光照射手段により光が照射された前記対象物からの
反射光を露光時間だけ受光し、該受光した反射光に応じ
た受光波形信号を出力する受光手段と、 前記受光手段から出力された受光波形信号を前記受光手
段が前記対象物からの反射光を受光した位置毎の明るさ
からなる受光波形データに変換する変換手段と、 前記受光手段が前記対象物からの反射光を受光した位置
毎の明るさからなる所定の受光波形データを記憶する記
憶手段と、 前記記憶手段に記憶された所定の受光波形データの位置
毎の明るさの総和と、前記受光手段が今回の露光時間で
前記対象物からの反射光を受光して出力した前記受光波
形信号が、前記変換手段によって変換された受光波形デ
ータの位置毎の明るさの総和との比率から次回の露光時
間を算出する算出手段とを有する3次元測定装置におけ
る露光制御装置。
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