JP2003077168A - 収差検出方法、光情報処理方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】従来において検出が困難であった収差を適切に
検出できるようし、収差に原因して光記録媒体へのデー
タの記録や再生処理に不具合が発生することを簡易な手
段によって適切に解消することができるようにする。 【解決手段】光源６０から発せられた光ビームを複数の
ピットを備えた光記録媒体Ｄに照射させる光ビーム照射
手段６と、光記録媒体Ｄからの反射光を受ける光検出器
２０と、を有している、光情報処理装置であって、光検
出器２０は、上記反射光中にトラック方向とトラッキン
グ方向とに分かれた４以上の干渉光が含まれているとき
にこれらのうちの少なくとも４つの干渉光を個別に受光
可能な複数の光検知領域ａ〜ｐを有しており、複数の光
検知領域ａ〜ｐで受光された干渉光の強度差に基づいて
所定の収差を検出可能な収差検出手段２１，２４ｂ，２
４ｃ，２５を備えている。好ましくは、上記収差検出手
段によって検出された収差に基づいて、上記光源６０の
出力を調整する光ビーム出力調整手段５を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本願発明は、ＣＤやＤＶＤに
代表される光ディスクなどの光記録媒体へのデータ記録
または再生を行なう際に適用される技術、さらに詳しく
は、非点収差やその他の所定の収差に起因してデータの
記録・再生処理に不具合を生じないようにするための技
術に関する。

【０００２】

【従来の技術】周知のとおり、光ディスクにデータを記
録し、あるいはデータの再生を行なうときには、レーザ
光を対物レンズによって集束させることにより光ディス
クの記録層上に光スポットを形成している。このとき、
基板の厚みに原因する収差、フォーカスエラーに原因す
る収差、非点収差、光ディスクとレーザ光の光軸とのチ
ルトに起因するコマ収差、またはその他の収差を生じる
場合がある。このような収差が発生すると、光スポット
のピーク強度が低下する。ここで、本明細書でいう光ス
ポットのピーク強度とは、一定の広さをもつ光スポット
の各部のうち、最も光束密度が高くなっている箇所の光
の強度、すなわち、光スポットがもつ最大の光の強度を
意味している。たとえば、ＭＳＲ（Magnetically Induc
ed Super Resolution:磁気超解像）による光磁気媒体
（以下「ＭＳＲ媒体」という）においては、情報の再生
が光スポットの中心の高温部分においてのみ行なわれ
る。したがって、上記したような収差に起因して光のピ
ーク強度が低下することは、データ再生を適正に行なう
上で好ましくない。そこで、従来においては、所定の収
差を検出するための手段として、次に述べるような手段
がある（たとえば、特開２０００−２１０１４号、特開
２０００−５７６１６号）。

【０００３】すなわち、光ディスクのデータ記録方式と
しては、図２１（ａ）に示すように、複数のランドＬお
よびグルーブＧをトラッキング方向（トラック方向と直
交する方向であり、光ディスクの場合のラジアル方向と
同意である。トラック方向は、トラックが延びる方向で
あり、光ディスクの場合のタンジェンシャル方向と同意
である）に交互に並べて設けたランド／グルーブ方式が
採用される場合がある。このような場合において、対物
レンズ（図示略）によって集束されるレーザ光を、ラン
ドＬまたはグループＧに照射すると、その反射光として
は、０次光Ｒoと２つの１次光Ｒｅ，Ｒｆとが干渉し合
う干渉光Ｉｅ，Ｉｆが発生し得る。０次光Ｒo は、ラン
ドＬまたはグルーブＧへの光の照射光路をたどるように
反射される非回折光である。これに対し、２つの１次光
Ｒｅ，Ｒｆは、ランドＬおよびグループＧがトラッキン
グ方向に並んでいることに起因して生じる１次の回折光
であり、トラッキング方向に並ぶ。

【０００４】従来においては、上記反射光に含まれてい
る２つの干渉光Ｉｅ，Ｉｆに基づいて収差を検出してい
る。たとえば、同図（ｂ）に示すように、光検出器９と
しては、干渉光Ｉｅ，Ｉｆに対応した全体形状をもつ複
数の光検知領域９０ａ〜９０ｄを備えたものを使用し、
この光検出器９によって上記反射光を受光させる。一
方、たとえば収差が発生している場合には、同図（ａ）
に示した干渉光Ｉｅ，１ｆの各部の強度は一様ではなく
なる。その際の、光の強度分布は、収差の種類に特有の
分布となる。したがって、光検出器９をそのような強度
分布に対応する複数のグループ（たとえば同図の符号Ａ
ａ，Ｂａで示す２つのグループ）に区分し、かつそれら
のグループで受けた光の量の差分をとれば、これにより
所定の種類の収差を検出することが可能となる。

【０００５】従来においては、上記した手段を用いて収
差を検出したときには、光学的な手段を用いることによ
って、その収差を無くし、または少なくするための補正
処理を行なっていた。たとえば、特開２０００−５７６
１６号においては、光ディスクに対向する箇所に液晶パ
ネルを設けて、この液晶パネルを利用してレーザ光の位
相に変更を加えることにより、収差を少なくしている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、次に述べるような問題点があった。

【０００７】すなわち、従来においては、トラッキング
方向に並ぶ２つの干渉光Ｉｅ，Ｉｆに基づいて収差の判
断を行なうにとどまっている。このため、たとえばデフ
ォーカスに起因する収差、基板の厚み変動に起因する収
差、チルトエラーに起因するコマ収差、およびその他の
所定の収差については検出することが可能ではあるもの
の、これらとは別のたとえば非点収差を正確に検出する
ことはできない。レーザ光源としては、半導体レーザが
用いられるのが通例であるが、この半導体レーザから発
せられるレーザ光には、非点隔差（レーザ光の放射波面
の互いに直交するｘ方向とｙ方向とでは光の広がり角度
が異なることにより、仮想放射原点がずれて見える）が
あり、光ディスク上に形成される光スポットには非点収
差が発生する場合がある。この非点収差は、２つの焦点
をもち、これら２つの焦点の中間部分が最も光の強度が
高い部分となる。ところが、従来技術においては、その
ような非点収差を的確に判断することは難しいものとな
っていた。また、従来技術においては、たとえばチルト
エラーに起因する収差として、ラジアルチルトエラーと
タンジェンシャルチルトエラーとを検出することはでき
るものの、これらの検出もトラッキング方向に並ぶ２つ
の干渉光に基づいて行なわれるに過ぎない。したがっ
て、その検出精度を高める観点からすれば、改善の余地
があった。

【０００８】さらに、上記従来技術においては、収差を
検出した場合には、この収差を光学的手段によって無く
そうとしているが、光学的手段によって収差を充分に無
くすことが難しい場合がある。また、仮に収差を充分に
無くすことができるとしても、そのためには高価な光学
機器を用いなければならない場合もあり、この場合には
コスト的な不利を招いてしまう。

【０００９】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、従来において検出が困難であっ
た収差を高価な光学機器を別途用いるようなことなく適
切に検出できるようにすることをその課題としている。
また、本願発明は、収差に原因して光記録媒体へのデー
タの記録や再生処理に不具合が発生することを簡易な手
段によって適切に解消することができるようにすること
を他の課題としている。

【００１０】

【発明の開示】上記の課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。

【００１１】本願発明の第１の側面によって提供される
収差検出方法は、光記録媒体の記録層に光ビームを照射
したときの反射光中に含まれている干渉光に基づいて所
定の収差を検出する方法であって、上記光記録媒体の記
録層には、マトリクス状に配列された複数のピットを設
けておくことにより、上記反射光中にはトラック方向お
よびトラッキング方向に分かれた４以上の干渉光を発生
させ、かつこれら４以上の干渉光の強度分布に基づいて
上記収差を検出することを特徴としている。

【００１２】このような構成によれば、トラック方向お
よびトラッキング方向に分かれた４以上の干渉光に基づ
いて収差を検出するために、従来のトラッキング方向に
分かれた２つの干渉光のみに基づいて収差を検出する場
合と比較すると、干渉光の強度分布をより精密に、かつ
正確に分析することが可能となる。このため、従来技術
では検出が困難であった収差、たとえば非点収差の検出
が可能となったり、あるいは非点収差以外の種類の収差
の検出精度を従来よりも高めることができるといった効
果が得られる。

【００１３】本願発明の好ましい実施の形態において
は、上記複数のピットは、トラック方向およびトラッキ
ング方向に対して傾きをもって互いに直交する２方向に
列状に並ぶ配列とする。このような構成によれば、上記
複数のピットのトラック方向における配列ピッチは、上
記２方向における配列ピッチよりも小さくなる。したが
って、上記構成によれば、光記録媒体のトラックピッチ
を小さくするのに有利となる。

【００１４】本願発明の第２の側面によって提供される
光情報処理方法は、光記録媒体の記録層に光ビームを照
射することにより、上記記録層への情報の記録または再
生を行なうための光情報処理方法であって、上記光記録
媒体の記録層には、マトリクス状に配列された複数のピ
ットを設けておくことにより、上記複数のピットに光ビ
ームを照射したときに、その反射光中にトラック方向お
よびトラッキング方向に分かれて発生した４以上の干渉
光の強度分布に基づいて所定の収差を検出し、かつこの
収差の内容に基づいて上記光ビームの強度を調整するこ
とにより、上記記録層上に形成される光スポットのピー
ク強度を一定以上に維持することを特徴としている。

【００１５】このような構成によれば、本願発明の第１
の側面によって提供される収差検出方法と同様な原理に
より、所定の収差を適切に検出できるのに加え、収差に
起因して光スポットのピーク強度に不足を生じないよう
にすることができる。したがって、収差が存在する場合
であっても、光記録媒体の記録層の発熱温度を補償する
ことが可能となり、データの書き込みや読み出し処理に
不具合を生じないようにすることができる。また、上記
構成においては、光スポットのピーク強度を一定以上に
維持する手段として、光記録媒体に導かれる光ビームの
強度を調整する手段を採用しているために、従来とは異
なり、収差を無くすための高価な光学機器を用いるとい
った必要を無くし、装置のコストを低く抑えることが可
能となる。また、従来とは異なり、収差を無くすための
複雑なデータ処理を行なう必要も無くなる。

【００１６】本願発明の好ましい実施の形態において
は、上記記録層に光ビームを照射するときには、上記光
スポットのピーク強度が最大となる位置に上記光記録媒
体の記録層を配置させるフォーカス制御を行なう。この
ような構成によれば、収差に起因して光ビームの強度が
低下するときの低下量を最小限に抑えることが可能とな
り、光ビームのエネルギロスを少なくするのに好ましい
ものとなる。

【００１７】本願発明の第３の側面によって提供される
光情報処理装置は、光源を有し、かつこの光源から発せ
られた光ビームを複数のピットを備えた光記録媒体に照
射させる光ビーム照射手段と、上記光記録媒体からの反
射光を受ける光検出器と、を有している、光情報処理装
置であって、上記光検出器は、上記反射光中にトラック
方向とトラッキング方向とに分かれた４以上の干渉光が
含まれているときにこれらのうちの少なくとも４つの干
渉光を個別に受光可能な複数の光検知領域を有してお
り、上記複数の光検知領域で受光された干渉光の強度差
に基づいて所定の収差を検出可能な収差検出手段を備え
ていることを特徴としている。

【００１８】このような構成によれば、本願発明の第１
の側面によって提供される収差検出方法を適切に実施す
ることができ、第１の側面によって得られるのと同様な
効果が期待できる。

【００１９】本願発明の好ましい実施の形態において
は、上記収差検出手段によって検出された収差に基づい
て、上記光源の出力を調整する光ビーム出力調整手段を
備えている。このような構成によれば、本願発明の第２
の側面によって提供される光情報処理方法を適切に実施
することができ、第２の側面によって得られるのと同様
な効果が期待できる。

【００２０】本願発明の他の好ましい実施の形態におい
ては、上記光ビームを集束させるための対物レンズをフ
ォーカス方向に移動自在なフォーカス制御手段を具備し
ており、かつこのフォーカス制御手段は、上記光記録媒
体の記録層上に形成される光スポットのピーク強度が最
大となる位置に上記光記録媒体の記録層を配置させる制
御を行なうように構成されている。このような構成によ
れば、光ビームのエネルギロスを少なくすることができ
る。

【００２１】本願発明の他の好ましい実施の形態におい
ては、上記光検出器の複数の光検出領域は、互いに異な
る第１のパターンおよび第２のパターンで２つずつのグ
ループに分けられており、かつ上記収差検出手段は、上
記第１のパターンにおける２つのグループの受光量の差
と、上記第２のパターンにおける２つのグループの受光
量の差とに基づいて、非点収差の有無および非点収差に
起因する光量の低下度合いを判断できるように構成され
ている。

【００２２】上記非点収差に起因する光量の低下度合い
は、上記光検出器から出力される所定の信号に基づいて
一定の演算処理を行なうことにより求められるように構
成されている。このような構成によれば、上記光量の低
下度合いを求める処理が容易化される。

【００２３】本願発明の他の好ましい実施の形態におい
ては、上記光検出器の複数の光検知領域は、上記反射光
の周縁部に位置する第１のグループと、この第１グルー
プよりも上記反射光の中心部寄りに位置する第２のグル
ープとに分けられ、かつこれら第１および第２のグルー
プのそれぞれによる受光量が等しいときに上記光スポッ
トのピーク強度が最大となるように構成されている。こ
のような構成によれば、上記第１および第２のグループ
のそれぞれによる受光量が等しくなるようにフォーカス
制御を行なえば、光スポットのピーク強度を最大にする
ことが可能となり、その制御が容易化される。

【００２４】本願発明の他の好ましい実施の形態におい
ては、上記少なくとも４つの干渉光のトラック方向にお
ける光の強度差に対応するタンジェンシャルプシュプル
信号を生成するとともに、このタンジェンシャルプシュ
プル信号からクロック信号を生成する手段を有してい
る。このような構成によれば、上記クロック信号を利用
して種々のデータ処理を行なうことが可能となる。

【００２５】本願発明のその他の特徴および利点につい
ては、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明
らかになるであろう。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図面を参照しつつ具体的に説明する。

【００２７】図１および図２は、本願発明に係る収差検
出方法および光情報処理方法の適用対象となる光記録媒
体の一例としての光ディスクを示している。図１以降の
図面において、矢印Ｔｃはトラック方向、矢印Ｔｇはト
ラッキング方向、矢印Ｆｃはフォーカス方向をそれぞれ
示している。

【００２８】図１に示す光ディスクＤは、たとえば光磁
気ディスクとして構成されており、その両面または片面
には記録層Ｋが設けられ、螺旋状のトラックＴが形成さ
れている。記録層Ｋは、光ディスクＤの厚み方向に高低
差を有する複数ずつのランドＬおよびグルーブＧが形成
されたランド・グルーブ領域Ｚａと、複数のピット１が
マトリクス状に配されたピット形成領域Ｚｂとに大別さ
れる。符号Ｍは、ランド・グルーブ領域Ｚａに磁界変調
方式によって記録されたマークを示している。ピット形
成領域Ｚｂは、後述するように収差を検出するのに利用
される４つの干渉光を発生させるための領域であるとと
もに、トラッキング制御やクロック信号の生成の基準と
なるデータを得るための領域でもある。

【００２９】各ピット１は、たとえばその周辺部に対し
て段差を有する平面視略円形状の凸状である。ただし、
各ピット１の形状はこれに限定されず、たとえば矩形状
でもよい。各ピット１を凹状に形成することも可能であ
る。複数のピット１の配列に関する構成は、本実施形態
において重要であり、この点に関し、より詳細に説明す
る。

【００３０】まず、図２（a1）に示すように、トラッキ
ング方向に微細ピッチで並べられ、かつトラック方向に
長細に形成されたピット１Ａについて考察する。このピ
ット１Ａ上に対物レンズ（図示略）によって集束される
レーザ光を照射した場合には、図３（ａ）に示すよう
に、ピット１Ａからの反射光としては、０次光Ｒo と２
つの１次光Ｒｂ，Ｒｃとが干渉し合う干渉光Ｉｂ，Ｉｃ
がトラッキング方向に並ぶようにして発生し得る。これ
らの干渉光Ｉｂ，Ｉｃが発生する原理は、図２１を参照
して先に説明した内容と同様である。

【００３１】図２（a1）に示すピット１Ａの配列ピッチ
Ｐａを、Ｐａ＝λ／ＮＡとすると（λはレーザ光の波長
であり、ＮＡは対物レンズの開口数である) 、同図（b
1）に示すように、２つの１次光Ｒｂ，Ｒｃは互いに接
触する位置関係となる。これに対し、同図（a2）に示す
ように、ピット１Ａの配列ピッチを上記よりも小さい寸
法Ｐｂにすると、同図（b2）に示すように、２つの１次
光Ｒｂ, Ｒｃどうしは互いに離れ、２つの干渉光Ｉｂ,
Ｉｃのエリアが縮小化される。

【００３２】次に、同図（a3) に示すように、同図（a
2) に示されていたピット１Ａをトラッキング方向に並
ぶ複数のピット１A'として分断し、かつこれらをトラッ
ク方向およびトラッキング方向にピッチＰｂで等間隔に
並ぶマトリクス状に配列させた場合を考察する。この場
合には、図３（ｂ）に示すように、複数のピット１A'に
レーザ光を照射させると、トラック方向に並ぶ２つの１
次光Ｒａ, Ｒｄがさらに発生する。したがって、図２
（b3) に示すように、反射光中には、０次光Ｒo と４つ
の１次光Ｒａ〜Ｒｄとが干渉し合う４つの干渉光Ｉａ〜
Ｉｄが０次光Ｒo の周縁部においてトラック方向および
トラッキング方向に分かれて発生する。

【００３３】図２（a4) に示す複数のピット１A'は、同
図（a3) に示した複数のピット１A'の全体を矢印Ｎ１方
向に４５°回転させた配列となっている。このような構
成によれば、同図（b4) に示すように、４つの干渉光Ｉ
ａ〜Ｉｄも、同図（b3) に示した配置に対して４５°だ
け回転した配置となる。干渉光Ｉａ，Ｉｂと干渉光Ｉ
ｃ，ｄとは互いにトラッキング方向に分かれている一
方、干渉光Ｉａ，Ｉｃと干渉光Ｉｂ，Ｉｄとはトラック
方向に分かれている。

【００３４】図１に示した複数のピット１の配列は、図
２（a4) に示したピット１A'の配列と同様な配列であ
り、各ピット１は、トラック方向およびトラッキング方
向に対して４５°の傾きをもって互いに直交する２種類
の複数の直線Ｌ１，Ｌ２の各交点上に位置するように並
んでいる。したがって、複数のピット１のそれぞれに対
してレーザ光を照射させたときには、その反射光のなか
に、同図（b4) に示されたのと同様な位置関係を有する
４つの干渉光Ｉａ〜Ｉｄが含まれることとなる。

【００３５】図２（a4) における複数のピット１A'のト
ラッキング方向における配列ピッチＰｃは、同図（a3)
に示した配列ピッチＰｂの１／（２^1/2)であり、Ｐｂ＞
Ｐｃの関係となる。このことは、複数のピット１の配列
を図２（a4) に示すような配列とすれば、光ディスクＤ
のトラックＴのピッチを小さくできることを意味し、こ
のことによって光ディスクＤの記録容量を大きくするこ
とが可能となる。ただし、本願発明はこれに限定され
ず、複数のピット１の配列を、図２（a3) に示したピッ
ト１A'と同様な配列にすることもできる。

【００３６】図４は、本願発明に係る光情報処理装置の
一実施形態を示している。

【００３７】本実施形態の光情報処理装置Ｘは、上記し
た光ディスクＤを支持して高速回転させるスピンドルモ
ータＳＭ、光学系６、信号生成系２、アクチュエータ駆
動回路４、およびレーザパワー調整回路５を有してい
る。

【００３８】光学系６は、レーザ光源６０から発せられ
た光がコリメータレンズ６１によって平行化され、かつ
その後ハーフミラー６２を通過して対物レンズ６３に入
射するように構成されている。対物レンズ６３に入射し
たレーザ光は、光ディスクＤの記録層Ｋ上に光スポット
が形成されるように集束される。記録層Ｋによって反射
された反射光は、ハーフミラー６２を介して信号生成系
２に入射するように構成されている。

【００３９】信号生成系２は、光検出器２０、データ信
号生成部２１、Ａ／Ｄ変換回路２２、ＰＬＬ回路２３、
サンプルホールド回路２４ａ〜２４ｃ、および補正デー
タ生成回路２５を備えている。

【００４０】光検出器２０は、たとえば光電変換素子に
より構成されており、図５に示すように、上記反射光を
受けるための受光面２０ａを有している。この受光面２
０ａは、たとえば上記反射光と略同一径の円形状であ
り、略楕円状の４つのブロックＢａ〜Ｂｄに分けること
ができ、さらにそれらを４分割した計１６箇所の光検知
領域ａ〜ｐを有している。これらの光検知領域ａ〜ｐ
は、互いに同一または対称な形状であって、それらの面
積は同一に揃えられており、また干渉光Ｉａ〜Ｉｄ以外
の光（非干渉光）をできる限り受けないようにしてその
検出感度を高める観点から、受光面２０ａの中心部を避
けるようにして設けられている。ブロックＢａの光検知
領域ａ〜ｄは、干渉光Ｉａを受けるようになっている。
同様に、ブロックＢｂ〜Ｂｄのそれぞれの光検知領域ｅ
〜ｈ、光検知領域ｉ〜ｌ、および光検知領域ｍ〜ｐは、
干渉光Ｉｂ〜Ｉｄをそれぞれ受けるようになっている。
光検知領域ａ〜ｐが光を受けたときには、それらの光検
知領域ａ〜ｐごとにその受光量に対応した電圧レベルの
信号Ｓａ〜Ｓｐが出力されるように構成されている。

【００４１】データ信号生成部２１は、光検出器２０か
ら出力される信号Ｓａ〜Ｓｐに基づいて、次に述べるよ
うな信号Ｓ１〜Ｓ３、タンジェンシャルプシュプル信号
（以下「ＴＰＰ信号」という）、およびその他の信号を
生成する。

【００４２】信号Ｓ１は、光検出器２０の光検知領域ａ
〜ｐを、図６に示すように、受光面２０ａの外周寄りの
グループＡ１（クロスハッチング部分）と、中心寄りの
グループＢ１（網点模様部分）とに分けた場合におい
て、それら２つのグループＡ１，Ｂ１のそれぞれの受光
量の差分に相当する出力ベルを有する信号である。すな
わち、Ｓ１＝Ａ１−Ｂ１の関係にある（ただし、この式
において、Ｓ１は信号Ｓ１のレベルであり、Ａ１，Ｂ１
はグループＡ１，Ａ２のそれぞれから出力される信号の
レベルである）。

【００４３】この信号Ｓ１を利用すれば、光ディスクＤ
に照射されるレーザ光が、図９に示すような非点光線束
である場合に、２つの焦点ｆ１，ｆ２（ｆ１：子午像
点，ｆ２：球欠像点）の中間点Ｐ０が光ディスクＤの記
録層に合っているか否か、および合っていない場合のズ
レ量およびそのズレの方向を検出することができる。す
なわち、非点光線束の場合、焦点ｆ１における光スポッ
トはｘ−ｘ’方向に延びた線状または楕円状となる一
方、焦点ｆ２における光スポットは上記方向に交差する
ｙ−ｙ’方向に延びた線状または楕円状となる。このた
め、光ディスクＤの記録層に焦点ｆ１または焦点ｆ２を
合わせた場合には、図６に示した光検出器２０の光検知
領域ａ〜ｐの２つのグループＡ１，Ａ２の受光量に大き
な差を生じる。これに対し、レーザ光の波面形状は、焦
点ｆ１，ｆ２からそれらの中間点Ｐ０に近づくほど円形
に近くなり、中間点Ｐ０においては略真円状となる。し
たがって、光ディスクＤの記録層にこの中間点Ｐ０を合
わせた場合には、光検出器２０のグループＡ１，Ａ２の
それぞれの受光量に大きな差が生じないこととなり、信
号Ｓ１の出力レベルがたとえばゼロとなる。この信号Ｓ
１は、フォーカスエラー信号としての性質をもつ。

【００４４】図１０は、レーザ光に非点収差が存在する
場合の光スポットの強度分布をシミュレーションし、そ
の結果を適当なスケールで模式的に示している。同図
（ａ）においては、光の強度を高さの度合いで表わして
いる。同図（ｂ）においては、光の強度が同一の部分ど
うしを線で結んでおり、中央部になるほど光の強度は強
くなっている。同図（ａ），（ｂ）に示す光スポット
は、図９に示した中間点Ｐ０に相当する箇所において形
成される光スポットである。この光スポットは、同図
（ｂ）に示すように、その中心部分のピーク強度が最大
となる部分は真円状を呈する。また、同図（ａ）に示す
ように、この光スポットのピーク強度は、レーザ光に非
点収差および他の収差が無いものと仮定した場合に得ら
れるピーク強度の８２％となる。

【００４５】図１１は、図１０に示した光スポットを形
成するレーザ光のうち、中間点Ｐ０よりも適当量（具体
的には０．６μｍ）だけ図９の上方に位置ずれした箇所
において形成される光スポットの強度分布をシミュレー
ションし、その結果を模式的に示している。この場合に
は、図１１（ｂ）に示すように、ピーク強度が最大とな
る中心部分は、楕円状またはそれに近い形状となってお
り、図１０の場合と比べて真円度が劣っている。このこ
とからも、レーザ光の中心に対して偏りのない形状、す
なわち真円状またはそれに近い形状の光スポットを光デ
ィスクＤの記録層上に得るためには、この記録層上に中
間点Ｐ０を合わせればよいことが理解できる。また、図
１１（ａ）に示すように、同図に示す光スポットのピー
ク強度は、レーザ光に非点収差および他の収差が無いも
のと仮定した場合に得られるピーク強度の７３％とな
り、図１０の場合よりも低い強度となることが判る。

【００４６】図１２は、レーザ光に所定の非点収差が存
在する場合のデフォーカス量と信号Ｓ１の出力レベルお
よび光ディスクＤの記録層上に形成される光スポットの
ピーク強度との関係を示している。ただし、同図のデフ
ォーカス量とは、中間点Ｐ０を光ディスクＤの記録層上
に合わせた場合をデフォーカス量ゼロとした場合の値で
ある。信号Ｓ１の出力レベルおよびピーク強度の値は、
無次元化している。また、同図に示された信号Ｓ１は、
マトリクス状に配列されたピット１にレーザ光を照射し
たときに得られる信号である。

【００４７】同図から理解されるように、信号Ｓ１の出
力レベルとデフォーカス量とは略正比例の関係にあり、
信号Ｓ１のレベルがゼロのときはデフォーカス量もゼロ
である。また、光スポットのピーク強度は、デフォーカ
ス量がゼロのときに最大となる。したがって、光ディス
クＤの記録層上に形成される光スポットのピーク強度を
高めるためには、中間点Ｐ０が記録層上に合うようにフ
ォーカス制御を行なえばよいこととなり、その制御は、
信号Ｓ１に基づいて行なうことが可能である。また、図
１２や図１０に示された内容から理解されるように、デ
フォーカス量をゼロにしても、それだけでは光スポット
のピーク強度を、非点収差がない場合と同等にすること
はできず、所定量（図１２の符号ｎ２で示す量）だけ不
足する。この不足分は、後述するように、レーザ光源６
０の出力を高めることにより補填される。

【００４８】レーザ光を光ディスクＤのランド・グルー
ブ領域Ｚａに照射したときには、信号Ｓ１は上記とは異
なり、図１２において信号Ｓ１’として示したような出
力レベルとなる。ランド・グループ領域Ｚａにレーザ光
を照射したときには、反射光中には、図２（a2),(b2)に
示したような２つの干渉光Ｉｂ，Ｉｃが含まれるに過ぎ
ない。このため、レーザ光の中間点Ｐ０を光ディスクＤ
の記録層に合わせたとしても、干渉光Ｉｂ，Ｉｃは、図
６に示した光検出器２０のグループＡ１，Ｂ１に対して
均等には照射されない。その結果、図１２の符号ｎ３で
示すように、デフォーカス量をゼロにした場合であって
も、信号Ｓ１’の出力はゼロにはならない。ただし、こ
のような信号Ｓ１’の特性は予めシミュレーションなど
によって求めておく。そうすれば、ランド・グループ領
域にレーザ光を照射する場合においては、信号Ｓ１’を
符号ｎ３で示すレベルにするようにフォーカス制御を行
なえば、デフォーカス量をゼロにすることが可能とな
る。

【００４９】図７（ａ），（ｂ）に示すように、データ
信号生成部２１において生成される信号Ｓ２，Ｓ３は、
光検出器２０の光検知領域ａ〜ｐを、所定の配置関係に
あるグループＡ２，Ｂ２どうし、およびグループＡ３，
Ｂ３どうし（クロスハッチング部分と網点模様部分）に
分けた場合において、それらのグループのそれぞれの受
光量の差分に相当する出力レベルを有する信号である。
すなわち、Ｓ２＝Ａ２−Ｂ２、Ｓ３＝Ａ３−Ｂ３である
（ただし、これらの式において、Ｓ２，Ｓ３は信号Ｓ
２，Ｓ３のレベルであり、Ａ２，Ａ３，Ｂ２，Ｂ３は、
グループＡ２，Ａ３，Ｂ２，Ｂ４のそれぞれから出力さ
れる信号のレベルである）。これらの信号Ｓ２，Ｓ３を
利用すれば、次に述べるように、レーザ光に発生してい
る非点収差の量を知ることができる。

【００５０】図１３〜図１７は、図９に示した非点光線
束の非点収差量（同図の寸法ｓに相当）を一定（具体的
にはｓ＝０．５μｍ）とし、かつ光ディスクＤの記録層
に中間点Ｐ０を合わせた状態において、ｙ−ｙ’軸を固
定させたまま、トラック方向に延びる直線Ｌｔとｘ−
ｘ’軸とが交差する角度θを順次変化させていくときに
得られる反射光の強度分布を模式的に示している。図７
（ｂ）に示す光検知領域ａ〜ｐの２つのグループＡ３，
Ｂ３は、図１３および図１７に示された角度θが０°ま
たは９０°のときの光の強度分布に対応した配置とされ
ている。より具体的には、角度θが０°および９０°の
ときに、グループＡ３の受光量とグループＢ３の受光量
との差分が最大となって、信号Ｓ３のレベルも最大とな
る配置とされている。一方、図７（ａ）に示す光検知領
域ａ〜ｐの２つのグループＡ２，Ｂ２は、図１５に示さ
れた角度θが４５°のときの光の強度分布に対応した配
置とされており、角度θが４５°のときに、グループＡ
２，Ｂ２のそれぞれの受光量の差分が最大となって、信
号Ｓ２のレベルも最大となる配置とされている。

【００５１】本実施形態においては、上記した２つの信
号Ｓ２，Ｓ３が種々の値をとるときのレーザ光の非点収
差量を予めシミュレーションなどによって求めている。
また、非点収差量が種々の値をとるときの中間点Ｐ０に
おけるピーク強度の具体的な値、あるいは非点収差が無
い場合と比較してのピーク強度の低下量も予め求めてい
る。このようにすることにより、上記した２つの信号Ｓ
２，Ｓ３の出力レベルに基づいて、実際のレーザ光の非
点収差量、あるいはピーク強度の低下量などを求めるこ
とが可能となる。なお、概念的には、２つの信号Ｓ２，
Ｓ３に基づいて、実際のレーザ光についての角度θを求
めることが可能となるが、この角度θ自体のデータは、
レーザ光のピーク強度補正に直接利用する価値をもたな
い。また、本明細書でいう非点収差量とは、図９に示し
た２つの焦点ｆ１，ｆ２間の距離の値に限定されるもの
ではなく、それ以外の種々の側面から捉えることが可能
である。たとえば、非点収差に原因して光スポットのピ
ーク強度が低下した場合には、その低下量も非点収差の
度合いを示す１つのパラメータとなるため、非点収差量
の概念に含めることができる。

【００５２】図８において、データ信号生成部２１にお
いて生成されるＴＰＰ信号は、光検出器２０の光検知領
域ａ〜ｐを、トラック方向に離れた２つのグループＡ
４，Ｂ４（クロスハッチング部分と網点部分）に分けた
場合において、これら２つのグループＡ４，Ｂ４の受光
量の差分に相当する出力レベルを有する信号である。す
なわち、ＴＰＰ＝Ａ４−Ｂ４である（ただし、この式に
おいて、ＴＰＰはＴＰＰ信号のレベルであり、Ａ４，Ｂ
４はグループＡ４，Ｂ４からそれぞれ出力される信号の
レベルである）。このＴＰＰ信号の波形は、光ディスク
Ｄのピット形成領域Ｚｂにレーザ光をトラック方向に相
対移動させながら照射させるときに、一定周期をもつ正
弦波となる。このＴＰＰ信号は、図４に示すように、Ａ
／Ｄ変換回路２２に入力されることによりＡ／Ｄ変換さ
れてから、ＰＬＬ回路２３に入力される。このことによ
り、一定周期をもつクロック信号が生成される。このク
ロック信号は、データの読み書きチャンネル用のクロッ
クとして利用することもできる。

【００５３】上記した信号Ｓ１〜Ｓ３は、サンプルホー
ルド回路２４ａ〜２４ｃにそれぞれ入力され、かつ上記
クロック信号に同期してサンプリングされる。このサン
プリングは、たとえば各ピット１の中央部とレーザ光の
中心とが一致するタイミングで行なわれる。補正データ
生成回路２５は、サンプルホールド回路２４ｂ，２４ｃ
においてサンプリングされた信号Ｓ２，Ｓ３に基づい
て、レーザ出力調整用の補正データを生成するように構
成されている。補正データは、次のような手順で生成さ
れる。

【００５４】すなわち、既述したとおり、非点収差に起
因する光スポットのピーク強度の低下量と信号Ｓ２，Ｓ
３との関係は予めシミュレーションなどによって求めら
れている。補正データ生成回路２５は、そのような関係
を示すデータを有しており、そのデータおよびサンプリ
ングされた信号Ｓ２，Ｓ３に基づいて、光スポットのピ
ーク強度の低下量の値を示す信号をつくるようになって
いる。より具体的には、たとえば信号Ｓ２，Ｓ３のいず
れか一方のゲインを適当な係数を用いて補正することに
より、これらの信号Ｓ２，Ｓ３の出力レベルの自乗平均
をとれば、予めシミュレーションなどによって確認され
ているとおりのピーク強度の低下量が算出されるように
なっている。このように一定の計算式によってピーク強
度の低下量を算出できるようにすれば、補正データ生成
回路２５に莫大なデータを記憶させる必要がなくなり、
データ処理が容易となる。また、そのようなデータ処理
を行なう場合、たとえばサンプリングされた信号Ｓ２，
Ｓ３をデジタルデータに変換してから、ＣＰＵなどを利
用して演算処理を行なうにすれば、補正データの作成が
より容易化される。ただし、本願発明はこれに限定され
ない。たとえば、信号Ｓ２，Ｓ３が種々の値をとる場合
にそれに対応するピーク強度の低下量を示すデータテー
ブルを補正データ生成回路２５に具備させておき、その
データテーブルを参照することによりピーク強度の低下
量を特定するといった手法を採用することもできる。

【００５５】アクチュエータ駆動回路４は、アクチュエ
ータ６４を駆動させて対物レンズ６３をフォーカス方向
に移動させる制御を行なうものである。より具体的に
は、サンプルホールド回路２４ａでサンプリングされた
信号Ｓ１は、既述したとおり、フォーカスエラー信号と
しての性質をもち、アクチュエータ駆動回路４は、この
信号Ｓ１の出力レベルをゼロにする方向に対物レンズ６
３を移動させるフォーカス制御を実行するように構成さ
れている。むろん、本実施形態でいうフォーカス制御と
は、レーザ光に非点収差がある場合、そのレーザ光の中
間点Ｐ０を光ディスクＤの記録層上に合わせる制御を意
味しており、焦点ｆ１，ｆ２のいずれかに合わせる制御
を意味するのではない。

【００５６】レーザパワー調整回路５は、補正データ生
成回路２５で生成された補正データに対応する分だけ、
レーザ光源６０の出力を調整するように構成されてい
る。より具体的には、たとえば上記補正データの内容
が、たとえば非点収差に起因する光スポットのピーク強
度の低下量が２０％である旨の内容であるとすると、こ
のレーザパワー調整回路５は、２０％に相当する分だけ
レーザ出力を高める制御を行なうように構成されてい
る。

【００５７】この光情報処理装置Ｘにおいては、レーザ
光に非点収差がある場合に、次のような処理がなされ
る。すなわち、光ディスクＤのピット形成領域にレーザ
光を照射するときには、信号Ｓ１がゼロとなるようにフ
ォーカス制御がなされ、レーザ光の中間点Ｐ０が光ディ
スクＤの記録層上に合わされる。一方、補正データ生成
回路２５は、サンプリングされた信号Ｓ２，Ｓ３に基づ
いて非点収差に原因する光スポットのピーク強度の低下
量を算出する。仮に非点収差が無い場合には、ピーク強
度の低下量がゼロとなるため、上記ピーク強度の低下量
を算出すること自体が、非点収差の検出に相当する。レ
ーザパワー調整回路５は、上記低下量に見合う分だけレ
ーザ光源６０の出力を高める。この結果、非点収差によ
るピーク強度を非点収差が存在しない場合と同等の強度
にすることが可能となり、ランド・グループ領域へのデ
ータの書き込みまたは読み出しを行なう際に、光スポッ
トによる加熱温度に不足を生じないようにすることがで
きる。また、レーザ光源６０の出力を高めるときには、
非点収差が存在する場合においてピーク強度が最も高く
なるように中間点Ｐ０を記録層上に合わせるために、レ
ーザ光源６０の出力増加量を最小限に抑えることも可能
となる。

【００５８】光ディスクＤのランド・グループ領域Ｚａ
にレーザ光を照射してデータの書き込みや読み出しを行
なうときには、信号Ｓ１（Ｓ１’）が図１２の符号ｎ３
で示したレベルとなるようにフォーカス制御を行なう。
このようにすれば、レーザ光の中間点Ｐ０を継続して光
ディスクＤの記録層上に合わせておくことができ、真円
状またはそれに近い形状の小径の光スポットをランドＬ
またはグループＧ上に形成することができる。また、上
記光スポットのピーク強度を一定に維持することもでき
る。

【００５９】非点収差は、光学系６の部品精度などに起
因して定まり、変化が少ない。したがって、非点収差の
検出処理やレーザ光源６０の出力調整は、理論的には一
回行なえば充分である。ただし、光学系６の各部の経時
的な劣化などに対処するため、たとえば光ディスクＤへ
の記録・再生処理の開始の都度実行するなど、適当な間
隔で行なわせることが好ましい。また、非点収差を検出
するためのピット形成領域Ｚｂの数は、多くする必要は
なく、たとえばトラック１周に付き１箇所あれば足り
る。

【００６０】図１８（ａ）〜（ｅ）は、チルトエラーが
存在する場合と存在しない場合とにおいて、マトリクス
状に配列されたピット１にレーザ光を照射したときの反
射光の強度分布をシミュレーションして得られた結果を
模式的に示している。線（格子状の目盛線を除く）で結
ばれた部分は、光の強度が同一の部分である。同図
（ｃ）は、トラッキング方向およびトラック方向ともに
チルト角度がゼロの場合を示している。同図（ａ），
（ｅ）は、トラッキング方向のみに±５mradのチルトが
ある場合を示し、同図（ｂ），（ｄ）はトラック方向の
みに±５mradのチルトがある場合を示している。

【００６１】図１９（ａ），（ｂ）は、光検出器の他の
例を示している。同図に示す光検出器２０Ａは、チルト
エラーに起因するコマ収差を検出するためのものであ
り、その受光面２０ａには、図２（b4) に示したような
反射光に含まれる４つの干渉光Ｉａ〜Ｉｄを受光可能な
計８つの光検知領域ａ１〜ｈ１が設けられている。これ
らの光検知領域ａ１〜ｈ１は、図１８に示したようにチ
ルトエラーがあるときの反射光の強度分布に対応する形
状および配置となっている。図１９（ａ），（ｂ）に示
すように、この光検出器２０Ａによれば、データ信号生
成部２１を介して次のような信号Ｓ４，Ｓ５が得られ
る。

【００６２】すなわち、信号Ｓ４は、光検知領域ａ１〜
ｈ１を同図（ａ）図に示すような所定の２つのグループ
Ａ４，Ｂ４に分けた場合において、それら２つのグルー
プＡ４，Ｂ４の受光量の差分に相当する出力レベルであ
る。この信号Ｓ４によれば、図１８（ａ），（ｅ）に示
すようなトラッキング方向のチルト（ラジアルチルト）
の値を判断することができる。信号Ｓ５は、光検知領域
ａ１〜ｈ１を図１９（ｂ）に示すような所定の２つのグ
ループＡ５，Ｂ５に分けた場合において、これら２つの
グループＡ５，Ｂ５の受光量の差分に相当する出力レベ
ルを有する。この信号Ｓ５によれば、図１８（ｂ），
（ｄ）に示すようなトラック方向のチルト（タンジェン
シャルチルト）の値を判断することができる。

【００６３】図４に示した光情報処理装置Ｘにおいて、
チルトエラーを解消するための手段としては、従来にお
いて行なわれていた方法と同様に、フォーカス制御用の
アクチュエータとは別のたとえば圧電素子などを利用し
たアクチュエータ（図示略）を利用して対物レンズ６３
の所定方向の傾き角度を変更する手段を用いることが可
能である。この場合において、対物レンズ６３の傾きを
変更する方向やその量は、上記した信号Ｓ４，Ｓ５に基
づいて決定することができる。

【００６４】従来技術の一例として挙げた特開２０００
−２１０１４号においても、トラッキング方向およびト
ラック方向の傾きを検出することができるが、この従来
技術では、２つの干渉光の強度分布に基づいてチルト量
を検出している。これに対し、本実施形態においては、
従来技術よりも多い数の干渉光の強度分布に基づいてチ
ルト量を検出している。したがって、その分だけ、チル
ト量の検出精度を高めることができ、チルトに起因する
コマ収差を無くすのに好適となる。光ディスクＤのピッ
ト形成領域Ｚｂの数を多くして、それらの領域Ｚｂの間
隔を小さくするほど、よりきめ細かなチルトエラー検出
が行なえることとなる。ただし、ピット形成領域Ｚｂの
具体的な数は限定されるものではない。

【００６５】本願発明は、上述した実施形態の内容に限
定されない。本願発明に係る収差検出方法および光情報
処理方法のそれぞれの具体的な工程は、種々に変更自在
である。本願発明に係る光情報処理装置の各部の具体的
な構成は、種々に設計変更自在である。

【００６６】たとえば、光記録媒体に設けられる複数の
ピットの配列構造は、図２０に示すような構造にしても
かまわない。すなわち、同図においては、複数のピット
１が市松模様状の配列とされている。このような構造
は、たとえばランドＬのトラックにはピット１となる凸
状部を形成するとともに、グループＧのトラックにはピ
ット１となる凹状部を形成することにより設けることが
できる。同図に示す複数のピット１は、トラッキング方
向およびトラック方向のそれぞれにおいて、奇数列と偶
数列とが互い違い状となっているが、このような配列
は、図２（a4) に示した配列と比べて本質的に相違する
ものではなく、本願発明でいうマトリクス状の配列に含
まれる。また、図１９においては、互いに隣り合うピッ
ト１の一部分どうしが接触した構造となっているが、こ
のような構造も、本願発明でいうマトリクス状の配列に
含まれる。本願発明でいうマトリクス状の配列とは、本
願発明が意図する少なくとも４つの干渉光を発生させる
ことが可能に複数のピットが交差する２方向に並んで設
けられている場合の全てを含む広い概念である。

【００６７】本願発明に係る光記録媒体は、ＣＤである
か、あるいはＤＶＤであるかなどの具体的な種類も限定
されるものではなく、光磁気ディスクも本願発明でいう
光記録媒体に含まれる。また、光記録媒体は、ディスク
状ではなく、カード状の形態を有するものとして構成さ
れていてもかまわない。

【００６８】〔付記１〕 光記録媒体の記録層に光ビー
ムを照射したときの反射光中に含まれている干渉光に基
づいて所定の収差を検出する方法であって、上記光記録
媒体の記録層には、マトリクス状に配列された複数のピ
ットを設けておくことにより、上記反射光中にはトラッ
ク方向およびトラッキング方向に分かれた４以上の干渉
光を発生させ、かつ、これら４以上の干渉光の強度分布
に基づいて上記収差を検出することを特徴とする、収差
検出方法。 〔付記２〕 上記複数のピットは、トラック方向および
トラッキング方向に対して傾きをもって互いに直交する
２方向に列状に並ぶ配列とする、付記１に記載の収差検
出方法。 〔付記３〕 光記録媒体の記録層に光ビームを照射する
ことにより、上記記録層への情報の記録または再生を行
なうための光情報処理方法であって、上記光記録媒体の
記録層には、マトリクス状に配列された複数のピットを
設けておくことにより、上記複数のピットに光ビームを
照射したときに、その反射光中にトラック方向およびト
ラッキング方向に分かれて発生した４以上の干渉光の強
度分布に基づいて所定の収差を検出し、かつ、この収差
の内容に基づいて上記光ビームの強度を調整することに
より、上記記録層上に形成される光スポットのピーク強
度を一定以上に維持することを特徴とする、光情報処理
方法。 〔付記４〕 上記記録層に光ビームを照射するときに
は、上記光スポットのピーク強度が最大となる位置に上
記光記録媒体の記録層を配置させるフォーカス制御を行
なう、付記３に記載の光情報処理方法。 〔付記５〕 光源を有し、かつこの光源から発せられた
光ビームを複数のピットを備えた光記録媒体に照射させ
る光ビーム照射手段と、上記光記録媒体からの反射光を
受ける光検出器と、を有している、光情報処理装置であ
って、上記光検出器は、上記反射光中にトラック方向と
トラッキング方向とに分かれた４以上の干渉光が含まれ
ているときにこれらのうちの少なくとも４つの干渉光を
個別に受光可能な複数の光検知領域を有しており、上記
複数の光検知領域で受光された干渉光の強度差に基づい
て所定の収差を検出可能な収差検出手段を備えているこ
とを特徴とする、光情報処理装置。 〔付記６〕 上記収差検出手段によって検出された収差
に基づいて、上記光源の出力を調整する光ビーム出力調
整手段を備えている、付記５に記載の光情報処理装置。 〔付記７〕 上記光ビームを集束させるための対物レン
ズをフォーカス方向に移動自在なフォーカス制御手段を
具備しており、かつ、このフォーカス制御手段は、上記
光記録媒体の記録層上に形成される光スポットのピーク
強度が最大となる位置に上記光記録媒体の記録層を配置
させる制御を行なうように構成されている、付記６に記
載の光情報処理装置。 〔付記８〕 上記光検出器の複数の光検出領域は、互い
に異なる第１のパターンおよび第２のパターンで２つず
つのグループに分けられており、かつ、上記収差検出手
段は、上記第１のパターンにおける２つのグループの受
光量の差と、上記第２のパターンにおける２つのグルー
プの受光量の差とに基づいて、非点収差の有無および非
点収差に起因する光量の低下度合いを判断できるように
構成されている、付記５ないし７のいずれかに記載の光
情報処理装置。 〔付記９〕 上記非点収差に起因する光量の低下度合い
は、上記光検出器から出力される所定の信号に基づいて
一定の演算処理を行なうことにより求められるように構
成されている、付記８に記載の光情報処理装置。 〔付記１０〕 上記光検出器の複数の光検知領域は、上
記反射光の周縁部に位置する第１のグループと、この第
１グループよりも上記反射光の中心部寄りに位置する第
２のグループとに分けられ、かつこれら第１および第２
のグループのそれぞれによる受光量が等しいときに上記
光スポットのピーク強度が最大となるように構成されて
いる、付記５ないし９のいずれかに記載の光情報処理装
置。 〔付記１１〕 上記少なくとも４つの干渉光のトラック
方向における光の強度差に対応するタンジェンシャルプ
シュプル信号を生成するとともに、このタンジェンシャ
ルプシュプル信号からクロック信号を生成する手段を有
している、付記５ないし１０のいずれかに記載の光情報
処理装置。

【００６９】

【発明の効果】以上の説明から理解されるように、本願
発明によれば、従来では検出が困難となっていた収差の
検出を適切に行なうことができたり、あるいは従来より
も精度よく所定の収差の検出を行なうことができるとい
った効果が得られる。また、収差に原因して光記録媒体
へのデータの記録や再生処理に不具合が発生すること
を、高価な光学機器を用いることなく、簡易な手段によ
って適切に解消することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願発明が適用される光ディスクの一例を示す
説明図である。

【図２】（a1) 〜（a4) および（b1) 〜（b4) は、ピッ
トの形態の具体例とそれに対応する反射光とを示す説明
図である。

【図３】（ａ），（ｂ）は、反射光の説明図である。

【図４】本願発明に係る光情報処理装置の概略構成の一
例を示す説明図である。

【図５】光検出器の一例を示す説明図である。

【図６】生成される信号の具体例を示す説明図である。

【図７】（ａ），（ｂ）は、生成される信号の具体例を
示す説明図である。

【図８】生成される信号の具体例を示す説明図である。

【図９】非点光線束の説明図である。

【図１０】（ａ）は、レーザ光の所定の中間点における
光スポットの強度分布の一例を立体的に示す図であり、
（ｂ）は、同図（ａ）の強度分布を平面的に示した図で
ある。

【図１１】（ａ）は、レーザ光の所定の中間点から位置
ずれした部分における光スポットの強度分布の一例を立
体的に示す図であり、（ｂ）は、同図（ａ）の強度分布
を平面的に示した図である。

【図１２】非点収差が存在する場合のデフォーカス量、
所定の信号の出力レベル、および光スポットのピーク強
度の関係の一例を示す図である。

【図１３】反射光の強度分布を示す模式図である。

【図１４】反射光の強度分布を示す模式図である。

【図１５】反射光の強度分布を示す模式図である。

【図１６】反射光の強度分布を示す模式図である。

【図１７】反射光の強度分布を示す模式図である。

【図１８】（ａ）〜（ｅ）は、反射光の強度分布を示す
模式図である。

【図１９】（ａ），（ｂ）は、光検出器の他の例を示す
説明図である。

【図２０】ピットの配列構造の他の例を示す説明図であ
る。

【図２１】（ａ），（ｂ）は、従来技術を示す説明図で
ある。

【符号の説明】

Ｄ 光ディスク（光記録媒体） Ｔ トラック Ｘ 光情報処理装置 ａ〜ｐ 光検知領域（光検出器の） １ ピット Ｉａ〜Ｉｄ 干渉光 ２ 信号生成系 ４ アクチュエータ駆動回路 ５ レーザパワー調整回路 ６ 光学系 ２０ 光検出器 ２１ データ信号生成部 ２３ ＰＬＬ回路 ２５ 補正データ生成回路 ６０ レーザ光源

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 AA03 BB10 CC04 CC18 DD03 EE11 FF11 FF15 FF45 FF49 GG10 GG40 JJ01 KK03 5D118 AA14 BA01 BA06 BB06 BC11 BF02 CA11 CC05 CC15 CD02 CF08 CF09 5D119 AA11 BA01 BA02 BB05 DA05 EA03 EB02 EB09 HA54 KA08 KA09 KA20 MA30 5D789 AA11 BA01 BA02 BB05 DA05 EA03 EB02 EB09 HA54 KA08 KA09 KA20 MA30

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光記録媒体の記録層に光ビームを照射し
   たときの反射光中に含まれている干渉光に基づいて所定
   の収差を検出する方法であって、 上記光記録媒体の記録層には、マトリクス状に配列され
   た複数のピットを設けておくことにより、上記反射光中
   にはトラック方向およびトラッキング方向に分かれた４
   以上の干渉光を発生させ、かつ、 これら４以上の干渉光の強度分布に基づいて上記収差を
   検出することを特徴とする、収差検出方法。
2. 【請求項２】 光記録媒体の記録層に光ビームを照射す
   ることにより、上記記録層への情報の記録または再生を
   行なうための光情報処理方法であって、 上記光記録媒体の記録層には、マトリクス状に配列され
   た複数のピットを設けておくことにより、上記複数のピ
   ットに光ビームを照射したときに、その反射光中にトラ
   ック方向およびトラッキング方向に分かれて発生した４
   以上の干渉光の強度分布に基づいて所定の収差を検出
   し、かつ、 この収差の内容に基づいて上記光ビームの強度を調整す
   ることにより、上記記録層上に形成される光スポットの
   ピーク強度を一定以上に維持することを特徴とする、光
   情報処理方法。
3. 【請求項３】 上記記録層に光ビームを照射するときに
   は、上記光スポットのピーク強度が最大となる位置に上
   記光記録媒体の記録層を配置させるフォーカス制御を行
   なう、請求項２に記載の光情報処理方法。
4. 【請求項４】 光源を有し、かつこの光源から発せられ
   た光ビームを複数のピットを備えた光記録媒体に照射さ
   せる光ビーム照射手段と、上記光記録媒体からの反射光
   を受ける光検出器と、を有している、光情報処理装置で
   あって、 上記光検出器は、上記反射光中にトラック方向とトラッ
   キング方向とに分かれた４以上の干渉光が含まれている
   ときにこれらのうちの少なくとも４つの干渉光を個別に
   受光可能な複数の光検知領域を有しており、 上記複数の光検知領域で受光された干渉光の強度差に基
   づいて所定の収差を検出可能な収差検出手段を備えてい
   ることを特徴とする、光情報処理装置。
5. 【請求項５】 上記収差検出手段によって検出された収
   差に基づいて、上記光源の出力を調整する光ビーム出力
   調整手段を備えている、請求項４に記載の光情報処理装
   置。