JP2003058900A - 画像測定装置用パートプログラム生成装置及びプログラム - Google Patents

画像測定装置用パートプログラム生成装置及びプログラム

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JP2003058900A
JP2003058900A JP2001248970A JP2001248970A JP2003058900A JP 2003058900 A JP2003058900 A JP 2003058900A JP 2001248970 A JP2001248970 A JP 2001248970A JP 2001248970 A JP2001248970 A JP 2001248970A JP 2003058900 A JP2003058900 A JP 2003058900A
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measurement
graphic
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JP2001248970A
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Akira Takada
彰 高田
Koichi Komatsu
浩一 小松
Masahito Shimizu
雅人 清水
Kozo Ariga
幸三 有我
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 オペレータにとって使いやすく、複雑な操作
を必要とすることなく、効率的に画像測定機用パートプ
ログラムを生成することのできる画像測定装置を提供す
る。 【解決手段】 表示手段で表示されたCADデータの中
から測定すべき測定対象画像を選択するため該測定対象
図形上又はその近傍に線を引く線描画手段と該線描画手
段により描かれた線と交差し又はその線の近傍に存在す
るCADデータを測定すべき測定対象画像として認識す
る図形認識手段を備えたことを特徴とする画像測定用パ
ートプログラム生成装置を提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像測定機のパー
トプログラムを実機を使わずに被測定対象の形状データ
に基づいてオフラインで簡易に一括自動生成するオフラ
インティーチングシステムを利用した、画像測定装置用
パートプログラム生成装置及びプログラムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、CNC(computer numerical c
ontrol)タイプの画像測定機のオフラインティーチング
では、2次元CADデータを画面上に表示させた後、オ
ペレータが測定対象図形となる図形要素をマウス等を用
いて選択し、さらにその図形要素の測定にどのエッジ検
出ツールを使うかを決定し、さらにそのエッジ検出ツー
ル内において、どの位置をエッジ検出位置とするか等を
判断・入力することによりパートプログラムを生成して
いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、測定対象図
形となる図形要素の選択においては、図13に示すよう
に、測定対象としたい図形(例えば小円cs)を長方形
Brで囲むか、又は、測定箇所としたい図形要素を1つ
1つマウスでクリックする方法が取られていた。前者の
方法は、例えば図13(a)に示すような、CADデー
タ中の同一種類の形状データ(例えば、同図(a)に示
す小円cs)を一括して選択する場合に有効である。し
かし、同図(b)のように、他種類の図形(中央の大き
な円CL)が近くにある場合には、一旦全体を長方形で
囲んだ後、この大きな円CLを測定対象から削除するな
どの作業が必要となる(同図(c))。このため、削除
動作があまりに多くなる場合には、結局1つ1つマウス
で選択するしかなく、パートプログラムの作成に時間を
要していた。
【0004】本発明はこのような点に鑑み、オペレータ
にとって使いやすく、複雑な操作を必要とすることな
く、効率的に画像測定機用パートプログラムを生成する
ことのできる画像測定装置用パートプログラム生成装置
及びプログラムを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的の達成のた
め、本出願の第1発明に係る画像測定装置用パートプロ
グラム生成装置は、被測定対象を撮像して得られる画像
データに基づいて被測定対象を測定する画像測定装置に
用いられ、測定の手順を記述したパートプログラムを生
成するパートプログラム生成装置であって、被測定対象
のCADデータを読み込むCADデータ入力手段と、こ
のCADデータ入力手段によって読み込まれたCADデ
ータをグラフィックス表示するCADデータ表示手段
と、この表示手段で表示されたCADデータの中から測
定すべき測定対象図形を選択するため該測定対象図形上
又はその近傍に線を描く線描画手段と、該線描画手段に
より描かれた線と交差し又はその線の近傍に存在するC
ADデータを測定すべき測定対象図形として認識する図
形認識手段とを備えたことを特徴とする。
【0006】上記第1発明によれば、読み込まれてグラ
フィック表示されたCADデータの中から、測定すべき
測定対象図形を選択するに際し、前記線描画手段により
線が描かれる。描かれた線と交差し又はその線の近傍に
存在するCADデータが、前記図形認識手段により測定
すべき測定対象図形と認識される。オペレータは、測定
対象図形としたいCADデータと交差するように又はそ
の近傍を通るように描画すればよいので、測定すべき測
定対象図形の選択が容易になり、測定対象とする意図の
ない図形が誤って選択される可能性が著しく低減する。
【0007】この第1の発明において、前記線描画手段
は、複数種類の線の描画方法を選択可能に構成すること
ができる。また、この第1の発明において、前記線描画
手段は、画面上の2点を指定させることによりその2点
を結ぶ直線を描くものであり、前記図形認識手段は、こ
の直線と交差し又はこの直線の近傍に存在する図形を測
定すべき測定対象図形として認識するものとすることが
できる。これにより、測定対象図形が直線状に並んでい
る場合において、測定対象図形を選択することが容易に
なる。
【0008】この第1の発明において、前記線描画手段
はフリーハンド曲線を描くものであり、前記図形認識手
段は、このフリーハンド曲線と交差し又はこのフリーハ
ンド曲線の近傍に存在する図形を測定すべき測定対象図
形として認識するものとすることができる。これによ
り、測定対象図形がランダムに並んでいる場合であって
も、測定対象図形のみを任意に選択することができ、測
定対象とする意図のない図形が誤って選択される可能性
が著しく低減する。
【0009】また、この第1の発明において、前記線描
画手段は、画面上の2点A,Bを指定して直線を描かせ
るとともに前記点Aを回転中心としてこの直線を回転さ
せるものであり、前記図形認識手段は、この直線と交差
し又はこの直線の近傍に存在する図形を測定すべき測定
対象図形として認識するものとすることができる。
【0010】上記の目的を達成するため、本出願の第2
の発明に係る画像測定装置用パートプログラム生成プロ
グラムは、被測定対象を撮像して得られる画像データに
基づいて被測定対象を測定する画像測定装置に用いら
れ、測定の手順を記述したパートプログラムを生成する
パートプログラム生成プログラムであって、被測定対象
のCADデータを読み込むステップと、読み込まれた前
記CADデータをグラフィックス表示するステップと、
表示された前記CADデータの中から測定の対象とすべ
き測定対象図形を選択するため、該測定対象図形上又は
その近傍に線を描くステップと、描かれた前記線と交差
し又はその線の近傍に存在するCADデータを測定すべ
き測定対象図形として認識するステップと、該認識され
た測定対象図形の種類ごとに設定された測定条件に基づ
いてパートプログラムを生成するステップとを実行させ
ることを特徴とする。この第2の発明において、前記線
を描くステップでは、複数種類の線の描画方法を選択可
能にすることができる。
【0011】前記第2の発明において、前記線を描くス
テップは、画面上の2点を指定させることによりその2
点を結ぶ直線を描かせるものであり、前記測定対象図形
を認識するステップは、この直線と交差し又はこの直線
の近傍に存在する図形を測定すべき測定対象図形として
認識するものとすることができる。また、前記第2の発
明において、前記線を描くステップはフリーハンド曲線
を描かせるものであり、前記測定対象図形を認識するス
テップは、このフリーハンド曲線と交差し又はこのフリ
ーハンド曲線の近傍に存在する図形を測定すべき測定対
象図形として認識するものとすることができる。また、
前記第2の発明において、前記線を描くステップは、画
面上の2点A,Bを指定して直線を描かせるとともに前
記点Aを回転中心としてこの直線を回転させるものであ
り、前記測定対象図形を認識するステップは、この直線
と交差し又はこの直線の近傍に存在する図形を測定すべ
き測定対象図形として認識するものとすることができ
る。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の好ましい実施例について説明する。図1は、本発明
の第一の実施例に係る画像測定システムの全体構成を示
す斜視図である。このシステムは、非接触型の画像測定
機1と、この画像測定機1を駆動制御すると共に、必要
なデータ処理を実行するコンピュータシステム2と、計
測結果をプリントアウトするプリンタ3とにより構成さ
れている。
【0013】画像測定機1は、次のように構成されてい
る。即ち、架台11上には、被測定対象(以下、ワーク
と呼ぶ)12を載置する測定テーブル13が装着されて
おり、この測定テーブル13は、図示しないY軸駆動機
構によってY軸方向に駆動される。架台11の両側縁中
央部には上方に延びる支持アーム14,15が固定され
ており、この支持アーム14、15の両上端部を連結す
るようにX軸ガイド16が固定されている。このX軸ガ
イド16には、撮像ユニット17が支持されている。撮
像ユニット17は、図示しないX軸駆動機構によってX
軸ガイド16に沿って駆動される。撮像ユニット17の
下端部には、CCDカメラ18が測定テーブル13と対
向するように装着されている。また、撮像ユニット17
の内部には、図示しない照明装置及びフォーカシング機
構の他、CCDカメラ18のZ軸方向の位置を移動させ
るZ軸駆動機構が内蔵されている。
【0014】コンピュータシステム2は、コンピュータ
本体21、キーボード22、ジョイスティックボックス
(以下、J/Sと呼ぶ)23、マウス24及びCRT画
面25を備えて構成されている。コンピュータ本体21
は、例えば図2に示すように構成されている。即ち、C
CDカメラ18から入力されるワーク12の画像情報
は、インタフェース(以下、I/Fと呼ぶ)31を介し
て画像メモリ32に格納される。
【0015】また、図示しないCADシステムにより作
成されるワーク12のCADデータは、I/F33を介
してCPU35に入力され、CPU35でビットマップ
の画像情報に展開された後、画像メモリ32に格納され
る。画像メモリ32に格納された画像情報は、表示制御
部36を介してCRT画面25に表示される。
【0016】一方、キーボード22、J/S23、及び
マウス24から入力されるコード情報及び位置情報は、
I/F34を介してCPU35に入力される。CPU3
5は、ROM37に格納されたマクロプログラム及びH
DD38からI/F39を介してRAM40に格納され
た測定実行プログラム、測定結果表示プログラム、パー
トプログラム生成プログラム、パートプログラム等に従
って測定実行処理、パートプログラム作成、及び測定結
果の表示処理等を実行する。
【0017】CPU35は、測定実行処理に従って、I
/F41を介して画像測定機1を制御する。HDD38
は、CADデータ、測定実行プログラム、測定結果表示
プログラム、パートプログラム等を格納する記録媒体で
ある。RAM40は、各種プログラムを格納する他、各
種処理のワーク領域を提供する。
【0018】図3は、パートプログラム生成プログラ
ム、CPU35及びその周辺回路によって実現されるオ
フラインティーチングによるパートプログラム生成装置
の機能ブロック図である。ワーク12の設計図面として
作成されたCADデータは、CADデータ入力部51に
よって取り込まれる。CADデータ入力部51は、キー
ボード22,マウス24等の操作に基づいて、CADデ
ータを指定された取り込み形式(例えばDXF形式、I
GES形式等)で指定倍率に変換して取り込む。倍率変
換されて取り込まれたCADデータは、CADデータ記
憶部52に格納される。座標系設定部53は、CADデ
ータ記憶部52に記憶されたCADデータの座標系をワ
ーク座標系に一致させるための座標設定処理を実行す
る。CADデータ展開部54は、CADデータ記憶部5
2に格納されたCADデータをベクタ・ラスタ変換して
画像メモリ32に供給する。また、CADデータ記憶部
52に格納されたCADデータのうち、ワーク12の測
定箇所に対応した図形要素のCADデータが、マウス2
4の操作に基づいて図形選択部55で選択される。パー
トプログラム生成部56は、図形選択部55で選択され
た図形要素に対する測定手順を記述したパートプログラ
ムファイルを、測定条件設定部57で設定された測定条
件に基づいて生成する。生成されたパートプログラムフ
ァイルは、パートプログラム編集部58で適宜編集処理
される。生成及び編集されたパートプログラムファイル
は、パートプログラム出力部59を介してHDD38等
に格納される。
【0019】次に、本実施形態に係るパートプログラム
生成プログラムを実行しているときの代表的なCRT2
5の表示画面の表示例を図4に基づいて説明する。表示
画面には、CADデータ表示部61と、各種アイコン6
2と、測定条件調整部63と、指示部64と、エッジ検
出ツール設定部65、パートプログラム表示部66とが
表示されている。
【0020】CADデータ表示部61には、画像メモリ
32より供給されて表示制御部36により展開されたC
ADデータ画像が表示されている。このCADデータ表
示部に表示された各種図形要素(円、直線、楕円等)に
対して後述するマウス24のの選択操作を行って、測定
対象図形の選択が行われる。アイコン62は、各種マク
ロプログラムを起動させるためのアイコン62aの他、
後述する測定対象図形の選択方法を選択するためのアイ
コン62bを備えている。測定条件調整部63は、照明
条件その他の測定条件を調整するためのものである。
指示部64は、ティーチング指示アイコン64aと、測
定結果表示態様指示アイコン64bとを備えている。前
述のCADデータ表示部61において、測定対象図形を
選択した後、ティーチング指示アイコン64aをマウス
24でクリックすると、前述のパートプログラム生成部
56が、その選択された測定対象図形を測定するための
パートプログラムを測定条件設定部57で設定された測
定条件に基づいて生成するようになっている。また、測
定結果表示態様指示アイコン64bは、パートプログラ
ム実行後の測定結果の表示をどのように行うか等を選択
するためのプログラムを立ち上げるためのものである。
エッジ検出ツール設定部65は、図形要素の種類に応
じて、エッジ検出ツールの種類、大きさ、オフセットな
どを設定するためのものである。パートプログラム表示
部66は、ティーチング指示アイコン64aを押すこと
により自動生成されたパートプログラムの内容を表示す
るものである。
【0021】次に、このように構成された非接触画像測
定システムにおけるパートプログラム生成手順について
説明する。図5は、パートプログラムの自動生成処理の
手順を示すフローチャートである。まず、ワーク12に
ついてCADシステムを用いて予め作成されているDX
FまたはIGES形式のCADデータを取り込み、CR
T画面25上のグラフィックウィンドウに画像表示する
(S1)。このとき、CADデータの取り込み時の倍率
を設定することができる。このため、使用するワーク1
2のCADデータの図面縮尺に依存することなく、取り
込みを行うことができる。例えば取り込むCADデータ
が図面縮尺0.5倍で描かれている場合、取り込み時の
倍率を2倍とすることで、ワーク12のCADデータを
実寸に変換して取り込むことができる。
【0022】次に、測定条件の設定を行う(S2)。本
設定では、例えば、照明については、測定条件調整部6
3において、垂直落射照明、透過照明、リングファイバ
照明、プログラム制御リング照明等の照明の種類につい
ての設定と、照明の光量設定(光なし(0%)から最大
光(100%)まで)を行う。レンズについては、同様
に測定条件調整部63において、固定倍率レンズ、プロ
グラム制御パワータレット、プログラム制御ズームレン
ズ等の数種のレンズについてのレンズ倍率の設定を行
う。エッジ検出ツールに関しては、例えばエッジ検出ツ
ールの種類の設定、配置するエッジ検出ツールの数の設
定、エッジ検出ツールのサイズの設定、オフセット値の
設定等を行う。
【0023】図6は、エッジ検出ツールの例を示す図で
ある。同図(a)は最もシンプルなツール(以下、シン
プルツールと呼ぶ)71で、矢印の基端から先端に向け
てワーク12を撮像して得られる画像情報72の濃度レ
ベルが急激に変化している点をエッジ点として検出する
ためのものである。このシンプルツールは、中点の位置
座標(X,Y)と、その長さWと、角度θとによって定
義される。同図(b)は矩形の箱形のツール(以下、ボ
ックスツールと呼ぶ)73で、中点の位置情報(X,
Y)と、両側の矢印の長さWと、両側の矢印間の幅H
と、角度θとによって定義される。ボックスツール73
の場合、幅Hの中に予め設定された間隔ΔHで、矢印の
基端から先端に向かうエッジ検出が繰り返される。これ
らツール71,73の全てのパラメータを各図形要素毎
に演算によって求めても良いが、演算処理が複雑になる
ので、ここではツール71,73の位置と傾きのみを、
測定対象として選択された各図形要素毎に演算して決定
することにより、演算処理量を削減している。
【0024】従って、この測定条件の設定では、図形要
素の種類(線、円、円弧等)毎に、エッジfの種類、
数、長さW(ピクセル数)、オフセット数のみを設定す
る。図7(a)は、線について、シンプルツール71を
適用し、数nが3で、線の両端からそれぞれOFFだけ
オフセットを設定し、図中Aの範囲をシンプルツール7
1の配置範囲として設定している例を示している。オフ
セットOFFを設定するのは、線や円弧の端部にツール
71が配置されることによりエッジ検出不能のエラーが
発生するのを回避するためである。オフセットOFF
は、長さで設定しても良いし、線の長さのパーセントで
設定するようにしても良い。同図(b)は、円82につ
いて、4つのシンプルツール71を配置した例である。
円の場合には、オフセットは不要である。
【0025】このようにして設定された内容を図8に示
す。各図形要素について、そのツールタイプ、ツール
数、長さW及びオフセットOFFがエッジ検出ツール生
成条件として測定条件設定部57の中に設定される。こ
の例では、1次候補だけでなく、1次候補のツールの生
成に失敗した場合の他のツール候補も2次候補として設
定されている。前記CADデータの取り込みによって、
オフラインでパートプログラムの生成を行うためには、
CADデータによる画像情報の座標系とワーク12の座
標系とを一致させることが必要である。そこで、位置合
わせのための座標系設定を行う(S3)。
【0026】次に、実際の測定データとCADデータと
の公差照合を行う際に必要となる公差情報の設定を、測
定結果表示態様設定アイコン64bにより行う(S
4)。本設定では、数種の公差に対応できるようになっ
ており、例えば、上下限公差として、座標値、角度、距
離に対して、設計値からの許容範囲を上限公差と下限公
差で設定する。また、公差範囲として、位置度、形状
(真直度、真円度等)に対して、公差域を設定する。ま
た、この他はめ合い公差等についても公差情報の設定を
行うことができ、これらの公差情報は公差リストとして
保存することができる。また、前記公差情報の設定に
は、全ての測定対象図形に対して共通の公差情報を設定
する方法と、普通公差ファイルによって設計値に合わせ
て公差情報を設定する方法の二つの設定方法が用意され
ている。
【0027】次に、画面上に表示されているCADデー
タによる画像情報からパートプログラムを生成しようと
する対象図形を選択する(S5)。本実施の形態では、
その選択しようとする図形の配置状況に応じて、各種の
選択方法が自由に選択可能にされている。選択方法の選
択は、前述のアイコン62bにより行われる。第1の選
択方法としては、例えば従来のパートプログラム生成装
置と同様、数値入力、及びマウス24等の操作で測定対
象図形を個別に選択する方法を選択することができる。
または、これも従来のパートプログラム生成装置と同様
であるが、図9に示すように、選択すべき測定対象図形
164を内部に含む矩形領域168を、その矩形の対角
方向にマウス24をドラッグ操作することで図形を選択
することができる。又は、図10に示すように、選択す
べき測定対象図形が、直線上に並んでいる場合(ここで
は、直線状に並んだ多数の矩形溝165の縦線1−6)
に、その測定対象図形を横切る直線を描くことにより、
測定対象図形を選択することができる。具体的には、図
10(a)に示すように、矩形溝の近傍の任意の点をマ
ウス24の左ボタンをクリックした後、図10(b)に
示すようにマウス24をドラグして矢印Yを描く。測定
対象としたい縦線1−6が矢印Yにより横切られたこと
を確認したら、左ボタンを離す。CPU35は、CAD
データの中から、描かれた矢印Yと座標情報を一にする
図形要素があるか否かを検索することにより、この矢印
Yと交差する図形要素の有無を検索する。該当する図形
要素が検索された場合には、その検索情報を制御表示部
36に出力する。制御表示部は、表示制御部36は、矢
印Yと交差するCADデータ、すなわち、溝部分の縦線
1−6を、図10(c)に示すように太線でCRT25
に表示させる。これにより、オペレータは所望の図形が
選択されたことを知ることができる。このとき、測定対
象とする必要のない底辺は選択されないので、矩形溝の
幅又はピッチを測定が容易になる。
【0028】又は、図11に示すように、大きな円16
7を避けて、小さな円168のみを選択したい場合に
は、フリーハンド曲線169を描くことにより、小さな
円168のみを選択する。すなわち、マウス24のポイ
ンタが小さな円168の上のみを通るようにマウス24
を操作して、フリーハンド曲線169を描く。描画が終
了した場合には、マウス24の左ボタンをダブルクリッ
クする。これにより、曲線169と交差する小さな円1
68のみが選択対象とされる。
【0029】あるいは、図12に示すような選択方法も
選択できる。すなわち、測定対象図形としたい図形要素
170により取り囲まれる領域内の一点171をクリッ
クするとともに(図12(a))、マウス24のポイン
タを動かして線分172を描く(図12(b))。この
線分172が確定したら、マウス24を点171を中心
とした円弧を描くようにドラグする。CPU35は、こ
の線分172の回転により描かれる扇形173と座標情
報を一にする図形要素をCADデータの中から検索し、
この検索結果を測定対象図形と認識するとともに、この
検索結果を表示制御部36に出力する。表示制御部36
は、この検索結果に対応する図形要素をCRT25上で
太線表示する。これにより、線分172が点171を中
心として回転する。この線分172の移動により、線分
172により横切られる小さな円170が測定対象図形
として選択される。大きな円Gを測定対象図形としたく
ない場合には、マウスをこの円Gの手前で止めればよ
い。
【0030】以上のように、測定対象図形の配置等を考
慮して様々な図形選択方法が選択できるので、図形の選
択上の手間が大きく軽減される。
【0031】こうして、測定対象図形が選択されたら、
CPU35は、予め設定されたエッジ検出ツール生成条
件に基づいて、選択された各測定対象図形に対してエッ
ジ検出ツールを選択し、配置する(S6)。次にCPU
35はその他のステージ移動コマンド、オートフォーカ
スコマンド、照明コマンド、レンズコマンド、測定コマ
ンド、公差照合コマンドの生成を行い、生成されたパー
トプログラムへ追加し、パートプログラムファイルとし
てHDD38等へ記憶する(S7)。このようにして作
成されたパートプログラムは、パートプログラム表示部
66に表示される。
【0032】上記の実施の形態では、描かれた線やこれ
と関連する線と交差するCADデータが測定対象図形と
して選択されたが、これに限らず、描かれた線から所定
の距離内に存在する図形を測定対象図形として選択して
もよい。
【0033】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、オ
ペレータにとって使いやすく、複雑な操作を必要とする
ことなく、効率的に画像測定機用パートプログラムを生
成することのできるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態に係る非接触画像測定シ
ステムの構成を示す斜視図である。
【図2】 本発明の実施の形態に係る画像測定システム
におけるコンピュータ本体の構成を示すブロック図であ
る。
【図3】 図1、2の装置におけるパートプログラム生
成装置の機能ブロック図である。
【図4】 図1に示す装置のCRT25の画面の表示例
である。
【図5】 図1に示す装置の作用を示すフローチャート
を示す。
【図6】 エッジ検出ツールの例を示す図である。
【図7】 測定条件の設定について説明するための図で
ある。
【図8】 測定条件の設定について説明するための図で
ある。
【図9】 図1の装置における測定対象図形の選択方法
の1つを示す。
【図10】 図1に装置における測定対象図形の選択方
法の1つを示す。
【図11】 図1に装置における測定対象図形の選択方
法の1つを示す。
【図12】 図1に装置における測定対象図形の選択方
法の1つを示す。
【図13】 従来の図形選択方法の問題点を示す。
【符号の説明】
1・・・画像測定機、2・・・コンピュータシステム、3・・・
プリンタ、11・・・架台、12・・・被測定対象、13・・・
測定テーブル、14,15・・・支持アーム、16・・・X軸
ガイド、17・・・撮像ユニット、18・・・CCDカメラ、
21・・・コンピュータ本体、22・・・キーボード、23・・
・ジョイスティックボックス、24・・・マウス、25・・・
CRT画面、31,34・・・インタフェース、32・・・画
像メモリ、36・・・表示制御部、35・・・CPU、61・・
・・・・CADデータ表示部、66・・・・パートプログラム表
示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 雅人 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 有我 幸三 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社システムテクノロジーインステ ィテュート内 Fターム(参考) 2F065 AA04 BB05 FF04 JJ03 JJ26 MM03 MM07 QQ24 QQ31 5B050 AA04 BA06 BA18 CA07 DA10 EA12 EA21 FA02 FA09 FA14 GA01 5B057 AA04 BA24 CA17 CB17 CB19 CD03 CE09 CF04 DA06

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定対象を撮像して得られる画像デー
    タに基づいて被測定対象を測定する画像測定装置に用い
    られ、測定の手順を記述したパートプログラムを生成す
    るパートプログラム生成装置であって、 被測定対象のCADデータを読み込むCADデータ入力
    手段と、 このCADデータ入力手段によって読み込まれたCAD
    データをグラフィックス表示するCADデータ表示手段
    と、 この表示手段で表示されたCADデータの中から測定す
    べき測定対象図形を選択するため該測定対象図形上又は
    その近傍に線を描く線描画手段と、該線描画手段により
    描かれた線と交差し又はその線の近傍に存在するCAD
    データを測定すべき測定対象図形として認識する図形認
    識手段とを備えたことを特徴とする画像測定装置用パー
    トプログラム生成装置。
  2. 【請求項2】 前記線描画手段は、複数種類の線の描画
    方法を選択可能に構成されている請求項1に記載の画像
    測定装置用パートプログラム生成装置。
  3. 【請求項3】 前記線描画手段は、前記CADデータ表
    示手段上の2点を指定させることによりその2点を結ぶ
    直線を描くものであり、前記図形認識手段は、この直線
    と交差し又はこの直線の近傍に存在する図形を測定すべ
    き測定対象図形として認識する請求項1に記載の画像測
    定装置用パートプログラム生成装置。
  4. 【請求項4】 前記線描画手段はフリーハンド曲線を描
    くものであり、前記図形認識手段は、このフリーハンド
    曲線と交差し又はこのフリーハンド曲線の近傍に存在す
    る図形を測定すべき測定対象図形として認識する請求項
    1に記載の画像測定装置用パートプログラム生成装置。
  5. 【請求項5】 前記線描画手段は、前記CADデータ表
    示手段上の2点A,Bを指定して直線を描かせるととも
    に前記点Aを回転中心としてこの直線を回転させるもの
    であり、前記図形認識手段は、この直線と交差し又はこ
    の直線の近傍に存在する図形を測定すべき測定対象図形
    として認識する請求項1に記載の画像測定装置用パート
    プログラム生成装置。
  6. 【請求項6】 被測定対象を撮像して得られる画像デー
    タに基づいて被測定対象を測定する画像測定装置に用い
    られ、測定の手順を記述したパートプログラムを生成す
    るパートプログラム生成プログラムであって、 被測定対象のCADデータを読み込むステップと、読み
    込まれた前記CADデータをグラフィックス表示するス
    テップと、 表示された前記CADデータの中から測定の対象とすべ
    き測定対象図形を選択するため、該測定対象図形上又は
    その近傍に線を描くステップと、 描かれた前記線と交差し又はその線の近傍に存在するC
    ADデータを測定すべき測定対象図形として認識するス
    テップと、該認識された測定対象図形の種類ごとに設定
    された測定条件に基づいてパートプログラムを生成する
    ステップとを実行させることを特徴とする画像測定装置
    用パートプログラム生成プログラム。
  7. 【請求項7】 前記線を描くステップでは、複数種類の
    線の描画方法を選択可能とされた請求項6に記載の画像
    測定装置用パートプログラム生成プログラム。
  8. 【請求項8】 前記線を描くステップは、画面上の2点
    を指定させることによりその2点を結ぶ直線を描かせる
    ものであり、前記測定対象図形を認識するステップは、
    この直線と交差し又はこの直線の近傍に存在する図形を
    測定すべき測定対象図形として認識するものである請求
    項6に記載の画像測定装置用パートプログラム生成プロ
    グラム。
  9. 【請求項9】 前記線を描くステップはフリーハンド曲
    線を描かせるものであり、前記測定対象図形を認識する
    ステップは、このフリーハンド曲線と交差し又はこのフ
    リーハンド曲線の近傍に存在する図形を測定すべき測定
    対象図形として認識するものである請求項6に記載の画
    像測定装置用パートプログラム生成プログラム。
  10. 【請求項10】 前記線を描くステップは、画面上の2
    点A,Bを指定して直線を描かせるとともに前記点Aを
    回転中心としてこの直線を回転させるものであり、前記
    測定対象図形を認識するステップは、この直線と交差し
    又はこの直線の近傍に存在する図形を測定すべき測定対
    象図形として認識するものである請求項6に記載の画像
    測定装置用パートプログラム生成プログラム。
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JP2007071835A (ja) * 2005-09-09 2007-03-22 Mitsutoyo Corp 画像測定装置用パートプログラム生成装置、画像測定装置用パートプログラム生成方法、及び画像測定装置用パートプログラム生成用プログラム

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