JP2003078361A - 電源回路及び半導体装置 - Google Patents

電源回路及び半導体装置

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JP2003078361A
JP2003078361A JP2001263490A JP2001263490A JP2003078361A JP 2003078361 A JP2003078361 A JP 2003078361A JP 2001263490 A JP2001263490 A JP 2001263490A JP 2001263490 A JP2001263490 A JP 2001263490A JP 2003078361 A JP2003078361 A JP 2003078361A
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Hiroshi Kawamura
博司 川村
Hidenobu Ito
秀信 伊藤
Katsuya Shimizu
勝哉 清水
Hiroto Nakamichi
博人 中道
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】素子耐圧以上の電圧が印加されても正常に動作
しながら、チップ面積の増大及びコストの上昇を防止し
得る電源回路を提供する。 【解決手段】トランジスタTr1は、入力される直流電圧
VCHを内部電源Voとして出力し、クランプ回路1は直
流電圧VCHが過電圧となったとき活性化して、内部電源
Voを所定電圧にクランプする。ゲート電圧制御回路3
は、クランプ回路1の活性化に基づいて、過電圧を降圧
して内部電源Voとして供給するようにトランジスタT
r1のゲート電圧を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、過大な入力電圧
を所定電圧にクランプして出力する機能を備えた電源回
路に関するものである。
【0002】近年、電子機器の小型化、低価額化によ
り、電源回路用ICチップも小型化及び低価額化が要求
されている。そこで、電源用ICチップの製造コストの
低減及びチップ面積の縮小が必要となっている。
【0003】
【従来の技術】従来、例えば携帯用電子機器の充電器に
使用される電源用ICチップでは、最大定格電圧の仕様
により、内部回路を構成する素子の耐圧が決定され、そ
の素子耐圧に適合した製造プロセスが採用される。
【0004】一般的に、チップ内に形成される素子を高
耐圧化すると、素子面積が増大して、チップ面積が増大
するとともに、製造プロセスも複雑化する。従って、チ
ップを高耐圧化すると、コストが上昇する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のような電源用I
Cチップに、誤って最大定格電圧以上の電源電圧が印加
されると、内部素子が破壊されることがある。そこで、
最大定格電圧以上の電源電圧が印加された場合にも内部
素子の破壊を防止するためには、内部素子を高耐圧化す
る必要がある。
【0006】しかし、内部素子を高耐圧化すると、チッ
プの大型化及び製造コストの上昇を招くという問題点が
ある。この発明の目的は、素子耐圧以上の電圧が印加さ
れても正常に動作しながら、チップ面積の増大及びコス
トの上昇を防止し得る電源回路を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】図1は、本発明の原理説
明図である。トランジスタTr1は、入力される直流電圧
VCHを内部電源Voとして出力し、クランプ回路1は前
記直流電圧VCHが過電圧となったとき活性化して、前記
内部電源Voを所定電圧にクランプする。ゲート電圧制
御回路3は、前記クランプ回路1の活性化に基づいて、
前記過電圧を降圧して前記内部電源Voとして供給する
ように前記トランジスタTr1のゲート電圧を制御する。
【0008】また、図2に示すように、PチャネルMO
SトランジスタTr1のソースに直流電圧VCHが供給さ
れ、前記PチャネルMOSトランジスタTr1のドレイン
から出力される直流電圧が過電圧となったときクランプ
回路を構成するツェナーダイオードZD1が導通し、前
記ツェナーダイオードZD1の導通に基づいてトランジ
スタTr4がオンされ、前記トランジスタTr4のオン動作
に基づいてカレントミラー回路が活性化されて、前記P
チャネルMOSトランジスタTr1のゲート電位が引き上
げられ、前記直流電圧VCHが降圧されて内部電源Voと
して出力される。
【0009】また、図3に示すように、直流電圧VCHが
過電圧となるとき、トランジスタTr1のソースには、直
流電圧VCHを降圧した直流電圧が供給される。
【0010】
【発明の実施の形態】(第一の実施の形態)図2は、こ
の発明を具体化した電源回路の第一の実施の形態を示
す。この電源回路は、携帯電話等のバッテリーを充電す
る充電回路に電源を供給するものであり、直流電圧VCH
の供給に基づいて、充電回路に内部電源Voを出力す
る。
【0011】直流電圧VCHは、PチャネルMOSトラン
ジスタTr1のソース及びカレントミラー回路を構成する
PNPトランジスタTr2,Tr3のエミッタに供給され
る。前記トランジスタTr1のドレインは、ダイオードD
1のアノードに接続され、そのダイオードD1のカソー
ドはツェナーダイオードZD1のカソードに接続され
る。
【0012】前記ツェナーダイオードZD1のアノード
は、NPNトランジスタTr4のコレクタ及びベースに接
続され、同トランジスタTr4のエミッタは抵抗R1を介
してグランドGNDに接続される。
【0013】そして、前記ダイオードD1,ツェナーダ
イオードZD1,トランジスタTr4及び抵抗R1により
クランプ回路1が構成される。前記トランジスタTr2,
Tr3のベースは互いに接続されるとともに、トランジス
タTr3のコレクタに接続される。前記トランジスタTr1
のゲートは、前記トランジスタTr2のコレクタに接続さ
れるとともに、抵抗R2を介してグランドGNDに接続
される。
【0014】前記トランジスタTr3のコレクタは、抵抗
R3を介してNPNトランジスタTr5のコレクタに接続
され、そのトランジスタTr5のエミッタは抵抗R4を介
してグランドGNDに接続される。
【0015】前記トランジスタTr5のベースは、前記ト
ランジスタTr4のベースに接続され、トランジスタTr
4,Tr5はカレントミラー回路を構成する。そして、前
記トランジスタTr1のドレインから内部電源Voが出力
される。
【0016】次に、上記のように構成された電源回路の
動作を説明する。直流電圧VCHとして、例えば5.5V
の通常電圧が供給されると、トランジスタTr1のゲート
電位はグランドGNDレベルまで低下して、同トランジ
スタTr1がオンされる。
【0017】すると、直流電圧VCHからダイオードD1
の順方向電圧降下分低下した電圧がツェナーダイオード
ZD1に印加されるが、この電圧ではツェナーダイオー
ドZD1は不導通状態に維持される。
【0018】従って、トランジスタTr4,Tr5はオン動
作せず、トランジスタTr2,トランジスタTr3も動作し
ない。この結果、直流電圧VCHがトランジスタTr1を介
して内部電源Voとして供給される。
【0019】直流電圧VCHとして過電圧が供給される
と、トランジスタTr1及びダイオードD1を介してツェ
ナーダイオードZD1に過電圧が印加される。すると、
ツェナーダイオードZD1が導通してトランジスタTr4
がオンされ、同時にトランジスタTr5がオンされる。
【0020】トランジスタTr5のオン動作に基づいてト
ランジスタTr3がオンされ、同時にトランジスタTr2が
オンされる。すると、トランジスタTr2のコレクタ電流
が抵抗R2に流れるため、トランジスタTr1のゲート電
位が上昇し、トランジスタTr1のドレイン電流が減少す
る。
【0021】このとき、直流電圧VCHが高くなるほどト
ランジスタTr4のコレクタ電流I1が増大し、これにと
もなってトランジスタTr5,Tr3のコレクタ電流I2が
増大する。電流I2の増大にともなってトランジスタT
r2のコレクタ電流I3が増大し、これにともなってトラ
ンジスタTr1のゲート電位が上昇する。
【0022】また、直流電圧VCHが低くなるほどトラン
ジスタTr4のコレクタ電流I1が減少し、これにともな
ってトランジスタTr5,Tr3のコレクタ電流I2が減少
する。電流I2の減少にともなってトランジスタTr2の
コレクタ電流I3が減少し、これにともなってトランジ
スタTr1のゲート電位が低下する。
【0023】このような動作により、直流電圧VCHとし
て過電圧が供給されたとき、その過電圧の変化に関わら
ず、内部電源Voはカレントミラー回路で設定された電
流に基づいて、所定電圧にクランプされた状態で一定に
維持される。
【0024】また、トランジスタTr1のソース・ドレイ
ン間電圧は、直流電圧VCHと内部電源Voとの電位差と
なるため、トランジスタTr1のソース・ドレイン間の耐
圧以下に維持することができる。トランジスタTr1のソ
ース・ゲート間電圧は、抵抗R2により、ソース・ゲー
ト間の耐圧以下に維持することができる。
【0025】また、トランジスタTr5のコレクタ・エミ
ッタ間電圧は、抵抗R3によりその耐圧以下に維持され
る。上記のように構成された電源回路では、次に示す作
用効果を得ることができる。 (1)直流電圧VCHとして、通常電圧が供給されると
き、ほぼ直流電圧VCHを内部電源Voとして供給するこ
とができる。 (2)直流電圧VCHとして、過電圧が供給されるとき、
その過電圧をあらかじめ設定した所定のクランプ電圧に
降圧して、内部電源Voとして供給することができる。 (3)直流電圧VCHとして、過電圧が供給されても、内
部電源Voとして過電圧を供給することはない。また、
この電源回路自身の各素子の過電圧による破壊を防止す
ることができる。従って、この電源回路及び内部回路を
搭載したチップを高耐圧化する必要はないので、チップ
面積の増大及び製造コストの上昇を防止することができ
る。 (4)トランジスタTr1と、クランプ回路1と、カレン
トミラー回路とにより、クランプ機能を備えた電源回路
を簡便な構成で実現することができる。 (第二の実施の形態)図3は、第二の実施の形態を示
す。この実施の形態は、前記第一の実施の形態の電源回
路にPチャネルMOSトランジスタTr6、ダイオードD
2,D3及び切換信号発生回路2を付加したものであ
る。
【0026】前記トランジスタTr6は、直流電圧VCHと
前記トランジスタTr1のソースとの間に介在され、直列
に接続された前記ダイオードD2,D3は、トランジス
タTr6のソース・ドレイン間に並列に接続される。
【0027】前記切換信号発生回路2の具体的構成を図
4に従って説明する。直流電圧VCHは、PチャネルMO
SトランジスタTr7のソースに供給され、同トランジス
タTr7のドレインは抵抗R5を介してグランドGNDに
接続される。そして、トランジスタTr7のドレインから
前記トランジスタTr6のゲートに制御信号Gが出力され
る。
【0028】前記直流電圧VCHは、ダイオードD4のア
ノードに供給され、そのダイオードD4のカソードは、
ツェナーダイオードZD2のカソードに接続され、その
ツェナーダイオードZD2のアノードは前記トランジス
タTr7のドレインに接続される。
【0029】前記直流電圧VCHは、抵抗R6を介して前
記トランジスタTr7のゲートに供給され、同トランジス
タTr7のゲートはツェナーダイオードZD3のカソード
に接続される。そして、ツェナーダイオードZD3のア
ノードは内部電源Voに接続される。
【0030】上記のように構成された電源回路では、直
流電圧VCHとして通常電圧が供給されると、切換信号発
生回路2ではツェナーダイオードZD2,ZD3は不導
通となり、トランジスタTr7はオフされる。すると、制
御信号GはグランドGNDレベルとなるため、トランジ
スタTr6はオンされる。
【0031】この状態では、直流電圧VCHがトランジス
タTr6を介してトランジスタTr1のソースに供給され、
前記第一の実施の形態と同様に動作する。直流電圧VCH
として過電圧が供給されると、切換信号発生回路2では
ツェナーダイオードZD2,ZD3が導通し、抵抗R6
による電圧降下によりトランジスタTr7がオンされる。
【0032】すると、制御信号Gはほぼ直流電圧VCHレ
ベルとなるため、トランジスタTr6はオフされる。ダイ
オードD4及びツェナーダイオードZD2の動作によ
り、制御信号Gの最低電圧は、直流電圧VCHからダイオ
ードD4の順方向電圧降下分低下した電圧となる。
【0033】この状態では、直流電圧VCHがダイオード
D2,D3を介してトランジスタTr1のソースに供給さ
れること以外は、前記第一の実施の形態と同様に動作す
る。上記のように構成された電源回路では、前記第一の
実施の形態で得られた作用効果に加えて、次に示す作用
効果を得ることができる。 (1)直流電圧VCHとして過電圧が供給されるとき、ト
ランジスタTr1のソースには直流電圧VCHからダイオー
ドD2,D3の順方向電圧降下分低下した電圧が印加さ
れる。従って、前記第一の実施の形態に比して、さらに
高電圧の直流電圧VCHが供給されても、過電圧による素
子の破壊を防止しながら、所定電圧の内部電源Voを供
給することができる。 (第三の実施の形態)図5は、第三の実施の形態を示
す。この実施の形態は、前記第一の実施の形態のクラン
プ回路1を構成するダイオードD1及びツェナーダイオ
ードZD1を、抵抗R1とグランドGNDとの間に移
し、トランジスタTr5のエミッタは抵抗R4を介してダ
イオードD1のアノードに接続し、かつ抵抗R3を省略
した構成である。
【0034】このように構成された電源回路では、直流
電圧VCHとして通常電圧が供給されるときには、ツェナ
ーダイオードZD1が不導通となるため、トランジスタ
Tr2〜Tr5が動作せず、第一の実施の形態と同様に、直
流電圧VCHが内部電源Voとして出力される。
【0035】直流電圧VCHとして過電圧が供給されると
き、ツェナーダイオードZD1が導通して、トランジス
タTr2〜Tr5が動作し、直流電圧VCHを所定電圧にクラ
ンプした内部電源Voが出力される。
【0036】このとき、抵抗R4がダイオードD1のア
ノードに接続されているため、第一及び第二の実施の形
態に比してトランジスタTr5のエミッタ電位が上昇す
る。上記のように構成された電源回路では、前記第一の
実施の形態で得られた作用効果に加えて、次に示す作用
効果を得ることができる。 (1)抵抗R4がダイオードD1のアノードに接続され
ているため、トランジスタTr5のエミッタ電位が上昇す
る。従って、第一の実施の形態では、トランジスタTr5
のコレクタ・エミッタ間電圧を素子耐圧以下に維持する
ために抵抗R3が必要であったが、この実施の形態で
は、抵抗R3を省略しても、トランジスタTr5のコレク
タ・エミッタ間電圧を素子耐圧以下に維持することがで
きる。 (第四の実施の形態)図6は、第四の実施の形態を示
す。この実施の形態は、前記第三の実施の形態のトラン
ジスタTr1のドレインとトランジスタTr4のコレクタと
の間にダイオードD5を介在させ、かつ抵抗R1とツェ
ナーダイオードZD1との間のダイオードD1を省略し
た構成としたものである。
【0037】このような構成により、トランジスタTr2
〜Tr5のカレントミラー回路が動作し始めるとき、トラ
ンジスタTr5の飽和が防止される。すなわち、前記第三
の実施の形態では、トランジスタTr2〜Tr5のカレント
ミラー回路が動作し始めるとき、トランジスタTr5のコ
レクタ電位は直流電圧VCHからトランジスタTr2あるい
は同Tr3のベース・エミッタ間電圧降下VBE分低下した
電位となり、トランジスタTr5のベース電位はほぼ直流
電圧VCHとなる。
【0038】この結果、トランジスタTr5のコレクタと
エミッタはほぼ同電位となってトランジスタTr5が飽和
し、トランジスタTr2の動作が遅延して、トランジスタ
Tr1のゲート電位の上昇が遅延する。
【0039】この実施の形態では、ダイオードD5を設
けたことにより、トランジスタTr2〜Tr5のカレントミ
ラー回路が動作し始めるとき、トランジスタTr5のエミ
ッタ電位をコレクタ電位よりダイオードD5の順方向電
圧降下分低下させて、トランジスタTr5の飽和を防止す
るようにしたものである。
【0040】従って、第三の実施の形態に比して、カレ
ントミラー回路の動作速度を向上させて、内部電源Vo
を速やかに安定させることができる。上記実施の形態
は、次に示すように変更することもできる。 ・第一及び第三の実施の形態におけるダイオードD1
は、クランプ電圧を調整するために任意の個数に変更し
てもよい。 ・第二の実施の形態におけるダイオードD2,D3は、
トランジスタTr1のソースに供給する直流電圧を調整す
るために任意の個数に変更してもよい。 ・第四の実施の形態におけるダイオードD5は、トラン
ジスタTr5のベース電位を調整するために、任意の個数
に変更してもよい。 ・前記各実施の形態のダイオード及びツェナーダイオー
ドは、同様に動作する他の素子に変更してもよい。 ・カレントミラー回路を構成する各バイポーラトランジ
スタをFETで構成してもよい。 ・前記各実施の形態では、カレントミラー回路の電流比
を1:1としたが、任意の電流比に変更してもよい。 ・前記各実施の形態において、トランジスタTr1をバイ
ポーラトランジスタで構成してもよい。
【0041】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明は素子耐
圧以上の電圧が印加されても正常に動作しながら、チッ
プ面積の増大及びコストの上昇を防止し得る電源回路を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理説明図である。
【図2】 第一の実施の形態を示す回路図である。
【図3】 第二の実施の形態を示す回路図である。
【図4】 第二の実施の形態の切換信号発生回路を示す
回路図である。
【図5】 第三の実施の形態を示す回路図である。
【図6】 第四の実施の形態を示す回路図である。
【符号の説明】
1 クランプ回路 3 ゲート電圧制御回路 Tr1 トランジスタ Vo 内部電源 VCH 直流電圧
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 秀信 愛知県春日井市高蔵寺町二丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内 (72)発明者 清水 勝哉 愛知県春日井市高蔵寺町二丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内 (72)発明者 中道 博人 鹿児島県薩摩郡入来町副田5950番地 株式 会社九州富士通エレクトロニクス内 Fターム(参考) 5J055 AX37 BX17 CX07 DX14 DX55 EX06 EY01 EY12 EY13 EY17 EY21 EZ00 EZ04 EZ16 FX19 FX31 GX01 5J091 AA03 AA58 CA57 CA92 FA01 GP02 HA08 HA10 HA18 HA19 HA20 HA25 KA09 KA12 KA21 MA21 SA00 5J500 AA03 AA58 AC57 AC92 AF01 AH08 AH10 AH18 AH19 AH20 AH25 AK09 AK12 AK21 AM21 AS00 PG02

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力される直流電圧を内部電源として出
    力するトランジスタと、 前記直流電圧が過電圧となったとき活性化して、前記内
    部電源を所定電圧にクランプするクランプ回路と、 前記クランプ回路の活性化に基づいて、前記過電圧を降
    圧して前記内部電源として供給するように前記トランジ
    スタのゲート電圧を制御するゲート電圧制御回路とを備
    えたことを特徴とする電源回路。
  2. 【請求項2】 前記トランジスタは、そのソースに前記
    直流電圧が供給されるPチャネルMOSトランジスタで
    構成し、 前記クランプ回路は、 前記PチャネルMOSトランジスタのドレインから出力
    される直流電圧が過電圧となったとき導通するツェナー
    ダイオードと、 前記ツェナーダイオードの導通に基づいて、オン動作す
    るトランジスタとから構成し、 前記ゲート電圧制御回路は、 前記クランプ回路のトランジスタのオン動作に基づいて
    活性化して、前記PチャネルMOSトランジスタのゲー
    ト電位を上昇させるカレントミラー回路で構成したこと
    を特徴とする請求項1記載の電源回路。
  3. 【請求項3】 前記クランプ回路は、ダイオードと、前
    記ツェナーダイオードと、ダイオード接続した第一のN
    PNトランジスタとを直列に接続して構成し、 前記カレントミラー回路は、前記第一のNPNトランジ
    スタと共通のベース電位で動作する第二のNPNトラン
    ジスタと、該第二のNPNトランジスタのコレクタ電流
    に基づいてカレントミラー動作する一対のPNPトラン
    ジスタで構成したことを特徴とする請求項2記載の電源
    回路。
  4. 【請求項4】 前記PチャネルMOSトランジスタのソ
    ースには、降圧用ダイオードを介して前記直流電圧を供
    給し、前記ダイオードには前記直流電圧として通常電圧
    が供給されたとき前記降圧用ダイオードを短絡するスイ
    ッチ回路を並列に接続したことを特徴とする請求項2ま
    たは3記載の電源回路。
  5. 【請求項5】 前記ツェナーダイオードは、前記第一及
    び第二のNPNトランジスタのエミッタとグランドとの
    間に介在させたことを特徴とする請求項2乃至4のいず
    れかに記載の電源回路。
  6. 【請求項6】 前記クランプ回路を構成するダイオード
    は、前記PチャネルMOSトランジスタのドレインと、
    前記第一のNPNトランジスタのコレクタとの間に介在
    させたことを特徴とする請求項3乃至5のいずれかに記
    載の電源回路。
  7. 【請求項7】 前記請求項1乃至6のいずれかに記載の
    電源回路を備えた半導体装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010123743A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Sanyo Electric Co Ltd 半導体集積回路

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7068098B1 (en) * 2002-11-25 2006-06-27 National Semiconductor Corporation Slew rate enhancement circuit
JP4148162B2 (ja) 2004-03-05 2008-09-10 株式会社デンソー 回路システム
JP4490719B2 (ja) * 2004-04-02 2010-06-30 東芝モバイルディスプレイ株式会社 液晶表示装置
US7220953B2 (en) * 2005-03-18 2007-05-22 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Photodiode circuit with improved response time
US7843246B2 (en) * 2008-11-12 2010-11-30 Texas Instruments Incorporated Clamp control circuit having current feedback
US9189007B2 (en) 2011-03-10 2015-11-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Power supply regulator
JP2012209762A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Hitachi Ltd レベル生成回路
TWI672576B (zh) * 2017-05-02 2019-09-21 立積電子股份有限公司 帶差參考電路、電壓產生器及其電壓控制方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4567381A (en) * 1983-12-01 1986-01-28 Rca Corporation Bias network having one mode for producing a regulated output
US4885484A (en) * 1988-07-05 1989-12-05 Motorola, Inc. Voltage clamped differential to single ended converter circuit
JPH0697739B2 (ja) * 1989-12-21 1994-11-30 株式会社東芝 過電圧保護回路
FR2693853B1 (fr) * 1992-07-16 1994-10-21 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de protection d'un composant de puissance contre des surtensions directes.
JP3319050B2 (ja) * 1993-06-29 2002-08-26 カシオ計算機株式会社 走行状態検出装置
JP3335754B2 (ja) * 1994-03-16 2002-10-21 三菱電機株式会社 定電圧発生回路
US6078204A (en) * 1996-12-19 2000-06-20 Texas Instruments Incorporated High current drain-to-gate clamp/gate-to-source clamp for external power MOS transistors
JP3706515B2 (ja) * 1998-12-28 2005-10-12 矢崎総業株式会社 電源供給制御装置および電源供給制御方法
JP2000299924A (ja) * 1999-02-14 2000-10-24 Yazaki Corp 電源供給制御装置及び方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010123743A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Sanyo Electric Co Ltd 半導体集積回路

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