JP2003116518A - 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 - Google Patents
生細胞観察用顕微鏡温度制御装置Info
- Publication number
- JP2003116518A JP2003116518A JP2001314700A JP2001314700A JP2003116518A JP 2003116518 A JP2003116518 A JP 2003116518A JP 2001314700 A JP2001314700 A JP 2001314700A JP 2001314700 A JP2001314700 A JP 2001314700A JP 2003116518 A JP2003116518 A JP 2003116518A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- observation
- observation dish
- dish
- living cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/0332—Cuvette constructions with temperature control
Landscapes
- Apparatus Associated With Microorganisms And Enzymes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】生細胞観察を行う部屋の気温や湿度が変動して
も、一定温度での生細胞観察に必要とされる±1℃以下
の精度を確保する必要がある。湿度変化の影響を受けな
いように観察皿を密閉して温度制御する場合、光源から
の入射光に支障を生じないように観察皿蓋内面での曇り
発生を防止する必要がある。 【解決手段】観察皿温度は周囲雰囲気温度が変化した場
合でも 観察皿温度=A×リングダクト温度+B×給気ファン入口温
度+C により表せることを利用して、観察皿温度を一定にする
べく温風供給箱のPID制御に用いる設定温度を制御す
る。観察皿上部及び下部それぞれに温風を吹き付けるこ
とにより観察皿蓋の温度低下を防止し蓋内面での曇り発
生を防止する。
も、一定温度での生細胞観察に必要とされる±1℃以下
の精度を確保する必要がある。湿度変化の影響を受けな
いように観察皿を密閉して温度制御する場合、光源から
の入射光に支障を生じないように観察皿蓋内面での曇り
発生を防止する必要がある。 【解決手段】観察皿温度は周囲雰囲気温度が変化した場
合でも 観察皿温度=A×リングダクト温度+B×給気ファン入口温
度+C により表せることを利用して、観察皿温度を一定にする
べく温風供給箱のPID制御に用いる設定温度を制御す
る。観察皿上部及び下部それぞれに温風を吹き付けるこ
とにより観察皿蓋の温度低下を防止し蓋内面での曇り発
生を防止する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、恒温動物の生細胞
活動を顕微鏡で観察する際、培養液とともに観察試料で
ある生細胞に通常の体温と同等の温度環境を与える必要
があるが、これを容易にする顕微鏡温度制御装置に関す
るものである。
活動を顕微鏡で観察する際、培養液とともに観察試料で
ある生細胞に通常の体温と同等の温度環境を与える必要
があるが、これを容易にする顕微鏡温度制御装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】観察皿周囲のリングダクト内温度測定値
に基づいて温風供給箱のPID制御に用いる設定温度を制
御することを特徴とする温度制御装置が、特願2000-253
281にある。
に基づいて温風供給箱のPID制御に用いる設定温度を制
御することを特徴とする温度制御装置が、特願2000-253
281にある。
【0003】同一温湿度、同一風量条件下に設けた模擬観察
皿の温度測定値に基づいて温風供給箱のPID制御に用い
る設定温度を制御することを特徴とする温度制御装置
が、特願2001-109916にある。
皿の温度測定値に基づいて温風供給箱のPID制御に用い
る設定温度を制御することを特徴とする温度制御装置
が、特願2001-109916にある。
【発明が解決しようとする課題】生細胞観察を行う部屋
の気温や湿度が変動しても、一定温度での生細胞観察に
必要とされる±1℃以下の精度を確保する必要がある。
雰囲気湿度の影響を受けないように観察皿を密閉して温
度制御する場合、光源からの入射光に支障を生じないよ
うに蓋内面での曇り発生を防止する必要がある。
の気温や湿度が変動しても、一定温度での生細胞観察に
必要とされる±1℃以下の精度を確保する必要がある。
雰囲気湿度の影響を受けないように観察皿を密閉して温
度制御する場合、光源からの入射光に支障を生じないよ
うに蓋内面での曇り発生を防止する必要がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、観察
皿温度は温風供給温度とリングダクト温度及び定数で表
されるため、室温が変動しても観察皿温度を一定とする
ことが可能となる。
皿温度は温風供給温度とリングダクト温度及び定数で表
されるため、室温が変動しても観察皿温度を一定とする
ことが可能となる。
【0005】請求項2によれば、観察皿下部に供給する温風
より数度高い温度の温風を観察皿上部に供給すること
で、蓋内面での曇り発生を防止することができる。一つ
の温風供給箱よりの温風を分岐して観察皿上部及び下部
に供給する場合、曇り発生防止剤として観察皿蓋内面に
塗布する培養液は結露による容積の増大をほとんど伴わ
ず、滴下を発生することなく観察を継続することができ
る。
より数度高い温度の温風を観察皿上部に供給すること
で、蓋内面での曇り発生を防止することができる。一つ
の温風供給箱よりの温風を分岐して観察皿上部及び下部
に供給する場合、曇り発生防止剤として観察皿蓋内面に
塗布する培養液は結露による容積の増大をほとんど伴わ
ず、滴下を発生することなく観察を継続することができ
る。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は、本発明装置の1実施例の吹
出口断面図である。吹出口はナイロン、エポキシ等の合
成樹脂によって作られ、11は観察皿を取り巻くリングダ
クトであり、内壁には帯状の吹付口を有する。その上部
には観察皿蓋用の吹き付け口を設けている。
出口断面図である。吹出口はナイロン、エポキシ等の合
成樹脂によって作られ、11は観察皿を取り巻くリングダ
クトであり、内壁には帯状の吹付口を有する。その上部
には観察皿蓋用の吹き付け口を設けている。
【0007】吹出口入口ノズルに供給された一定温度に制御
された空気-以下温風と称す-は、リングダクトを通って
内側に配した吹付口から観察皿底部に吹き付けるもの
と、観察皿蓋上部に吹き付けるものになる。
された空気-以下温風と称す-は、リングダクトを通って
内側に配した吹付口から観察皿底部に吹き付けるもの
と、観察皿蓋上部に吹き付けるものになる。
【0008】観察皿底部に吹き付けられた温風は、おもに観
察皿底面の薄肉のガラス板を介して培養液を加熱する。
察皿底面の薄肉のガラス板を介して培養液を加熱する。
【0009】リングダクト下部には12で示すスカート部を、
上部には13で示すカバーを設け温風が外気と交わる位置
を観察皿から遠ざけて観察皿を温風で包み込むことによ
り、観察皿胴部及び蓋からの放熱を防止するとともに、
対物レンズ及び投光部の観察皿近接部を観察皿と同等な
温度とすることで近接部による局部放熱を防止する。
上部には13で示すカバーを設け温風が外気と交わる位置
を観察皿から遠ざけて観察皿を温風で包み込むことによ
り、観察皿胴部及び蓋からの放熱を防止するとともに、
対物レンズ及び投光部の観察皿近接部を観察皿と同等な
温度とすることで近接部による局部放熱を防止する。
【0010】13で示す上部カバーは固定されておらず、投光
部を後退させることで簡単に取り外し可能である。これ
により、観察皿の取付け取外しを容易とするとともにX-
Yテーブルの移動に伴う観察皿と投光部の相対変位を拘
束しない構造とする。
部を後退させることで簡単に取り外し可能である。これ
により、観察皿の取付け取外しを容易とするとともにX-
Yテーブルの移動に伴う観察皿と投光部の相対変位を拘
束しない構造とする。
【0011】2温風供給形は観察皿上部用と下部用の2つの温
風供給箱を用いる場合で、上部用は下部用より数度高い
温風を観察皿蓋に吹き付けることで、観察皿蓋内面での
結露発生を防止するとともに過渡状態で結露した場合で
も消去することができる。
風供給箱を用いる場合で、上部用は下部用より数度高い
温風を観察皿蓋に吹き付けることで、観察皿蓋内面での
結露発生を防止するとともに過渡状態で結露した場合で
も消去することができる。
【0012】1温風供給形は1つの温風供給箱からの温風を吹
出口入口部で上下部それぞれに分流させることで観察皿
の上下部を同等温度とするが、結露が発生した場合除去
することができぬため、曇り発生防止剤として培養液を
観察皿蓋内面に塗布して観察を行う。
出口入口部で上下部それぞれに分流させることで観察皿
の上下部を同等温度とするが、結露が発生した場合除去
することができぬため、曇り発生防止剤として培養液を
観察皿蓋内面に塗布して観察を行う。
【0013】14で示すリングダクト温度計は吹出口入口ノズ
ルのほぼ対角側に置かれ、温風を供給することで温風供
給箱、観察皿とリングダクト温度測定位置は室温に対す
る一つの放熱系を形成する。
ルのほぼ対角側に置かれ、温風を供給することで温風供
給箱、観察皿とリングダクト温度測定位置は室温に対す
る一つの放熱系を形成する。
【0014】図2は、本発明装置の1実施例である温風供給箱
の説明図である。温風供給箱は発泡スチロールを主要部
材とする保温性能を有する直方体の箱であり、21で示す
外気取り入れ口、22で示す熱源としての電球、23で示す
循環ファン、24で示す給気ファン及び温度制御用の25で
示す測温抵抗体と26で示すPID制御温度調節器により構
成される。
の説明図である。温風供給箱は発泡スチロールを主要部
材とする保温性能を有する直方体の箱であり、21で示す
外気取り入れ口、22で示す熱源としての電球、23で示す
循環ファン、24で示す給気ファン及び温度制御用の25で
示す測温抵抗体と26で示すPID制御温度調節器により構
成される。
【0015】27で示す制御部は、14で示すリングダクト温度
と24で示す給気ファン入口温度を読み込み、記憶させた
計算式から観察皿温度を推定し表示する。
と24で示す給気ファン入口温度を読み込み、記憶させた
計算式から観察皿温度を推定し表示する。
【0016】制御部に観察設定温度をセットすると、制御部
は観察皿温度推定値が観察設定温度になるように26で示
すPID制御温度調節器に設定値を与える。
は観察皿温度推定値が観察設定温度になるように26で示
すPID制御温度調節器に設定値を与える。
【0017】制御部に記憶させる計算式は下記とする。
観察皿温度=A×リングダクト温度+B×給気ファン入口温
度+C ここでA、B及びCは性能試験により求められる定数であ
る。性能確認試験では測定表示精度±0.7℃のデジタル
温度計で±0.2℃の表示誤差を得ることができた。
度+C ここでA、B及びCは性能試験により求められる定数であ
る。性能確認試験では測定表示精度±0.7℃のデジタル
温度計で±0.2℃の表示誤差を得ることができた。
【0018】
【発明の効果】請求項1によれば、観察者は観察設定温
度を±1℃の精度で設定保持することができることとな
り、通常生活温度での生細胞の活動を観察することが可
能となる。
度を±1℃の精度で設定保持することができることとな
り、通常生活温度での生細胞の活動を観察することが可
能となる。
【0019】請求項2によれば、投光部よりの観察光に支障
を生じることなく観察を継続することができる。
を生じることなく観察を継続することができる。
【図1】本発明の1実施例である吹出口の構造を示す断面
図である。
図である。
【図2】本発明の1実施例である温風供給箱の構成を示し
た説明図である。
た説明図である。
11 リングダクト部、 12 スカート部、 13 カ
バー、14 リングダクト温度計、15 密封用プラスチッ
クテープ 21 外気取り入れ口、 22 電球、 23 循環ファ
ン、24 給気ファン、 25 測温抵抗体、 26 PI
D制御温度調節器、27 制御部、
バー、14 リングダクト温度計、15 密封用プラスチッ
クテープ 21 外気取り入れ口、 22 電球、 23 循環ファ
ン、24 給気ファン、 25 測温抵抗体、 26 PI
D制御温度調節器、27 制御部、
Claims (2)
- 【請求項1】 顕微鏡ステージ上で観察皿及び生細胞を
観察したい温度に保持するべく観察皿周囲に配したリン
グダクトから温度制御された空気を観察皿に吹き付ける
温度制御装置において、 観察皿温度=A×リングダクト温度+B×給気ファン入口温
度+C により表せることを利用して、観察皿温度を一定にする
べく温風供給箱のPID制御に用いる設定温度を制御する
ことを特徴とする温度制御装置。 - 【請求項2】 培養液の気化熱の発生を防止するべくプ
ラスチックテープで観察皿を密封する場合に、観察皿蓋
内面に発生する結露の増大を防止するべく観察皿底面へ
の送風用リングダクトに加え観察皿上面にも送風口を備
えた吹出口を用いることを特徴とする温度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001314700A JP4116780B2 (ja) | 2001-10-12 | 2001-10-12 | 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001314700A JP4116780B2 (ja) | 2001-10-12 | 2001-10-12 | 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003116518A true JP2003116518A (ja) | 2003-04-22 |
| JP4116780B2 JP4116780B2 (ja) | 2008-07-09 |
Family
ID=19132966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001314700A Expired - Fee Related JP4116780B2 (ja) | 2001-10-12 | 2001-10-12 | 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4116780B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006126481A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Olympus Corp | 顕微鏡及び対物レンズの結露防止方法 |
| JP2006187206A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-20 | Olympus Corp | 培養観察装置 |
| JP2007506147A (ja) * | 2003-09-23 | 2007-03-15 | エボテック テクノロジーズ ゲーエムベーハー | 顕微鏡用環境室 |
| JP2013101192A (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-23 | Altair Giken Kk | 顕微鏡用培養装置 |
| WO2015133337A1 (ja) * | 2014-03-07 | 2015-09-11 | 古河電気工業株式会社 | スクリーニング装置およびスクリーニング方法 |
| AT516382B1 (de) * | 2015-03-13 | 2016-05-15 | Anton Paar Gmbh | Konditionieren eines Probenbehälters mittels Konditionierfluid zum Fördern von Wärmekopplung und zum Unterdrücken von Beschlagen |
| CN106047686A (zh) * | 2016-06-15 | 2016-10-26 | 浙江大学 | 细胞操作微环境温度控制系统 |
| WO2018216110A1 (ja) * | 2017-05-23 | 2018-11-29 | 株式会社島津製作所 | ホログラフィ観察装置 |
| JP2021090392A (ja) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | 株式会社マルコム | 分析システム |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2024057425A1 (ja) * | 2022-09-14 | 2024-03-21 | 株式会社日立ハイテク | 検体分析装置 |
-
2001
- 2001-10-12 JP JP2001314700A patent/JP4116780B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007506147A (ja) * | 2003-09-23 | 2007-03-15 | エボテック テクノロジーズ ゲーエムベーハー | 顕微鏡用環境室 |
| JP4694489B2 (ja) * | 2003-09-23 | 2011-06-08 | エボテック テクノロジーズ ゲーエムベーハー | 顕微鏡用環境室及び環境制御手段 |
| JP2006126481A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Olympus Corp | 顕微鏡及び対物レンズの結露防止方法 |
| JP4658565B2 (ja) * | 2004-10-28 | 2011-03-23 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡及び顕微鏡の加温方法 |
| JP2006187206A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-20 | Olympus Corp | 培養観察装置 |
| JP2013101192A (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-23 | Altair Giken Kk | 顕微鏡用培養装置 |
| JPWO2015133337A1 (ja) * | 2014-03-07 | 2017-04-06 | 古河電気工業株式会社 | スクリーニング装置およびスクリーニング方法 |
| JP5951138B2 (ja) * | 2014-03-07 | 2016-07-13 | 古河電気工業株式会社 | スクリーニング装置およびスクリーニング方法 |
| CN106068328A (zh) * | 2014-03-07 | 2016-11-02 | 古河电气工业株式会社 | 筛选装置和筛选方法 |
| WO2015133337A1 (ja) * | 2014-03-07 | 2015-09-11 | 古河電気工業株式会社 | スクリーニング装置およびスクリーニング方法 |
| CN110243752A (zh) * | 2014-03-07 | 2019-09-17 | 古河电气工业株式会社 | 筛选装置和筛选方法 |
| US10613075B2 (en) | 2014-03-07 | 2020-04-07 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Screening apparatus and screening method |
| CN110243752B (zh) * | 2014-03-07 | 2022-12-02 | 古河电气工业株式会社 | 筛选装置和筛选方法 |
| AT516382B1 (de) * | 2015-03-13 | 2016-05-15 | Anton Paar Gmbh | Konditionieren eines Probenbehälters mittels Konditionierfluid zum Fördern von Wärmekopplung und zum Unterdrücken von Beschlagen |
| AT516382A4 (de) * | 2015-03-13 | 2016-05-15 | Anton Paar Gmbh | Konditionieren eines Probenbehälters mittels Konditionierfluid zum Fördern von Wärmekopplung und zum Unterdrücken von Beschlagen |
| CN106047686A (zh) * | 2016-06-15 | 2016-10-26 | 浙江大学 | 细胞操作微环境温度控制系统 |
| WO2018216110A1 (ja) * | 2017-05-23 | 2018-11-29 | 株式会社島津製作所 | ホログラフィ観察装置 |
| JP2021090392A (ja) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | 株式会社マルコム | 分析システム |
| JP7365045B2 (ja) | 2019-12-11 | 2023-10-19 | 株式会社マルコム | 分析システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4116780B2 (ja) | 2008-07-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2003116518A (ja) | 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 | |
| US9376657B2 (en) | Culture device | |
| US8385012B2 (en) | Thermal management for a solid immersion lens objective in optical probing | |
| US7502165B2 (en) | Arrangement for regulating the temperature of the sample space of a microscope | |
| US20200086338A1 (en) | Temperature controlled nozzle | |
| CN110333262A (zh) | 用于界面传热传质研究的可视化微环境恒温恒湿箱体 | |
| JP5124413B2 (ja) | 画像取得装置 | |
| EP3825395B1 (en) | Culture device | |
| JP2023164597A (ja) | 環境形成装置及び環境形成装置用撮影装置 | |
| JP5329325B2 (ja) | 環境試験方法及び環境試験装置 | |
| JP3386607B2 (ja) | カメラヘッドの空冷ハウジング | |
| CN207675335U (zh) | 导流散热干体温度校验仪 | |
| CN110017914A (zh) | 导流散热干体温度校验仪 | |
| JP2003050219A (ja) | 防曇性評価装置 | |
| CN209296542U (zh) | 一种温湿度检定箱 | |
| US11808938B2 (en) | Apparatus for measuring optical characteristics of a test optical element under low-temperature environment | |
| JP4357870B2 (ja) | 顕微鏡ステージ用インキュベータ | |
| CN105549239B (zh) | 精密测长机的遮蔽装置 | |
| JP2001117016A (ja) | 検体温度管理器用プロテクターと、検体温度管理器 | |
| JP2002303799A (ja) | 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 | |
| US20090153875A1 (en) | Coordinate measuring machine with temperature adapting station | |
| KR101966140B1 (ko) | 유체조화장치 및 이를 구비한 온실 | |
| US20130242271A1 (en) | Projection display device | |
| KR102419360B1 (ko) | 일정 노점을 갖는 공기의 공급이 가능한 연료전지용 가습장치 | |
| US11925931B2 (en) | Humidified sample preparation station for serial crystallography |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040916 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070622 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070814 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071011 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071106 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080219 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080311 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080408 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080418 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140425 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |